2018-700153

特許第６１８４６１１号発明「高分子圧電フィルム」の特許異議申立事件について，次のとおり決定する。

【結　論】 特許第６１８４６１１号の請求項１～１３に係る特許を維持する。

【理　由】 １　手続の経緯 特許第６１８４６１１号の請求項１～１３に係る特許についての出願は，平成２７年１０月１６日を国際出願日（国内優先権主張　平成２６年１１月１４日）とする出願であって，平成２９年８月４日にその特許権の設定登録がされ，その後，平成２９年８月２３日に特許公報が発行され，その特許に対し，平成３０年２月２３日に特許異議申立人鈴野幹夫により特許異議の申立てがされたものである。 ２　本件特許発明 特許第６１８４６１１号の請求項１～１３に係る特許発明は，それぞれ，その特許請求の範囲の請求項１～１３に記載された事項により特定される以下のとおりのものである。 「【請求項１】 重量平均分子量が５万～１００万である光学活性を有するヘリカルキラル高分子（Ａ）を含み， ＤＳＣ法で得られる結晶化度が２０％～８０％であり， マイクロ波透過型分子配向計で測定される基準厚さを５０μｍとしたときの規格化分子配向ＭＯＲｃが３．５～１５．０であり， インライン膜厚計で測定される，フィルムの幅方向の位置とフィルムの厚みとの関係を示す波形において，下記ピークＡの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり２０個以下である，高分子圧電フィルム。 ピークＡ：ピーク高さが１．５μｍ以上，かつ，ピーク傾きが０．００００３５以上 【請求項２】 前記インライン膜厚計で測定される，前記フィルムの幅方向の位置とフィルムの厚みとの関係を示す波形において，下記ピークＢの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり１２個以下である請求項１に記載の高分子圧電フィルム。 ピークＢ：ピーク高さが１．５μｍ以上，かつ，ピーク傾きが０．００００８以上 【請求項３】 可視光線に対する内部ヘイズが５０％以下であり，且つ２５℃において応力－電荷法で測定した圧電定数ｄ１４が１ｐＣ／Ｎ以上である請求項１または請求項２に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項４】 可視光線に対する内部ヘイズが１３％以下である請求項１～請求項３のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項５】 前記ヘリカルキラル高分子（Ａ）が，下記式（１）で表される繰り返し単位を含む主鎖を有するポリ乳酸系高分子である請求項１～請求項４のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【化１】 【請求項６】 前記ヘリカルキラル高分子（Ａ）の含有量が８０質量％以上である請求項１～請求項５のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項７】 前記規格化分子配向ＭＯＲｃと前記結晶化度との積が４０～７００である請求項１～請求項６のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項８】 可視光線に対する内部ヘイズが１．０％以下である請求項１～請求項７のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項９】 カルボジイミド基，エポキシ基，及びイソシアネート基からなる群から選ばれる１種類以上の官能基を有する重量平均分子量が２００～６００００の安定化剤（Ｂ）を，前記ヘリカルキラル高分子（Ａ）１００質量部に対して０．０１質量部～１０質量部含む請求項１～請求項８のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項１０】 前記ピークＡの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり１５個以下である請求項１～請求項９のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項１１】 前記ピークＡの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり１０個以下である請求項１～請求項１０のいずれか１項に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項１２】 前記ピークＢの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり１０個以下である請求項２に記載の高分子圧電フィルム。 【請求項１３】 前記ピークＢの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり８個以下である請求項２に記載の高分子圧電フィルム。」 ３　申立理由の概要 特許異議申立人鈴野幹夫は，証拠として特開２０１４－２７０５５号公報（以下，「甲第１号証」という。），国際公開第２０１２／０２６４９４号（以下，「甲第２号証」という。），国際公開第２０１３／０５４９１８号（以下，「甲第３号証」という。），特開２０１４－８６７０３号公報（以下，「甲第４号証」という。），特開２０１４－９３４８７号公報（以下，「甲第５号証」という。），静電気学会講演論文集２０１１，第３５回静電気学会全国大会，ｐｐ．２７３－２７８（以下，「甲第６号証」という。），国際公開第２０１４／１６８１８８号（以下，「甲第７号証」という。），国際公開第２０１４／１１９５７７号（以下，「甲第８号証」という。）を提出し，請求項１～１３に係る特許は特許法第２９条第１項第３号及び特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであるから，請求項１～１３に係る特許を取り消すべきものである旨主張し，また，請求項１～１３に係る特許は，特許法第３６条第６項１号に違反してされたものであるから，請求項１～１３に係る特許を取り消すべきものである旨主張している。 ４　甲第１～８号証の記載事項 （１）甲第１号証には，「重量平均分子量（Ｍｗ）が１２万であるポリＬ－乳酸を含み（甲第１号証の段落【００６１】参照），所定の製造条件によって製造された（同段落【００２３】～【００２９】及び【００６３】参照），７μｍの厚みを有し厚み斑が８％である単層フィルム（同段落【００６３】及び表１参照）。」の発明（以下，「甲１発明」という。）が記載されている。 （２）甲第２号証ないし甲第５号証には，ポリ乳酸系高分子の圧電フィルムの分野において，結晶化度，規格化分子配向ＭＯＲｃ及び内部ヘイズを有する圧電フィルムに関する技術的事項，甲第６号証には，圧電フィルムの圧電率とフィルムの積層数の関係に関する技術的事項，甲第７，８号証には，安定化材として用いられるカルボジイミド化合物の重量平均分子量に関する技術的事項が記載されている。 ５　判断 （１）第２９条第１項第３号及び同条第２項についての判断 ア　請求項１に係る特許発明について 請求項１に係る特許発明と甲１発明とを対比すると，甲１発明には，「インライン膜厚計で測定される，フィルムの幅方向の位置とフィルムの厚みとの関係を示す波形において，下記ピークＡの個数がフィルム幅１０００ｍｍ当たり２０個以下である高分子圧電フィルム： ピークＡ：ピーク高さが１．５μｍ以上，かつ，ピーク傾きが０．００００３５以上」という点が記載されていない点で相違する。そして、当該相違点について，甲第２号証ないし甲第８号証には記載されていない。 他方，特許異議申立人は，請求項１に係る特許発明の製造方法と，甲１発明の製造方法を対比して，両者は製造方法の条件が同一であるか非常に類似していることを理由に請求項１に係る特許発明は，製造された物として甲１発明とは同一であるか，仮に相違点があったとしても甲１発明および技術常識に基づいて当業者が容易に想到することができたものであると主張する。 しかしながら，当該主張は，以下の理由により成り立たない。 第１の理由は，甲１発明の「単層フィルム」は，２０層の積層をした積層フィルムという構成により請求項１に係る特許発明の「高分子圧電ファイルム」として機能することが看過されている点である。甲第１号証の段落【００６４】及び表１において積層数２０という記載から，甲１発明の単層フィルムは，当該単層フィルムを２０層積層して初めて圧電体フィルムとして利用される旨が記載されている。にもかかわらず，甲１発明として「単層フィルム」の厚み及び形状を対象として，請求項１に係る特許の「高分子圧電フィルム」とを対比している。したがって，当該主張は，対比すべき対象の選択に誤りがあり，採用することはできない。 第２の理由は，請求項１に係る特許発明はフィルム厚み方向の形状について「厚みのピークの高さと傾き」という要素に着目してフィルム形状を特定しているのに対して，甲１発明では，フィルムの厚み全体の平均的な情報である厚み斑という要素に着目してフィルム形状を特定している相違点を有し，当該相違点の評価を誤っている点である。 当該相違点について，特許異議申立人は，甲第１号証において，厚みが７μｍ，厚み斑が８％とすると，最大値と最小値の差は０．５６μｍであることから，１．５μｍ以上のピークは存在しない，また，甲第１号証の段落【００３３】には，２μｍ又は３μｍのフィルムを用いた場合の記載があり，その場合には技術常識を考慮して１．５μｍ以上の厚みのピークは存在し得ないことから，厚みのピーク値をフィルムの形状の評価に用いることはその前提が誤っていると主張する。 しかし，膜厚については，前述した第１の理由に記したように請求項１に係る特許発明と比較対象となるのは甲１発明のフィルムが２０層積層されたフィルムであるから，対象を異にしたフィルムを前提にした当該主張は失当である。 また，請求項１に係る特許発明が厚みのピーク値をフィルムの形状の評価に用いる点については下記の記載内容から技術的意義があるものと認められる。