2025-700253

特許第７５４３４５５号発明「ニッケル粉末、防カビ剤、塗料、部材、樹脂組成物及び樹脂成形品」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７５４３４５５号の請求項１～８に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７５４３４５５号（以下「本件特許」という。）の請求項１～８に係る特許についての出願は、令和 ５年 １月１２日の出願（特願２０２３－２８８７号。以下「本願」という。）であって、令和 ６年 ８月２３日にその特許権の設定登録がなされ、同年 ９月 ２日にその特許掲載公報が発行されたものである。 その後、令和 ７年 ２月２８日に、請求項１～８（全請求項）に係る特許に対し、特許異議申立人である木村 知子（以下「申立人」という。）により特許異議の申立てがされた。 第２ 本件発明 本件特許の請求項１～８に係る発明は、本願の願書に添付した特許請求の範囲の請求項１～８に記載された事項により特定される、次のとおりのものである（以下、請求項１～８に係る発明を、それぞれ「本件発明１」～「本件発明８」といい、これらを総称して「本件発明」という。また、本願の願書に添付した明細書を「本件明細書」という。）。 「【請求項１】 ニッケル又はニッケル合金を主成分とするニッケル粉末であって、 水素元素を含み、 ニッケル元素の含有量が７０質量％以上であり、 当該ニッケル粉末の全質量に対する水素元素の含有量が０．０５０質量％以上１質量％以下であり、 ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下であるニッケル粉末。 【請求項２】 ガス吸着法により測定される比表面積が９ｍ２／ｇ以下である請求項１に記載のニッケル粉末。 【請求項３】 当該ニッケル粉末の平均粒径が０．２μｍ以上２０μｍ以下である請求項１または請求項２に記載のニッケル粉末。 【請求項４】 請求項１に記載のニッケル粉末からなる防カビ剤。 【請求項５】 請求項１に記載のニッケル粉末を含有する塗料。 【請求項６】 請求項５に記載の塗料を表面の少なくとも一部に有する部材。 【請求項７】 請求項１に記載のニッケル粉末を含有する樹脂組成物。 【請求項８】 請求項７に記載の樹脂組成物を有する樹脂成形品。」 第３ 特許異議の申立ての理由の概要 申立人は、証拠方法として、後記する甲第１号証～甲第４号証を提出し、以下の申立理由１、２により、本件特許の請求項１～８に係る特許は取り消されるべきものである旨主張している。 １ 申立理由１（新規性） 本件発明１～８は、甲第１号証に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 ２ 申立理由２（進歩性） 本件発明１～８は、甲第１号証に記載された発明及び甲第２～４号証に記載された事項又は技術常識に基いて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 ３ 証拠方法 ・甲第１号証：特開２００３－６４４０１号公報 ・甲第２号証：国際公開第２０２１／０２０５２２号 ・甲第３号証：特開２０２１－１８８０８７号公報 ・甲第４号証：国際公開第２０１１／０３７１５０号 第４ 当審における判断 以下に述べるように、特許異議申立書に記載した申立ての理由によっては、本件特許の請求項１～８に係る特許を取り消すことはできない。 １ 申立理由１（新規性）、申立理由２（進歩性） （１）甲第１号証に記載された発明 本願の出願前に公知となった甲第１号証には、「抗菌・防かび性に優れたＮｉ系粉末およびその製法、並びに該Ｎｉ系粉末を含む抗菌・防かび性に優れた材料、樹脂および部材」（発明の名称）に関する記載があり、その請求項１の記載を前提に、特に、段落【００６８】の表１、試験Ｎｏ．８のＮｉ系粉末に着目すると、次の発明（以下「甲１発明」という。）が記載されていると認められる。 ＜甲１発明＞ ＮｉまたはＮｉ合金部分が純Ｎｉであり、水素含量が１０，０００ｐｐｍであるＮｉまたはＮｉ合金粉末の表面に、Ｐ含有化合物として、Ｐｄ－５質量％Ｐが付着しており、該Ｐｄ－５質量％Ｐの付着量が粉末全体中に占める比率で０．１質量％であり、且つ該Ｐｄ－５質量％Ｐ中のＰの合計含量が、粉末全体中に占める比率で０．０５質量％である抗菌・防かび性に優れたＮｉ系粉末。 （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲１発明とを対比する。 （ア）甲第１号証の段落【００３８】には、Ｐ，Ｓ含有化合物の付着処理が施されたＮｉ系粉末に水素を含有させた後のＮｉ系粉末について、「得られるＮｉ系粉末中の水素含有量を１～１０，０００ｐｐｍの範囲に制御できる。」と記載されているから、甲１発明のＮｉ系粉末における水素含量は、Ｎｉ系粉末全体中に占める比率であると認められる。また、Ｎｉ系粉末に含まれるＰ含有化合物の比率が、「質量％」で記載されていることから、甲１発明のＮｉ系粉末における水素含量も質量割合であると認められる。そうすると、甲１発明のＮｉ系粉末における水素含量は、１０，０００質量ｐｐｍ（１質量％）であるから、甲１発明のＮｉ系粉末におけるＮｉの含有量は、ＮｉまたはＮｉ合金部分が純Ｎｉであることを考慮すると、１００－（１（水素）＋０．１（Ｐ含有化合物））＝９８．９質量％程度であると認められる。そして、このＮｉ含有量であれば、Ｎｉは、Ｎｉ系粉末における主成分であるといえる。 一方、本件発明１のニッケル粉末におけるニッケル元素の含有量は、ニッケル粉末の全質量に対するニッケル元素の含有量である（本件明細書の段落【００２９】）。 そうすると、甲１発明のＮｉ系粉末が、９８．９質量％程度のＮｉ含有量のＮｉ系粉末であることは、本件発明１の「ニッケル又はニッケル合金を主成分とするニッケル粉末であって、」「ニッケル元素の含有量が７０質量％以上であ」る、「ニッケル粉末。」に相当する。 （イ）甲１発明のＮｉ系粉末の「水素含量が１０，０００ｐｐｍ」であることは、上記（ア）で述べたとおり、Ｎｉ系粉末全体中に占める水素の含有量が、１０，０００質量ｐｐｍ（１質量％）であることを意味するから、本件発明１のニッケル粉末が、「水素元素を含み、」「当該ニッケル粉末の全質量に対する水素元素の含有量が０．０５０質量％以上１質量％以下」であることに相当する。 （ウ）以上から、本件発明１と甲１発明とは、 「ニッケル又はニッケル合金を主成分とするニッケル粉末であって、 水素元素を含み、 ニッケル元素の含有量が７０質量％以上であり、 当該ニッケル粉末の全質量に対する水素元素の含有量が０．０５０質量％以上１質量％以下であるニッケル粉末。」である点で一致するとともに、以下の点で相違する。 ＜相違点１＞ 本件発明１のニッケル粉末は、「ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」であるのに対し、甲１発明のＮｉ系粉末は、「ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」であるのか不明である点。 イ 判断 （ア）相違点１について ａ 相違点１が実質的な相違点であるかについて （ａ）甲第１号証には、Ｎｉ系粉末の「ガス吸着法により測定される比表面積」の具体的な値が記載されていないから、甲１発明のＮｉ系粉末における、ガス吸着法により測定される比表面積の値は不明である。また、技術常識を考慮しても、甲１発明のＮｉ系粉末のガス吸着法により測定される比表面積の値が「１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」であるかは不明である。 よって、相違点１は、実質的な相違点である。 したがって、本件発明１は、甲１発明であるとはいえない。 （ｂ）申立人は、特許異議申立書の第１２ページ第１６～３０行において、「本件明細書の段落［００３７］に、「当該ニッケル粉末の比表面積を調整する方法は、特に限定されないが、例えばジェットミル、ローラーミル、ハンマーミル、ピンミル、回転ミル、振動ミル、遊星ミル、アトライター、ビーズミル等の粉砕機による処理時間の制御のほか、酸などの水溶液への浸漬・溶出による方法を用いることができる。