2024-700569

特許第７４０００２１号発明「金属粉およびその製造方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７４０００２１号の請求項１～６に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７４０００２１号（以下「本件特許」という。）の請求項１～６に係る特許についての出願は、令和 ４年 ６月１３日の出願であって、令和 ５年１２月 ８日にその特許権の設定登録がなされ、同年１２月１８日にその特許掲載公報が発行されたものである。 その後、令和 ６年 ６月１３日に、請求項１～６（全請求項）に係る特許に対し、特許異議申立人である竹下 瑞恵（以下「申立人」という。）により特許異議の申立てがされた。 第２ 本件発明 本件特許の請求項１～６に係る発明は、本願の願書に添付した特許請求の範囲の請求項１～６に記載された事項により特定される、次のとおりのものである（以下、請求項１～６に係る発明を、それぞれ「本件発明１」～「本件発明６」という。また、これらを総称して「本件発明」という。）。 「【請求項１】 質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであり、残部が不可避的不純物である金属粉であって、 前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下であり、 前記金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍである ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ用金属粉。 【請求項２】 前記金属粉の比表面積１ｍ２／ｇあたりのＳ（硫黄）含有量が７０ｐｐｍ～６００ｐｐｍであることを特徴とする請求項１に記載の積層セラミックコンデンサ用金属粉。 【請求項３】 前記金属粉の比表面積１ｍ２／ｇあたりのＯ（酸素）含有量が１２００ｐｐｍ～７０００ｐｐｍであることを特徴とする請求項１または２に記載の積層セラミックコンデンサ用金属粉。 【請求項４】 金属粉の製造方法であって、 金属化合物を蒸発または気化させて金属化合物気体とする気化工程と、 前記金属化合物気体と還元性気体とを反応させて金属粉を生成する反応工程と、 前記生成した金属粉を冷却する冷却工程とが連続しており、 前記冷却工程において冷却された気体が、前記反応工程に逆流しないようにオリフィスを設け、 前記オリフィスの中心の開口部の開口面積が反応部の断面積の２５％～７５％とし、 前記冷却工程において、反応に必要な不活性気体および前記還元性気体の総量の０．５倍ｍｏｌ量～５．０倍ｍｏｌ量の冷却用気体を使用し、 前記金属粉が、質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであり、残部が不可避的不純物であって、 前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下であり、 前記金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍである ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ用金属粉の製造方法。 【請求項５】 前記金属粉の比表面積１ｍ２／ｇあたりのＳ（硫黄）含有量が７０ｐｐｍ～６００ｐｐｍであることを特徴とする請求項４に記載の積層セラミックコンデンサ用金属粉の製造方法。 【請求項６】 前記金属粉の比表面積１ｍ２／ｇあたりのＯ（酸素）含有量が１２００ｐｐｍ～７０００ｐｐｍであることを特徴とする請求項４または５に記載の積層セラミックコンデンサ用金属粉の製造方法。」 第３ 特許異議の申立ての理由の概要 申立人は、証拠方法として、後記する甲第１号証～甲第８号証を提出し、以下の申立理由１～３により、本件特許の請求項１～６に係る特許は取り消されるべきものである旨主張している。 １ 申立理由１（新規性、進歩性） （１）本件発明１は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （２）本件発明１は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明に基いて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （３）本件発明２は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （４）本件発明３は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 ２ 申立理由２（新規性、進歩性） （１）本件発明１は、甲第２号証に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （２）本件発明１は、甲第２号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （３）本件発明２は、甲第２号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （４）本件発明３は、甲第２号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （５）本件発明４は、甲第２号証に記載された発明及び技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （６）本件発明５は、甲第２号証に記載された発明、技術常識及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （７）本件発明６は、甲第２号証に記載された発明、技術常識及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 ３ 申立理由３（新規性、進歩性） （１）本件発明１は、甲第３号証に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （２）本件発明１は、甲第３号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （３）本件発明２は、甲第３号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （４）本件発明３は、甲第３号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 ４ 申立理由４（サポート要件） 本件発明１～６について、特許請求の範囲の記載が、特許法第３６条第６項第１号の規定に適合するものではないから、同発明に係る特許は、同法第１１３条第４号に該当し、取り消されるべきものである。 ５ 証拠方法 ・甲第１号証：特開２０１７－１７９５５１号公報 ・甲第２号証：国際公開第２０１９／００９１３６号 ・甲第３号証：特開２０１７－１５００７３号公報 ・甲第４号証：特開２０１６－１５６０９３号公報 ・甲第５号証：特開２０２０－１００８５８号公報 ・甲第６号証：特開２００５－２４８１９８号公報 ・甲第７号証：荒川正文、“粒度測定入門”、粉体工学会誌、１９８０年、第１７巻、第６号、ｐ．２９９－３０７ ・甲第８号証：久保輝一郎、外４名、“粉体 理論と応用”、改訂二版、丸善株式会社、昭和５４年 ５月１２日、ｐ．４４６－４５３ 第４ 当審の判断 以下に述べるように、特許異議申立書に記載した申立ての理由によっては、本件特許の請求項１～６に係る特許を取り消すことはできない。 １ 申立理由１（新規性、進歩性） （１）甲第１号証に記載された発明 ア 甲第１号証には、「金属元素成分の含有量が８５～９９質量％であり、前記金属元素以外の成分の含有量が１～１２質量％であるニッケル粒子であって、走査型電子顕微鏡観察により測定された、前記ニッケル粒子の一次粒子の平均粒子径Ｄ５０が２０ｎｍ～１５０ｎｍであり、一次粒子径の変動係数が、０．２以下であり、前記平均粒子径Ｄ５０の２．０倍以上の粒子が、全粒子個数の０．１％以下であるニッケル粒子。」に関する発明が記載されている（請求項１）。 イ また、甲第１号証には、上記アのニッケル粒子を、積層セラミックコンデンサに用いることも記載されている（請求項１０、１１）。 ウ そして、甲第１号証には、上記アの発明の具体例と解される実施例１として、ニッケルの含有量が９７．６５質量％、銅の含有量が０．１０質量％、金属元素以外の成分の含有量が２．２５質量％、一次粒子の平均粒子径Ｄ５０が８３ｎｍ、一次粒子径の変動係数が０．１４、前記平均粒子径Ｄ５０の２．０倍以上の粒子が、全粒子個数の０．０１％未満であるニッケル粒子Ａが記載されている（段落【００８４】、表１及び表２）。 エ そうすると、甲第１号証には、以下の発明（以下「甲１発明」という。）が記載されていると認められる。 ＜甲１発明＞ ニッケルの含有量が９７．６５質量％、銅の含有量が０．１０質量％であり、金属元素以外の成分の含有量が２．２５質量％であるニッケル粒子であって、走査型電子顕微鏡観察により測定された、前記ニッケル粒子の一次粒子の平均粒子径Ｄ５０が８３ｎｍであり、一次粒子径の変動係数が０．１４であり、前記平均粒子径Ｄ５０の２．０倍以上の粒子が、全粒子個数の０．０１％未満である、積層セラミックコンデンサ用ニッケル粒子。 （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲１発明とを対比する。 （ア）甲１発明において、ニッケルが金属成分（ニッケル＋銅）に占める割合は、略９９．９質量％（９７．６５／（９７．６５＋０．１０）＝９９．８９８％）であるから、「ニッケルの含有量が９７．６５質量％」であることは、本件発明１おいて、「質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであ」ることに相当する。 （イ）甲１発明において、「ニッケル粒子」が、「金属粉」であることは明らかであるから、甲１発明における、「積層セラミックコンデンサ用ニッケル粒子」は、本件発明１における、「積層セラミックコンデンサ用金属粉」に相当する。 （ウ）そうすると、本件発明１と甲１発明とは、「質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルである金属粉である、積層セラミックコンデンサ用金属粉。」である点で一致し、以下の点で相違する。 ＜相違点１－１＞ 本件発明１の金属粉は、金属成分におけるニッケル以外の残部が不可避的不純物であるのに対し、甲１発明のニッケル粒子は、金属成分におけるニッケル以外の残部が、銅：０．１０質量％である点。 ＜相違点１－２＞ 本件発明１は、「前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下」であるのに対し、甲１発明は、「ニッケル粒子の一次粒子の平均粒子径Ｄ５０が８３ｎｍであり、一次粒子径の変動係数が０．１４であり、前記平均粒子径Ｄ５０の２．０倍以上の粒子が、全粒子個数の０．０１％未満」である点。 ＜相違点１－３＞ 本件発明１は、「前記金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍ」であるのに対し、甲１発明は、「ニッケル粒子の一次粒子の平均粒子径Ｄ５０が８３ｎｍ」である点。 イ 判断 （ア）相違点１－１について ａ 相違点１－１が実質的な相違点であるかについて （ａ）甲第１号証において、銅は、粗大粒子が極めて少なく、粒度分布のシャープな粒子を合成しやすいなどという理由から、ニッケル粒子に添加される元素であり、また、凝集の原因となるニッケル粒子の磁性を弱め、分散性の向上に寄与する元素でもある（段落【００２３】）。 （ｂ）そして、ニッケル元素に対する銅元素の含有割合が０．０１質量％未満であると、分散性の改善効果が得られず、一方、２０質量％を超えると、加熱還元による粒子成長の効率が悪くなり、マイクロ波による加熱還元をする場合は、マイクロ波を吸収し難くなるため、効率の悪化が特に顕著であるから（段落【００２３】）、甲第１号証のニッケル粒子においては、「金属元素成分において、ニッケル及び銅の質量比（ニッケル：銅）が、９９．９９～８０．００：０．０１～２０．００」に設定されている（請求項３）。 （ｃ）ここで、甲１発明のニッケル粒子は、ニッケルの含有量が９７．６５質量％、銅の含有量が０．１０質量％であるから、金属元素成分において、ニッケル及び銅の質量比は、上記ア（ア）で述べたとおり、９７．６５：０．１０＝９９：８９８：０．１０２となり、上記（ｂ）の請求項３の条件を満たすことから、甲１発明のニッケル粒子における銅は、上記（ａ）の作用効果を得るために意図的に添加された必須成分であると解される。 そうすると、甲１発明のニッケル粒子において、金属成分におけるニッケル以外の残部である銅は、不可避的不純物ではないから、相違点１－１は実質的な相違点である。 ｂ 相違点１－１の容易想到性について 上記ａ（ｃ）で述べたとおり、甲１発明のニッケル粒子において、銅は、上記ａ（ａ）の作用効果を得るために意図的に添加された必須成分であると解されるから、銅の含有量を、不可避的不純物相当量である０．０１質量％未満とすると、その作用効果が消失することになる。 そうすると、甲１発明のニッケル粒子において、金属成分におけるニッケル以外の残部を不可避的不純物とすることには、阻害要因があると認められる。 したがって、甲１発明のニッケル粒子において、上記相違点１－１に係る発明特定事項とすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。このことは、甲第４号証に、ニッケル粉末の比表面積と硫黄（Ｓ）、酸素（Ｏ）の含有量、甲第５号証に、ニッケル粉末における硫黄（Ｓ）の作用効果、甲第６号証に、ニッケル粉末の比表面積と酸素（Ｏ）の含有量、甲第７、８号証に、下記エ（イ）ａの事項が記載されていても変わるものではない。 