2022-700478

特許第６９７９１８５号発明「Ｘ線検査装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第６９７９１８５号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり訂正後の請求項〔３－４〕、７について訂正することを認める。 特許第６９７９１８５号の請求項１ないし７に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第６９７９１８５号（以下「本件特許」という。）の請求項１～７に係る特許についての出願は、平成２８年１２月１２日に出願され、令和３年１１月１７日にその特許権の設定登録がされ、令和３年１２月８日に特許掲載公報が発行された。本件特許異議の申立ての経緯は、次のとおりである。 令和４年 ６月 １日 ：特許異議申立人 末吉直子（以下「申立人」 という。）による請求項１～７に係る特許異 議の申立て 同年 ９月 ７日付け ：取消理由通知書 同年１１月 ８日 ：特許権者との面接 同年１１月１１日 ：特許権者による意見書及び訂正請求書の提出 令和５年 １月１２日 ：申立人による意見書の提出 同年 ２月２２日付け ：取消理由通知書（決定の予告） 同年 ３月３１日 ：特許権者による意見書及び訂正請求書（以下 「本件訂正請求書」という。）の提出 同年 ５月２５日 ：申立人による意見書の提出 第２ 訂正の適否 １ 訂正の内容 本件訂正請求書による訂正請求（以下「本件訂正請求」という。）の請求の趣旨は、特許請求の範囲を、本件訂正請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項３、４、７について訂正することを求めるものであって、本件訂正請求による訂正の内容は、以下の訂正事項１ないし訂正事項３からなる。 （１）訂正事項１ 特許請求の範囲の請求項３の「前記Ｘ線照射手段によるＸ線の照射強度を入力する照射強度入力手段と、」と記載されているのを、「被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、を備え、前記Ｘ線照射手段によるＸ線の照射強度を入力する照射強度入力手段と、」に訂正する。あわせて、請求項３の「ことを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。」と記載されているのを「ことを特徴とするＸ線検査装置。」に訂正する（請求項３の記載を引用する請求項４も同様に訂正する）。 （２）訂正事項２ 特許請求の範囲の請求項３の「前記段特定手段は、前記記憶手段を参照し、前記照射強度検出手段に入力された照射強度に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付ける」と記載されているのを、「前記段特定手段は、前記記憶手段を参照し、前記照射強度入力手段に入力された照射強度に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付ける」に訂正する（請求項３の記載を引用する請求項４も同様に訂正する）。 （３）訂正事項３ 特許請求の範囲の請求項７の「前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段を更に備え、前記段特定手段は、前記被測定物を示す情報の入力に基づき、前記記憶手段を参照し、前記被測定物に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付けることを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。」と記載されているのを、「被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、を備え、前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段を更に備え、前記情報は、前記被測定物と前記所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの形式で記憶され、前記段特定手段は、前記被測定物を示す情報の入力に基づき、前記記憶手段を参照し、前記被測定物に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付け、前記被測定物を示す情報は、前記被測定物の名称、前記被測定物の種類、又は前記被測定物の商品番号であることを特徴とするＸ線検査装置。」に訂正する。 ２ 訂正の目的の適否、特許請求の範囲の拡張・変更の存否、新規事項の有無 （１）訂正事項１について 訂正事項１は、特許請求の範囲の請求項３について、請求項１又は２との引用関係を解消するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第４号に掲げる請求項間の引用関係の解消（他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること）を目的とするものである。 そして、訂正事項１は、何ら実質的な内容の変更を伴うものではないことから、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもないので、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項及び第６項に適合するものである。 （２）訂正事項２について ア 訂正の目的の適否 （ア）訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」という記載は、「前記」という記載を伴うものである。しかしながら、訂正前の請求項３の当該記載以前の部分、訂正前の請求項３が引用する訂正前の請求項１又は２のいずれにも、「照射強度検出手段」という記載がないことから、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」という記載は、特許請求の範囲中の他の記載との関係において、不合理を生じているものであるといえる。したがって、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」という記載は、明瞭でない記載であるといえる。 （イ）「照射強度検出手段」という記載自体は、「照射強度」を「検出」する手段を意味するものであり、「照射強度」を「検出」する手段が、「検出」した「照射強度」を信号として「出力」するものでもあることは明らかであるといえることから、「照射強度検出手段」という記載自体は、検出した「照射強度」を「出力」するものを意味しているといえる。 これに対し、訂正前の請求項３における「前記照射強度検出手段に入力された照射強度」という記載自体は、「前記照射強度検出手段」に「照射強度」が「入力」されるものであるという内容を意味しているといえる。 そうすると、「照射強度検出手段」という記載自体は、検出した「照射強度」を「出力」するものを意味しているのに対し、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段に入力された照射強度」における「照射強度検出手段」は、「照射強度」を「入力」するものを意味しているといえる。 以上のことから、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」という記載は、当該記載の直後に続く「に入力された照射強度」という記載との関係において、不合理を生じているものであるといえるので、明瞭でない記載であるといえる。 （ウ）訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」は、 ａ 当該記載直後の「に入力された照射強度」という記載との関係において、本来、「照射強度」を「入力」するものを意味しているといえること、 ｂ 「前記」という記載を伴う当該記載以前の部分に、「照射強度」を「入力」するものに関する記載として、「照射強度を入力する照射強度入力手段」という記載があること、 を考え合わせると、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」は、本来、「前記照射強度入力手段」を意味しているといえる。 そうすると、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」なる記載を、「前記照射強度入力手段」とする訂正は、「前記照射強度検出手段」、という、それ自体の記載内容が特許請求の範囲中の他の記載との関係において不合理を生じている記載、を正すものであるといえる。 したがって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。 イ 特許請求の範囲の拡張・変更の存否 上記ア（ウ）のとおり、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」は、本来、「前記照射強度入力手段」を意味しているといえるから、訂正前の請求項３の「前記照射強度検出手段」なる記載を、「前記照射強度入力手段」とする訂正は、「前記照射強度検出手段」を、その本来の意味を表す表現にするものであるといえるので、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないといえる。 したがって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。 ウ 新規事項の有無 訂正事項２は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書の段落【００４９】における「Ｘ線照射手段１１０によるＸ線の照射強度を入力する照射強度入力手段１７０と、照射強度に応じた所定の２以上の段を記憶する記憶手段１９１と、を更に備え、段特定手段１４０が、記憶手段１９１を参照し照射強度入力手段１７０に入力された照射強度に対応する所定の２以上の段を特定するように構成する。」との記載に基づく訂正である。 したがって、訂正事項２は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内において訂正するものであり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。 （３）訂正事項３について 訂正事項３は、以下の各訂正事項に細分される。 ・訂正事項３－１ 特許請求の範囲の請求項７について、請求項１又は２との引用関係を解消する訂正。 ・訂正事項３－２ 訂正前の請求項７の「前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段を更に備え、」なる記載を、「前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段を更に備え、前記情報は、前記被測定物と前記所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの形式で記憶され、」とする訂正。 ・訂正事項３－３ 訂正前の請求項７の「前記段特定手段は、前記被測定物を示す情報の入力に基づき、前記記憶手段を参照し、前記被測定物に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付ける」なる記載を、「前記段特定手段は、前記被測定物を示す情報の入力に基づき、前記記憶手段を参照し、前記被測定物に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付け、前記被測定物を示す情報は、前記被測定物の名称、前記被測定物の種類、又は前記被測定物の商品番号である」とする訂正。 ア 訂正事項３－１について 訂正事項３－１は、特許請求の範囲の請求項７について、請求項１又は２との引用関係を解消するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第４号に掲げる請求項間の引用関係の解消（他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること）を目的とするものである。 そして、訂正事項３－１は、何ら実質的な内容の変更を伴うものではないことから、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもないので、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項及び第６項に適合するものである。 イ 訂正事項３－２について （ア）訂正の目的の適否 訂正事項３－２は、訂正前の請求項７に係る発明の「前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段」を特定するための事項として、「前記情報は、前記被測定物と前記所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの形式で記憶され」るという事項を、直列的に付加するものである。 したがって、訂正事項３－２は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 （イ）特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項３－２は、訂正前の請求項７に係る発明の「前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段」での前記情報の記憶の仕方として、「前記情報は、前記被測定物と前記所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの形式で記憶され」るという仕方に限定するものであり、訂正前の請求項７の記載について、訂正前の請求項７に記載された発明のカテゴリーを変更するものでもなく、かつ、訂正前の請求項７に記載された発明の対象や目的を変更するものでもない。 したがって、訂正事項３－２は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないため、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。 （ウ）新規事項の有無 訂正事項３－２は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書の段落【００５３】における「第３の方法として、被測定物Ｗに基づく方法が挙げられる。例えば、図１４に示すように、被測定物Ｗに応じた所定の２以上の段を記憶する記憶手段１９３を更に備え、段特定手段１４０が、被測定物Ｗを示す情報の入力に基づき記憶手段１９３を参照して、被測定物Ｗに対応する所定の２以上の段を特定するように構成する。記憶手段１９３に予め記憶しておく、被測定物Ｗと所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの一例を図１５(a)に示す。」との記載に基づく訂正である。 したがって、訂正事項３－２は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内において訂正するものであり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。 ウ 訂正事項３－３について （ア）訂正の目的の適否 訂正事項３－３は、訂正前の請求項７に係る発明の「被測定物を示す情報」を特定するための事項として、「前記被測定物を示す情報は、前記被測定物の名称、前記被測定物の種類、又は前記被測定物の商品番号である」という事項を、直列的に付加するものである。 したがって、訂正事項３－３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 （イ）特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項３－３は、訂正前の請求項７に係る発明の「被測定物を示す情報」を「前記被測定物の名称、前記被測定物の種類、又は前記被測定物の商品番号」に具体的に特定して限定するものであり、訂正前の請求項７の記載について、訂正前の請求項７に記載された発明のカテゴリーを変更するものでもなく、かつ、訂正前の請求項７に記載された発明の対象や目的を変更するものでもない。 したがって、訂正事項３－３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないため、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。 （ウ）新規事項の有無 訂正事項３－３は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書の段落【００５４】における「なお、第３の方法でいう被測定物Ｗは、特定の被測定物Ｗ（例えば鯖）である場合のほか、被測定物Ｗを含む分類（例えば魚）である場合も含む。被測定物Ｗを含む分類である場合、記憶手段１９３は被測定物Ｗを含む分類に応じた所定の２以上の段を記憶する。記憶手段１９３に予め記憶しておく、被測定物Ｗを含む分類と所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの一例を図１５(b)に示す。この例では分類が魚と肉の２種類であるが、分類の個数は任意である。」との記載や、段落【００５９】～【００６０】における「被測定物Ｗを示す情報の入力方法は任意である。例えば、段特定手段１４０が入力インタフェースを任意の表示手段１５１に表示し、装置利用者が表示された入力インタフェースにキーボードやマウスなどの任意の入力手段１５２から入力する。」「入力インタフェースの構成は任意である。例えば、被測定物Ｗの名称や分類を、文字や提示された選択肢の選択により入力可能とする構成や、図１７(a)に示すような被測定物Ｗの商品番号の入力を受け付ける構成などが挙げられる。商品番号の入力を受け付ける構成にする場合には、例えば、図１７(b)に示すような商品番号と所定の２以上の段とを対応付けるテーブルを記憶手段１９３に予め記憶しておけばよい。」との記載に基づく訂正である。 したがって、訂正事項３－３は、本件特許に係る出願の願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内において訂正するものであり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。 エ 上記ア、イ及びウのとおりであるから、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１及び４号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合する。 ３ 小括 上記のとおり、訂正事項１ないし３に係る訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１、３、又は４号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合する。 また、訂正前の請求項３、４、７は、特許異議の申立てがなされた請求項であるから、当該各請求項についての訂正には、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 そして、訂正前の請求項３、４は、請求項４が請求項３を引用していることから、一群の請求項であり、訂正事項１及び２は、その一群の請求項についてされたものである。 したがって、特許請求の範囲を、本件訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔３～４〕、７について訂正することを認める。 第３ 取消理由の概要 訂正前の請求項１ないし７に係る特許に対して、当審が令和４年９月７日付けで特許権者に通知した取消理由の要旨は、次のとおりである。 １ 進歩性（特許法第２９条第２項） 請求項１、５、６に係る発明は、甲第１号証に記載された発明、甲第２号証と甲第３号証に記載された周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 請求項２に係る発明は、甲第１号証に記載された発明、甲第２号証と甲第３号証に記載された周知技術、甲第５号証と甲第６号証と甲第８号証に記載された周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 請求項７に係る発明は、甲第１号証に記載された発明、甲第２号証と甲第３号証に記載された周知技術、及び慣用技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 そうすると、請求項１、２、５～７に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 ２ 明確性（特許法第３６条第６項第２号） 請求項３～４に係る特許は、特許請求の範囲の記載が、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 ３ 各甲号証 甲第１号証：特開２０１１－２４２３７４号公報（以下、「甲１」という。） 甲第２号証：特開２０１４－２２９８７号公報（以下、「甲２」という。） 甲第３号証：特開２００１－２０８６９４号公報（以下、「甲３」という。） 甲第５号証：特開平７－１２８６９６号公報（以下、「甲５」という。） 甲第６号証：特開平１１－８８７８４号公報（以下、「甲６」という。） 甲第８号証：特開２０００－２７０２６９号公報（以下、「甲８」という。） 第４ 本件訂正発明 上記第２のとおり、本件訂正請求による、請求項３、４、７についての訂正が認められた。訂正後の本件特許の請求項１～７に係る発明（以下、各請求項に係る発明を「本件訂正発明１」等という。）は、本件訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲の請求項１～７に記載された事項により特定される次のとおりのものである。 「【請求項１】 被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、 載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、 前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、 前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、 を備えるＸ線検査装置。 【請求項２】 任意の入力手段から入力された情報に基づき、いずれの前記検出素子が検出したＸ線検出データに対して補正を施すかを特定する補正内容特定手段を更に備え、 前記Ｘ線検出手段は、Ｘ線検出データの足し合わせに先立ち前記補正内容特定手段で特定された前記検出素子のＸ線検出データに対して所定の補正を施す ことを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。 【請求項３】 被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、 載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、 前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、 前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、 を備え、 前記Ｘ線照射手段によるＸ線の照射強度を入力する照射強度入力手段と、 前記照射強度に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段と、 を更に備え、 前記段特定手段は、前記記憶手段を参照し、前記照射強度入力手段に入力された照射強度に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付ける ことを特徴とするＸ線検査装置。 【請求項４】 前記Ｘ線照射手段によるＸ線の照射強度を検出する照射強度検出手段を更に備え、 前記照射強度検出手段で検出された照射強度が前記照射強度入力手段に入力される ことを特徴とする請求項３に記載のＸ線検査装置。 【請求項５】 前記被測定物の厚さを入力する厚さ入力手段と、 前記厚さに応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段と、 を更に備え、 前記段特定手段は、前記記憶手段を参照し、前記厚さ入力手段に入力された厚さに対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付ける ことを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。 【請求項６】 前記被測定物の厚さを検出する厚さ検出手段を更に備え、 前記厚さ検出手段で検出された厚さが前記厚さ入力手段に入力される ことを特徴とする請求項５に記載のＸ線検査装置。 【請求項７】 被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、 載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、 前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、 前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、 を備え、 前記被測定物に応じた、前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとの、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報を記憶する記憶手段を更に備え、 前記情報は、前記被測定物と前記所定の２以上の段との対応関係を示すテーブルの形式で記憶され、 前記段特定手段は、前記被測定物を示す情報の入力に基づき、前記記憶手段を参照し、前記被測定物に対応するそれぞれの検出素子ごとの前記情報の入力を受け付け、 前記被測定物を示す情報は、前記被測定物の名称、前記被測定物の種類、又は前記被測定物の商品番号である ことを特徴とするＸ線検査装置。」 第５ 進歩性（特許法第２９条第２項）について １ 各証拠の記載 （１）甲１ ア 甲１の記載 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲１には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審で付与した。以下同様である。）。 （ア） 「【技術分野】 【０００１】 本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物中に混入した異物を検出するＸ線検査装置に関し、特に、Ｘ線発生器から照射されて被検査物を透過したＸ線を検出するＸ線検査装置に関するものである。」 （イ） 「【発明の概要】 【発明が解決しようとする課題】 【０００５】 しかしながら、特許文献１に記載されたものは、異物を高感度に検出することができるが、Ｘ線発生部が発生するＸ線の出力が従来のＸ線検査装置と同等の強度またはそれ以上であった。このため、例えば、Ｘ線の出力が小さい場合と比較して、被検査物が受けるＸ線の被爆量が高いという問題、動作時のＸ線発生部の発熱が大きいために冷却手段が必要となったり食品の検査には不向きであるという問題があった。また、Ｘ線発生部の寿命が短いという問題、Ｘ線漏洩防止のための遮蔽構造を強固にするために装置が大型化してしまうという問題があった。 【０００６】 すなわち、Ｘ線発生部が発生するＸ線の出力を低下させるとＸ線検出器の検出出力が低下して異物を高感度に検出することが困難になるという問題があり、一方、異物を高感度に検出するためにはＸ線の出力を維持または増加することに伴う上記のような問題が発生してしまっていた。 【０００７】 そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、Ｘ線発生部が発生するＸ線の出力が低くても高感度に異物を検出することができるＸ線検査装置を提供することを目的とする。」 （ウ） 「【００２０】 図１に示すように、Ｘ線検査装置１は、搬送部２と検出部３とを筐体４の内部に備え、表示部５を筐体４の前面上部に備えている。 【００２１】 搬送部２は、被検査物Ｗを所定間隔をおいて順次搬送するものである。この搬送部２は、例えば筐体４の内部に水平に配置されたベルトコンベアにより構成されている。搬送部２は、図１に示す駆動モータ６の駆動により予め設定された搬送速度で搬入口７から搬入された被検査物Ｗを搬出口８側（図中Ｘ方向）に向けて搬送面としてのベルト面２ａ上を搬送させるようになっている。筐体４の内部においてベルト面２ａ上を搬入口７から搬出口８まで貫通する空間は搬送路２１を形成している。 【００２２】 検出部３は、順次搬送される被検査物Ｗに対し、搬送路２１の途中の検査空間２２においてＸ線を照射するとともに被検査物Ｗを透過するＸ線を検出するものであり、搬送路２１途中の検査空間２２の上方に所定高さ離隔して配置されたＸ線発生部９と、搬送部２内にＸ線発生部９と対向して配置されたＸ線検出器１０を備えている。 【００２３】 Ｘ線発生源としてのＸ線発生部９は、金属製の箱体１１の内部に設けられた円筒状のＸ線管１２を図示しない絶縁油に浸漬した構成を有しており、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）となるよう配置されている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器１０に向けて、図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状（図３参照）となって搬送方向（Ｘ方向）を横切るように照射されるようになっている。」 （エ） 「【００２５】 Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からのＸ線透過データが入力されるとともに被検査物Ｗ中の異物の有無を検査する制御部４０と、制御部４０による検査結果等を表示出力する表示部５と、制御部４０への各種パラメータ等の設定入力を行う設定部４５とを備えている。 【００２６】 制御部４０は、ＣＰＵやメモリなどを備えて構成されており、Ｘ線検出器１０から受け取ったデータを記憶する記憶部４２と、記憶部４２から読み出したデータに対して合成や各種フィルタ等の画像処理を施す画像処理部４３と、画像処理されたデータに対して被検査物Ｗと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する判定部４４と、を備えている。 【００２７】 設定部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、制御部４０への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。また、設定部４５からは利用者の操作により、被検査物Ｗの厚さ情報が入力されるようになっている。また、設定部４５には、後述する厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ情報が入力されるようになっている。 【００２８】 また、制御部４０は、Ｘ線検出器１０により行われる時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８（図３参照）の段数を、設定部４５に入力された被検査物Ｗの厚さ情報に基づいて設定する段数設定部４６を備えている。 【００２９】 表示部５は、平面ディスプレイ等から構成されており、制御部４０による検査結果の表示を行うようになっている。また、表示部５は、被検査物Ｗの良否判定結果を「ＯＫ」や「ＮＧ」等の文字または記号で表示するとともに、総検査数、良品数、ＮＧ総数などの検査結果を、既定設定として、または、設定部４５からの所定のキー操作による要求に基づいて表示するようになっている。」 （オ） 「【００３０】 また、Ｘ線検査装置１は、被検査物Ｗの厚さを検出する厚さ検出センサ６０を搬送路２１内に備えており、厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ情報は設定部４５に出力されるようになっている。厚さ検出センサ６０は、被検査物Ｗの厚さを光学的に検出したり、音波を用いて検出するようになっている。 【００３１】 Ｘ線検出器１０は、図３に示すように、幅方向、すなわち搬送される被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）の平面上で搬送方向と直交するＹ方向に複数の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、が一直線上に配置されてなる検出素子列１０１～１０８を、搬送方向に複数段並べたものであり、ラインセンサとして構成されている。 【００３２】 Ｘ線検出器１０には、被検査物Ｗを透過したＸ線が入射するようになっており、Ｘ線検出器１０の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、は、入射するＸ線の強度に基づいて、Ｘ線透過データを出力するようになっている。 【００３３】 具体的には、一例として、各検出素子は、図示しないシンチレータとフォトダイオード等の受光素子とを密着したものから構成されており、Ｘ線をシンチレータで光に変換し、この光を受光素子で受光して電気信号に変換し、Ｘ線透過データとして出力するようになっている。また、他の例として、テルル化カドミウム（ＣｄＴｅ）のような半導体を用いて、Ｘ線を直接的に効率良く電気信号に変換するようになっていてもよい。 【００３４】 また、Ｘ線検出器１０は、検出素子列１０１～１０８から出力されるＸ線透過データを時間遅延積分により所定の段数分合成して合成データとして出力する合成部１００ａ（図２参照）を備えている。 【００３５】 具体的には、合成部１００ａは、図４において、例えば、時間遅延積分を行う段数が３段で検出素子列１０１、１０２、１０３からのＸ線透過データを時間遅延積分により合成するときは、検出素子列１０１が時刻Ｔ１に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２が時刻Ｔ２に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２（当審注：「１０２」は前後の文脈からみて「１０３」の誤記と認める。）が時刻Ｔ３に検出したＸ線透過データとを、被検査物Ｗの下面における位置が一致するように遅延させて合成するようになっている。合成部１００ａは、各検出素子列１０１～１０８のうち所定の段数分のＸ線透過データを時間遅延積分により合成する。 【００３６】 このように、Ｘ線検出器１０が、合成部１００ａにより、各検出素子列１０１～１０８のうち所定の段数分のＸ線透過データを時間遅延積分により合成することによって、Ｘ線の検出感度およびＳ／Ｎ比を向上することができる。したがって、Ｘ線発生部９のＸ線出力を減少させても十分な感度で被検査物Ｗ中の異物を検出することができるため、Ｘ線発生部９のＸ線出力を減少させることにより、被検査物が受けるＸ線の被爆量を減少することができ、動作時のＸ線発生部の発熱を減少できるので冷却手段を別途設けることを不要にすることができ、食品の検査に適したＸ線検査装置とすることができる。また、Ｘ線発生部９のＸ線出力を減少させることにより、Ｘ線発生部９の寿命を長くすることができ、Ｘ線漏洩防止のための遮蔽構造を簡易にすることにより装置を小型化することができる。」 （カ） 「【００３８】 ここで、Ｘ線検出器１０の上を搬送される被検査物ＷをＸ線が透過する角度は、例えば、図５に示すように、Ｘ線発生部９の直下を被検査物Ｗが通過するときと、図５の状態から所定時間経過後（例えば、４秒後）の状態である図６に示すように、Ｘ線発生部９の直下よりも搬送方向下流の位置を被検査物Ｗが通過するときとで異なる。 【００３９】 被検査物Ｗ内を透過するＸ線の角度が異なると、図７に示すように、搬送される被検査物Ｗを横から見たときに、被検査物Ｗの下面を基準にした場合、被検査物Ｗの下面の中央を透過するＸ線は、被検査物Ｗの上面においては、Ｘ線検出器１０の上を被検査物Ｗが搬送されて移動するのに伴いその位置が変化することになる。 【００４０】 また、図７で、被検査物ＷがＸ線発生部９の直下を通過するときは、Ｘ線が被検査物Ｗの下面を透過する水平方向の位置と上面を透過する水平方向の位置が等しいが、被検査物ＷがＸ線発生部９の直下以外の位置を通過するときは、Ｘ線が被検査物Ｗの下面を透過する水平方向の位置と上面を透過する水平方向の位置が異なり、この透過位置の差異は、被検査物ＷがＸ線発生部９の直下から離れるほど大きくなる。 【００４１】 このため、Ｘ線検出器１０から得られた合成データの画像は、時間遅延積分により合成する検出素子列の段数を増やすと、高感度化できてＳ／Ｎ比が向上する一方で空間分解能は低下する。また、Ｘ線検出器１０から得られた合成データの画像は、被検査物Ｗの厚さが大きいほど、空間分解能が低いものとなってしまう。換言すると、被検査物Ｗの厚さが大きいほど、Ｘ線検出器１０から得られた画像のコントラストが低下してぼやけた状態となってしまう。コントラストは、例えば、ＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）の値として客観的に計測される。 【００４２】 そこで、本実施の形態では、空間分解能の低下を抑制するために、８段の検出素子列１０１～１０８（図３参照）のうち時間遅延積分を行う段数を、被検査物Ｗの厚さ情報に基づいて段数設定部４６により設定するようになっている。 【００４３】 具体的には、図８に示すように、被検査物Ｗの厚さをｈ、Ｘ線発生部９から被検査物Ｗまでの距離をＬ、検出素子列１０１～１０８の片側段数をｎ、検出素子列１０１～１０８のピッチをｐ、画像ズレをΔｘとすると、画像ズレΔｘと片側段数ｎの関係は、Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式で表される。例えば、許容する最大の画像ズレ２Δｘをピッチｐの２５％以下にする場合は、２Δｘ＝２ｈｎｐ／Ｌ≦０．２５ｐの数式を解き、片側段数ｎは、ｎ≦Ｌ／８ｈとなる。すなわち、ｎ≦Ｌ／８ｈとなるように、片側段数ｎを設定することにより、最大の画像ズレ２Δｘをピッチｐの２５％以下にすることができる。 【００４４】 なお、ピッチｐは、各検出素子列１０１～１０８の中心間の間隔であり、画像ズレΔｘは、被検査物Ｗの上面のＸ線透過位置と下面のＸ線透過位置の水平方向の距離である。 【００４５】 このように、許容する最大の画像ズレ２Δｘを予め定めておき、これを満足するように片側段数ｎを設定することにより、Ｘ線検出器１０から得られる画像のコントラストの低下を抑制することができる。」 （キ） 「【００４７】 被検査物Ｗが搬送部２によって搬送される途中位置で被検査物ＷにＸ線発生部９からＸ線が照射される。このＸ線の照射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線は、Ｘ線検出器１０において、各検出素子列１０１～１０８によって検出され、合成部１００ａにより時間遅延積分される。 【００４８】 被検査物Ｗの厚さ情報は、利用者により計測された被検査物Ｗの高さ方向の寸法（ｈ）が予め設定部４５から入力されるか、または、搬送時に厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの高さ方向の寸法（ｈ）が設定部４５から入力される。 【００４９】 段数設定部４６は、設定部４５から取得した被検査物Ｗの厚さに基づいて、上記のΔｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式から時間遅延積分の段数を算出し、この段数をＸ線検出器１０の合成部１００ａに設定する。 【００５０】 Ｘ線検出器１０の合成部１００ａは、各検出素子列１０１～１０８が検出したＸ線透過データのうち、段数設定部４６により設定された段数分のＸ線透過データを時間遅延積分により合成する。」 （ク） 「【００５３】 また、厚さ検出センサ６０により被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）が検出されるようになっていてもよい。