審決検索MVP
← 検索一覧に戻る
特許異議申立

2025-700079

レーザ制御装置及びレーザパルス切出し方法

審判番号
2025-700079
法域
特許
審判種別
異議申立(異議の決定)
出願番号
特願2021-110774
登録番号
7519333
請求日
2025年01月17日
審決日
2025年04月16日
公報発行日
2025年05月30日
結論
維持
当事者
  • 【権利者】住友重機械工業株式会社
  • 【権利者代理人】来山 幹雄
  • 【異議申立人】大森 隆一
審判長/審判官
  • 審判長 鈴木 貴雄
  • 審判官 堀内 亮吾
  • 審判官 田々井 正吾
分類
P1651.121-Y (B23K)
条文(本文から自動抽出・参考)
特許法第29条第2項
データ出所
審決公報(XML)

事件の表示

特許第7519333号発明「レーザ制御装置及びレーザパルス切出し方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結論

結 論 特許第7519333号の請求項1~4に係る特許を維持する。

理由

理 由 第1 手続の経緯 特許第7519333号(以下「本件特許」という。)についての出願は、令和3年7月2日を出願日とする特許出願である特願2021-110774であって、令和6年7月10日にその特許権の設定登録がされ、同月19日に特許掲載公報が発行された。その後、本件特許の請求項1~4に係る特許に対し、令和7年1月17日に特許異議申立人大森隆一(以下「申立人」という。)は、特許異議の申立てを行った。 第2 本件発明 本件特許の請求項1~4に係る発明(以下請求項○に係る発明を「本件特許発明○」といい、請求項1~4に係る特許をまとめて「本件特許発明」ということがある。)は、その特許請求の範囲の請求項1~4に記載された次の事項により特定されるとおりのものである。 「【請求項1】 パルスレーザビームを出力するレーザ発振器と、 前記パルスレーザビームが入射し、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、前記パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有する切出光学系と を制御するレーザ制御装置であって、 前記レーザパルスの立上がり時点より前の時点で、前記切出光学系に前記切出指令を出力し、かつ前記切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、前記レーザパルスの立上がり時点より後になるように、前記切出指令を出力するレーザ制御装置。 【請求項2】 前記レーザ発振器は、発振指令の入力に同期して前記レーザパルスを出力し、 さらに、 前記レーザ発振器に前記発振指令を出力し、 前記発振指令で指令されるパルスの繰返し周波数及びパルス幅の少なくとも一方と、パルス出力遅延時間とを関係付けた関係情報を記憶し、 前記発振指令で指令されるパルスの繰返し周波数及びパルス幅の少なくとも一方と前記関係情報とから得られる前記パルス出力遅延時間、及び前記動作遅延時間に基づいて、前記パルス出力遅延時間より短く、かつ前記パルス出力遅延時間から前記動作遅延時間を減じた値より長くなるように、切出指令遅延時間を決定し、 決定された前記切出指令遅延時間に基づいて、前記発振指令の出力時点から遅延させて前記切出光学系に前記切出指令を出力する請求項1に記載のレーザ制御装置。 【請求項3】 さらに、 前記レーザ発振器から出力された前記レーザパルスを検出する光検出器からの検出信号を受信し、 前記発振指令を出力してから前記検出信号が入力されるまでの遅延時間を測定し、遅延時間の測定値に基づいて前記パルス出力遅延時間を求め、 前記発振指令で指令されるパルスの繰返し周波数及びパルス幅の少なくとも一方と、遅延時間の測定値に基づいて求められた前記パルス出力遅延時間との関係を、前記関係情報として記憶する請求項2に記載のレーザ制御装置。 【請求項4】 レーザ発振器からレーザパルスを出力させて切出光学系に入射させ、前記レーザパルスの一部を切り出すレーザパルス切出し方法であって、 前記切出光学系は、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、前記レーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有しており、 前記レーザパルスの立上がり時点より前の時点で、前記切出光学系に前記切出指令を出力し、前記切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、前記レーザパルスの立上がり時点より後になるように、前記切出指令を出力するレーザパルス切出し方法。」 第3 申立ての理由 1 申立人が特許異議申立書で主張する申立ての理由の概要 (進歩性)請求項1~4に係る発明は、甲第1~7号証に記載された発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、請求項1~4に係る特許は、特許法第29条第2項の規定に違反してされたものである(同法第113条第2号)。 2 証拠方法 申立人が特許異議申立書に添付して提出した証拠は、次のとおりである。 (1)甲第1号証:特開2020-131247号公報 (2)甲第2号証:特開2017-159317号公報 (3)甲第3号証:米国特許第6339604号明細書 甲第3号証の翻訳文は、申立人提出の甲第3号証訳文のほか、日本語ファミリー文献の特表2002-518834号公報を参照する。 (4)甲第4号証:特開2014-188560号公報 (5)甲第5号証:特開2000-270833号公報 (6)甲第6号証:特開2005-101482号公報 (7)甲第7号証:特開2012-248614号公報 以下、甲第○号証を「甲○」といい、甲3の日本語ファミリー文献を「甲3翻訳」という。 第4 証拠の記載内容について 1 甲1 (1)甲1の記載事項 ア 発明の詳細な説明 「【技術分野】 【0001】 本発明は、レーザパルスを用いてプリント基板のような被加工物に穴あけ等を行うレーザ加工装置及びレーザ加工方法に関するものである。 【背景技術】 【0002】 従来、例えば炭酸ガスレーザ発振器の如きレーザ発振器を用いたレーザ加工装置においては、例えば特許文献1の特に図6に開示されているように、レーザ照射位置を変えるためのガルバノスキャナによる位置決め動作の完了に基づいてレーザ発振器にレーザパルスを発振させ、超音波による回折格子を発生させるゲルマニウム等の結晶体を用いた音響光学素子(以下AOMと略す)を用いたAOM制御部により、レーザ発振器から出力されたレーザパルスを加工方向か非加工方向に偏向するようにしたものが知られている。 【0003】 上記の如きレーザ加工装置においては、被加工物に照射されるレーザパルスの強度やパルス幅等は、被加工物の材質や加工仕様に基づいた制御情報によりAOMにて制御されるようになっている。 ・・・ 【発明が解決しようとする課題】 【0005】 そこで本発明は、レーザパルスを用いてプリント基板のような被加工物に穴あけ等を行うレーザ加工において、加工効率を落とすことなく加工品質の低下を防ぐことを目的とする。 ・・・ 【実施例】 【0011】 図1は本発明の一実施例となるレーザ加工装置のブロック図である。各構成要素や接続線は、主に本実施例を説明するために必要と考えられるものを示してあり、レーザ加工装置として必要な全てを示している訳ではない。 図1において、1は図示しないテーブル上に載置された加工すべきプリント基板であり、この表面には樹脂層1Pが形成されている。2はレーザパルスL1を発振するレーザ発振器、3はレーザ発振器2から出力されたレーザパルスL1の各々をAOMを用いて加工方向と非加工方向の二通りに偏向させるAOM偏向部、4はAOM偏向部3において加工方向へ偏向されたレーザパルスL2のレーザ照射位置を変え、加工データに従ったプリント基板1の穴あけ位置に照射されるように回転駆動される光走査器としてのガルバノスキャナ、5はガルバノスキャナ4からのレーザパルスをプリント基板1の穴あけ位置に照射する集光(Fθ)レンズ、6はAOM偏向部3において非加工方向へ偏向されたレーザパルスL3を吸収するダンパである。 【0012】 7は装置全体の動作を制御するための全体制御部であり、その内部には、レーザ発振器2でのレーザパルスL1の発振と減衰を指令するためのレーザ発振指令信号Sを出力するレーザ発振制御部8、AOM偏向部3の動作を制御するためのAOM駆動信号Dを出力するAOM制御部9、ガルバノスキャナ4の駆動動作を制御するためのガルバノ制御信号Gを出力するガルバノ制御部10が設けられている。 AOM制御部9から出力されるAOM駆動信号DはRF信号から成り、AOM偏向部3の偏向角はこのRF信号の周波数によって変化させ、また出射エネルギーはこのRF信号の振幅レベルによって変化させる。 全体制御部7はここで説明するもの以外の制御機能を有し、図示されていないブロックにも接続されている。全体制御部7は、例えばプログラム制御の処理装置を中心にして構成され、その中の各構成要素や接続線は、論理的なものも含むものとする。また各構成要素の一部は全体制御部7と別個に設けられていてもよい。 【0013】 このレーザ加工装置においては、AOM偏向部3によるレーザパルスL2の取出しに関して2つの加工モードAとBを有する。 図2は加工モードAにおいて、レーザ発振器2からレーザパルスL1が発振される時のタイミングチャートである。