2024-700364

特許第７３６３６１４号発明「光干渉計測装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７３６３６１４号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲〔１～１０〕のとおり訂正することを認める。 特許第７３６３６１４号の請求項１～１０に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 １ 本件特許についての手続の経緯 特許第７３６３６１４号（請求項の数１０。以下「本件特許」という。）の出願日、特許権の設定登録日及び特許掲載公報の発行日は、次のとおりである。 出願日 ：令和２年 ３月１３日 特許権の設定登録日 ：令和５年１０月１０日 特許掲載公報の発行日 ： 同月１８日 ２ 本件特許異議の申立てについての手続の経緯 その後、令和６年４月１８日に、特許異議申立人磐城照治（以下「申立人」という。）により、全請求項１～１０に係る特許に対する特許異議の申立てがされた。 本件特許異議の申立ての経緯は、次のとおりである。 令和６年 ４月１８日 ：特許異議申立書の提出 同年 ７月１１日付け：取消理由通知書 同年 ９月１７日 ：意見書及び訂正請求書の提出（特許権者） 令和７年 １月３１日付け：取消理由通知書（決定の予告） 同年 ４月 ７日 ：意見書及び訂正請求書の提出（特許権者） 同年 ５月２７日 ：意見書の提出（申立人） 以下、令和７年４月７日に提出された訂正請求書を「本件訂正請求書」といい、本件訂正請求書による訂正を「本件訂正」という。 なお、令和６年９月１７日に提出された訂正請求書による訂正の請求（先にした訂正の請求）は、本件訂正請求書による訂正の請求がされたため、特許法１２０条の５第７項の規定により、取り下げられたものとみなす。 第２ 本件訂正について １ 請求の趣旨 本件訂正に係る請求の趣旨は、本件特許の特許請求の範囲を、本件訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１～１０について訂正することを求めるものである。 ２ 本件訂正前の特許請求の範囲の記載 本件訂正前の本件特許の特許請求の範囲の請求項１～１０の記載（特許権の設定登録時における特許請求の範囲の記載）は、次のとおりである。 「【請求項１】 赤外域の波長を有する計測光を出力する第１光源と、 可視域の波長を有するガイド光を出力する第２光源と、 少なくとも、前記計測光が入力される第１ポート、前記ガイド光が入力される第２ポート、及び、前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第３ポートを有するファイバカプラと、 前記結合光を計測対象に照射し、前記計測対象で反射した戻り光を受光する計測部と、 前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部と、を有し、 前記ファイバカプラは、カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されている ことを特徴とする光干渉計測装置。 【請求項２】 前記ファイバカプラは、前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比が５０％以上である ことを特徴とする請求項１に記載の光干渉計測装置。 【請求項３】 前記第１光源は、波長掃引光源である ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光干渉計測装置。 【請求項４】 前記ガイド光は、赤色光である ことを特徴とする請求項１～３のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項５】 前記計測部は、色収差が補正された光学系を有する ことを特徴とする請求項１～４のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項６】 前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測部の間の光路に設けられた参照面にて、前記結合光の一部が反射した光である ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項７】 前記参照面は、前記計測部に接続される光ファイバの端面である ことを特徴とする請求項６に記載の光干渉計測装置。 【請求項８】 前記参照光は、前記第１光源と前記ファイバカプラの前記第１ポートの間の光路に設けられた分岐器によって前記計測光の一部を分岐させた光である ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項９】 前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測部の間の光路に設けられた分岐器によって前記結合光の一部を分岐させた光である ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項１０】 前記ファイバカプラは、前記結合光が出力される第４ポートをさらに有し、 前記参照光は、前記第４ポートから出力される光である ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。」 ３ 本件訂正後の特許請求の範囲の記載 本件訂正後の特許請求の範囲の請求項１～１０の記載は、次のとおりである。下線は訂正箇所を示す。 「【請求項１】 赤外域の波長を有する計測光を出力する第１光源と、 可視域の波長を有するガイド光を出力する第２光源と、 少なくとも、前記計測光が入力される第１ポート、前記ガイド光が入力される第２ポート、及び、前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第３ポートを有するファイバカプラと、 前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッドと、 前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部と、を有する、ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置であって、 前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されており、 前記ファイバカプラは、カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されていることにより、前記ガイド光をマルチモードで伝播させる ことを特徴とする光干渉計測装置。 【請求項２】 前記ファイバカプラは、副干渉計に入力するための前記結合光を出力する第４ポートをさらに有し、前記第１ポートから入力される計測光のうち前記第３ポートへ分岐する計測光の割合が前記第４ポートへ分岐する計測光の割合よりも多くなるように、前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比が設定されることにより、前記副干渉計に入力される計測光のパワーに比べて前記計測ヘッドから投射される計測光のパワーを強くする ことを特徴とする請求項１に記載の光干渉計測装置。 【請求項３】 前記第１光源は、ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、 前記光干渉計測装置は、前記第１光源から出力される前記計測光の一部、又は、前記ファイバカプラで結合された前記結合光の一部が入力され、前記入力された光を所定の光路長差を有する２つのファイバに分岐させた後に合流させることで第２の干渉信号を生成する副干渉計を有し、 前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の傾きに従った不等間隔のクロック信号を生成し、前記不等間隔のクロック信号を用いて前記干渉信号をサンプリングするか、あるいは、前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を推定し、等間隔時間でサンプリングされた前記干渉信号を内挿することによって等間隔位相の干渉信号を生成することによって、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を補正する ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光干渉計測装置。 【請求項４】 前記ガイド光として赤色光を用い、かつ、前記計測光として、赤外域の中でも前記ガイド光の波長に近い近赤外光を用いることにより、前記計測ヘッドの光学系における色収差を抑えて、前記計測ヘッドの先端から投射された結合光が前記計測ヘッドの長さに比べて遠い位置にある前記計測対象の表面上に照射された場合に、前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくする ことを特徴とする請求項１～３のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項５】 前記計測ヘッドは、色収差が補正された光学系を有することにより前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくし、 前記第１光源は、ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、前記第１光源の波長掃引用の制御信号に対し、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性と逆方向の歪みをあらかじめ与えることにより、前記計測光の波長掃引の線形性が担保されている ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光干渉計測装置。 【請求項６】 前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測ヘッドの間の光路に設けられた参照面にて、前記結合光の１０％以下が部分反射した光である ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項７】 前記参照面は、前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面に部分反射ミラーを蒸着することにより反射率を１０％以下にした面、又は、前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面における屈折率の界面で起きるフレネル反射を利用することにより反射率を１０％以下にした面である ことを特徴とする請求項６に記載の光干渉計測装置。 【請求項８】 前記第１光源と前記ファイバカプラの前記第１ポートの間の光路に設けられた分岐器によって前記計測光の一部を分岐させた光を前記参照光とすることにより、前記分岐器から前記処理部までの前記参照光の光路を、前記ガイド光の前記計測ヘッドへの光路と別にした ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項９】 前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測ヘッドの間の光路に設けられた分岐器によって前記結合光の一部を分岐させた光であって、 前記参照光と、前記分岐器と前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号が、前記処理部に入力される ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。 【請求項１０】 前記ファイバカプラは、前記結合光が出力される第４ポートをさらに有し、 前記参照光は、前記第４ポートから出力される光であって、 前記参照光と、前記ファイバカプラと前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号が前記処理部に入力されるか、又は、 前記参照光を参照面で反射させた光を前記第４ポートに入力するとともに前記戻り光を前記第３ポートに入力することにより、前記第１ポートから出力される前記参照光と前記戻り光との干渉信号が前記処理部に入力される ことを特徴とする請求項１～５のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。」 ４ 本件訂正の内容 本件訂正は、一群の請求項〔１～１０〕について訂正するものであるところ、本件訂正の内容を訂正される記載のある請求項ごとに整理すると、以下の(１)から(１０)に示す訂正事項１～１０からなる。 (１) 訂正事項１（請求項１の記載に係る訂正） 訂正事項１は、以下のア～ウに示す訂正事項１－１から訂正事項１－３により構成される。 ア 訂正事項１－１ 特許請求の範囲の請求項１について、本件訂正前の「前記結合光を計測対象に照射し、前記計測対象で反射した戻り光を受光する計測部」を 「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」 に訂正する（請求項１の記載を直接又は間接的に引用する請求項２～１０も同様に訂正する。）。 イ 訂正事項１－２ 特許請求の範囲の請求項１について、本件訂正前の「光干渉計測装置」を 「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」 であることに訂正するとともに、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、本件訂正前の「光干渉計測装置」の有する構成要素について、 「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されて［いる］」 ことに訂正する（請求項１の記載を直接又は間接的に引用する請求項２～１０も同様に訂正する。）。 ウ 訂正事項１－３ 特許請求の範囲の請求項１について、次の(ア)の訂正前の記載を後記(イ)の訂正後の記載に訂正する（請求項１の記載を直接又は間接的に引用する請求項２～１０も同様に訂正する。）。 (ア) 訂正前の記載 「前記ファイバカプラは、カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されている」 (イ) 訂正後の記載 「前記ファイバカプラは、カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されていることにより、前記ガイド光をマルチモードで伝播させる」 (２) 訂正事項２（請求項２の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項２について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する（請求項２の記載を直接又は間接的に引用する請求項３～１０も同様に訂正する。）。 ア 訂正前の記載 「前記ファイバカプラは、前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比が５０％以上である」 イ 訂正後の記載 「前記ファイバカプラは、副干渉計に入力するための前記結合光を出力する第４ポートをさらに有し、前記第１ポートから入力される計測光のうち前記第３ポートへ分岐する計測光の割合が前記第４ポートへ分岐する計測光の割合よりも多くなるように、前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比が設定されることにより、前記副干渉計に入力される計測光のパワーに比べて前記計測ヘッドから投射される計測光のパワーを強くする」 (３) 訂正事項３（請求項３の記載に係る訂正） 訂正事項３は、以下のア及びイに示す訂正事項３－１及び訂正事項３－２により構成される。 