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特許第７４７３７２６号発明「シリカ粉末」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７４７３７２６号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正明細書、訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項３、６について訂正することを認める。 特許第７４７３７２６号の請求項１～９に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７４７３７２６号の請求項１～９に係る特許（以下、「本件特許」ともいう。）についての出願は、令和５年８月２５日の出願あって、令和６年４月１５日にその特許権の設定登録がされ、同年同月２３日に特許掲載公報が発行された。 本件特許についての特許異議の申立ての経緯は、次のとおりである。 令和６年１０月２３日 ：特許異議申立人 田中 都子（以下、「申立人」という。）による請求項１～９に係る特許に対する特許異議の申立て 令和７年 １月１０日付け：取消理由通知 同年 ３月１４日 ：特許権者による意見書、訂正請求書の提出 同年 ５月２０日付け：申立人への審尋 同年 ７月２２日 ：申立人による回答書の提出 同年 ８月２０日 ：申立人による手続補正書（方式）の提出 第２ 本件訂正の適否についての判断 １ 本件訂正の内容 令和７年３月１４日にされた訂正請求（以下、「本件訂正請求」といい、本件訂正請求による訂正を「本件訂正」という。）による訂正の内容は、以下のとおりである（当審注：下線は訂正箇所を示すため当審が付与した。）。 （１）訂正事項１ 特許請求の範囲の請求項６に 「累積体積が１０％、５０％、１００％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である」と記載されているのを、 「累積体積が１０％、５０％、９０％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である」に訂正する。 （２）訂正事項２ 本件特許の願書に添付した明細書（以下、「本件明細書」という。）の【０００９】に「累積体積が１０％、５０％、１００％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である」と記載されているのを、 「累積体積が１０％、５０％、９０％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である」に訂正する。 （３）訂正事項３ 特許請求の範囲の請求項３に 「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、」と記載されているのを、 「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、シリカ粉末。」に訂正する。 （４）訂正事項４ 本件明細書の【０００９】に 「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、」と記載されているのを、 「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、シリカ粉末。」に訂正する。 ２ 訂正の目的の適否、新規事項の追加の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否 （１）訂正事項１について 本件明細書の【００３２】の「シリカ粒子の体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が１０％、５０％、９０％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０とする。」、同【００３４】の「（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０の上限が、例えば、１０以下、好ましくは５以下、より好ましくは３．０以下である。」との記載から、訂正前の「累積体積が１０％、５０％、１００％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である」の「１００％」は、「９０％」の誤記であるといえるから、訂正事項１による訂正は、誤記の訂正を目的とするものである。 そして、訂正事項１による訂正は、本件特許の願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面（以下、「本件明細書等」という。）の【００３２】、【００３４】の記載に基づくものであるから、本件明細書等に記載した事項の範囲内においてするものである。 また、訂正事項１による訂正は、カテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。 （２）訂正事項２について 訂正事項２による訂正の内容は、訂正事項１による訂正の内容と同じであるから、訂正事項２による訂正は、訂正事項１による訂正と同様に、誤記の訂正を目的とし、本件明細書等に記載した事項の範囲内においてするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。 （３）訂正事項３について 訂正前の請求項３「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、」は、「Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、シリカ粉末。」の明らかな誤記であるから、訂正事項３による訂正は、誤記の訂正を目的とし、本件明細書等に記載した事項の範囲内においてするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。 （４）訂正事項４について 訂正事項４による訂正の内容は、訂正事項３による訂正の内容と同じであるから、訂正事項３による訂正と同様に、誤記の訂正を目的とし、本件明細書等に記載した事項の範囲内においてするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。 ３ まとめ 本件訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第２号に規定する事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項において読み替えて準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合するので、特許請求の範囲を、訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項３、６について訂正を認める。 第３ 本件発明 本件訂正の請求により訂正された請求項１～９の特許に係る発明（以下、「本件発明１」～「本件発明９」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１～９に記載された次の事項により特定されるとおりのものである（当審注：請求項１の分説の符号Ａ～Ｍは、当審で付したものであり、これらの構成を、以下、「構成Ａ」～「構成Ｍ」ともいう。）。 「【請求項１】 Ａ 下記の手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下であるシリカ粉末であって、 Ｂ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が１０％以下、 Ｃ カールフィッシャー法により測定される、２００℃になるまでに発生した水分量が５００ｐｐｍ以下、 Ｄ 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．４ｍ２／ｇ以下、および、 Ｅ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤ９０としたとき、Ｄ９０が３．０μｍ以上７５μｍ以下である、 シリカ粉末。 （手順） 当該シリカ粉末を充填量が４０体積％となるようにポリエチレン粉末と混合し、得られた混合粉末を用いて前記樹脂シートサンプルを成形する。得られた前記樹脂シートサンプルを用いて、共振法により、４０ＧＨｚ時の誘電正接を測定する。 【請求項２】 請求項１に記載のシリカ粉末であって、 Ｆ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最頻径が２．５μｍ以上４０μｍ以下である、シリカ粉末。 【請求項３】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｇ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき、Ｄｍ／Ｓが０．６以上である、シリカ粉末。 【請求項４】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｈ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における１５．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度が５０％以下である、シリカ粉末。 【請求項５】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｉ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における０．５μｍ未満の粒子径の粒子の頻度が１５％以下である、シリカ粉末。 【請求項６】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｊ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が１０％、５０％、９０％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ９０としたとき、（Ｄ９０－Ｄ１０）／Ｄ５０が１０以下である、シリカ粉末。 【請求項７】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｋ 平均球形度が０．８５以上である、シリカ粉末。 【請求項８】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｌ 非晶質率が９５．０％以上である、シリカ粉末。 【請求項９】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｍ ウラン元素およびトリウム元素の含有率が２０ｐｐｂ以下である、シリカ粉末。」 第４ 申立理由の概要 申立人は、証拠として甲第１号証～甲第６号証（以下、「甲１」～「甲６」という。）を提出し、以下の理由により、請求項１～９に係る特許を取り消すべきものである旨主張している。 １ 申立理由１（新規性） 請求項１～９に係る発明は、甲１に記載された発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、請求項１～９に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 ２ 申立理由２（進歩性） 請求項１～９に係る発明は、甲１～甲３に記載された発明に基いて、本件特許出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、請求項１～９に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 ［証拠方法］ 甲１：中国特許出願公開第１０７８２８３５８号明細書 甲２：国際公開第２０２３／１１２２８１号 甲３：特開２０１７－１９３６９０号公報 甲４：実験成績証明書、申立人、令和６年１０月１８日 甲５：サンプル送付案内、株式会社アドマテックス、令和６年６月４日 甲６：誘電率測定結果、株式会社エーイーティー、２０２４年１０月９日 第５ 取消理由の概要 当審において、令和７年１月１０日付けで特許権者に通知した取消理由の要旨は、次のとおりである。 １ 取消理由１（明確性） 本件特許は、特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものである。 ２ 取消理由２（新規性） 請求項１～９に係る発明は、甲１に記載された発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、本件請求項１～９に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 第６ 取消理由１（明確性）について １ 訂正前の請求項６に記載の「累積体積が１０％、５０％、９０％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ１００としたとき」の「Ｄ１００」は、「Ｄ９０」の誤記であったところ、本件訂正により、「Ｄ９０」に訂正されたから、取消理由１は解消した。 ２ まとめ 以上によれば、取消理由１（明確性）には理由がない。 第７ 取消理由２（新規性）、申立理由１（新規性）について １ 甲号証の記載及び甲号証に記載された発明 （１）甲１（中国特許出願公開第１０７８２８３５８号明細書） ア 甲１には、以下の記載がある。なお、甲１の記載は、当審の訳文で示す。 「[0023] 実施例１ １）水添ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂ＹＳ－ＧＦ０１５（南京遠州製薬）３１０ｇ、中空ガラスビーズ８０５４（米国ポッター）１２０ｇ、球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）２４０ｇ、テトラヒドロフタル酸メチルジグリシジルエステルＸＹ－８１３（安徽信源）５０ｇ、コアシェルゴムエポキシ樹脂ＢＰＦ－３０７（日本触媒）９０ｇ、シランカップリング剤ＫＨ－５６０（天津試薬廠）３ｇ、消泡剤ＡＦＣＯＮＡ－２０３８（マレーシアＥｆｋｏｎａ）３ｇ、黒色ペースト（アメリカＰＥＮＮＣＯＬＯＲ）４ｇを反応釜に入れ、回転数８００ｒｐｍ、３時間撹拌し、よく混合する； ・・・ [0027] 実施例５ １）多環芳香族エポキシ樹脂ＨＰ－４０３２Ｄ（日本ＤＩＣ）１８０ｇ、ビフェニル型エポキシ樹脂ＹＬ６１２１Ｈ（日本三菱）１４０ｇ、中空ガラスビーズＧ４００（３Ｍ）５０ｇ、球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）３１０ｇ、１，４－シクロヘキサンジメタノールジグリシジルエーテルＸＹ－６３０（安徽信源）４０ｇを秤量する。コアシェルゴムエポキシ樹脂ＢＰＡ－３２８（日本触媒）７０ｇ、シランカップリング剤ＫＨ－５６０（天津試薬廠）３ｇ、消泡剤ＡＦＣＯＮＡ－２２７０（マレーシアＥｆｋｏｎａ）３ｇ、黒色ペースト（アメリカＰＥＮＮＣＯＬＯＲ）４ｇ、反応釜に入れ、回転速度８００ｒｐｍ、２時間撹拌し、よく混合する；・・・」 イ 甲１に記載された発明 （ア）上記アには、「球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）」、すなわち、アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末が記載されている。 （イ）したがって、甲１には、以下の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されているといえる。 「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末。」 ウ 申立人の主張について （ア）特許異議申立書の主張について ａ 申立人は、特許異議申立書の６ページ下から８行～９ページ下から４行において、甲１の【０００１】、【０００４】、【請求項１】、【請求項３】、【００１０】、実施例１及び５には、アンダーフィル接着剤の誘電率を低下するために、株式会社アドマテックス製のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）である甲１発明を採用することに加えて、甲１発明について平均粒径を０．１μｍ～１０μｍの範囲で変更することができることが開示されているといえ、ここで平均粒径を変更できるということは、粒径に関わる他のパラメータであるＤ１０、Ｄ９０などの粒度分布そのものについても変更できることを意味し、更には粒径が変わることで比表面積も変更できることを意味すし、ＦＥ９２０Ａ－ＳＱについて、株式会社アドマテックスよりサンプルとして取得し、実験成績証明書（甲４）にて説明している具体的な実験方法で、本件明細書に基づいて各値を算出した結果、以下の表Ａに示すとおり、本件発明の構成要素Ａ～Ｍを充足するから、甲１発明には、本件発明の構成Ａ～Ｍが開示されており、また、甲１の記載を参照すれば、甲１発明について、誘電正接の値を小さくするなどの電気的特性を向上する目的のために、平均粒径、更には粒度分布や比表面積についても変更できることが開示されている旨主張している。 ｂ しかし、甲１発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」は、甲１の出願日である平成２９年（２０１７年）１０月１２日より前のものであるのに対し、甲４（以下の（２）参照）のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、甲５（以下の（３）参照）によれば、２０２４年６月４日に株式会社アドマテックスから取り寄せたものである。 そうすると、甲１発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末」は、平成２９年（２０１７年）１０月１２日より前に製造されたものであるのに対し、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、２０２４年頃に製造されたものであるから、両者の製造時期は約７年異なっているといえる。 ｃ ここで、特許権者が提出した乙第１号証（再公表特許ＷＯ２０１７／０１４０６７号。以下、「乙１」という。）には、以下の記載がある。 「【００４９】 【表２】 ［図：0001432052000001.jpg］ ・・・ 【００５４】 試料Ｎｏ．８は、（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）を用いた。 ・・・ 【００６３】 なお、粒度分布および平均粒子径Ｄ５０は、レーザー回折式粒度分布測定装置（（株）島津製作所製 ＳＡＬＤ－７５００）を使用して測定した。 ・・・ 【００６６】 また、比表面積は、比表面積測定装置（（株）マウンテック製 Ｍａｃｓｏｒｂ ＨＭ ｍｏｄｅｌ－１２０１）を使用して測定した。」 