なお、粉砕機による粉砕は乾式であっても、湿式であってもよい。」とあるように、本件特許発明においては、比表面積の調整に特別の処理を行っておらず、通常の粉砕処理による調整を行うことのみが記載されている。また、この粉砕処理によって得られるニッケル粉末の平均粒径も「０．２μｍ～２０μｍ」（［請求項３］参照）となっている。 この粉砕処理について、甲１発明では、甲１の明細書段落［００５７］に、「試験に用いたＮｉ系粉末は、溶製後、平均粒径が約１μｍとなる様に粉砕して使用した。・・・」とあるように、本件特許発明と同様に、粉砕によってのみＮｉ粉末を調整している。そして、得られた粉末の平均粒径も同等である。 したがって、甲１発明の構成ｃの「比表面積」は、実質的に同一であり、両者に相違はない。」と主張する。 しかしながら、申立人が摘記した本件明細書の段落【００３７】には、「ニッケル粉末の比表面積を調整する方法」として、「粉砕機による処理時間」を制御することなどが記載されているのであって、ニッケル粉末の平均粒径が「０．２μｍ～２０μｍ」の範囲内であれば、比表面積の値が「１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」の範囲内になることが記載されているわけではないから、甲１発明のＮｉ系粉末の平均粒径が約１μｍであるとしても、比表面積の値が「１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」の範囲内になるかどうかは不明である。 次に、具体的な製造方法について検討すると、本件明細書の段落【００５９】には、「Ｎｏ．２では、水アトマイズ法により原料ニッケル粉を調製した。その後、上記原料ニッケル粉を、ビーズミル粉砕機を用いて比表面積が５ｍ２／ｇになるまで湿式粉砕した。」と記載されている。一方、申立人が摘記した甲第１号証の明細書の段落【００５７】には、「試験に用いたＮｉ系粉末は、溶製後、平均粒径が約１μｍとなる様に粉砕して使用した。」と記載されている。 本件発明１のニッケル粉末の製造方法と、甲１発明のＮｉ系粉末の製造方法とは、粉砕前の工程が、いずれも同一であるとはいえないから、具体的な製造方法を考慮しても、甲１発明のＮｉ系粉末の比表面積の値は、本件発明１のニッケル粉末の比表面積の値と実質的に同一であるとはいえず、不明である。 以上のとおりであるから、申立人の上記主張は採用できない。 ｂ 相違点１の容易想到性について （ａ）甲第２～４号証には、以下の事項が記載されている。 ・甲第２号証（国際公開第２０２１／０２０５２２号）の記載事項 「［請求項１］ 略球状の粒子形状を有し、 数平均粒径が０．０３μｍ～０．４μｍであり、 表面に水酸化ニッケルの塩基性塩を主成分とする酸化被膜を備え、 粒径が０．８μｍを超える、板状水酸化ニッケルを主成分とする粗大粒子の含有量が２００質量ｐｐｍ以下であり、 粒径が１．２μｍを超える、板状水酸化ニッケルを主成分とする粗大粒子の含有量が１００質量ｐｐｍ以下である、ニッケル粉末。」 「［請求項３］ ニッケル粉末の比表面積に対する酸素含有量が０．３５質量％・ｇ／ｍ２以上であり、ニッケル粉末の比表面積に対する硫黄含有量が０．０４質量％・ｇ／ｍ２以下である、請求項１または２に記載のニッケル粉末。」 「［０００１］ 本発明は、積層セラミック部品の電極材として用いられる高性能なニッケル粉末およびニッケル粉末の製造方法に関し、ニッケル粉末と水とを少なくとも含有するニッケル粉含水ケーキを経由して製造されるニッケル粉末およびニッケル粉末の製造方法、特に湿式法により得られる安価で高性能なニッケル粉末およびニッケル粉末の製造方法に関する。」 「［００４５］ ニッケル粉末に対する硫黄含有量は、多くなると硫黄に起因する内部電極欠陥が発生することがあるため、好ましくはニッケル粉末の比表面積（ｍ２／ｇ）に対して０．１質量％・ｇ／ｍ２以下、より好ましくは０．０７質量％・ｇ／ｍ２以下、さらに好ましくは０．