2021-002145

特願２０１７－１１４５９７「電磁波検出装置、電磁波検出システム、およびプログラム」拒絶査定不服審判事件〔平成３０年１２月２７日出願公開、特開２０１８－２０５２８５〕について、次のとおり審決する。

結 論 本件審判の請求は、成り立たない。

理 由 第１ 手続の経緯 本願は、平成２９年６月９日の出願であって、その手続の経緯は以下のとおりである。 令和 ２年 ４月２８日付け：拒絶理由通知書 令和 ２年 ７月 ７日 ：意見書、手続補正書の提出 令和 ２年１２月 ４日付け：拒絶査定（同年１２月１５日送達、以下「原査定」という。） 令和 ３年 ２月１７日 ：審判請求書、手続補正書の提出 第２ 令和３年２月１７日にされた手続補正についての補正の却下の決定 ［補正の却下の決定の結論］ 令和３年２月１７日にされた手続補正を却下する。 ［補正の却下の決定の理由］ １ 補正の内容 令和３年２月１７日にされた手続補正（以下「本件補正」という。）は、特許請求の範囲及び明細書についてした補正であり、この補正により、以下に示すとおり、本件補正前の請求項１が、本件補正後の請求項１に補正された。 ＜本件補正前の請求項１＞ 「 【請求項１】 電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部と、 入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部と、を備え、 前記進行部は、互いに隣接する前記進行素子を複数含む、第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、 前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、 前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させる 電磁波検出装置。」 ＜本件補正後の請求項１＞ 「 【請求項１】 電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部と、 入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部と、を備え、 前記進行部は、互いに隣接する複数の前記進行素子からなる第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、 前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、 前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させ、 前記第１の進行素子群及び前記第２の進行素子群のそれぞれに含まれる前記進行素子を前記第１の状態又は前記第２の状態に切り替えさせる制御部を、さらに備え、 前記第１の状態の前記進行素子が前記検出部に進行させる電磁波は、照射部から対象に照射された電磁波の反射波であり、 前記制御部は、前記照射部が前記電磁波を放射する度に、前記照射部から次の前記電磁波が放射される前に、前記第１の進行素子群と前記第２の進行素子群のそれぞれについて、複数の前記進行素子を前記第１の状態に切り替えさせる 電磁波検出装置。」（下線は、補正箇所を示す。） ２ 補正の目的 本件補正は、本件補正前の「互いに隣接する前記進行素子を複数含む第１の進行素子群及び第２の進行素子群」という表現を、「互いに隣接する複数の前記進行素子からなる第１の進行素子群及び第２の進行素子群」とした上で、「前記第１の進行素子群及び前記第２の進行素子群のそれぞれに含まれる前記進行素子を前記第１の状態又は前記第２の状態に切り替えさせる制御部を、さらに備え、前記第１の状態の前記進行素子が前記検出部に進行させる電磁波は、照射部から対象に照射された電磁波の反射波であり、前記制御部は、前記照射部が前記電磁波を放射する度に、前記照射部から次の前記電磁波が放射される前に、前記第１の進行素子群と前記第２の進行素子群のそれぞれについて、複数の前記進行素子を前記第１の状態に切り替えさせる」構成を新たに付加するものであり、かつ本件補正前の請求項１に記載された発明と本件補正後の請求項１に記載される発明は、産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一であることから、本件補正は、特許法１７条の２第５項２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とする補正である。 そこで、本件補正後の請求項１に係る発明（以下「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかについて検討する。 ３ 独立特許要件の判断 （１） 本願補正発明 本願補正発明は、前記１の＜本件補正後の請求項１＞に示した本件補正後の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものと認める。 （２） 引用文献１に記載された事項と引用発明の認定 ア 引用文献１に記載された事項 原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に発行された特表２０１４－５１２５２５号公報（以下「引用文献１」という。）には、以下の事項が記載されている。下線は当審が付したもので、以下同様である。 