2023-700213

特許第７１２５６８３号発明「蒸着マスクを製造するための金属板並びに蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７１２５６８３号の請求項１ないし１１に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７１２５６８３号の請求項１～１１に係る特許についての出願は、２０１８年（平成３０年）１１月１３日（優先権主張 平成２９年１１月１４日、同年１２月２６日、平成３０年１月１１日）を国際出願日とする特願２０１９－５５４２１１号の一部を新たな特許出願として令和２年１０月２８日に出願された特願２０２０－１８０５７７号の一部をさらに新たな特許出願として令和３年８月１８日に出願されたものであり、令和４年８月１７日にその特許権の設定登録がされ、同年同月２５日に特許掲載公報が発行され、その後、請求項１～１１（全請求項）に係る特許について、令和５年２月２４日に特許異議申立人小海善史（以下、「異議申立人」という。）により特許異議の申立てがなされたものである。 第２ 本件発明 本件特許の請求項１～１１に係る発明（以下、各請求項に係る発明及び特許を項番に対応して「本件発明１」、「本件特許１」などといい、併せて「本件発明」、「本件特許」ということがある。）は、それぞれ、その特許請求の範囲の請求項１～１１に記載された事項により特定される以下のとおりのものである。 「【請求項１】 蒸着マスクを製造するための金属板であって、 前記金属板は、前記金属板の表面に位置する複数の窪みを有し、 前記表面は、０．１ｍｍ２以上の面積を有する検査領域を含み、前記複数の窪みの一部が、前記検査領域に位置し、 前記金属板は、１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））を有し、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され、 前記窪み補正容積は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．２μｍ以上離れた部分の容積の総和であり、 前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され、 前記金属板は、６０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））を有し、 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され、 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））の２．１６倍以上８．６６倍以下である、金属板。 【請求項２】 前記検査領域の面積は１．５ｍｍ２以下である、請求項１に記載の金属板。 【請求項３】 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））が９９６μｍ３／ｍｍ２以上である、請求項１又は２に記載の金属板。 【請求項４】 前記金属板は、ニッケルを含む鉄合金からなる、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の金属板。 【請求項５】 蒸着マスクを製造する方法であって、 請求項１乃至４のいずれか一項に記載の金属板を準備する工程と、 前記金属板をエッチングして前記金属板に貫通孔を形成する加工工程と、を備える、蒸着マスクの製造方法。 【請求項６】 蒸着マスクであって、 表面に位置する複数の窪みを有する金属板と、 前記金属板に形成された貫通孔と、を備え、 前記表面は、０．１ｍｍ２以上の面積を有する検査領域を含み、前記複数の窪みの一部が、前記検査領域に位置し、 前記金属板は、１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））を有し、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され、 前記窪み補正容積は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．２μｍ以上離れた部分の容積の総和であり、 前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され、 前記金属板は、６０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））を有し、 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され、 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））の２．１６倍以上８．６６倍以下である、蒸着マスク。 【請求項７】 前記検査領域の面積は１．５ｍｍ２以下である、請求項６に記載の蒸着マスク。 【請求項８】 前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））が９９６μｍ３／ｍｍ２以上である、請求項６又は７に記載の蒸着マスク。 【請求項９】 前記金属板は、ニッケルを含む鉄合金からなる、請求項６乃至８のいずれか一項に記載の蒸着マスク。 【請求項１０】 前記金属板は、前記蒸着マスクを介して蒸着材料が付着される基板に対面する第１面と、前記第１面の反対側に位置する第２面と、を含み、 前記貫通孔は、前記第１面に位置する第１凹部と、前記第２面に位置し、前記第１凹部に接続されている第２凹部と、を含む、請求項６乃至９のいずれか一項に記載の蒸着マスク。 【請求項１１】 前記金属板の前記第２面は、平面視において隣り合う２つの前記第２凹部の間に位置し、平面視において２μｍ以下の寸法を有するトップ部を含む、請求項１０に記載の蒸着マスク。」 第３ 特許異議の申立理由 （１）特許法第３６条第４項第１号所定の規定違反（実施可能要件違反）（以下、「申立理由１」という。） 本件特許１～１１は、明細書の記載が後記第４の１（１）の点で不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものである。 申立理由１について、以下の証拠が提出されている。 甲第１号証：Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ、特許情報プラットフォーム、特許・実用新案検索、テキスト検索対象：和文、文献種別：国内文献、検索項目：全文、キーワード：窪み補正容積密度による検索結果の出力物、https://www.j-platpat.inpit.go.jp/p0100 甲第２号証：Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ、特許情報プラットフォーム、経過情報照会、特許出願２０２１－１３３６３１ 公開２０２１－１９３２１１、分割出願情報タブの出力物、https://www.j-platpat.inpit.go.jp/h0000 甲第３号証：Ｊ－ＰｌａｔＰａｔ、特許情報プラットフォーム、経過情報照会、意見書（特許出願２０２１－１３３６３１）の出力物、https://www.j-platpat.inpit.go.jp/h0101 （２）特許法第３６条第６項第１号所定の規定違反（サポート要件違反）（以下、「申立理由２」という。） 