2020-700825

特許第６６８８０２１号発明「レーザ溶接監視装置とレーザ溶接監視方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第６６８８０２１号の明細書、及び特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正明細書、及び特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１－６，１３〕、〔７－１２，１４〕について訂正することを認める。 特許第６６８８０２１号の請求項１－２、６－８、１２－１４に係る特許を維持する。 特許第６６８８０２１号の請求項３－５、９－１１に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第６６８８０２１号の請求項１－１４に係る特許についての出願は、平成２７年７月２３日に出願され、令和２年４月７日にその特許権の設定登録がされ、同年４月２８日に特許掲載公報が発行された。その後、請求項１－１４に係る特許に対して、特許異議の申立て（以下、「本件特許異議申立て」という。）があり、次のとおりに手続が行われた。 令和２年１０月２２日 ：特許異議申立人黒崎惇子（以下、「申立人」という。）による請求項１－１４に係る特許に対する特許異議の申立て 令和３年 ４月 １日付け：取消理由通知 令和３年 ５月１３日 ：特許権者株式会社ＮＩＳＨＩＨＡＲＡ（以下、「特許権者」という。）による訂正請求（以下、「初回訂正請求」という。） 令和３年 ６月 ７日 ：特許権者による初回訂正請求の補正をする手続補正書の提出 令和３年 ８月１１日 ：申立人による意見書の提出 令和３年１０月 ６日付け：取消理由通知（決定の予告） 令和３年１２月 ３日 ：特許権者による訂正の請求（以下、「本件訂正請求」という」。） なお、本件訂正請求により、令和３年６月７日に補正された初回訂正請求は、取り下げられたものとみなされる。 また、当審は、申立人に対して期間を指定して意見書を提出する機会を与えたが、申立人は応答しなかった。 第２ 訂正の適否 本件訂正請求における特許請求の範囲及び明細書の訂正事項は、以下のとおりである。 １ 一群の請求項１－６、１３に係る訂正 ＜訂正事項と、請求項数の増減に伴う訂正前後の請求項の対応表＞ 訂正事項 訂正後請求項 訂正前請求項との対応関係 １ １ 請求項１（請求項３－５を組み入れ） ２ ３ 削除 ３ ４ 削除 ４ ５ 削除 ５ ６ 請求項６（引用関係の訂正） ６ １３ 請求項１３（引用関係の訂正） （１）訂正内容 ア 訂正事項１ 訂正前の請求項１の「溶接状態を判定する」を訂正後の請求項１の 「溶接状態を判定し、 前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である」 に訂正する。（訂正後の請求項１を引用する請求項２、６、１３も同様に訂正する。） イ 訂正事項２ 請求項３を削除する。 ウ 訂正事項３ 請求項４を削除する。 エ 訂正事項４ 請求項５を削除する。 オ 訂正事項５ 訂正前の請求項１－５のいずれか１項を引用していた訂正前の請求項６を、請求項１または請求項２を引用する訂正後の請求項６に訂正する。 カ 訂正事項６ 訂正前の請求項１－６のいずれか１項を引用していた訂正前の請求項１３を、請求項１、請求項２、または請求項６を引用する訂正後の請求項１３に訂正する。 なお、訂正前の請求項１－６、１３について、訂正前の請求項２－６、１３は、訂正前の請求項１を直接的または間接的に引用しているものであって、訂正事項１によって訂正される請求項１に連動して訂正されるものである。 したがって、訂正前の請求項１－６、１３に対応する訂正後の請求項１－６、１３は、特許法第１２０条の５第４項に規定する一群の請求項であり、本件訂正請求の訂正事項１－６は、この一群の請求項について請求されたものである。 （２）訂正の目的の適否、新規事項の有無、特許請求の範囲の拡張・変更の存否 ア 訂正事項１ 訂正事項１は、溶接状態を判定するにあたり、具体的な溶接材料とそれに対応する波長を限定するもの、すなわち、アルミニウムの場合には３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲、鉄の場合には５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲、チタン及びＳＵＳ３０４の場合には７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であることを限定するものである。 また、「特定の一波長」について、記載されたそれぞれの範囲の「範囲全体」であること、すなわち、波長の範囲全体をモニターすることを限定するものであるから、訂正事項１に係る訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 そして、具体的な溶接材料とそれに対応する波長は、訂正前の請求項３－５及び本件特許明細書の段落【００４３】に記載され、波長の範囲全体をモニターすることは、本件特許明細書の段落【００５２】に「波長領域全体を特定の一波長としてモニターしてもよい」と記載されているから、訂正事項１に係る訂正は、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 イ 訂正事項２ 訂正事項２に係る請求項３についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 ウ 訂正事項３ 訂正事項３に係る請求項４についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 エ 訂正事項４ 訂正事項４に係る請求項５についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 オ 訂正事項５ 訂正事項５に係る請求項６についての訂正は、訂正前に引用していた請求項１－５のうち、削除された請求項３－５との引用関係を解消して、請求項１または請求項２を引用する訂正後の請求項６とするものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 カ 訂正事項６ 訂正事項６に係る請求項１３についての訂正は、訂正前に引用していた請求項１－６のうち、削除された請求項３－５との引用関係を解消して、請求項１、請求項２、または請求項６を引用する訂正後の請求項１３とするものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 ２ 一群の請求項７－１２、１４に係る訂正 ＜訂正事項と、請求項数の増減に伴う訂正前後の請求項の対応表＞ 訂正事項 訂正後請求項 訂正前請求項との対応関係 ７ ７ 請求項７（請求項９－１１を組み入れ） ８ ９ 削除 ９ １０ 削除 １０ １１ 削除 １１ １２ 請求項１２（引用関係の訂正） １２ １４ 請求項１４（引用関係の訂正） （１）訂正内容 ア 訂正事項７ 訂正前の請求項７の「溶接状態を判定する」を訂正後の請求項７の 「溶接状態を判定し、 前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である」 に訂正する。