このとき、段数設定部４６は、検出された厚さレベル（ｈ［ｎ］）に予め対応付けられた時間遅延積分の段数を設定する。」 （ケ） 「図１ ［図：0001403624000001.jpg］ 」 （コ） 「図２ ［図：0001403624000002.jpg］ 」 （サ） 「図３ ［図：0001403624000003.jpg］ 」 （シ） 「図４ ［図：0001403624000004.jpg］ 」 （ス） 「図８ ［図：0001403624000005.jpg］ 」 イ 上記アから認定した事項 （ア）上記ア（ウ）の段落【００２２】における「搬送部２内にＸ線発生部９と対向して配置されたＸ線検出器１０」との記載、及び、上記ア（コ）における図２の記載から、Ｘ線検出器１０が、ベルト面２ａを挟んでＸ線発生部９と対向して配置されるものであることがみてとれる。 （イ）上記ア（カ）の段落【００４３】における「Ｘ線発生部９から被検査物Ｗまでの距離をＬ」との記載、及び上記ア（ス）における図８の「Ｌ」によって示される両矢印の記載からみて、Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式におけるＬの値は、Ｘ線発生部９と検出素子列１０１～１０８の位置によって予め定められる定数であると認められる。 （ウ）上記ア（カ）の段落【００４４】における「ピッチｐは、各検出素子列１０１～１０８の中心間の間隔」という記載からみて、Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式におけるｐの値は、各検出素子列１０１～１０８の位置によって予め定められる定数であると認められる。 （エ）上記ア（カ）の段落【００４３】～【００４５】の画像ズレΔｘに関する 記載からみて、Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式におけるΔｘの値は、許容する最大の画像ずれ２Δｘをピッチｐを基準とした値に予め定めておくことによって、予め定められた定数であると認められる。 ウ 甲１発明 上記ア及びイによれば、甲１には、次の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されているものと認められる。 「搬送部２と検出部３とを筐体４の内部に備えたＸ線検査装置であって、 搬送部２は、筐体４の内部に水平に配置されたベルトコンベアにより構成され、搬入口７から搬入された被検査物Ｗを搬出口８側（Ｘ方向）に向けて搬送面としてのベルト面２ａ上を搬送させるようになっており、筐体４の内部においてベルト面２ａ上を搬入口７から搬出口８まで貫通する空間は搬送路２１を形成しており、 検出部３は、搬送路２１途中の検査空間２２の上方に所定高さ離隔して配置されたＸ線発生部９と、搬送部２内にベルト面２ａを挟んでＸ線発生部９と対向して配置されたＸ線検出器１０を備え、 Ｘ線検出器１０は、搬送される被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）の平面上で搬送方向と直交するＹ方向に複数の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、が一直線上に配置されてなる検出素子列１０１～１０８を、搬送方向に複数段並べたものであり、 Ｘ線検出器１０には、被検査物Ｗを透過したＸ線が入射するようになっており、Ｘ線検出器１０の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、は、入射するＸ線を電気信号に変換し、Ｘ線透過データを出力するようになっており、 Ｘ線検出器１０は、検出素子列１０１～１０８から出力されるＸ線透過データのうち、段数設定部４６により設定された段数分のＸ線透過データを時間遅延積分により合成して合成データとして出力する合成部１００ａを備え、 合成部１００ａは、例えば、時間遅延積分を行う段数が３段で検出素子列１０１、１０２、１０３からのＸ線透過データを時間遅延積分により合成するときは、検出素子列１０１が時刻Ｔ１に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２が時刻Ｔ２に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０３が時刻Ｔ３に検出したＸ線透過データとを、被検査物Ｗの下面における位置が一致するように遅延させて合成するようになっており、 被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）を検出する厚さ検出センサ６０を搬送路２１内に備えており、 厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）が入力される設定部４５と、 Ｘ線検出器１０からのＸ線透過データが入力されるとともに被検査物Ｗ中の異物の有無を検査する制御部４０と、制御部４０による検査結果等を表示出力する表示部５と、制御部４０への各種パラメータ等の設定入力を行う設定部４５とを備え、 設定部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、制御部４０への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものであり、被検査物Ｗの厚さ情報は、利用者により計測された被検査物Ｗの高さ方向の寸法（ｈ）が予め設定部４５から入力されるか、または、搬送時に厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）が設定部４５から入力され、 制御部４０は、空間分解能の低下を抑制するために、Ｘ線検出器１０により行われる時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数を、設定部４５に入力された被検査物Ｗの厚さ情報に基づいて設定する段数設定部４６を備え、 被検査物Ｗの厚さをｈ、Ｘ線発生部９から被検査物Ｗまでの距離をＬ、検出素子列１０１～１０８の片側段数をｎ、各検出素子列１０１～１０８の中心間の間隔であるピッチをｐ、被検査物Ｗの上面のＸ線透過位置と下面のＸ線透過位置の水平方向の距離である画像ズレをΔｘとしたときの、画像ズレΔｘと片側段数ｎの関係を表した数式である、Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式において、Ｌの値は、Ｘ線発生部９と検出素子列１０１～１０８の位置によって予め定められる定数であり、ｐの値は、各検出素子列１０１～１０８の位置によって予め定められる定数であり、Δｘの値は、許容する最大の画像ずれ２Δｘをピッチｐを基準とした値に予め定めておくことによって、予め定められた定数であり、 段数設定部４６は、設定部４５から取得した被検査物Ｗの厚さに基づいて、上記のΔｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式から片側段数ｎを設定して時間遅延積分の段数を算出し、この段数をＸ線検出器１０の合成部１００ａに設定するか、または、検出された厚さレベル（ｈ［ｎ］）に予め対応付けられた時間遅延積分の段数を設定する、 Ｘ線検査装置。」 （２）甲２ ア 甲２の記載 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲２には、図面とともに次の事項が記載されている。 （ア） 「【００１８】 （ＴＤＩ駆動が可能なＣＣＤラインセンサを用いた顕微鏡装置） 図５にＴＤＩ駆動が可能なＣＣＤラインセンサを用いたディジタル顕微鏡装置を模式的に示す。図５において、１ａはＴＤＩ駆動が可能な撮像ブロック、１ａ－１、１ａ－２、１ａ－３は撮像ブロック１ａの３本のラインセンサ、１００は検体を有するプレパラート、１００ａは検体上の注目する部分、１０１は対物レンズ等の光学系を示す。プレパラート１００とは、スライドグラス上に検体（試料）を載置し、マウント液やカバーグラスにより検体を固定したものであり、スライドとも呼ばれる。図５において、紙面に垂直な方向（紙の厚み方向）が、ラインセンサ１ａ－１、１ａ－２、１ａ－３の主走査方向である。主走査方向に対し垂直な方向である紙面の左右方向が、ラインセンサ１ａ－１、１ａ－２、１ａ－３の副走査方向である。ラインセンサ１ａ－１、１ａ－２、１ａ－３はＴＤＩ駆動可能なＣＣＤラインセンサで実現されている。 【００１９】 図５において、ＴＤＩ駆動が可能なＣＣＤラインセンサを用いたディジタル顕微鏡装置による検体の撮像は、以下の様に行う。プレパラート１００は不図示のステージ上に保持されており、プレパラート１００を保持したステージと、撮像ブロック１ａ及び光学系１０１とが副走査方向（図５の矢印）に相対移動しながら、検体の撮像が行われる。説明を簡単にするため、以下、検体上の注目部分１００ａの像の処理についてのみ説明するが、検体上のその他の部分も同様に撮像され、撮像ブロック１ａからは２次元の撮像データが得られる。」 （イ） 「【００２２】 （ＴＤＩ駆動が可能なＣＣＤラインセンサを用いた被写界深度の拡大） 図６（ａ）～図６（ｃ）にＴＤＩ駆動が可能なＣＣＤラインセンサを利用して被写界深度を拡大する方法を模式的な図を示す。図６（ａ）～図６（ｃ）において、図５で使用した同じ符号については、説明を省略する。図６（ｃ）の符号１０２はガラス等の材料からなる真空（空気）より大きな屈折率を持つ透明部材である。」 （ウ） 「【００３３】 図１は、本発明の第１の実施形態の顕微鏡装置に適用される撮像ブロックを構成する回路ブロックを模式的に示す図である。図１は、ｎ個（以降、ｎ段とも記す。ｎは２以上の整数。）のラインセンサを有する撮像ブロック１ａを構成する回路ブロックを示している。 【００３４】 図１に示すように、半導体素子には、第１段～第ｎ段のｎ個のラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎと、各ラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎの出力をディジタル信号に変換するｎ個のアナログディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）２－１～２－ｎが設けられている。Ａ／Ｄ変換器２－１～２－ｎの後段には、Ａ／Ｄ変換器２－１～２－ｎからそれぞれ出力されるディジタル信号に対して演算処理を施すディジタル演算器が形成されている。本実施形態では、ディジタル演算器は次のように構成される。すなわち、第１段～第ｎ段のそれぞれに、各Ａ／Ｄ変換器の出力に対し第１の係数を乗算するｎ個の乗算器（演算器）３－１～３－ｎと、各乗算器からの出力を１ライン分のパラレルデータに変換するｎ個のシフトレジスタ５－１～５－ｎが設けられる。第１段～第ｎ－１段のそれぞれには、パラレルデータを記憶し次の段へと（つまり、副走査方向に）パラレルデータを転送するｎ－１個のパラレルラッチ回路６－１～６－（ｎ－１）が設けられる。第２段～第ｎ段のそれぞれには、各シフトレジスタから出力されるパラレルデータと前の段のパラレルラッチ回路から転送されるパラレルデータとを加算するｎ－１個の加算器７－２～７－ｎが設けられる。第ｎ段の加算器７－ｎの後段には、加算器７－ｎから出力されるパラレルデータをシリアルデータに変換して出力する出力段シフトレジスタ８が設けられている。また、９は除算器、１０は除算に用いる第３の係数を記憶する第３のレジスタ、１１は出力端子である。４－１～４－ｎは、各ラインに乗算する第１の係数を格納する第１のレジスタである。例えば、撮像ブロック１ａは、１つの半導体チップに実現されている。すなわち、主走査方向に平行に形成される複数のラインセンサ、Ａ／Ｄ変換器を初めとする他の回路も１つの半導体チップに実装されている半導体素子である。 【００３５】 図１の構成の撮像ブロック１ａに形成されたラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎは、図６（ａ）で説明した様に、光軸に垂直な平面に対して副走査方向に斜めに実装されている。前述したように、副走査方向のプレパラート１００の相対移動に同期して各ラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎが各々電荷を発生し、電流または電圧のアナログ信号を出力する。各レジスタは不図示の制御用コンピュータに接続され、制御用コンピュータから書き込みができる。各レジスタの値は、後述する所望の特性になるように制御用コンピュータから設定される。」 （エ） 「【００３７】 本発明の第１の実施形態の動作の説明を以降に記す。 第１の時刻に、検体上の注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－１で受光されたとする。ラインセンサ１ａ－１は光電変換を行い、前述した様に注目部分１００ａの像（の明るさ）に対応する電流または電圧のアナログ信号を出力する。出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－１により例えば１２ｂｉｔ幅のディジタルデータに変換される。変換されたディジタルデータには、乗算器３－１において、第１のレジスタ４－１に記憶されている係数Ｋ１が乗じられる。乗算器３－１の出力はシフトレジスタ５－１にシリアル入力される。シフトレジスタ５－１は、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力する。そして次のラインセンサ１ａ－２が注目部分１００ａの撮像を行う時刻（第２の時刻）より前に、パラレルラッチ回路６－１はシフトレジスタ５－１のパラレル出力をラッチする。 【００３８】 第２の時刻では、プレパラート１００が副走査方向に相対移動し、検体上の注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－２により光電変換され、対応するアナログ信号が出力される。出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－２により例えば１２ｂｉｔ幅のディジタルデータに変換される。変換されたディジタルデータには、乗算器３－２において、第１のレジスタ４－２に記憶されている係数Ｋ２が乗じられる。乗算器３－２の出力はシフトレジスタ５－２にシリアル入力される。シフトレジスタ５－２は、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力する。加算器７－２は、シフトレジスタ５－２のパラレル出力と、第２の時刻より前にパラレルラッチ回路６－１にラッチされたシフトレジスタ５－１のパラレル出力とを加算する。そして第３の時刻より前に、パラレルラッチ回路６－２は加算器７－２のパラレル出力をラッチする。 【００３９】 同様に、第ｉの時刻では（２≦ｉ≦ｎ－１）、注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－ｉにより光電変換され、対応するアナログ信号が出力される。出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－ｉにより例えば１２ｂｉｔ幅のディジタルデータに変換される。変換されたディジタルデータには、乗算器３－ｉにより第１のレジスタ４－ｉに記憶されている係数Ｋｉが乗じられる。乗算器３－ｉの出力はシフトレジスタ５－ｉにシリアル入力される。シフトレジスタ５－ｉは、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力する。加算器７－ｉは、シフトレジスタ５－ｉのパラレル出力と、第ｉの時刻より前にパラレルラッチ回路６－（ｉ－１）にラッチされたシフトレジスタ５－（ｉ－１）のパラレル出力とを加算する。そして第ｉ＋１の時刻より前に、パラレルラッチ回路６－ｉは加算器７－ｉのパラレル出力をラッチする。 【００４０】 第ｎの時刻では、注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－ｎにより光電変換され、対応するアナログ信号が出力される。出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－ｎにより例えば１２ｂｉｔ幅のディジタルデータに変換される。変換されたディジタルデータには、乗算器３－ｎにより第１のレジスタ４－ｎに記憶されている係数Ｋｎが乗じられる。乗算器３－ｎの出力はシフトレジスタ５－ｎにシリアル入力される。シフトレジスタ５－ｎは、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力する。加算器７－ｎは、シフトレジスタ５－ｎのパラレル出力と、第ｎの時刻より前にパラレルラッチ回路６－（ｎ－１）にラッチされたシフトレジスタ５－（ｎ－１）のパラレル出力とを加算する。そして第ｎ＋１の時刻より前に、出力段シフトレジスタ８は加算器７－ｎの出力をパラレル入力し、各ピクセルのデータをシリアル出力する。出力段シフトレジスタ８の出力は除算器９に順次入力される。除算器９において各ピクセルの値が第３のレジスタ１０に記憶されている係数Ｄ１ｎで除算され、注目部分１００ａを含む１ライン分（主走査１回分）の画像データＳｏｕｔとして出力端子１１に出力される。」 （オ）「【００４７】 図２（ａ）～図２（ｅ）は、第１のレジスタ４－１～４－ｎに記憶されている係数Ｋ１～Ｋｎの具体的な例を示す表である。より詳しくは、図２（ａ）～図２（ｅ）は、ｎ＝７すなわち７段のラインセンサを用いた場合の係数値の一例を示している。例えば、深い被写界深度を実現する場合は、図２（ａ）に示すような係数を第１のレジスタ４－１～４－７に記憶することにより実現できる。また、やや浅い被写界深度を実現するためには、図２（ｂ）や図２（ｃ）に示すような係数を第１のレジスタ４－１～４－７に記憶することにより実現できる。図２（ｂ）の特性は、図２（ｃ）の特性に比べ、Ｚ方向の変化が急峻な特性になる。さらに、光学系１０１の特性で決まる浅い被写界深度を実現するためには、図２（ｄ）に示すような係数を第１のレジスタ４－１～４－７に記憶することにより実現できる。また、図２（ｅ）に示すような係数を第１のレジスタ４－１～４－７に記憶することによって、Ｚ方向の輝度変化の高い周波数成分を強調することが可能である。例えば、Ｚ方向の輝度変化のエッジ成分等を強調したい場合に好適である。 【００４８】 以上まとめると、被写界深度の浅い画像を要求された場合は、係数Ｋｉの変化が激しい、すなわち分散が大きい係数Ｋｉを設定すると好適である。また被写界深度が深い画像を要求された場合は、係数Ｋｉの変化がなだらか、すなわち分散が小さい係数Ｋｉを設定すると好適である。このように、本実施形態によれば、第１のレジスタの係数Ｋｉを書き換えるだけで、撮像装置の光学系の特性、特に被写界深度を、ユーザ（観察者）の望む特性に簡単に変更することができるようになる。 【００４９】 また、本発明の第１の実施形態を用いることによって、異なる顕微鏡装置の光学特性（被写界深度など）を、第１のレジスタの係数Ｋｉを書き換えることで、容易に一致させることができるという利点もある。例えば、図６（ａ）の構成において、撮像ブロック１ａの傾斜角度が異なる２つの撮像装置があったと仮定する。それぞれ２５６段のラインセンサを有しており、装置１の傾斜角度が装置２の傾斜角度の半分であるとする。例えば、装置１において、２５６段全ての係数Ｋ１～２５６を１に設定した場合には、装置２では、１～１２８段の係数Ｋ１～Ｋ１２８を１に設定し、残りの係数Ｋ１２９～２５６を０に設定することで、装置１と２の被写界深度を同等にできる。係数を０に設定するということは、対応するラインセンサの稼働をオフにする（撮像を行わない）ことに相当する。」 （カ） 「【００６７】 また、本発明の第１～第３の実施形態で説明した用途以外の使い方も本発明の半導体素子は可能である。このような用途を増やすことによって、更に半導体素子のコストを下げることができる。例えば、本発明の半導体素子は、図５のように、複数のラインセンサを焦点面に平行に配置する構成のディジタル顕微鏡装置へも適用できる。このような、ディジタル顕微鏡装置では、係数を選ぶことにより明るさの調整も可能である。例えば、２５６段のラインセンサを持つ半導体素子について説明する。光量が非常に大きい場合、例えば、第１段の第１のレジスタの係数を１とし、以降の段の第１のレジスタの係数を０とすれば、一つのラインセンサの出力から画像が生成される。