「【０００９】 しかしこれ等のイメージング・システムは、受光システムに関連する限界がある。アレイに含まれる光センサのサイズが、スキャンされた対象物の表面の画像の解像度に影響を及ぼす。基本的に、光センサの全体サイズが大きい（センサーとその回路をシリコンチップ内に通常のマイクロ電子技術を用いて集積することは困難であるので）と、スキャニング・システムにより検知可能な光ビームの数は少なくなる、即ち少数の光ビームの部分のみしか検出できない。その為スキャンされた画像の空間解像度が低くなる。デジタル・イメージの空間解像度は、ビデオ画像の深さ情報に関連する動画（ビデオ）生成技術の分野では、非常に重要である。例えば、３Ｄビジョンの手段により車両又はロボットをガイドする技術分野、製造プロセスによる品質を制御する分野。低い空間解像度の既存システムは、この様なアプリケーションでの使用には適さない。このような分野では、高い空間解像度即ち性能の高さが必要とされる。」 「【発明を実施するための形態】 【００５０】 本発明の一実施例により、対象物の表面２８をスキャンし、前記表面２８のデジタル・イメージを得るシステム２０を説明する。図２に於いて、本発明の表面をスキャンするシステム２０は、パルス状レーザビーム送信（送出）機２２の形態の光源（Ｎｄ：ＹＡＧパルスレーザー）を有する。 【００５１】 パルス状レーザビーム送信機２２は第１のレンズの組２３を有する。この第１のレンズの組２３は、レーザーであるパルス状レーザビーム送信機２２が、パルス状の光ビームの信号を送信（送出）した時に、レーザー・ビームの範囲を広げ、焦点ではなく広い範囲に達するようにする。 【００５２】 本発明の対象物の表面をスキャンするシステム２０は、光ビーム受光システム２１を有する。この光ビーム受光システム２１は、ピクセル化された（ピクセルに細分化された）光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４（この実施例の場合ＴＩ社により製造されたデジタル・マイクロミラー装置である）と、Geiger modeで光ビームを検出するアバランシ光ダイオードセンサー・アレイ２６と、前記ピクセル化された（ピクセルに細分化された）光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４の前に配置される第２のレンズの組２５とを有する。前記要素は、ピクセル化された（ピクセルに細分化された）光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４が観測した表面の画像を生成するものである。 【００５３】 第１のレンズの組２３と第２のレンズの組２５は、光学レンジを開閉する手段を有する。これにより、装置に入射する光ビームの量を加減して、デジタル・マイクロミラー装置２４のスイッチの方向に向けることができる。これは、光グラフィック或いはビデオカメラの対象物の動作と同様である。かくしてイメージがＤＭＤ２４の表面に形成される。これにより、ＤＭＤの観測された表面のイメージを得る。これは、例えば地性イメージ即ち３Ｄイメージである。 【００５４】 前記ＤＭＤ２４は複数の「ピクセル」を有する。「ピクセル」は、電子的に制御される複数のマイクロミラーにより規定／形成される。このマイクロミラーは、対象物の表面で反射された光ビームの一部を受光し、マイクロミラーを回転させることにより、受光した光ビームの向きを変える（偏向する）。ＤＭＤ２４と光ダイオードセンサー・アレイ２６との相対的位置関係により、ＤＭＤ２４のマイクロミラーが偏向した時に、光ビームの対応する部分が前記光ダイオードセンサー・アレイ２６の光ダイオードの一つに向くようになる。 【００５５】 具体的には、マイクロミラーは複数の偏向位置を有する。第１の位置は、来入する光ビームを光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードセンサーの少なくとも１つに向ける位置である。第２の位置は、来入する光ビームをダンプ位置２７に向ける。この第２の位置２７は、来入する光ビームをいずれの光ダイオードの方向にも向けないような位置である。 【００５６】 第３のレンズの組２９が、、ピクセル化された光スイッチ・アレイであるデジタル・マイクロミラー装置２４と光ダイオードセンサー・アレイ２６との間に配置される。これにより、どのマイクロミラーも光ダイオードセンサー・アレイ２６の方向に向けられた時に、来入する光ビームが、正確に光ダイオードセンサー・アレイ２６の方向を向くようにしている。 【００５７】 デジタル・マイクロミラー装置２４は、複数のマイクロミラー（ピクセル）を有する。その数は、光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードの数よりも多い。 【００５８】 本発明と共に使用するのに適した様々なタイプのＤＭＤ２４が市販されている。それぞれ空間解像度に影響を及ぼす幾つかの特徴を有する。その通常マイクロミラー（ピクセル）の数は、０．７－２メガピクセルである。その為ＤＭＤ装置により得られる画像は最大１９２０×１０８０ポイントの解像度を有し、これは、通常市販されている１７６×１４４ポイント（即ち２５３４４個のピクセル）よりも多い。 【００５９】 ＤＭＤ２４の他の特徴は、ほぼ類似し、例えばＤＭＤ装置２４の標準のフレーム・レートは、３２．５５２Ｈｚで、マイクロミラーの傾斜は最大＋／－１２°である。 【００６０】 更に重要な特徴は充填係数（fill factor）である。