2024-700416

特許第７３７２７４５号発明「導電材料、接続構造体及び接続構造体の製造方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７３７２７４５号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１－１１〕について訂正することを認める。 特許第７３７２７４５号の請求項１、３－１１に係る特許を維持する。 特許第７３７２７４５号の請求項２に係る特許異議の申立てを却下する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７３７２７４５号の請求項１～１１に係る特許（以下「本件特許」という。）についての出願は、平成３１年２月１９日（優先権主張 平成３０年２月２１日）に出願され、令和５年１０月２４日にその特許権の設定登録がされ、令和５年１１月１日に特許掲載公報が発行された。 本件特許異議の申立ての経緯は、以下のとおりである。 令和６年５月１日：特許異議申立人前田桂子（以下「申立人」という。）による請求項１～１１に係る特許に対する特許異議の申立て（以下「本件特許異議の申立て」という。） 令和６年８月９日付け ：取消理由通知書 令和６年１０月１０日 ：特許権者による意見書及び訂正請求書の提出 令和６年１２月１７日 ：申立人による意見書の提出 令和７年３月２６日付け：取消理由通知書（決定の予告） 令和７年５月２９日 ：特許権者による意見書の提出 第２ 訂正の適否についての判断 １ 訂正の内容 令和６年１０月１０日提出の訂正請求書による訂正（以下「本件訂正」という。）の請求は、特許第７３７２７４５号の特許請求の範囲を、訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり訂正することを求めるものであって、本件訂正の内容は、次のとおりである。（下線は合議体が付与した。以下同じ。） （１）訂正事項１ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１に、 「熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の４倍以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。」とあるのを、 「熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の４倍以下であり、 前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以上４０μｍ以下であり、 前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され、 はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり、 ２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。」に訂正する。（請求項１の記載を引用する請求項６～１１も同様に訂正する。） （２）訂正事項２ 訂正前の特許請求の範囲の請求項２を削除する。（請求項２の記載を引用する請求項６～１１も同様に訂正する。） （３）訂正事項３ 訂正前の特許請求の範囲の請求項３に、 「熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の２０倍未満であり、 前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。」とあるのを、 「熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の２０倍未満であり、 前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以下であり、 前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され、 はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり、 ２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。」に訂正する。（請求項３の記載を引用する請求項４～１１も同様に訂正する。） （４）訂正事項４ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６に、「請求項１～５のいずれか１項」とあるのを、「請求項１及び３～５のいずれか１項」に訂正する。（請求項６の記載を引用する請求項７～１１も同様に訂正する。） （５）訂正事項５ 訂正前の特許請求の範囲の請求項７に、「請求項１～６のいずれか１項」とあるのを、「請求項１及び３～６のいずれか１項」に訂正する。（請求項７の記載を引用する請求項８～１１も同様に訂正する。） （６）訂正事項６ 訂正前の特許請求の範囲の請求項８に、「請求項１～７のいずれか１項」とあるのを、「請求項１及び３～７のいずれか１項」に訂正する。