（訂正後の請求項７を引用する請求項８、１２、１４も同様に訂正する。） イ 訂正事項８ 請求項９を削除する。 ウ 訂正事項９ 請求項１０を削除する。 エ 訂正事項１０ 請求項１１を削除する。 オ 訂正事項１１ 訂正前の請求項７－１１のいずれか１項を引用していた訂正前の請求項１２を、請求項７または請求項８を引用する訂正後の請求項１２に訂正する。 カ 訂正事項１２ 訂正前の請求項７－１２のいずれか１項を引用していた訂正前の請求項１４を、請求項７、請求項８、または請求項１２を引用する訂正後の請求項１４に訂正する。 なお、訂正前の請求項７－１２、１４について、訂正前の請求項８－１２、１４は、訂正前の請求項７を直接的または間接的に引用しているものであって、訂正事項７によって訂正される請求項７に連動して訂正されるものである。 したがって、訂正前の請求項７－１２、１４に対応する訂正後の請求項７－１２、１４は、特許法第１２０条の５第４項に規定する一群の請求項であり、本件訂正請求の訂正事項７－１２は、この一群の請求項について請求されたものである。 （２）訂正の目的の適否、新規事項の有無、特許請求の範囲の拡張・変更の存否 ア 訂正事項７ 訂正事項７は、訂正事項１と同様に、溶接状態を判定するにあたり、具体的な溶接材料とそれに対応する波長を限定し、また、波長の範囲全体をモニターすることを限定するものであるから、訂正事項７に係る訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 また、訂正事項７は、訂正事項１と同様に、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 イ 訂正事項８ 訂正事項８に係る請求項９についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 ウ 訂正事項９ 訂正事項９に係る請求項１０についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 エ 訂正事項１０ 訂正事項１０に係る請求項１１についての訂正は、請求項を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 オ 訂正事項１１ 訂正事項１１に係る請求項１２についての訂正は、訂正前に引用していた請求項７－１１のうち、削除された請求項９－１１との引用関係を解消して、請求項７または請求項８を引用する訂正後の請求項１２とするものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 カ 訂正事項１２ 訂正事項１２に係る請求項１４についての訂正は、訂正前に引用していた請求項７－１２のうち、削除された請求項９－１１との引用関係を解消して、請求項７、請求項８または請求項１２を引用する訂正後の請求項１４とするものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。 ３ 明細書に係る訂正の内容 （１）訂正内容 訂正事項１３ 明細書段落【００２２】の記載について、「図２（ａ）から理解できるように、可視光全体（４００ｎｍ～７００ｎｍ）の発光強度を検出した場合には、・・」との記載を「図２（ａ）から理解できるように、可視光（４００ｎｍ～７００ｎｍの全体）の発光強度を検出した場合には、・・」と訂正する。 なお、訂正事項１３は、訂正後の請求項１－２、６、１３の一群の請求項、及び請求項７－８、１２、１４の一群の請求項に記載された「可視光」に関連し、訂正事項１３を含む本件訂正請求は、全ての請求項に対して訂正が請求されているため、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法１２６条第４項に規定する明細書に係る請求項を含む一群の請求項の全てについて行われているものである。 （２）訂正の目的の適否、新規事項の有無、特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項１３について、一般に、可視光の波長が３６０～８３０ｎｍ程度であることは技術常識である（例えば、ＪＩＳ Ｚ ８１２０：２００１「光学用語」の「４．用語及び定義用語及び定義は，次による」のａ）基礎関係、１）一般、番号０１．０１．０４には、「可視放射，可視光，可視光線」の定義として、「目に入って，視感覚を起こすことができる放射。光線という概念で用いる場合は可視光線という。一般に可視放射の波長範囲の短波長限界は３６０～４００ｎｍ，長波長限界は７６０～８３０ｎｍにあると考えてよい。」と記載されている。）。 したがって、訂正事項１３で訂正しようとする「可視光全体（４００ｎｍ～７００ｎｍ）」との記載は誤りであることが明らかであり、また、段落【００２２】の記載は、可視光の範囲の一部分である当該範囲の発光強度を検出した場合の不都合に関する内容を説明しようとするもので、「（４００ｎｍ～７００ｎｍ）」は可視光全体ではなく、図２（ａ）のグラフを示すために使用した可視光の範囲であることも理解できる。 そうすると、訂正事項１３により、「可視光（４００ｎｍ～７００ｎｍの全体）」と訂正することは、特許法第１２０条５第２項ただし書第２号に掲げる誤記又は誤訳の訂正を目的とすると認められる。 そして、図２（ａ）には、可視光の範囲が４００ｎｍ～７００ｎｍであるグラフが図示されているから、訂正事項１３は、段落【００２２】及び図２（ａ）から導き出されるものであり、願書に最初に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であって、新規事項の追加に該当しない。 また、訂正事項１３は、訂正後の請求項１－２、６、１３、及び請求項７－８、１２、１４に記載された「可視光」に関し、その解釈に影響を与え得る訂正であるが、可視光の波長が３６０～８３０ｎｍ程度であるとの技術常識が存在し、当該訂正事項１３については、上記のとおり誤記を訂正するもので、カテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当しない。 ４ 小括 したがって、上記の訂正事項１－１３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものであり、いずれも同法同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合する。 よって、明細書及び特許請求の範囲を、訂正請求書に添付された訂正明細書及び訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１－６、１３〕、〔７－１２、１４〕について訂正することを認める。 