ア 訂正事項３－１ 特許請求の範囲の請求項３について、次の(ア)の訂正前の記載を後記(イ)の訂正後の記載に訂正する（請求項３の記載を直接又は間接的に引用する請求項４、６～１０も同様に訂正する。）。 (ア) 訂正前の記載 「前記第１光源は、波長掃引光源である」 (イ) 訂正後の記載 「前記第１光源は、ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、」 イ 訂正事項３－２ 特許請求の範囲の請求項３について、本件訂正前の「光干渉計測装置」が 「前記光干渉計測装置は、前記第１光源から出力される前記計測光の一部、又は、前記ファイバカプラで結合された前記結合光の一部が入力され、前記入力された光を所定の光路長差を有する２つのファイバに分岐させた後に合流させることで第２の干渉信号を生成する副干渉計を有し、 前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の傾きに従った不等間隔のクロック信号を生成し、前記不等間隔のクロック信号を用いて前記干渉信号をサンプリングするか、あるいは、前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を推定し、等間隔時間でサンプリングされた前記干渉信号を内挿することによって等間隔位相の干渉信号を生成することによって、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を補正する」 ものであると訂正する（請求項３の記載を直接又は間接的に引用する請求項４、６～１０も同様に訂正する。）。 (４) 訂正事項４（請求項４の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項４について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する（請求項４の記載を直接又は間接的に引用する請求項６～１０も同様に訂正する。）。 ア 訂正前の記載 「前記ガイド光は、赤色光である」 イ 訂正後の記載 「前記ガイド光として赤色光を用い、かつ、前記計測光として、赤外域の中でも前記ガイド光の波長に近い近赤外光を用いることにより、前記計測ヘッドの光学系における色収差を抑えて、前記計測ヘッドの先端から投射された結合光が前記計測ヘッドの長さに比べて遠い位置にある前記計測対象の表面上に照射された場合に、前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくする」 (５) 訂正事項５（請求項５の記載に係る訂正） 訂正事項５は、以下のア及びイに示す訂正事項５－１及び訂正事項５－２により構成される。 ア 訂正事項５－１ 特許請求の範囲の請求項５について、次の(ア)の訂正前の記載を後記(イ)の訂正後の記載に訂正する（請求項５の記載を直接又は間接的に引用する請求項６～１０も同様に訂正する。）。 ア 訂正前の記載 「前記計測部は、色収差が補正された光学系を有する ことを特徴とする請求項１～４のうちいずれか１項に記載の光干渉計測装置。」 イ 訂正後の記載 「計測ヘッドは、色収差が補正された光学系を有することにより前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくし、… ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光干渉計測装置。」 イ 訂正事項５－２ 特許請求の範囲の請求項５について、本件訂正前の「第１光源」が 「前記第１光源は、ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、前記第１光源の波長掃引用の制御信号に対し、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性と逆方向の歪みをあらかじめ与えることにより、前記計測光の波長掃引の線形性が担保されている」 ものであると訂正する（請求項５の記載を直接又は間接的に引用する請求項６～１０も同様に訂正する。）。 (６) 訂正事項６（請求項６の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項６について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する（請求項６の記載を引用する請求項７も同様に訂正する。）。 ア 訂正前の記載 「前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測部の間の光路に設けられた参照面にて、前記結合光の一部が反射した光である」 イ 訂正後の記載 「前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測ヘッドの間の光路に設けられた参照面にて、前記結合光の１０％以下が部分反射した光である」 (７) 訂正事項７（請求項７の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項７について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する。 ア 訂正前の記載 「前記参照面は、前記計測部に接続される光ファイバの端面である」 イ 訂正後の記載 「前記参照面は、前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面に部分反射ミラーを蒸着することにより反射率を１０％以下にした面、又は、前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面における屈折率の界面で起きるフレネル反射を利用することにより反射率を１０％以下にした面である」 (８) 訂正事項８（請求項８の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項８について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する。 ア 訂正前の記載 「前記参照光は、前記第１光源と前記ファイバカプラの前記第１ポートの間の光路に設けられた分岐器によって前記計測光の一部を分岐させた光である」 イ 訂正後の記載 「前記第１光源と前記ファイバカプラの前記第１ポートの間の光路に設けられた分岐器によって前記計測光の一部を分岐させた光を前記参照光とすることにより、前記分岐器から前記処理部までの前記参照光の光路を、前記ガイド光の前記計測ヘッドへの光路と別にした」 (９) 訂正事項９（請求項９の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項９について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する。 ア 訂正前の記載 「前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測部の間の光路に設けられた分岐器によって前記結合光の一部を分岐させた光である」 イ 訂正後の記載 「前記参照光は、前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測ヘッドの間の光路に設けられた分岐器によって前記結合光の一部を分岐させた光であって、 前記参照光と、前記分岐器と前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号が、前記処理部に入力される」 (１０) 訂正事項１０（請求項１０の記載に係る訂正） 特許請求の範囲の請求項１０について、次のアの訂正前の記載を後記イの訂正後の記載に訂正する。 ア 訂正前の記載 「前記参照光は、前記第４ポートから出力される光である」 イ 訂正後の記載 「前記参照光は、前記第４ポートから出力される光であって、 前記参照光と、前記ファイバカプラと前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号が前記処理部に入力されるか、または、 前記参照光を参照面で反射させた光を前記第４ポートに入力するとともに前記戻り光を前記第３ポートに入力することにより、前記第１ポートから出力される前記参照光と前記戻り光との干渉信号が前記処理部に入力される」 第３ 本件訂正の適否についての当合議体の判断 １ 訂正の目的 (１) 訂正事項１ ア 訂正事項１－１ 訂正事項１－１に係る訂正は、訂正前の請求項１の「計測部」について、「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」であると限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 イ 訂正事項１－２ 訂正事項１－２に係る訂正は、本件訂正前の「光干渉計測装置」について、「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」であると限定するとともに、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、本件訂正前の「光干渉計測装置」の有する構成要素について、「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されて」いることを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 ウ 訂正事項１－３ 訂正事項１－３に係る訂正は、訂正前の請求項１の「ファイバカプラ」について、「ガイド光をマルチモードで伝播させる」点を限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (２) 訂正事項２ ア 訂正事項２に係る訂正は、訂正前の請求項２の「ファイバカプラ」について、「副干渉計に入力するための前記結合光を出力する第４ポート」を有することを限定し、さらに「前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比が５０％以上である」という特定を「前記第１ポートから入力される計測光のうち前記第３ポートへ分岐する計測光の割合が前記第４ポートへ分岐する計測光の割合よりも多くなるように」との特定にするものである。 イ ここで、訂正後の「前記第１ポートから入力される計測光のうち前記第３ポートへ分岐する計測光の割合が前記第４ポートへ分岐する計測光の割合よりも多くなるように」という特定は、第１ポートからの経路が第３ポートと第４ポートである場合には、第１ポートから第３ポートへの経路のカップリング比が５０％を超えることと同値である（このとき、第４ポートへのカップリング比は５０％未満である。）。 ウ そうすると、訂正事項２に係る訂正は、訂正前の請求項２の「ファイバカプラ」について、「副干渉計に入力するための前記結合光を出力する第４ポート」を有することを限定し、さらに第１ポートから第３ポートへの経路のカップリング比が「５０％以上」であると特定していたものを、第１ポートから第３ポートへの経路のカップリング比が５０％を超えるものに数値範囲を限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (３) 訂正事項３ ア 訂正事項３－１ 訂正事項３－１に係る訂正は、訂正前の請求項３の「波長掃引光源」について、「ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する」ものであることを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 イ 訂正事項３－２ 訂正事項３－２に係る訂正は、「光干渉計測装置」について、「前記第１光源から出力される前記計測光の一部、又は、前記ファイバカプラで結合された前記結合光の一部が入力され、前記入力された光を所定の光路長差を有する２つのファイバに分岐させた後に合流させることで第２の干渉信号を生成する副干渉計を有し、前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の傾きに従った不等間隔のクロック信号を生成し、前記不等間隔のクロック信号を用いて前記干渉信号をサンプリングするか、あるいは、前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を推定し、等間隔時間でサンプリングされた前記干渉信号を内挿することによって等間隔位相の干渉信号を生成することによって、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を補正する」ことを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (４) 訂正事項４ 訂正事項４に係る訂正は、本件訂正前の請求項１の「計測光」について、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、「赤外域の中でも前記ガイド光の波長に近い近赤外光を用いることにより、前記計測ヘッドの光学系における色収差を抑えて、前記計測ヘッドの先端から投射された結合光が前記計測ヘッドの長さに比べて遠い位置にある前記計測対象の表面上に照射された場合に、前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくする」ことを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (５) 訂正事項５ ア 訂正事項５－１ 訂正事項５－１に係る訂正は、訂正前の請求項５の「色収差が補正された光学系」について、「前記計測対象の表面上の前記計測光と前記ガイド光の投射位置のずれを小さくする」ものであることを限定し、さらに引用する請求項を「請求項１～５のいずれか一項」から、「請求項１又は２」に限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 イ 訂正事項５－２ 訂正事項５－２に係る訂正は、本件訂正前の請求項１の「第１光源」について、「ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、前記第１光源の波長掃引用の制御信号に対し、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性と逆方向の歪みをあらかじめ与えることにより、前記計測光の波長掃引の線形性が担保されている」ことを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (６) 訂正事項６ 訂正事項６に係る訂正は、訂正前の請求項６の「前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測部の間の光路に設けられた参照面にて、前記結合光の一部が反射」するとの特定事項について、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、当該参照面での結合光の「一部」の「反射」について、「１０％以下」の「部分反射」に限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (７) 訂正事項７ 訂正事項７に係る訂正は、訂正前の請求項７の「前記計測部に接続される光ファイバの端面」である「参照面」について、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、「前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面に部分反射ミラーを蒸着することにより反射率を１０％以下にした面」又は「前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面における屈折率の界面で起きるフレネル反射を利用することにより反射率を１０％以下にした面」であることを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (８) 訂正事項８ 訂正事項８に係る訂正は、訂正前の請求項８の「前記第１光源と前記ファイバカプラの前記第１ポートの間の光路に設けられた分岐器によって前記計測光の一部を分岐させた光」を「参照光とすることにより」、「前記分岐器から前記処理部までの前記参照光の光路を、前記ガイド光の前記計測ヘッドへの光路と別にした」ことを特定するものであるから、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、「前記参照光」の光路を限定する訂正である。 