本件特許１～１１は、特許請求の範囲の記載が後記第４の２（１）の点で不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものである。 （３）特許法第３６条第６項第２号所定の規定違反（明確性要件違反）（以下、「申立理由３」という。） 本件特許１～１１は、特許請求の範囲の記載が後記第４の３（１）の点で不備のため、特許法第３６条６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものである。 申立理由３について、以下の証拠が提出されている。 甲第４号証：新村 出 編「広辞苑 第七版」株式会社岩波書店、２０１８年１月１２日、９３９頁、「けん・さ【検査】」 第４ 当審の判断 １ 申立理由１（実施可能要件違反）について （１）特許異議申立書に記載の論拠 ア 「窪み補正容積密度」の制御に関する記載について 本件発明は、「窪み補正容積密度」というパラメータを用いて、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ２（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係を定量的に規定することで、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高める（本件特許の課題を解決する）」ことを技術的思想としている。このように、「窪み補正容積密度」は、本件発明の課題に直結する極めて重要なパラメータである。 したがって、本件明細書の発明の詳細な説明の記載及び出願時の技術常識に照らして、当業者が、窪み補正容積密度の制御方法を認識できる必要があり、かかる要件を満足しない場合には、本件発明は、特許法３６条第４項第１号に規定する実施可能要件を満足しないと考えるべきである。 ここで、「窪み補正容積密度」は、分割出願である本件出願の原出願において規定された独自のパラメータであるから、窪み補正容積密度の制御方法は、出願時の技術常識に照らして、当業者が認識できないと評価すべきである（甲第１号証、甲第２号証）。 次に、本件明細書の記載内容について考察すると、本件明細書には、「窪み補正容積密度」の制御方法について、【００６９】、【００７０】、【００７２】～【００７６】には、圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量、クーラントの種類及び圧延ロールの表面粗度Ｒａを制御することによって、「窪み補正容積密度」を制御できる点が一応開示されている。 しかしながら、上記の【００７０】、【００７３】、【００７６】から明らかなように、本件明細書には、「窪み補正容積密度」を制御するための製造条件である圧延ロールの直径、圧延速度及び圧延ロールの表面粗度Ｒａの好ましい数値範囲が単に列挙されているに過ぎず、これらの製造条件の数値をどのように組み合わせれば、窪み補正容積密度が制御され、本件発明に係る金属板が製造できるか、本件明細書に開示も示唆もない。 また、一般的に、実施例には実施形態よりも詳細な製造条件の記載が求められるところ、本件明細書に記載されている実施例には、工程名称の記載しかなく、実施例の記載を参照しても、「窪み補正容積密度」を制御するための製造条件（圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量、クーラントの種類及び圧延ロールの表面粗度Ｒａ）をどのように制御すれば本件発明１に係る金属板が得られるのか、全く不明である。 さらに、特許権者（出願人）は、拒絶理由通知に対する意見書（甲第３号証）において、「本件特許発明１に係る金属板は、本件特許明細書に記載された製造条件（圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量及び圧延ロールの表面粗度Ｒａ）および数値範囲を満たすのみでは製造することができず、被圧延材の組成や圧延によって得られる金属板の仕様など、本件特許明細書に記載されていない種々の条件を考慮して適切な製造条件を設定することによって、初めて製造することができる」ことが主張されている。してみると、本件明細書において、本件発明に係る金属板を製造するために必要十分な製造条件が開示されていないことは、本件特許の権利者自身も認めるところであり、窪み補正容積密度が本件特許の独自パラメータであることに鑑みれば、当業者が実施できるように本件明細書は記載されていない、と考えざるを得ない。 このように、本件明細書の発明の詳細な説明には、「圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量及び圧延ロールの表面粗度Ｒａをどのように制御すれば、本件発明に係る金属板を製造できるか」について開示も示唆もなく、また、特許権者の意見書における主張を参酌すると、本件明細書に記載されていない製造条件も窪み補正容積密度に影響を及ぼすと考えざるを得ないから、本件明細書の発明の詳細な説明に基づいて、どのように窪み補正容積密度を本件発明規定の範囲に制御し、本件発明に係る金属板を製造することができるのかを理解することができない。 したがって、本件特許の発明の詳細な説明には、本件発明について、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない（１３頁１７行～１９頁２５行）。 イ 本件発明の課題を解決することに関する「窪み補正容積密度」の記載について 本件発明は、後記２（１）イのとおり、課題解決のために窪み補正容積密度Ｖ２の数値範囲を限定している一方、実施例には、従来技術における表面起伏の指標（算術平均粗さＲａ) と、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との間の相関を示す比較例が記載されていない。したがって、窪み補正容積密度Ｖ２の数値限定によって、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高めることができる（本件特許の課題が解決できる）」ということはできない。 このような、課題解決の可否すらも不明な金属板をどのように製造すればよいか、本件明細書の発明の詳細な説明に基づいても、当業者は当然に理解することができない。 したがって、本件明細書の発明の詳細な説明には、本件発明１について、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない（２４頁３～１９行）。 