ｄ 上記ｃの記載によれば、乙１には、（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、レーザー回折式粒度分布測定装置（（株）島津製作所製 ＳＡＬＤ－７５００）を使用して測定した平均粒子径Ｄ５０が６．１６μｍであり、比表面積測定装置（（株）マウンテック製 Ｍａｃｓｏｒｂ ＨＭ ｍｏｄｅｌ－１２０１）を使用して測定した比表面積が１．８３ｍ２／ｇであることが記載されている。 また、乙１の優先日は平成２７年（２０１５年）７月２３日であるから、乙１の（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、平成２７年（２０１５年）７月２３日より前に製造されたものであるのに対し、上記ｂで検討したとおり、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、２０２４年頃に製造されたものである。 そうすると、乙１の（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）と、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）とは、製造時期が約９年異なっているといえる。 ｅ 一方、甲５には、株式会社アドマテックスの商品名が「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」について、ロット番号が「ＴＧＦ２４３－３」であり、平均粒径が６．３μｍ、比表面積が２．３ｍ２／ｇであることが記載されている。 そして、甲４には、甲５における「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」（サンプル４）は、マルバーン・パナリティカル社製のレーザ回折式粒子サイズ分析装置（マスターサイザー３０００）で測定した平均粒径が５．５７μｍ、マウンテック社のマックソープで測定した比表面積が２．３１ｍ２／ｇであることが記載されている。 ｆ 上記ｄ及びｅの各ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの平均粒径及び比表面積について以下の表Ｂに示す。 表Ｂ ［図：0001432052000002.jpg］ ｇ 上記表Ｂにおける、甲４、乙１に記載されたＦＥ９２０Ａ－ＳＱの平均粒子径及び比表面積の値を比較すると、甲４の値と、乙１の値とは、いずれも大きく相違しているから、同じ「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」という同じ商品名の製品であっても、平均粒径及び比表面積は、製造時期によって相違することがあり得るといえる。 そうすると、本件発明１で特定されている「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度」、「カールフィッシャー法により測定される、２００℃になるまでに発生した水分量」、「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積」、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤ９０としたとき」の「Ｄ９０」の各特性（以下、まとめて「本件各特性」という。）についても、製造時期が約７年異なっている、甲１発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」と、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）とは、いずれも異なることがあり得るといえる。 したがって、甲１発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」の本件各特性は、甲４の上記表Ａに記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）の本件各特性と同じ特性を有しているとはいえない。 また、甲１発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」の本件各特性が、甲４の上記表Ａに記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）の本件各特性と同じであることを認めるに足りる証拠はない。 ｈ 以上から、甲４の測定結果を根拠として、甲１発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｅを備えているとはいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用できない。 （イ）回答書の主張について ａ 申立人は、回答書に対する手続補正書（方式）の３ページ下から９行～４ページ下から７行において、以下のとおり主張している。 「一般的に化学材料を上市する企業は、同一の型番を付した製品は同一の性状をもつものであることを保証しています。ここで同一の性状とはばらつきを考慮して一定の幅が設定されることが一般的です。 更に、同一の性状をもつ製品であっても別個の原料や製造方法を採用した場合、原料や製造方法が異なることに由来する予期できない製品の相違点が生じうるため別個の型番を付することが当業者の常識であると考えます。 なお、特許権者（デンカ株式会社）は、上記意見書の（６．２．１）の３段落目において「シリカのような工業製品は、製造時の技術トレンド等を踏まえて特性の調整が行われることが通常であるところ、このような長期に渡る期間、ＦＥ９２０Ａ－ＳＱが同一の粉体特性を維持してきたと認めるに足る証拠は提出されていない。」と主張していますが、異議申立人の委託元の企業を含め、製品に責任をもつ企業においては同一の型番を付した製品は可能な限り同一な性状をもつように調製し、性状が異なるようになるような微調整などを行う場合には型番を変更する対応を行うことが一般的であると考えます。 つまり、一般的な企業は、同一の型番を付した場合には、各性状についてはばらつきを考慮した一定の幅を持たせたもの、製造方法・原料などについては完全に同一のものを提供するものと考えます。 ここで、甲４、甲５、乙１に記載の「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」について平均粒径や比表面積の値が異なっている原因については、製造メーカーである株式会社アドマテックスが設定した各性状のばらつきにあるのか、甲４、甲５、乙１における測定方法の問題にあるのかは分かりません。 