この充填係数は、マイクロミラーの間のスペースに関連し、この実施例では充填係数は、約９１％で、これはマイクロミラーの間が、１０．０８μｍ以上のスペースに相当する。 【００６１】 ダンプ要素２７の配置は次の通りである。ＤＭＤ２４のスイッチが使用されていない時には、その来入する光ビームの一部を前記ダンプ要素２７の方向に向けて、ＤＭＤ２４の別のスイッチにより光ダイオードセンサー・アレイ２６の方向に向けられた光ビームの一部との干渉を回避するように配置される。 【００６２】 本発明のシステムは、ＦＰＧＡ装置のようなコンピュータ・コントローラ３０を有する。このコンピュータ・コントローラ３０は、複数のモジュール３１，３２，３３を有し、光ビームが反射される対象物の表面のデジタル・イメージを得る。 【００６３】 ＦＰＧＡであるコンピュータ・コントローラ３０は、システム全体の制御を実行する。その様々な構成要素（例えばレーザー送信部品と、システムの受光部品）の機能を調整して、様々な要素（例えばＤＭＤ２４と光ダイオードセンサー・アレイ２６）を制御し、それらから送受光する信号を、ＦＰＧＡに含まれる別のモジュールにより調整する。 【００６４】 ＦＰＧＡのコンピュータ・モジュールは、受光制御システム３１である。この受光制御システム３１は、ＤＭＤ２４と光ダイオードセンサー・アレイ２６に接続されて、それらの動きとそれらからの信号の獲得を電気的に制御する。例えば偏向された光ビームが１つの光ダイオードに当たった時に、マイクロミラーの偏向と光ダイオードのアレイからの検出信号の獲得は、受光制御システム３１により実行される。光ダイオードセンサー・アレイ２６は直接ＦＰＧＡ３０に接続されていなくてもよい。例えばパルス検出アナログ電子装置を、ＦＰＧＡ３０と光ダイオードセンサー・アレイ２６の間に配置して、それらの間で送信される信号を確保してもよい。 【００６５】 ＴＯＦ計算モジュール３２の第２のコンピュータ・モジュールは、ＤＭＤ２４の各マイクロミラーに到着する光ビームの各部分の飛行時間（遅延時間）を決定する。これは光ダイオードセンサー・アレイ２６のアレイに含まれる１つの光ダイオードを通して検出される。この検出技術は、レーザ・パルス信号ビームが送信（送出）された時間と、このレーザ・パルス信号ビームが対象物の表面で反射されて戻ってきた時間を計算し、受信したレーザ・パルス信号のパルスの立ち上がりを検出することにより、行われる。 【００６６】 ＦＰＧＡに含まれる更なるコンピュータ・モジュールは、画像生成モジュール３３である。この画像生成モジュール３３は、ＤＭＤの各ポイント（ピクセル）で計算されたＴＯＦに基づいて、即ち対応するマイクロミラーで受光した光ビームの一部に基づいて、光ビームの各部分が伝搬した距離を計算し、この距離を用いてデジタル・イメージのＺ軸を決定する。 【００６７】 反射表面のデジタル・イメージは、先ずＸ軸とＹ軸に対応する情報を集めて得られる。この二次元情報は、ＤＭＤの表面サイズとそのＤＭＤが含むマイクロミラーの数により決定される。かくして表面の２次元のデジタル・イメージが得られ、第３の成分をＺ軸に加える。これは、対象物の表面により反射されたレーザビーム様々な部分が伝搬する距離を用いて行われる。この反射光は、光ダイオードのＤＭＤ２４と光ダイオードのアレイ２６を通してシステムに到着し、そこで、構成要素Ｘ，Ｙ，Ｚを有する反射表面の３次元のデジタル・イメージを得る。 【００６８】 本発明によれば、図３に示すように、前記のシステムは表面をスキャンする方法を実行する。 【００６９】 本発明の他の態様によれば、本発明のシステムは、請求項１３に記載した特徴を有する。前記ピクセル化された光スイッチ・アレイ（２４）は、液晶ディスプレイ又は偏向可能なミラーを含む。 【００７０】 ステップ１０２に於いて、レーザは、数百－数千ピコ秒でピーク・パワーが数ｋｗのパルス状信号を送信する。このパルス状信号は、レーザ２２の前に配置された第１のレンズの組２３によりが広げられ、スキャンされるべき表面２８の更に広い表面２８に到着する。 【００７１】 レーザ・ソースの一例は、目に安全な１．５５μｍの波長範囲の光を生成するコンパクトなレーザ源で、これは、「Eyesafe microchip laser for laser range finder application by Do-Hyun Park et.」に記載されている。このようなレーザ・ソースは、幾つかのアプリケーションで有用で、例えば人間又は動物のスキャニングで有効で、これは人又は動物の目に障害を及ぼすのを回避できる。 【００７２】 その後光ビームが表面１８で反射される。ステップ１０３で、第２のレンズの組２５は、この光ビームの来入した一部をデジタル・マイクロミラー装置２４に向ける。ステップ１０４で、その後、個々のマイクロミラーを個別に偏向して（方向を変えて）、光ビームの来入部分を、光ダイオードセンサー・アレイ２６の方向に向ける。 【００７３】 この実施例に於いては、１個の光ダイオードのみを用いて、光ビームの偏向された一部を検出するが、他の構成も採用可能である。例えば複数の光ダイオードを用いて、光ビームの偏向した部分を検出してもよい。この場合、マイクロミラーの数が光ダイオードの数よりも多いという事実により、システムは、光ビームを各光ダイオードに向けるため、マイクロミラーからの光ビームの一部を光ダイオードの方に順次向ける時、全ての来入する光ビームを検出するために、より少数の光ダイオードを用いて、より高い空間解像度を得ることができる。 