図2において、ガルバノ動作制御信号Gがオフとなってガルバノスキャナ4が目標の位置で停止して位置決め動作が完了すると、レーザ発振指令信号SがオンとなってレーザパルスL1の発振がレーザ発振器2に指令され、レーザ発振器2のレーザ出力が徐々に上がっていく。レーザ発振指令信号Sは所定の時間T1だけオンとなり、レーザ発振指令信号SがオフになるとレーザパルスL1の減衰が始まりレーザ出力が徐々に下がっていく。 レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T2の後に所定時間T3だけAOM駆動信号Dがオンとなり、レーザパルスL1の減衰が始まるまでの期間において加工用のレーザパルスL2が1回取出される。 なお、レーザ発振指令信号Sがオンとなってから所定時間T4の後にガルバノ動作制御信号Gがオンとなってガルバノスキャナ4が次の目標位置に向かって位置決め動作を開始する。 【0014】 加工モードAは、従来通り、レーザ発振器2からレーザパルスL1の減衰が始まるまでの期間において加工用のレーザパルスL2を1回取出すものであり、加工エネルギーの閾値が高い場合に適する。 一方、図3は加工モードBにおいて、レーザ発振器2からレーザパルスL1が発振される時のタイミングチャートである。 加工モードBがタイミングに関して加工モードAと異なる点は、レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T5の後に所定時間T6だけAOM駆動信号Dをオンとして、レーザパルスL2の1回の取出し期間をレーザパルスL1の減衰が始まった後までの期間として時間を延長したことと、AOM駆動信号Dの振幅レベルV2を加工モードAの際の振幅レベルV1よりも低くしてレーザパルスL2のピークエネルギーを下げたことである。この加工モードBは、加工エネルギーの閾値が低い場合に適する。 【0015】 AOM駆動信号Dの出力開始時期、出力時間、出射エネルギーを決めるRF信号の振幅レベル等を制御するための情報は、AOM制御部9内の記憶部12に制御テーブル11、12として記憶されている。AOM制御部8はこの制御テーブル11A、11B内の制御情報に従ってAOM駆動信号Dの出力開始時期、出力時間、振幅レベル等を決定する。 制御テーブル11A、11Bはそれぞれ加工モードA、Bのためのものである。 図4は加工モードAのための制御テーブル11Aの内容を示している。例えば、制御メニューNo.1Aに従ってAOM駆動信号Dを決定する時は、レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T21Aの後に所定時間T31AだけAOM駆動信号Dがオンとなり、AOM駆動信号Dの振幅レベルをV11Aとなって、AOM偏向部3は加工モードAで動作する。 【0016】 また、図4は加工モードBのための制御テーブル11Bの内容を示している。例えば、制御メニューNo.1Bに従ってAOM駆動信号Dを制御する時は、レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T51Bの後に所定時間T61BだけAOM駆動信号Dがオンとなり、AOM駆動信号Dの振幅レベルをV21Aとなって、AOM偏向部3は加工モードBで動作する。 制御テーブル11A、11B内の各情報は、加工すべきプリント基板の材質や加工仕様に応じて最適なタイミングになるように、実験、装置の調整等により求め、予めて登録しておくものとする。そして、いずれの制御メニューでAOM駆動信号Dを決定するかは、加工すべきプリント基板の材質や加工仕様に基づき、制御テーブル11Aあるいは11B内の一つの制御メニューが全体制御部7の制御の下で選択されるようになっている。」 イ 図面 (ア)【図1】 [図:0001422482000001.jpg] (イ)【図2】 [図:0001422482000002.jpg] (ウ)【図3】 [図:0001422482000003.jpg] (2)甲1の記載事項の整理 ア 段落0001、0011、0012、図1の記載からみて、甲1にはレーザ加工装置について記載されており、このレーザ加工装置は、レーザを発振するレーザ発振器2と、AOM偏向部3を備える。 イ 段落0012~0014、図2~3の記載からみて、上記レーザ加工装置は、レーザ発振制御部8により、レーザ発振器2を制御してレーザの発振と減衰を指令し、また、AOM偏向部3を、レーザが入射し、AOM制御部9によるAOM駆動信号Dが入力されてから、このレーザのレーザパルスL1を加工方向に偏向させて加工用のレーザパルスL2を取出すように制御する。 ウ 段落0012~0014、図2~3の記載からみて、上記レーザ加工装置においては、レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T2、T5後の、レーザ発振器2のレーザ出力が徐々に上がっていくタイミングで、AOM駆動信号Dが所定時間T3、T6だけオンとなり、オンとなった期間だけ加工用のレーザパルスL2が取出される。 (3)甲1に記載された発明 上記(1)~(2)より、甲1には次の発明(以下「甲1発明」という。)が記載されている。 「レーザを発振するレーザ発振器2と、 前記レーザが入射し、AOM駆動信号Dが入力されてから、前記レーザのレーザパルスL1を加工方向に偏向させて加工用のレーザパルスL2を取出すAOM偏向部3と を制御するレーザ加工装置であって、 レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T2、T5後の、レーザ発振器2のレーザ出力が徐々に上がっていくタイミングで、AOM駆動信号Dが所定時間T3、T6だけオンとなり、オンとなった期間だけ加工用のレーザパルスL2が取出されるレーザ加工装置。」 2 甲2 (1)甲2の記載事項 ア 発明の詳細な説明 「【技術分野】 【0001】 本発明は、1つのレーザパルスから時間軸上で少なくとも2つのレーザパルスを切り出して、少なくとも2軸でレーザ加工を行うレーザ加工装置に関する。 【背景技術】 【0002】 下記の特許文献1に、レーザビームによって穴あけ加工を行なうレーザ加工装置が開示されている。このレーザ加工装置は、レーザ光源と音響光学素子(音響光学偏向器)とを含む。音響光学素子は、レーザ光源から出力されたパルスレーザビームを、ビームダンパに向かう経路、加工対象物に向かう第1の加工経路及び第2の加工経路のいずれかに振り向ける。第1の加工経路または第2の加工経路に振り向けられたパルスレーザビームは、ガルバノスキャナで偏向された後、加工対象物の目標位置に入射する。 【0003】 1つのレーザパルスのパルス幅内のある期間は、レーザビームが第1の加工経路に振り向けられ、他のある期間は第2の加工経路に振り向けられ、残りの期間はダンパ経路に振り向けられる。これにより、1つのレーザパルスから2つのレーザパルスを切り出して、2軸でレーザ加工を行なうことができる。 ・・・ 【発明が解決しようとする課題】 ・・・ 【0006】 本発明の目的は、複数の加工軸でレーザ加工を行う場合に、それぞれの加工軸での加工品質を揃えることが可能なレーザ加工装置を提供することである。 ・・・ 【発明を実施するための形態】 【0010】 図1に、本発明の実施例、及び参考例によるレーザ加工装置の概略図を示す。レーザ光源10が、制御装置55から発振指令信号S0を受けてレーザ発振し、パルスレーザビームPLBを出力する。レーザ光源10には、例えば炭酸ガスレーザが用いられる。例えば、発振指令信号S0の立ち上がりにより、発振開始が指令され、発振指令信号S0の立下りにより、発振停止が指令される。 【0011】 レーザ光源10から出力され、光学系11を経由したパルスレーザビームPLBの経路に、音響光学偏向器(AOD)20が配置されている。光学系11は、例えばビームエキスパンダ、アパーチャ等を含む。AOD20は、入射したレーザビームを、ビームダンパ13に向かうダンパ経路PD、第1の加工経路MP1、及び第2の加工経路MP2のいずれかに振り向ける。AOD20は、音響光学結晶21、トランスデューサ22、及びドライバ23を含む。トランスデューサ22は、ドライバ23によって駆動されることにより、音響光学結晶21内に弾性波を生じさせる。 【0012】 ドライバ23に、経路切替端子24、切出端子25、第1の回折効率調整ノブ26、及び第2の回折効率調整ノブ27が設けられている。経路切替端子24に、制御装置55から経路選択信号S1が入力される。経路選択信号S1によって、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のうち一方の経路が選択される。切出端子25に、制御装置55から切出信号S2が入力される。切出信号S2が入力されていない期間、AOD20は、入射したレーザビームをダンパ経路PDに振り向ける。切出信号S2が入力されている期間、AOD20は、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のうち経路選択信号S1によって選択されている方の経路にレーザビームを振り向ける。 ・・・ 【0023】 図3に、ビーム偏向器31、41(図1)の動作状態、発振指令信号S0、経路選択信号S1、及び切出信号S2の、1ショット目及び2ショット目の一部分のタイミングチャートを示す。ビーム偏向器31、41が動作している期間を、上下に分かれた2本の線で表し、整定されている期間を1本の線で表す。 【0024】 1つの目標位置62(図2A)への1ショットのレーザパルスの入射が完了すると、制御装置55が、ビーム偏向器31、41を動作させて、レーザビームの入射位置を、次に加工すべき目標位置62に移動させる。