よって、上記相違点１－２、相違点１－３について検討するまでもなく、本件発明１は、甲１発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 ウ 小括 以上のとおり、本件発明１は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明であるとはいえない。また、本件発明１は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 エ 申立人の主張について （ア）ａ 申立人は、特許異議申立書の第２６ページ下から第１３行～第２８ページ第８行において、甲第１号証の図１（実施例１で得たニッケル粒子のＳＥＭ写真）の画像解析結果に基づいて、以下のように主張する。 「図１に示されたニッケル粒子のうち、輪郭が明瞭であるニッケル粒子４８６個（下記の図面で赤で囲まれたもの）それぞれについて、画像解析ソフトウェア（株式会社ライトストーン製、ＭＩＰＡＲ）を用いて、画像解析により等体積球相当径（ＤＰＶ）を求め、これらのニッケル粒子の体積基準中位径（ＤＰＶ５０）を算出した。その結果、ＤＰＶ５０は０．０８μｍであった。」 しかしながら、どのような手順で等体積球相当径（ＤＰＶ）を求めたのかは明らかにされていない。 ｂ 一方、本願の願書に添付した明細書（以下「本件明細書」という。）には、以下の事項が記載されている。 （ａ）「本発明においては、その最大長径を金属粒子の長径（Ｌ）と定義する。次に、その絶対最大長に平行な２本の直線で図形（物体画像）を挟んだときの２直線間の最短距離を対角幅というが、本発明においては、その対角幅を金属粒子の短径（Ｓ）と定義する。」（段落【００２０】） （ｂ）「金属粒子の等体積球相当径とは、同じ体積を持つ球形粒子の場合の直径に相当する。例えば、ある粒子の体積がＶだとすると、等体積球相当径（ＤＰＶ）は、次の式（１）で求められる。 ＤＰＶ＝（Ｖ÷π×６）１／３ ・・・・・（１）」（段落【００２１】） （ｃ）「〔粒子体積〕 走査電子顕微鏡で観察される連結粒子１０は、そのほとんどが球形もしくはカプセル状となっている。図２に示すように、連結粒子１０の最大長径を長径（Ｌ）としたときに、両端部が短径（Ｓ）を直径とする球体と、短径（Ｓ）を直径とし、〔長径（Ｌ）－短径（Ｓ）〕の長さを有する円柱部分とするとよく近似ができる。また、長径＝短径の場合は、円柱の部分の体積が０となり球体となる。」（段落【００７２】） ｃ 上記ｂの記載によれば、本件発明においては、金属粒子の最大長径を金属粒子の長径（Ｌ）と定義し、該長径（Ｌ）の対角幅を金属粒子の短径（Ｓ）と定義する。そして、金属粒子の体積（Ｖ）は、短径（Ｓ）を直径とする球体と、短径（Ｓ）を直径とし、〔長径（Ｌ）－短径（Ｓ）〕の長さを有する円柱部分の体積の和で近似され、等体積球相当径（ＤＰＶ）は、上記ｂ（ｂ）の式から算出されるものである。 ｄ 上記ａのとおり、甲第１号証の図１の画像解析において、どのような手順で等体積球相当径（ＤＰＶ）が求められたのかが明らかでない以上、本件発明１の等体積球相当径（ＤＰＶ）と、甲１発明の等体積球相当径（ＤＰＶ）とが等値であるかは不明である。 そうすると、等体積球相当径（ＤＰＶ）と関連する、「短径（Ｓ）と等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）」、「等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）」及び「体積基準中位径（ＤＰＶ５０）」についても、本件発明１の値と、甲１発明の値とが等値であるかは不明であるから、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （イ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第２８ページ第９行～第３１ページ第４行において、概ね、以下のように主張する。 甲第７号証には、粉末の粒度分布に関し、「重量基準では正規分布に適合することが分かる」との記載があり、甲第８号証には、粒度分布において、密度が一定であれば、体積基準と重量基準は実質的に同じものとなる旨が記載され、本件発明１の金属粉の体積基準による粒度分布は、上記甲第７、８号証の記載によれば、実質的に正規分布となる、あるいはそれに近似する分布となることを前提とすると、正規分布の基本的な性質の１つとして、「平均値と最頻値と中央値が一致する」ことがあるのは周知の事実であるから、本件発明１の体積基準中位径（ＤＰＶ５０）は、本件発明１の金属粉の粒子径の平均値と実質的に近似しているといえる。 一方、甲第１号証の実施例１のニッケル粒子は、ＤＭＡＸが１３０ｎｍであり、Ｄ５０：８３ｎｍの１．６倍程度（１３０／８３＝１．５６）にすぎず、Ｄ５０あるいはＤＰＶ５０から求められるＤＰＶ９９である１５０ｎｍ（８３×１．８＝１４９）以上の粒子は存在していない。また、甲第１号証の実施例１のニッケル粒子は、実質的に連結粒子を有していないから、比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下の粒子が存在していない。 ｂ しかしながら、甲第７号証に記載された粉体を重量基準で表したときに正規分布を示すからといって、甲１発明のニッケル粒子が正規分布を示すかどうかは不明であるから、申立人の上記ａの主張は、前提において誤りであり採用しない。 （ウ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３１ページ第５～１６行において、概ね、以下のように主張する。 甲第１号証は、本件発明１の発明特定事項のすべてを具備する実施例を開示するとともに、連結粒子を含む粗大粒子の数を低減させ、かつ、粒度分布がきわめて狭いニッケル粒子について開示している。よって、当業者は、甲第１号証に基づいて、連結粒子を含む粗大粒子を低減させ、かつ、粒度分布を向上させて、発明特定事項Ｂに規定する「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」で、かつ、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上」である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下であるとの特性を実現することは、当業者が容易に想到できることであったといえる。 ｂ しかしながら、本件発明１が新規性を有しないことは、上記イ（ア）ａで述べたとおりであるから、申立人の上記ａの主張は、その前提を欠くものであり採用しない。 （３）本件発明２、３について 本件発明２、３は、本件発明１を直接又は間接的に引用するものであり、本件発明１の発明特定事項をすべて備えるものであるが、上記（２）で述べたとおり、本件発明１が、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、上記（２）イ（ア）ｂの甲第４～６号証の記載を考慮しても、本件発明２は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。