【００７４】 複数の光ダイオードを用いる更なる実施例では、光ビームの一部を並列に検出できる。これにより、ＤＭＤ２４のマイクロミラーのサブセットを一斉に偏向させ、並列に配置された光ダイオード２６を用いて、各光ダイオード２６が、それぞれ偏向したマイクロミラー２４により反射された光ビームの一部を検出できる。 【００７５】 ＤＭＤを用いずに（即ち光ダイオードのアレイにより光ビームの一部の直接検出が可能な装置を用いて）、同一の空間解像度を得るためには、、より多数の光ダイオードを用いる必要があり、本発明の装置（ＤＭＤを有するが光ダイオードが少数で済む）よりも大きな装置となってしまう。 【００７６】 その後各センサーは、偏向した光ビームを検出し、ＦＰＧＡ３０に送信される信号を生成する。そして、光ビームが送信された時点と、反射された戻ってきた時点に基づいて、光ビームの各対応する部分のＴＯＦの値を決定する。 【００７７】 具体的に本発明の一実施例によれば、ＦＰＧＡ３０は、パルス状のレーザ信号が送信された時点を送信時に予め記録する。この送信時点は第１パルスの立ち上がりが送信された時である。その後時間カウンターが、この立ち上がり時点で動き出し、反射された光ビームの到着が検出された時に、この時間カウンターにより、パルスの送信時点とパルスの到着時点との間の時間が決定される。 【００７８】 ＴＯＦの計算の速度に関しては、ＤＭＤ装置の高いフレーム速度は、システムが３２ＫＨｚの計算速度を有することを意味する。これにより、１秒当たり３２０００回の測定が可能となり、空間解像度は最大２メガピクセルとなる。複数の光センサを並列に用いて来入する光ビームを検出する場合には、より多数回の測定がより短時間で可能である。例えば４個のセンサーを並列に用いると、１秒当たり１２８０００回の測定が可能である。 【００７９】 その後、ＴＯＦの計算に基づく通常の距離計算技術を用いて、距離Ｚｉが、各計算されたＴＯＦに対し決定され、これは、ＤＭＤの各マイクロミラーにより反射された光ビームの各部分に対応する。 【００８０】 スキャンパターンからデジタル・イメージを得ると、このデジタル・イメージは、Ｘ，Ｙ，Ｚの値を含むが、これらの値は、通常の物理的値（例、メートル、フィート、その他）に関連してもしなくてもよい。 【００８１】 Ｘの値とＹの値は、第１のレンズの組２３または第２のレンズの組２５の大きさ／構成を考慮に入れて表される。デジタル・イメージのピクセル間の実値（メートル／フィート等で表された）が決定されるが、ある場合には、Ｚ軸の実値のみが必要とされる場合がある。かくして実際の長さに相当する画像のスケールを決定するには、このような計算が不必要となる場合もある。 【００８２】 更に画像の実のＺ軸の値は、ＴＯＦの通常の計算と追加的な計算により決定することもできる。ある場合には、アプリケーションに応じて、差分のみが必要となるだけで、システムと画像の各ポイントとの間の実値を決定する必要はなく、デジタル・イメージの各ポイントの間の関係のみを決定できればよい場合もある。 【００８３】 本発明一実施例に於いては、パルス状の光信号の送受信を用いて記述したが、他の実施例では、変調した光信号の送受信を用いて実行してもよい。 【００８４】 この場合の送受信の方法は、変調した信号を検出するためパルス状の光信号の場合とは異なる。例えば信号の特定の位相の受信の検出を、パルス状の信号の立ち上がり又は立ち上がりの検出の代わりに、行う。 【００８５】 送受信以外の構成においては、変調した信号の送受信を含む実施例の場合も同様である。その理由は、ＴＯＦと距離とＸ，Ｙ，Ｚの値が画像を得るために必要であり、これらは、両方の場合とも対応する計算方法を用いて得られるからでる。」 「【手続補正書】 【提出日】平成24年8月2日(2012.8.2) 【手続補正１】 【補正対象書類名】特許請求の範囲 【補正対象項目名】全文 【補正方法】変更 【補正の内容】 【特許請求の範囲】 （中略） 【請求項１２】 対象物の表面（２８）をスキャンする方法に於いて、 （Ａ）光ビームをスキャンされるべき表面（２８）に照射するステップと、 （Ｂ）請求項２に記載の光ビームを受光する方法を実行するステップと、 前記ステップ（Ｂ）は、ピクセル化された光スイッチ・アレイ（２４）で、前記表面（２８）上で反射された光ビームの来入する部分を受光し、前記来入する部分を、前記光センサのアレイ（２６）に含まれる光センサの方向に順次再方向付けし、 （Ｃ）前記光センサのアレイ（２６）に含まれる光センサで受光した光の部分のＴＯＦの値を決定するステップと、 （Ｄ）前記光ビームの受光した部分に対する距離に関連するパラメータを、前記決定されたＴＯＦの値を考慮に入れて、決定するステップと、 を有し、 前記距離に関連するパラメータは、前記スキャンされた表面（２８）の空間ポイントを表す ことを特徴とする対象物の表面（２８）をスキャンする方法。 