2つのビーム偏向器31、41の両方の動作が完了すると、言い換えると第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2の両方のレーザビームの入射位置が整定されると(時刻t1)、制御装置55がレーザ光源10に対して、発振指令信号S0の送出を開始する(時刻t2)。これにより、レーザ光源10から出力されるパルスレーザビームPLBのレーザパルスの出力が開始される。発振指令信号S0の立ち上がりが、レーザ光源10に対する発振開始の指令に対応する。この時点で、経路選択信号S1によって第1の加工経路MP1が選択されている。 【0025】 第1の加工経路MP1が選択されている状態で、制御装置55が、予め決められたパルス幅PW1の切出信号S2を送出する(時刻t3)。これにより、第1の加工経路MP1に、1つのレーザパルスが切り出される。その後、制御装置55が、第2の加工経路MP2を選択する経路選択信号S1を送出する(時刻t4)。第2の加工経路MP2が選択されている状態で、制御装置55が、予め決められたパルス幅PW1の切出信号S2を送出する(時刻t5)。これにより、第2の加工経路MP2に、1つのレーザパルスが切り出される。 【0026】 その後、制御装置55は、発振指令信号S0の送出を停止し、経路選択信号S1で選択される経路を第1の加工経路MP1に戻す(時刻t7)。発振指令信号S0の立ち下がりが、レーザ光源10に対する発振停止の指令に対応する。さらに、ビーム偏向器31、41に、制御信号G1、G2を送出して、レーザビームの入射位置を次の目標位置62(図2A)まで移動させる。2ショット目及び3ショット目のレーザパルスを入射するときも、1ショット目の場合と基本的に同様の手順が繰り返される。図3では、2ショット目のレーザパルスを切り出す切出信号S2のパルス幅が、1ショット目のレーザパルスを切り出すときの切出信号S2のパルス幅より短い例を示している。 【0027】 実施例によるレーザ加工装置について説明する前に、図4A及び図4Bを参照して、参考例によるレーザ加工装置について説明する。 【0028】 図4Aに、1ショット目のレーザパルスの切り出し時の発振指令信号S0、経路選択信号S1、切出信号S2のタイミングチャート、及びレーザパルスの波形を示す。発振指令信号S0が立ち上がると(時刻t2)、レーザ光源10(図1)から原初レーザパルスLP0が出力される。レーザ光源10は、原初レーザパルスLP0の光強度が時間の経過とともに低下する特性を有する。発振指令信号S0が立ち下がると(時刻t6)、原初レーザパルスLP0も立ち下がる。 【0029】 経路選択信号S1で第1の加工経路MP1が選択されている状態で、切出信号S2のパルスが送出されると(時刻t3)、原初レーザパルスLP0から、第1の加工経路MP1に第1のレーザパルスLP1が切り出される。経路選択信号S1で第2の加工経路MP2が選択されている状態で、切出信号S2のパルスが送出されると(時刻t5)、原初レーザパルスLP0から、第2の加工経路MP2に第2のレーザパルスLP2が切り出される。第1のレーザパルスLP1のパルス幅と、第2のレーザパルスLP2のパルス幅とは同一である。」 イ 図面 (ア)【図1】 [図:0001422482000004.jpg] (イ)【図3】 [図:0001422482000005.jpg] (ウ)【図4】 [図:0001422482000006.jpg] (2)甲2の記載事項の整理 ア 段落0001、0010、0011、図1の記載からみて、甲1にはレーザ加工装置について記載されており、このレーザ加工装置は、パルスレーザビームPLBを出力するレーザ光源10と、音響光学偏向器(AOD)20が配置されている。 イ 段落0011~0012、0024~0025、0028~0029、図1、3~4の記載からみて、上記レーザ加工装置は、レーザ光源10を制御してレーザの発振停止を指令し、また、音響光学偏向器(AOD)20を制御して、パルスレーザビームPLBが入射し、切出信号S2が入力されてから、パルスレーザビームPLBの原初レーザパルスLP0をビームダンパ13に向かうダンパ経路PD、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のいずれかに振り向ける。 ウ 段落0011~0012、0024~0025、0028~0029、図1、3~4の記載からみて、上記レーザ加工装置は、発振指令信号S0の送出を時刻t2にて開始し、レーザ光源10からパルスレーザビームPLBのレーザパルスの出力が開始されたあとの時刻t3で切出信号S2が送出され、パルス幅PW1、PW2の間、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のうち経路選択信号S1によって選択されている方の経路にそれぞれ第1のレーザパルスLP1及び第2のレーザパルスLP2を振り向ける。 (3)甲2に記載された発明 上記(1)~(2)より、甲2には次の発明(以下「甲2発明」という。)が記載されている。 「パルスレーザビームPLBを出力するレーザ光源10と、 前記パルスレーザビームPLBが入射し、切出信号S2が入力されてから、前記パルスレーザビームPLBの原初レーザパルスLP0をビームダンパ13に向かうダンパ経路PD、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP1、MP2のいずれかに振り向ける音響光学偏向器AODと を制御するレーザ加工装置であって、 発振指令信号S0の送出を時刻t2にて開始し、レーザ光源10からパルスレーザビームPLBのレーザパルスの出力が開始されたあとの時刻t3で前記切出信号S2が送出され、パルス幅PW1、PW2の間、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のうち経路選択信号S1によって選択されている方の経路にそれぞれ第1のレーザパルスLP1及び第2のレーザパルスLP2を振り向けるレーザ加工装置。」 3 甲3(日本語翻訳文は甲3翻訳より摘記。) (1)甲3の記載事項 ア 明細書 (ア)「One aspect of the invention features a pulsed laser system that includes a laser pump (e.g., a continuous wave (CW) pump), a laser rod, a reflector interposed between the laser pump and the laser rod, through which energy from the laser pump enters the laser rod, an output reflector through which energy is emitted from the laser rod, and a switch (e.g., a Q-switch) interposed between the laser rod and the output reflector. Further there is a control device, which may be external to the laser resonator. The Q-switch, when closed, causes energy to be stored in the laser rod and, when opened, allows energy to be emitted from the laser rod during an emission period. The control device allows a primary laser pulse emitted from the laser rod during the emission period to impinge on a workpiece and prevents at least a portion of secondary laser emission occurring after the primary pulse during the emission period from impinging on the workpiece.」(第2欄第17~33行) <翻訳>「【0009】 (発明の概要) 本発明の一局面は、レーザポンプ(例えば、連続波(CW)ポンプ)と、レーザ・ロッドと、前記レーザポンプとレーザ・ロッドとの間に介装されたレフレクタであってそこを通してレーザポンプからのエネルギがレーザ・ロッドへ入るレフレクタと、エネルギがそこを通してレーザ・ロッドから放射される出力側レフレクタと、前記レーザ・ロッドと出力側レフレクタとの間に介装されたスイッチ(例えば、Qスイッチ)とを含むパルス化されたレーザ・システムを特徴とする。更に、レーザ共振器に対して外部に位置しうる制御装置がある。Qスイッチは、閉鎖するとエネルギをレーザ・ロッドで貯えることが出来るようにし、開放すると放射期間の間エネルギがレーザ・ロッドから放射されうるようにする。制御装置は、放射期間の間レーザ・ロッドから放射された一次レーザ・パルスが加工物に衝突しうるようにし、放射期間の間一次パルスの後発生した二次レーザ放射の少なくとも一部が加工物に衝突しないようにする。」 (イ)「Because a control device is provided that prevents unwanted output emitted during the emission period after emission of the primary pulse from impinging on the workpiece, this portion of the laser output does not affect the temperature of the workpiece, and therefore does not affect measurements that might take place prior to each primary pulse, which may be temperature-sensitive, and does not affect performance of the workpiece. For example, in trimming of thick-film resistors, resistance measurements might take place immediately prior to each primary pulse. In micromachining of a semiconductor circuit on a silicon substrate, elimination of secondary pulses and a continuous wave output can prevent undue heating of the silicon substrate and thereby protect the silicon substrate against damage.」(第2欄下から10行目~第3欄第5行) <翻訳>「【0012】 一次パルスの放射の後放射期間の間放射される望ましくない出力が加工物に衝突しないようにする制御装置が設けられているので、レーザ出力のこの部分は、加工物の温度に影響せす、従って各一次パルスの前に行なうことが可能であり、感温式でよい測定に影響を与えず、加工物の性能にも影響しない。例えば、厚膜の抵抗のトリミングにおいて、抵抗測定は各一次パルスの直前に行なえばよい。シリコン基板上の半導体回路のマイクロ機械加工において、二次パルス及び連続波出力を排除することによりシリコン基板の過度の加熱を阻止することが可能であって、それによりシリコン基板を損傷から保護することが出来る。」 (ウ)「With reference to FIG. 1, laser 10 includes an energy storage rod 12 and a diode pump 14, which is pumped continuously. Energy from the diode pump enters the laser rod 12 through a lens 16 and a 100-percent reflector 18. An acousto-optical Q-switch 20, which is essentially an optical switch, is switchable on and off to cause energy to remain stored in laser rod 12. When Q-switch 20 is turned on, lasing action is inhibited, thereby allowing energy from the laser diode 14 to be delivered to the rod 12. The energy stored in laser rod 12 will increase, because Q-switch 20 blocks emission of the laser beam. About a microsecond or two after Q-switch 20 is turned off (opened) a laser pulse is emitted from laser rod 12 through reflector 24. An X-scanning mirror and a Y-scanning mirror (not shown) move the pulsed laser beam to perform trimming of a thick-film resistor.」(第4欄下から12行目~第5欄第4行) <翻訳>「【0024】 図1を参照すれば、レーザ10は、エネルギ貯蔵ロッド12と、連続的にポンピングされるダイオード・ポンプ14とを含む。ダイオード・ポンプからのエネルギは、レンズ16と100%レフレクタ18とを介してレーザ・ロッド12へ入る。基本的には光スイッチである音響-光Qスイッチ20は、エネルギがレーザ・ロッド12内で貯えられた状態に留まるようオンーオフと切り替え可能である。Qスイッチ20がオンとなると、レイジング作用が阻止されることによってレーザ・ダイオード14からのエネルギがロッド12に供給されうるようにする。レーザ・ロッド12に貯えられたエネルギは、Qスイッチ20がレーザ・ビームの放射を阻止するので増大する。Qスイッチ20がオフとなった後約1あるいは2マイクロ秒で、レーザ・パルスは、レフレクタ24を介してレーザ・ロッド12から放射される。X-走査ミラーおよびY-走査ミラー(図示せず)が、パルス化されたレーザ・ビームを運動させて、厚膜の抵抗のトリミングを実行する。 (エ)「The period of time during which Q-switch 20 is off is the emission period. The rate at which Q-switch 20 is activated is known as the repetition rate.」(第5欄第5~7行) <翻訳>【0025】 Qスイッチ20がオフである時間期間は、「放射期間」である。Qスイッチ20が作動するレートは、「繰返し率(repetition rate)」として知られている。 (オ)「In one application of the resistor trimming system of FIG. 1, laser 10 has an intrinsically short pulse width at all repetition rates. However, the energy, pulse width, and peak power of the laser pulse depend upon the amount of energy storage. At low repetition rates the energy storage is high and therefore the pulse width is short and the energy per pulse and peak power are high. As is explained in detail below, during operation of the resistor trimming system at low repetition rates, Q-switch 20 remains open after the laser pulse subsides, and a secondary emission that includes a series of secondary pulses and continuous wave (CW) output is emitted from laser 10. These secondary pulses result from the fact that energy is continuously being pumped into energy storage rod 12 by diode pump 14. Whenever the stored energy resulting from this continuous input exceeds a threshold (the minimum energy required to overcome losses in the energy storage rod system), a secondary pulse is emitted.」(第5欄第8~25行) <翻訳>「【0026】 図1に示す抵抗トリミング・システムの一適用例において、レーザ10は、全ての繰返し率において本質的に短いパルス幅を有している。しかしながら、レーザ・パルスのエネルギ、パルス幅およびピーク・パワーはエネルギの貯え量によって変わる。低繰返し率において、エネルギの貯えは高く、従ってパルス幅は短く、パルス当たりのエネルギおよびピーク・パワーは高い。以下詳細に説明するように、低繰返し率における抵抗トリミング・システムの作動の間、Qスイッチ20は、レーザ・パルスが低減した後開放状態に留まり、そして一連の二次パルスと連続波(CW)出力とを含む二次放射が、レーザ10から放射される。これらの二次パルスは、エネルギがダイオード・ポンプ14によってエネルギ貯蔵ロッド12中へ連続してポンピングされるという事実から発生する。この連続した入力から結果的に貯えられたエネルギがスレッショルド(エネルギ貯蔵ロッド・システムにおける損失を充足するに必要な最小のエネルギ)を上回るといつでも、二次パルスは放射される。 (カ)「At one kilohertz, the primary pulse as well as the continuous wave output together have a total energy far in excess of 210 microjoules. The primary pulse output is deflected towards the workpiece by an acousto-optic modulator (AOM) 26, which operates in synchronization with Q-switch 20. The acousto-optic modulator 26 is sufficiently fast in operation to allow the primary laser pulses to deflect to the workpiece and then, by switching off, to dump the continuous wave output and secondary pulses from the short-pulse laser onto a heat sink 28. The acousto-optic modulator 26 deflects the primary laser pulses with at least eighty percent efficiency, and more preferably about ninety percent efficiency or higher, and all of the continuous wave output and secondary pulses of short-pulse laser 10 are dumped onto heat sink 28.」(第5欄第32~46行) <翻訳>「【0028】 1キロヘルツにおいて、一次パルス並びに連続波出力は一緒にすると210マイクロジュールをはるかに上回る全体エネルギを有している。一次パルス出力は、Qスイッチ20と同期作動する音響-光変調器(AOM)26によって加工物に向って偏向させられる。音響-光変調器26は、一次レーザ・パルスが加工物に対して偏向しうるようにするに十分作動が高速で、次いでオフに切り替えることにより連続波の出力と短いパルス・レーザからの二次パルスとを熱だめ28上へ投入する。音響-光変換器26は、少なくとも80%の効率で、より好ましくは約90%あるいはそれ以上で一次レーザ・パルスを偏向させ、そして連続波の出力および短いパルス・レーザ10の二次パルスの全ては熱だめ28上に投入される。」 (キ)「According to an alternate method, the primary beam passes through acousto-optic modulator 26, which deflects the unwanted continuous wave output and secondary pulses with ninety percent efficiency as shown in FIG. 2. The method to be used is determined by the nature of the micromachining application. Thus, according to the method of FIG. 2, an optical shutter diffracts, deflects, redirects, or otherwise shutters unwanted laser output away from the workpiece, whereas according to the method of FIG. 1, an optical shutter diffracts, deflects, redirects, or otherwise shutters desired laser output toward the workpiece.」(第5欄下から17~7行目) <翻訳>「【0030】 代替的な方法によれば、一次ビームは、音響-光変調器26を通過し、図2に示すように、90%の効率で望ましくない連続波出力と二次パルスとを偏向する。使用するべき方法はマイクロ機械加工の用途の性格によって決まる。このように、図2に示す方法によれば、光学シャッタは、望ましくないレーザ出力を加工物から離れる方向に回折、偏向あるいは方向し直し、あるいはその他の方法で遮断し、一方図1に示す方法によれば、光学シャッタは、望ましいレーザ出力を加工物に向って回折、偏向、方向直し、あるいはその他の方法で遮断する。」 (ク)「The bottom five waveforms in FIG. 3 illustrate operation of the short-pulse laser at a low, fixed repetition rate using the dynamic pulse width control. RF Q-switch control signal 32 is activated only for a period of time necessary to provide the desired energy storage per pulse and the desired pulse width, which, for this example, is the same energy storage per pulse and pulse width as in the high-repetition-rate example of the top three drawings in FIG. 3. After the time required for energy storage has elapsed, RF Q-switch control signal 32 is deactivated, which causes the Q-switch to be turned off so as to allow the laser to emit an output. The Q-switch is maintained in its off state until storage for the next emission period is desired. According to this method, the energy storage time corresponds to the desired energy per pulse and the desired pulse width. At low repetition rates, as shown in the bottom five waveforms in FIG. 3, the laser will build up and lase in a continuous wave mode output 38 during the emission period, after the primary pulse 36 has been emitted. The output 38 after the primary pulse consists of a series of secondary pulses emitted from the laser followed by a CW output. In the embodiment of FIG. 1, an acousto-optic modulator signal 40 triggers the acousto-optic modulator just before the primary pulse 36 is to be emitted, in order to deflect the primary pulse towards the resistor, and then switches the AOM off so that the unwanted secondary and CW output is dumped on the heat sink as illustrated in FIG. 1. Accordingly, unwanted heating of the resistor to be trimmed is prevented.」(第6欄第29~56行) <翻訳>「【0032】 図3の下5種類の波形は、動的パルス幅制御を使用した低い固定した繰返し率における短いパルス・レーザの作動を示す。RF・Qスイッチ制御信号32は、例えば図3に示す上3種類の高繰返し率の例のパルス当たり同じエネルギ貯蔵およびパルス幅と同じであるパルス当たりの所望のエネルギ貯蔵および所望のパルス幅を提供するに必要な時間期間のみ付勢される。エネルギ貯蔵に必要な時間が経過した後、RF・Qスイッチ制御信号32は消勢され、そのためQスイッチをオフにしレーザが出力を放射しうるようにする。Qスイッチは、次の放射期間のための貯蔵が所望されるまでオフの状態に保持される。この方法によれば、エネルギ貯蔵時間は、パルス当たりの所望のエネルギおよび所望のパルス幅に対応する。図3の下5種類の波形で示されるように、低繰返し率において、レーザは、蓄積し、そして一次パルス36が放射された後、放射期間の間連続波モード出力38でレーザを放出する。一次パルスの後の出力38は、CW出力が続く一連のレーザから放射された二次パルスから構成される。図1に示す実施形態において、音響-光変換器信号40は、一次パルスを抵抗に向って偏向するために一次パルス36が放射される直前音響-光変換器をトリガし、次いでAOMをオフに切り替え、そのため望ましくない二次およびCW出力が図1に示すように熱だめに投入される。従って、トリミングすべき抵抗の望ましくない加熱が阻止される。 (ケ)「FIGS. 4 and 5 illustrate the power of the laser output, including primary pulse 36, and secondary pulses and continuous wave output 38, as a function of time in the absence of an acousto-optic modulator. FIG. 6 illustrates the power of the laser output where the acousto-optic modulator has dumped the continuous wave output from the laser onto a heat sink.」(第6欄下から11~5行目) <翻訳>「【0033】 図4および図5は、音響-光変換器が不在の場合の時間の関数として、一次パルス36と二次パルス及び連続波の出力38とを含むレーザ出力のパワーを示す。図6は、音響-光変調器がレーザからの連続波出力を熱だめに投入したレーザ出力のパワーを示す。」 イ 図面 (ア)FIG.1 [図:0001422482000007.jpg] (イ)FIG.2 [図:0001422482000008.jpg] (ウ)FIG,3 [図:0001422482000009.jpg] (エ)FIG.4 [図:0001422482000010.jpg] (オ)FIG.5 [図:0001422482000011.jpg] (カ)FIG.6 [図:0001422482000012.jpg] (2)甲3の記載事項の整理 ア 上記(1)ア(ア)、(ウ)~(エ)、FIG,1の記載からみて、甲3には、Qスイッチが閉鎖した時に蓄積したエネルギーを、開放した時に放射することを繰返して、レーザ・パルスを放射するレーザ10について、記載されている。 イ 上記(1)ア(ア)~(イ)、(オ)~(ク)、FIG.1~3の記載からみて、上記レーザ10が低繰返し率で作動する間、レーザパルスは一次パルス36の後、望ましくない二次および連続波(CW)出力38が発生する。 ウ 上記(1)ア(ク)、FIG.1~6の記載からみて、上記レーザ10のレーザシステムにおいて、音響-光変換器信号40により、一次パルス36が放射される直前に音響-光変換器(AOM)26をトリガして、一次パルス36を抵抗に向って偏向し、次いで音響-光変換器(AOM)26をオフに切り替え、望ましくない二次および連続波(CW)出力38が熱だめ28に投入されることについて記載されている。 (3)甲3記載の技術的事項 上記(1)~(2)より、甲3には次の技術的事項(以下「甲3記載の技術的事項」という。)が記載されている。 「Qスイッチが閉鎖した時に蓄積したエネルギーを、開放した時に放射することを繰返してレーザ・パルスを放射するレーザ10において、 レーザ10が低繰返し率で作動する間、レーザパルスは一次パルス36の後、望ましくない二次および連続波(CW)出力38が発生し、 音響-光変換器信号40により、一次パルス36が放射される直前に音響-光変換器(AOM)26をトリガして、一次パルス36を抵抗に向って偏向し、次いで音響-光変換器(AOM)26をオフに切り替え、望ましくない二次および連続波(CW)出力38が熱だめ28に投入されるレーザシステムにおけるパルス制御。」 4 甲4 甲4には、段落0012~0013、0022~0023、0028~0029、0031の記載からみて、次の技術的事項(以下「甲4記載の技術的事項」という。)が記載されている。 「制御装置20は、レーザ光源1から出力されたレーザパルスを検出する光検出器22からの検出信号を受信し、 レーザ発振開始トリガがレーザ光源1に与えられてからレーザパルスが立ち上がるまでの遅延時間Td1、Td2、Td3を計測し、 遅延時間Td1、Td2、Td3の計測値に基づいて、レーザパルスの立ち上がり時刻t12、t22、t32から、予め制御装置20に記憶されている目標パルス幅Pdに相当する時間が経過した時刻を、レーザ発振停止トリガを与える時刻t13、t23、t33とする レーザ加工装置。」 5 甲5~甲6 甲5の段落0032、甲6の段落0032の記載からみて、甲5及び甲6には、いずれも、本件特許発明に関して「切出光学系において、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間だけ経過した時点において、パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有すること」(以下「甲5~甲6記載の技術的事項」という。)が、記載されている。 6 甲7 段落0035の記載からみて、甲7には、本件特許発明に関して「レーザ発振器において、パルスの繰返し周波数で発振指令を出力すること」(以下「甲7記載の技術的事項」という。)が、記載されている。 第5 当審の判断 1 本件特許発明1の進歩性 (1)甲1発明を主引用例とする進歩性の理由について ア 本件特許発明1と甲1発明の対比 (ア)甲1発明の「レーザ」は本件特許発明1の「パルスレーザビーム」に相当し、以下同様に、「発振」は「出力」に、「レーザ発振器2」は「レーザ発振器」に相当する。 (イ)甲1発明の「AOM駆動信号D」は本件特許発明1の「切出指令」に相当し、以下同様に「レーザパルスL1」は「レーザパルス」に、「AOM偏向部3」は「切出光学系」にそれぞれ相当する。そして、甲1発明の「前記レーザのレーザパルスL1を加工方向に偏向させて加工用のレーザパルスL2を取出す」は本件特許発明1の「前記パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有する」に相当する。 (ウ)甲1発明の「レーザ発振指令信号Sがオンとなってから時間T2、T5後の、レーザ発振器2のレーザ出力が徐々に上がっていくタイミングで、AOM駆動信号Dが所定時間T3、T6だけオンとなり、加工用のレーザパルスL2が取出される」と本件特許発明1の「前記レーザパルスの立上がり時点より前の時点で、前記切出光学系に前記切出指令を出力し、かつ前記切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、前記レーザパルスの立上がり時点より後になるように、前記切出指令を出力する」とを対比すると、両者は「前記切出光学系に前記切出指令を出力する」という点に限り一致する。 イ 本件特許発明1と甲1発明の一致点及び相違点 本件特許発明1と甲1発明とは、次の(ア)の点で一致し、(イ)の点で相違する。 (ア)一致点 パルスレーザビームを出力するレーザ発振器と、 前記パルスレーザビームが入射し、切出指令が入力されてから前記パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有する切出光学系と を制御するレーザ制御装置であって、 前記切出光学系に前記切出指令を出力するレーザ制御装置。 (イ)相違点 切り出し光学系に関し、本件特許発明1は、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有し、切出指令がレーザパルスの立上がり時点より前であり、かつ、切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、レーザパルスの立上がり時点より後になるように出力されるのに対して、甲1発明の切出光学系は、切出指令(AOM駆動信号D)が、レーザ出力が徐々に上がっていくタイミング(レーザパルスの立上がり時点より後)で所定時間だけオンとなり(出力され)、オンとなった期間だけ(出力された期間だけ)加工用のレーザパルスL2が取出され、したがって、動作遅延時間の有無については考慮されていない点。 ウ 相違点の検討 (ア)甲1発明と甲3記載の技術的事項のパルスの制御の内容について 甲1発明は、音響光学素子(AOM)を制御してレーザパルスを加工方向か非加工方向に偏向することで、加工に用いるレーザパルスの強さや幅を制御するものである。 これに対して、申立ての理由において、相違点の構成が開示されているとして検討された甲3記載の技術的事項は、レーザシステムにおけるQスイッチを開閉して発生させるパルスの制御に関し、特にパルスが低繰返率の場合に、被加工物である抵抗を加工するための一次パルス36に引き続いて、加工には望ましくない二次パルスおよび連続波(CW)が出力することから、一次パルス36が放射される直前に音響-光変換器(AOM)26をトリガして、加工に用いる一次パルス36を抵抗に向って偏向し、次いで音響-光変換器(AOM)26をオフに切り替え、加工には望ましくない二次および連続波(CW)出力38が熱だめ28に投入される制御を行うものである。 そうすると、甲1発明と甲3記載の技術的事項は、音響光学素子(AOM)を制御して、レーザパルスを加工方向か非加工方向に切り替える点では共通するものの、前者はレーザパルスの所定時間加工方向に偏向させることで加工に有効なレーザパルスのエネルギの加工に用いる割合を調整するものであるのに対して、後者は加工に有効なレーザパルスを加工方向に偏向させ、加工には望ましくないレーザパルスを非加工方向に変更させるものであって、両者はレーザパルスを加工方向か非加工方向に切り替えることの目的や内容が全く異なる。 