（請求項８の記載を引用する請求項９及び１１も同様に訂正する。） （７）訂正事項７ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１０に、「請求項１～７のいずれか１項」とあるのを、「請求項１及び３～７のいずれか１項」に訂正する。（請求項１０の記載を引用する請求項１１も同様に訂正する。） （８）一群の請求項について 訂正前の請求項１～１１について、請求項２及び６～１１は、それぞれ請求項１の記載を直接又は間接的に引用しているものであり、請求項４～１１は、それぞれ独立項である請求項３の記載を直接又は間接的に引用しているものであって、上記訂正事項１によって記載が訂正される請求項１及び上記訂正事項３によって記載が訂正される請求項３に連動して訂正されるものであるから、訂正前の請求項１～１１に対応する訂正後の請求項１～１１は、特許法１２０条の５第４項に規定する一群の請求項に該当する。 ２ 訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否 （１）訂正事項１について ア 訂正の目的 訂正事項１は、訂正前の請求項１に記載の「複数のはんだ粒子」について、「前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以上４０μｍ以下であり」との構成を付加して限定するとともに、「複数のはんだ粒子」の最大粒子径、最小粒子径及び平均粒子径について、「前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され」と測定手段を特定することで構成を限定し、さらに、訂正前の請求項１に記載の「導電材料」について、「はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり」及び「２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり」との構成を付加して限定するものである。 したがって、訂正事項１は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 訂正前の特許請求の範囲の請求項２には、「前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以上４０μｍ以下である、請求項１に記載の導電材料。」と記載されている。 また、願書に添付した明細書の段落０１６５には、「上記はんだ粒子の最大粒子径及び上記はんだ粒子の最小粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いた測定結果から、はんだ粒子の粒子径の最大値を上記はんだ粒子の最大粒子径とし、はんだ粒子の粒子径の最小値を上記はんだ粒子の最小粒子径とした。」と記載され、同段落０１６６には、「上記はんだ粒子の平均粒子径を、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定した。」と記載されている。 さらに、同段落０１４４には、「はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）は、好ましくは５０Ｐａ・ｓ以下、・・・である。」と記載され、同段落００４０には、「電極上にはんだをより一層効率的に配置する観点からは、上記導電材料の２５℃での粘度（η２５）は、好ましくは０．１Ｐａ・ｓ以上・・・であり、好ましくは４００Ｐａ・ｓ以下・・・である。」と記載されている。 したがって、訂正事項１は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面（以下「当初明細書等」という。）に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項１は、訂正前の請求項１に記載の「複数のはんだ粒子 」や「導電材料」を限定するものであり、訂正前の請求項１に係る発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、訂正事項１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （２）訂正事項２について ア 訂正の目的 訂正事項２は、訂正前の請求項２の記載を削除する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 訂正事項２は、訂正前の請求項２の記載を削除する訂正であるから、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項２は、訂正前の請求項２を削除する訂正であるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （３）訂正事項３について ア 訂正の目的 訂正事項３は、訂正前の請求項３に記載の「複数のはんだ粒子」の粒子径について、「前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され」と測定手段を特定することで構成を限定し、さらに、訂正前の請求項３に記載の「導電材料」について、「はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり」及び「２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり」との構成を付加して限定するものである。 