また、本件発明３は、甲第１号証（補助的に甲第７、８号証）に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）申立理由１（新規性、進歩性）についてのまとめ 以上のとおり、申立理由１（新規性、進歩性）によっては、本件特許の請求項１～３に係る特許を取り消すことはできない。 ２ 申立理由２（新規性、進歩性） （１）甲第２号証に記載された発明 ア 甲第２号証の記載（請求の範囲、段落［０００１］、［００５４］～［００８５］）、特に、実施例１に係る記載に着目し、本件発明１の記載に倣って整理すると、以下の発明（以下「甲２発明」という。）が記載されていると認められる。 ＜甲２発明＞ 塩化ニッケルガスを水素ガスで還元して得た金属粉末であって、 前記金属粉末を構成する金属粒子の個数５０％径が７６ｎｍである 積層セラミックコンデンサ用金属粉末。 （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲２発明とを対比する。 （ア）甲２発明の金属粉末は、塩化ニッケルガスを水素ガスで還元して得た金属粉末であり、ニッケルを含むことは明らかであるから、本件発明１の金属粉と、ニッケルを含む粉である限りにおいて共通する。 （イ）甲２発明における、「積層セラミックコンデンサ用金属粉末」は、本件発明１における、「積層セラミックコンデンサ用金属粉」に相当する。 （ウ）そうすると、本件発明１と甲２発明とは、「ニッケルを含む金属粉である、積層セラミックコンデンサ用金属粉。」である点で一致し、以下の点で相違する。 ＜相違点２－１＞ 本件発明１の金属粉は、「質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであり、残部が不可避的不純物」であるのに対し、甲２発明の金属粉末は、ニッケルを含むものの、他の金属成分の種類や含有量が不明である点。 ＜相違点２－２＞ 本件発明１は、「前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下」であるのに対し、甲２発明は、「金属粉末を構成する金属粒子の個数５０％径が７６ｎｍ」である点。 ＜相違点２－３＞ 本件発明１は、「前記金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍ」であるのに対し、甲２発明は、「金属粉末を構成する金属粒子の個数５０％径が７６ｎｍ」である点。 イ 判断 （ア）相違点２－３について ａ 相違点２－３が実質的な相違点であるかについて 甲２発明の金属粉末において、金属粉末を構成する金属粒子の「「粒径」とは、金属粒子の画像解析で求められる投影像に外接する最小円の直径である」（段落［００１６］）。 金属粒子と当該金属粒子と外接する最小円との接点のうち、接点間距離が最長となる２点を結んだ直線が必ずしも直径となるとはいえないから、金属粒子の粒径は、当該金属粒子の最大長径（Ｌ）であるとは必ずしもいえない。 したがって、甲２発明の金属粉末において、金属粉末を構成する金属粒子の長径（Ｌ）は不明である。 そして、金属粒子における前記接点間距離が最長となる２点を結んだ直線の対角幅である長さは、金属粒子と当該金属粒子と外接する最小円の直径とは限らないから、甲２発明の金属粉末において、金属粉末を構成する金属粒子の短径（Ｓ）も不明である。 そうすると、甲２発明の金属粉末を構成する金属粒子の長径（Ｌ）と短径（Ｓ）とが不明である以上、長径（Ｌ）と短径（Ｓ）とを用いて、等体積球相当径（ＤＰＶ）を算出することができないから、等体積球相当径（ＤＰＶ）は不明であり、等体積球相当径（ＤＰＶ）が不明である以上、体積基準中位径（ＤＰＶ５０）も不明である。 以上のとおりであるから、「金属粉末を構成する金属粒子の個数５０％径が７６ｎｍ」であるからといって、甲２発明の金属粉末を構成する金属粒子の体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍであるかは不明である。 したがって、相違点２－３は実質的な相違点である。 ｂ 相違点２－３の容易想到性について 甲第２号証には、金属粉末を構成する金属粒子の最大長径（Ｌ）及び該長径（Ｌ）の対角幅である短径（Ｓ）に係る事項が何ら記載されていないから、金属粉末を構成する金属粒子の体積基準中位径（ＤＰＶ５０）を０．０８μｍ～０．３５μｍとすることが、当業者が容易に想到できることであるとはいえない。 したがって、甲２発明のニッケル粉末において、上記相違点２－３に係る発明特定事項とすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。このことは、甲第４～６号証に、上記１（２）イ（ア）ｂの事項が記載され、また、甲第２号証に記載の装置に、逆流防止手段としてのオリフィスを設けること及びその開口面積を規定することが技術常識であったとしても変わるものではない。 よって、上記相違点２－１、相違点２－２について検討するまでもなく、本件発明１は、甲２発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 ウ 小括 以上のとおり、本件発明１は、甲第２号証に記載された発明であるとはいえない。また、本件発明１は、甲第２号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 エ 申立人の主張について （ア）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３１ページ下から第１２行～第３３ページ第６行において、概ね、以下のように主張する。 甲第２号証の実施例１～３には、個数５０％径が、７６ｎｍ～１９２ｎｍのニッケル粉末が記載されている。甲第２号証では、「長径が金属粉末の個数５０％径の３倍以上である連結粒子」（請求項１）の排除を企図しているので、長径Ｌが０．２２８μｍ（０．０７６×３）以上から０．５７６μｍ（０．１９２×３）以上が粗大連結粒子といえる。また、連結粒子の定義として、アスペクト比が１．２未満であることを要求していることから、アスペクト比が１．２（「Ｓ＝０．１９μｍ（０．２２８／１．２）、Ｌ＝０．２２８μｍ」～「Ｓ＝０．４８μｍ（０．５７６／１．２）、Ｌ＝０．５７６μｍ」）の粒子のＤＰＶは０．２０７μｍ（０．１９／０．９２）～０．５２２（０．４８／０．９２）μｍとなる。かかるＤＰＶの数値は必ずしも９９％点ではないが、９９％点であると仮定した場合には、その体積基準中位径（ＤＰＶ５０）は０．１１５μｍ（０．２０７／１．８）～０．２９μｍ（０．５５２／１．８）程度となる。 一方、本件発明１では、「体積基準中位径（ＤＰＶ５０）」が０．３５μｍ（ＤＰＶ９９＝０．６３μｍ（０．３５×１．８））まで包含されるから、個数５０％径が０．０７６μｍ～０．１９２μｍである甲第２号証の実施例１～３のニッケル粉末は、体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍの範囲内にある蓋然性が高い。 