第３ 訂正後の本件発明 【請求項１】 レーザ光にて溶接される溶接材料の溶接部位について、その溶接状態を監視するレーザ溶接監視装置において、 前記溶接材料に前記レーザ光が照射されて表側に形成された溶融池からの、前記溶接材料に対応して予め決定された、可視光内の特定の一波長の発光強度を検出し、検出した前記発光強度に基づいて溶接状態を判定し、 前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である ことを特徴とするレーザ溶接監視装置。 【請求項２】 請求項１に記載のレーザ溶接監視装置において、 前記特定の一波長は、前記溶接材料の前記溶融池からの複数の発光スペクトルのピーク波長の中の一つである ことを特徴とするレーザ溶接監視装置。 【請求項３】削除 【請求項４】削除 【請求項５】削除 【請求項６】 請求項１または請求項２に記載のレーザ溶接監視装置において、 前記レーザ光は１０７０ｎｍ～１１００ｎｍのファイバレーザである ことを特徴とするレーザ溶接監視装置。 【請求項７】 レーザ光にて溶接される溶接材料の溶接部位について、その溶接状態を監視するレーザ溶接監視方法において、 前記溶接材料に前記レーザ光が照射されて表側に形成された溶融池からの、前記溶接材料に対応して予め決定された、可視光内の特定の一波長の発光強度を検出し、検出した前記発光強度に基づいて溶接状態を判定し、 前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である ことを特徴とするレーザ溶接監視方法。 【請求項８】 請求項７に記載のレーザ溶接監視方法において、 前記特定の一波長は、前記溶接材料の前記溶融池からの複数の発光スペクトルのピーク波長の中の一つである ことを特徴とするレーザ溶接監視方法。 【請求項９】削除 【請求項１０】削除 【請求項１１】削除 【請求項１２】 請求項７または請求項８に記載のレーザ溶接監視方法において、 前記レーザ光は１０７０ｎｍ～１１００ｎｍのファイバレーザである ことを特徴とするレーザ溶接監視方法。 【請求項１３】 請求項１または請求項２または請求項６に記載のレーザ溶接監視装置において、 前記特定の一波長の発光強度の検出は、半値幅２５ｎｍの透過干渉フィルターを介して遂行される ことを特徴とするレーザ溶接監視装置。 【請求項１４】 請求項７または請求項８または請求項１２に記載のレーザ溶接監視方法において、 前記特定の一波長の発光強度の検出は、半値幅２５ｎｍの透過干渉フィルターを介して遂行される ことを特徴とするレーザ溶接監視方法。 （以下、各請求項に係る発明を「本件発明１」などといい、各請求項に係る発明をまとめて「本件発明」という。） 第４ 当審が取消理由通知（決定の予告）で通知した取消理由、及び当該取消理由に対する当審の判断 １ 令和３年１０月６日付け取消理由通知（決定の予告）で通知した取消理由の概要 本件特許は、特許請求の範囲の記載が以下の点で不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものである。 （１）請求項４、１５、１７、１９、２１、２３、２５、２７及び請求項１０、２９、３１、３３、３５、３７、３９、４１ 請求項４の「前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたは銅または鋼材であり、前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍである」の発明特定事項について、溶接材料が「アルミニウム」の場合の特定の一波長の値しか記載されておらず、他の溶接材料の場合の特定の一波長の値が不明であることから、上記他の溶接材料の場合について溶接状態を判定することができないものである。 また、請求項４と同様の発明特定事項を含む請求項１５、１７、１９、２１、２３、２５、２７についても同様である。 さらに、請求項４と同様の発明特定事項を含む方法の発明である請求項１０、２９、３１、３３、３５、３７、３９、４１についても同様である。 （２）請求項５、１６、１８、２０、２２、２４、２６、２８及び請求項１１、３０、３２、３４、３６、３８、４０、４２ 請求項５の「前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたは銅または鋼材であり、前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍであり、前記溶接材料がＳＵＳの場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍであり、前記溶接材料がチタンの場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍである」の発明特定事項について、溶接材料が「鉄」、「ＳＵＳ（鋼材）」、「チタン」の場合の特定の一波長の値しか記載されておらず、他の溶接材料（アルミニウム、銅）の場合の特定の一波長の値が不明であることから、上記他の溶接材料の場合について溶接状態を判定することができないものである。 また、請求項５と同様の発明特定事項を含む請求項１６、１８、２０、２２、２４、２６、２８についても同様である。 さらに、請求項５と同様の発明特定事項を含む方法の発明である請求項１１、３０、３２、３４、３６、３８、４０、４２についても同様である。 ２ 当審の判断 本件発明１及び７には、「前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である」 と記載され、それぞれの溶接材料と「特定の一波長」との対応が過不足なく特定されたから、上記取消理由は解消した。 よって、取消理由通知（決定の予告）で通知した取消理由によっては、本件発明の特許請求の範囲は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていないものとは認められない。 第５ 当審が取消理由通知（決定の予告）で採用しなかった特許異議申立理由についての判断 １ 特許法第２９条第１項、及び第２項に係る理由について（特許異議申立書第９－６６ページ） （１）引用文献 甲第１号証：米国特許第５１５５３２９号明細書（日本語の翻訳は、異議申立人提出の添付書類１０を用いる。） 甲第２号証：特開平１１－２１８４８９号公報 甲第３号証：特表平７－５０９１８４号公報 甲第４号証：米国特許出願公開第２０１０／０１３３２４７号明細書（日本語の翻訳は、異議申立人提出の添付書類１１を用いる。） 甲第５号証：特開平１０－２０２３７８号公報 甲第６号証：特開２０１１－３１２７５号公報 甲第７号証：欧州特許出願公開第１９８７９１０号明細書（日本語の翻訳は、異議申立人提出の添付書類１２を用いる。） 甲第８号証：特開２０１４－１６４９１９号公報 甲第９号証：特開２０１５－７２９５５号公報 （以下、甲第○号証を、「甲○」という。） （２）甲１の記載事項（記載事項Ａ―Ｖまで、原文の後に日本語の翻訳文を併記する。） ア 甲１には、図面と共に以下の事項が記載されている。 Ａ 「1. Field of the Invention This invention relates to ・・・during welding.（第１欄第６－１０行） １．技術分野 本発明は、レーザ光溶接をモニタリングするための方法およびシステムに関し、より具体的には、溶接中のレーザ光の挙動をモニタリングするための方法および装置に関する。」 