ウ 「検査領域」等の記載について 後記３（１）のとおり、本件発明において、「検査領域（適不適や異状・不正の有無を調べる検査工程に供される領域）」及び「検査工程」によって金属板の何を特定しようとしているのか、不明であり、本件発明の「検査領域」、「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され」、「前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され」及び「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ）は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され」の技術的意義を物の発明の構成要件として理解することができない。 そうすると、本件明細書の発明の詳細な説明の記載及び出願時の技術常識に基づいても、技術的意義が理解できない構成要件を備えた本件発明の金属板を、どのようにすれば製造することができるのか、当業者は当然に理解することができない。 このように、本件明細書の発明の詳細な説明には、本件発明について、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されていない（２６頁１７行～２７頁４行）。 （２）実施可能要件に関する当審の判断 ア 本件発明における実施可能要件の判断手法 発明の詳細な説明の記載が特許法第３６条第４項第１号に係る規定（実施可能要件）に適合するというためには、明細書の発明の詳細な説明に、当業者が、明細書の発明の詳細な説明及び出願時の技術常識に基づいて、過度の試行錯誤を要することなく、その発明を実施することができる程度に発明の構成等の記載があることを要すると解される。そして、この規定のいう「実施」とは、物の発明においては、当該発明にかかる物の生産、使用等をいうものであるから、実施可能要件を満たすといえるためには、明細書の発明の詳細な説明の記載は、当業者が当該発明に係る物を生産し、使用することができる程度のものでなければならない。 そして、本件発明は、「窪み補正容積密度」というパラメータを用いて、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ２（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係の範囲を特定するものであるから、本件発明における実施可能要件の判断は、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ２（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係の範囲を特定する本件発明に係る金属板（蒸着マスク）を、当業者が、明細書の発明の詳細な説明及び出願時の技術常識に基づいて、過度の試行錯誤を要することなく、生産することができる程度の記載があるか否かで判断する。 イ 窪み補正容積密度に関する本件明細書の発明の詳細な説明の記載 本件明細書には、本件発明の金属板の概略的な製造方法が、特に、【００６９】～【００７６】に記載され、【００６９】には、「圧延工程においては、母材６０に接触する圧延ロール６６ａ，６６ｂの直径を調整することにより、金属板６４の表面粗さを調整することができる。例えば、圧延ロール６６ａ，６６ｂの直径を小さくすることにより、金属板６４の表面に存在する後述する窪みの容積を小さくすることができる。これにより、例えば、後述する窪み補正容積密度を１５０００μｍ３／ｍｍ２以下にすることができる。」との記載があり、圧延工程における圧延ロールの直径を小さくすることにより、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができることが理解でき、【００７０】には、圧延ロールの好ましい直径の範囲が記載されている。 そして、【００７２】には、「圧延工程においては、圧延速度、すなわち母材の搬送速度を調整してもよい。なお、窪み補正容積密度をより小さくするという観点においては、圧延速度を遅くすることが好ましい。圧延速度を遅くすることにより、母材６０と圧延ロール６６ａ，６６ｂとの間に巻き込まれる圧延オイルなどのクーラントの量を減少させることができる。これにより、金属板６４の表面に形成されるオイルピットの数、面積などを減少させることができる。」との記載があり、圧延工程における圧延速度を遅くすることにより、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができること、母材と圧延ロールとの間に巻き込まれる圧延オイルなどのクーラントの量を減少させることにより、金属板の表面に形成されるオイルピットの数、面積などを減少させることができること、すなわち、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができることが理解でき、【００７３】には、好ましい圧延速度の範囲が記載されている。 また、【００７４】には、「冷間圧延工程においては、母材６０と圧延ロール６６ａ，６６ｂとの間に灯油やニート油などのクーラントを供給してもよい。これにより、母材の温度を制御することができる。なお、窪み補正容積密度をより小さくするという観点においては、クーラントの供給量を少なくすることが好ましい。」との記載があり、冷間圧延工程において、母材と圧延ロールとの間に供給するクーラントを少なくすることにより、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができること、【００７５】には、「クーラントを適切に選択することによっても、金属板６４の表面に形成されるオイルピットや圧延筋の数、面積などを調整することができる。例えば、クーラントとしてニート油を用いることができる。ニート油は、圧延時の粘度の上昇が生じにくいという特性を有する。このため、クーラントとしてニート油を用いることにより、母材６０と圧延ロール６６ａ，６６ｂとの間に巻き込まれるクーラントの量を低減することができる。これにより、金属板６４の表面にオイルピットが形成されることを抑制することができる。」との記載があり、クーラントを適切に選択することによって、金属板の表面に形成されるオイルピットや圧延筋の数、面積などを調整することができること、例えば、クーラントとしてニート油を用いることにより、母材と圧延ロールとの間に巻き込まれるクーラントの量を低減することができ、金属板の表面にオイルピットが形成されることを抑制することができること、すなわち、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができることが理解できる。 さらに、【００７６】には、「圧延ロールの表面粗さを適切に選択することによっても、金属板６４の表面に形成されるオイルピットや圧延筋の数、面積などを調整することができる。例えば、圧延ロールの表面粗度Ｒａを小さくすることにより、金属板６４の表面に圧延筋が形成されることを抑制することができる。」