ｂ しかしながら、甲第２号証において、アスペクト比を求める際の長径は、「金属粒子投影像に外接する最小面積の長方形の長辺の長さ」であり、金属粉末の個数５０％径（金属粒子投影像に外接する最小円の直径）ではないから、実施例１の個数５０％径（７６ｎｍ）から、甲２発明の短径（Ｓ）を求めることはできない。 そうすると、上記ａの計算結果は、その導出過程に誤りを含むことが明らかであるから、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （イ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３３ページ第７行～第３６ページ最下行において、概ね、以下のように主張する。 甲第２号証の実施例１～３では冷却されたガスの逆流はなく、反応に必要な不活性気体および還元性気体の総量の０．５倍ｍｏｌ量～５．０倍ｍｏｌ量の冷却用気体が使用される蓋然性が高いから、甲第２号証の実施例１～３のニッケル粉末は、発明特定事項Ｂに規定される特性を具備している蓋然性が高い。 ｂ しかしながら、甲２発明において、短径（Ｓ）、等体積球相当径（ＤＰＶ）及び体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が不明であることは、上記イ（ア）ａで述べたとおりであり、甲第２号証の実施例２、３も同様に判断できるから、甲第２号証の実施例１～３のニッケル粉末が、発明特定事項Ｂに規定される特性を具備しているとはいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （ウ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３７ページ第１行～第３８ページ第４行において、以下のように主張する。 「甲第２号証のアスペクト比は、短径Ｓと長径Ｌのアスペクト比である「Ｓ／Ｌ」が０．８３３以下であることと同義であり、本件発明１の発明特定事項Ｂにおける「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」の範囲に含まれる。」 「個数（基準）５０％径と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との相違を考慮した場合でも、「長径が金属粉末の個数５０％径の３倍以上である連結粒子が上記金属粉末に含まれる割合が、個数基準で５００ｐｐｍ以下である」との規定は、「等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下」と同様のパラメータである蓋然性が高いといえる。」 ｂ しかしながら、甲２発明において、短径（Ｓ）、等体積球相当径（ＤＰＶ）及び体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が不明であることは、上記イ（ア）ａで述べたとおりであるから、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （エ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３８ページ第５～２３行において、以下のように主張する。 「甲第２号証に基づいて、粗大連結粒子を低減させ、発明特定事項Ｂに規定する「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」で、かつ、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上」である金属粒子の割合が１．０％以下であるとの特性を実現することは、当業者が容易に想到できることであったといえる。」 ｂ しかしながら、甲第２号証には、金属粉末を構成する金属粒子の最大長径（Ｌ）及び該長径（Ｌ）の対角幅である短径（Ｓ）に係る事項が何ら記載されていないから、「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」で、かつ、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上」である金属粒子の割合が１．０％以下であるとの特性を実現することは、当業者が容易に想到できることであるとはいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （３）本件発明２、３について 本件発明２、３は、本件発明１を直接又は間接的に引用するものであり、本件発明１の発明特定事項をすべて備えるものであるが、上記（２）で述べたとおり、本件発明１が、甲第２号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、上記１（２）イ（ア）ｂの甲第４～６号証の記載を考慮しても、本件発明２は、甲第２号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。本件発明３は、甲第２号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）本件発明４～６について ア 本件発明４は、本件発明１の発明特定事項をすべて備えるものであるが、上記（２）で述べたとおり、本件発明１の発明特定事項を備えることが、甲第２号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、上記（２）イ（ア）ｂの甲第２号証に記載の技術常識を考慮しても、本件発明４は、甲第２号証に記載された発明及び技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 イ 本件発明５、６は、本件発明４を直接又は間接的に引用するものであり、本件発明４の発明特定事項をすべて備えるものであるが、上記アで述べたとおり、本件発明４が、甲第２号証に記載された発明及び技術常識に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、上記１（２）イ（ア）ｂの甲第４～６号証の記載を考慮しても、本件発明５は、甲第２号証に記載された発明、技術常識及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。本件発明６は、甲第２号証に記載された発明、技術常識及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （５）申立理由２（新規性、進歩性）についてのまとめ 以上のとおり、申立理由２（新規性、進歩性）によっては、本件特許の請求項１～６に係る特許を取り消すことはできない。 ３ 申立理由３（新規性、進歩性） （１）甲第３号証に記載された発明 ア 甲第３号証には、「粗大粒子が少なくて充填性に優れたニッケル粉末の製造方法であって、 少なくとも水溶性ニッケル塩、ニッケルよりも貴な金属の塩、還元剤、および水酸化アルカリと水とを混合した反応液中において還元反応を開始させ、該還元反応の開始後にスルフィド化合物を前記反応液に添加してニッケル晶析粉を得る晶析工程を有し、 前記還元剤はヒドラジン（Ｎ２Ｈ４）であり、 前記スルフィド化合物は、分子内にスルフィド基（－Ｓ－）を１個以上含有しており、 前記反応液中の前記スルフィド化合物とニッケルの割合である （前記スルフィド化合物のモル数／ニッケルのモル数）×１００ が０．