もし光量が少ない場合（例えば１／２６５の光量の場合）は、例えば第１のレジスタの係数は全て１とすることによって、２５６個のラインセンサの出力が加算されるので、光量が少ない場合であっても同等の出力レベルを得ることができる。」 （キ） 「図１ ［図：0001403624000006.jpg］ 」 （ク） 「図２ ［図：0001403624000007.jpg］ 」 （ケ） 「図５ ［図：0001403624000008.jpg］ 」 （コ） 「図６（ａ） ［図：0001403624000009.jpg］ 」 イ 甲２に記載された技術的事項 上記アによれば、甲２には、次の事項（以下、「甲２記載の技術事項」という。）が記載されているといえる。 「主走査方向に平行に形成される、第１段～第ｎ段のｎ個（ｎは２以上の整数。）のラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎと、各ラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎの出力をディジタル信号に変換するｎ個のアナログディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）２－１～２－ｎが設けられ、第１段～第ｎ段のそれぞれに、各Ａ／Ｄ変換器の出力に対し第１の係数を乗算するｎ個の乗算器（演算器）３－１～３－ｎと、各乗算器からの出力を１ライン分のパラレルデータに変換するｎ個のシフトレジスタ５－１～５－ｎが設けられ、第１段～第ｎ－１段のそれぞれには、パラレルデータを記憶し次の段へと（つまり、主走査方向に対し垂直な方向である副走査方向に）パラレルデータを転送するｎ－１個のパラレルラッチ回路６－１～６－（ｎ－１）が設けられ、第２段～第ｎ段のそれぞれには、各シフトレジスタから出力されるパラレルデータと前の段のパラレルラッチ回路から転送されるパラレルデータとを加算するｎ－１個の加算器７－２～７－ｎが設けられ、第ｎ段の加算器７－ｎの後段には、加算器７－ｎから出力されるパラレルデータをシリアルデータに変換して出力する出力段シフトレジスタ８が設けられ、出力段シフトレジスタ８の出力が順次入力される除算器９、除算器９における除算に用いる第３の係数を記憶する第３のレジスタ、出力端子１１、各ラインに乗算する第１の係数を格納する第１のレジスタ４－１～４－ｎ、が設けられた撮像ブロック１ａであって、 スライドグラス上に検体（試料）を載置し、マウント液やカバーグラスにより検体を固定したものであるプレパラート１００を保持したステージと、撮像ブロック１ａ及び光学系１０１とが副走査方向に相対移動しながら、検体の撮像が行われ、 第１の時刻に、検体上の注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－１で受光され、ラインセンサ１ａ－１は光電変換を行い、注目部分１００ａの像（の明るさ）に対応する電流または電圧のアナログ信号を出力し、出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－１によりディジタルデータに変換され、変換されたディジタルデータには、乗算器３－１において、第１のレジスタ４－１に記憶されている係数Ｋ１が乗じられ、乗算器３－１の出力はシフトレジスタ５－１にシリアル入力され、シフトレジスタ５－１は、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力し、次のラインセンサ１ａ－２が注目部分１００ａの撮像を行う時刻（第２の時刻）より前に、パラレルラッチ回路６－１はシフトレジスタ５－１のパラレル出力をラッチし、 第ｉの時刻では（２≦ｉ≦ｎ－１）、プレパラート１００が副走査方向に相対移動し、注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－ｉにより光電変換され、対応するアナログ信号が出力され、出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－ｉによりディジタルデータに変換され、変換されたディジタルデータには、乗算器３－ｉにより第１のレジスタ４－ｉに記憶されている係数Ｋｉが乗じられ、乗算器３－ｉの出力はシフトレジスタ５－ｉにシリアル入力され、シフトレジスタ５－ｉは、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力し、加算器７－ｉは、シフトレジスタ５－ｉのパラレル出力と、第ｉの時刻より前にパラレルラッチ回路６－（ｉ－１）にラッチされたシフトレジスタ５－（ｉ－１）のパラレル出力とを加算し、第ｉ＋１の時刻より前に、パラレルラッチ回路６－ｉは加算器７－ｉのパラレル出力をラッチし、 第ｎの時刻では、プレパラート１００が副走査方向に相対移動し、注目部分１００ａの像がラインセンサ１ａ－ｎにより光電変換され、対応するアナログ信号が出力される。出力されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器２－ｎによりディジタルデータに変換され、変換されたディジタルデータには、乗算器３－ｎにより第１のレジスタ４－ｎに記憶されている係数Ｋｎが乗じられ、乗算器３－ｎの出力はシフトレジスタ５－ｎにシリアル入力され、シフトレジスタ５－ｎは、主走査方向にデータをシフトし、１ライン分のデータをパラレル出力し、加算器７－ｎは、シフトレジスタ５－ｎのパラレル出力と、第ｎの時刻より前にパラレルラッチ回路６－（ｎ－１）にラッチされたシフトレジスタ５－（ｎ－１）のパラレル出力とを加算し、第ｎ＋１の時刻より前に、出力段シフトレジスタ８は加算器７－ｎの出力をパラレル入力し、各ピクセルのデータをシリアル出力し、出力段シフトレジスタ８の出力は除算器９に順次入力され、除算器９において各ピクセルの値が第３のレジスタ１０に記憶されている係数Ｄ１ｎで除算され、注目部分１００ａを含む１ライン分（主走査１回分）の画像データＳｏｕｔとして出力端子１１に出力され、 第１のレジスタの係数Ｋｉを書き換えるだけで、被写界深度や明るさを、ユーザ（観察者）の望む特性に簡単に変更することができ、係数を０に設定するということは、対応するラインセンサの稼働をオフにする（撮像を行わない）ことに相当する、 顕微鏡装置の撮像ブロック１ａ。」 （３）甲３ 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲３には、次の事項が記載されている。 ア 「【００１０】ＴＤＩ（Ｔｉｍｅ Ｄｅｌａｙ ａｎｄ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）センサとは、時間遅延積分方式のセンサを意味する。 【００１１】ＴＤＩセンサは、図５に示すように複数の光電変換素子１１２の配列(以下ラインという)が、平行に数ライン配置された光電変換素子群と、ＴＤＩ回路１１３から構成されている。 【００１２】今、１ライン１０個の光電変換素子の配列が、５ライン構成されているとする。 【００１３】図６においてＴＤＩセンサ１０８の撮像領域に入った測定対象の黒点に注目すると、黒点像が最初のラインに撮像されている状態が図６に相当する。 【００１４】さらに時間が経過すると、ＸＹΘテーブル１０５の移動のため、測定対象である黒点像は第２番目のラインに撮像される。この状態が図７に相当する。この像の移動と同じタイミングで、ＴＤＩセンサ１０８の各ライン上の光電変換素子１１２に蓄積された電荷を順次次のラインの対応する光電変換素子１１２に移動させる。この走査をラインシフトと呼ぶ。例えば、第１ラインに蓄積された電荷は、第２ラインの光電変換素子１１２に移動される。同様に第２ラインに蓄積されていた電荷は、第３ラインに移動される。 【００１５】ＴＤＩ回路１１３はこのように各ライン上の光電変換素子１１２に蓄積された電荷を順次次のラインの対応する光電変換素子１１２に移動させる機能を有する。 【００１６】このようにして、ラインシフトをＴＤＩセンサ１０８の撮像領域内で順次繰返し、最終ラインに到達した時点で(図８）、最終ラインの電荷を出力する。従って黒点の像の信号電荷は、各ラインでそれぞれ足し合わされて大レベルになる。それに対してノイズ等はランダムな変化をするので、このような足しあわせによっても必ずしも大レベルにならない。よって従来に比べて、信号に対するノイズ比であるS／N比の改善された信号を得ることができるという特長がある。」 イ 「【００２６】本発明は、試料の倍率に基づいて、ＴＤＩ処理における加算ライン数を決定するものである。そのため、低倍率で変倍させ、入射する光量が大きいときは、加算ライン数を少なくして試料の処理に好適な測定データを得ることができる。また、高倍率で変倍させ、入射する光量が小さいときは、加算ライン数を多くしてやればよい。このように本発明にかかる試料処理装置を用いることによって、従来必要であったフィルタ等を用いた入射光量の調整が不要となる効果があった。」 ウ 「【００３３】図１は第１の実施の形態の構成図である。 【００３４】光源であるＡｒレーザ６から発せられた光は照明光学系１によって、マスクパターンが形成されているフォトマスク２を照明する。そして、フォトマスク２の像である透過光は対物レンズ系３で拡大された後、ＴＤＩセンサ４により検出され、このＴＤＩセンサ４の出力信号は、測定データとして、データ比較回路５に送信され、マスクパターンの設計に用いた設計データと比較される。測定データと設計データの相違点を欠陥として、この欠陥があるかないかでフォトマスク２の検査を行うというのが本発明の実施の形態の検査装置である。」 エ 「【００３９】移動手段であるＸＹテーブル７は検査対象であるフォトマスク２を保持し、このフォトマスク２を任意のＸＹ方向に駆動する。このＸＹテーブル７は操作部８に内蔵されているＸＹテーブル駆動ドライバ９によって動作制御される。また、ＸＹテーブル７の位置情報は位置データとしてデータ比較回路５に送信される。 【００４０】変倍手段である対物レンズ系３はフォトマスク２の鉛直下方に配設され、前記照射手段によりフォトマスク２に照射された光の透過光を拡大するとともに、ＴＤＩセンサ４の光電変換素子１６に結像させる機能を有する。また、対物レンズ１０は倍率ごとに複数枚備わっていて、操作部８に内蔵されている倍率設定回路１１からの倍率信号を受信したレンズ切替え装置１２によって、設定された倍率の対物レンズに切り替えられる。 【００４１】ＴＤＩセンサ４は、撮像手段である光電変換素子１６と、ＴＤＩ処理手段であるＴＤＩ回路２５とから構成される。この光電変換素子１６は、図２に示されるように、直線上に等間隔で配列された１０２４個の光電変換素子１６の列（以下ラインという）が、平行に６４本配置された構成となっている。一つの光電変換素子１６が一つの画素を構成している。 【００４２】この光電変換素子１６により、前記変倍手段で拡大された透過光によるフォトマスク２の像は撮像され、光量および光電変換素子１６の検知時間に応じた電気的信号に変換された後、A／D変換回路によってデジタル化された信号(以下光強度出力信号という)に変換される。このようにして、光電変換素子１６から構成される画素は、画素値を得ることができる。 【００４３】ＴＤＩ回路２５は１ラインからの光強度出力信号と隣のラインからの光強度出力信号とを、ＸＹテーブル７の駆動に同期させて順次足しあわせるというＴＤＩ処理を行う。このとき足しあわせるライン数は、倍率設定回路１１からの倍率信号によって決定される。すなわち倍率設定回路は、足し合せるライン数を決定する決定手段としての機能も有する。 【００４４】こうして光強度出力信号を足し合せて得られたデータ(以下測定データという)は、処理手段であるデータ比較回路５に送信される。このデータ比較回路５は操作部８に内蔵されている。」 オ 「【００５１】また、ＴＤＩセンサ４は倍率設定回路１１からの倍率信号に応じて、光強度出力信号を足しあわせるライン数を変更する。例えば足しあわせるライン数を３２ラインとする。 【００５２】以後検査が開始される。 【００５３】光源からの光は照明光学系１を介して、フォトマスク２上に照射される。照射された光の透過光は対物レンズ１０によって所定の倍率に拡大された後、ＴＤＩセンサ４の光電変換素子１６によって撮像される。 【００５４】光電変換素子１６は撮像した光を電気的信号に変換する。 【００５５】この電気的信号はアンプで増幅された後、Ａ／Ｄ変換されデジタル化された信号（以下光強度出力信号という）となる。この動作とともに、ＸＹテーブル７は、ラインの方向と略直角方向に移動する。従って、対物レンズ系３により拡大された像と、撮像手段であるＴＤＩセンサの相対位置は移動することとなる。また、その移動方向は、ラインの方向と略直角方向なので、拡大された像の同一の部位は、この移動方向と同じ方向にある画素によって順次撮像されることになる。ＴＤＩ回路２５によって画素値である前記光強度出力信号のうち、像の同一の部位に対する画素値を足し合わされる。いま、３２ライン分の画素値がＴＤＩ回路２５によって足し合わされることになる。」 カ 「図１ ［図：0001403624000010.jpg］ 」 キ 「図２ ［図：0001403624000011.jpg］ 」 （４）甲第４号証 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物であって特許異議申立書において証拠方法として提示された甲第４号証（特開平１０－１９７４６３号公報；以下、「甲４」という。）には、次の事項が記載されている。 ア 「【０００７】本発明の請求項２は、請求項１に付け加え、前記電子検出器は、ＴＤＩアレイＣＣＤとした。本発明の請求項３では、請求項２に付け加え、前記ＴＤＩアレイＣＣＤは積算ライン可変型であり、前記積算ライン数は検査対象試料の状態に応じて設定を可変とした。」 イ 「【００１２】まず始めに、積算ライン可変型ＴＤＩアレイＣＣＤについて簡単に説明する。第2図は、積算ライン可変型９６段ＴＤＩ(Time-Delay-Integration)アレイＣＣＤのブロック図である。Ｃ1～Ｃ2048の２０４８個のＣＣＤ画素が水平方向に並んでいるライン状のＣＣＤステージが、Row1～Row96の９６個だけ垂直方向に並べられている。各ＣＣＤステージ上の蓄積電荷は、外部から供給される１垂直クロック信号により、一度に垂直方向へ１ステージ分だけ転送されるしくみになっている。 【００１３】積算ライン数が外部からの信号により最大の９６ラインに設定されている場合、例えばある時点でRow96に撮像された２０４８画素の画像が、垂直方向に１ステージ分だけ移動し、それと同期して垂直クロック信号が与えられると、Row96に撮像されたライン画像はRow95に転送される。そこで同じ画像を撮像し続けるので、蓄積される画像の電荷は２倍になる。続けて画像が垂直方向にさらに１ステージ分移動し、同期クロック信号が与えられると、蓄積画像はRow94に転送され、そこで３倍の画像電荷を蓄積する。 【００１４】以下順々に、画像の移動に追随してRow1まで電荷の転送と撮像を繰り返し終わると、９６倍の画像電荷を蓄積した結果が水平出力レジスタからシリアルに画像データとして取り出される。以上のような動作が、各ステージRow1～Row96で同時に行われ、２次元の画像(2048画素×96画素)を垂直方向に送りながら、９６倍の画像電荷を蓄積した画像を、１ラインずつ同期して取り出していくことが可能となる。 【００１５】外部制御により、積算ライン数を可変にする場合は、以下のようになる。このカメラの場合、積算ラインは、96、48、24、12、6段の５通りが選択可能になっている。例えば、４８段に設定された場合は、CSS48で図示されているライン状の箇所で、転送電荷はカットされる構造になっている。つまり４８段設定の場合、実際に撮像に寄与するのはRow1～Row48までに限定される。他の段数設定の場合は、その段数に応じて、CSS24、CSS12、CSS6、の箇所で転送電荷がカットされるようになる。」 ウ 「【００２６】 【発明の効果】 本発明によれば、ＴＤＩカメラでの積算ライン数を選択可能とできるので、１次ビーム電流量をある程度、試料の表面状態や表面材質に合わせて最適化することが可能となる。従って、試料の１次ビーム照射によるチャージアップや、汚染などのダメージを、最小限に抑えることが可能となる。」 エ 「図２ ［図：0001403624000012.jpg］ 」 （５）甲５ ア 甲５の記載 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲５には、図面とともに次の事項が記載されている。 （ア） 「【請求項１】赤外信号処理のための焦点面アレイ・プロセッサにおいて、 赤外信号を受信する焦点面アレイと、 前記焦点面アレイからデータを受信しかつ信号を出力するアナログ・マルチプレクサと、 前記焦点面アレイからの多重化された信号をデジタル化するアナログ・デジタル変換器とを有し、 前記焦点面アレイ、前記アナログ・マルチプレクサ及び前記アナログ・デジタル変換器が液体窒素温度以下において動作し、 さらに、前記焦点面アレイからのデジタル化された出力を受信し、かつ該焦点面アレイにおいて生じる不均一性とガンマ線スパイクについて補正された前記受信された赤外信号を示す信号を出力する、単一基板上に形成された時間依存信号プロセッサを有する、 焦点面アレイ・プロセッサ。」 （イ） 「【０００４】焦点面アレイ（ＦＰＡ）１６は、個々の検知素子又はピクセル（pixel：画素）のマトリクスであり、入射フォトンがあたることにより電子を放出する。「ピクセル」という用語は「ピクチャ・エレメント」（picture element）の略語であって、情景の中で最小単位の独自に規定できる素子である。各ピクセルの値は、検知器上に入射する赤外エネルギーの量を表している。検知器により放出される電子は、各ピクセル下において捕獲され、そして捕獲された電子の量は、そのピクセルの直視視野（immediate field of view：ＩＦＯＶ）内の物体の強度に直接的に比例する。典型的な焦点面アレイは、１２８×１２８の素子のマトリクスとして配置された１６３８４個のピクセルからなる。アレイ内の全てのピクセルからのデータは、その情景のスナップショットとして読取ることができる。このスナップショットは、赤外データのフレームと呼ばれる。」 （ウ） 「【０００７】 【課題を解決するための手段】本発明の信号プロセッサは、アナログからデジタルへの変換、不均一性補正及びガンマ線スパイク補償を、デュワびん内部の単一のシリコン基板上で全てデジタル的に行う。信号プロセッサは、ＦＰＡデータの信号対雑音比を向上させるための時間遅延の積分や空間フィルタリング等の付加的なアルゴリズムをサポートする。このプロセッサはプログラム可能であって、システム稼働中は信号プロセッサのアルゴリズムにより用いられる係数を変更することができ、もし不要であれば除くこともできる。このプロセッサは、赤外データ中の目標物の信号対ノイズ比を向上させ、赤外ＦＰＡからの出力データの帯域幅を２桁程低減させる。」 （エ） 「【００１１】プログラム可能焦点面上信号プロセッサ このタスクには、２段階のデュワびん又は冷却器が必要である。Ａ／Ｄ変換器は４°Ｋにおいて動作しなければならず、かつシリコン上のＣＭＯＳ ＶＬＳＩチップ（ＶＣＯＳ）は７７°Ｋにおいて動作しなければならない。図１は、第１段目のデュワびんに取付けられた冷却片突起上の１つのシリコン基板（１９）にある焦点面アレイ（１）とそのマルチプレクサ回路（２）を示している。ＦＰＡは、最大フレーム速度が４００フレーム／秒（ｆｐｓ）である２５６×２５６のピクセルと同じ大きさとする。 【００１２】ＦＰＡからのアナログ出力は、アナログ・マルチプレクサ（２）により多重化され、単一の直列ワイヤを介してアナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換器（３）へ転送される。Ａ／Ｄ変換器は、別のシリコン基板（２０）へ接続されているが、ＦＰＡ基板（１９）と同じ冷却片上に設置されるか又はそのデュワびん内部に設置することもできる。Ａ／Ｄ変換器は、アナログ・マルチプレクサの出力に対し毎秒２６２０万回の変換を行ないかつ１６ビットの精度がなければならない。いくつかのＡ／Ｄ変換器は、これらの特徴を備えている。例えば、Ｈｙｐｒｅｓｓ（商標）のＡ／Ｄ変換器は、フラックス定量化技術を用いており、窒化ニオブによる超伝導量子干渉素子（ＳＱＵＩＤ）から製造される。