したがって、訂正事項３は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 願書に添付した明細書の段落０１６５には、「上記はんだ粒子の最大粒子径及び上記はんだ粒子の最小粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いた測定結果から、はんだ粒子の粒子径の最大値を上記はんだ粒子の最大粒子径とし、はんだ粒子の粒子径の最小値を上記はんだ粒子の最小粒子径とした。」と記載され、同段落０１６６には、「上記はんだ粒子の平均粒子径を、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所社製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定した。」と記載されている。 また、同段落０１４４には、「はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）は、好ましくは５０Ｐａ・ｓ以下、・・・である。」と記載され、同段落００４０には、「電極上にはんだをより一層効率的に配置する観点からは、上記導電材料の２５℃での粘度（η２５）は、好ましくは０．１Ｐａ・ｓ以上・・・であり、好ましくは４００Ｐａ・ｓ以下・・・である。」と記載されている。 したがって、訂正事項３は、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項３は、訂正前の請求項３に記載の「複数のはんだ粒子」や「導電材料」を限定するものであり、訂正前の請求項３にかかる発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、訂正事項３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （４）訂正事項４ ア 訂正の目的 訂正事項４は、訂正前の請求項６が、訂正前の請求項１～５のいずれかを引用する記載であったものを、請求項１及び３～５のいずれかを引用する記載として、訂正事項２により削除する請求項２の記載を引用しないようにする訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮及び同項ただし書３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 訂正事項４は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項４は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （５）訂正事項５ ア 訂正の目的 訂正事項５は、訂正前の請求項７が、訂正前の請求項１～６のいずれかを引用する記載であったものを、請求項１及び３～６のいずれかを引用する記載として、訂正事項２により削除する請求項２の記載を引用しないようにする訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮及び同項ただし書３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 訂正事項５は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項５は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （６）訂正事項６ ア 訂正の目的 訂正事項６は、訂正前の請求項８が、訂正前の請求項１～７のいずれかを引用する記載であったものを、請求項１及び３～７のいずれかを引用する記載として、訂正事項２により削除する請求項２の記載を引用しないようにする訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮及び同項ただし書３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 イ 新規事項の有無 訂正事項６は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項６は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （７）訂正事項７ ア 訂正の目的 訂正事項７は、訂正前の請求項１０が、訂正前の請求項１～７のいずれかを引用する記載であったものを、請求項１及び３～７のいずれかを引用する記載として、訂正事項２により削除する請求項２の記載を引用しないようにする訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に規定する特許請求の範囲の減縮及び同項ただし書３号に規定する明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。 