０１モル％～５モル％の範囲であるニッケル粉末の製造方法。」に関する発明が記載されている（請求項１）。 イ また、甲第３号証には、上記アの製造方法で得られたニッケル粉末が、積層セラミックコンデンサに用いられることが記載されている（段落【００８２】～【００８６】）。 ウ さらに、甲第３号証には、上記アの発明の具体例と解される実施例１として、水溶性ニッケル塩として塩化ニッケル６水和物、ニッケルよりも貴な金属の塩として塩化パラジウム（ＩＩ）アンモニウム、還元剤として抱水ヒドラジン、水酸化アルカリとして水酸化ナトリウム、スルフィド化合物としてＬ－メチオニンを用いること（段落【００８９】～【００９２】）、反応液中のスルフィド化合物とニッケルの割合が、１．０モル％であること（表１）、得られたニッケル粉末に、塩素（Ｃｌ）：０．００４質量％、ナトリウム（Ｎａ）：０．００８質量％、硫黄（Ｓ）：０．１８質量％が含まれること（表２）、平均粒径が０．２８μｍ、粗大粒子の含有量が０．０５％であること（表２）が記載されている。ここで、ニッケルよりも貴な金属の塩は、ニッケルを還元析出させる際に、ニッケルよりも貴な金属が先に還元されて初期核となる核剤として作用するものであるから、実施例１のニッケル粉末にパラジウムが含まれていることは明らかである。 エ そうすると、甲第３号証には、以下の発明（以下「甲３発明」という。）が記載されていると認められる。 ＜甲３発明＞ 塩化ニッケル６水和物、塩化パラジウム（ＩＩ）アンモニウム、還元剤、および水酸化ナトリウムと水とを混合した反応液中において還元反応を開始させ、該還元反応の開始後にスルフィド化合物を前記反応液に添加してニッケル晶析粉を得る晶析工程を有し、 前記還元剤は抱水ヒドラジン（Ｎ２Ｈ４・Ｈ２Ｏ）であり、 前記スルフィド化合物は、Ｌ－メチオニンであり、 前記反応液中の前記スルフィド化合物とニッケルの割合である （前記スルフィド化合物のモル数／ニッケルのモル数）×１００ が１．０モル％であるニッケル粉末の製造方法で得られたニッケル粉末であって、 前記ニッケル粉末は、パラジウム（Ｐｄ）、塩素（Ｃｌ）：０．００４質量％、ナトリウム（Ｎａ）：０．００８質量％、硫黄（Ｓ）：０．１８質量％を含み、平均粒径が０．２８μｍ、粗大粒子の含有量が０．０５％である、積層セラミックコンデンサ用ニッケル粉末。 （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲３発明とを対比する。 （ア）甲３発明において、パラジウム（Ｐｄ）の含有量は不明であるから、金属成分に占めるニッケルの割合も不明である。そうすると、甲３発明と本件発明１とは、ニッケルを含む粉である限りにおいて共通する。 （イ）甲３発明において、「ニッケル粉末」が、「金属粉」であることは明らかであるから、甲３発明における、「積層セラミックコンデンサ用ニッケル粉末」は、本件発明１における、「積層セラミックコンデンサ用金属粉」に相当する。 （ウ）そうすると、本件発明１と甲３発明とは、「ニッケルを含む金属粉である、積層セラミックコンデンサ用金属粉。」である点で一致し、以下の点で相違する。 ＜相違点３－１＞ 本件発明１の金属粉は、質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであり、残部が不可避的不純物であるのに対し、甲３発明のニッケル粉末は、金属成分に占めるニッケルの割合が不明であり、ニッケル以外の金属成分として、パラジウム（Ｐｄ）を含むものの、これが不可避的不純物であるのか不明である点。 ＜相違点３－２＞ 本件発明１は、「前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下」であるのに対し、甲３発明は、「平均粒径が０．２８μｍ、粗大粒子の含有量が０．０５％」である点。 ＜相違点３－３＞ 本件発明１は、「前記金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）が０．０８μｍ～０．３５μｍ」であるのに対し、甲３発明は、「ニッケル粉末の平均粒径が０．２８μｍ」である点。 イ 判断 （ア）相違点３－１について ａ 相違点３－１が実質的な相違点であるかについて （ａ）甲第３号証において、「ニッケルよりも貴な金属の金属塩」は、ニッケルを還元析出させる際に、ニッケルよりも貴な金属が先に還元されて初期核となる核剤として作用しており、核発生促進剤である特定のスルフィド化合物の効果で、この初期核が多く生じ、その後に粒子成長することで微細なニッケル晶析粉（ニッケル粉末）を作製することができるという、作用効果を得るために添加される化合物である（段落【００４４】）。 （ｂ）上記（ａ）の記載からすると、甲３発明における塩化パラジウム（ＩＩ）アンモニウムは、ニッケル粉末の製造方法における必須成分であるから、甲３発明のニッケル粉末に含まれるパラジウム（Ｐｄ）も、必須成分であると解される。 そうすると、甲３発明のニッケル粉末において、金属成分におけるニッケル以外の金属成分は、必ずしも不可避的不純物ではないから、相違点３－１は実質的な相違点である。 ｂ 相違点３－１の容易想到性について 上記ａ（ｂ）で述べたとおり、甲３発明のニッケル粉末において、パラジウム（Ｐｄ）は、その製造の際に、上記ａ（ａ）の作用効果を得るために意図的に添加された必須成分である。そして、甲３発明のニッケル粉末において、その製造の際に、パラジウム（Ｐｄ）を使用しないことは、甲３発明の前提を欠くものであるから、金属成分におけるニッケル以外の残部を不可避的不純物とすることには、阻害要因があると認められる。 したがって、甲３発明のニッケル粒子において、上記相違点３－１に係る発明特定事項とすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。このことは、甲第４～６号証に、上記１（２）イ（ア）ｂの事項が記載されていても変わるものではない。 よって、上記相違点３－２、相違点３－３について検討するまでもなく、本件発明１は、甲３発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 ウ 小括 以上のとおり、本件発明１は、甲第３号証に記載された発明であるとはいえない。また、本件発明１は、甲第３号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 エ 申立人の主張について （ア）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３８ページ下から第５行～第３９ページ第１４行において、以下のように主張する。 「甲第３号証の実施例１および２のニッケル粒子の平均粒径は０．２８μｍおよび０．３０μｍである（段落０１３３、表２）。かかる平均粒径は、「ニッケル粉末の走査電子顕微鏡写真（ＳＥＭ像）から求めた数平均の粒径である」（段落００８３）。