したがって、甲1発明に、甲3記載の技術的事項の「一次パルス36が放射される直前に音響-光変換器(AOM)26をトリガ」することを適用しても、甲1発明において、加工には望ましくない二次パルスや連続波(CW)が仮に出力される場合に、その望ましくないレーザパルスを非加工方向に変更させることを想到するまでにすぎず、上記相違点に係る本件特許発明1のように「動作遅延時間を有し、切出指令がレーザパルスの立上がり時点より前であり、かつ、切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、レーザパルスの立上がり時点より後になるように出力される」ことを想到し得たということはできない。 すなわち、甲3記載の技術的事項が「一次パルス36が放射される直前に音響-光変換器(AOM)26をトリガ」するのは、「次いで音響-光変換器(AOM)26をオフに切り替え、望ましくない二次および連続波(CW)出力38が熱だめ28に投入される」ことで、一次パルスのみを加工に用いるためであり、「切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点」について、甲3には「レーザパルスの立上がり時点より後になる」ことについて記載も示唆もなく、むしろレーザパルスの立上がり時点より前になる方が一次パルスを有効に利用できるのであるから、甲1発明に、上記のように甲3記載の技術的事項を適用することで本件特許発明1に想到することが、当業者にとって容易とはいえない。 (イ)動作遅延時間について さらに、甲1発明及び甲3記載の技術的事項のレーザパルスの制御においては、いずれも切出指令と切出光学系の動作遅延時間、換言すれば音響光学素子(AOM)の切り替えを指令する信号と切り替え動作の開始との間の動作遅延時間は考慮されていないから、甲1発明に甲3記載の技術的事項を適用しても、上記相違点に係る本件特許発明1の「動作遅延時間」に関する内容を充足することはなく、この観点からも、やはり本件特許発明1に想到することが容易とはいえない。 これに関して、申立ての理由[(4-3-1)のイ)構成要件B:特許異議申立書第15ページ]においては、甲5及び甲6を引用して「切出光学系において、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有すること」の事項(上記第4の5の甲5~6記載の技術的事項を参照。)について周知技術である旨の説明がされている。しかしながら、たとえ当該事項が周知技術であるとしても、甲1発明及び甲3の技術的事項に関し、甲1及び甲3には、上記相違点の「動作遅延時間を有し、切出指令がレーザパルスの立上がり時点より前であり、かつ、切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、レーザパルスの立上がり時点より後になるように出力される」ことまでが記載されているとも示唆されているともいえず、また技術常識からみてそのように理解できるものではないから、甲1発明に甲3の技術的事項を適用し、当該周知技術を勘案しても、本件特許発明1に想到することが当業者にとって容易であるとはいえない。 エ 本件特許発明1の進歩性についてのまとめ 上記ウのとおりであるから、本件特許発明1は、甲1発明、甲3記載の技術的事項、及び甲5~甲6に例示される周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものではない。 (2)甲2発明を主引用例とする進歩性の理由について ア 本件特許発明1と甲2発明の対比 (ア)甲2発明の「パルスレーザビームPLB」は本件特許発明1の「パルスレーザビーム」に、同様に「レーザ光源10」は「レーザ発振器」に相当する。 (イ)甲2発明の「切出信号S2」は本件特許発明1の「切出指令」に相当し、以下同様に、「原初レーザパルスLP0」は「レーザパルス」に、「音響光学偏向器AOD」は「切出光学系」にそれぞれ相当する。そして、甲2発明の「切出信号S2が入力されてから」、「前記パルスレーザビームPLBの原初レーザパルスLP0をビームダンパ13に向かうダンパ経路PD、及び第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP1、MP2に振り向ける」は、本件特許発明1の「切出指令が入力されてから」、「前記パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有する」に相当する。 (ウ)甲2発明の「発振指令信号S0の送出を時刻t2にて開始し、レーザ光源10からパルスレーザビームPLBのレーザパルスの出力が開始されたあとの時刻t3で前記切出信号S2が送出され、パルス幅PW1、PW2の間、第1の加工経路MP1及び第2の加工経路MP2のうち経路選択信号S1によって選択されている方の経路にそれぞれ第1のレーザパルスLP1及び第2のレーザパルスLP2を振り向ける」と、本件特許発明1の「前記レーザパルスの立上がり時点より前の時点で、前記切出光学系に前記切出指令を出力し、かつ前記切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、前記レーザパルスの立上がり時点より後になるように、前記切出指令を出力する」とを対比すると、両者は「前記切出光学系に前記切出指令を出力する」という点に限り一致する。 イ 本件特許発明1と甲2発明の一致点及び相違点 本件特許発明1と甲2発明とは、次の(ア)の点で一致し、(イ)の点で相違する。 (ア)一致点 パルスレーザビームを出力するレーザ発振器と、 前記パルスレーザビームが入射し、切出指令が入力されてから前記パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有する切出光学系と を制御するレーザ制御装置であって、 前記切出光学系に前記切出指令を出力するレーザ制御装置。 (イ)相違点 切り出し光学系に関し、本件特許発明1は、切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、パルスレーザビームのレーザパルスの一部の切り出しを開始する特性を有し、切出指令がレーザパルスの立上がり時点より前であり、かつ、切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、レーザパルスの立上がり時点より後になるように出力されるのに対して、甲2発明の切出光学系は、切出指令(切出信号S2)が、レーザ光源10からパルスレーザビームPLBのレーザパルスの出力が開始されたあとの時刻t3(レーザパルスの立上がり時点より後)になるように出力され、したがって、動作遅延時間の有無については考慮されていない点。 ウ 相違点の検討 この本件特許発明1と甲2発明の相違点は、上記(1)イ(イ)の本件特許発明1と甲1発明の相違点と同様の内容である。 したがって、上記(1)において甲1発明を主引用例として検討したのと同様に、本件特許発明1は、甲2発明、甲3記載の技術的事項、及び甲5~甲6に例示される周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものではない。 (3)他の各甲号証について 上記(1)~(2)より、甲1~甲3には、いずれも、上記(1)イ(イ)及び(2)イ(イ)の相違点について記載されておらず、また、他の各甲号証の甲4から甲7も、上記第4の4~6の内容(甲4~甲7記載の技術的事項)からみて、当該相違点については記載されていないことが明らかである。 (4)本件特許発明1の進歩性のまとめ 上記(1)~(3)のとおりであるから、本件特許発明1は、甲1~甲7に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 2 本件特許発明2~3の進歩性 本件特許発明2~3は、本件特許発明1を引用する発明であり、それぞれ、本件特許発明1に対してさらに発明特定事項を追加したものであるから、本件特許発明2~3は、上記1で本件特許発明1について検討したのと同様に、甲1~甲7に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 したがって、請求項2~3に係る特許を、申立て理由における進歩性の理由により取り消すことはできない。 3 本件特許発明4の進歩性 本件特許発明4は、「レーザパルス切出し方法」の発明特定事項であるところ、請求項4には「切出指令が入力されてから一定の動作遅延時間が経過した時点において、前記レーザパルスの一部の切り出しを開始する」、及び「前記レーザパルスの立上がり時点より前の時点で、前記切出光学系に前記切出指令を出力し、前記切出指令を出力した時点から前記動作遅延時間だけ経過した時点が、前記レーザパルスの立上がり時点より後になるように、前記切出指令を出力する」という上記(1)イ(イ)の本件特許発明1と甲1発明の相違点、及び上記(2)イ(イ)の本件特許発明1と甲2発明の相違点に係る発明特定事項を含むものであるから、本件特許発明4は、上記1で本件特許発明1について検討したのと同様に、甲1~甲7に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 したがって、請求項4に係る特許を、申立て理由における進歩性の理由により取り消すことはできない。 4 小括 したがって、請求項1~4に係る特許は、特許法第29条第2項に規定に違反してされたものではない。 第6 むすび 以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び証拠によっては、請求項1~4に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に請求項1~4に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。