【請求項１３】 前記光スイッチ・アレイ（２４）は、デジタル・マイクロミラー・デバイス（ Digital micromirror Device： ＤＭＤ）を含み、前記光センサは、光ダイオードであり、 （Ａ）光スイッチ・アレイ（２４）の第１マイクロミラーを選択するステップ（１０１）と、 （Ｂ）レーザビーム送信機（２２）が、光ビームであるパルス状のレーザー信号をスキャンされるべき表面（２８）に放射するステップと、 （Ｃ）前記光スイッチ・アレイ（２４）で、第２のレンズの組（２５）を介して、スキャンすべき表面（２８）により反射された光ビームを受光するステップ（１０３）と、 （Ｄ）前記光ビームの一部を、光ダイオード（２６）の方向に、選択された前記第１マイクロミラーを偏向させることにより、偏向するステップと、 （Ｅ）前記光ビームの偏向した部分のＴＯＦの値を計算するステップ（１０５）と、 前記光ビームの一部は、前記光ダイオード（２６）の光ダイオードで検出され、 （Ｆ）計算されたＴＯＦから、偏向したマイクロミラーに対応するスキャン・パターンのピクセルのＺ値を決定するステップ（１０６）と、 （Ｇ）前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる全てのマイクロミラーが偏向したか否かを検出し、偏向していない場合には、前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる別のマイクロミラーを選択し、前記ステップ（Ｂ）に戻るステップと、 （Ｈ）スキャン・パターンに含まれるＸ，Ｙ，Ｚの値からデジタル・イメージを得るステップ（１０８）と を有する ことを特徴とする請求項１２記載の方法。」 「【図２】 ［図：0001380751000001.jpg］ 」 「【図３】 ［図：0001380751000002.jpg］ 」 イ 引用発明の認定 上記（ア）の記載事項を総合すると、引用文献１には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。 「ピクセル化された光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４と、光ダイオードセンサー・アレイ２６を有する、対象物の表面をスキャンするシステム２０であって（【００５２】）、 前記ＤＭＤ２４は、電子的に制御される複数のマイクロミラーにより形成され（【００５４】）、 マイクロミラーは複数の偏向位置を有し、第１の位置は、来入する光ビームを光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードセンサーの少なくとも１つに向ける位置であり、第２の位置２７は、来入する光ビームをいずれの光ダイオードの方向にも向けないような位置であり（【００５５】）、 複数のマイクロミラーの数は、光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードの数よりも多く（【００５７】）、 システムは、コンピュータ・コントローラ３０を有し、このコンピュータ・コントローラ３０は、複数のモジュール３１，３２，３３を有し、光ビームが反射される対象物の表面のデジタル・イメージを得るものであり（【００６２】）。 受光制御システム３１は、ＤＭＤ２４と光ダイオードセンサー・アレイ２６に接続されて、それらの動きとそれらからの信号の獲得を電気的に制御し（【００６４】）、 ＴＯＦ計算モジュール３２は、ＤＭＤ２４の各マイクロミラーに到着する光ビームの各部分の飛行時間（遅延時間）を決定し、これは光ダイオードセンサー・アレイ２６のアレイに含まれる１つの光ダイオードを通して検出され（【００６５】）、 画像生成モジュール３３は、ＤＭＤの各ポイント（ピクセル）で計算されたＴＯＦに基づいて、光ビームの各部分が伝搬した距離を計算し、この距離を用いてデジタル・イメージのＺ軸を決定し（【００６６】）、 画像のＺ軸の値は、差分のみが必要となるだけで、システムと画像の各ポイントとの間の実値を決定する必要はなく、デジタル・イメージの各ポイントの間の関係のみを決定できればよく（【００８２】）、 対象物の表面（２８）のスキャンは、 （Ａ）光スイッチ・アレイ（２４）の第１マイクロミラーを選択するステップ（１０１）と、 （Ｂ）レーザビーム送信機（２２）が、光ビームであるパルス状のレーザー信号をスキャンされるべき表面（２８）に放射するステップと、 （Ｃ）前記光スイッチ・アレイ（２４）で、第２のレンズの組（２５）を介して、スキャンすべき表面（２８）により反射された光ビームを受光するステップ（１０３）と、 （Ｄ）前記光ビームの一部を、光ダイオード（２６）の方向に、選択された前記第１マイクロミラーを偏向させることにより、偏向するステップと、 （Ｅ）前記光ビームの偏向した部分のＴＯＦの値を計算するステップ（１０５）と、 前記光ビームの一部は、前記光ダイオード（２６）の光ダイオードで検出され、 （Ｆ）計算されたＴＯＦから、偏向したマイクロミラーに対応するスキャン・パターンのピクセルのＺ値を決定するステップ（１０６）と、 （Ｇ）前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる全てのマイクロミラーが偏向したか否かを検出し、偏向していない場合には、前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる別のマイクロミラーを選択し、前記ステップ（Ｂ）に戻るステップと、 （Ｈ）スキャン・パターンに含まれるＸ，Ｙ，Ｚの値からデジタル・イメージを得るステップ（１０８）と を有し（【手続補正書】の【請求項１２】、【請求項１３】）、 マイクロミラーの数が光ダイオードの数よりも多いという事実により、システムは、光ビームを各光ダイオードに向けるため、マイクロミラーからの光ビームの一部を光ダイオードの方に順次向ける時、全ての来入する光ビームを検出するために、より少数の光ダイオードを用いて、より高い空間解像度を得る（【００７３】）、 対象物の表面をスキャンするシステム２０。」 （３） 対比 ア 本願補正発明と引用発明の対比 本願補正発明と引用発明を対比する。 （ア） 引用発明の「光ダイオードセンサー・アレイ２６」は、並列に配置された光ダイオード２６を有しているから、少なくとも２つの光ダイオードを有していることは明らかである。 また、引用発明の「光ダイオードセンサー・アレイ２６」は、検出対象である「光」が「電磁波」に含まれることから、「電磁波を検出する」「検出部」に相当する よって、引用発明の「光ダイオードセンサー・アレイ２６」は、本願補正発明の「電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部」に相当する。 （イ） 引用発明の「光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４」は、電子的に制御される複数のマイクロミラーにより形成され、マイクロミラーは複数の偏向位置を有し、第１の位置は、来入する光ビームを光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードセンサーの少なくとも１つに向ける位置であり、第２の位置２７は、来入する光ビームをいずれの光ダイオードセンサーの方向にも向けないような位置であるから、引用発明の「マイクロミラー」は、本願補正発明の「入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子」に相当する。 よって、引用発明の「光スイッチ・アレイ（ＤＭＤ）２４」は、本願補正発明の「入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部」に相当する。 （ウ）ａ 引用発明は、 「（Ａ）光スイッチ・アレイ（２４）の第１マイクロミラーを選択」し、「（Ｂ）レーザビーム送信機（２２）が、光ビームであるパルス状のレーザー信号をスキャンされるべき表面（２８）に放射」し、 「（Ｃ）前記光スイッチ・アレイ（２４）で、第２のレンズの組（２５）を介して、スキャンすべき表面（２８）により反射された光ビームを受光」し、 「（Ｄ）前記光ビームの一部を、光ダイオード（２６）の方向に、選択された前記第１マイクロミラーを偏向させることにより、偏向」し、 「（Ｅ）前記光ビームの偏向した部分のＴＯＦの値を計算」し、 「（Ｆ）計算されたＴＯＦから、偏向したマイクロミラーに対応するスキャン・パターンのピクセルのＺ値を決定」し、 「（Ｇ）前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる全てのマイクロミラーが偏向したか否かを検出し、偏向していない場合には、前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる別のマイクロミラーを選択し、前記ステップ（Ｂ）に戻る」ものである。 これは、引用発明では、「複数のマイクロミラーの数は、光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードの数よりも多く」、「複数のマイクロミラー」により偏向された光ビーム全てを、「光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオード」で一度に検出することは不可能であるから、「複数のマイクロミラー」を順次に切り替え、数回に分けて、「複数のマイクロミラー」により偏向された光ビームを、「光ダイオード」で検出するためであることは明らかである。 そうすると、本願補正発明の「第１の検出素子」に相当する「光ダイオード」は、数回に分けて、位置の異なるマイクロミラーから反射された光ビームを検出することになり、数回に分けて検出されるうちの１回分に含まれる、これらの位置の異なるマイクロミラーが、本願補正発明の「第１の進行素子群」に相当する。 同様に、本願補正発明の「第２の検出素子」に相当する「光ダイオード」も、数回に分けて、位置の異なるマイクロミラーから反射された光ビームを検出することになり、数回に分けて検出されるうちであって、本願補正発明の「第１の進行素子群」に相当するものと異なる１回分に含まれるこれらの位置の異なるマイクロミラーが、本願補正発明の「第２の進行素子群」に相当する。 ｂ また、上記ａにおいて検討したことを踏まえると、引用発明の「第１の進行素子群」に相当する「位置の異なるマイクロミラー」が光ダイオードに向けて光ビームを反射させることと、「第２の進行素子群」に相当する「位置の異なるマイクロミラー」が光ダイオードに向けて光ビームを反射させることは、本願補正発明の「前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させ」ることに相当する。 ｃ 上記の検討内容を踏まえると、本願補正発明と引用発明は、「前記進行部は、複数の前記進行素子からなる第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させ」ている点で共通する。 （エ） 引用発明の「コンピュータ・コントローラ３０」は、受光制御システム３１を有しており、この受光制御システム３１は、ＤＭＤ２４を電気的に制御しているから、本願補正発明の「前記第１の進行素子群及び前記第２の進行素子群のそれぞれに含まれる前記進行素子を前記第１の状態又は前記第２の状態に切り替えさせる制御部」に相当する。 （オ） 引用発明において、ＤＭＤ２４のマイクロミラーにより反射され、光ダイオードで検出される光ビームが、対象物の表面を反射した光ビームであることは、本願補正発明の「前記第１の状態の前記進行素子が前記検出部に進行させる電磁波は、照射部から対象に照射された電磁波の反射波であ」ることに相当する。 （カ） 前記（ウ）で検討したとおり、引用発明では、「複数のマイクロミラー」を順次切り替えるごとに、「（Ｇ）前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる全てのマイクロミラーが偏向したか否かを検出し、偏向していない場合には、前記光スイッチ・アレイ（２４）に含まれる別のマイクロミラーを選択し」て、「（Ｂ）レーザビーム送信機（２２）が、光ビームであるパルス状のレーザー信号をスキャンされるべき表面（２８）に放射」する動作に戻ることを繰り返しており、引用発明のこの動作は、本願補正発明の「前記制御部は、前記照射部が前記電磁波を放射する度に、前記照射部から次の前記電磁波が放射される前に、前記第１の進行素子群と前記第２の進行素子群のそれぞれについて、複数の前記進行素子を前記第１の状態に切り替えさせる」動作に相当する。 （キ） 引用発明の「対象物の表面をスキャンするシステム２０」は、電磁波である光を検出する「光ダイオードセンサー・アレイ２６」を有しているから、本願補正発明の「電磁波検出装置」に相当する。 イ 一致点及び相違点 上記アの検討を総合すると、本願補正発明と引用発明の両者は、以下の一致点で一致し、以下の相違点において相違する。 ＜一致点＞ 電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部と、 入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部と、を備え、 前記進行部は、複数の前記進行素子からなる第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、 前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、 前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させ、 前記第１の進行素子群及び前記第２の進行素子群のそれぞれに含まれる前記進行素子を前記第１の状態又は前記第２の状態に切り替えさせる制御部を、さらに備え、 前記第１の状態の前記進行素子が前記検出部に進行させる電磁波は、照射部から対象に照射された電磁波の反射波であり、 前記制御部は、前記照射部が前記電磁波を放射する度に、前記照射部から次の前記電磁波が放射される前に、前記第１の進行素子群と前記第２の進行素子群のそれぞれについて、複数の前記進行素子を前記第１の状態に切り替えさせる 電磁波検出装置、である点。 ＜相違点＞ 「第１の進行素子群及び第２の進行素子群」が、本願補正発明では、「互いに隣接する複数の前記進行素子からなる」ものであるのに対して、引用発明では、互いに隣接する複数のマイクロミラーからなるものか不明な点。 （４） 当審の判断 ア 相違点についての判断 上記相違点について検討する。 引用発明は、「画像のＺ軸の値は、差分のみが必要となるだけで、システムと画像の各ポイントとの間の実値を決定する必要はなく、デジタル・イメージの各ポイントの間の関係のみを決定できればよい」とされており、このように差分のみで対象物の表面のＺ軸の値を決定するためには、ＤＭＤ２４の各マイクロミラーとそれに対応する光ダイオードの距離が各ポイントにおいて等しくなっていることが前提となるから、１つの光ダイオードに向けて光ビームを反射する複数のマイクロミラーを互いに隣接するものとして、マイクロミラーと光ダイオードの距離を各ポイントにおいてなるべく等しくなるようにすることは、当然配慮されるべき事項に過ぎない。 また、引用文献１の【０００９】には、「アレイに含まれる光センサのサイズが、スキャンされた対象物の表面の画像の解像度に影響を及ぼす。基本的に、光センサの全体サイズが大きい（センサーとその回路をシリコンチップ内に通常のマイクロ電子技術を用いて集積することは困難であるので）と、スキャニング・システムにより検知可能な光ビームの数は少なくなる、即ち少数の光ビームの部分のみしか検出できない。その為スキャンされた画像の空間解像度が低くなる。」と記載されている。 そして、引用発明の「ＤＭＤ２４」は、「より高い空間解像度を得る」ため、「光ダイオードセンサー・アレイ２６に含まれる光ダイオードの数よりも多」い「複数のマイクロミラーにより形成され」、ＤＭＤ２４の空間解像度は、光ダイオ－ドセンサ・アレイ２６の空間解像度よりも高いことから、１つの光ダイオードに対応するＤＭＤ２４のマイクロミラーが複数存在するものであり、すなわち、ＤＭＤ２４のマイクロミラーは、光ダイオードの各々を、さらに細分化したものといえる。 そうすると、本願補正発明の「第１の検出素子」又は「第２の検出素子」に相当する「光ダイオード」に向けて光ビームを偏向する、本願補正発明の「第１の進行素子群」又は「第２の進行素子群」に相当する「複数のマイクロミラー」を、当該光ダイオードを細分化したものとするのであれば、互いに隣接しないマイクロミラーを「第１の進行素子群」又は「第２の進行素子群」とするよりも、個別の各マイクロミラーの角度制御が、より簡単になる、互いに隣接するマイクロミラーの配置とすることは、ごく自然な発想である。 以上の理由により、上記相違点に係る本願補正発明の構成は、引用発明に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。 