長さ基準（個数基準）と体積基準との相違はあるものの、上記各平均粒径と粒子径の平均値と近似する体積基準中位径（ＤＰＶ５０）は近似値を採るものと考えられる。」 ｂ しかしながら、甲３発明の平均粒径は、「ニッケル粉末の走査電子顕微鏡写真（ＳＥＭ像）から求めた数平均の粒径」ではあるものの、ニッケル粉末を構成するニッケル粒子の粒径の求め方が不明であるから、当該粒径が等体積球相当径（ＤＰＶ）と等しいかは不明であり、両者が近似値を取るかも不明である。 また、甲第７号証の第３０１ページ左欄には、「１）は個数基準分布，２）は長さ基準分布，３）は面積基準分布，４）が重量基準分布ある。同じ試料でもどの“大きさ”を基準にして粒度分布を表示するかで“見掛け粒度”は当然，異なってくる。」と記載されているから、甲３発明の平均粒径が長さ基準であったとしても、これを体積基準で表示すれば、両者の値は当然異なってくるから、両者が近似値を取るとは必ずしもいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （イ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第３９ページ第１５行～第４０ページ第１０行において、以下のように主張する。 「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」とは粗大粒子が連結粒子であることを規定するものであり、短径Ｓと長径Ｌのアスペクト比である「Ｓ／Ｌが０．８４以下」に相当するものである。少なくとも連結粒子は、上記アスペクト比が０．８４以下となることは明らかであるので、甲第３号証の粗大粒子は、「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」を具備するといえる。」 「甲第３号証の実施例１および２のニッケル粒子は、発明特定事項Ｂのうちの「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である」粗大連結粒子の割合が体積基準で１．０％以下である」という要件を具備するといえる。」 ｂ しかしながら、甲３発明の平均粒径は、「ニッケル粉末の走査電子顕微鏡写真（ＳＥＭ像）から求めた数平均の粒径」ではあるものの、ニッケル粉末を構成するニッケル粒子の粒径の求め方が不明であるから、ニッケル粒子の最大長径（Ｌ）及び該長径（Ｌ）の対角幅である短径（Ｓ）も不明である。そうである以上、短径（Ｓ）と長径（Ｌ）のアスペクト比である「Ｓ／Ｌ」の値は不明であるから、アスペクト比が０．８４以下となるかは不明であるので、甲３発明の粗大粒子が、「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」を具備するかも不明である。また、ニッケル粒子の最大長径（Ｌ）及び該長径（Ｌ）の対角幅である短径（Ｓ）が不明であれば、ニッケル粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）も不明であるから、甲３発明の粗大粒子が、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である」かも不明である。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （ウ）ａ 申立人は、特許異議申立書の第４０ページ第１１行～第４１ページ第１行において、以下のように主張する。 「甲第３号証は、本件特許発明１の発明特定事項Ａ～Ｄのすべてを具備する実施例を開示するとともに、粗大連結粒子の数を低減させ、かつ、粒度分布が狭いニッケル粒子について開示している。よって、当業者は、甲第３号証に基づいて、従来の気相法により得られるニッケル粒子に関して、粗大連結粒子を低減させ、かつ、粒度分布を向上させることにより、発明特定事項Ｂに規定する「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」で、かつ、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上」である金属粒子の割合が１．０％以下であるとの特性を実現することは、当業者が容易に想到できることであったといえる。」 ｂ しかしながら、上記（ア）、（イ）で述べたとおり、甲第３号証には、ニッケル粒子の最大長径（Ｌ）及び該長径（Ｌ）の対角幅である短径（Ｓ）に係る事項が何ら記載されていないから、「比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下」で、かつ、「比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上」である金属粒子の割合が１．０％以下であるとの特性を実現することは、当業者が容易に想到できることであったとはいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用しない。 （３）本件発明２、３について 本件発明２、３は、本件発明１を直接又は間接的に引用するものであり、本件発明１の発明特定事項をすべて備えるものであるが、上記（２）で述べたとおり、本件発明１が、甲第３号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない以上、上記１（２）イ（ア）ｂの甲第４～６号証の記載を考慮しても、本件発明２は、甲第３号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第４、５号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。また、本件発明３は、甲第３号証に記載された発明及び甲第４号証に記載された事項又は甲第６号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）申立理由３（新規性、進歩性）についてのまとめ 以上のとおり、申立理由３（新規性、進歩性）によっては、本件特許の請求項１～３に係る特許を取り消すことはできない。 ４ 申立理由４（サポート要件）について （１）ア 本件明細書の段落【０００７】の記載によれば、本件発明が解決しようとする課題は、電極層および誘電体層が薄層化しても信頼性に優れたＭＬＣＣを高歩留りで製造するための内部電極に好適な金属粉およびその製造方法を提供することであると認められる。 イ そして、本件明細書の段落【００１７】～【００２９】、【００５６】～【００９３】の記載によれば、積層セラミックコンデンサ用金属粉として、金属粉の化学成分を、質量基準で金属成分の９９．５％以上がニッケルであり、残部が不可避的不純物とし、金属粒子の形状と分布を、金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下とすることで、過焼結の原因となる粗大な連結粒子を低減し、金属粒子の前記体積基準中位径（ＤＰＶ５０）を０．０８μｍ～０．