Ｂ 「2. Description of the Prior Art Laser beam welding is ・・・ the detected value of temperature. （第１欄第１１行－最終行） ２．従来技術の説明 レーザ光溶接は、溶接光入力（エネルギー）を所望の溶接部にのみ照射することができ、溶接部の付近には熱の影響がほとんどないため、今日広く行われている。これに関して、溶接を高精度に完了するためには、溶接光入力とその結果として生じる溶込み深さを適切に制御する必要がある。 レーザ光溶接において、工作物に実際に照射される溶接光入力を直接検出するのは通常困難である。・・・従来、溶接の挙動は、発振器のレーザ光出力をモニタリングすることで推定される。 しかしながら、レーザ発振器の出力のみが検出される前述の従来のシステムでは、レーザ発振器から溶接部にレーザ光を伝送するための光学システムの透過損失が、光学部品の劣化のために溶接中に突然増加した場合には、・・・正確なモニタリングを達成することはできない。また、溶接条件の変化により溶接が不安定になり、溶込み深さが減少しても、これはレーザ発振器の出力に変化を引き起こさず、したがって、操作者が溶接光の挙動を適切に判断することはできない。 レーザ光溶接の挙動が、溶接部での赤外線放射のモニタリングから推定される別のシステムが知られている。・・・ ・・・しかし、検出器に到達する赤外線にはレーザ光の反射された部分が含まれており、溶融池の付近にレーザプルームが現れてより多くの赤外線放射を発生させるため、溶接部の温度を正確に検出することは困難である。さらに、溶接部の温度は一般に溶接光入力および溶込み深さを示さないため、レーザ光溶接において、温度の検出値に基づいて溶接光入力および溶込み深さをモニタリングすることは困難である。」 Ｃ 「SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of ・・・a molten pool exists. （第２欄第１－８行） ［発明の概要］ 本発明の目的は、溶融池が存在する溶接部での発光強度をモニタリングすることにより溶接光入力および溶込み深さを高精度で推定することができるレーザ光溶接のモニタリング方法を提供することである。」 Ｄ 「It is another object of ・・・light emission at a weld zone. （第２欄第９－１３行） 本発明の別の目的は、溶接部での発光強度をモニタリングすることにより溶接光入力および溶込み深さを高精度で推定することができるレーザ光溶接のモニタリング装置を提供することである。」 Ｅ 「In a laser beam welding machine ・・・and the depth of penetration can be deduced. （第２欄第１４－３１行） レーザ光がレーザ発振器から光ファイバとレンズとを含む光学系を介して溶接部に伝送されるレーザ光溶接機において、本発明は、溶接部から放射された光およびレーザ発振器のレーザ光出力を連続的に検出する。当技術分野でよく知られているように、溶接部に照射されたパルス状レーザ光は光の放射を引き起こし、溶接部での放射は照射されたパルス状レーザ光に応じて変化し、溶接部に存在するレーザプルームはレーザ光がベースレベル以下に減少すると消える。つまり、溶接部へのレーザ光の照射が中断されると、結果的に、溶融池からの発光のみが残る。本発明は、その発光から所定の波長の光の強度を検出するものであり、そこから溶接光入力および溶込みの深さを推定することができる。」 Ｆ 「The present inventions have ・・・and the depth of penetration. （第２欄第３２－３５行） 本発明は、所定の波長の光の強度と、溶接光入力および溶込み深さの両者との間に一定の相関があることを見出した。」 Ｇ 「In this invention, the behavior of ・・・the minimum emission intensity. （第２欄第３６－４０行） 本発明において、レーザ光溶接の挙動は、パルス状レーザ光の強度の上昇の直前に所定の波長の光の強度をモニタリングすることにより、すなわち、最小発光強度を決定することにより推定することができる。」 Ｈ 「The present invention is embodied in・・・a laser oscillator is also connected to the detecting means. （第２欄第４１－５１行） 本発明は、溶融池からの光を収束する集光レンズと、収束光を透過するモニタリング光学系と、光学系から発せられる光から所定の波長の光を選択的に通過させる干渉フィルタと、干渉フィルタを通過した所定の波長の光の強度を検出する検出手段と、を備える装置の形態で具現化される。レーザ発振器のパルス状出力を伝送するための光回線がまた検出手段に接続されている。」 Ｉ 「In FIG. 1, a laser beam generated by ・・・the weld zone 13 as designated by reference numeral 12. （第３欄第２２－３７行） 図１において、レーザ発振器１によって生成されたレーザ光は、入射光学系２を介してレーザ光伝送用光ファイバ３に伝送される。レーザ発振器１がＹＡＧレーザを含む場合、レーザ発振器１は、波長１．０６μｍのレーザ光を生成する。レーザ光伝送用光ファイバ３を通過したレーザ光は、溶接／集光光学系１１に伝送され、工作物１４の溶接部１３に集光される。溶接部１３は、レーザ光を吸収して溶融し、溶融池を形成する。レーザ光が走査されると、溶融池が再凝固し、溶接が達成される。図示しないが、通常の溶接と同様に、溶接部１３の周囲には不活性ガスなどのアシストガスが供給される。溶接中、参照番号１２で示されるように、溶接部１３で発光が生じる。」 Ｊ 「The light from the emission 12 ・・・the optical fibers 4 as long as the emission 12 exists. （第３欄第５３行－最終行） 溶接部における発光１２からの光は、図３に示されるように、溶接／集光光学系１１のレンズを通ってモニタ用光ファイバ４に伝送される。図３において、中心の光ファイバ３の端部から出た溶接用レーザ光１５は、わずかに発散し、集光光学系１１に入射し、その集光レンズによって工作物１４の表面に収束する。溶接部１３での発光１２からの光、すなわち発光光１９は、集光レンズによって光ファイバ４の端部に収束される。光ファイバ４は円形に配置されているので、溶接部１３の周囲の状況に関わらず、発光光１９を効果的に受光することができる。レーザ光１５が消えた後でも、発光１２が存在する限り、発光光１９が光ファイバ４に入射することに留意されたい。」 Ｋ 「The interference filter 5 selects ・・・ the laser oscillator 1 is also sent to the computer 9.