０４質量％・ｇ／ｍ２以下である、例えば平均粒径０．２μｍのニッケル粉末だと比表面積は４ｍ２／ｇ程度のため、その硫黄含有量は、好ましくは０．４０質量％以下程度、より好ましくは０．２８質量％以下程度、さらに好ましくは０．１６質量％以下程度である。硫黄含有量の下限は特に限定されることはなく、含有量の分析で用いられる分析機器、例えば燃焼法による硫黄分析装置やＩＣＰ分析装置により検出限界以下の測定結果となるようなごく微量の含有量でもよい。 ［００４６］ ただし、ニッケル粉末の比表面積（ｍ２／ｇ）に対する硫黄含有量が０．０４質量％・ｇ／ｍ２以下まで少なくなると、前述した硫黄によるバインダー樹脂の分解抑制効果が小さくなって積層セラミックコンデンサ製造時の脱バインダー処理において積層体の強度低下やクラック発生などが起きやすくなるが、本発明のニッケル粉末では、表面に形成された水酸化ニッケルの塩基性塩を主成分とする酸化被膜により、触媒活性の高い金属ニッケル部分がバインダー樹脂と接触しにくくなって樹脂分解が抑制されるという副次効果が発現する。 ［００４７］ したがって、本発明のニッケル粉末において、硫黄含有量を少なくするために硫黄コート処理を施さなかったとしても、酸化被膜の厚みを所定以上にすれば、バインダー樹脂分解を抑制することができる。具体的には、ニッケル粉末の比表面積（ｍ２／ｇ）に対する硫黄含有量（質量％）が０．０４質量％・ｇ／ｍ２以下の場合には、ニッケル粉末の比表面積（ｍ２／ｇ）に対する酸素含有量（質量％）は好ましくは０．３５質量％・ｇ／ｍ２以上、より好ましくは０．４０質量％・ｇ／ｍ２以上にすればよい。例えば平均粒径０．２μｍのニッケル粉末だと比表面積は４ｍ２／ｇ程度のため、その酸素含有量は、好ましくは１．４質量％以上程度、より好ましくは１．６質量％以上程度である。」 「［０１２４］ （比表面積） ニッケル粉末の比表面積はマウンテック社製の「マックソーブ」を用いて測定した。」 「［０１７８］ ［表１］ 実施例１０ 粒子特性 平均粒径 ０．２０μｍ 比表面積 ４．３ｍ２／ｇ ニッケル粉末中のニッケル以外の構成元素 Ｏ １．７質量％ 酸化被膜／Ｎｉ（ＯＨ）２の塩基性塩 Ｎｉ（ＯＨ）Ｘ（ＣＨ３ＣＯＯ）Ｙ」（当合議体注：部分抽出） ・甲第３号証（特開２０２１－１８８０８７号公報）の記載事項 「【請求項１】 平均粒子径が５～１００ｎｍのニッケルナノ粒子及びバインダー樹脂を非極性溶媒中に分散させたニッケルナノ粒子ペーストに、水又は１ｗｔ％以上の過酸化水素水を接触させることによって、前記ニッケルナノ粒子の表面に皮膜を生成させるとともに、ニッケルナノ粒子同士を直接又は前記皮膜を介して凝集させて得られるニッケルナノ粒子凝集体。」 「【０００１】 本発明は、ニッケルナノ粒子表面に水酸化ニッケルを生成させることで低温接合を可能にしたニッケルナノ粒子凝集体、その製造方法及びニッケルナノ粒子複合基板に関する。」 「【００４２】 ［ニッケルナノ粒子］ 以上のようにして、ニッケルナノ粒子を含有する合成液スラリーを得ることが出来る。なお、得られたニッケルナノ粒子合成液スラリーを、例えば、静置分離し、上澄み液を取り除いた後、ニッケルナノ粒子表面のニッケルイオンの活性低下をおさえるため、洗浄溶媒にて洗浄・置換することが好ましい（工程Ｃ）。この工程Ｃで用いる洗浄溶媒中には、水酸基を含有しないことが好ましい。したがって、洗浄溶媒としては、０．１ｗｔ％以上の水分を含まない溶媒を用いることが好ましく、この条件を満たすトルエン、キシレン、ヘキサン、シクロヘキサンなどの有機溶媒を好ましく利用できる。なお、炭素数３以下の親水性アルコールは、通常、０．１ｗｔ％以上の水分を含有するため、洗浄溶媒として好ましくない。 また、ニッケルナノ粒子は、酸素、水素、炭素、窒素、等の金属元素以外の元素を少量含有していてもよいし、これらの合金であってもよい。さらに、単一のニッケルナノ粒子で構成されていてもよく、２種以上のニッケルナノ粒子を混合したものであってもよい。」 「【００５９】 ［比表面積の測定］ ガス吸着法によりニッケル粒子の比表面積[ｍ２／ｇ]を測定した。」 