との記載があり、圧延ロールの表面粗さを適切に選択することによって、金属板の表面に形成されるオイルピットや圧延筋の数、面積などを調整することができること、例えば、圧延ロールの表面粗度Ｒａを小さくすることにより、金属板の表面に圧延筋が形成されることを抑制することができること、すなわち、窪み補正容積密度を小さくする方向に調整することができることが理解でき、同段落には、圧延ロールの好ましい表面粗度Ｒａの範囲が記載されている。 ウ 上記イの記載を踏まえた実施可能要件の判断 上述のような圧延ロールの直径を小さくすることによる調整、圧延速度を遅くすることによる調整、圧延オイル等のクーラントを減少させることによる調整、クーラントとしてニート油等を用いることによる調整、圧延ロールの表面粗さを小さくすることによる調整により、窪み補正容積密度を減少させることができることが記載されているのであるから、これらの窪み補正容積密度を小さくする方向に各条件を調整することにより、本件発明に特定される「１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））を有し」、また、「６０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））を有し」との条件を満たす金属板を製造することは、十分可能であるといえる。 また、本件発明の「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））の２．１６倍以上８．６６倍以下である」との条件については、【０１５９】～【０１８１】に記載される本件発明の実施例において製造された第１サンプル～第１０サンプルの内、本件発明における窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））及び窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））の条件を満たす第１、第２、第４～第９サンプルの内、そのほとんどである第２、第４～第９サンプルで、上記の条件を満たしていることを考慮すると、本件発明における「１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））を有し」、また、「６０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））を有し」との条件を満たす調整を行えば、さらに何らかの特別な調整を要することなく、本件発明で特定される「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））の２．１６倍以上８．６６倍以下である」との条件を満たすように調整することも、各窪み補正容積密度の条件を考慮しながら、製造条件を最適化していくという、製造工程を確立する上で当業者が通常行う条件設定の作業の範囲内で可能であるといえる。 加えて、本件明細書に記載される金属板の製造工程は、【０１１４】～【０１２３】に記載されるように、本件発明の窪み補正容積密度の条件を満たす金属板のみを選別する工程を備えるものであり、上述の圧延工程における各条件の調整により、本件発明の窪み補正容積密度の条件を満たす金属板「のみ」を製造しなければならないというものでもないから、本件発明の窪み補正容積密度の条件を満たす金属板を、過度の試行錯誤を行わなければ製造することができないということはない。 そうすると、本件発明の金属板を製造するのに、当業者に期待し得る程度を超える試行錯誤又は複雑高度な実験等をする必要があるとはいえず、当業者であれば、本件明細書の発明の詳細な説明の記載により、本件発明（本件発明１～１１）を実施することができるというべきであるから、本件明細書の詳細な説明の記載は、本件発明（本件発明１～１１）についての実施可能要件を満たしているというべきである。 （３）特許異議申立書に記載の論拠に対する判断 ア 上記（１）アに対する判断 上記（１）アの理由は、要は（ｉ）「窪み補正容積密度」は、分割出願である本件出願の原出願において規定された独自のパラメータであるから、窪み補正容積密度の制御方法は、出願時の技術常識に照らして、当業者が認識できないと評価すべきである、（ｉｉ）「窪み補正容積密度」を制御するための製造条件である圧延ロールの直径、圧延速度及び圧延ロールの表面粗度Ｒａの好ましい数値範囲等の製造条件の数値をどのように組み合わせれば良いのか本件明細書に開示も示唆もない、（ｉｉｉ）特許権者が本件特許出願の審査段階での意見書で行った「本件特許発明１に係る金属板は、本件特許明細書に記載された製造条件（圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量及び圧延ロールの表面粗度Ｒａ）および数値範囲を満たすのみでは製造することができず、被圧延材の組成や圧延によって得られる金属板の仕様など、本件特許明細書に記載されていない種々の条件を考慮して適切な製造条件を設定することによって、初めて製造することができる」との主張を考慮すると、本件明細書には、本件発明に係る金属板を製造するために必要十分な製造条件が開示されていない、というものである。 しかしながら、（ｉ）「窪み補正容積密度」の用語自体は、独自のものであるとしても、「窪み補正容積密度」の内容自体は、本件明細書の【００９０】、【０１１１】～【０１１３】等の記載により十分理解できるものであるし、その内容は、従来よりよく知られている金属板表面に存在するオイルピットなどの凹部を対象とするものである。そうすると、用語自体が、独自のものであるから、その制御方法が、出願時の技術常識に照らして、当業者が認識できないということはない。 また、（ｉｉ）上記（２）イ及びウで述べたように、窪み補正容積密度を調整するための製造条件である圧延ロールの直径、圧延速度及び圧延ロールの表面粗度Ｒａ等の条件は、例えば窪み補正容積密度を小さくする調整に対してそれぞれ相反するものであるとはいえず、それらの条件の組み合わせまでを開示しなければ、本件発明の金属板が製造できないということはない。 さらに、（ｉｉｉ）本件発明に対する実施可能要件は、まずは、本件明細書の発明の詳細な説明の記載で判断すべきであるところ、本件明細書の発明の詳細な説明の記載が本件発明に対する実施可能要件を満たしていることは上記（２）で述べたとおりである。仮に、本件特許出願の審査段階での意見書で主張されたように、窪み補正容積密度が、「被圧延材の組成や圧延によって得られる金属板の仕様」などの条件に影響されるとしても、これらの仕様を前提とした上で、圧延ロールの直径、圧延速度及び圧延ロールの表面粗度Ｒａ等の調整を行えば、本件発明の窪み補正容積密度の条件を満たす金属板を製造することは、十分可能であるといえる。 そうすると、上記（ｉ）～（ｉｉｉ）の点を考慮したとしても、本件発明に対する本件明細書の発明の詳細な説明の記載が実施可能要件を満たしていないとすることはできない。 