しかしながら、型番が同一で有る限り同一の原料・製造方法により得られたものであり、甲第１号証が開示されたときから現在に至るまで同一の製造方法・原料を用いて、一定の幅をもった同一の性状になるように製造されたものであることが合理的に推察できます。 つまり、今回甲４～甲６にて評価した「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」は甲第１号証が開示された時点で上市されている製品であり、製品のばらつきを考慮した上で、甲第１号証が開示された時点で存在しうる「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」であると考えます。 このように、甲４～甲６に記載の発明（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、甲第１号証に記載の発明（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）と同一であると言えます。」 ｂ しかし、申立人の上記ａの主張は、いずれも申立人の考えや意見をいうものであって、証拠に基づくものではない。 また、甲５に記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱの「平均粒径：１．９μｍ」及び「比表面積：２．３ｍ２／ｇ」が、製造者である株式会社アドマテックスが保証する特性値であるとしても、製造時期が異なるＦＥ９２０Ａ－ＳＱについて、本件各特性が全て同じであることを認めるに足りる証拠はない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用できない。 （２）甲４（実験成績証明書、令和６年１０月１８日、申立人） 甲４には、以下の記載がある。 「 ［図：0001432052000003.jpg］ ［図：0001432052000004.jpg］ ［図：0001432052000005.jpg］ ［図：0001432052000006.jpg］ ［図：0001432052000007.jpg］ 」 （３）甲５（サンプル送付案内、令和６年６月４日、申立人） 甲５には、以下の記載がある。 「 ［図：0001432052000008.jpg］ 」 （４）甲６（誘電率測定結果、株式会社エーイーティー、２０２４年１０月９日） 甲６には、以下の記載がある。 「 ［図：0001432052000009.jpg］ ［図：0001432052000010.jpg］ ［図：0001432052000011.jpg］ ［図：0001432052000012.jpg］ ［図：0001432052000013.jpg］ ［図：0001432052000014.jpg］ ［図：0001432052000015.jpg］ ［図：0001432052000016.jpg］ ［図：0001432052000017.jpg］ 」 ２ 本件発明１について （１）対比 本件発明１と甲１発明とを対比する。 ア 甲１発明の「球状シリカ微粉末」は、本件発明１の「シリカ粉末」に相当する。 イ 以上から、本件発明１と甲１発明との一致点、相違点は以下のとおりとなる。 ＜一致点＞ 「シリカ粉末。」 ＜相違点＞ 相違点１：本件発明１は、「本件手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 相違点２：本件発明１は、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が１０％以下、 カールフィッシャー法により測定される、２００℃になるまでに発生した水分量が５００ｐｐｍ以下、 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．４ｍ２／ｇ以下、および、 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤ９０としたとき、Ｄ９０が３．０μｍ以上７５μｍ以下である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み相違点２から検討する。 上記１（１）ウ（ア）ｂ～ｈで検討したとおり、甲４の測定結果を根拠として、甲１発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｅを備えているとはいえないから、甲１発明は、相違点２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 また、甲１発明が、相違点２に係る本件発明１の構成を備えていることが、本件特許の出願時において技術常識であるともいえない。 したがって、相違点２は実質的な相違点である。 （３）小括 以上から、相違点１について判断するまでもなく、本件発明１は、甲１発明ではない。 ３ 本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件発明１の全ての構成を有するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲１発明ではない。 ４ まとめ 以上によれば、取消理由２（新規性）、申立理由１（新規性）には理由がない。 第８ 申立理由２（進歩性） １ 甲号証の記載 （１）甲２（国際公開第２０２３／１１２２８１号） 甲２には、以下の記載がある。 「［0015］ 本実施形態の電子材料用フィラーは、Ｄ５０が０．２μｍ以上７．０μｍ以下である。Ｄ５０は、ＬＡ７５０ ５００モード（堀場製作所）により測定した値である。Ｄ５０としては、下限値が０．３μｍ、０．５μｍ、１．０μｍであることが好ましく、上限値が５．０μｍ、３．５μｍ、２．５μｍであることが好ましい。これらの下限値及び上限値は任意に組み合わせ可能である。粒径はレーザー散乱法にて測定できる。シリカ粒子材料は、以下の要件１及び２のうちの少なくとも一方を満たし、好ましくは要件１及び２の双方を満たす。」 「［0018］ 比表面積係数が、１より大きい場合には、小粒径の粒子を除去することで１に近づけることができ、１より小さい場合には、粗大粒子を除去することで１に近づけることができる。」 「［0056］（試料の調製） ・試験例１、１０（Ｄ１０：１．