現在、Ｈｙｐｒｅｓｓは、２００ＭＨｚにおいて動作する１６ビットのビット分解能をもつＡ／Ｄ変換器を製造している。データのフォーマットは交互配置されたフレームとなる。すなわち、４個の連続するフレームにより最初のピクセルに対する４個のサンプルが出力され、続いて第２のピクセルの４個のサンプルが出力される、等々である。これらのデータは、並列のビットとして第２段目のデュワびんに渡される。」 （オ） 「【００１８】図１は、ＶＣＯＳパッケージ内の１２個の論理チップの配置を示している。ＶＣＯＳ内の補正回路素子（８）へのデータ入力は、１６ビット幅である。図１の補正回路素子は、ガンマ線の回避、不良ピクセルの検知、不良ピクセルの補正、不均一性の補正並びに時間遅延及び積分を実行する。この素子は、いくつかのメモリ素子（４、５、１２、１３）とのインターフェースを行い、そしてその結果を空間フィルタ素子（９、１０）へ送る。空間フィルタ素子は、補正回路素子からの整数データをフローティング・ポイントへ変換し、データに対して別々のフィルタ処理を行い、空間フィルタリングされたデータをしきい値素子、平均素子及び標準偏差素子（１１、１４、１５、６、７）へ渡す。空間フィルタリング及びしきい値処理は、ＩＥＥＥ３２ビット・フローティング・ポイント・フォーマットを用いて行われる。ＶＣＯＳ内の全ての論理チップは、０．５μの外形サイズをもち、１００Ｍｚで動作する。」 （カ） 「【００２３】アルゴリズムのインプリメンテーション 次に、後述の時間依存処理アルゴリズムのインプリメンテーション（実動化）を詳述する。各アルゴリズムのインプリメンテーションを、処理が発生する順に説明する。図２は、この信号プロセッサについてのハイレベルのアルゴリズムの流れを示している。」 （キ） 「【００２７】応答性の補正 応答性の補正は、２つのステージで実行される。すなわち、不良ピクセル処理及び不均一性補正である。 【００２８】不良ピクセルの処理 不良ピクセル処理の２つの要素は、不良ピクセルの検知と不良ピクセルの補正である。これらについては次に詳述する。 【００２９】不良ピクセルの検知 不良ピクセルの検知は、ゼロ又は６５５３５に対する各ピクセルからのデータを検査する。これらの条件のいずれかが当てはまれば、そのピクセルは不良ピクセルとしてリストに挙げられ、このピクセルの位置が不良ピクセル・リストに送られる。 【００３０】図４は、不良ピクセル検知回路を示している。各ピクセル値についての１６ビット全てが、１６個の入力をもつＮＡＮＤゲート４０とＯＲゲート４２へ同時に入力する。もし、ＮＡＮＤゲート又はＯＲゲートのいずれかの出力がゼロであれば、それぞれ、そのピクセルの値が６５５３６又はゼロのいずれかであること意味しており、そのピクセルは不良であるとされる。ＮＡＮＤゲート及びＯＲゲートからの出力は、２個の入力をもつＡＮＤゲート４４へ入力される。ＡＮＤゲート４４は、もしピクセルが不良であればゼロを出力し、そしてこの値によりラッチ４６は１６ビット・バイナリ・カウンタの値を保持する。さらにこの信号は、不良ピクセル補正回路において不良ピクセル・インジケータとして用いられる。このカウンタは、データのフレーム内のピクセルの位置を含む。 【００３１】カウンタは、各フレームの初期にリセットされ、ピクセル・クロック信号によりクロックを与えられる。ピクセル・クロックは、新しいピクセル値が不良ピクセル検知回路へ入力される毎に、カウンタを増分させる。カウンタの出力は、１６ビット・ラッチへ入力される。ラッチがＡＮＤゲート出力によりストローブされるとき、フレーム内の最初のピクセルに対して相対的なピクセルの位置がラッチに記憶され、不良ピクセルリストに含めるべくプロセス・コントローラ素子へ送る。 【００３２】不良ピクセルの補正 不良ピクセルの補正アルゴリズムは、不良ピクセルをその左隣り（前のピクセル）と右隣り（次のピクセル）の平均で置換えることである。図５に、不良ピクセル補正回路を示す。この回路への入力は、入力データと、不良ピクセル検知回路からの不良ピクセル・インジケータ信号である。不良ピクセル・インジケータ信号がロー（low）になる（すなわち、現ピクセルが不良であることを示す）とき、図５のレジスタ５０、５２、５４の内容は、現ピクセルと前の２つのピクセルの値を含んでいる。アルゴリズムを実行するためには、直前のピクセルと現ピクセルと次のピクセルが３つのレジスタ内に捕捉される必要がある。しかしながら、左隣りと右隣りの値を第１及び第３のレジスタに捕捉するためには、不良ピクセル・インジケータ信号を１クロック周期分だけ遅延する必要がある。不良ピクセル・インジケータ信号は１ビットのフリップ・フロップ５６にラッチされ、そして次のクロック周期がアクティブとなるとき、左隣りと右隣りの値同士が加算され、平均化されて不良ピクセルの代りに出力される。もし現ピクセルが不良でなければ、この回路はそのピクセル値を変えることなく通過させる。」 （ク） 「【００４１】時間遅延及び積分 図８は、時間遅延及び積分（ＴＤＩ）ステージは、和演算及びダンプ積分器として実行される。多数の連続するフレーム、Ｎ個が平均化され、その結果が空間フィルタ素子へ出力される。集積されたフレーム数Ｎはまた、スケーリング定数でもあり、プロセス・コントローラ素子により与えられる。この設計では、Ｎとして０、２、４、又は８の値をとることができる。」 （ケ） 「図１ ［図：0001403624000013.jpg］ 」 （コ） 「図２ ［図：0001403624000014.jpg］ 」 （サ） 「図４ ［図：0001403624000015.jpg］ 」 （シ） 「図５ ［図：0001403624000016.jpg］ 」 イ 甲５に記載された技術的事項 上記アによれば、甲５には、次の事項（以下、「甲５記載の技術事項」という。）が記載されているといえる。 「個々のピクセルのマトリクスであり、赤外信号を受信する焦点面アレイからのデジタル化された出力を受信する時間依存信号プロセッサが、不良ピクセル処理の後に時間遅延及び積分（ＴＤＩ）ステージを実行し、不良ピクセル処理の２つの要素は、不良ピクセルの検知と不良ピクセルの補正であり、不良ピクセル検知回路による不良ピクセルの検知は、ゼロ又は６５５３５に対する各ピクセルからのデータを検査するものであり、各ピクセル値についての１６ビット全てが、１６個の入力をもつＮＡＮＤゲート４０とＯＲゲート４２へ同時に入力され、もし、ＮＡＮＤゲート又はＯＲゲートのいずれかの出力がゼロであれば、それぞれ、そのピクセルの値が６５５３６又はゼロのいずれかであること意味しており、そのピクセルは不良であるとされ、ＮＡＮＤゲート及びＯＲゲートからの出力は、２個の入力をもつＡＮＤゲート４４へ入力され、ＡＮＤゲート４４は、もしピクセルが不良であればゼロを出力し、そしてこの値によりラッチ４６は１６ビット・バイナリ・カウンタの値を保持し、このカウンタは、データのフレーム内のピクセルの位置を含み、さらに、ＡＮＤゲート４４から出力されるゼロの信号は、不良ピクセル補正回路において不良ピクセル・インジケータとして用いられ、不良ピクセル補正回路への入力は、入力データと、不良ピクセル検知回路からの不良ピクセル・インジケータ信号であり、不良ピクセル補正回路において、不良ピクセル・インジケータ信号が１クロック周期分だけ遅延されており、不良ピクセル・インジケータ信号は１ビットのフリップ・フロップ５６にラッチされ、そして次のクロック周期がアクティブとなるとき、左隣りと右隣りの値同士が加算され、平均化されて不良ピクセルの代りに出力される。」 （６）甲６ ア 甲６の記載 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲６には、図面とともに次の事項が記載されている。 （ア） 「【請求項１】光学系の走査方向に配列されたｎ個（但し、ｎは２以上の整数である。）の受光素子から出力される画素信号を時間遅延積分するＴＤＩ回路であって、ｐ個（但し、ｐはｐ＝ｋｎを満足する整数であり、ｋは正の整数である。）の積分容量と、同一撮像点の画素信号は、同一の積分容量に供給されるように、前記ｎ個の受光素子から出力される画素信号を前記ｐ個の積分容量に供給するスイッチング回路網とを備えていることを特徴とするＴＤＩ回路。」 （イ） 「【請求項５】前記ｎ個の受光素子のそれぞれに対応させて設けられ、対応する受光素子から出力される画素信号を入力するためのｎ個の入力端子と、 前記ｎ個の入力端子のそれぞれに対応させて設けられ、第１の電流入出力電極を対応する入力端子に接続され、制御電極に一定電圧が印加されるｎ個の入力トランジスタと、 前記ｎ個の入力トランジスタのそれぞれに対応させて設けられ、第１の電流入出力電極を対応する入力トランジスタの第２の電流入出力電極に接続され、第２の電流入出力電極を前記スイッチング回路網に接続されたｎ個の画素選択トランジスタと、 欠陥画素情報に基づいて、前記ｎ個の画素選択トランジスタのそれぞれのオン、オフを制御する画素選択制御回路とを備えていることを特徴とする請求項１記載のＴＤＩ回路。」 （ウ） 「【請求項８】画素選択制御回路は、前記ｎ個の画素選択トランジスタのそれぞれに対応させて設けられたｎ個のＲＳフリップフロップ回路と、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、欠陥画素情報を記憶させるレジスタと、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、一端を対応するレジスタの出力端に接続され、他端を対応するＲＳフリップフロップ回路のリセット信号入力端子に接続され、書込み信号によりオン、オフが制御されるｎ個の第１のスイッチ素子と、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、一端を高電位側の電源線に接続され、他端を対応するＲＳフリップフロップ回路のリセット信号入力端子に接続され、リセット信号によりオン、オフが制御されるｎ個の第２のスイッチ素子とを備えていることを特徴とする請求項５、６又は７記載のＴＤＩ回路。」 （エ） 「【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、撮像センサから得られる画素信号のＳ／Ｎ比を向上させる時間遅延積分回路、いわゆる、ＴＤＩ（time delay and integration）回路、画像信号読出回路及び撮像デバイスに関する。 【０００２】例えば、赤外線ラインセンサのように、被写体に対して相対的に機械走査する撮像センサにおいて、高いＳ／Ｎ比を得るためには、複数の画素を撮像センサの被写体に対する相対的走査方向に配列し、ＴＤＩ回路を使用して同一の撮像点の画素信号を時間遅延積分する必要がある。 【０００３】 【従来の技術】従来、ＴＤＩ回路として、例えば、撮像センサから出力される信号電荷をＣＣＤ（charge coupled device）からなる電荷転送路を転送させながら積分していくＴＤＩ回路が知られている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかし、ＣＣＤを使用したＴＤＩ回路は、撮像センサの欠陥画素を非選択にすることが困難であり、全ての走査チャネルで高いＳ／Ｎ比を実現することが困難であるという問題点を有していた。 【０００５】本発明は、かかる点に鑑み、欠陥画素からの画素信号を遮断できるようにし、高いＳ／Ｎ比を得ることができるようにしたＴＤＩ回路、画像信号読出回路及び撮像デバイスを提供することを目的とする。」 （オ） 「【００２３】第１実施形態・・図１～図９ 図１は本発明のＴＤＩ回路の第１実施形態を赤外線ラインセンサに形成された受光素子の一部と共に示す回路図であり、図１中、１－１、１－２、１－３、１－４は赤外線ラインセンサの走査方向に一列に配列された受光素子、２は本発明のＴＤＩ回路の第１実施形態である。 【００２４】本発明のＴＤＩ回路の第１実施形態２において、３－１、３－２、３－３、３－４は受光素子１－１、１－２、１－３、１－４から出力される画素信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４を入力するための入力端子、４は入力回路である。」 （カ） 「【００２９】図２は入力回路４の構成を示す回路図であり、図２中、１３－１、１３－２、１３－３、１３－４は入力トランジスタをなすｎＭＯＳトランジスタ、ＶIGはｎＭＯＳトランジスタ１３－１、１３－２、１３－３、１３－４のゲートに印加するゲートバイアス電圧である。 【００３０】また、１４－１、１４－２、１４－３、１４－４は欠陥画素からの画素信号を遮断するための画素選択トランジスタをなすｎＭＯＳトランジスタ、１５はｎＭＯＳトランジスタ１４－１、１４－２、１４－３、１４－４のオン、オフを制御する画素選択制御回路、ＤＳ１、ＤＳ２、ＤＳ３、ＤＳ４は画素選択制御回路１５から出力される画素選択制御信号である。 【００３１】図３は画素選択制御回路１５の構成を示す回路図であり、図３中、１６はシフトレジスタ、１７－１、１７－２、１７－３、１７－４はシフトレジスタ１６を構成する１ビットのレジスタ、１８－１、１８－２、１８－３、１８－４はＲＳフリップフロップ回路である。 【００３２】また、１９－１、１９－２、１９－３、１９－４は書込み信号Ｗによりオン、オフが制御されるｐＭＯＳトランジスタ、２０－１、２０－２、２０－３、２０－４はリセット信号Ｒによりオン、オフが制御されるｐＭＯＳトランジスタ、２１は電源電圧Ｖddを供給する電源線である。」 （キ） 「【００８７】このようにすると、受光素子１－１～１－４が出力する画素信号Ｇ１～Ｇ４を個別に得ることができるので、この状態で、欠陥の画素（欠陥の受光素子）の判定を行う欠陥画素情報を得て、この欠陥画素情報を外部メモリ等に記憶させるようにする。 【００８８】そして、ＴＤＩ走査を開始する前に、外部メモリ等に記憶させた欠陥画素情報をシフトレジスタ１６に記憶させるようにする。この場合、シフトレジスタ１６の欠陥のない画素に対応するレジスタにはＬレベル、シフトレジスタ１６の欠陥画素に対応するレジスタにはＨレベルを記憶させるようにする。 【００８９】次に、セット信号Ｓ＝Ｈレベルとし、画素選択制御信号ＤＳ１～ＤＳ４＝Ｈレベルとした後、書込み信号Ｗ＝Ｌレベルとし、レジスタ１７－１～１７－４の記憶レベルをＲＳフリップフロップ回路１８－１～１８－４のリセット信号入力端子に印加する。 【００９０】このようにすると、ＲＳフリップフロップ回路１８－１～１８－４のうち、リセット信号入力端子にＨレベルが印加されたＲＳフリップフロップ回路から出力される画素選択制御信号はＬレベルとなるので、ｎＭＯＳトランジスタ１４－１～１４－４のうち、欠陥画素に対応して設けられているｎＭＯＳトランジスタはＯＦＦとされ、欠陥画素からの画素信号はスイッチング回路網５には供給されないことになる。 【００９１】このように、本発明のＴＤＩ回路の第１実施形態２によれば、受光素子１－１～１－４から出力される画素信号Ｇ１～Ｇ４をスイッチング回路網５を介して積分容量４０－１～４０－４に供給することによってＴＤＩ機能を達成するようにしたことにより、入力回路４に画素選択トランジスタをなすｎＭＯＳトランジスタ１４－１～１４－４を備えてなる回路構成の簡単な画素選択回路を設け、欠陥画素からの画素信号を遮断することができるので、Ｓ／Ｎ比の向上を図ることができ、これを４個の画素を走査方向に配列してなる赤外線ラインセンサに使用する場合には、全ての走査チャネルで高いＳ／Ｎ比を得ることができる。」 （キ） 「図１ ［図：0001403624000017.jpg］ 」 （ク） 「図２ ［図：0001403624000018.jpg］ 」 （ケ） 「図３ ［図：0001403624000019.jpg］ 」 イ 甲６に記載された技術的事項 上記アによれば、甲６には、次の事項（以下、「甲６記載の技術事項」という。）が記載されているといえる。 「光学系の走査方向に配列されたｎ個（但し、ｎは２以上の整数である。）の受光素子から出力される画素信号を時間遅延積分するＴＤＩ回路であって、 ｐ個（但し、ｐはｐ＝ｋｎを満足する整数であり、ｋは正の整数である。）の積分容量と、 同一撮像点の画素信号は、同一の積分容量に供給されるように、前記ｎ個の受光素子から出力される画素信号を前記ｐ個の積分容量に供給するスイッチング回路網と、 前記ｎ個の受光素子のそれぞれに対応させて設けられ、対応する受光素子から出力される画素信号を入力するためのｎ個の入力端子と、 前記ｎ個の入力端子のそれぞれに対応させて設けられ、第１の電流入出力電極を対応する入力端子に接続され、制御電極に一定電圧が印加されるｎ個の入力トランジスタと、 前記ｎ個の入力トランジスタのそれぞれに対応させて設けられ、第１の電流入出力電極を対応する入力トランジスタの第２の電流入出力電極に接続され、第２の電流入出力電極を前記スイッチング回路網に接続されたｎ個の画素選択トランジスタと、 欠陥画素情報に基づいて、前記ｎ個の画素選択トランジスタのそれぞれのオン、オフを制御する画素選択制御回路と、を備え、 画素選択制御回路は、前記ｎ個の画素選択トランジスタのそれぞれに対応させて設けられたｎ個のＲＳフリップフロップ回路と、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、欠陥画素情報を記憶させるレジスタと、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、一端を対応するレジスタの出力端に接続され、他端を対応するＲＳフリップフロップ回路のリセット信号入力端子に接続され、書込み信号によりオン、オフが制御されるｎ個の第１のスイッチ素子と、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路のそれぞれに対応させて設けられ、一端を高電位側の電源線に接続され、他端を対応するＲＳフリップフロップ回路のリセット信号入力端子に接続され、リセット信号によりオン、オフが制御されるｎ個の第２のスイッチ素子とを備え、 前記ｎ個の受光素子は、赤外線ラインセンサの走査方向に一列に配列された受光素子１－１、１－２、１－３、１－４、 前記ｎ個の入力端子は、受光素子１－１、１－２、１－３、１－４から出力される画素信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４を入力するための入力端子３－１、３－２、３－３、３－４、 前記ｎ個の入力トランジスタは、入力トランジスタをなすｎＭＯＳトランジスタ１３－１、１３－２、１３－３、１３－４、 前記ｎ個の画素選択トランジスタは、欠陥画素からの画素信号を遮断するための画素選択トランジスタをなすｎＭＯＳトランジスタ１４－１、１４－２、１４－３、１４－４、 前記ｎ個のＲＳフリップフロップ回路は、ＲＳフリップフロップ回路１８－１、１８－２、１８－３、１８－４、 前記レジスタは、シフトレジスタ１６を構成する１ビットのレジスタ１７－１、１７－２、１７－３、１７－４、 前記ｎ個の第１のスイッチ素子は、書込み信号Ｗによりオン、オフが制御されるｐＭＯＳトランジスタ１９－１、１９－２、１９－３、１９－４、 前記ｎ個の第２のスイッチ素子は、リセット信号Ｒによりオン、オフが制御されるｐＭＯＳトランジスタ２０－１、２０－２、２０－３、２０－４、であり、 ＴＤＩ走査を開始する前に、外部メモリ等に記憶させた、欠陥の画素（欠陥の受光素子）の判定を行う欠陥画素情報をシフトレジスタ１６に記憶させるようにし、この場合、シフトレジスタ１６の欠陥のない画素に対応するレジスタにはＬレベル、シフトレジスタ１６の欠陥画素に対応するレジスタにはＨレベルを記憶させるようにし、 セット信号Ｓ＝Ｈレベルとし、画素選択制御回路１５から出力される画素選択制御信号ＤＳ１～ＤＳ４＝Ｈレベルとした後、書込み信号Ｗ＝Ｌレベルとし、レジスタ１７－１～１７－４の記憶レベルをＲＳフリップフロップ回路１８－１～１８－４のリセット信号入力端子に印加すると、 ＲＳフリップフロップ回路１８－１～１８－４のうち、リセット信号入力端子にＨレベルが印加されたＲＳフリップフロップ回路から出力される画素選択制御信号はＬレベルとなるので、ｎＭＯＳトランジスタ１４－１～１４－４のうち、欠陥画素に対応して設けられているｎＭＯＳトランジスタはＯＦＦとされ、欠陥画素からの画素信号はスイッチング回路網５には供給されない、 ＴＤＩ回路。」 （７）甲第７号証 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物であって特許異議申立書における証拠方法として提示された甲第７号証（特開２００９－２２２６２４号公報；以下、「甲７」という。）