したがって、訂正事項８に係る訂正は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (９) 訂正事項９ 訂正事項９に係る訂正は、訂正前の請求項９の「光干渉計測装置」が有する「処理部」における「前記戻り光と参照光との干渉信号」について、前記訂正事項１－１に係る訂正を前提として、「前記処理部に入力される」「干渉信号」が「前記参照光と、前記分岐器と前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号」であることを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 (１０) 訂正事項１０ 訂正事項１０に係る訂正は、訂正前の請求項１０の「光干渉計測装置」が有する「処理部」における「前記戻り光と参照光との干渉信号」について、「前記処理部に入力される」「干渉信号」が、「前記参照光と、前記ファイバカプラと前記計測ヘッドとの間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号」であること、又は、「前記参照光を参照面で反射させた光を前記第４ポートに入力するとともに前記戻り光を前記第３ポートに入力することにより、前記第１ポートから出力される前記参照光と前記戻り光との干渉信号」であることを限定する訂正であるから、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とするものに該当する。 ２ 新規事項の追加、特許請求の範囲の実質的拡張・変更 訂正事項１～１０の訂正は、特許法１２０条の５第２項ただし書２号に掲げる「誤記又は誤訳の訂正」を目的とするものに該当しないから、これらの訂正における新規事項の追加の有無を判断する際の基準となる明細書等は、特許権の設定の登録がされた時点での願書に添付した明細書、特許請求の範囲及び図面である。 (１) 訂正事項１ ア 訂正事項１－１ 訂正事項１－１において、「計測部」について、「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」と訂正することは、次に摘記する本件特許の願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面（以下「本件特許明細書等」という。）の段落【００２１】～【００２２】の記載（下線は合議体が付した。以下、同様。）に基づくものである。 「【００２１】 計測光Ｌ１が光ファイバＦ１を介してファイバカプラ１３に入力されると共に、ガイド光Ｌ２が光ファイバＦ２を介してファイバカプラ１３に入力されると、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２の結合光Ｌ３がファイバカプラ１３から出力される。この結合光Ｌ３は、光ファイバＦ３、サーキュレータ１４、及び、光ファイバＦ４を介して計測ヘッド１０へと導かれ、計測ヘッド１０から計測対象Ｏに投射される。この構成により、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２が同じ位置に照射されるため、計測対象Ｏの表面に現れるスポット（光点）Ｏｐによって、計測位置（計測光Ｌ１が当たっている位置）を目視で確認することができるようになる。 【００２２】 計測対象Ｏで反射し計測ヘッド１０で受光された光は、戻り光Ｌ４として光ファイバＦ４に導かれる。一方、結合光Ｌ３の一部が、参照面ＲＰで反射し、参照光Ｌ５として光ファイバＦ４に導かれる。そして、戻り光Ｌ４と参照光Ｌ５の干渉信号（ビート信号）Ｌ６が、サーキュレータ１４を介してディテクタ１５に導かれ、光電変換された後、ＡＤ変換器１７を介して処理部１６へと入力される。この干渉信号Ｌ６は、戻り光Ｌ４と参照光Ｌ５のあいだの光路長差、すなわち計測対象Ｏの距離に応じた周波数成分を含む。したがって、処理部１６において干渉信号Ｌ６を周波数解析することによって、計測対象Ｏの距離、速度、振動などの情報を得ることができる。」 イ 訂正事項１－２ 訂正事項１－２において、「光干渉計測装置」について、「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」であることに訂正するとともに、前記訂正事項１－１を前提として、本件訂正前の「光干渉計測装置」の有する構成要素について、「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されており」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【０００４】、【００２１】、【００２６】の記載に基づくものである。 「【０００４】 ＦＡ（ファクトリーオートメーション）用のセンサにおいては、計測位置、すなわち、計測光が計測対象のどこに照射されているか、を目視により確認したいというニーズが強い。それゆえ、本発明者らは、光干渉計測装置をＦＡ用途に展開するにあたり、計測光とは別に、計測位置を視覚的に示すガイド光を照射する機能を付加することを検討している。」 「【００２１】 計測光Ｌ１が光ファイバＦ１を介してファイバカプラ１３に入力されると共に、ガイド光Ｌ２が光ファイバＦ２を介してファイバカプラ１３に入力されると、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２の結合光Ｌ３がファイバカプラ１３から出力される。この結合光Ｌ３は、光ファイバＦ３、サーキュレータ１４、及び、光ファイバＦ４を介して計測ヘッド１０へと導かれ、計測ヘッド１０から計測対象Ｏに投射される。この構成により、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２が同じ位置に照射されるため、計測対象Ｏの表面に現れるスポット（光点）Ｏｐによって、計測位置（計測光Ｌ１が当たっている位置）を目視で確認することができるようになる。」 「【００２６】 本実施形態の光干渉計測装置１は、コヒーレントＦＭＣＷ（Frequency Modulated Continuous Wave）によって計測対象Ｏの測距を行う装置である。光干渉計測装置１は、概略、コントローラ（装置本体）２０と計測ヘッド１０を有しており、計測ヘッド１０の先端にて計測光の照射及び反射光の受光を行う。コントローラ２０は、主な構成として、計測光Ｌ１を出力する計測光源１１、ガイド光Ｌ２を出力するガイド光源１２、ファイバカプラ１３、サーキュレータ１４、ディテクタ１５、ＡＤ変換器１７、処理部１６、ファイバカプラ３１、ファイバカプラ３２、差分ディテクタ３３、クロック発生器３４、光ファイバＦ１～Ｆ１０を有している。」 ウ 訂正事項１－３ 訂正事項１－３において、「ファイバカプラ」について、「ガイド光をマルチモードで伝播させる」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００２３】の記載に基づくものである。 「【００２３】 ここで、ファイバカプラ１３としては、カットオフ波長が計測光Ｌ１の波長より短く且つガイド光Ｌ２の波長より長いシングルモードファイバで構成された、シングルモードファイバカプラを用いることが好適である。これにより、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２の合成手段を低コストに実現できるからである。なお、ガイド光Ｌ２はマルチモードで伝播されることとなるが、距離等の計測には影響がないため、特に問題とならない。」 エ (１)の検討のまとめ したがって、訂正事項１－１から訂正事項１－３に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 また、訂正事項１－１から訂正事項１－３に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (２) 訂正事項２ ア 訂正事項２において、「ファイバカプラ」について、「副干渉計に入力するための前記結合光を出力する第４ポートをさらに有し」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００３０】の記載に基づくものである。 「【００３０】 ファイバカプラ１３は、２入力×２出力のファイバカプラである。第１ポートには、光ファイバＦ１を介して計測光Ｌ１が入力され、第２ポートには、光ファイバＦ２を介してガイド光Ｌ２が入力される。そして、計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２の結合光Ｌ３が第３ポート及び第４ポートから出力される。第３ポートは主干渉計ＭＩ側の光ファイバＦ３に接続され、第４ポートは副干渉計ＳＩ側の光ファイバＦ６に接続されている。」 イ また、前記１(２)を踏まえると、訂正事項２に係る「前記第１ポートから前記第３ポートへの経路のカップリング比」についての訂正は、訂正前の「５０％以上」から「５０％」を除外するものである。 ウ したがって、訂正事項２に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものではないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 エ そして、訂正事項２に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (３) 訂正事項３ ア 訂正事項３－１ 訂正事項３－１において、「波長掃引光源」について、「ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源」であると訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００２８】の記載に基づくものである。 「【００２８】 計測光源１１は、コヒーレントな計測光Ｌ１を出力可能な光源であり、ＦＭＣＷのために計測光Ｌ１の波長を時間的に掃引可能な波長掃引光源が用いられる。波長掃引光源には、例えば、電流変調方式のＶＣＳＥＬ、ＭＥＭＳ駆動方式のＶＣＳＥＬ、ＳＳＧ－ＤＢＲなどがあり、いずれの方式の光源を用いてもよい。本実施形態では、低コストという利点から、電流変調方式のＶＣＳＥＬを用いる。計測光Ｌ１としては、例えば、波長１３１０ｎｍ～１５５０ｎｍ程度の近赤外線レーザーが用いられる。また本実施形態では、三角波による波長掃引を行うが、正弦波、のこぎり波、その他の波形により波長掃引を行ってもよい。」 イ 訂正事項３－２ 訂正事項３－２において、「光干渉計測装置」について、「前記第１光源から出力される前記計測光の一部、又は、前記ファイバカプラで結合された前記結合光の一部が入力され、前記入力された光を所定の光路長差を有する２つのファイバに分岐させた後に合流させることで第２の干渉信号を生成する副干渉計を有し、 前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の傾きに従った不等間隔のクロック信号を生成し、前記不等間隔のクロック信号を用いて前記干渉信号をサンプリングするか、あるいは、前記第２の干渉信号に基づいて、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を推定し、等間隔時間でサンプリングされた前記干渉信号を内挿することによって等間隔位相の干渉信号を生成することによって、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性を補正する」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００４０】～【００４１】の記載に基づくものである。 「【００４０】 計測光源１１で計測光の波長を掃引する際に、時間的な波長の変化（傾き）を線形にすることが理想である。波長掃引が線形でないと、干渉信号のビート周波数が一定でなくなり、測距精度の低下につながるからである。しかし実際は、波長を線形に掃引することは難しい。また、線形からの乖離度合いは、計測光源の個体の特性に依存するため、事前に補正をかけることも難しい。 【００４１】 そこで、本実施形態では、計測光源１１の波長掃引の非線形性を補正するために、上記のように、副干渉計ＳＩを用いてＡＤ変換器１７のサンプリングクロックを生成する。このサンプリングクロックは、計測光源１１から実際に出力された計測光から生成されているため、計測光の波長掃引の傾きに従った不等間隔のクロック信号となる。このサンプリングクロックを用いて主干渉計ＭＩの干渉信号を不等間隔時間でサンプリングすることによって、等間隔位相でサンプリングしたのと等価な結果を得ることができる。これにより、周波数解析の信頼性の向上、並びに、測距精度の向上を図ることができる。」 ウ (３)の検討のまとめ したがって、訂正事項３－１及び訂正事項３－２に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 また、訂正事項３－１及び訂正事項３－２に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (４) 訂正事項４ ア 訂正事項４において、「ガイド光」及び「計測光」について、「前記ガイド光として赤色光を用い、かつ、前記計測光として、赤外域の中でも前記ガイド光の波長に近い近赤外光を用いることにより、前記計測ヘッドの光学系における色収差を抑えて、前記計測ヘッドの先端から投射された結合光が前記計測ヘッドの長さに比べて遠い位置にある前記計測対象の表面上に照射された場合に、前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくする」と訂正することは、本件特許明細書等の段落【００２８】～【００２９】の記載に基づくものである。なお、「前記計測ヘッドの先端から投射された結合光が前記計測ヘッドの長さに比べて遠い位置にある前記計測対象の表面上に照射された場合に、前記計測対象の表面上の計測位置と前記ガイド光のスポットとのずれを小さくする」という効果について明示的な記載はないものの、技術常識を参酌すれば「色収差を抑える」構成による自明な効果にすぎず、新たな技術上の意義が追加されるものではない。 「【００２８】 計測光源１１は、コヒーレントな計測光Ｌ１を出力可能な光源であり、ＦＭＣＷのために計測光Ｌ１の波長を時間的に掃引可能な波長掃引光源が用いられる。波長掃引光源には、例えば、電流変調方式のＶＣＳＥＬ、ＭＥＭＳ駆動方式のＶＣＳＥＬ、ＳＳＧ-ＤＢＲなどがあり、いずれの方式の光源を用いてもよい。本実施形態では、低コストという利点から、電流変調方式のＶＣＳＥＬを用いる。計測光Ｌ１としては、例えば、波長１３１０ｎｍ～１５５０ｎｍ程度の近赤外線レーザーが用いられる。また本実施形態では、三角波による波長掃引を行うが、正弦波、のこぎり波、その他の波形により波長掃引を行ってもよい。 