（第４欄第１－１２行） 干渉フィルタ５は、「インコネル」溶接の場合、所定の波長、例えば、０．８μｍまたは０．９４μｍの波長の光を選択し、このようにして選択された光をフォトダイオード６に通過させ、フォトダイオード６において光電変換が行われる。光電変換によって得られた光を表わす信号は、アンプ７によって増幅され、ＡＤ変換ボード８によってデジタル形式に変換され、信号処理のためにコンピュータ９に送信される。図１には示されていないが、レーザ発振器１のパルス状出力波信号もまたコンピュータ９に送信される。」 Ｌ 「FIG. 6 shows the waveform 18 ・・・a the light of predetermined wavelength. （第４欄第２６－３１行） 図６は、パルス状レーザ光の波形１８および溶接部での発光強度の波形２０を示し、両方ともにモニタリング部に記録される。これから分かるように、溶接部における発光強度の波形２０は、所定の波長の光の強度に対応している。」 Ｍ 「FIG. 4 shows the two waveforms of FIG. 6 ・・・the next pulse of the laser beam. （第４欄第３２－４２行） 図４は、図６の２つの波形を拡大目盛で示す。これらの波形は一緒に脈動しており、時間軸（横軸）に沿った時間ＡとＢの２つの間隔は、それぞれ約９ミリ秒と約１３ミリ秒である。図４から分かるように、発光強度の波形は、溶接光入力が存在する間（つまり、レーザ光が工作物を照射している間）一定の高レベルを維持し、溶接光入力が低下した後、短時間で急激に減少し、次いで、レーザ光の次のパルスと一緒に上昇する。」 Ｎ 「FIGS. 8 and 9 show the correlation between ・・・as well as the depth of penetration. （第４欄第４８－５６行） 図８および図９は、所定の波長の光の最小発光強度と溶接光入力との相関関係、および最小発光強度と溶込み深さとの相関関係をそれぞれ示している。これらの図面から理解されるように、各相関は線形であり、したがって、最小発光強度をモニタリングすることは、溶接光入力と溶込み深さをモニタリングすることと同じである。」 Ｏ 「For reference, in FIG. 10, the emission intensity ・・・when the interference filter is not employed. （第４欄第５７－６１行） 参考までに、図１０において、図５の干渉フィルタ５なしで測定された発光強度が、溶接光入力に関してプロットされている。これから分かるように、干渉フィルタを使用しない場合、これらのパラメータ間には相関が認められない。」 Ｐ 「The foregoing predetermined wavelength used ・・・ welding testing, spectrum analysis, data processing, etc. （第４欄第６２－６５行） 溶融池における発光をフィルタリングする際に使用される前述の所定の波長は、溶接試験、スペクトル分析、データ処理などを実行することによって決定することができる。」 Ｑ 「As described above, the present invention ・・・the depth of penetration can be precisely deduced. （第４欄第６６行－第５欄第２行） 上述のように、本発明は、溶接光入力および溶込みの深さを正確に推定することができるレーザ光溶接の挙動をモニタリングすることができる。」 Ｒ 「1. A method of monitoring laser beam welding, ・・・the weld zone during said welding. （第５欄第４－２１行） ［請求項１］ レーザ光溶接をモニタリングする方法であって、前記方法は、 パルス状レーザ光を工作物に照射して溶接を行うステップと、 前記レーザ光のパルス状波形を表す信号を生成するステップと、 前記溶接ステップ中、溶接が行われている前記工作物の溶接部から放射される所定の波長の光の強度を連続的にモニタリングするステップと、 前記所定の波長の光の強度を表す信号を生成するステップと、 前記レーザ光線の前記パルス状波形と前記所定の波長の光の強度との両方を表す前記信号を処理して、前記溶接ステップ中に前記溶接部から放射されている前記所定の波長の光の最小強度を決定するステップと、 を含む方法。」 Ｓ 「2. A method of monitoring laser beam welding as claimed in claim 1, ・・・a predetermined wavelength. （第５欄第２２－２５行） ［請求項２］ 前記モニタリングするステップが、前記所定の波長の光を除いて、前記溶接部から放射された光をフィルタリングするステップを含む、請求項１に記載の方法。」 Ｔ 「3. A method of monitoring laser beam welding as claimed in claim 1, ・・・the workpiece at the weld zone. （第５欄第２６－３２行） ［請求項３］ 決定された前記所定の波長の光の最小強度を、前記溶接部におけるレーザ光のエネルギーおよび前記溶接部において前記工作物に溶け込むレーザ光の深さのうちの少なくとも１つを含む前記溶接部における条件と相関させるステップを更に含む、請求項１に記載の方法。」 Ｕ 「4. Apparatus for monitoring laser beam welding, ・・・ a given time period. （第５欄第３３行－第６欄第１４行） ［請求項４］ レーザ光溶接をモニタリングするための装置であって、前記装置は、 それに沿って光を送受信することができるモニタ用光ファイバと、 前記ファイバに光学的に結合された干渉フィルタであって、所定の波長の光を除いて、前記ファイバによって伝送された光をフィルタリングする干渉フィルタと、 前記干渉フィルタを通過する前記所定の波長の光をその強度を表す信号に変換するために、前記干渉フィルタと作動的に関連付けられたフォトダイオード手段と、 生成された前記信号を受信するように前記フォトダイオード手段に作動的に接続されたプロセッサであって、前記信号を処理して所与の期間中に前記フィルタを通過する光の最小強度を識別するプロセッサと、を備える、装置。」 Ｖ 「6. An apparatus for monitoring laser beam welding as claimed in claim 4, ・・・a given period of time. （第６欄第２３－３６行） ［請求項６］ パルス状レーザ光を放射し、それによって放射されたレーザ光の波形を表す信号を生成するためのレーザ発振器手段を更に備え、前記プロセッサが、レーザ発振器手段によって放射された前記レーザ光の波形を表す前記信号を受信するように、前記レーザ発振器手段に作動的に接続されており、前記処理手段が、前記レーザ発振器手段によって放射されたレーザ光の波形を表す前記信号を、前記フォトダイオード手段によって生成された前記信号と共に処理して、所与の期間中に前記フィルタを通過する光の最小強度を決定する、請求項４に記載の装置。」 