「【００６７】 （合成例１） ６００ｇのオレイルアミンに２４６．８ｇの酢酸ニッケル四水和物を加え、窒素フロー下で１４０℃、３時間加熱することで錯化反応液１（ニッケルイオン濃度；７．５重量％）を得た。この錯化反応液１を約６０℃に冷却した後に有機金属化合物（１）を０．１０ｇ加え、２１５℃で７分間反応させた後、急冷しニッケルナノ粒子スラリー１を得た。得られたニッケルナノ粒子スラリー１の分析結果を表１と表２に示した。また、得られたニッケルナノ粒子１の一部を８０℃で1時間乾燥させた後、水を１０ｗｔ％含むイソプロパノール溶液を霧吹きにて吹きかけ、８０℃で１時間乾燥させた後に分析した結果を表３に示した。」 「【００７１】 【表１】 ［図：0001425787000001.jpg］ 【００７２】 【表２】 ［図：0001425787000002.jpg］ 【００７３】 【表３】 ［図：0001425787000003.jpg］ 」 ・甲第４号証（国際公開第２０１１／０３７１５０号）の記載事項 「［請求項１］ 平均粒径が０．０５～０．３μｍ、比表面積径に対する結晶子径が６０～９０％、硫黄含有量が０．１～０．５質量％、及び酸素含有量が０．４～１．５質量％であり、 表面に酸素を含む厚さが２～１５ｎｍの被覆層を有し、少なくとも該被覆層の最外面がニッケル硫黄化合物及びニッケル酸素化合物を含む混合物で構成されていることを特徴とするニッケル微粉。」 ［［０００１］ 本発明は、ニッケル微粉及びその製造方法に関する。より詳しくは、積層セラミックコンデンサの内部電極などの電子部品用電極材料として用いられるニッケル微粉及びその製造方法に関するものである。 ・・・（略）・・・」 「［００８７］ ・・・（略）・・・ （２）比表面積径（以下、ＢＥＴ径と記載する。）：多検体ＢＥＴ比表面積測定装置（ユアサアイオニクス（株）製、Ｍｕｌｔｉｓｏｒｂ－１６）を用いて比表面積を測定し、ＢＥＴ径に換算した。 ・・・（略）・・・」 「［０１１７］ ［実施例８］ ニッケル粉としてニッケル原料中の硫黄含有量は０．１８質量％とし、プラズマ入力約６０ｋＷで高周波プラズマを点火して、アルゴンの総量１７５Ｌ／分、水素６．４Ｌ／分、雰囲気圧力６０ｋＰａに調整し、安定したプラズマ炎を得た。搬送ガス（アルゴン１５リットル／分）により、プラズマ炎の内部にニッケル原料を１．６ｋｇ／ｈｒで供給して微粉を作製した。ニッケル微粉のＢＥＴ径は、８６ｎｍであった。硫黄及び酸素含有量はそれぞれ０．２７質量％、１．３０質量％であった。」 （ｂ）上記（ａ）に摘記したとおり、甲第２号証には、積層セラミック部品の電極材として用いられる高性能なニッケル粉末において、平均粒径が０．２０μｍ、比表面積が４．３ｍ２／ｇの具体例（実施例１０）が記載されている。甲第３号証には、ニッケルナノ粒子表面に水酸化ニッケルを生成させることで低温接合を可能にしたニッケルナノ粒子凝集体において、平均粒子径が５１．４ｎｍ（０．０５１４μｍ）、比表面積が１０．９ｍ２／ｇのニッケルナノ粒子（合成例１）が記載されている。甲第４号証には、積層セラミック部品の電極材として用いられる高性能なニッケル粉末において、比表面積が７．８４ｍ２／ｇ（比表面積＝６／（密度×ＢＥＴ径）＝６／（８．９×１０６（ｇ／ｍ３）×８６×１０－９（ｍ））の具体例（実施例８）が記載されている（なお、平均粒径は、請求項１から、０．０５～０．３μｍの範囲内と認める。）。 これら甲第２～４号証に記載されるニッケル粉末（粒子）の平均粒径は、いずれも甲１発明のＮｉ系粉末（約１μｍ）に比べて小径であるから、体積（平均粒径）に依存する比表面積の値を、そのまま甲１発明に適用できるとはいえないし、また、甲第２～４号証に記載されるニッケル粉末（粒子）の想定される用途も、甲１発明のＮｉ系粉末の用途（抗菌・防かび）とは異なるから、甲第２～４号証に、比表面積がそれぞれ、４．３ｍ２／ｇ、１０．９ｍ２／ｇ、７．８４ｍ２／ｇであることが記載されていたとしても、甲１発明のＮｉ系粉末において、「ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」とすることが動機付けられるとはいえない。 