【００２９】 ガイド光源１２は、ガイド光Ｌ２を出力する光源である。可視光であればどのような波長の光を用いてもよいが、本実施形態では赤色レーザーを用いる。計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２の波長が近い方が、計測ヘッド１０の光学系における色収差の影響が小さいからである。また、他の色に比べて、赤色レーザー光源の方が低コストであるという利点もある。」 イ したがって、訂正事項４に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項４に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (５) 訂正事項５ ア 訂正事項５－１において、「光学系」について「前記計測光と前記ガイド光の投射位置のずれを小さくする」と訂正し、さらに、訂正事項５－２において、「第１光源」について「ＦＭＣＷのためにコヒーレントな計測光の波長を時間的に掃引する波長掃引光源であり、前記第１光源の波長掃引用の制御信号に対し、前記第１光源による前記計測光の波長掃引の非線形性と逆方向の歪みをあらかじめ与えることにより、前記計測光の波長掃引の線形性が担保されている」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００３３】、【００４２】の記載に基づくものである。 「【００３３】 計測ヘッド１０は、結合光Ｌ３の計測対象Ｏへの投射、及び、計測対象Ｏで反射した光の受光を行うユニットである。計測ヘッド１０は、例えば、直径約１．５ｃｍ、長さ約３ｃｍの円筒形又は角型の鏡筒内に光学系１０ａが設けられた構造を有する。光学系１０ａは、平行ビームを投射するためのコリメートレンズでもよいし、計測対象Ｏ上の計測位置にビームを収束させるための集光レンズでもよい。光学系１０ａとしては、色収差が補正されたレンズ（アクロマティックレンズ、色消しレンズとも呼ぶ）を用いるとよい。計測光Ｌ１とガイド光Ｌ２は波長が異なるため、色収差が大きいレンズを用いると、２つの光線にずれが生じ、ガイド光Ｌ２のスポットが計測位置を正確に指し示せないおそれがある。これに対し、色収差が補正されたレンズを用いることにより、２つの光線のずれを可及的に小さくでき、ガイド光Ｌ２の投射位置の正確性を担保することができる。」 「【００４２】 なお、波長掃引の非線形性の補正は他の手法を用いてもよい。例えば、処理部１６が、副干渉計ＳＩの干渉信号に基づいて波長掃引の傾き（非線形性）を推定し、ＡＤ変換器１７で等間隔時間でサンプリングされた主干渉計ＭＩの干渉信号を内挿して、等間隔位相の干渉信号を生成してもよい。あるいは、計測光源１１の波長掃引用の制御信号にあらかじめ逆方向の歪みを与え、光源特性と相殺させることで、計測光源１１から出力される計測光の線形性を担保してもよい。」 イ したがって、訂正事項５－１及び訂正事項５－２に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項５－１及び訂正事項５－２に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (６) 訂正事項６ ア 訂正事項６において、「前記ファイバカプラの前記第３ポートと前記計測ヘッドの間の光路に設けられた参照面」で「部分反射」する結合光の割合を「１０％以下」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００３５】の記載に基づくものである。 「【００３５】 参照光Ｌ５の光量が大きいと、ショットノイズなどのシグナル量と共に増加するノイズが原因により、ＳＮが悪くなる。それゆえ、参照面ＲＰの反射率は５０％よりも小さい方が好ましく、１０％以下であることがより好ましい。参照面ＲＰの形成方法は特に限定されない。例えば、光ファイバＦ４の端面に部分反射ミラーを蒸着することによって参照面ＲＰを形成してもよい。あるいは光ファイバＦ４の端面を光軸に垂直なフラット面とし、光ファイバＦ４と計測ヘッド１０のあいだに空気層あるいは屈折率整合材を充填した領域を形成し、屈折率の界面で起きるフレネル反射を利用してもよい。あるいは、計測ヘッド１０の光学系１０ａにおけるレンズ表面での反射を利用してもよい。」 イ したがって、訂正事項６に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項６に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (７) 訂正事項７ ア 訂正事項７において、「参照面」について、「前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面に部分反射ミラーを蒸着することにより反射率を１０％以下にした面」又は「前記計測ヘッドに接続される光ファイバの端面における屈折率の界面で起きるフレネル反射を利用することにより反射率を１０％以下にした面」であると訂正することは、前記(６)アに摘記した本件特許明細書等の段落【００３５】の記載に基づくものである。 イ したがって、訂正事項７に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項７に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (８) 訂正事項８ ア 訂正事項８において、「前記参照光」について、「前記分岐器から前記処理部までの前記参照光の光路を、前記ガイド光の光路と別にした」と訂正することは、次に摘記する本件特許明細書等の段落【００２２】、【００５１】、【００５６】、【図６】及び【図９】の記載に基づくものである。 「【００２２】 計測対象Ｏで反射し計測ヘッド１０で受光された光は、戻り光Ｌ４として光ファイバＦ４に導かれる。一方、結合光Ｌ３の一部が、参照面ＲＰで反射し、参照光Ｌ５として光ファイバＦ４に導かれる。そして、戻り光Ｌ４と参照光Ｌ５の干渉信号（ビート信号）Ｌ６が、サーキュレータ１４を介してディテクタ１５に導かれ、光電変換された後、ＡＤ変換器１７を介して処理部１６へと入力される。この干渉信号Ｌ６は、戻り光Ｌ４と参照光Ｌ５のあいだの光路長差、すなわち計測対象Ｏの距離に応じた周波数成分を含む。したがって、処理部１６において干渉信号Ｌ６を周波数解析することによって、計測対象Ｏの距離、速度、振動などの情報を得ることができる。」 「【００５１】 図６及び図７は、第３実施形態の変形例である。図６の構成では、マイケルソン型の主干渉計ＭＩにおいて、計測光源１１とファイバカプラ１３の間の光路に設けたファイバカプラ５２（分岐器）によって計測光Ｌ１の一部を分岐させ、参照光Ｌ５として利用している。また、図７の構成では、ファイバカプラ１３で結合された結合光Ｌ３が第３ポートと第４ポートから出力され、第３ポート側の結合光Ｌ３は計測用に利用され、第４ポート側の結合光は参照光Ｌ５として利用される。」 「【００５６】 図９は、第４実施形態の変形例である。図９の構成では、マッハツェンダー型の主干渉計ＭＩにおいて、計測光源１１とファイバカプラ１３の間の光路に設けたファイバカプラ６３（分岐器）によって計測光Ｌ１の一部を分岐させ、参照光Ｌ５として利用している。ガイド光源１２はファイバカプラ６４に接続されており、ガイド光Ｌ２はファイバカプラ６４及び光ファイバＦ６２を介してファイバカプラ１３に入力され、計測光Ｌ１と結合する。」 「【図６】 ［図：0001429978000001.jpg］ 」 「【図９】 ［図：0001429978000002.jpg］ 」 イ したがって、訂正事項８に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項８に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (９) 訂正事項９ ア 訂正事項９において、「前記処理部に入力される」「干渉信号」が「前記参照光と、前記分岐器と前記計測部との間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号」であると訂正することは、前記(８)アに摘記した本件特許明細書等の段落【００２２】、次に摘記する【００５３】～【００５５】、【図８】の記載に基づくものである。 「【００５３】 ＜第４実施形態＞ 図８に第４実施形態の光干渉計測装置の要部を示す。第４実施形態では主干渉計ＭＩにマッハツェンダー型の干渉計を用いている点が、前述の構成例とは異なる。 【００５４】 主干渉計ＭＩは、ファイバカプラ６０、６１、６２、及び、光ファイバＦ６０～Ｆ６３を有している。また、前述の構成例におけるディテクタ１５の代わりに差分ディテクタ６３が設けられている。 【００５５】 光ファイバＦ３を介して入力された結合光Ｌ３は、ファイバカプラ６０（分岐器）で分岐され、光ファイバＦ６０とＦ６３にそれぞれ導かれる。光ファイバＦ６０側に分岐した結合光Ｌ３は、ファイバカプラ６２及び光ファイバＦ６１を介して計測ヘッド１０へと導かれ、計測対象Ｏに投射される。計測対象Ｏで反射された戻り光Ｌ４は、計測ヘッド１０から光ファイバＦ６１、ファイバカプラ６２、及び光ファイバＦ６２を介して、ファイバカプラ６１に入力される。他方、光ファイバＦ６３側に分岐した結合光は、参照光Ｌ５として、ファイバカプラ６１に入力される。そして、戻り光Ｌ４と参照光Ｌ５がファイバカプラ６１内で干渉し、ファイバカプラ６１の２つの出力ポートから、三角波に互いに逆位相の干渉信号が重畳された信号が出力される。差分ディテクタ６３では、主干渉計ＭＩから出力された信号をそれぞれ電気信号に変換し、２つの信号の差分を出力する。この操作により、ＳＮの良い干渉信号を得ることができる。」 「【図８】 ［図：0001429978000003.jpg］ 」 イ したがって、訂正事項９に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 ウ また、訂正事項９に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 (１０) 訂正事項１０ ア 訂正事項１０において、「前記処理部に入力される」「干渉信号」が「前記参照光と、前記ファイバカプラと前記計測部との間で前記戻り光を分岐させた光との干渉信号」であると訂正することは、前記(８)アに摘記した本件特許明細書等の段落【００２２】、次に摘記する【００５７】、【図１０】の記載に基づくものである。 「【００５７】 また、図１０も第４実施形態の変形例である。図１０の構成では、ファイバカプラ１３で結合された結合光Ｌ３が第３ポートと第４ポートから出力され、第３ポート側の結合光Ｌ３は計測用に利用され、第４ポート側の結合光は参照光Ｌ５として利用される。」 「【図１０】 ［図：0001429978000004.jpg］ 」 イ また、訂正事項１０において、「前記処理部に入力される」「干渉信号」が「前記参照光を参照面で反射させた光を前記第４ポートに入力するとともに前記戻り光を前記第３ポートに入力することにより、前記第１ポートから出力される前記参照光と前記戻り光との干渉信号」であると訂正することは、前記(８)アに摘記した本件特許明細書等の段落【００２２】、【００５１】及び次に摘記する【図７】の記載に基づくものである。 「【図７】 ［図：0001429978000005.jpg］ 」 ウ したがって、訂正事項１０に係る訂正は、本件特許明細書等の全ての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものでないから、本件特許明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものであり、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６条５項の規定に適合する。 エ また、訂正事項１０に係る訂正は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではなく、特許法１２０条の５第９項において準用する同法１２６第６項の規定に適合する。 ３ 独立特許要件 この特許異議の申立てにおいては、全請求項である請求項１～１０について特許異議の申立てがされているから、本件訂正後における請求項１～１０に記載されている事項により特定される発明について、特許法１２０条の５第９項において読み替えて準用する同法１２６条７項に規定する独立特許要件は課されない。 ４ 小括 前記１～３において検討したとおり、本件訂正は、特許法１２０条の５第２項ただし書１号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項において準用する同法１２６条５項及び６項の規定に適合するから、本件訂正は適法なものである。 よって、前記結論のとおり、訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１～１０〕について訂正することを認める。 第４ 取消理由通知に記載した取消理由の概要 本件特許について、令和７年１月３１日付け取消理由通知書（決定の予告）によって特許権者に通知した取消理由の概要は、次のとおりである。 取消理由１（進歩性の欠如） 本件訂正前の請求項１～１０に係る発明は、下記に示すとおり、甲１号証に記載された発明、甲４号証、甲５号証、甲７号証、引用文献４及び引用文献５に記載された技術事項、並びに、周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、前記請求項に係る特許は、特許法２９条２項の規定に違反してされたものである。 記 ＜主たる引用文献＞ 甲１号証 ：米国特許出願公開第２０１４／０１７１８０７号明細書 ＜副引用文献＞ 甲４号証 ：国際公開第９９／５７５０７号 甲５号証 ：欧州特許出願公開第３４０１６３４号明細書 甲７号証 ：特開２０１６－９５２６１号公報 引用文献４ ：特開２０１２－２５９８号公報 引用文献５ ：特開２０１２－１８３３９０号公報 ＜周知技術等を示す文献＞ 引用文献１ ：Michael Barnes、「The Use of Long-Period Gratings to Detect Sulphur Hexafluoride.」、Environmental Science, Engineering、２００９年２月２日、１～８４頁 引用文献２ ：特表２００４－５０４６１８号公報 引用文献３ ：特開２００７－１９３０３０号公報 なお、甲１号証、甲４号証～甲５号証及び甲７号証は、特許異議申立人が提出した文献であり、引用文献１～５は、職権調査により発見した文献である。 第５ 当合議体の判断 １ 訂正後の本件発明 前記第３のとおり、本件訂正は認められたから、本件特許の請求項１～１０に係る発明（以下、請求項の番号に従って「本件訂正発明１」などという。）は、それぞれ、前記第２の３に示した本件訂正後の特許請求の範囲の請求項１～１０に記載された事項により特定されるとおりのものである。 ２ 甲１号証の記載事項及び甲１発明の認定 (１) 甲１号証の記載事項 甲１号証（米国特許出願公開第２０１４／０１７１８０７号明細書）には、次の事項が記載されている。 摘記の後の括弧内に合議体が作成した日本語訳を示す。下線は合議体が付した。 