には、次の事項が記載されている。 ア 「【００１０】 （測定画像生成部） 測定画像生成部１４は、受光装置３０と偽像除去部４０などを備えている。受光装置３０は、図４に示すように、時間遅延積分センサ３２を複数個つなげた受光部を備えている。時間遅延積分センサ（ＴＤＩセンサ）３２は、フォトダイオードアレイ、ＣＣＤ受光素子などが使用され、走行方向に積分段数だけキャリア（電荷）を積分するセンサである。時間遅延積分センサ３２は、段数に比例する感度向上が得られ、素子のばらつきや照明の明るさの変動等のノイズを低減することができる。偽像除去部４０は、各時間遅延積分センサ３２で受像した画像の出力値について、基準値との比較、平均値の算出などの演算処理をして、光の強さなどから通常検出しない異常に大きな出力値、即ち基準値を超える異常な画素値、即ち偽像を除去するものである。ここで、基準値は、通常検出しない大きな出力値を考慮して、又は、すべての出力値の平均値などの種々の演算処理で得られた値を考慮して求められる。」 イ 「【００２４】 詳しくは、偽像除去部４０において、第１の時間遅延積分センサ３２ａの各画素３６の出力値（画素値）は、基準値と比較され、基準値を超える場合、偽像と判断して、廃棄される。同様に、第２～第Ｎの時間遅延積分センサ（ＴＤＩ２～ＴＤＩＮ）３２ｂ～３２ｎについても、それぞれの出力値が基準値以下か否か判断される（ステップＳ１０）。基準値以下でない画素値は、偽像として廃棄される（ステップＳ１１）。基準値以下の画素値は、合計されて平均値として算出される（ステップＳ１２）。平均値は、偽像を含まない測定画像として、比較部２４に送られて、基準画像と比較されて、欠陥の有無が検査される（ステップＳ１３）。」 （８）甲８ ア 甲８の記載 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲８には、図面とともに次の事項が記載されている。 （ア） 「【請求項１】 ＴＤＩ型の赤外線検知器を用いた赤外線撮像装置において、 前記赤外線検知器内に複数の列を成すように並べられており、赤外線の強度を検知する検知素子と、 欠陥のある検知素子に関する情報を保持する、書き替え可能な記憶手段と、 前記記憶手段内の情報において欠陥ありと示された検知素子の出力信号を除外して、各検知素子からの検知信号を出力する取捨選択手段と、 赤外線を前記検知素子に集光する赤外線集光手段と、 前記検知素子が前記赤外線集光手段からの赤外線を見込んだ際の検知素子出力を解析し、欠陥素子を検出する欠陥素子検出手段と、 前記欠陥素子検出手段にて検出された欠陥素子の出力信号を使用しないように、前記記憶手段の内容を書き換える欠陥素子情報更新手段と、 を有することを特徴とする赤外線撮像装置。」 （イ） 「【請求項３】 前記欠陥素子検出手段は、電源投入時に欠陥素子の検出を行うことを特徴とする請求項１記載の赤外線撮像装置。」 （ウ） 「【００１４】図７２は、従来のＴＤＩ回路の内部構成を示す図である。ＴＤＩ回路３４０には、欠陥素子置き換え情報保持部３４１が設けられている。欠陥素子置き換え情報保持部３４１はＲＯＭ(Read Only Memory)であり、赤外線検知機内の欠陥素子アドレス等の情報が設定されている。また、Ａ／Ｄ変換器３３１～３３４から送られてきた信号は、セレクタ３４２で受け取られる。セレクタ３４２は、欠陥素子置き換え情報保持部３４１の内容を参照し、欠陥素子からの信号を、隣接する別の素子の信号に置き換える。それらの信号は、加算器３４３に送られる。加算器３４３では、入力された各列の信号を加算し、除算器３４４に送る。除算器３４４は、入力された信号を列の数（図の例では４）で除算し、基準熱源制御部３５１や感度補正回路３５３へ出力する。 【００１５】このような赤外線撮像装置によれば、赤外線検知器内の検知素子の一部に欠陥素子が含まれていても、その欠陥素子の情報を予め欠陥素子置き換え情報保持部３４１に設定しておくことで、欠陥素子からの信号を取り除くことができる。その結果、生成された画像に欠陥素子の影響がでず、モニタ上にきれいな画像を表示することができる。」 （エ） 「【００２２】 【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図１は、本発明の原理構成図である。本発明の赤外線撮像装置は、ＴＤＩ型の赤外線検知器１を用いている。ＴＤＩ型の赤外線検知器１では、多数の検知素子１ａが複数の列に並べられている。図の例では４列に並べられている。検知素子１ａは、赤外線の強度を検知し、電気信号に変換する機能を有する。また、赤外線検知器１ａ内には記憶手段１ｂが設けられている。この記憶手段１ｂは、書き換え可能であり、各検知素子１ａの良不良に関する情報を保持する。取捨選択手段１ｃは、記憶手段１ｂ内の情報に基づいて、検知素子１ａ毎の信号を取捨選択して出力する。 【００２３】赤外線集光手段２は、外部から入射した赤外線を赤外線検知器１へ走査するとともに、一定量の赤外線を検知素子に向かって照射する機能を有する。そのために、光学系２ａ，２ｃ及び走査系２ｂを有する。光学系２ａは、外部からの赤外線を走査系２ｂに送る。 【００２４】また、赤外線集光手段２の両側に基準熱源５，６が設けられている。基準熱源５は、撮像対象物の置かれた環境より高温の一定の温度を保っている。基準熱源６は、撮像対象物の置かれた環境と同程度の温度を保っている。そして、赤外線集光手段２の走査系２ｂは、外部からの赤外線や基準熱源５，６からの赤外線を、走査させながら光学系２ｃの方向へ導く。光学系２ｃは、走査系２ｂから送られた赤外線を検知素子１ａ上に集光させる。 【００２５】欠陥素子検出手段３は、検知素子１ａが赤外線集光手段２からの赤外線を見込んだ際の検知素子出力を解析し、欠陥素子を検出する。欠陥素子情報更新手段４は、欠陥素子検出手段３が検出した欠陥素子の出力信号が使用されないように、記憶手段１ｂの内容を書き換える。 【００２６】このような赤外線撮像装置によれば、赤外線集光手段２の基準熱源５，６から発せられた赤外線は、走査系２ｂ、光学系２ｃを介して赤外線検知器１の検知素子１ａ上に照射する。すると、各検知素子１ａの検知信号が欠陥素子検出手段３に送られ、欠陥素子の判別が行われる。すると、欠陥素子情報更新手段４によって、欠陥素子の検知信号が使用されないように記憶手段１ｂの内容が更新される。一方、外部から入射した赤外線は、光学系２ａ、走査系２ｂ、光学系２ｃを介して、赤外線検知器１の検知素子１ａ上に走査される。図の例では、撮像対象物の像が、検知素子１ａの配列上を水平方向に移動することになる。これにより、各列の同じ段（図中の検知素子の上から数えた場合の順番）に位置する検知素子には、時間差を持って同じ像が結像することになる。これらの検知素子１ａで検知された信号は、取捨選択手段１ｃに送られる。すると、取捨選択手段１ｃが記憶手段１ｂの内容を参照することで、欠陥素子を認識し、その欠陥素子からの出力信号を除外し、正常な検知素子からの信号のみをＴＤＩ回路へ送信する。その後は、通常のＴＤＩ処理が施され、画像が表示される。 【００２７】これにより、赤外線撮像装置の運用中においても、即座に欠陥素子に関する情報を更新し、欠陥素子に関する最新の情報を用いて赤外線撮像を行うことが可能となる。その結果、運用中に検知素子に一部が破壊されても常に正常な素子のみの出力が得られるようになり、表示される画像の劣化が低く押さえられる。 【００２８】次に、本実施の形態を具体的に説明する。以下の説明では、３つの実施の形態を示す。全実施の形態は、感度補正モードとオンチップメモリ更新モードの２つを持つ。感度補正モードは感度補正係数算出、感度補正をリアルタイムに行うモードであり、最新のフィールドを含む過去１６フィールド分（１フィールドは３２ライン）の取得データを用いて感度補正係数を算出し、常に最新の係数を常に用いてリアルタイムに感度補正を行う。オンチップメモリ更新モードは素子判定、ＴＤＩ素子選択情報生成、ゲイン設定値生成、オンチップメモリへのシリアル送信を行うモードであり、このモードでは１６フィールド分（１フィードは１６ライン）の取得データを用いて情報値を生成し、オンチップメモリ更新処理を行う。装置を起動し、赤外線検知器信号が出力可能になった直後と、装置運用中にて外部からのトリガ信号を受信したときの両方についてオンチップメモリ更新モードとなる。オンチップメモリ更新モードでは、赤外線画像撮像化処理を停止し、赤外線検知器内にある検知器出力情報格納メモリであるオンチップメモリにアクセスし、ＴＤＩ素子選択情報と検知器出力ゲイン値を更新する。更新完了後、オンチップメモリ更新モードを終了して感度補正モードに移ることで赤外線画像撮像化処理を開始し、画像信号を外部へ出力する動作を行う。」 （オ） 「【００３７】赤外線検知器２０は、赤外線をアナログの電気信号に変換する機能を有する。検知素子が４列に配置されている。図５は、検知素子の配列を示す図である。検知素子は、４列に並べられている。以後、各列をａ列、ｂ列、ｃ列、ｄ列とする。この場合、ａ列側からｄ列側に向かって走査が行われる。１つの列には、１８０個の検知素子が一直線に並べられている。各検知素子には、列毎に１～１８０の素子番号が付与されている。 【００３８】図２に戻り、赤外線検知器２０の出力は、アンプ３１～３４に送られる。また、赤外線検知器２０内にはオンチップメモリ２１が搭載されている。オンチップメモリ２１は、検知器出力情報を格納するのに利用される。オンチップメモリ２１には全素子分（素子番号×ＴＤＩ段数列）のＴＤＩ素子選択情報と検知出力ゲイン設定値が格納される。ＴＤＩ素子選択情報と検知出力ゲイン設定値はＤＳＰ(Digital Signal Processor)回路によって生成され、ドライバ４２を介してオンチップメモリ２１へと送信される。 【００３９】アンプ３１～３４は、１列毎に設けられている。各アンプ３１～３４は、微小な赤外検知出力を増幅する。増幅した信号は、ドライバ４１を介して制御部に送られる。 【００４０】図３は、第１の実施の形態の制御部を示す図である。ドライバ４３は、赤外線検知部のドライバ４１に接続されており、ドライバ４１からの信号を受け取る。受け取った信号は、Ａ／Ｄ変換器５１～５４に入力する。Ａ／Ｄ変換器５１～５４は、入力されたアナログ信号をディジタル信号に変換する。変換されたディジタル信号は、ＴＤＩ回路６０とＤＳＰ回路１００とのいずれかへ送出される。感度補正モードで動作させるときにはＴＤＩ回路６０経由でＤＳＰ回路１００へ送られ、オンチップメモリ更新モードで動作させるときには直接ＤＳＰ回路１００へ送られる。 【００４１】なお、赤外線検知器２０からはＴＤＩを行うために検知番号数×ＴＤＩ段数のデータが出力されるため、アンプ３１～３４（図２に示す）やＡ／Ｄ変換器５１～５４は、ＴＤＩ段数分の系が必要となる。実施の形態では検知素子数＝１８０素子、ＴＤＩ段数＝４段と想定しているため、アンプ３１～３４（図２に示す）やＡ／Ｄ変換器５１～５４は各４系統必要となる。 【００４２】ＴＤＩ回路６０は、加算器６１と除算器６２とで構成されている。加算器６１は、Ａ／Ｄ変換器５１～５４から出力されるａ～ｄ列の４系統の信号を加算する。除算器６２は、加算結果を１／４し、４列の平均を算出する。その結果、ＴＤＩ回路６０による演算結果は、基準熱源制御回路７２とＤＳＰ回路１００とへ出される。」 （カ） 「【０１００】図２７は、オンチップメモリ更新時のＤＳＰへのデータ入力順序を示す図である。Ａ／Ｄ変換器５１～５４で生成された画像データは、１ライン目のデータから順にＤＳＰ回路１００に転送される。１つのラインのデータには、ａ列～ｄ列の各検知素子列で検知されたデータが含まれる。 【０１０１】オンチップメモリ更新時においてＴＤＩ回路６０からの高温データ及び常温データを受け取ったＤＳＰ回路１００は、画像データの感度補正を行う。図２８は、ＤＳＰ回路のオンチップメモリ更新機能を示すブロック図である。ＤＳＰ回路１００のオンチップメモリ更新機能は、データ取得部１６０、差信号判定部１７０、雑音値判定部１８０、及び素子判定部１９０で構成される。 【０１０２】データ取得部１６０は、無効走査期間中にＡ／Ｄ変換器５１～５４から直接送られてくる検知素子毎の高温データと常温データとを、フィールド毎にｎラインずつ取得する。取得した高温データと常温データとは、差信号判定部１７０に送られる。また、常温データは、雑音値判定部１８０にも送られる。 【０１０３】差信号判定部１７０は、高温データの１ラインあたりの平均値と、常温データの１ラインあたりの平均値との差を求める。そして、その差がしきい値を超えていた場合には、その検知素子を異常と判断し、その旨の出力を行う。 【０１０４】雑音値判定部１８０は、常温データを受け取り、信号の最大値と最小値との差をとる。その値がしきい値を超えていた場合には、その検知素子を異常と判断し、その旨の出力を行う。 【０１０５】素子判定部１９０は、差信号判定部１７０と雑音値判定部１８０との論理和をとり、いずれかにおいて異常と判断された検知素子に関しては、異常と判定する。判定結果は、赤外線検知器２０のオンチップメモリ２１に転送する。素子判定方法としては、最新のフィールドを含む過去ｍフィールド分のｍ×ｎサンプルのデータから素子別にＳ／Ｎ値を求め、Ｓ／Ｎ値が設定値より小さい素子を異常と判断して選別することもできる。 【０１０６】図２９は、データ取得部の内部構成を示す図である。データ取得部１６０には、高温熱源用のデータ記憶部１６１～１６３と、常温熱源用のデータ記憶部１６４～１６６が設けられている。各データ記憶部１６１～１６６には、１つのフィールド分（１６ライン）のデータが格納される。高温熱源用のデータ記憶部１６１～１６３に格納された値は、差信号判定部１７０へ送られる。また、常温熱源用のデータ記憶部１６４～１６６に格納された値は、差信号判定部１７０と雑音値判定部１８０との双方に送られる。 【０１０７】図３０は、差信号判定部の内部構成を示す図である。差信号判定部１７０に入力されたデータは、加算部１７１ａ～１７１ｆに入力される。加算部１７１ａ～１７１ｆは、データ取得部１６０から送られたデータを、加算値記憶部１７２ａ～１７２ｆに格納された値に加算していく。加算した値は、その都度、加算値記憶部１７２ａ～１７２ｆに格納する。加算値記憶部１７２ａ～１７２ｆは、加算部１７１ａ～１７１ｆで加算された値を記憶する。加算値記憶部１７２ａ～１７２ｆに記憶された値は、加算部１７１ａ～１７１ｆと加算部１７３ａ，１７３ｂとに送られる。加算部１７３ａは、高温データのフィールド毎の加算値を合計する。加算部１７３ｂは、常温データのフィールド毎の加算値を合計する。 【０１０８】加算部１７３ａ，１７３ｂで加算された値は、それぞれ高温加算値記憶部１７４ａと常温加算値記憶部１７４ｂとの格納される。格納されたデータは、平均値算出部１７５ａ，１７５ｂに渡される。平均値算出部１７５ａ，１７５ｂは、渡されたデータを２５６で割ることにより、平均値を算出する。算出した平均値は、高温平均値記憶部１７６ａ，常温平均値記憶部１７６ｂに格納される。それぞれに格納された平均値は、差信号算出部１７７に渡される。差信号算出部１７７は、高温平均値記憶部１７６ａに記憶されたデータから、常温平均値記憶部１７６ｂに記憶されたデータを減算することで、差を計算する。算出された差の値は、差信号記憶部１７８に格納される。差信号記憶部１７８は、格納された値を、比較器１７９に渡す。比較器１７９には、予めしきい値が設定されている。そして、差信号記憶部１７８に格納された値がしきい値を超えていないかどうかを判定する。しきい値を超えていれば正常と判定し、判定結果を「０」とする。しきい値を超えていない場合には異常と判定し、判定結果を「１」とする。判定結果は、素子判定値記憶部１７０ａに格納する。素子判定値記憶部１７０ａの値は、差信号判定部１７０の判定結果として素子判定部１９０に送られる。 【０１０９】図３１は、雑音値判定部と素子判定部との内部構成を示す図である。雑音値判定部１８０に対してデータ取得部１６０より入力された常温データは、２つの比較器１８１ａ，１８１ｂに入力される。比較器１８１ａは、入力されたデータの中の最大値を抽出する。一方、比較器１８１ｂは、入力されたデータの中の最小値を抽出する。各比較器１８１ａ，１８１ｂで抽出されたデータは、それぞれ最大値記憶部１８２ａ、最小値記憶部１８２ｂに格納される。最大値記憶部１８２ａと最小値記憶部１８２ｂとは、記憶したデータを雑音値算出部１８３に渡す。雑音値算出部１８３は、最大値記憶部１８２ａに格納されたデータから最小値記憶部１８２ｂに格納されたデータを減算し、差を求める。求められた差は、差信号記憶部１８４に格納する。差信号記憶部１８４は、記憶したデータを比較器１８５に渡す。比較器１８５は、予め設定されているしきい値と差信号記憶部１８４の値とを比較する。差信号記憶部１８４の値がしきい値を超えていなければ正常と判断し、判定結果を「０」とする。しきい値を超えていれば異常と判断し、判定結果を「１」とする。判定結果は、素子判定値記憶部１８６に格納する。素子判定値記憶部１８６は、記憶したデータを素子判定部１９０に対して出力する。 【０１１０】素子判定部１９０では、論理和演算部１９１が、差信号判定部１７０からの素子判定値と雑音値判定部１８０からの判定値とを受け取り、その論理和（ＯＲ）を求める。すなわち、いずれか一方で異常（値が「１」）と判定された検知素子の値は「１」となる。論理和演算部１９１の演算結果は、素子判定値記憶部１９２に格納される。素子判定値記憶部１９２に格納されたデータは、赤外線探知器２０のオンチップメモリ２１に送信される。 【０１１１】以上のような機能をＤＳＰ回路１００が有することによって、無効走査期間に取得された高温データと常温データとに基づいて、有効走査期間にそのフィールドでの素子判定値が算出される。すなわち、データ取得部１６０にて、走査系の無効走査期間にて高温、常温熱源データを各々１フィールド分の１６ライン、加算値記憶部１６１～１６６に格納し、フィールド毎に高温と常温データを差信号判定部１７０へ、常温データを雑音値判定部１８０へ渡す。 【０１１２】差信号判定部１７０では高温と常温ともそれぞれ全素子についてフィールド毎に加算していき、第ｍフィールド目に１６フィールドでの平均値を算出する。次に、平均後のデータから高温－常温を算出し、比較器１７９にてしきい値との比較を行う。ここで、しきい値より小さい値の素子を差信号での欠陥として判定を行い、判定結果を差信号判定値として素子判定値記憶部１７０ａに格納する。 【０１１３】雑音値算判定部１８０では常温データのみを使用して、比較器１８１ａ，１８１ｂにて全素子についてｍフィールド×ｎラインでのＤＣ値の最大値、最小値を抽出後、減算器により雑音値（＝最大値－最小値）を算出する。この雑音値を、比較器１８５にてしきい値と比較する。ここで、しきい値より大きい値の素子を欠陥として判定を行い、判定結果を雑音判定値として素子判定値記憶部１８６に格納する。 【０１１４】差信号判定値と雑音判定値が確定した後、素子判定部１９０において両者の論理和を取り、結果をＳ／Ｎ判定値として素子判定値記憶部１９２に格納する。その後、判定結果からＴＤＩ素子選択情報、ゲイン設定値を生成し、赤外線検知器２０のオンチップメモリ２１へ出力する。」 （キ） 「【０１２０】ＴＤＩ素子選択情報は「０」が選択（対応する検知素子を使用する）、「１」が非選択（対応する検知素子を使用しない）を表し、全素子について使用するかしないかを設定する。検知出力ゲイン設定値は「０」が非設定、「１」が設定を表し、検知電荷を検知出力電圧に変換する際のコンデンサの容量値設定に使用する。検知出力ゲイン設定値によって、ＳＷ１～ＳＷ３が制御されることにより、３種のコンデンサＣ１（静電容量Ｃ0）、コンデンサＣ２（静電容量２Ｃ0）、コンデンサＣ３（静電容量４Ｃ0）の接続状態が変化する。このようにして、素子番号別の欠陥数の違いによる出力依存をなくしている。 【０１２１】次に、オンチップメモリ更新処理の詳細について説明する。図３４は、オンチップメモリ更新のＤＳＰ回路の動作シーケンスを示す図である。Ｎフィールド～Ｎ＋１５フィールドの無効走査期間にデータを取り込む。取り込むデータは、高温データと常温データとである。これらのデータは、ＴＤＩ処理を行う前のデータ、すなわち、Ａ／Ｄ変換器５１～５４から直接送られたデータである。各データは全ての検知素子に対応するデータであり、その数は、１８０素子×４列×１６ラインとなる。Ｎフィールド～Ｎ＋１５フィールドの有効走査期間に各素子の判定値を算出する。