３５μｍとすることで、ＭＬＣＣの品質を保ちつつ電極を薄肉化し、これらによって、電極層および誘電体層が薄層化しても信頼性に優れたＭＬＣＣを高歩留りで製造するための内部電極に好適な金属粉を提供でき、上記アの課題が解決できることを当業者が認識できるといえる。 ウ 一方、上記第２のとおり、本件発明１、４は、上記イに記載した事項を発明特定事項として含むものであるから、発明の詳細な説明において、発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範囲内のものであるといえる。同様に、本件発明１、４を直接又は間接的に引用する本件発明２、３、５、６も、発明の詳細な説明において、発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範囲内のものであるといえる。 （２）ア 申立人は、特許異議申立書の第４９ページ第５行～下から第６行において、概ね、以下のように主張する。 本件発明１、４は、「前記金属粉を構成する金属粒子の最大長径を長径（Ｌ）とし、該長径（Ｌ）の対角幅を短径（Ｓ）とし、前記短径（Ｓ）と前記金属粒子の等体積球相当径（ＤＰＶ）との比（Ｓ／ＤＰＶ）が０．９２以下で、前記等体積球相当径（ＤＰＶ）と体積基準中位径（ＤＰＶ５０）との比（ＤＰＶ／ＤＰＶ５０）が１．８以上である金属粒子の割合が体積基準で１．０％以下」であることを規定する。すなわち、ニッケル粒子における粗大連結粒子の存在割合が０から１．０％の範囲にあるとし、粗大連結粒子の存在割合が０であることを含むものである。 一方、本件明細書の発明の詳細な説明の実施例では、粗大連結粒子の存在割合の下限値は、試料３－８の０．３体積％である。そして、これらの微量の粗大連結粒子は、分級処理によっては除去されず、最終的なニッケル粉末に残留するといえるから、本件発明４の製造方法においては、粗大連結粒子の存在割合を０とすることができないことは明らかである。 したがって、本件発明１～６は、出願時の技術常識を照らしても、請求項に係る発明の範囲まで、発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない場合に相当し、サポート要件を具備していない。 イ 上記（１）で述べたとおり、粗大連結粒子の存在割合が体積基準で１．０％以下であれば、本件発明の課題を解決できると認識できるから、粗大連結粒子の存在割合を０とすることができるか否かにかかわらず、本件発明１～６は、発明の詳細な説明において、発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範囲内のものであるといえる。 したがって、申立人の上記アの主張は採用しない。 （３）ア 申立人は、特許異議申立書の第４９ページ下から第５行～第５０ページ第１０行において、概ね、以下のように主張する。 本件発明１の発明特定事項Ｂは、あくまでも気相法で得られたニッケル粒子の特性といえるが、本件発明１ではニッケル粒子が気相法で得られたものであるか、湿式法で得られたものであるかの限定がない。また、本件発明１の説明において、湿式法に関しては何らの記述もなされていない。 したがって、湿式法において得られたニッケル粒子を包含する本件発明１～３は、出願時の技術常識を照らしても、請求項に係る発明の範囲まで、発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない場合に相当し、サポート要件を具備していない。 イ 上記（１）で述べたとおり、本件発明１～３は、本件発明の課題が解決できるものと認められるから、湿式法において得られたニッケル粒子が、本件発明１～３の発明特定事項を有するのであれば、気相法と同様に、本件発明の課題が解決できることは明らかである。 したがって、申立人の上記アの主張は採用しない。 （４）ア 申立人は、特許異議申立書の第５０ページ第１１行～最下行において、概ね、以下のように主張する。 本件発明４には、ガイド円筒に関する規定がないが、本件明細書の発明の詳細な説明の実施例の記載を踏まえると、オリフィスの下流側にガイド円筒を存在させることが必須となっている。さらには、オリフィスの開口面積に応じて、ガイド円筒の長さもそれに応じて規定する必要があると考えられる。 しかしながら、本件発明４では、ガイド円筒およびその長さの規定については設けられていない。 したがって、本件発明４～６は、出願時の技術常識を照らしても、請求項に係る発明の範囲まで、発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない場合に相当し、サポート要件を具備していない。 イ 上記（１）で述べたとおり、本件発明１、４は、本件発明の課題が解決できるものと認められる。 そうすると、本件発明４～６は、オリフィスの下流側にガイド円筒を存在するか否か、オリフィスの開口面積に応じて、ガイド円筒の長さもそれに応じて規定するか否かにかかわらず、本件発明１の金属粉を製造できるものである以上、発明の詳細な説明において、発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範囲内のものであるといえる。 したがって、申立人の上記アの主張は採用しない。 （５）ア 申立人は、特許異議申立書の第５１ページ第１～１５行において、概ね、以下のように主張する。 本件発明４には、「オリフィス」を設けること及びその開口面積を限定することに特徴があるが、当該特徴は、本願の願書に添付した図面の図１に示す装置において、オリフィスのない構造の装置を前提として検証がなされたものであって、かかるオリフィスの設置とその開口面積の規定が、例えば、甲第２号証の図２等に示す他の装置にそのまま適用できるか否かについて説明およびその実証は、本件明細書において何ら説明されていない。 しかしながら、本件発明４では、装置の構造についての規定は設けられていないから、本件発明４～６は、出願時の技術常識を照らしても、請求項に係る発明の範囲まで、発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない場合に相当し、サポート要件を具備していない。 イ 上記（１）で述べたとおり、本件発明１、４は、本件発明の課題が解決できるものと認められる。 そうすると、本件発明４～６は、金属粉の製造装置の構造にかかわらず、本件発明１の金属粉を製造できるものである以上、発明の詳細な説明において、発明の課題が解決できることを当業者が認識できるように記載された範囲内のものであるといえる。 したがって、申立人の上記アの主張は採用しない。 （６）申立理由４（サポート要件）についてのまとめ 以上のとおり、申立理由４（サポート要件）によっては、本件特許の請求項１～６に係る特許を取り消すことはできない。 第５ むすび 以上のとおりであるから、特許異議申立書に記載した申立ての理由によっては、本件特許の請求項１～６に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件特許の請求項１～６に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。