イ 上記（１）イに対する判断 本件明細書の発明の詳細な説明の記載が実施可能要件を満たしているか否かは、上記（２）アで述べた判断基準により判断すべきものであるから、上記（１）イの理由は、本件明細書の発明の詳細な説明における実施可能要件の判断を左右するものではない。 念のため、上記（１）イの点を考慮したとしても、本件発明が、窪み補正容積密度Ｖ２の数値限定によって、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高めることができる」ものであることは、後記２（３）イで述べるとおりである。 ウ 上記（１）ウに対する判断 後記３（２）で述べるように、本件発明において、「検査領域」に関する記載は、本件発明の金属板の構造を特定するパラメータである「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））」及び「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））」を特定するためのものであり、「検査工程」を意味するものではないし、「検査領域」によって金属板の何を特定しているのか不明であるということはない。 そうすると、特に本件発明に記載された構成要件の技術的意義を物の発明の構成要件として理解することができないということはないから、上記（１）ウの点で、本件発明に対する本件明細書の発明の詳細な説明の記載が実施可能要件を満たしていないとすることはできない。 （４）小括 以上のとおりであるから、申立理由１には、理由がない。 ２ 申立理由２（サポート要件違反）について （１）特許異議申立書に記載の論拠 ア 「窪み補正容積密度」の制御に関する記載について 本件発明には、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ３（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係がそれぞれ規定されている。 一方、上記１（１）アのとおり、本件明細書の発明の詳細な説明には、「圧延ロールの直径、圧延速度、クーラントの供給量及び圧延ロールの表面粗度Ｒａをどのように制御すれば、本件発明に係る金属板を製造できるか」について、開示も示唆もない。また、特許権者（出願人）の意見書における主張を参酌すると、本件明細書に記載されていない製造条件も窪み補正容積密度に影響を及ぼすと考えざるを得ない。 してみると、本件発明において規定されている窪み補正容積密度の数値範囲及び大小関係を有する金属板は、本件明細書の発明の詳細な説明に記載された制御方法のみでは製造することができない。 したがって、本件特許の請求項１に記載されている事項は、本件特許の発明の詳細な説明に記載された範囲を超えるものである（１９頁末行～２０頁１３行）。 イ 本件発明の課題を解決することに関する「窪み補正容積密度」の記載について 本件発明は、「窪み補正容積密度」というパラメータを用いて、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ２（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係を定量的に規定することで、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高める（本件発明の課題を解決する）」ことを技術的思想としている。 ここで、サポート要件に関しては、「特許請求の範囲の記載が明細書のサポート要件に適合するか否かは，特許請求の範囲の記載と発明の詳細な説明の記載とを対比し，特許請求の範囲に記載された発明が，発明の詳細な説明に記載された発明で，発明の詳細な説明の記載により当業者が当該発明の課題を解決できると認識できる範囲のものであるか否か，また，その記載や示唆がなくとも当業者が出願時の技術常識に照らし当該発明の課題を解決できると認識できる範囲のものであるか否かを検討して判断すべきものである。」と示されている（平成１７年（行ケ）第１０５７９号）。 当該判示に鑑みれば、本件発明における、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）の数値範囲、窪み補正容積密度Ｖ２（０．３μｍ）の数値範囲、及びこれらの大小関係の規定によって、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高めることができる」との効果を奏し、本件発明の課題が解決できることが、本件明細書の記載を根拠として認識できる必要がある。 ここで、以下の表は、本件図面の図３４の引用であり、本件発明の実施例に対応する窪み補正容積密度Ｖ２の算出結果である。 ［図：0001398316000001.jpg］ 実施例の算出結果における、第２サンプル、第４サンプル～第９サンプルが、本件発明１の数値範囲に属する実施例である。 本件明細書の実施例以外の部分において、本件発明の数値範囲を満たすことで本件特許の課題を解決することができる旨の開示も示唆もない点に鑑みると、本件発明によって本件発明の課題が解決できることを示すためには、上記実施例の第２サンプル、第４サンプル～第９サンプルによって「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高めることができる（本件特許の課題が解決できる）」ことが示されている必要がある。 しかしながら、本件発明の実施例には、従来技術における表面起伏の指標（算術平均粗さＲａ）と、金属板に形成される貫通孔の寸法精度と、の間の相関を示す比較例について、開示も示唆もない。すなわち、本件発明の実施例には、「窪み補正容積密度Ｖ２の数値範囲等を本件発明の範囲に限定することで、従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高めることができる（本件特許の課題が解決できる）」ことが示されていない。したがって、上記実施例を根拠として本件発明１によって本件特許の課題が解決できるということはできない。 また、上記１（１）アにおいて説明したように、本件発明のパラメータ「窪み補正容積密度」は本件発明の独自パラメータであるため、「窪み補正容積密度」の制御方法は、技術常識に基づいて理解することができない。したがって、本件発明１は、当業者が出願時の技術常識に照らし、本件特許の課題を解決できると認識できる範囲のものであるとはいえない（２０頁１５行～２４頁２行）。 ウ 「検査領域」等の記載について 後記３（１）のとおり、本件発明１において、「検査領域（適不適や異状・不正の有無を調べる検査工程に供される領域）」及び「検査工程」によって金属板の何を特定しようとしているのか、不明であり、本件発明の「検査領域」、「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され」、「前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され」及び「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ）は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され」の技術的意義を物の発明の構成要件として理解することができない。 