イ 新規事項の有無 訂正事項７は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、当初明細書等に記載した事項の範囲内の訂正であり、当初明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において新たな技術的事項を導入するものではないから、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条５項に適合する。 ウ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項７は、請求項の削除に伴い引用する請求項を整合させる訂正であるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法１２０条の５第９項で準用する１２６条６項に適合する。 （８）独立特許要件について 本件特許異議の申立ては、本件特許の請求項１～１１の全てに対しされたものであり、特許異議の申立てがされていない請求項は存在しないから、独立特許要件（特許法１２０条の５第９項で準用する同法１２６条７項）の検討は要しない。 （９）小括 以上のとおり、訂正事項１～３に係る訂正は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる事項を目的とするものに該当し、訂正事項４～７に係る訂正は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号及び３号に掲げる事項を目的とするものに該当し、かつ、訂正事項１～７に係る訂正は、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項及び６項の規定に適合する。 したがって、特許請求の範囲を、訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり訂正することを認める。 第３ 訂正後の本件発明 本件訂正後の請求項１～１１に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１」～「本件発明１１」という。）は、訂正特許請求の範囲の請求項１～１１に記載された次の事項により特定されるとおりのものである。 「【請求項１】 熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の４倍以下であり、 前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以上４０μｍ以下であり、 前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され、 はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり、 ２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。 【請求項２】 （削除） 【請求項３】 熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含み、 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の２０倍未満であり、 前記はんだ粒子の平均粒子径が、５μｍ以下であり、 前記最大粒子径、前記最小粒子径及び前記平均粒子径は、レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され、 はんだ粒子の融点での導電材料の粘度（ηｍｐ）が、５０Ｐａ・ｓ以下であり、 ２５℃での導電材料の粘度（η２５）が、０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であり、 導電材料１００体積％中、前記はんだ粒子の含有量が、１０体積％以上９５体積％以下である、導電材料。 【請求項４】 前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の１０倍以下である、請求項３に記載の導電材料。 【請求項５】 前記はんだ粒子の平均粒子径が、０．０１μｍ以上である、請求項３又は４に記載の導電材料。 【請求項６】 前記熱硬化性成分が、エポキシ化合物を含む、請求項１及び３～５のいずれか１項に記載の導電材料。 【請求項７】 導電ペーストである、請求項１及び３～６のいずれか１項に記載の導電材料。 【請求項８】 第１の電極を表面に有する第１の接続対象部材と、 第２の電極を表面に有する第２の接続対象部材と、 前記第１の接続対象部材と、前記第２の接続対象部材とを接続している接続部とを備え、 前記接続部の材料が、請求項１及び３～７のいずれか１項に記載の導電材料であり、 前記第１の電極と前記第２の電極とが、前記接続部中のはんだ部により電気的に接続されている、接続構造体。 【請求項９】 前記第１の電極と前記接続部と前記第２の電極との積層方向に前記第１の電極と前記第２の電極との対向し合う部分をみたときに、前記第１の電極と前記第２の電極との対向し合う部分の面積１００％中の５０％以上に、前記接続部中のはんだ部が配置されている、請求項８に記載の接続構造体。 