したがって、甲１発明において、相違点１に係る特定事項を備えようとすることは、当業者が容易に想到し得ることであるとはいえない。 （ｃ）申立人は、特許異議申立書の第１４ページ下から第１６行～第１５ページ第３行において、「さらに、ニッケル粉末の比表面積については、以下の文献にも本件特許発明１の構成要件Ｃと同等の記載がされている。」として、甲第２号証及び甲第４号証の記載を指摘し、「以上のように、本件特許発明１の構成要件Ｂ（水素含有量）及び構成要件Ｃ（比表面積）については、甲第２号証ないし甲第４号証の文献に記載された技術内容と同等であり、これらの技術内容は、本件特許の出願時における技術常識である。 さらに、本件特許発明の課題（構成Ｙ）である「防カビ作用に優れるニッケル粉末の提供」と、甲１発明の課題（構成ｙ）である「安定して優れた抗菌・防かび性を示す金属粉末の提供」とは、課題も共通である。 したがって、これらの記載から構成Ｂを「水素含有量を０．０５０質量％～１質量％」とし、構成Ｃを「比表面積を１ｍ２／ｇ～１０ｍ２／ｇ」と特定することに特段の工夫もなく、当業者が適宜採用し得る設計的事項であり、また、当業者が適宜なし得る数値範囲の最適化にすぎない。」と主張する。 申立人の構成要件Ｃ（比表面積）についての主張は、甲第２号証及び甲第４号証を根拠として、ニッケル粉末において、「ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」であることが技術常識であることを前提とするものと解される。 しかしながら、甲第３号証に記載の比表面積は、合成例１では１０．９ｍ２／ｇであり、合成例３では２４．５ｍ２／ｇであるから、甲第３号証の記載も考慮すると、ニッケル粉末において、「ガス吸着法により測定される比表面積が１ｍ２／ｇ以上１０ｍ２／ｇ以下」であることが技術常識であるとはいえないし、この範囲に設定することが、特段の工夫もなく、当業者が適宜採用し得る設計的事項であるとはいえず、また、当業者が適宜なし得る数値範囲の最適化にすぎないともいえない。 この点、水素元素の含有量が、本件発明１と甲１発明との相違点であったとしても変わるものではない。 以上のとおりであるから、申立人の上記主張は採用できない。 ウ 小括 以上のとおり、本件発明１は、甲第１号証に記載された発明であるとはいえない。また、本件発明１は、甲第１号証に記載された発明及び甲第２～４号証に記載された事項又は技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （３）本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件特許の請求項１の記載を引用するものであり、本件発明１の発明特定事項を全て備えるものであるが、上記（２）で述べたとおり、本件発明１が、甲第１号証に記載された発明であるとはいえず、また、甲第１号証に記載された発明及び甲第２～４号証に記載された事項又は技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、本件発明２～８についても同様に、甲第１号証に記載された発明であるとはいえず、また、甲第１号証に記載された発明及び甲第２～４号証に記載された事項又は技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）申立理由１（新規性）、申立理由２（進歩性）のまとめ 以上によれば、申立理由１（新規性）、申立理由２（進歩性）によっては、本件特許の請求項１～８に係る特許を取り消すことはできない。 第５ むすび 以上のとおりであるから、特許異議申立書に記載した申立ての理由によっては、本件特許の請求項１～８に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件特許の請求項１～８に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。