Ｎ＋１５フィールドにおいては、さらに次の処理を行う。まず、Ｎフィールド～Ｎ＋１５フィールドで算出された判定値により、ＴＤＩ素子選択情報を生成する。次に、ゲイン設定情報を生成する。そして、シリアル出力を行う。以下図３５～図５２に、メモリ更新時の処理手順をフローチャートで示す。なお、この処理は全てＤＳＰ回路１００で行われる処理である。 【０１２２】図３５は、メモリ更新時のＤＳＰのメインのフローチャートである。 ［Ｓ１０１］初期値を設定する。例えば、メモリのクリアなどを行う。 ［Ｓ１０２］フィールドＮの無効走査期間において、ＴＤＩ前の高温データ、常温データを全素子について、１６ライン分取り込む（データ取り込みＮｏ．１）。 ［Ｓ１０３］フィールドＮの有効走査期間において、このフィールドでの取得データから判定値を算出する（素子判定Ｎｏ．１）。 ［Ｓ１０４］フィールドＮ＋１の無効走査期間において、ＴＤＩ前の高温データ、常温データを全素子について、１６ライン分取り込む（データ取り込みＮｏ．２）。 ［Ｓ１０５］フィールドＮ＋１の有効走査期間において、このフィールドでの取得データから判定値を算出する（素子判定Ｎｏ．２）。 ［Ｓ１０６］フィールドＮ＋２の無効走査期間において、ＴＤＩ前の高温データ、常温データを全素子について、１６ライン分取り込む（データ取り込みＮｏ．３）。 ［Ｓ１０７］フィールドＮ＋２の有効走査期間において、このフィールドでの取得データから判定値を算出する（素子判定Ｎｏ．３）。 【０１２３】以後、フィールドＮ＋１４まで同様の処理が繰り返される。 ［Ｓ１０８］フィールドＮ＋１５の無効走査期間において、ＴＤＩ前の高温データ、常温データを全素子について、１６ライン分取り込む（データ取り込みＮｏ．１６）。 ［Ｓ１０９］フィールドＮ＋１５の有効走査期間において、素子判定を行う。具体的には、本フィールドでの高温データから全素子の平均値を算出し、同様に、本フィールドでの常温データから全素子の平均値を算出する。次に、全素子の差信号（高温－常温）を算出する。そして、設定値より小さい値を持つ素子を選別する（差信号での素子選別）。さらに本フィールドを含む１６フィールド分の常温データ（２５６ライン）での雑音値を全素子について算出し、設定値より大きい値を持つ素子を選別する（雑音での素子判別）。最後に、差信号での選別素子と雑音値での選別素子との論理和をとることにより、素子判定を行う。 ［Ｓ１１０］ＴＤＩ素子選択情報を生成する。すなわち、素子判定値をもとに素子別の値を設定する。正常なら「０」、異常なら「１」である。それらの値の集合が選択情報である。 ［Ｓ１１１］ゲイン設定情報を生成する。すなわち、素子判定値をもとに素子番号別の検知器出力ゲイン値（コンデンサ容量）を設定する。 ［Ｓ１１２］オンチップメモリへのシリアル送信を行う。」 （ク） 「【０２５９】以上のように本発明の赤外線撮像装置によれば、装置を起動し、赤外線検知器信号が出力可能になった直後と、装置運用中にてレーザの照射などによって損傷素子が発生したことに起因する外部からのトリガ信号を受信したときに両方について、赤外線画像撮像化処理に先立って、素子判定、ＴＤＩ素子選択情報生成、検知器出力ゲイン設定を行い、赤外線検知器内にある検知器出力情報格納メモリであるオンチップメモリの素子選択情報と検知器出力ゲイン値を更新する。これにより、最新のオンチップメモリデータに基づいて出力される検知信号を使用して赤外線画像撮像化処理を行うことができ、レーザの照射などによる損傷素子を使用することなく、正常な素子の出力のみから画像を生成することができる。その結果、検知素子の損傷が発生しても画像の劣化を最低限に押さえることができる。また、赤外線検知器内で、使用すべき検知素子の選択や、ゲイン制御などを行うことにより、装置全体の小型化を図ることもできる。」 （ケ） 「図１ ［図：0001403624000020.jpg］ 」 （コ） 「図２ ［図：0001403624000021.jpg］ 」 （サ） 「図３ ［図：0001403624000022.jpg］ 」 （シ） 上記（イ）における「前記欠陥素子検出手段は、電源投入時に欠陥素子の検出を行う」との記載、上記（エ）における「装置を起動し、赤外線検知器信号が出力可能になった直後と、装置運用中にて外部からのトリガ信号を受信したときの両方についてオンチップメモリ更新モードとなる。オンチップメモリ更新モードでは、赤外線画像撮像化処理を停止し、赤外線検知器内にある検知器出力情報格納メモリであるオンチップメモリにアクセスし、ＴＤＩ素子選択情報と検知器出力ゲイン値を更新する」との記載、上記（ク）における「装置を起動し、赤外線検知器信号が出力可能になった直後と、装置運用中にてレーザの照射などによって損傷素子が発生したことに起因する外部からのトリガ信号を受信したときに両方について、赤外線画像撮像化処理に先立って、素子判定、ＴＤＩ素子選択情報生成、検知器出力ゲイン設定を行い、赤外線検知器内にある検知器出力情報格納メモリであるオンチップメモリの素子選択情報と検知器出力ゲイン値を更新する。」との記載、及び、撮像装置が電源を入れることで起動されるものであることが技術常識であることを考慮すると、電源を投入して装置を起動していると認められる。 イ 甲８に記載された技術的事項 上記アによれば、甲８には、次の事項（以下、「甲８記載の技術事項」という。）が記載されているといえる。 「ＴＤＩ型の赤外線検知器２０を用いている赤外線撮像装置であって、 赤外線検知器２０では、多数の検知素子が、４列に並べられており、以後、各列をａ列、ｂ列、ｃ列、ｄ列とし、 赤外線検知器２０の出力は、１列毎に設けられているアンプ３１～３４に送られ、各アンプ３１～３４は、微小な赤外検知出力を増幅し、増幅した信号は、ドライバ４１を介して制御部に送られ、制御部のドライバ４３は、ドライバ４１からの信号を受け取り、受け取った信号は、Ａ／Ｄ変換器５１～５４に入力し、Ａ／Ｄ変換器５１～５４は、入力されたアナログ信号をディジタル信号に変換し、変換されたディジタル信号は、感度補正モードで動作させるときにはＴＤＩ回路６０経由でＤＳＰ回路１００へ送られ、オンチップメモリ更新モードで動作させるときには直接ＤＳＰ回路１００へ送られ、 ＴＤＩ回路６０は、加算器６１と除算器６２とで構成されており、加算器６１は、Ａ／Ｄ変換器５１～５４から出力されるａ～ｄ列の４系統の信号を加算し、除算器６２は、加算結果を１／４し、４列の平均を算出し、 赤外線検知器２０内には、全素子分（素子番号×ＴＤＩ段数列）のＴＤＩ素子選択情報と検知出力ゲイン設定値が格納されるオンチップメモリ２１が搭載されており、 電源を投入して装置を起動し、赤外線検知器信号が出力可能になった直後と、装置運用中にてレーザの照射などによって損傷素子が発生したことに起因する外部からのトリガ信号を受信したときに両方についてオンチップメモリ更新モードとなり、オンチップメモリ更新モードでは、赤外線画像撮像化処理を停止し、ＤＳＰ回路１００によって、素子判定、ＴＤＩ素子選択情報生成、検知器出力ゲイン設定を行い、赤外線検知器内にあるオンチップメモリのＴＤＩ素子選択情報と検知器出力ゲイン設定値を更新し、 ＤＳＰ回路１００のオンチップメモリ更新機能は、データ取得部１６０、差信号判定部１７０、雑音値判定部１８０、及び素子判定部１９０で構成され、 データ取得部１６０にて、走査系の無効走査期間にて、ＴＤＩ処理を行う前のデータ、すなわち、Ａ／Ｄ変換器５１～５４から直接送られたデータである、高温データと常温データとを各々１フィールド分の１６ライン、加算値記憶部１６１～１６６に格納し、フィールド毎に高温データと常温データを差信号判定部１７０へ、常温データを雑音値判定部１８０へ渡し、 差信号判定部１７０では高温データと常温データともそれぞれ全素子についてフィールド毎に加算していき、第ｍフィールド目に１６フィールドでの平均値を算出し、平均後のデータから高温－常温を算出し、比較器１７９にてしきい値との比較を行い、しきい値を超えていれば正常と判定し、判定結果を「０」とし、しきい値を超えていない場合には異常と判定し、判定結果を「１」とし、判定結果は、素子判定値記憶部１７０ａに格納し、素子判定値記憶部１７０ａの値は、差信号判定部１７０の判定結果として素子判定部１９０に送られ、 雑音値判定部１８０では常温データのみを使用して、比較器１８１ａ，１８１ｂにて全素子についてｍフィールド×ｎラインでのＤＣ値の最大値、最小値を抽出後、減算器により雑音値（＝最大値－最小値）を算出し、この雑音値を、比較器１８５にてしきい値と比較し、しきい値を超えていなければ正常と判断し、判定結果を「０」とし、しきい値を超えていれば異常と判断し、判定結果を「１」とし、判定結果は、素子判定値記憶部１８６に格納し、素子判定値記憶部１８６は、記憶したデータを素子判定部１９０に対して出力し、 素子判定部１９０では、論理和演算部１９１が、差信号判定部１７０からの素子判定値と雑音値判定部１８０からの判定値とを受け取り、その論理和（ＯＲ）を求め、いずれか一方で異常（値が「１」）と判定された検知素子の値は「１」となり、論理和をとることにより、素子判定を行い、論理和演算部１９１の演算結果から、ＴＤＩ素子選択情報、検知器出力ゲイン設定値を生成し、赤外線検知器２０のオンチップメモリ２１へ出力してＴＤＩ素子選択情報と検知器出力ゲイン設定値を更新し、 ＴＤＩ素子選択情報は、「０」が選択（対応する検知素子を使用する）、「１」が非選択（対応する検知素子を使用しない）を表し、全素子について使用するかしないかを設定するものであり、 更新完了後、オンチップメモリ更新モードを終了して感度補正モードに移ることで赤外線画像撮像化処理を開始し、画像信号を外部へ出力する動作を行い、 検知素子で検知された信号は、取捨選択手段に送られ、取捨選択手段がオンチップメモリ２１の内容を参照することで、欠陥素子を認識し、その欠陥素子からの出力信号を除外し、正常な検知素子からの信号のみをＴＤＩ回路へ送信し、その後、通常のＴＤＩ処理が施される、 赤外線撮像装置。」 （９）甲第９号証 本件特許に係る出願前に頒布された刊行物であって申立人が令和５年１月１２日に提出した意見書において証拠方法として提示した甲第９号証（特開２０１３－３６８０５号公報；以下、「甲９」という。）には、次の事項が記載されている。 ア 「【０００１】 本発明は、時間遅延積分（ＴＤＩ）方式のセンサを用いて試料の透過Ｘ線を測定可能な透過Ｘ線分析装置及び方法に関する。」 イ 「【０００７】 本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、ＴＤＩセンサの積算段数を容易かつ広い範囲で調整することができるＸ線分析装置及び方法の提供を目的とする。」 ウ 「【００２０】 以上のように、ＴＤＩセンサ１４の段数を遮蔽板２１によって物理的に調整すればよいので、ＴＤＩセンサの積算段数をセンサ自身の電気回路や演算ソフトウェアで制御する場合のように専用のＴＤＩセンサを製造しなくてよく、汎用のＴＤＩセンサを利用してコストダウンが図られる。又、専用のＴＤＩセンサで積算段数を調整する場合には、測定者が積算段数を自由に調整することが難しいが、本発明では遮蔽板２１の移動量を物理的に調整すればよいので、ＴＤＩセンサの積算段数を自由に調整できる。 例えば、厚みの薄い試料を分析する場合はＴＤＩセンサ１４の段数を多くし、厚みの厚い試料を分析する場合はＴＤＩセンサ１４の段数を少なくすればよい。ＴＤＩセンサ１４の段数の調整は、例えばコンピュータ（遮蔽手段位置制御手段）６０にキーボード等の入力装置６１を接続し、測定者が遮蔽板２１の任意の移動量（又は移動量に応じたＴＤＩセンサ１４の段数）を入力装置６１から入力して行うことができる。遮蔽手段位置制御手段６０は、測定者の入力した情報に基づいてステッピングモータ３２の回転を制御し、遮蔽板２１の移動量を調整する。」 （１０）甲第１０号証～甲第１２号証に裏付けられる周知技術 申立人が令和５年１月１２日に提出した意見書ににおいて証拠方法として提示した甲第１０号証（特開２０１３－２０５３３８号公報；以下、「甲１０」という。）の段落【０００１】、【００１８】、【００２７】、【００２９】、図２、甲第１１号証（特開２００８－１１１７４７号公報；以下、「甲１１」という。）の段落【０００１】、【０００３】、【００２７】～【００２８】、【００３６】、及び甲第１２号証（特開２００６－１７６８７号公報；以下、「甲１２」という。）の段落【０００１】、【００１３】により、Ｘ線検査装置において検査対象と検査条件とを予め対応づけて記憶手段により記憶しておくことが本件特許に係る出願前に周知技術であったことが裏付けられる。 ２ 本件訂正発明１について （１）対比 本件訂正発明１と甲１発明とを対比する。 ア 甲１発明の「Ｘ線検査装置」は本件訂正発明１の「Ｘ線検査装置」に相当する。 イ 甲１発明の「被検査物Ｗ」は、本件訂正発明１の「被測定物」に相当する。そして、甲１発明において、「Ｘ線発生部９と対向して配置されたＸ線検出器１０」「には、被検査物Ｗを透過したＸ線が入射するようになって」いるから、甲１発明の「Ｘ線発生部９」は、本件訂正発明１の「被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段」に相当する。 ウ 甲１発明の「搬送される被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）」は、本件訂正発明１の「所定の搬送方向」に相当する。そして、甲１発明において、「搬送される被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）」と、「搬入口７から」「搬出口８側（Ｘ方向）に向」かう方向とは、同じ方向を意味していると理解できるから、甲１発明における「ベルト面２ａ上」の「被検査物Ｗ」を「搬入口７から」「搬出口８側（Ｘ方向）に向けて」搬送する「搬送面としてのベルト面２ａ」は、本件訂正発明１の「載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面」に相当する。 以上のことから、甲１発明の「搬送面としてのベルト面２ａ」を備える「ベルトコンベアにより構成され」る「搬送部２」は、本件訂正発明１の「載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段」に相当する。 エ 本件訂正発明１の「前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群」と甲１発明の「搬送される被検査物Ｗの搬送方向（Ｘ方向）の平面上で搬送方向と直交するＹ方向に複数の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、が一直線上に配置されてなる検出素子列１０１～１０８を、搬送方向に複数段並べたもの」とを対比する。 甲１発明の上記構成は、本件訂正発明１の上記「検出素子群」と、「前記搬送方向に沿って直線上に配列され」る「複数段の検出素子からなる検出素子群」である点で共通する。 さらに、甲１発明の「検出素子列１０１～１０８を、搬送方向に複数段並べたもの」を含む「Ｘ線検出器１０」が、「ベルト面２ａを挟んでＸ線発生部９と対向して配置され」ているものであることも踏まえると、甲１発明の上記構成は、本件訂正発明１の上記「検出素子群」と、「前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して」配列される検出素子群である点で共通する。 そして、甲１発明の「Ｘ線検出器１０の検出素子１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ、・・・、１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、・・・、は、入射するＸ線を電気信号に変換し、Ｘ線透過データを出力するようになって」いるから、検出素子のそれぞれがＸ線の検出により「Ｘ線透過データ」を出力している。さらに、甲１発明の「Ｘ線透過データ」は、Ｘ線の検出により出力されるデータであるから、本件訂正発明１の「デジタルデータであるＸ線検出データ」と「Ｘ線検出データ」である点で共通している。そうすると、甲１発明の上記構成は、本件訂正発明１の上記「検出素子群」と、「それぞれがＸ線の検出によりＸ線検出データを出力する」検出素子群である点で共通する。 オ 甲１発明は、「例えば、」「段数設定部４６により設定された」「時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数」が「３段で検出素子列１０１、１０２、１０３からのＸ線透過データを時間遅延積分により合成する」ときは、被検査物Ｗが搬送方向（Ｘ方向）に移動する間、時刻Ｔ１での検出素子列１０１に対する被検査物Ｗの下面における位置と、時刻Ｔ２での検出素子列１０２に対する被検査物Ｗの下面における位置と、時刻Ｔ３での検出素子列１０３に対する被検査物Ｗの下面における位置と、が一致するようにして、検出素子列１０１、１０２、１０３が、それぞれ時刻Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３に、移動している被検査物Ｗの略同じ領域を透過したＸ線を検出してＸ線透過データを出力し、検出素子列１０１、１０２、１０３から出力されたＸ線透過データを時間遅延積分により合成するものであるといえるから、検出素子列１０１、１０２、１０３において、移動している被検査物Ｗの略同じ領域を透過したＸ線が順々に検出され、それぞれのＸ線透過データが出力され、出力されたそれぞれのＸ線透過データが足し合わされるものであるといえる。 カ 上記オのとおり、甲１発明は、被検査物Ｗが搬送方向（Ｘ方向）に移動する間、時刻Ｔ１での検出素子列１０１に対する被検査物Ｗの下面における位置と、時刻Ｔ２での検出素子列１０２に対する被検査物Ｗの下面における位置と、時刻Ｔ３での検出素子列１０３に対する被検査物Ｗの下面における位置と、が一致するようにして、検出素子列１０１、１０２、１０３が、それぞれ時刻Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３に、移動している被検査物Ｗの略同じ領域を透過したＸ線を検出してＸ線透過データを出力するものであるといえるから、甲１発明の「検出素子列１０１が時刻Ｔ１に」Ｘ線透過データを「検出」することと、「検出素子列１０２が時刻Ｔ２に」Ｘ線透過データを「検出」することと、「検出素子列１０３が時刻Ｔ３に」Ｘ線透過データを「検出」することとは、本件訂正発明１の「前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出」することに含まれる。 また、甲１発明の「検出素子列１０１が時刻Ｔ１に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２が時刻Ｔ２に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０３が時刻Ｔ３に検出したＸ線透過データと」を出力することと、本件訂正発明１の「前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力」することとは、「前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力」する点で共通する。 そして、甲１発明の「検出素子列１０１～１０８から出力されるＸ線透過データのうち、」「検出素子列１０１が時刻Ｔ１に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２が時刻Ｔ２に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０３が時刻Ｔ３に検出したＸ線透過データとを、」「時間遅延積分により合成」することは、本件訂正発明１の「前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせ」ることと、「前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを足し合わせ」る点で共通する。 そして、甲１発明の「合成データ」は、被検査物Ｗの略同じ領域のＸ線透過データを時間遅延積分により合成したデータであるから、本件訂正発明１の「前記領域のＸ線検出データ」と、「前記領域のＸ線検出データ」である点で共通する。 