【請求項１０】 請求項１及び３～７のいずれか１項に記載の導電材料を用いて、第１の電極を表面に有する第１の接続対象部材の表面上に、前記導電材料を配置する工程と、 前記導電材料の前記第１の接続対象部材側とは反対の表面上に、第２の電極を表面に有する第２の接続対象部材を、前記第１の電極と前記第２の電極とが対向するように配置する工程と、 前記はんだ粒子の融点以上に前記導電材料を加熱することで、前記第１の接続対象部材と前記第２の接続対象部材とを接続している接続部を、前記導電材料により形成し、かつ、前記第１の電極と前記第２の電極とを、前記接続部中のはんだ部により電気的に接続する工程とを備える、接続構造体の製造方法。 【請求項１１】 前記第１の電極と前記接続部と前記第２の電極との積層方向に前記第１の電極と前記第２の電極との対向し合う部分をみたときに、前記第１の電極と前記第２の電極との対向し合う部分の面積１００％中の５０％以上に、前記接続部中のはんだ部が配置されている接続構造体を得る、請求項１０に記載の接続構造体の製造方法。」 第４ 取消理由通知（決定の予告）の概要 本件発明１～１１に対して、当審が令和７年３月２６日付けの取消理由通知書（決定の予告）により特許権者に通知した取消理由（以下、「取消理由」という。）の概要は、次のとおりである。 ＜取消理由＞ 本件の請求項１、３～１１に係る特許は、以下の点で特許請求の範囲の記載が明確でないから、特許法３６条６項２号に規定する要件を充足していない特許出願に対してされたものである。 ア 本件発明１においては、粒径分布を表すための基準が特定されていないので、「レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され」る、「最大粒子径」、「最小粒子径」及び「平均粒子径」は、一義的に決まるといえないから、不明確である。 イ 一般に「平均粒子径」は、メディアン径（５０％径）、モード径（最頻度径）、あるいは算術平均径などで表されるところ、これらはそれぞれ定義が異なり、通常は値も異なるから、本件発明１の「平均粒子径」は一義的に決まるといえず、不明確である。 ウ 上記ア、イと同様にして、本件発明３も不明確である。また、請求項４～１１は、請求項１又は３を直接又は間接的に引用するものであるから、本件発明４～１１は、本件発明１又は３と同様に不明確である。 第５ 乙号証について １ 乙号証の一覧 特許権者による令和７年５月２９日提出の意見書とともに提出された乙号証は、以下のとおりである。 ・乙１号証：粒子径測定の基礎とレーザ回折・散乱法 原理の説明からマスターサイザー測定時の注意点まで、Malvern Panalytical a spectris company、２０１９年６月１７日 ・乙１の１号証：インターネット＜URL：https://www.malvernpanalytical.com/jp/learn/knowledge-center/technical-notes/tnjp190617msguidebook＞ ・乙２号証：機能材料事業、三井金属鉱業株式会社、［２０２５年５月９日検索］、インターネット＜URL：https://www.mitsui-kinzoku.com/seihin/engineered_materials/＞ ・乙３号証：草加勝司、清水孝純、洞田亮、中村清、大河内敬雄、遠心噴霧法によるはんだ粉末の製造に関する研究、電気製鋼、大同特殊鋼株式会社、１９９１年５月、第６２巻、第２号、ｐ．８９－９６ ・乙３の１号証：インターネット＜URL：https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3721375#bib＞ ・乙４号証：特開２０１７－１２８７７８号公報 ・乙５号証：特開２０２２－１８５９６３号公報 ・乙６号証：国際公開第２０１８／０２５９０３号 ・乙７号証：国際公開第２０１６／１９０２４４号 ・乙８号証：特開２０１５－９８５８８号公報 （乙３号証の「清」の「月」の部分は「円」が本来の表記だが、システム上の制約のため上記のように記載した。） ２ 乙号証の記載 （１）乙１号証 乙１号証の９頁には、次の記載がある。 ［図：0001427937000001.jpg］ ・乙１号証の１０頁には次の記載がある。 ［図：0001427937000002.jpg］ （２）乙６号証 乙６号証には、次の記載がある。（下線は当審において付加した。以下同様。） 「［００３２］前記はんだ粉としては、特に限定されるものではなく、一般的なはんだ粉を用いることができる。例えば、鉛フリーはんだとして用いられているＳｎ－Ａｇ系はんだ、Ｓｎ－Ａｇ－Ｃｕ系はんだ、Ｓｎ－Ａｇ－Ｃｕ－Ｂｉ系はんだ、Ｓｎ－Ａｇ－Ｉｎ－Ｂｉ系はんだ、Ｓｎ－Ｃｕ系はんだ、Ｓｎ－Ｚｎ系はんだ、Ｓｎ－Ｂｉ系はんだ、Ｓｎ－Ｓｂ系はんだ、Ｓｎ－Ａｕ系はんだ、Ｓｎ－Ｉｎ系はんだ等の鉛フリーはんだを構成する金属粉末を用いることができる。特に、はんだ粉として、Ｓｎ又はＳｎ合金からなるＳｎ系金属の粒子と、Ｃｕ又はＣｕ合金からなるＣｕ系金属の粒子とが混合されたもの（以下、ＳｎＣｕはんだ粉とも記す）を用いることが好ましい。 ［００３３］前記Ｓｎ系金属の粒子としては、Ｓｎ１００質量％からなるＳｎ粒子、あるいは、Ｓｎと、Ｉｎ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｓｂ、Ｎｉ、Ｇｅ、Ｆｅ、Ｃｏ、及び、Ｂｉからなる群から選ばれる一種以上の他の金属とからなるＳｎ合金粒子等が挙げられる。