ア ［００２４］～［００２６］ 「[0024] According to embodiments of the disclosure, assessment of neural activity may be achieved by noninvasive optical assessment of neural surface displacement. Embodiments of the disclosure may characterize functionality of nerves by measurement of surface displacement associated with neural activation. Systems, devices, and methods of the present disclosure may use a fiber-optic phase-sensitive optical Low coherence reflectometer (PS-OLCR) and may be operable to detect a variety of neurological slates. According to some embodiments, methods, systems, and/or devices of the disclosure may use a PS-OLCR system capable of measuring ultra-small changes in optical path length using backreflected light from a neurological sample. In addition, double passage of light through the sample may be used in some embodiments to increase the detected phase delays by a factor of two. [0025] The fiber-optic PS-OLCR system used in some embodiments of the present disclosure may be configured to incorporate a fiber probe for endoscopic and microfluidic bio-sensing applications. In addition, according to some embodiments, systems may be compact, portable and/or easy to align. [0026] Embodiments of the present disclosure may include a depth-resolved interferometric technique useful to measure transient surface displacement (swelling or shrinkage) as a direct indication of neural activity, i.e., action potential propagation. An optical system may include a PS-OLCR, a fiber-based differential phase interferometer capable of measuring ultra-small (0.1 nm) changes in optical path length with microsecond or shorter temporal resolution. Sub-wavelength changes in optical path length in the nerve as a result of stimulation may be measured by extracting the phase difference between interferometric fringes measured by the PS-OLCR system in two channels corresponding to orthogonal polarization modes. Environmental phase noise in PS-OLCR systems may be eliminated by common mode detection. Comparing with single channel results, certain systems of the present disclosure improve the phase sensitivity by approximately 3-orders of magnitude (~60 dB). In one instrument that may be used in the present disclosure, phase sensitivity is one milliradian, which approximately corresponds to optical path length change of 1 angstrom when the source wavelength is centered at 1.31 μm. 」 （[0024] 本開示の実施形態によれば、神経活動の評価は、神経表面変位の非侵襲的光学的評価によって達成され得る。本開示の実施形態は、神経の活性化に関連する表面変位の測定によって神経の機能性を特徴付けることができる。本開示のシステム、デバイス及び方法は、光ファイバ位相感応型光学低コヒーレンス反射率計（ＰＳ－ＯＬＣＲ）を使用することができ、様々な神経スレートを検出するように動作可能である。いくつかの実施形態によれば、本開示の方法、システム及び／又は装置は、神経学的サンプルから後方反射された光を用いて光路長の極めて小さい変化を測定することができるＰＳ－ＯＬＣＲシステムを使用することができる。さらに、いくつかの実施形態では、光が試料を二回通過することを利用して、検出される位相遅延を２倍に増加させることができる。 [0025] 本開示のいくつかの実施形態で使用される光ファイバＰＳ－ＯＬＣＲシステムは、内視鏡及びマイクロ流体バイオセンシング用途のためのファイバプローブを組み込むように構成されてもよい。加えて、いくつかの実施形態によれば、システムは、コンパクトであり、持ち運び可能であり、かつ/又は位置合わせが容易であり得る。 [0026] 本開示の実施形態は、神経活動、すなわち活動電位伝播の直接的な指標として過渡的な表面移動(膨張又は収縮)を測定するのに有用な深さ分解干渉技術を含むことができる。光学システムは、マイクロ秒以下の時間分解能で光路長の超微小(０．１ｎｍ)変化を測定することができるファイバベースの差動位相干渉計であるＰＳ－ＯＬＣＲを含むことができる。刺激の結果としての神経における光路長のサブ波長変化は、直交偏光モードに対応する二つのチャネルにおいてＰＳ－ＯＬＣＲシステムによって測定される干渉縞間の位相差を抽出することによって測定することができる。ＰＳ－ＯＬＣＲシステムにおける環境位相雑音は、コモンモード検出によって除去することができる。単一チャネルの結果と比較すると、本開示の特定のシステムは、位相感度を約３桁(約６０ｄＢ)改善する。本開示で使用することができる一つの機器では、位相感度は１ミリラジアンであり、これは、光源波長が１．３１μｍを中心とするときの１オングストロームの光路長変化にほぼ対応する。） イ ［００３２］ 「[0032] In the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, an interferometer may comprise a beam combiner optically connected to a 1.31 μm broadband source and optically connected to a 633 nm source (aiming band). A beam combiner may be optically connected to a separator. As shown in FIG. 1, the separator may be 2×2 PM coupler, which, in the illustrated embodiment, serves as both the separator and recombiner. A reference path may be optically connected to the separator and comprise a 45°splice, a LiNbO3 phase modulator, and a rapid scanning delay line. As shown, a rapid scanning optical delay line may comprise a collimator (C), a diffraction grating (G), a lens (L), mirror (M,) and a mirror on a galvanometer. The sample path may comprise any suitable optics for illuminating a sample. The sample path and the reference path may each be optically connected to a recombiner. As noted, the separator shown in FIG. 1 also serves as the recombiner. Alternatively, the recombiner may be distinct from the separator as shown in FIG. 2. The recombiner may be optically connected to a spectral domain detector (FIG. 1) or an optical spectrum analyzer (FIG. 2). An optical spectrum analyzer may detect backscattered radiation received by the interferometer to analyze modulated interference spectral densities produced by the interferometer.」 （[0032] 図１及び図２に示す実施形態では、干渉計は、１．３１μｍの広帯域光源と６３３ｎｍ光源（照準帯域）に光学的に接続されたビームコンバイナーから構成される。ビームコンバイナーは、分離器に光学的に接続されていてもよい。図１に示すように、分離器は、図示の実施形態では、分離器と再結合器の両方の役割を果たす２×２ＰＭカプラーであってもよい。参照光路は、分離器に光学的に接続され、４５°スプライス、ＬｉＮｂＯ３位相変調器及び高速走査遅延線から構成されてもよい。図示のように、高速走査光遅延線は、コリメータ（Ｃ）、回折格子（Ｇ）、レンズ（Ｌ）、ミラー（Ｍ）及びガルバノメータ上のミラーから構成されてもよい。サンプル光路は、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品を備えてもよい。参照光路とサンプル光路は、それぞれ再結合器に光学的に接続されていてもよい。前述のように、図１に示す分離器は再結合器としても機能する。あるいは、図２に示すように、再結合器は分離器とは別のものであってもよい。再結合器は、スペクトル領域検出器（図１）又は光スペクトルアナライザー（図２）に光学的に接続されていてもよい。光スペクトルアナライザーは、干渉計によって生成された変調された干渉スペクトル密度を分析するために、干渉計によって受信された後方散乱放射を検出してもよい。） ウ ［００４５］～［００４６］ 「[0045] A fiber-based dual channel PS-OLCR is illustrated in FIG. 1. The system is constructed with polarization maintaining (PM) Fujikura Panda fiber, whose polarization channels correspond to PS-OLCR channels. Fiber segments were spliced with a commercial system (Vytran FS 2000) that allows precise alignment of fiber cores and stress taxes. Small rectangles in FIG. 1 represent fiber splices and the values above show the splice angle in degrees between corresponding axes (slow and fast) of the two PM fiber segments. [0046] A single mode, partially polarized light emitted by an optical semiconductor amplifier [λo=1.31μm and Δλ(FWHM)~60nm] was combined with a 633 nm source (aiming beam) and delivered to the system, which provided approximately 15 μm axial resolution in tissue. The input PM fiber segment created two decorrelated linearly polarized modes that propagated along the birefringent axes of the fiber. Because an off-the-shelf 2×2 PM coupler is supplied with 1 meter fiber leads, length of input, reference and sample paths of the coupler were extended by splicing additional segments of PM fiber with axes at the same orientation (0°splice).」 （[0045] ファイバーベースのデュアルチャンネルＰＳ－ＯＬＣＲを図１に示す。このシステムは、偏波チャンネルがＰＳ－ＯＬＣＲチャンネルに対応する偏波保持（ＰＭ）フジクラPandaファイバーで構成されている。ファイバーセグメントは、ファイバーコアの正確な位置合わせと負荷を課すことを可能にする市販のシステム（Vytran FS 2000）を用いて接続した。図１の小さな長方形はファイバー接続を表し、上の値は２つのＰＭファイバーセグメントの対応する軸（遅軸及び速軸）間の接続角度を度単位で示す。 [0046] 光半導体増幅器によって放射されたシングルモードの部分偏光光［λｏ＝１．３１μｍ、Δλ（ＦＷＨＭ）~６０ｎｍ］は、６３３ｎｍの光源（照準ビーム）と結合され、組織の約１５μｍの軸方向分解能を提供するシステムに送られた。入力されたＰＭファイバーセグメントは、ファイバーの複屈折軸に沿って伝播する２つの相関除去された直線偏光モードを生成した。市販の２×２ＰＭカプラーには１ｍのファイバーリードが付属しているため、軸が同じ向きの追加のＰＭファイバーセグメントを接続（０°スプライス）することで、カプラーの入力、参照光路、サンプル光路の長さを延長した。） エ ［００４８］ 「[0048] Longitudinally displaced orthogonal polarization channels FIG. 2 allowed measurement of optical path length change between two longitudinal points. Interference of light back reflected from reference and sample paths was formed in the 2×2 PM coupler.