審決本文(J-PlatPat)

J-PlatPatの審決検索トップを開きます。番号入力で「審判番号」を選び、下の番号を貼り付けて検索してください。

J-PlatPat 審決検索を開く
2025-700079

番号・当事者・条文・審決分類・商標の称呼が一致(または近い)審決を機械的に集めた候補です。判断内容は各審決の本文でご確認ください。

同じ当事者の審決239件(住友重機械工業株式会社、大森 隆一)
  • 2025-700769異議申立 / 2026-03-31 / 訂正認容ケミカルルーピングシステム及びケミカルルーピング法
    同じ当事者: 住友重機械工業株式会社
  • 2025-700095異議申立 / 2026-03-26 / 訂正認容作業機械用周辺監視システム
    同じ当事者: 住友重機械工業株式会社
  • 2025-700619異議申立 / 2026-01-29 / 訂正認容めっき用熱可塑性樹脂組成物、樹脂成形品及びめっき部品
    同じ当事者: 大森 隆一
  • 2024-700336異議申立 / 2025-10-21 / 訂正認容エア加工糸(ATY)及びその製造方法
    同じ当事者: 大森 隆一
  • 2023-701088異議申立 / 2025-10-06 / 請求成立(取消)ショベル及びショベル用のシステム
    同じ当事者: 住友重機械工業株式会社
同じ論点・分野の審決(審決分類)339件(121・B23K)
  • 2025-700532異議申立 / 2026-06-09 / 訂正認容レーザ溶接方法およびレーザ溶接装置
    共通の審決分類: 121・B23K
  • 2025-700866異議申立 / 2026-04-28 / 訂正認容接合方法、接合体および流路付きプレート
    共通の審決分類: 121・B23K
  • 2025-700177異議申立 / 2026-03-31 / 訂正認容溶接継手、鋼板、鋼部材、及び自動車部材
    共通の審決分類: 121・B23K
  • 2025-700639異議申立 / 2026-03-19 / 維持溶接部品および溶接部品の製造方法
    共通の審決分類: 121・B23K
  • 2025-700417異議申立 / 2026-03-03 / 維持レーザ溶接機
    共通の審決分類: 121・B23K

メモ・タグ(非公開)

あなただけに表示されます。審決本文の公開範囲は変わりません。

メモとタグは Pro の機能です。ログイン/Proでメモを保存