技術的意義が理解できない構成要件を備えた本件発明によって、本件発明の課題を解決することができるか、当然ながら不明である（２５頁２５行～２６頁１６行）。 （２）サポート要件に関する当審の判断 ア 本件発明におけるサポート要件の判断手法 特許請求の範囲の記載が明細書のサポート要件に適合するか否かは、特許請求の範囲の記載と発明の詳細な説明の記載とを対比し、特許請求の範囲に記載された発明が、発明の詳細な説明に記載された発明で、発明の詳細な説明の記載又はその示唆により当業者が当該発明の課題を解決できると認識できる範囲のものであるか否か、また、その記載や示唆がなくとも当業者が出願時の技術常識に照らし当該発明の課題を解決できると認識できる範囲のものであるか否かを検討して判断すべきものである。 イ 本件発明におけるサポート要件に関する判断 （ア）本件発明の課題について 本件明細書の発明の詳細な説明には、【０００６】に「本開示の実施形態は、蒸着マスクの製造に適した金属板を提供すること、及び、蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法を提供することを目的とする。」との記載があり、本件発明の課題は、蒸着マスクの製造に適した金属板を提供すること、及び、蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法を提供することであると理解できる。 （イ）本件発明の課題を解決することができることに関する発明の詳細な説明の記載について 本件明明細書の発明の詳細な説明の記載によれば、【０００１】には、本開示の実施形態は、蒸着マスクを製造するための金属板に関することが記載され、【０００４】には、蒸着マスクとして用いられる金属板は、フォトリソグラフィー技術を用いたエッチングによって貫通孔が形成されるものであることが記載されている。 そして、【００９６】の「図１７は、金属板６４の窪み６４ｃに起因して、第１面２０ａ側における貫通孔２５の開口寸法の精度が低下する様子を説明するための図である。容積の大きな窪み６４ｃが存在していた部分においては、エッチング工程の開始時点で、エッチング液が窪み６４ｃの内部に浸入することができる。このため、容積の大きな窪み６４ｃが存在していた部分においては、その他の部分に比べて早くエッチングが金属板６４の厚み方向及び面方向に進行することができる。従って、例えば、容積の大きな窪み６４ｃが、金属板６４のうち第１レジストパターン６５ａの開口部の端部近傍や第２レジストパターン６５ｂの開口部の端部近傍に存在していた場合、窪み６４ｃが存在していた部分において、金属板６４の面方向における貫通孔２５の寸法が大きくなり得る。この結果、図１７において符号３０＿１で示すように、大きな容積の窪み６４ｃが存在していた場所においては、貫通孔２５を構成する第１凹部３０の、第１面２０ａ上における寸法ｒ３のばらつきが生じ得る。また、第１凹部３０と第２凹部３５とが接続される接続部４１によって構成される貫通部４２の寸法ｒ２のばらつきも生じ得る。この結果、有機ＥＬ基板９２上に付着する蒸着材料の寸法精度や位置精度が低下してしまうと考えられる。なお、このような開口寸法のばらつきは、第２面２０ｂ側の第２凹部３５にも生じ得る。」との記載によれば、金属板に大きな容積の窪みが存在していた場合、貫通孔の開口寸法の精度が低下し、有機ＥＬ基板等に付着する蒸着材料の寸法精度や位置精度が低下してしまうことが理解できる。そして、有機ＥＬ基板等に付着する蒸着材料の寸法精度や位置精度が低下することがない金属板は、上記（ア）で述べた発明の課題の「蒸着マスクの製造に適した金属板」ということであるから、上記（ア）で述べた発明の課題を解決する金属板とは、大きな容積の窪みが存在していない金属板ということになる。 これに対し、【０１１１】、【０１１２】には、「金属板６４の厚み方向において基準面ＲＰから所定の補正距離ｄＣだけ第２面６４ｂ側に位置する補正面ＣＰを設定する。続いて、検査領域７１１に位置する窪み６４ｃのうち金属板６４の厚み方向において補正距離ｄＣよりも第２面６４ｂ側に位置する部分の容積の総和を算出する。例えば、検査領域７１１に位置する窪み６４ｃのうち補正距離ｄＣよりも大きな深さを有する部分について、深さｄ（ｋ）から補正距離ｄＣを差し引いた値ｄ（ｋ）－ｄＣを算出する。続いて、値ｄ（ｋ）－ｄＣにピクセル７１３の面積Ｕ２を乗算する。これによって、各ピクセル７１３において、窪み６４ｃのうち補正面ＣＰよりも第２面６４ｂ側に位置する部分の容積Ｖ（ｋ）（＝｛（ｄ（ｋ）－ｄＣ）×Ｕ２｝を算出する。続いて、各容積Ｖ（ｋ）を検査領域７１１の全域にわたって積算する。これによって、検査領域７１１に位置する窪み６４ｃのうち補正面ＣＰよりも第２面６４ｂ側に位置する部分の容積の総和（以下、窪み補正容積とも称する）Ｖ１を算出することができる。続いて、窪み補正容積Ｖ１を、検査領域７１１の面積Ｕ１によって割る。これによって、単位面積当たりの窪み補正容積（以下、窪み補正容積密度とも称する）Ｖ２を算出することができる。）」との記載があり、蒸着マスクの製造に適した金属板を特定するため、窪みの容積が反映される「窪み補正容積密度」による評価を行うことが理解できる。 そして、【０１１５】には、「閾値ＴＨ１は、蒸着マスク２０の構成要素に求められる寸法精度や、補正距離ｄＣの設定などに基づいて適切に定められる。例えば、上述の第１凹部３０のｒ３や貫通部４２の寸法ｒ２などの、蒸着マスク２０の貫通孔２５の開口寸法の誤差が±１．０μｍ以下であることが求められ、且つ補正距離ｄＣが０．２μｍである場合、閾値ＴＨ１を１５０００μｍ３／ｍｍ２に定めることができる。閾値ＴＨ１は、１２０００μｍ３／ｍｍ２であって・・・もよい。」との記載があり、蒸着マスク２０の貫通孔２５の開口寸法の誤差が±１．０μｍ以下、すなわち、有機ＥＬ基板等に付着する蒸着材料の寸法精度や位置精度が低下してしまうことがない「蒸着マスクの製造に適した金属板」とは、補正距離ｄＣが０．２μｍである場合、より厳しい条件として閾値ＴＨ１を１２０００μｍ３／ｍｍ２とし、この条件を満たす金属板であることが理解できる。 また、【０１１４】～【０１２２】には、窪み補正容積密度が所定の範囲にある金属板を良として判定し、それを選別することが記載されている。 さらに、【０１５９】～【０１７３】に記載される（第１検査例）において、第１～第１０サンプルの金属板（【０１６１】）から切り出した枚葉状の金属板をエッチングして各金属板に凹部及びリブ部のパターンを形成し（【０１６７】）、各金属板に形成されたリブ部の幅を、レーザー顕微鏡を用いて合計２５箇所で測定し、その幅の測定結果の標準偏差を３倍した値（以下、３σ（Ｄ１）とも記す）を算出した（【０１６８】）ところ、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）とリブ部の幅の３σ（ａｖｅ）との間の相関係数Ｒ２は、０．