イ 上記記載から、甲１には、次の技術的事項が記載されているものと認められる。 ａ 甲１に記載された技術は、レーザ光溶接をモニタリングするための方法およびシステムに関し、より具体的には、溶接中のレーザ光の挙動をモニタリングするための方法および装置に関する。（記載事項Ａ） ｂ 甲１において、レーザ発振器１によって生成されたレーザ光は、入射光学系２を介してレーザ光伝送用光ファイバ３を通過し、溶接／集光光学系１１に伝送され、工作物１４の溶接部１３に集光される。溶接部１３は、レーザ光を吸収して溶融し、溶融池を形成し、レーザ光が走査されると、溶融池が再凝固し、溶接が達成されるが、溶接中、溶接部１３で生じた発光１２は、溶接／集光光学系１１を通ってモニタ用光ファイバ４に伝送される。光ファイバ４は円形に配置されているので、溶接部１３の周囲の状況に関わらず、発光光１９を効果的に受光することができ、レーザ光１５が消えた後でも、発光１２が存在する限り、発光光１９が入射する。 したがって、甲１のレーザ溶接監視装置（レーザ光溶接のモニタリング装置）は、レーザ光にて溶接される工作物１４の溶接部１３について、その溶接状態を監視するものであって、工作物１４に前記レーザ光が照射されて形成された溶融池からの可視光を検出するものであり、溶融池は、工作物１４のレーザ光が照射される側に形成されることが明らかである。（記載事項Ｉ，Ｊ、図１，３） ｃ 甲１のレーザ溶接監視装置は、図８から見出される溶接部から放射される所定の波長の光の最小発光強度と溶接光入力との線形的な相関関係、図９から見出される溶接部から放射される所定の波長の光の最小発光強度と溶込み深さの線形的な相関関係を用いて、溶融池が存在する溶接部での最小発光強度をモニタリングすることにより溶接光入力および溶込み深さを高精度で推定するものであり、よって、上記ｂにおいて検出する溶融池からの可視光について、所定の波長の光の最小発光強度をモニタリングすることにより、溶接光入力および溶込み深さを高精度で推定するものであることが認められる。（記載事項Ｃ－Ｆ，Ｎ，Ｑ，Ｒ，Ｔ、図８－９） ｄ 甲１において、「インコネル」溶接の場合、所定の波長、例えば、０．８μｍまたは０．９４μｍの波長の光を、干渉フィルタ５により選択し、選択された光をフォトダイオード６において光電変換して得られた光を表わす信号は、増幅され、デジタル形式に変換され、信号処理のためにコンピュータ９に送信され、やはりコンピュータ９に送信されるレーザ発振器１のパルス状出力波信号と共に処理して、所与の期間中に干渉フィルタ５を通過する最小発光強度を決定する。（記載事項Ｋ－Ｎ） ｅ そして、一般に、可視光の波長が３６０～８３０ｎｍ程度であることは技術常識である（上記第２の３（２））ことからみて、上記「インコネル溶接」の場合の所定の波長のうち、０．８μｍ（８００ｎｍ）については、長波長限界にあるから可視光といえる。 したがって、上記ｄにおける所定の波長は、工作物１４に対応して選択されたものであり、工作物１４の材質がインコネルである「インコネル溶接」の場合は、所定の波長として、可視光に該当する０．８μｍを選択して干渉フィルタ５を通過させ、フォトダイオード６により光電変換されて得られた信号を処理して、最小発光強度を決定するといえる。（記載事項Ｋ，Ｒ，Ｓ，Ｕ，Ｖ、図１，３，５） ウ 上記ア、イから、甲１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 「レーザ光にて溶接される材質がインコネルである工作物１４の溶接部１３について、その溶接光入力と溶込み深さを監視するレーザ溶接監視装置において、 前記工作物１４に前記レーザ光が照射されて、照射された側に形成された溶融池からの、前記工作物１４に対応して選択された、可視光である０．８μｍの波長の最小発光強度を決定し、決定した前記最小発光強度に基づいて溶接光入力と溶込み深さを推定する レーザ溶接監視装置。」 （３）甲２の記載事項 甲２には、以下の事項が記載されている。 「【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、レーザを用いる材料加工の分野に関し、特に、プラズマからの光の強度を測定することによる工程内レーザ溶接部品質の監視方法及び装置に関する。 ・・・・・ 【００２０】光学的多チャンネルスペクトルアナライザ図４を参照すると、プラズマからの発光スペクトル中の最も顕著なピークはすべて、約３４０nm～約４５０nmの範囲内にあった。この範囲内の主要なピークは、３０１ステンレス鋼加工物を構成するＦｅ（３７３．４nm及び３８２．４nm）、Ｃｒ（３５７．９nm及び４２５．４nm／４２７．５nm）及びＭｎ（４０３．１nm）の原子遷移と相関関係がある。 【００２１】 ・・・・・ＯＭＡ結果に基づいて、約３４０nm～約４５０nmの波長範囲が、最も顕著なピーク及び最も高いＳＮ比に基づいて放射計測定値について選択された。溶接加工を監視するための最も適当な波長範囲は、溶接される材料の組成で決まる。種々の波長範囲は、他の金属、例えば他の鉄系材料及び非鉄材料、例えば銅、アルミニウム及びチタン材料のレーザ溶接中、最も顕著なピークを有する場合がある。ＯＭＡを用いると、かかる他の材料の最も適当な波長範囲を決定することができる。」 （４）甲６の記載事項 「【００４８】 レーザ加工中、パルスレーザの照射により、母材ＢＭとなる金属材料を構成する特徴的な元素がプラズマ化して発光ＬＵが観察される。フォトダイオード４６と特定の波長域を透過するバンドパスフィルタ４４を組み合わせた受光部４２を設けることで、レーザ加工中に特定波長の発光ＬＵのみを検知することができる。 【００４９】 図１１を参照すると、通常加工モードでは、通常の条件でレーザ光ＬＢ１を照射し、表面硬化層ＳＳを貫通しないような条件で窪み３０を形成している。この条件は、例えば、表面硬化層の膜厚ＭＢであるメッキ厚み６０［μｍ］に対して、ディンプル加工深さ（窪み深さＤｚ）＝３０［μｍ］である。この通常の条件でのレーザ光ＬＢ１の照射では、表面硬化層ＳＳの溶融により発光ＬＵ１が観測される。 一方、検査モードでは、一定間隔でより深く加工する条件でレーザ光ＬＢ２を照射し、母材ＢＭまで到達させることで、膜厚ＭＢを検査する。この条件でのレーザ光ＬＢ２の照射により、窪み３０ａの窪み深さＤｚは膜厚ＭＢを超える。すると、母材ＭＢが溶融し、母材の特性に応じた発光ＬＵ２が観測される。 母材ＢＭの種類に応じて、バンドパスフィルタ４４で通過させる波長域は、次の通りとする。 【００５０】 アルミニウム系の母材ＢＭ： ４２０［ｎｍ］の発光ＬＵ 鉄系の母材ＢＭ： ５２０［ｎｍ］の発光ＬＵ」 （５） 甲７の記載事項（記載事項Ａ―Ｄまで、Ａ，Ｂは添付書類１２の日本語の翻訳文を表示。） Ａ 「(54) A method for instantly evaluating the quality of ・・・the two or more spectral lines selected, within said time interval ΔT. （５４）溶接部の品質を即時評価する方法 （５７）プラズマ生成を用いる溶接工程中に金属材料における溶接品質を即時に評価する方法は、 ａ）溶接動作中にプラズマによって放出された放射線を、所定の周期φにおいて、即時に取得するステップと、 ｂ）プラズマによって放出された前記放射線を取得した各時点ｔにおいて、各放射スペクトルをｂ）生成／取得するステップと、を含む。 