まず，本件特許明細書の段落【００１６】には，「厚みムラを改善するために，例えば，厚みムラを表す一つの指標である，厚みの標準偏差や，最大厚みと最小厚みとの差を平均厚みで除した割合（以下，厚みＲ％ともいう）の数値を小さくするようにフィルムを製造しても，外観上の問題を改善することは十分ではなかった。さらに，本発明者らによる検討によれば，圧電性のバラつきを十分に抑えることは困難であった。 厚みの標準偏差や厚みＲ％は，フィルムの厚み全体の平均的な情報であり，これらの数値を単に低く抑えるのみでは，外観上の問題や圧電性のバラつきを低減することは困難であることから，うねりは，フィルムの急激な厚みの変化に起因していると推測される。」と記載し，厚みムラを改善するために，「フィルムの厚み全体の平均的な情報」に基づいた解決策では十分な解決手段が得られず，「フィルムの急激な厚みの変化」に着目することが明記されている。続けて，同段落【００１７】には，「そこで，本発明者らは鋭意検討した結果，うねりの発生や，圧電性のバラつきを発生させると考えられる，急激な厚みの変化を抑えるために，厚みのピークの高さと，そのピークの傾きに着目した。そして，厚みのピークが特定の条件になるように，フィルムを製造することで，高分子圧電フィルムの厚みムラが減少し，外観上の問題が改善され，圧電性のバラつきが低減された高分子圧電フィルムが得られることを見出し，本発明を完成させるに至った。」と記載し，フィルムの急激な厚みの変化の情報として「厚みのピークの高さと，そのピークの傾き」に着目することが明記されている。 さらに，実施例として，本件明細書の【表２】には，厚み斑と読み替えられる厚みのばらつきＲ％という値を測定した上で，その値が小さくても（前記【表２】中の比較例１），圧電定数のばらつきσが小さくならない結果を表示した上で，「厚みのピークの高さと傾き」という要素に着目し，この要素を一定の条件に制御することで圧電定数のばらつきσが改善される効果を示している（前記【表２】中の実施例１～３）。 以上の記載から，請求項１に係る特許発明において，圧電性のバラツキの改善という観点から，厚みのピークの高さとそのピークの傾きをフィルムの形状の評価に用いることに技術的意義は認められる。 したがって，特許異議申立人の主張は，前記第１及び第２の理由により，成り立たない。 よって，請求項１に係る特許発明は，甲第１号証に記載された発明ではなく，また，甲第１～８号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 イ　請求項２～１３に係る特許発明について 請求項２～１３に係る特許発明は，請求項１を直接間接に引用し，請求項１に係る特許発明を更に減縮したものであるから，前記請求項１に係る特許発明についての判断と同様の理由により，甲第１号証に記載された発明ではなく，また，前記甲第１～８号証に記載された発明から当業者が容易に発明し得るものではない。 ウ　小活 以上のとおり，請求項１～１３に係る特許発明は，甲第１号証に記載された発明ではなく，また，甲第１～８号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 （２）第３６条第６項第１号について 特許異議申立人は，請求項１～１３に係る特許発明は，総厚みを全く規定せずに凸部の高さ（及びその傾き）及びその個数のみを特定するしているが，それだけでは厚みムラの大小は議論することができないことから，出願時の技術常識に照らしても，請求項１～１３に係る特許発明の範囲まで，発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない場合に該当するので，第３６条第６項第１号に違反して特許されたものと主張する。 前記主張は，厚みムラを低減することにより圧電性のバラツキ等を改善する技術に対して，当該技術を適用する前提として厚みムラの大小の特定が必須であるのに，この特定が不十分であるという主張である。 しかし，本件請求項１～１３に係る特許発明は， 前記（１）ア及びイ，特に前記（１）アの「第２の理由」で検討したように，厚みムラを改善するために，「フィルムの厚み全体の平均的な情報」に基づいた解決策では十分な解決手段が得られず，「フィルムの急激な厚みの変化」に着目している点に技術的特徴を有する。 そうすると，厚みムラの特定の要否は，「フィルムの急激な厚みの変化」に着目している以上，本件請求項１～１３に係る特許発明において必須な要件とは認められず，その結果，必然的に厚みムラの特定に必要な総厚みについても必須な要件とは認められない。 したがって，特許異議申立人の前記主張は理由がない。 ６　むすび したがって，特許異議の申立ての理由及び証拠によっては，請求項１～１３に係る特許を取り消すことはできない。 また，他に請求項１～１３に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって，結論のとおり決定する。