８０８１である（【０１７３】）と共に、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）とリブ部の幅の３σ（ａｖｅ）との相関を示す散布図である図３３によれば、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）が１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の範囲のサンプルから形成された金属板であれば、３σ（ａｖｅ）が、小さくなっていること、すなわち、エッチング部における寸法精度の高い金属板が得られていることが理解できる。 以上によれば、本件明細書の発明の詳細な説明の記載によれば、上記（ア）の発明の課題である蒸着マスクの製造に適した金属板を提供するには、少なくとも、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）が１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の範囲の金属板であることが肝要であるといえる。 ウ 本件明細書の発明の詳細な説明に記載される本件発明の課題を解決することができると認識できる範囲と本件発明の対比 上記イ（イ）で述べたように、「少なくとも、窪み補正容積密度Ｖ２（０．２μｍ）が１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の範囲の金属板」であれば、上記イ（ア）の本件発明の課題を解決することができることが理解できる。 一方、本件発明（本件発明１、６及び本件発明１、６をそれぞれ直接又は間接的に引用する本件発明２～５、７～１１）は、上記イ（ア）の発明の課題を解決するのに必要な手段である「前記金属板は、１２０００μｍ３／ｍｍ２以下の窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））を有」するものであることを特定事項として少なくとも含んでいる。 そうすると、本件発明は、発明の詳細な説明の記載又はその示唆により当業者が当該発明の課題を解決できると認識できる範囲のものであって、本件明細書の発明の詳細な説明に記載されたものであるといえるから、特許請求の範囲の記載は、サポート要件に適合するものということができる。 （３）特許異議申立書に記載の論拠に対する判断 ア 上記（１）アに対する判断 上記（２）で述べたように、本件発明がサポート要件を満たしているか否かは、上記（２）アで述べた判断手法に従って判断すべきであるから、上記（１）アの理由は、本件発明におけるサポート要件の判断を左右するものではない。 念のため、上記（１）アの点を考慮したとしても、本件発明の詳細な説明の記載及び技術常識に基づいて、本件発明において規定されている窪み補正容積密度の数値範囲及び大小関係を有する金属板を製造することができることは、上記１（２）及び（３）アで述べたとおりである。 イ 上記（１）イに対する判断 上記（１）イでの理由は、本件発明の課題が、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高める」ことであることを前提としている。 しかしながら、上記（２）イ（ア）で述べたように、本件発明の課題は、蒸着マスクの製造に適した金属板を提供すること、及び、蒸着マスク及び蒸着マスクの製造方法を提供することであり、この発明の課題が本件発明の特定事項により解決されることは、上記（２）イ（イ）及び同ウで述べたとおりであるから、上記（１）イの理由は、前提において誤りがある。 仮に、本件発明の課題が、「従来技術における表面起伏の指標を用いた場合よりも、金属板に形成される貫通孔の寸法精度との相関を高める」ことであるとして、以下念のため検討する。 本件明細書の発明の詳細な説明の【００９３】の「図１４には、３種類の窪みが示されている。左側に位置する窪み６４ｃ＿１と、中央に位置する窪み６４ｃ＿２とは、同一の開口径Ａを有する。窪み６４ｃ＿１の壁面は、金属板に向かって凸となる形状を有する。一方、窪み６４ｃ＿２の壁面は、窪み６４ｃ＿１とは反対に、外方に向かって凸となる形状を有する。右側に位置する２つの窪み６４ｃ＿３は、開口径Ａ／２を有する。すなわち、２つの窪み６４ｃ＿３の開口径の和が、窪み６４ｃ＿１の開口径、及び窪み６４ｃ＿２の開口径と同一である。３種類の窪み６４ｃ＿１，６４ｃ＿２，６４ｃ＿３の深さはいずれもＢである。 ３種類の窪み６４ｃ＿１，６４ｃ＿２，６４ｃ＿３に起因する表面粗さを測定器で測定する場合・・・３種類の窪み６４ｃ＿１，６４ｃ＿２，６４ｃ＿３が算術平均粗さＲａの測定値に及ぼす影響は同一である。 一方、図１５乃至図１７に示すように、金属板６４をエッチングすることによって形成される貫通孔２５、第１凹部３０、第２凹部３５、トップ部４３、リブ部などの寸法は、窪み６４ｃの深さの影響だけでなく、窪み６４ｃの容積の影響も受ける。後述するように、本実施の形態においては、表面粗さを窪みの容積に基づいて評価する。この場合、３種類の窪み６４ｃ＿１，６４ｃ＿２，６４ｃ＿３が後述する窪み補正容積密度に与える影響度は異なる。具体的には、窪み６４ｃ＿１が窪み補正容積密度に与える影響度が最大になる。また、１つの窪み６４ｃ＿２が窪み補正容積密度に与える影響度は、２つの窪み６４ｃ＿３が窪み補正容積密度に与える影響度よりも小さくなる。」との記載、【００９４】の「図１５は、図１４に示す金属板６４を、第１レジストパターン６５ａをマスクとして第１面６４ａ側からエッチングして第１凹部３０を形成する工程を示す断面図である。左側の窪み６４ｃ＿１の容積は、右側の窪み６４ｃ＿２の容積よりも大きい。このため、左側の窪み６４ｃ＿１が存在していた場所においては、右側の窪み６４ｃ＿２が存在していた場所よりも早くエッチングが金属板６４の厚み方向及び面方向に進行する。このため、左側の窪み６４ｃ＿１が存在していた場所に形成される第１凹部３０＿１の寸法は、右側の窪み６４ｃ＿２が存在していた場所に形成される第１凹部３０＿２の寸法よりも大きくなる。」との記載、【００９７】の「上述のように、金属板６４に貫通孔２５を精密に形成できるか否かは、金属板６４の表面に形成されている窪み６４ｃの深さだけでなく、窪み６４ｃの容積にも大きく依存する。一方、従来の算術平均粗さＲａなどに基づく技術は、窪み６４ｃの容積に関する情報を適切に取得することができない。このため、算術平均粗さＲａを用いて金属板６４の検査を行う場合、蒸着マスク２０の製造に不適切な金属板６４が検査に合格することを防ぐためには、合否判定の閾値を必要以上に厳しくする必要がある。この結果、金属板６４の歩留まりが低下してしまうと考えられる。」との記載、及び【００９８】の「本実施の形態においては、金属板６４の検査を、窪み６４ｃの容積を考慮して行うことを提案する。これにより、窪み６４ｃに起因して生じる、蒸着マスク２０の貫通孔２５の寸法精度の低下の程度を、より正確に予測することができる。