有利な構成として、本方法は、溶接の各検討時点ｔ０において、 ｃ）前記時点ｔ０に先行する時間間隔△Ｔを定義するステップと、 ｄ）２つ以上の波長λｉ，λｊに対応する２つ以上のスペクトル線ｉ，ｊを選択するステップと、 ｅ）前記時間間隔△Ｔに含まれる、放射線取得の各時点ｔのスペクトル強度Ｘｉ（ｔ）を測定するステップと、 ｆ）前記２つ以上のスペクトル線の強度の時間に対する関数Ｃｉ，ｊ…（ｔ０）＝ｆ（ｘｉ（ｔ），Ｘｊ（ｔ），…）である、少なくとも１つの合成係数Ｃｉ，ｊ…（ｔ０）を計算するステップと、 ｇ）前記少なくとも１つの合成係数Ｃｉ，ｊを分析して、溶接品質を評価するステップと、を含み、本方法において、前記合成係数Ｃｉ，ｊは、前記時間間隔ΔＴ内で選択された２つ以上のスペクトル線の強度の統計相関パラメータである。」（１ページ「要約」等） Ｂ 「【0028】・・・ d) selection of at least two spectral lines i, j corresponding to ・・・the desired type of welding quality evaluation to be carried out; ［００２８］ ・・・ ｄ）サンプリングされたスペクトログラム（例えば、図４及び図５を参照）内に存在する波長λｉ，λｊに対応し、プラズマ６内に存在する化学元素の種に関連する少なくとも２つのスペクトル線ｉ，ｊを選択するステップ。これらのスペクトル線は、例えば、同一化学（例えば、金属）種の少なくとも２つの異なる電離状態、２つの異なる金属元素の種、同一合金の異なる化学種、又は金属元素と酸素の種等に関するものであり、各検討時点ｔ０において、実行される溶接品質評価の所望のタイプの関数として選択することができる。」 Ｃ 「図４ ［図：0001385128000001.jpg］ 」 Ｄ 「図５ ［図：0001385128000002.jpg］ 」 （６）本件発明１の新規性及び進歩性について 本件発明１は、上記第３の「訂正後の本件発明」の【請求項１】に記載された事項により特定されるとおりのものである。 ア 本件発明１と引用発明との対比 引用発明の「材質がインコネルである工作物１４」、「溶接部１３」、「溶接光入力と溶込み深さ」、「レーザ溶接監視装置」、「（レーザ光が）照射された側」、「最小発光強度」、「決定」及び「溶接光入力と溶込み深さを推定」するという事項は、それぞれ、本件発明１の「溶接材料」、「溶接部位」、「溶接状態」、「レーザ溶接監視装置」、「表側」、「発光強度」、「検出」及び「溶接状態を判定」するという事項に相当する。 また、引用発明の「工作物１４に対応して選択された、可視光である０．８μｍの波長」は、本件発明１の「溶接材料に対応して予め決定された、可視光内の特定の一波長」に相当する。 したがって、本件発明１と引用発明は、以下の（ア）の点で一致し、（イ）の点で相違する。 （ア）一致点 「レーザ光にて溶接される溶接材料の溶接部位について、その溶接状態を監視するレーザ溶接監視装置において、 前記溶接材料に前記レーザ光が照射されて表側に形成された溶融池からの、前記溶接材料に対応して予め決定された、可視光内の特定の一波長の発光強度を検出し、検出した前記発光強度に基づいて溶接状態を判定する レーザ溶接監視装置。」 （イ）相違点 本件発明１が、「前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、 前記溶接材料がアルミニウムの場合には、前記特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料が鉄の場合には、前記特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、 前記溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、 前記特定の一波長は、前記範囲の全体である」 のに対して、引用発明は、溶接材料がインコネルであり、特定の一波長が０．８μｍである点。 イ 当審の判断 （ア）甲１には、レーザ光にて溶接される溶接材料がインコネルである場合に、溶融池からの光の発光スペクトルの特定の一波長として、０．８μｍまたは０．９４μｍの波長を選択して、発光強度に基づいて溶接状態を判定することについては記載されているものの、溶接材料が、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、溶接材料がアルミニウムの場合には、特定の一波長は３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲であり、溶接材料が鉄の場合には、特定の一波長は５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲であり、溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合には、特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲であり、各々の特定の一波長は、その範囲の全体であることは、記載されていない。 また、引用発明における０．８μｍの波長も、本件発明１のように、発光ピーク強度のばらつきや不良発生時の増大率などモニタリングの信頼性の観点から、波長の範囲全体を特定の一波長としているものではない。 （イ）甲２には、プラズマからの光の強度を測定することによるレーザ溶接部品質の監視方法及び装置について、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはステンレス鋼材の溶接材料に適用すること（段落【００２０】－【００２１】）が記載され、また、波長の選択に関し、「OMA結果に基づいて、約３４０nm～約４５０nmの波長範囲が、最も顕著なピーク及び最も高いＳＮ比に基づいて放射計測定値について選択された。溶接加工を監視するための最も適当な波長範囲は、溶接される材料の組成で決まる」（段落【００２１】）との記載はあるものの、本件発明１のように、発光ピーク強度のばらつきや不良発生時の増大率などモニタリングの信頼性の観点から、溶接材料ごとに複数存在する波長のうち、最適であることが具体的に評価された特定の一波長を選択しているものではない。 （ウ）甲６には、段落【００４９】－【００５０】に、溶融したアルミニウムの母材からの４２０ｎｍ波長の発光を観察すること、及び溶融した鉄系の母材からの５２０ｎｍ波長の発光を観察することが記載されているが、発光の観察はアルミニウム又は鉄系の母材に表面処理で形成した被膜の厚さを測定するものであるから、レーザ光にて溶接される溶接材料の溶接部位の溶接状態を監視する際のモニタリングの信頼性の観点から、選択されたものではなく、引用発明に適用して本件発明１に至る動機も見出すことができない。 （エ）甲７には、要約、段落［００２８］、図４－５に、プラズマ生成を用いる溶接工程中に金属材料における溶接品質を、図４－５に図示されたスペクトログラムに存在する２つ以上の波長のスペクトル線を選択して、評価することが記載されており、図５には、溶接金属が鉄である場合に、６０２．４ｎｍの波長のものが選択されることが記載されているが、甲７記載のものは、選択された２つ以上の波長のスペクトル線の強度に対する関数の合成係数を計算して分析するものであり、スペクトル線の特定の一波長の発光強度を、直接溶接品質の評価に用いるものではなく、評価する技術的手段自体が異なるものであるから、引用発明に適用して本件発明１に至る動機を見出すことができない。 （オ）また、他の甲号証についてみても、甲３－５、８－９には、溶接材料がアルミニウムの場合に、特定の一波長を３７５ｎｍ～４２５ｎｍ範囲とし、溶接材料が鉄の場合に、特定の一波長を５６５ｎｍ～６１５ｎｍ範囲とし、溶接材料がチタン及びＳＵＳ３０４の場合に、特定の一波長を７４５ｎｍ～７９５ｎｍ範囲とし、各々の特定の一波長を、その範囲の全体とすることは記載されていない。 （カ）したがって、本件発明１は引用発明ではなく、また本件発明１は、引用発明に基いて、あるいは引用発明、及び甲２－９記載の技術的事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものともいえない。 （７）本件発明２、６、１３について 本件発明２、６、１３は、本件発明１を引用するから、上記（６）と同様の理由により、引用発明であるとはいえず、引用発明に基いて、あるいは引用発明、及び甲２－９記載の技術的事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものともいえない。 （８）本件発明７－８、１２、１４について 方法の発明である本件発明７は、物の発明である本件発明１と同様に、「前記溶接材料は、アルミニウムまたは鉄またはチタンまたはＳＵＳ３０４であり、・・・前記特定の一波長は、前記範囲の全体である」との発明特定事項を備え、本件発明８、１２、１４は、本件発明７を引用する発明であるから、上記（６）、（７）の本件発明１－２、６、１３と同様の理由により、引用発明ではなく、また引用発明に基いて、あるいは引用発明、及び甲２－９記載の技術的事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものともいえない。 （９） 小括 したがって、特許異議申立書に記載した特許法第２９条第１項、及び第２項に係る特許異議申立理由によっては、本件発明１－２、６－８、１２－１４に係る特許を取り消すことはできない。 ２ 特許法第３６条第４項第１号に係る理由について（特許異議申立書第６６－６７ページ） （１）訂正前の段落【００２２】の「可視光全体（４００ｎｍ～７００ｎｍ）」の記載は、上記第２で検討したとおり、本件訂正請求の訂正事項１３によって、「可視光（４００ｎｍ～７００ｎｍの全体）」と訂正された。 したがって、段落【００２２】の「可視光（４００ｎｍ～７００ｎｍの全体）」という記載と、本件発明１、７等において、可視光内の特定の一波長が７４５ｎｍ～７９５ｎｍである旨の記載との間に齟齬はなく、本件明細書の発明の詳細な説明は、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていないものとは認められない。 （２）小括 したがって、特許異議申立書に記載した特許法第３６条第４項第１号に係る特許異議申立理由によっては、本件発明１－２、６－８、１２－１４に係る特許を取り消すことはできない。 第６ 申立人の主張 １ 申立人の意見の概要 申立人は、本件訂正請求の後には意見書を提出していないが、本件訂正請求前の令和３年８月１１日提出の意見書において、概略以下の主張をする。 （１）段落【００２２】の訂正（当審注：初回訂正請求の訂正事項４３）は、「可視光内」に「７４５ｎｍ～７９５ｎｍ」を含めるものであり、実質上特許請求の範囲を拡張することに該当するから、特許法第１２０条の５第９項で引用する特許法第１２６条第６項の規定に違反し認められない。（第１９－２０ページの３ア） （２）本件発明は、特許第２９条第２項の規定に違反しており、取消理由Ｂ（特許法第２９条第２項違反）は解消されていない。（第２０－２６ページの３イ） （３）訂正後の段落【００２１】には「図２（ａ）は、・・・可視光全体に亘って・・・を説明する図であり」と記載され、図２（ａ）には「４００ｎｍ～７００ｎｍ」と記載されているから、訂正後の明細書には可視光の範囲が４００ｎｍ～７００ｎｍと定義されているといえ、取消理由Ｃ（特許法第３６条第４項第１号違反）は解消されていない。（第２６－２７ページの３ウ） ２ 申立人の意見の検討 （１）上記１（１）の主張を検討すると、訂正前の請求項５、１１の「前記特定の一波長は７４５ｎｍ～７９５ｎｍ」という記載の「前記特定の一波長」とは、訂正前の請求項５、１１が引用する訂正前の請求項１、７の「可視光内の特定の一波長」を意味することが明らかである。そうすると、７４５ｎｍ～７９５ｎｍの波長が可視光内のものであることは、訂正前においても特定されており、本件訂正請求の訂正事項１３によって「可視光内」に「７４５ｎｍ～７９５ｎｍ」が含まれることになったとはいえない。 したがって、申立人の上記１（１）の主張は採用できない。 （２）上記１（２）の主張を検討すると、申立人は、溶接材料とそれに対応する波長の関係が、甲６及び甲７に示されている旨を主張しているが、本件発明１の進歩性の判断において説示（上記第５の１（６）イ（ウ）、（エ））したとおり、甲６及び甲７記載の技術的事項を引用発明に適用して本件発明１に至る動機を見いだすことができないから、申立人の当該主張は採用できない。 （３）上記１（３）の主張を検討すると、段落【００２１】の記載だけでなく、段落【００２２】の記載、特許請求の範囲の記載及び技術常識をふまえれば、当業者は、本件明細書において可視光の範囲が４００ｎｍ～７００ｎｍと定義されているわけではないことを理解するから、上記１（３）の主張は採用できない。 ３ 小括 したがって、申立人の主張はいずれも採用することができない。 第７ むすび 以上から、請求項１－２、６－８、１２－１４に係る特許は、取消し理由通知（決定の予告）に記載した取消理由、及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、取り消すことができない。さらに、他に請求項１－２、６－８、１２－１４に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 また、請求項３－５、９－１１に係る特許は、上記第２のとおり、訂正により削除された。これにより、申立人による特許異議の申立てについて、請求項３－５、９－１１に係る申立ては、申立ての対象が存在しないものとなったため、特許法第１２０条の８第１項で準用する同法第１３５条の規定により却下する。 よって、結論のとおり決定する。