Ｓｎ合金粒子としては、好ましくは、Ｓｎ－Ａｇ、Ｓｎ－Ｃｕ、Ｓｎ－Ｓｂ、又は、Ｓｎ－Ａｇ－Ｃｕの組成を有するものが挙げられる。 ［００３４］Ｓｎ系金属の粒子は、例えば、平均粒径Ｄ５０（メジアン径）が、１μｍ以上７０μｍ以下であることが好ましく、５μｍ以上３５μｍ以下であることがより好ましい。また、Ｓｎ系金属の粒子は、９０％粒子径Ｄ９０が、１００μｍ以下であることが好ましく、６０μｍ以下であることがより好ましい。Ｓｎ系金属の粒子が前記範囲のような粒子径である場合には、６０μｍ厚以下の薄い印刷が可能となるため、はんだ接合部の厚みを薄くすることができる。はんだ接合部の厚みが薄い方が放熱性を向上させることができる。 ［００３５］前記Ｃｕ系金属の粒子としては、Ｃｕ１００質量％からなるＣｕ粒子、あるいは、Ｃｕと、Ｉｎ、Ａｇ、Ｓｎ、及びＢｉからなる群から選ばれる一種以上の他の金属とからなるＣｕ合金粒子等が挙げられる。Ｃｕ合金粒子としては、好ましくは、Ｃｕ－Ａｇ－Ｓｎ－Ｂｉ－Ｉｎの組成を有するものが挙げられる。 ［００３６］Ｃｕ系金属の粒子は、例えば、平均粒径Ｄ５０（メジアン径）が、１μｍ以上７０μｍ以下であることが好ましく、５μｍ以上３５μｍ以下であることがより好ましい。また、Ｃｕ系金属の粒子は、９０％粒子径Ｄ９０が、１００μｍ以下であることが好ましく、６０μｍ以下であることがより好ましい。Ｃｕ系金属の粒子が前記範囲のような粒子径である場合には、６０μｍ厚以下の薄い印刷が可能となるため、はんだ接合部の厚みを薄くすることができる。はんだ接合部の厚みが薄い方が放熱性を向上させることができる。 ［００３７］なお、上記の「平均粒径Ｄ５０（メジアン径）」および「９０％粒子径Ｄ９０」とは、レーザー回折式粒度分布測定装置で測定される値をいう。」 （３）乙７号証 乙７号証には、次の記載がある。 「［０２２５］はんだ粒子Ａ（ＳｎＢｉはんだ粒子、融点１３９℃、三井金属社製「ＳＴ－５」、平均粒径（メディアン径５μｍ））」 （４）乙８号証 乙８号証には、次の記載がある。 「【００２８】 また、導電性粒子３１の配合量は、接続信頼性及び絶縁信頼性の観点から、バインダー３３に対して１～３０ｖｏｌ％であることが好ましい。また、導電性粒子３１の平均粒径（Ｄ５０：粉体の粒径分布において、ある粒子径より大きい個数又は質量が、全粉体のそれの５０％を占めるときの粒子径で、本明細書ではメジアン径をいう）は、１～１０μｍであることが好ましく、より好ましくは２～６μｍである。」 「【００３１】 また、はんだ粒子３２の平均粒径（Ｄ５０）は、導電性粒子３１の平均粒径の２５～４００％であることが好ましい。はんだ粒子３２が導電性粒子３１に対して小さすぎると、圧着時にはんだ粒子３２が対向する端子間に捕捉されず、良好なはんだ接合が行われず、優れた放熱性を得ることができない。一方、はんだ粒子３２が導電性粒子３１に対して大きすぎると、電気的接続における異方性が損なわれ、接続信頼性を得ることができない。」 第６ 当審の判断 １ 取消理由通知（決定の予告）に記載した取消理由について （１）本件発明１の明確性について 特許権者は、令和７年５月２９日に提出した意見書５頁１８～１９行において、取消理由について、「本件発明の測定では、粒径分布を表すための基準は「体積基準」であり、平均粒子径は「メディアン径」です。」と明確にした。 そして、乙１号証（上記第５、２（１））に記載されているように、レーザー回折式粒度分布測定装置においては、体積基準により元データが取得されることは当業者の技術常識であり、本件明細書には、元データを他の基準に換算することについて特段の記載は見当たらない。そうすると、上記技術常識に照らし、レーザー回折式粒度分布測定装置を用いて測定された本件発明１の「最大粒子径」、「最小粒子径」及び「平均粒子径」は体積基準によるものであると理解できる。 また、乙６号証～乙８号証（上記第５、２（２）～（４））の記載から、はんだ粒子の分野においては、平均粒子径として「メディアン径（５０％径）」が慣用されているといえるから、本件特許におけるはんだ粒子の平均粒子径もまた、「メディアン径（５０％径）」を意味すると理解できる。 以上によれば、本件発明１において、「レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され」る、「最大粒子径」、「最小粒子径」及び「平均粒子径」は「体積基準」により測定されたものであり、かつ、「前記平均粒子径」は「メディアン径（５０％径）」のことであると、当業者であれば自然に理解し得るといえるから、本件特許の請求項１の記載は、本件発明１を明確に記載したものであるといえる。 （２）本件発明３～１１の明確性について 本件発明１と同様に、本件発明３の「レーザー回折式粒度分布測定装置（堀場製作所製「ＬＡ－９２０」）を用いて測定され」る、「前記最大粒子径」、「前記最小粒子径」及び「前記平均粒子径」は「体積基準」により測定されたものであり、かつ、「前記平均粒子径」は「メディアン径（５０％径）」のことであると理解できるから、本件特許の請求項３の記載は、本件発明３を明確に記載したものであるといえる。 そして、本件特許の請求項１又は３を直接又は間接的に引用する、本件特許の請求項４～１１についても同様に、本件発明４～１１を明確に記載したものであるといえる。 （３）小括 以上のとおり、本件特許の請求項１、３～１１の記載は、本件発明１、３～１１を明確に記載したものであり、特許法３６条６項２号の規定に適合するから、本件の請求項１、３～１１に係る特許は、特許法１１３条４号に該当するものではない。 ２ 取消理由通知において採用しなかった特許異議申立理由について （１）特許異議申立理由の概要 令和６年５月１日提出の特許異議申立書における特許異議申立理由の概要は、本件特許の請求項１～１１に係る特許は、以下の申立理由のとおり、特許法１１３条２号及び４号に該当するというものである。 （申立理由１） ・本件発明１～１１は、甲１号証に記載された発明であり、特許法２９条１項３号に該当し特許を受けることができないものであるから、特許法１１３条２号に該当する。 （申立理由２） ・本件発明１～１１は、甲１号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができないものであるから、特許法１１３条２号に該当する。 （申立理由３） ・本件発明１～６、８、１０は、甲２号証に記載された発明であり、特許法２９条１項３号に該当し特許を受けることができないものであるから、特許法１１３条２号に該当する。 （申立理由４） ・本件発明１～１１は、甲２号証に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができないものであるから、特許法１１３条２号に該当する。 （申立理由５） ・本件発明１～１１は、特許請求の範囲の記載が特許法３６条６項１号の規定に適合するものではないから、本件発明１～１１に係る特許は、特許法１１３条４号に該当する。 （申立理由６） ・本件発明１～１１は、特許請求の範囲の記載が特許法３６条６項２号の規定に適合するものではないから、本件発明１～１１に係る特許は、特許法１１３条４号に該当する。 （２）証拠方法 特許異議申立書とともに提出された甲号証は以下のとおりである。 ・甲１号証：国際公開２０１６／１３３１１３号 ・甲２号証：特開２０１３－４５７３７号公報 令和６年１２月１７日提出の意見書とともに提出された参考資料は以下のとおりである。なお、これらの資料は、いずれも申立理由６に関するものである。 ・参考資料１（「島津製作所のホームページのレーザ回折式粒度分布測定装置の［８］測定結果を決定づける要因」）https://www.an.shimadzu.co.jp/service-support/technical-support/analysis-basics/powder/lecture/practice/p01/lesson08/index.html ・参考資料２（「島津製作所のホームページのレーザ回折式粒度分布測定装置の［１７］粒度分布における体積基準と個数基準について」）https://www.an.shimadzu.co.jp/service-support/technical-support/analysis-basics/powder/lecture/practice/p01/lesson17/index.html ・参考資料３（「島津製作所のホームページのレーザ回折式粒度分布測定装置の［２１］任意％粒子径とメディアン径」）https://www.an.shimadzu.co.jp/service-support/technical-support/analysis-basics/powder/lecture/practice/p01/lesson21/index.html （システム上の制限のため、上記において○に数字８を［８］等と記載した。） （３）申立理由についての判断 上記申立理由のうち、申立理由６は明確性に関するものであり、取消理由通知（決定の予告）に記載した取消理由と同旨であるから、申立理由６についての当審の判断は上記１（１）～（３）に示したとおりである。 そして、他の申立理由についての当審の判断は以下のとおりである。 ア 申立理由１、２について （ア）甲１号証には、使用するはんだ粒子の最大粒子径及び最小粒子径の具体的な測定値は記載されていないから、「前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の４倍以下であり」との事項は記載も示唆もされていない。そうすると、本件発明１は甲１号証に記載された発明ではなく、また、甲１号証に記載された発明から当業者が容易に発明をすることができたものでもない。 （イ）同様に、甲１号証には、「前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の２０倍未満であり」との事項は記載も示唆もされていないから、本件発明３は甲１号証に記載された発明ではなく、また、甲１号証から当業者が容易に発明をすることができたものでもない。 （ウ）申立人は、ＣＶ値が４０％以下であるとの甲１号証の記載（段落０１０７～０１０９）をもとに、甲１号証においては最大粒子径を最小粒子径で除した値（以下「最大最小比」という）は３．５倍よりも必ず大きくなるから、少なくとも「３．５倍以下」という範囲で本件発明１の「４倍以下」と重複する旨主張する。しかしながら、上記申立人の見積もりでは、甲１号証においてＣＶ値が４０％以下であれば最大最小比が必ず「４倍以下」になることは示されていない。