（後略）」 （[0048] 長手方向にずれた直交偏光チャンネル（図２）により、長手方向の２点間の光路長変化を測定することができた。参照光路とサンプル光路から後方に反射した光は、２×２ＰＭカプラーにおいて干渉を形成している。（後略）） オ ［請求項１］ 「What is clamed is： 1. A device for detecting neural activity beam comprising: a. a beam combiner configured to combine light; b. a broadband source optically linked to the beam combiner; c. an aiming beam source optically linked to the beam combiner; d. a separator optically linked to the beam combiner and configured to separate light into a reference beam and a sample beam; reference optics operably linked separator; sample optics operably linked to the separator; e. a recombiner optically linked to the reference optics and sample optics configured to combine light; f. an optical spectrometer optically connected to the recombines and configured to detect a plurality of spectral interference densities from the recombiner; and g. a processor configured to process detected spectral interference densities to produce sample surface displacement information.」 （［請求項１］ 以下を備える神経活動ビームを検出するための装置。 ａ．光を結合するように構成されたビームコンバイナー； ｂ．ビームコンバイナーに光学的に連結された広帯域光源； ｃ．ビームコンバイナーに光学的に連結された照準ビーム光源； ｄ．ビームコンバイナーに光学的に連結され、光を参照ビームとサンプルビームに分離するように構成された分離器；分離器に作動可能に連結された参照光学系；分離器に作動可能に連結されたサンプル光学系； ｅ．参照光学系とサンプル光学系に光学的に連結され、光を結合するように構成された再結合器； ｆ．再結合器に光学的に連結され、再結合器から複数のスペクトル干渉密度を検出するように構成された光学分光計；及び ｇ．検出されたスペクトル干渉密度を処理してサンプル表面の変位情報を生成するように構成されたプロセッサ。） カ 第１図 「 ［図：0001429978000006.jpg］ 」 キ 第２図 「 ［図：0001429978000007.jpg］ 」 (２) 甲１号証から読み取れる事項の認定 ア 認定事項Ａ 甲１号証の段落［００３２］、［００４６］の記載を踏まえつつ第１図及び第２図を参照すると、次のこと（以下「認定事項Ａ」という。）が読み取れる。 ［認定事項Ａ］ 「１．３１μｍ広帯域光源の光が入力されるポート、６３３ｎｍ光源（照準帯域）の光が入力されるポート、及び、これらの光が結合された光を２×２ＰＭカプラーに出力するポートを備えたビームコンバイナー。」 イ 認定事項Ｂ 甲１号証の段落［００３２］の記載を踏まえつつ第１図を参照すると、次のこと（以下「認定事項Ｂ」という。）が読み取れる。 ［認定事項Ｂ］ 「サンプル光路は、２×２ＰＭカプラーに光学的に接続された光ファイバの先端側に配置されたコリメータ（Ｃ）と、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品を備え、参照光路とサンプル光路は再結合器として機能する２×２ＰＭカプラーに光学的に接続されること」 (３) 甲１発明の認定 前記(１)に摘記した事項及び前記(２)において認定した認定事項Ａ及びＢを総合すると、甲１号証には、次の発明（以下「甲１発明」という。）が記載されていると認められる。 [甲１発明] 「１．３１μｍ広帯域光源と、（［００３２］） ６３３ｎｍ光源（照準帯域）と、（［００３２］） １．３１μｍ広帯域光源の光が入力されるポート、６３３ｎｍ光源（照準帯域）の光が入力されるポート、及び、これらの光が結合された光を２×２ＰＭカプラーに出力するポートを備えたビームコンバイナーと、（認定事項Ａ） ２×２ＰＭカプラーであって、（［００３２］） ビームコンバイナーに光学的に接続され、光を参照ビームとサンプルビームに分離するように構成された分離器と、（［請求項１］のｄ．） 参照光路とサンプル光路に光学的に接続され、光を結合するように構成された再結合器と、（［請求項１］のｅ．、［００３２］） の両方として機能する２×２ＰＭカプラーと、（［００３２］） 再結合器に光学的に接続され、再結合器から複数のスペクトル干渉密度を検出するように構成された光学分光計と、（［請求項１］のｆ．） 検出されたスペクトル干渉密度を処理してサンプル表面の変位情報を生成するように構成されたプロセッサと、（［請求項１］のｇ．） を備え、 サンプル光路は、２×２ＰＭカプラーに光学的に接続された光ファイバの先端側に配置されたコリメータ（Ｃ）と、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品を備え、参照光路とサンプル光路は再結合器として機能する２×２ＰＭカプラーに光学的に接続され、（認定事項Ｂ） 参照光路とサンプル光路からの反射光は、２×２ＰＭカプラーにおいて干渉を形成しており、（［００４８］） サンプルにおいて後方反射された光を用いて光路長の極めて小さい変化を測定する、（［００２４］） 内視鏡及びマイクロ流体バイオセンシング用途のためのファイバプローブを組み込むように構成されてもよく、（［００２５］） マイクロ秒以下の時間分解能で光路長の超微小(０．１ｎｍ)変化を測定することができるファイバーベースのデュアルチャネルＰＳ－ＯＬＣＲ装置（位相感応型光学低コヒーレンス反射率計）（［００２４］、［００２６］、［００４５］）」 ３ 本件訂正発明１について (１) 対比 本件訂正発明１と甲１発明を対比する。 ア 「第１光源」について (ア) 甲１発明の「１．３１μｍ広帯域光源」は、赤外光領域に発光波長を有するものであり、「６３３ｎｍ光源（照準帯域）」は、可視光領域に発光波長を有するものであることは明らかである。 (イ) ここで、「６３３ｎｍ光源」は、「照準帯域」とあることからみて、照準用に用いられるものであることは明らかである。 (ウ) そうすると、甲１発明の「１．３１μｍ広帯域光源」は、計測用に用いられるものとなるから、甲１発明の「１．３１μｍ広帯域光源の光」は、本件訂正発明１の「赤外域の波長を有する計測光」に相当する。 (エ) したがって、甲１発明の「１．３１μｍ広帯域光源」は、本件訂正発明１の「赤外域の波長を有する計測光を出力する第１光源」に相当する。 (オ) 以上より、本件訂正発明１と甲１発明は、「赤外域の波長を有する計測光を出力する第１光源」を有する点において一致する。 イ 「第２光源」について (ア) 前記アを踏まえると、甲１発明の「６３３ｎｍ光源（照準帯域）の光」は、本件訂正発明１の「可視域の波長を有するガイド光」に相当する。 (イ) したがって、甲１発明の「６３３ｎｍ光源（照準帯域）」は、本件訂正発明１の「可視域の波長を有するガイド光を出力する第２光源」に相当する。 (ウ) 以上より、本件訂正発明１と甲１発明は、「可視域の波長を有するガイド光を出力する第２光源」を有する点において一致する。 ウ 「ファイバカプラ」について (ア) 甲１発明の「ビームコンバイナー」は、本件訂正発明１の「ファイバカプラ」とは、いずれも光を結合する「光結合手段」である点で共通する。 (イ) さらに、甲１発明の「ビームコンバイナー」が有する「１．３１μｍ広帯域光源の光が入力されるポート」、「６３３ｎｍ光源（照準帯域）の光が入力されるポート」及び「これらの光が結合された光を２×２ＰＭカプラーに出力するポート」は、それぞれ本件訂正発明１の「ファイバカプラ」が有する「前記計測光が入力される第１ポート」、「前記ガイド光が入力される第２ポート」及び「前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第３ポート」に相当する。 (ウ) したがって、本件訂正発明１と甲１発明は、「少なくとも、前記計測光が入力される第１ポート、前記ガイド光が入力される第２ポート、及び、前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第３ポートを有する光結合手段」を備える点で共通する。 (エ) 一方で、本件訂正発明１の光結合手段は「カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されていることにより、前記ガイド光をマルチモードで伝播させる」「ファイバカプラ」であるのに対し、甲１発明の光結合手段は「ビームコンバイナー」であるという点で、両者は相違する。 エ 「計測ヘッド」について (ア) 甲１発明の「ビームコンバイナー」から出力される、「１．３１μｍ広帯域光源の光」と「６３３ｎｍ光源（照準帯域）の光」が「結合された光」は、本件訂正発明１の「前記計測光と前記ガイド光が結合された」「前記結合光」に相当する。 (イ) そして、甲１発明の「結合された光」は、「２×２ＰＭカプラー」の「分離器」としての機能により「参照ビームとサンプルビームに分離」され、「２×２ＰＭカプラーに光学的に接続された光ファイバの先端側に配置されたコリメータ（Ｃ）と、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品」を備えた「サンプル光路」に送られて、サンプルを照明している。そうすると、甲１発明の「サンプル光路」は、「計測ヘッド」とはいえないことは措くとしても、本件訂正発明１の「前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射」に相当する機能を有する。 (ウ) また、甲１発明の「２×２ＰＭカプラー」には「サンプル光路からの反射光」が入力され、「参照光路とサンプル光路は再結合器として機能する２×２ＰＭカプラーに光学的に接続され」るから、甲１発明の「サンプル光路」は、本件訂正発明１の「前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する」に相当する機能を有する計測部と認められる。 (エ) 一方で、甲１発明は、「内視鏡及びマイクロ流体バイオセンシング用途のためのファイバプローブを組み込むように構成されても良［い］」ものの、本件訂正発明１のように「計測ヘッド」を設けたものではなく、「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されて［いる］」ものではない。 (オ) 以上より、本件訂正発明１と甲１発明は、「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測部であって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測部の先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測部」を備えている点で共通する。 (カ) そして、本件訂正発明１と甲１発明は次のａ、ｂの２点で相違する。 ａ 本件訂正発明１の計測部は「計測ヘッド」であるのに対し、甲１発明の計測部は「光ファイバの先端側に配置されたコリメータ（Ｃ）と、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品」を備えた「サンプル光路」である点。 ｂ 本件訂正発明１は「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続」される構成を有するのに対し、甲１発明はそのような構成を有していないという点。 オ 「処理部」について (ア) 甲１発明は、「検出されたスペクトル干渉密度を処理してサンプル表面の変位情報を生成するように構成されたプロセッサ」を備える。 (イ) 甲１発明においては、「参照光路とサンプル光路からの反射光は、２×２ＰＭカプラーにおいて干渉を形成して」いるところ、「参照光路からの反射光」は、本件訂正発明１の「参照光」に相当し、「サンプル光路からの反射光」は、本件訂正発明１の「戻り光」に相当する。これを踏まえると、甲１発明の「再結合器」として機能する「２×２ＰＭカプラー」において、戻り光と参照光から干渉光が形成されているといえる。 (ウ) 甲１発明においては、「再結合器に光学的に接続され」た「光学分光計」が「再結合器から複数のスペクトル干渉密度を検出するように構成され」ているから、「光学分光計」において検出された「複数のスペクトル干渉密度」は、前記(イ)の干渉光に由来するものであり、本件訂正発明１の「前記戻り光と参照光との干渉信号」に相当する。 (エ) また、甲１発明は、「サンプルにおいて後方反射された光を用いて光路長の極めて小さい変化を測定する」ものであるから、甲１発明の「サンプル表面の変位情報」は、本件訂正発明１の「前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報」に相当する。 (オ) 前記(ア)～(エ)を踏まえると、甲１発明の「検出されたスペクトル干渉密度を処理してサンプル表面の変位情報を生成するように構成されたプロセッサ」は、戻り光と参照光から形成された干渉光に由来する「複数の干渉スペクトル密度」に基づいて、「サンプル表面の変位情報を生成する」手段であるといえるから、本件訂正発明１の「前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部」に相当する。 (カ) したがって、本件訂正発明１と甲１発明は、「前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部」を備える点で一致する。 カ 「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」について (ア) 前記ア～オを踏まえると、甲１発明の「ファイバーベースのデュアルチャネルＰＳ－ＯＬＣＲ装置（位相感応型光学低コヒーレンス反射率計）」は、「光干渉計測装置」としての機能を有するから、本件訂正発明１と甲１発明は「光干渉計測装置」の発明である点において一致する。 (イ) 一方で、甲１発明は「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」ではなく、「ファイバーベースのデュアルチャネルＰＳ－ＯＬＣＲ装置（位相感応型光学低コヒーレンス反射率計）」であるという点で相違する。 (２) 一致点及び相違点 本件訂正発明１と甲１発明は、次のアに示す一致点において一致し、後記イに示す相違点において相違すると認められる。 