このため、合否判定の閾値を必要以上に厳しくすることなく、金属板６４の検査を行うことができ、金属板６４の歩留まりを高めることができる。」との記載等によれば、金属板に貫通孔を精密に形成できるか否かは、金属板の表面に形成されている窪みの深さだけでなく、窪みの容積にも大きく依存するところ、従来の算術平均粗さＲａなどに基づく技術では、異なる容積の窪みでも深さが同じであれば算術平均粗さＲａの測定値に及ぼす影響は同一となってしまうのに対し、本件発明における「窪み補正容積密度」に基づく評価では、エッチングに大きな影響を与える窪みの容積を考慮することができるのであるから、本件発明における「窪み容積密度」に基づく評価は、従来の算術平均粗さＲａなどに基づく評価に比べて、エッチング後における金属板の寸法精度をより反映しているものであることは、具体的な実施例による評価がなされていないとしても、明らかな事項である。 そうすると、窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））及び窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））等の窪み補正容積密度で金属板の評価を行っている本件発明は、従来の算術平均粗さＲａなどに基づく評価に比べ、よりエッチング後における金属板の寸法精度との相関を高めるという課題を達成しているといえ、上記（１）イの点で、本件発明がサポート要件を満たしていないとすることはできない。 ウ 上記（１）ウに対する判断 後記３（２）で述べるように、本件発明１において、「検査領域」に関する記載は、本件発明１の金属板の構造を特定するパラメータである「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））」及び「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））」を特定するためのものであり、「検査工程」を意味するものではないし、「検査領域」によって金属板の何を特定しているのか不明であるということはない。 そうすると、特に本件発明に記載された構成要件の技術的意義を物の発明の構成要件として理解することができないということはないから、上記（１）ウの点で、本件発明がサポート要件を満たしていないとすることはできない。 （４）小括 以上のとおりであるから、申立理由２には、理由がない。 ３ 申立理由３（明確性要件違反）について （１）特許異議申立書に記載の論拠 ・「検査領域」等の記載について 本件発明は、構成要件として、「前記表面は、０．１ｍｍ２以上の面積を有する検査領域を含み、前記複数の窪みの一部が、前記検査領域に位置し、」を含む。 「検査」とは「（基準に照らして）適不適や異状・不正の有無などをしらべること」を意味する（甲第４号証）から、「検査領域」とは「（基準に照らして）適不適や異状・不正の有無を調べる検査工程に供される領域」の意である。 ここで、構成要件として規定する「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され」、「前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され」及び「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ）は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され」は、いずれも検査工程における検査内容を記載したものであるから、かかる検査工程に供される領域を特定するために「検査領域」なる文言が使用されている、と解釈すべきである。 しかしながら、本件発明の「金属板」は「物の発明」であるから、「検査領域（適不適や異状・不正の有無を調べる検査工程に供される領域）」及び「検査工程」によって金属板の何を特定しようとしているのか、全く不明であり、上記「検査領域」、「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され」、「前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され」及び「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ）は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され」の技術的意義を物の発明の構成要件として理解することができない。 したがって、本件発明は、特許を受けようとする発明が明確でない（２４頁２１行～２５頁２４行）。 （２）明確性要件違反に対する当審の判断 特許を受けようとする発明が明確であるか否かは、特許請求の範囲の記載のみならず、願書に添付した明細書の記載及び図面を考慮し、また、当業者の出願当時における技術的常識を基礎として、特許請求の範囲の記載が、第三者に不測の不利益を及ぼすほどに不明確であるかという観点から判断されるべきである。 そして、本件発明の「検査領域」との記載を含め「前記表面は、０．１ｍｍ２以上の面積を有する検査領域を含み、前記複数の窪みの一部が、前記検査領域に位置し」、「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））は、窪み補正容積を前記検査領域の面積で割ることによって算出され」、「前記容積は、前記複数の前記窪みの前記一部の深さをレーザー顕微鏡によって測定した結果に基づいて算出され」、「前記窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ）は、前記検査領域に位置する前記複数の前記窪みの前記一部の、前記金属板の厚み方向において前記表面から０．３μｍ以上離れた部分の容積の総和を、前記検査領域の面積で割ることによって算出され」との記載は、いずれも、本件発明の金属板の構造を特定するパラメータである「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．２μｍ））」及び「窪み補正容積密度（Ｖ２（０．３μｍ））」を特定するためのものであり、「検査工程」を意味するものではないし、「検査領域」によって金属板の何を特定しているのか不明であるということはない。 そうすると、本件発明１の上記の記載が、第三者に不測の不利益を及ぼすほどに不明確であるということはない。 （３）小括 以上のとおりであるから、申立理由３には、理由がない。 第５ むすび 上記第４で検討したとおり、本件特許１～１１は、特許法第３６条第４項第１号又は第６項に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるということはできず、同法第１１３条第４号に該当するものではないから、上記第３に記載の申立理由では、本件特許１～１１を取り消すことはできない。 また、他に本件特許１～１１を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。