申立人の主張は、もともと任意に設定しえる最大最小比について、偶然「３．５倍以下」になることがあり得ることを単に述べているに過ぎないものであり、最大最小比が「４倍以下」のはんだ粒子が甲１号証に記載されていることを示すものではなく、最大最小比が４倍以下のはんだ粒子を選択することを示唆するものでもない。また、「２０倍未満」との重複の主張についても同様であり、申立人の主張はいずれも採用できない。 （エ）したがって、本件発明１及び３は、甲１号証に記載された発明に対し新規性、進歩性を有するものである。また、本件発明１又は３を引用する本件発明４～１１も、甲１号証に記載された発明に対し新規性、進歩性を有するものである。 よって、申立理由１、２は理由がない。 イ 申立理由３、４について （ア）甲２号証には、使用する導電性粒子の最大粒子径及び最小粒子径の具体的な測定値は記載されていないから、「前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の４倍以下であり」との事項は記載も示唆もされていない。そうすると、本件発明１は甲２号証に記載された発明ではなく、また、甲２号証に記載された発明から当業者が容易に発明をすることができたものでもない。 （イ）また、甲２号証には、「前記はんだ粒子の最大粒子径が、前記はんだ粒子の最小粒子径の２０倍未満であり」との事項は記載も示唆もされていないから、本件発明３は甲２号証に記載された発明ではなく、また、甲２号証から当業者が容易に発明をすることができたものでもない。 （ウ）申立人は、甲２号証の段落００１９の記載された平均粒子径及び標準偏差をもとに甲２号証に記載された発明は本件発明１の「４倍以下」と重複する旨主張するが、申立理由１、２の検討と同様にして、当該主張は採用し得ないものである。 （エ）したがって、本件発明１及び３は、甲２号証に記載された発明に対して新規性、進歩性を有するものである。また、本件発明１又は３を引用する本件発明４～１１も、甲２号証に記載された発明に対し新規性、進歩性を有するものである。 よって、申立理由３、４には理由がない。 ウ 申立理由５について （ア）本件特許の請求項１及び本件明細書の記載によれば、本件発明１は、熱硬化性成分と、複数のはんだ粒子とを含む導電材料について、前記はんだ粒子の最大粒子径と最小粒子径の比、平均粒子径の範囲、はんだ粒子の融点及び２５℃での導電材料の粘度、及び、はんだ粒子の含有量を所定の範囲とすることにより、「電極上にはんだ粒子を効率的に配置することができる導電材料を提供する」（段落００１２）との課題を解決するものであるといえる。 ここで、本件明細書の段落００５９には、はんだ粒子の最大粒子径は、前記はんだ粒子の最小粒子径の「４倍以下」であることが好ましいことが記載され、段落００５８には、はんだ粒子の平均粒子径は、好ましくは５μｍ以上であり、かつ、好ましくは４０μｍ以下であることが記載され、段落０１４４には、はんだ粒子の融点での導電材料の粘度は、好ましくは５０Ｐａ・ｓ以下であり、上記上限以下であれば電極上にはんだ粒子を効率的に凝集させることができることが記載され、段落００４０には、電極上にはんだを効率的に配置する観点から、導電材料の２５℃での粘度は、好ましくは０．１Ｐａ・ｓ以上、４００Ｐａ・ｓ以下であることが記載され、段落００６６からは、導電材料１００体積％中、はんだ粒子の含有量は、好ましくは１０体積％以上、９５体積％以下であれば、電極上にはんだ粒子を一層効率的に配置することができる旨、記載されている。そして、これらの記載に対応する具体的な実施例として、本件明細書の実施例１～７、９～１２、１４～２６、２８～３１、３３～３８が記載され、いずれの実施例においても、電極上のはんだの配置精度について良好な結果が得られている。 そうすると、本件特許の請求項１の記載は、本件特許の発明の詳細な説明に記載されたものであり、かつ、当業者が上記本件発明の課題を解決できると認識できる範囲内のものであるといえる。 （イ）本件特許の請求項３の記載もまた、請求項１と同様にして、本件特許の発明の詳細な説明に記載されたものであり、かつ、当業者が上記本件発明の課題を解決できると認識できる範囲内のものである。また、本件特許の請求項４～１１に特定される事項は、いずれも本件特許の発明の詳細な説明に記載された事項であり、当該請求項４～１１に係る発明は、請求項１又は３に係る発明をさらに減縮した発明であるから、本件発明の課題を解決できると認識できる範囲内のものである。 （ウ）したがって、本件特許の請求項１、３～１１の記載は、特許法３６条６項１号の規定に適合するから、申立理由５には理由がない。 第７ 結び したがって、本件特許の請求項１、３～１１に係る特許は、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、取り消すことはできない。さらに、他に本件特許の請求項１、３～１１に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 そして、本件特許の請求項２は訂正により削除されたため、同請求項に係る特許に対する特許異議の申立てについては、対象となる請求項が存在しない。 よって、結論のとおり決定する。