ア 一致点 「赤外域の波長を有する計測光を出力する第１光源と、 可視域の波長を有するガイド光を出力する第２光源と、 少なくとも、前記計測光が入力される第１ポート、前記ガイド光が入力される第２ポート、及び、前記計測光と前記ガイド光が結合された結合光が出力される第３ポートを有する光結合手段と、 前記結合光を導く光ファイバに接続される計測部であって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測部の先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測部を備え 前記戻り光と参照光との干渉信号に基づいて、前記計測対象の距離、速度、又は、振動に関する情報を取得する処理部と、を有する、光干渉計測装置」である点。 イ 相違点 (ア) 相違点１ 本件訂正発明１は、 光干渉計測装置が「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」であって、 計測部が「計測ヘッド」であって、 「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体であり、前記装置本体と前記計測ヘッドが前記光ファイバで接続されて［いる］」のに対し、 甲１発明は、 光干渉計測装置が「マイクロ秒以下の時間分解能で光路長の超微小(０．１ｎｍ)変化を測定することができるファイバーベースのデュアルチャネルＰＳ－ＯＬＣＲ装置」であって、 計測部が「光ファイバの先端側に配置されたコリメータ（Ｃ）と、サンプルを照明するための任意の適切な光学部品」を備えた「サンプル光路」であって、 「内視鏡及びマイクロ流体バイオセンシング用途のためのファイバプローブを組み込むように構成されても良［い］」ものの、「前記第１光源と前記第２光源と前記ファイバカプラと前記処理部とが設けられている装置本体と、前記計測ヘッドとが別体装置本体と計測ヘッドとを別体」として光ファイバで接続するものではない点。 (イ) 相違点２ 本件訂正発明１は、 計測光とガイド光を結合する光結合手段が、「カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されていることにより、前記ガイド光をマルチモードで伝播させる」「ファイバカプラ」であるのに対して、 甲１発明においては、 １．３１μｍ広帯域光源と６３３ｎｍ光源（照準帯域）を結合するのが「ファイバカプラ」ではなく「ビームコンバイナー」であり、「カットオフ波長が前記計測光の波長より短く且つ前記ガイド光の波長より長いシングルモードファイバで構成されていることにより、前記ガイド光をマルチモードで伝播させる」かどうかは不明であるという点。 (３) 判断 ア 相違点１について 甲１発明は、光路長の超微小(０．１ｎｍ)変化を測定することができるファイバーベースのデュアルチャネルＰＳ－ＯＬＣＲ装置であるため、本件訂正発明１のファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置とは用途が異なり、その求める精度や測定距離範囲などの要求性能・仕様も異なるものと認められる。 そして、「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」が有する「計測ヘッド」は、ＦＡ機器の制御のための計測光を照射するのに適した光学系を有するものであるところ、甲４号証や甲５号証には「計測ヘッド」を有する装置についての開示があるものの、甲１発明を「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」に転用するとともに、その用途に適合するように、「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」として構成するためには、甲１発明において、相応の動機付けが必要である。 しかしながら、甲１発明において、かかる動機となる事項を見出すことはできず、取消理由通知書で引用した甲４～５、７号証、引用文献１～５、特許異議申立人が提出した他の甲２～３、６、８～９号証を参照しても、甲１発明を「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」に転用し、「ファクトリーオートメーション用」の「計測ヘッド」を設ける動機を見出すことはできない。 したがって、前記相違点１に係る構成は、甲１～９号証、引用文献１～５に記載された発明から容易に想到できたものではない。 イ 申立人の主張について 申立人は、令和７年５月２７日に提出された意見書において、前記相違点１に係る構成は、いずれも本件異議申立の審理の過程において挙げられた先行技術文献、又は当該先行技術文献と周知技術から、容易に想到できたものであると主張するとともに、参考資料１として米国特許出願公開第２０１２／０３２０３８０号明細書を提示している。 しかしながら、参考資料１に開示されるのは、評価ユニットと測定ヘッド7とが別体に設けられ、両者が光ファイバコネクタ33で接続されている、ウェハ形状試料間の接合層を試験する試験装置にすぎず、参考資料１の開示内容を踏まえても、甲１発明を「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」に転用し、「ファクトリーオートメーション用」の「計測ヘッド」を設ける動機を見出すことはできない。 また、前記相違点１に係る構成が、本件異議申立の審理の過程において挙げられた先行技術文献、又は当該先行技術文献と周知技術から容易に想到できたものではないことは、前記アで検討したとおりである。 したがって、申立人の主張は採用できない。 (４) 小括 前記(３)ア、イにおいて検討したとおり、前記相違点１に係る構成は、本件異議申立の審理の過程において挙げられた先行技術文献、又は当該先行技術文献と周知技術から容易に想到できたものではない。 したがって、相違点２について検討するまでもなく、本件訂正発明１は、当業者が甲１～７号証に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 よって、本件訂正発明１に係る特許は、特許法２９条２項の規定に違反してされたものであるとはいえない。 ４ 本件訂正発明２～１０について 本件訂正発明１の構成を全て有する本件訂正発明２～１０は、前記相違点１に係る本件訂正発明１の構成を備えるものであるから、本件訂正発明１と同様の理由により、当業者が甲１～７号証に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 第６ 取消理由通知（決定の予告）において採用しなかった特許異議申立理由について １ 請求項１に係る特許異議申立理由について 申立人は、特許異議申立書において、本件特許の請求項１に係る発明は、次の三つの申立理由１～３から進歩性が欠如している旨主張している。 ＜申立理由１＞ 甲１号証に記載された発明及び甲３号証に記載された技術事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 ＜申立理由２＞ 甲１号証に記載された発明及び甲８～９号証に開示された周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 ＜申立理由３＞ 甲２号証に記載された発明及び甲８～９号証に開示された周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 ２ 申立理由の検討 (１) 申立理由１、２の検討 前記申立理由１、２については、前記第５の３において説示した内容を踏まえると、以下に示すとおり、採用することはできない。 ア 甲３号証に記載された事項 甲３号証（「偏波保持（ＰＡＮＤＡ）ファイバ」についての技術説明資料）には、株式会社フジクラ製のＰＡＮＤＡファイバがシングルモードのファイバであること、1.3μｍを使用波長としたＰＡＮＤＡファイバの遮断波長（カットオフ波長）が1.00～1.29μｍの範囲内となることが開示されている。 イ 甲８号証、甲９号証に記載された事項 甲８号証（米国特許第５２９３４４０号明細書）には、１つ以上の光ファイバに光パワーを分岐（または結合）する目的で作成された光ファイバカプラが広く使用されてきたこと、所望の動作またはカップリング機能（すなわち、カップリング比、対象波長帯域、送信モード及びカップリングモードの偏波）に応じて、広帯域カプラ、波長独立カプラ、シングルモードカプラ、偏波保持（PM）カプラ、PMハイブリッドカプラ、及び他のカプラが使用されてきたこと、光システムに組み込まれる場合、カプラは様々な温度や応力で動作することが多いことが開示されている（第１欄第１１行～第２１行を参照）。 甲９号証（特開２００１－１５４０５８号公報）には、可視光などのマルチモード領域と、赤外光などのシングルモード領域の両方の波長の光信号を安定した分岐比で伝送できるシングル・マルチモード光ファイバカプラについて開示されている（段落【０００１】、【００１８】、【００３３】を参照）。 ウ 甲８号証、甲９号証から認定される周知技術 前記甲８～９号証の記載から、次の(ア)～(ウ)が周知技術として認められる。 (ア) ファイバカプラ（光を合波するコンバイナも用語が違うだけで当然含まれる）として、シングルモードカプラがあること。 (イ) 使用するシングルモードファイバのカットオフ波長の両側、すなわちカットオフ波長以上の波長の光信号を伝送するシングルモード領域と、カットオフ波長未満の波長の光信号を伝送するマルチモード領域の双方において所定の分岐比を有するシングル・マルチモード光ファイバカプラがあり、カットオフ波長を境界としてシングルモードとマルチモードとが存在すること。 (ウ) 光ファイバカプラは、分岐と同時に合波も行え、マルチモードの可視光などとシングルモードの赤外光などを光ファイバカプラで合波できること。 エ 当合議体の判断 前記第５の３(２)で示したとおり、本件訂正発明１と、甲１号証に記載される甲１発明は、前記相違点１、前記相違点２において相違する。 そして、前記第５の３（３）において示したとおり、甲３号証、甲８号証、甲９号証からは、甲１発明を「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」に転用し、「ファクトリーオートメーション用」の「計測ヘッド」を設ける動機を見出すことはできない。 したがって、甲１号証及び甲３号証に記載された発明、又は、甲１号証及び甲８～９号証に開示される周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるという申立人の主張は採用できない。 (２) 申立理由３の検討 前記申立理由３については、以下に示すとおり、採用することはできない。 ア 甲２号証の記載事項 甲２号証（特表２０１８－５２６１６１号）には、次の事項が記載されている。下線は合議体が付した。 (ア) 段落【０００４】～【０００７】 「【技術分野】 【０００４】 本開示の様々な実施形態は、概して光干渉断層法（ＯＣＴ）イメージングシステムに関し、特に広視野ＯＣＴイメージングシステムに関する。 …（中略）… 【０００７】 ＯＣＴイメージングシステムは、眼の疾患の早期診断に役立つ眼の構造情報を提供することができる。一般的に、ＯＣＴイメージングシステムでは、眼の横断面図、たとえば、ヒトの網膜の横断面図を得るために近赤外光が典型的に使用される。」 (イ) 【００６２】～【００６４】 「【００６２】 図１は、広視野を有するＯＣＴイメージングシステム１００の側面図である。ＯＣＴイメージングシステム１００は、手持ち式イメージングプローブ１４０およびコンソール１３０を備えることができる。一般的に、イメージングプローブ１４０は、第一のイメージングプローブ１２０、たとえば光カラーイメージングモジュールまたは全視野イメージングモジュール、およびＯＣＴイメージングモジュール１１０を備えることができる。一般的に、コンソール１３０は、ＯＣＴエンジン１３１および走査ミラーコントローラ１３４を備えることができる。ＯＣＴエンジン１３１は、ＯＣＴ干渉計、ＯＣＴ光源（たとえば、８００ｎｍから１１００ｎｍまでの波長を有する広帯域光源）、光検出器、データ収集システム、電源、プロセッサ、およびディスプレイを備えることができる。ＯＣＴエンジン１３１は、時間領域ＯＣＴエンジン（ＴＤ－ＯＣＴ）、フーリエ領域ＯＣＴエンジン（ＦＤ－ＯＣＴ）、または掃引光源フーリエ領域ＯＣＴエンジン（ＳＳ－ＦＤ－ＯＣＴ）であり得る。 【００６３】 手持ち式イメージングプローブ１４０は、コンパクトであり、軽量でありかつポータブルであることができる。イメージングプローブ１４０は、第一のイメージングモジュール（たとえば、カラーイメージングモジュール）１２０およびＯＣＴイメージングモジュール１１０を備えることができる。一般的に、イメージングプローブ１４０は、ＯＣＴイメージングモジュールを収容するのみならず、他のイメージングモダリティ、たとえば、カラーイメージング、蛍光眼底血管造影イメージング、自動蛍光イメージング等を伴う。イメージングプローブ１４０は、他のイメージングモダリティ、たとえば光カラーイメージングと同時にリアルタイムでのＯＣＴイメージングを実行できる。いくつかの実施形態では、光カラーイメージングモジュールは、以下で詳細に論じるＯＣＴ断面図のためのイメージング位置の位置決めを提供するように構成できる。 【００６４】 図１に示すように、光ファイバ１０３は、ＯＣＴエンジン１３１のＯＣＴ光源からの光をイメージングプローブ１４０へ伝送するように構成することができる。ＯＣＴエンジン１３１は、光ファイバによってイメージングプローブ１４０のＯＣＴイメージングモジュール１１０に光学的にリンクでき、この光ファイバは、ＯＣＴ光源からの光をＯＣＴイメージングモジュール１１０に供給すると同時に、さらなる解析のためにＯＣＴイメージングモジュール１１０から眼の反射光を受光する。ＯＣＴイメージングモジュール１１０は、手持ち式イメージングプローブ１４０の内側に配置された、一次元的にまたは二次元的に回転する走査ミラーによってＯＣＴ光源からの光ビームを眼の異なる部分（後部イメージングモードで後眼部、および前部イメージングモードで前眼部）へ走査し、眼から反射された、すなわち散乱された光を受光する。たとえば、走査ミラーは、いくつかの実施形態では、走査ＭＥＭＳミラーであってもよい。」 (ウ) 【図１】 「 ［図：0001429978000008.jpg］ 」 (エ) 【００８９】 「【００８９】 図１および図２Ａに戻って参照すると、ＯＣＴイメージングシステム１００は、ＯＣＴイメージングをカラーイメージングと同時に行うことができるＯＣＴイメージングモジュール１１０（一体的なＯＣＴイメージングモジュールまたは取り外し可能なＯＣＴイメージングモジュール）を備えることができる。いくつかの実施形態では、ＯＣＴイメージングモジュール１１０は、第一のイメージングモジュール１２０と恒久的に一体化してもよい。コンソール１３０に配置されたＯＣＴエンジン１３１にある広帯域光源２５０からの第二の光ビームは、光ファイバ１０３を介してＯＣＴイメージングモジュール１１０に運ばれてＯＣＴ干渉計（図示せず）のためのサンプルアームを形成することができる。光ファイバ１０３は、通常のファイバまたは偏光保持ファイバの形状のシングルモードファイバであることができる。偏光保持ファイバは、ファイバ１０３が操作中に曲げられているまたはねじられているときに、放射光に関する偏光状態の変化の影響を減少できる。偏光保持ファイバの詳細は以下で論じられる。機械的なまたは電気的な焦点調整機構に設けられた光結合レンズ１０４は、コリメート光ビームを形成するために使用できる。」 (オ) 【００９４】 「【００９４】 いくつかの実施形態では、ＯＣＴイメージングシステム１００は、照準光である第三の光源２５３をさらに備えることができる。第三の光源は、コンソール１３０に配置されている。ビームコンバイナ２５２もまたコンソール１３０に配置され、かつビームコンバイナ２５２は、光ファイバ１０３を介して第二の光源２５０と第三の光源２５３の両方を手持ち式イメージングプローブ１４０に結合するように構成される。