そして、本願補正発明によって奏される効果は、引用発明から当業者が予測し得る程度のものにすぎない。 したがって、本願補正発明は、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができない。 イ 請求人の主張について 請求人は、審判請求の理由において、次の主張をしている。 （８頁２５行～９頁２行） 「まず、引用文献１には進行素子群が互いに隣接する進行素子からなることが明示されておりません。そして、審査官殿が拒絶査定において認められているように、引用文献１には、『第１の進行素子群』及び『第２の進行素子群』と、『第１の検出素子』及び『第２の検出素子』との対応関係が明示されていません。従って、あるマイクロミラーからの光ビームが常に特定の光ダイオードによって検出されるかは定まっておりません。」 上記請求人の主張について検討する。 引用発明において、１つの光ダイオードセンサーに対応する複数のマイクロミラーが互いに隣接するものとすることは、引用文献１に明示されていないが、上記アで示した理由のとおり、格別の困難性があるものでない。 そして、１つの光ダイオードセンサーに対応する複数のマイクロミラーを互いに隣接するものとした場合は、マイクロミラーと光ダイオードセンサーの対応関係が固定されることになるから、あるマイクロミラーからの光ビームが、常に、特定の光ダイオードセンサーによって検出されることになることは明らかである。 よって、当該主張は採用できない。 （５） まとめ 以上のとおり、本件補正は、特許法１７条の２第６項で準用する同法１２６条７項の規定に違反するものであり、同法１５９条１項で読み替えて準用する同法５３条１項の規定により却下されるべきものである。 よって、上記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。 第３ 本願発明 本件補正は上記第２において説示したとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、令和２年７月７日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された次の事項により特定されるとおりのものと認める。 「 【請求項１】 電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部と、 入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部と、を備え、 前記進行部は、互いに隣接する前記進行素子を複数含む、第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、 前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、 前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させる 電磁波検出装置。」 第４ 原査定における拒絶の理由 原査定の拒絶の理由のうち、理由３の概要は、次のとおりである。 本願発明は、下記引用文献１に記載された発明に基づいて、本願の出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。 記 引用文献１. 特表２０１４－５１２５２５号公報 第５ 引用文献１に記載された発明の認定 引用文献１に記載された発明は、前記第２の３（２）の「イ 引用発明の認定」において、引用発明として示したとおりである。 第６ 対比 本願発明と引用発明を対比すると、両者は、以下の一致点で一致し、以下の相違点において相違する。 ＜一致点＞ 電磁波を検出する第１の検出素子および第２の検出素子を有する検出部と、 入射する電磁波を前記検出部へ進行させる第１の状態または入射する電磁波を前記検出部へ進行させない第２の状態に切り替え可能な進行素子を含む進行部と、を備え、 前記進行部は、前記進行素子を複数含む、第１の進行素子群及び第２の進行素子群を有し、 前記第１の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第１の検出素子に進行させ、 前記第２の進行素子群に含まれる前記第１の状態の進行素子は、入射する前記電磁波を前記第２の検出素子に進行させる 電磁波検出装置、である点。 ＜相違点＞ 「第１の進行素子群及び第２の進行素子群」が、本願発明では、「互いに隣接する前記進行素子を複数含む」ものであるのに対して、引用発明では、互いに隣接するマイクロミラーを複数含むものであるか不明な点。 第７ 判断 上記相違点について検討する。 前記第２の３の「（４） 当審の判断」において示した理由と同様の理由により、引用発明において、上記相違点に係る構成とすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 そして、本願発明によって奏される効果は、引用発明から当業者が予測し得る程度のものにすぎない。 第８ むすび 以上のとおり、本願発明は、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。 したがって、他の請求項に係る発明について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 よって、結論のとおり審決する。