キ 上記エ、オ、及びカをまとめると、甲１発明の「Ｘ線検出器１０」と、本件訂正発明１の「前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりデジタルデータであるＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が前記所定の２以上の段の前記検出素子により順次検出されるタイミングの都度、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを順次足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段」とは、「前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線データを足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段」である点で共通する。 ク（ア） 甲１発明は、「利用者により計測された被検査物Ｗの高さ方向の寸法（ｈ）が予め設定部４５から入力されるか、または、搬送時に厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）が設定部４５から入力され」た「被検査物Ｗの厚さ情報」「に基づいて」「Ｘ線検出器１０により行われる時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数を」「段数設定部４６」が「設定する」ものであり、 「被検査物Ｗの厚さをｈ」「としたとき」、「段数設定部４６」が、ｐ、Ｌ、Δｘの値が定数である数式Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄのｈに、「設定部４５」から「入力」された「被検査物Ｗの厚さ」「ｈ」の値を代入して「片側段数ｎ」の値を求めることで、「時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数」を「算出」し、「この段数をＸ線検出器１０の合成部１００ａに設定する」ものである。 ここで、ｐ、Ｌ、Δｘの値は、上記のとおり定数であるから、数式Δｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄにｈを代入することで、当該ｈに対応したｎが一意に求められるといえるところ、ｎは、ｈに対して一意的に対応する値であるということができる。 そして、ｎが、ｈに対して一意的に対応する値であるということは、ｈが、それに一意的に対応するｎを表す情報であるということでもあるといえる。 そうすると、「被検査物Ｗの厚さ情報」又は「片側段数ｎ」は、それに一意的に対応する「時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数」を表す情報であるといえる。 また、甲１発明の「段数設定部４６により設定され」た「時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数」は、合成データの画像の空間分解能の低下を抑制する、という課題（特に段落【００４１】～【００４２】等を参照。）からみて、時間遅延積分を行う段の数とともに対応する各段の位置を示す情報でもあると解される。 そうすると、「被検査物Ｗの厚さ情報」、「片側段数ｎ」又は「段数」は、検出素子列１０１～１０８のいずれの検出素子列が時間遅延積分を行う段となり、いずれの検出素子列が時間遅延積分を行う段とならないかを間接的に表す情報であるといえる。 一方、本件訂正発明１が「複数段の検出素子からなる検出素子群」（下線は当審で付与した。）という事項を特定していることや、特許権者が令和４年１１月１１日に提出した意見書（５（４）ア）において「請求項１に係る発明は、Ｘ線を検出する所定の２以上の段の検出素子の決定を、段特定手段が表示手段に表示させた入カインタフェースを介して入力された情報に基づき行うもの」と説明していることからして、本件訂正発明１の「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」は、「検出素子群を構成するそれぞれの」「段」に対応する「検出素子」であるから、本件訂正発明１の「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け」における「前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」は、「前記検出素子群を構成するそれぞれの」「段」の「検出素子」が「前記所定の２以上の段に含」まれるか否かを表す情報であると理解される。 さらに、上記オの説示から、甲１発明の「時間遅延積分を行う」「段」は、本件訂正発明１の「所定の２以上の段」に相当する。 よって、甲１発明の「被検査物Ｗの厚さ情報」、「片側段数ｎ」又は「段数」は、本件訂正発明１の「情報」と、「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」である点で共通する。 （イ）本件訂正発明１の「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け」との事項は、読点の位置からすると、「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに」は「入力を受け付け」に係るものと通常は解されるから、上記事項は、「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を」「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに」「受け付け」ることと解される（以下、「解釈１」という。）。 一方、当該事項を、「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す」ことで特徴付けられる「情報」「の入力を受け付け」ることと解し（以下、「解釈２」）、上記（ア）に代えて、令和４年９月７日付け取消理由通知書の第５．２（１）ク（ア）における説示のように、甲１発明の「被検査物Ｗの厚さ情報」を、本件訂正発明１の「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」に相当するものと解したり、甲１発明の「片側段数ｎ」又は「段数」を本件訂正発明１の「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」に相当するものと解したりすることも一応は可能である。 （ウ）上記（イ）で指摘した本件訂正発明１の特定事項について、本件特許に係る出願の出願人（特許権者）は、本件審査段階における令和２年１１月２０日提出の意見書において、次のように主張している。 （ウ－１）「２ 補正の根拠 ・・・ （２）請求項１の『前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、それぞれの前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段』の下線部の補正は、明細書段落［００４４］～［００４６］及び図７～９の記載に基づきます。」 （ウ－２）「すなわち、引用文献１に記載されているＸ線検査装置では、被検査物Ｗの厚さ情報等の入力を受け付け、予め用意された計算式等により自動的に決定された位置及び段数で、足し合わせ対象の段が設定されるのであり、それぞれの検出素子ごとに、足し合わせ対象の段となるか否かを示す情報の入力を受け付け、その受け付けたとおりに、足し合わせ対象となる段が設定される請求項１の発明とは明らかに異なります。」 （エ） 上記（ウ－１）の意見書記載中に指摘される本件特許に係る出願の願書に添付した明細書（以下、「本件特許明細書」という。）の段落【００４４】～【００４６】には、次の事項が記載されている（下線は当審で付与した。）。 「【００４４】 所定の２以上の段は段特定手段１４０が特定し、これに基づきＸ線検出手段１３０が検査を実行する。段特定手段１４０は例えば、入力インタフェースを液晶ディスプレイなどの任意の表示手段１５１に表示し、装置利用者がキーボードやマウスなどの任意の入力手段１５２から入力インタフェースに直接入力された情報に基づき、所定の２以上の段を特定する。そして、この特定した段を任意のメモリに書き込み、Ｘ線検出手段１３０がこれを読み出して検査を実行する。メモリは必ずしも段特定手段１４０の構成要素として備える必要はなく、Ｘ線検出手段１３０が備えてもよいし、その他の構成要素として備えてもよい。 【００４５】 入力インタフェースの構成は任意である。例えば、図７(a)に示すような直接段番号の入力を受け付けるインタフェースを表示手段に表示する。この入力インタフェース上で、装置利用者がキーボードから例えば６を入力してＯＫボタンをマウスでクリックすると、図７(b)に示すように６段目が特定される。この例の場合、このような入力操作を、特定する段数分繰り返し行う必要があるため、省力化するために、例えば３段目から２段分と指定して入力する方法を採用してもよい。 【００４６】 特定する段をマウス操作のみにより入力できるグラフィカルな入力インタフェースを採用してもよい。一例としては、図８(a)に示す入力インタフェースを表示手段に表示する。この入力インタフェース上で、装置利用者がマウスを操作して例えば６段目をなぞると、図８(b)に示すように６段目が特定される。別の例としては、図９(a)に示す入力インタフェースを表示手段に表示する。この入力インタフェース上で、装置利用者がマウスを操作して例えば１段と６段をクリックすると、図９(b)に示すように１段目と６段目が特定される。なお、このようなグラフィカルなインタフェースを採用した場合には、入力された情報を段番号に変換してメモリに書き込むとよい。」 （オ）上記（エ）によれば、「所定の２以上の段を特定する」ための「情報」が各「段」ごとに「入力され」ることが本件特許明細書の段落【００４４】～【００４６】に開示されていると認められる。 （カ）してみると、本件訂正発明１の「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに、前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け」る事項は、上記（イ）に説示する文章構成上の観点並びに上記（ウ）～（オ）に示される、審査段階で提出された意見書における出願人（特許権者）の主張及び本件特許明細書の開示の観点を総合的に考慮すると、上記（イ）の「解釈２」のように解することは妥当ではなく、「解釈１」、すなわち、「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を」「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに」「受け付け」ることと解するのが相当と認められる。 ケ 甲１発明では、「段数設定部４６は、設定部４５から取得した被検査物Ｗの厚さに基づいて、上記のΔｘ＝ｈｎｐ／Ｌｄの数式から片側段数ｎを設定して時間遅延積分の段数を算出し、この段数をＸ線検出器１０の合成部１００ａに設定するか、または、検出された厚さレベル（ｈ［ｎ］）に予め対応付けられた時間遅延積分の段数を設定」し、「被検査物Ｗの厚さ情報は、利用者により計測された被検査物Ｗの高さ方向の寸法（ｈ）が予め設定部４５から入力されるか、または、搬送時に厚さ検出センサ６０が検出した被検査物Ｗの厚さ段階（ｈ［ｎ］：ｈ［１］～ｈ［５］）が設定部４５から入力され」、「制御部４０は、Ｘ線検出器１０により行われる時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数を、設定部４５に入力された被検査物Ｗの厚さ情報に基づいて設定する段数設定部４６を備え」、「Ｘ線検出器１０の合成部１００ａは、各検出素子列１０１～１０８が検出したＸ線透過データのうち、段数設定部４６により設定された段数分のＸ線透過データを時間遅延積分により合成する」ものであり、「合成部１００ａ」が、「設定された段数」から「Ｘ線透過データを時間遅延積分により合成する」際に「Ｘ線透過データを時間遅延積分により合成する」「検出素子列」を特定していることは明らかである。 コ 上記ク（ア）の説示により、「被検査物Ｗの厚さ情報」は、本件訂正発明１の「情報」と、「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」である点で共通する。 してみると、甲１発明の「設定部４５」、「段数設定部４６」及び「合成部１００ａ」を合わせたものは、本件訂正発明１の「段特定手段」と、「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」「の入力を受け付け」「前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する」点で共通する。 サ 上記コに代えて、上記ク（ア）に説示したとおり、甲１発明の「段数」は、本件訂正発明１の「情報」と、「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」である点で共通する。また、甲１発明では、「段数設定部４６は、」「この段数をＸ線検出器１０の合成部１００ａに設定する」ことから、「合成部１００ａ」が「段数設定部４６」からの「段数」の入力を受け付けているものと認められる。 してみると、甲１発明の「合成部１００ａ」は、本件訂正発明１の「段特定手段」と、「検出素子群を構成するそれぞれの検出素子」を「所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報」「の入力を受け付け」「前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する」点で共通するといえる。 シ 以上から、本件訂正発明１と甲１発明とは、次の一致点及び相違点を有する。 ＜一致点＞ 「被測定物にＸ線を照射するＸ線照射手段と、 載置された前記被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送面を備える搬送手段と、 前記搬送面を挟んで前記Ｘ線照射手段に対向して前記搬送方向に沿って直線状に配列され、それぞれがＸ線の検出によりＸ線検出データを出力する複数段の検出素子からなる検出素子群を備え、前記検出素子群のうち少なくとも所定の２以上の段の前記検出素子が、前記被測定物の移動に従い前記被測定物の略同一の領域を透過したＸ線を順次検出して前記Ｘ線検出データをそれぞれ出力し、前記所定の２以上の段の前記検出素子が出力するそれぞれの前記Ｘ線検出データを足し合わせて前記領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段と、 前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子を前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力を受け付け、前記情報に基づき前記所定の２以上の段を特定する段特定手段と、 を備えるＸ線検査装置。」 ＜相違点１＞ 所定の２以上の段の検出素子が出力するそれぞれのＸ線検出データを足し合わせて被測定物の略同一の領域のＸ線検出データとして得るＸ線検出手段が、 本件訂正発明１では、それぞれの検出素子が出力するＸ線検出データが「デジタルデータ」であり、「被測定物の略同一の領域を透過したＸ線が」「所定の２以上の段の」「検出素子により順次検出されるタイミングの都度、」「所定の２以上の段の」「検出素子が出力するそれぞれの」「Ｘ線検出データを順次足し合わせ」るものであるのに対し、 甲１発明では、それぞれの検出素子が出力するＸ線検出データが「入射するＸ線を電気信号に変換し」た「Ｘ線透過データ」であり、「検出素子列１０１～１０８から出力されるＸ線透過データのうち、」「検出素子列１０１が時刻Ｔ１に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０２が時刻Ｔ２に検出したＸ線透過データと、検出素子列１０３が時刻Ｔ３に検出したＸ線透過データとを、」「時間遅延積分により合成」するものである点。 ＜相違点２＞ 「前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力」について、本件訂正発明１では、「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに」「受け付け」るのに対し、甲１発明では、「被検査物Ｗの厚さ情報」や「段数」の入力を受け付けるだけのもので、個々の段の採否情報を入力として受け付ける手段は備えない（段数入力を受け付けて、「合成部１００ａ」が、それに基づいて利用する「検出素子列」（段）を選択するだけである）点 （２）判断 事案に鑑み、上記相違点２について検討する。 甲２記載の技術事項（上記（１）イ）によれば、０に設定することで、時間遅延積分される第１段～第ｎ段のｎ個（ｎは２以上の整数。）のラインセンサ１ａ－１～１ａ－ｎのうちラインセンサ１ａ－ｉの稼働をオフにすることができる第１のレジスタの係数Ｋｉを書き換え可能とすることは、本件特許の出願前に公知であったと認められる。しかしながら、甲２記載の技術事項は、顕微鏡装置における被写界深度や明るさを、ユーザ（観察者）の望む特性に簡単に変更するために第１のレジスタの係数Ｋｉを書き換えるものであり、空間分解能の低下を抑制するために、時間遅延積分の対象となる検出素子列１０１～１０８の段数を、被検査物Ｗの厚さ情報に基づいて設定するＸ線検査装置である甲１発明とは、技術分野及び課題が異なる。してみると、当業者が甲２記載の技術事項を甲１発明に適用する動機付けはない。 また、時間遅延積分を行うＸ線検査装置において「前記所定の２以上の段に含めるか否かを示す情報の入力」を「前記検出素子群を構成するそれぞれの検出素子ごとに」「受け付け」ることについて、甲３～１２のいずれにも記載されていない。 してみると、甲１発明に相違点２に係る本件訂正発明１の構成を具備させることは、甲２記載の技術事項及び甲３～１２の記載を参酌しても、当業者が容易になし得たものではない。 （３）小括 したがって、本件訂正発明１は、上記相違点１について検討するまでもなく、甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。 ３ 本件訂正発明２、５及び６について 請求項２、５は請求項１を引用し、請求項６は請求項５を引用しているから、本件訂正発明２、５及び６は本件訂正発明１の発明特定事項を備える。そして、上記２に説示したとおり、本件訂正発明１は甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではないから、本件訂正発明２、５及び６は、甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。 ４ 本件訂正発明３、４及び７について （１）上記第２．２（１）及び第２．２（３）アに説示したとおり、請求項３及び７それぞれについて、請求項１又は２との引用関係を解消することを目的とする訂正がなされているから、本件訂正発明３及び７は本件訂正発明１の発明特定事項を備える。そして、上記２に説示したとおり、本件訂正発明１は甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではないから、本件訂正発明３及び７は、甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。 （２）本件訂正発明３を引用する本件訂正発明４についても同様である。 （３）小括 したがって、本件訂正発明３、４及び７は、甲１発明、甲２記載の技術事項及び甲３～１２に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。 第６ むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件訂正発明１～７に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件訂正発明１～７に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。