光ファイバ１０３からの光は、ＯＣＴイメージングのための広帯域光源２５０からの第二の光ビームを含むのみならず、狭帯域波長範囲を有する照準光として第三の光ビームを含む。いくつかの実施形態では、第三の光源２５３の波長は、カラーイメージングのために、第二の光源２５０と第一の光源２２１の間であることができる。たとえば、照準光源は、６８０ｎｍ、７００ｎｍまたは７４０ｎｍの波長を有することができる。第三の光源は、第三の照明路と第三のイメージング路を有することができ、第三の照明路は、ＯＣＴイメージングモジュールの第二の照明路と同じであり、かつ第三のイメージング路は、第一のイメージングモジュールの第一のイメージング路と同じである。ビーム分割ダイクロイックミラー１０２は、第三の光ビームを部分的に反射し、かつ部分的に透過するように構成できる。照準光ビームは、ＯＣＴイメージングモジュール１１０と同じ光学系で後眼部２０１に中継されて全く同じスポットに焦点が合わされる一方、反射された照準光ビームは、ビームスプリッタ１０２を介して部分的に伝送され、次に、第一のイメージング路における光学系と同じ光学系によって画像センサ２１０に最終的に投射される。」 (カ) 【００９７】～【０１００】 「【００９７】 いくつかの実施形態では、ＯＣＴイメージングモジュール１１０の第二のイメージング路の光学レンズは、眼からファイバ１０３の前端部まで、光学分散に関してＯＣＴ光源２５０の波長範囲内の光ビームに対して色消しできる。光学窓２０２を含む第二のイメージング路の先端部から光結合レンズ１０４である光ファイバ１０３の前端部までＯＣＴイメージングモジュール１１０を形成するレンズは、ＯＣＴイメージングモジュールで使用される波長を有する光に対して色消しできる。第二のイメージング路の光学レンズは、眼自体からの残留色収差を補償する必要をさらに考慮してさらに構成される。ここで、色消しとは、一波長だけでなく作動波長範囲内の多数の光波長に関する光学収差、並びにＯＣＴイメージングモジュール１１０の全視野に関する光学収差を最小にするための設計を意味する。たとえば、第二のイメージング路の光学レンズは、９８０ｎｍから１１００ｎｍの作動光波長範囲に関する１０００ｎｍと１０８０ｎｍの波長での光学収差、並びに０度（光軸上）から１３０度までの撮影視野に関する光学収差を最小にするように構成される。 …（中略）… 【０１００】 図３は、他の一実施形態において後眼部２０１がイメージングされる、広視野を有するＯＣＴイメージングシステム３００の他の例示的な光学設計の概略図である。コンソール１３０に配置された広帯域光源２５０からの第二の光ビームは、光ファイバ１０３を介してＯＣＴイメージングモジュール３１０に運ばれてＯＣＴ干渉計（図示せず）に対するサンプルアームを形成する。光ファイバ１０３は、通常のファイバまたは偏光保持ファイバの形態のシングルモードファイバであることができる。機械的または電気的な焦点調整機構に取り付けられた光結合レンズ１０４は、コリメート光ビームを形成するために使用できる。」 (キ) 【０１０９】～【０１１４】 「【０１０９】 図４は、図１に示された広視野ＯＣＴイメージングシステム１００の一例のＯＣＴ干渉計２８０の概略図である。ＯＣＴイメージングシステム１００は、手持ち式イメージングプローブ１４０とコンソール１３０を備えることができる。コンソール１３０は、ＯＣＴエンジン１３１と走査ミラーコントローラ（図示せず）を備えることができる。ＯＣＴエンジン１３１は、ＯＣＴ干渉計２８０、ＯＣＴ光源２５０、光検出器２６６、データ収集モジュール２６７、プロセッサ２６８、およびディスプレイを備えることができる。たとえば、ＯＣＴ干渉計２８０は、光ファイバ干渉計であってもよい。ＯＣＴ光源２５０は、いくつかの実施形態では、掃引光源を備えることができる。ＯＣＴ干渉計２８０は、ＯＣＴエンジン１３１のコアであり得る。ＯＣＴ干渉計２８０は、異なるＯＣＴイメージングモジュールを有する異なる手持ち式イメージングプローブと連動することができる。たとえば、ＯＣＴ干渉計２８０は、図２ＡのＯＣＴイメージングモジュール１１０、図３のＯＣＴイメージングモジュール３１０、および他の様々なＯＣＴイメージングモジュールと連動することができる。 【０１１０】 いくつかの実施形態では、直線偏光される掃引光源２５０からの光ビームは、光ファイバ２５１を介して光ファイバコンバイナ２５２に案内される。照準光源２５３からの光ビームもまたコンバイナ２５２に案内される。掃引光源２５０からの光ビームは、コンバイナ２５２で照準光源２５３からの光ビームと結合される。コンバイナ２５２からの出力光ビームは、ファイバ２８８によって案内される。たとえば、ファイバ２８８は、偏光保持（ＰＭ）ファイバ２８８であり得る。ファイバ２８８は、コンバイナ２５２からの出力光ビームをその光ビームの偏光がファイバ２８８の偏光軸のうちの一つ、たとえば遅軸と位置合わせされた状態でＰＭ光ファイバカプラー２５５のポートへ案内することができ、次に様々な強度比率（たとえば、１０：９０、または２０：８０、または３０：７０の比率または他の比率）を有する二つの光ビームに分割することができ、これらの光ビームは、次に二つのＰＭ光ファイバ２５６と２５７を介して外に案内される。光ファイバカプラー２５５の出力ビームの第一の部分は、ＰＭファイバ２５６に案内されてＯＣＴ干渉計２８０のサンプルアームを形成することができ、光ファイバカプラー２５５の出力ビームの第一の部分は、ＰＭファイバ２５７に案内されてＯＣＴ干渉計２８０の参照アームを形成することができる。たとえば、ＰＭファイバ２５６の一部分は、図４Ａで参照番号２５４として示されるように、小さな半径を有する複数の小さな円（巻き）にできる。このような処置は、ＰＭファイバ２５６の軸の一つ、たとえば速軸における残留光を除去するために使用でき、唯一つの直線偏光によって、ＰＭファイバ２５６に伝わる光を作ることになる。 【０１１１】 図１、図２Ａ、図３、および図４を参照すると、ＰＭファイバ２５６の光は、いくつかの実施形態では、次に、ＯＣＴイメージングモジュール１１０にさらに案内されて光ファイバ干渉計２８０のサンプルアームを形成することができる。いくつかの実施形態では、サンプルアームの詳細は、図２Ａに示されている。いくつかの他の実施形態では、ＰＭファイバ２５６の光ビームは、ＯＣＴイメージングモジュール３１０にさらに案内されて光ファイバ干渉計２８０のサンプルアームを形成することができ、サンプルアームは、図３に示されるように、ＯＣＴイメージングモジュール３１０を備える。いくつかの代替の実施形態では、ＰＭファイバ２５６の光ビームは、他のＯＣＴイメージングモジュールにさらに案内されて光ファイバ干渉計２８０のサンプルアームを形成することができる。ＰＭファイバ２５６は、手持ち式イメージングプローブ１４０に接続でき、図１、図２Ａおよび図３に示される光ファイバ１０３の一部になる。いくつかの実施形態では、ファイバ２８８とファイバ２５６は、ファイバ１０３を形成することができる。ファイバ１０３は、第一の部分２８８と第二の部分２５６を備えることができる。いくつかの他の実施形態では、ファイバ２５１、ファイバ２８８およびファイバ２５６は、ファイバ１０３を形成することができる。このファイバ１０３は、第一の部分２５１、第二の部分２８８、および第三の部分２５６を備えることができる。 【０１１２】 ＰＭファイバ２５７の光ビームは、ＯＣＴ干渉計２８０の参照アームを形成するために使用でき、光学分散補償モジュール２５８に案内される。ＰＭファイバ２５７からの光ビームは、コリメータレンズ２５９によって平行にされ、次に、同様の光学レンズ２６０によって他のＰＭ光ファイバ２６５に結合される。二つの光学レンズ２５９と２６０の間の距離は、参照アームの全体の光路長を調整するために変えられる。光学分散コンポーネント２６１は、サンプルアームに光学系を作るために使用される光学材料の光学分散特性と整合する様々な光学材料を備えることができる。光学分散コンポーネント２６１は、照準光源２５３からの光ビームを吸収するまたは反射する光学フィルタを含むことができ、照準光ビームが分散補償モジュール２５８を通過することを防止することができる。 【０１１３】 図２Ａと図４を参照すると、後眼部、すなわち網膜から散乱される光ビームは、ＯＣＴイメージングモジュール１１０に受光され、光ファイバ２５６を通って送り返すことができる。次に、光ビームは、ＰＭ光ファイバ２５６を介して光ファイバ干渉計２８０に戻される。戻された光ビームは、掃引光源２５０と照準光源２５３を起源とする光ビームを含むが、ＯＣＴイメージングモジュール１１０内のビーム分割ダイクロイックミラー１０２が照準光源２５３の光ビームの大部分を画像センサ２０１に伝送するという事実のために、照準光の強度は、もっと減衰される。 【０１１４】 ＰＭファイバ２５６からの光ビームの一部は、光ファイバカプラー２５５によって再び分割でき、次に他のＰＭファイバ２６２に結合される。偏光調整コンポーネント２６３は、ファイバ２６２から他の５０：５０光ファイバカプラー２６４に伝達する光の偏光方向を調整するため、および参照アームのファイバ２６５からの光ビームの偏光方向と一致させるために使用できる。サンプルアームファイバ２６２と参照アームファイバ２６５からの光ビームは、ファイバカプラー２５４で混合でき、結果として、光位相差において常に１８０度のずれを有する二つの干渉光ビームを生じ、次にこれらの干渉光ビームは、二つの光ファイバに結合される。バランス光検出器２６６は、二つのファイバからの光信号を検出するために使用でき、それらの光信号を遅延検波方式で電気信号に変換する。デジタル収集モジュール２６７は、アナログ信号をデジタル化するために使用でき、信号は次に、更なる処理のために、および医師が医療診断を行うためのＯＣＴ画像を生成するために、プロセッサ２６８に送られる。プロセッサ２６８は、干渉計からのデータを処理するために、およびＯＣＴイメージングモジュールから眼のＯＣＴ画像を生成するように構成される。照準光源２５３からの光ビームの大部分がバランス検出器２６６に達する前に除去されるので、それが、検出された信号に大きな影響を及ぼすことはない。いくつかの他の実施形態では、バランス検出器２６６は、検出器２６６が照準光源２５３の光波長範囲に対して敏感ではないように構成できる。」 (ク) 【図４】 ［図：0001429978000009.jpg］ イ 甲２号証から読み取れる事項の認定 (ア) 認定事項ａ 甲２号証の段落【０１０９】～【０１１０】の記載を踏まえつつ図４を参照すると、次のこと（以下「認定事項ａ」という。）が読み取れる。 ［認定事項ａ］ 「コンソール１３０は、ＯＣＴ光源２５０からの光ビームが光ファイバ２５１を介して案内されるポートと、照準光源２５３からの光ビームが案内されるポートと、出力光ビームが案内されるファイバ２８８が接続されるポートを有する光ファイバコンバイナ２５２を備えること」 (イ) 認定事項ｂ 甲２号証の段落【００８９】、【００９４】の記載を踏まえつつ図４を参照すると、次のこと（以下「認定事項ｂ」という。）が読み取れる。 ［認定事項ｂ］ 「ＯＣＴ光源２５０と照準光源２５３と光ファイバコンバイナ２５２とプロセッサ２６８が設けられているコンソール１３０と、手持ち式イメージングプローブ１４０とが別体であり、両者が光ファイバ１０３で接続されること」 ウ 甲２発明の認定 前記アに摘記した事項及び前記イにおいて認定した認定事項ａ及びｂを総合すると、甲２号証には、以下の発明（以下「甲２発明」という。）が記載されていると認められる。 ［甲２発明］ 手持ち式イメージングプローブ１４０およびコンソール１３０を備えたＯＣＴイメージングシステム１００であって、（【００６２】） コンソール１３０は、 ８００ｎｍから１１００ｎｍまでの波長を有する広帯域光を出力するＯＣＴ光源２５０と、（【００６２】、【０１０９】、図１及び図４） ６８０ｎｍ、７００ｎｍまたは７４０ｎｍの波長を有する照準光を出力する照準光源２５３と、（【００９４】、【０１１０】、図４） ＯＣＴ光源２５０からの光ビームが光ファイバ２５１を介して案内されるポートと、照準光源２５３から光ビームが案内されるポートと、出力光ビームが案内されるファイバ２８８が接続されるポートを有する光ファイバコンバイナ２５２と、（認定事項ａ） プロセッサ２６８を備えたＯＣＴエンジンを有し、（【０１０９】） プロセッサ２６８は、干渉計からのデータを処理するために、およびＯＣＴイメージングモジュールから眼のＯＣＴ画像を生成するように構成され、（【０１１４】 手持ち式イメージングプローブ１４０はＯＣＴイメージングモジュール１１０を備え、ＯＣＴイメージングモジュール１１０はＯＣＴ光源からの光ビームを眼の異なる部分へ走査し、眼から反射された光を受光し、（【００６３】～【００６４】】 ＯＣＴ光源２５０と照準光源２５３と光ファイバコンバイナ２５２とプロセッサ２６８が設けられているコンソール１３０と、手持ち式イメージングプローブ１４０とが別体であり、両者が光ファイバ１０３で接続され、（認定事項ｂ） 光ファイバ１０３は、通常のファイバまたは偏光保持ファイバの形態のシングルモードファイバであることができる、（【０１００】） 眼の構造情報を提供する、（【０００７】） ＯＣＴイメージングシステム１００。 エ 当合議体の判断 (ア) 対比 本件訂正発明１と甲２発明とを対比すると、両者は少なくとも次の点で相違する（第５の３(２)イ(ア)で認定した相違点１との類似性から「相違点１’」とする。）。 ＜相違点１’＞ 本件訂正発明１は、 「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」であって、 「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」を備えるのに対し、 甲２発明は、 「眼の構造情報を提供する、ＯＣＴイメージングシステム」であるから、眼の横断面で反射した戻り光を得るためのＯＣＴイメージングに適した形状のイメージングプローブを備えるものであるという点。 (イ) 相違点１’について ａ 甲２発明は眼の構造情報を提供するＯＣＴイメージングシステムの発明であるから、そのイメージングプローブの形状は、眼の構造情報（横断面図）を得るためのＯＣＴイメージングに適した形状となっている。参考図として、甲２号証の図２Ｂ（広視野ＯＣＴイメージングシステムの手持ち式イメージングプローブの先端部の側面図）を示す。（図中１４０が手持ち式（ＯＣＴ）イメージングプローブ、２０１が後眼部の網膜、２０３が前眼部の角膜である。） 【図２Ｂ】 ［図：0001429978000010.jpg］ ｂ そして、眼の構造情報を得るためのＯＣＴイメージングシステムの発明である甲２発明を「ファクトリーオートメーション用の光干渉計測装置」に転用するとともに、その用途に適合するように、「前記結合光を導く光ファイバに接続される計測ヘッドであって、前記光ファイバで導かれた前記結合光を前記計測ヘッドの先端から投射して計測対象の表面に前記計測光及び前記ガイド光を照射し、前記計測対象の表面で反射した戻り光を受光する計測ヘッド」として構成する動機を見出すことができないのは、前記第５の３(３)アにおける検討と同様である。 (ウ) 小括 したがって、本件訂正発明１は、甲２発明を主引用発明としたとしても、容易に発明をすることができたものではない。 ３ 請求項２～１０に係る特許異議申立理由について 本件訂正発明２～１０は、本件訂正発明１の構成を全て有するものであるから、前記２(１)及び(２)を踏まえると、本件訂正発明２～１０に係る特許異議申立理由も採用できないことは明らかである。 第７ むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知（決定の予告）において通知した取消理由及び特許異議申立書で申し立てられた特許異議申立理由によっては、本件特許の請求項１～１０に係る特許を取り消すことはできない。また、他に本件特許の請求項１～１０に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。