７μｍ、Ｄ５０：２．５μｍ） ＶＭＣ法により製造したシリカを原料シリカ粒子材料とした（原料シリカ粒子材料調製工程）。原料シリカ粒子材料は、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍであった。この原料シリカ粒子材料を気流分級により粒径が大きい分画を分級した。（分級工程）。得られた粒径が大きい分画に含まれるシリカ粒子材料に対してシラン化合物としてのビニルトリメトキシシランを反応させた（第１表面処理工程）。ヘキサメチルジシラザンを反応させて本試験例の試験試料とした（第２表面処理工程）。このシリカ粒子材料の比表面積は、１．１ｍ2／ｇであった。表面処理工程を行わないものを試験例１０の試験試料とした。」 「［請求項1］ Ｄ５０が０．２μｍ以上７．０μｍ以下、 （ＢＥＴ比表面積）／（Ｄ５０から算出される理論比表面積）が０．８５以上１．２以下であり、且つ、Ｄ１０／Ｄ５０が０．５５以上０．７５以下であり、 ＢＥＴ比表面積に基づく単位表面積（１ｍ2）当たりの２５℃から２００℃まで加熱したときに発生する水分量が９０ｐｐｍ以下、 ＢＥＴ比表面積に基づく単位表面積（１ｍ2）当たりの２００℃から５５０°まで加熱したときに発生する水分量が１５０ｐｐｍ以下である、 乾式法にて製造されたシリカ粒子材料を有する電子材料用フィラー。」 （２）甲３（特開２０１７－１９３６９０号公報） 甲３には、以下の記載がある。 「【０２０１】 表１の成分について以下に示す。 ・・・ ［無機充填材］ ・ＳＯ－Ｃ２：株式会社アドマテックス製のシリカ「ＳＯ－Ｃ２」（商品名、平均粒径；０．５μｍ）の表面をアミノシランカップリング剤で処理し、さらに、ＭＥＫ溶剤中に分散させたシリカ（固形分濃度７０質量％） ・ＳＯ－Ｃ６：株式会社アドマテックス製のシリカ「ＳＯ－Ｃ６」（商品名、平均粒径；２．２μｍ）の表面をアミノシランカップリング剤で処理し、さらに、ＭＥＫ溶剤中に分散させたシリカ（固形分濃度７０質量％） ・・・」 ２ 本件発明１について （１）対比 本件発明１と甲１発明との一致点、相違点は、上記第７ ２（１）イに示したとおりであり、相違点を再掲すると以下のとおりである。 ＜相違点＞ 相違点１：本件発明１は、「本件手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 相違点２：本件発明１は、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が１０％以下、 カールフィッシャー法により測定される、２００℃になるまでに発生した水分量が５００ｐｐｍ以下、 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．４ｍ２／ｇ以下、および、 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤ９０としたとき、Ｄ９０が３．０μｍ以上７５μｍ以下である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み相違点２から検討する。 上記１（１）ウ（ア）ｂ～ｈで検討したとおり、甲４の測定結果を根拠として、甲１発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｅを備えているとはいえないから、甲１発明は、相違点２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 また、甲２及び甲３には、相違点２に係る本件発明１の構成は記載も示唆もされていない。 したがって、本件発明１は、甲１発明、甲２及び甲３に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明できたものではない。 ３ 本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件発明１の全ての構成を有するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲１発明、甲２及び甲３に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明できたものではない。 ４ 申立人の主張について （１）申立人は、特許異議申立書の１２ページ下から３行～１３ページ１１行において、甲１にはフィラーについて平均粒径を変更しても良いこと及び変化できる粒径の範囲、更にはそれに伴い粒度分布や比表面積が変更できることが記載され、また、甲２には誘電率や誘電正接の値を低くするために粒径が小さい粒子を除去することについての言及があり、そのために平均粒径などの粒度分布を変更することについての記載があるから、甲１発明について、甲２や甲３の記載を考慮すると、誘電正接の値などの電気的特性を向上するために粒度分布を変更する動機づけがあるといえ、粒度分布を変化させるということは平均粒径だけが変化するのではなく、Ｄ１０、Ｄ９０、Ｄ １００、最頻径なども変化すること、粒度分布が変化すれば比表面積も変化することは技術常識であるため、甲１発明について甲２や甲３の記載に基づいて粒度分布や比表面積の値を変化させることは当業者であれば当然に想到し得るものである旨主張している。 （２）しかし、甲２には、本件各特性について、相違点２に係る本件発明１の範囲とすることは記載されていないし、また、甲３に記載されているＳＯ－Ｃ６の本件各特性についても、上記１（１）ウ（ア）ｂ～ｈでの検討と同様に、相違点２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえないから、甲１発明において、甲２及び甲３に記載された事項に基づいて、相違点２に係る本件発明１の構成とすることは、当業者であれば容易に想到し得るものであるとはいえない。 したがって、申立人の上記（１）の主張は採用できない。 ５ まとめ 以上によれば、申立理由２（進歩性）には理由がない。 第９ むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議の申立ての理由及び証拠によっては、請求項１～９に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に請求項１～９に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。