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特許第７４７３７２５号発明「シリカ粉末」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７４７３７２５号の請求項１～８に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７４７３７２５号の請求項１～８に係る特許（以下、「本件特許」ともいう。）についての出願は、令和５年８月２５日の出願であって、令和６年４月１５日にその特許権の設定登録がされ、同年同月２３日に特許掲載公報が発行された。 本件特許についての特許異議の申立ての経緯は、次のとおりである。 令和６年１０月２３日 ：特許異議申立人 田中 都子（以下、「申立人」という。）による請求項１～８に係る特許に対する特許異議の申立て 令和７年 １月１０日付け：取消理由通知 同年 ３月１４日 ：特許権者による意見書の提出 同年 ５月２０日付け：申立人への審尋 同年 ７月２２日 ：申立人による回答書の提出 同年 ８月２０日 ：申立人による手続補正書（方式）の提出 第２ 本件発明 本件特許の請求項１～８に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１」～「本件発明８」といい、まとめて、「本件発明」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１～８に記載された事項により特定される次のとおりのものである（当審注：請求項１の分説の符号Ａ～Ｍは、当審で付したものであり、これらの構成を、以下、「構成Ａ」～「構成Ｍ」ともいう。） 「【請求項１】 Ａ 下記の手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下であるシリカ粉末であって、 Ｂ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤとしたとき、Ｄが３．０μｍ以上２５．０μｍ以下、 Ｃ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が５．５％以上、 Ｄ 前記粒子径頻度分布における２０．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度が６．０％以下、 Ｅ 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下、および Ｆ 前記粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき、Ｄｍ／Ｓが１．５０以上である、 シリカ粉末。 （手順） 当該シリカ粉末を充填量が４０体積％となるようにポリエチレン粉末と混合し、得られた混合粉末を用いて前記樹脂シートサンプルを成形する。得られた前記樹脂シートサンプルを用いて、共振法により、４０ＧＨｚ時の誘電正接を測定する。 【請求項２】 請求項１に記載のシリカ粉末であって、 Ｇ 前記最頻径が１．０μｍ以上１５．０μｍ以下である、シリカ粉末。 【請求項３】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｈ 前記粒子径頻度分布における２．０１μｍ以下の粒子径の粒子の頻度が２．０％以下である、シリカ粉末。 【請求項４】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｉ 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が１０％、５０％、１００％となるそれぞれの点の粒子径をＤ１０、Ｄ５０、Ｄ１００としたとき、（Ｄ１００－Ｄ１０）／Ｄ５０が５．０以下である、シリカ粉末。 【請求項５】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｊ カールフィッシャー法により測定される、２００℃になるまでに発生した水分量が７００ｐｐｍ以下である、シリカ粉末。 【請求項６】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｋ 平均球形度が０．８５以上である、シリカ粉末。 【請求項７】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｌ 非晶質率が９５．０％以上である、シリカ粉末。 【請求項８】 請求項１又は２に記載のシリカ粉末であって、 Ｍ ウラン元素およびトリウム元素の含有率が２０ｐｐｂ以下である、シリカ粉末。」 なお、請求項１の「以下の手順」である「（手順） 当該シリカ粉末を充填量が４０体積％となるようにポリエチレン粉末と混合し、得られた混合粉末を用いて前記樹脂シートサンプルを成形する。得られた前記樹脂シートサンプルを用いて、共振法により、４０ＧＨｚ時の誘電正接を測定する。」を、以下、「本件手順」という。 第３ 申立理由の概要 申立人は、証拠として甲第１号証～甲第６号証（以下、「甲１」～「甲６」という。）を提出し、以下の理由により、本件特許を取り消すべきものである旨主張している。 １ 申立理由１－１（新規性） 本件発明１～８は、甲２に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、本件特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 ２ 申立理由１－２（新規性） 本件発明１～８は、甲３に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、本件特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 ３ 申立理由２（進歩性） 本件発明１～７は、甲１及び甲２に記載された発明に基いて、本件発明８は、甲１、甲２及び甲３に記載された発明に基いて、本件特許出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、本件特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 ［証拠方法］ 甲１：特開２０１７－１９３６９０号公報 甲２：国際公開第２０２３／１１２２８１号 甲３：中国特許出願公開第１０７８２８３５８号明細書 甲４：実験成績証明書、申立人、令和６年１０月１８日 甲５：サンプル送付案内、株式会社アドマテックス、令和６年６月４日 甲６：誘電率測定結果、株式会社エーイーティー、２０２４年１０月９日 第４ 取消理由の概要 当審において、令和７年１月１０日付けで特許権者に通知した取消理由の要旨は、次のとおりである。 １ 取消理由１（新規性） 請求項１、２、４～８に係る発明は、甲３に記載された発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、請求項１、２、４～８に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 第５ 取消理由１（新規性）、申立理由１－２（新規性）について １ 甲号証の記載及び甲号証に記載された発明 （１）甲３（中国特許出願公開第１０７８２８３５８号明細書） ア 甲３には、以下の記載がある。なお、甲３の記載は、当審の訳文で示す。 「[0023] 実施例１ １）水添ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂ＹＳ－ＧＦ０１５（南京遠州製薬）３１０ｇ、中空ガラスビーズ８０５４（米国ポッター）１２０ｇ、球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）２４０ｇ、テトラヒドロフタル酸メチルジグリシジルエステルＸＹ－８１３（安徽信源）５０ｇ、コアシェルゴムエポキシ樹脂ＢＰＦ－３０７（日本触媒）９０ｇ、シランカップリング剤ＫＨ－５６０（天津試薬廠）３ｇ、消泡剤ＡＦＣＯＮＡ－２０３８（マレーシアＥｆｋｏｎａ）３ｇ、黒色ペースト（アメリカＰＥＮＮＣＯＬＯＲ）４ｇを反応釜に入れ、回転数８００ｒｐｍ、３時間撹拌し、よく混合する； ・・・ [0027] 実施例５ １）多環芳香族エポキシ樹脂ＨＰ－４０３２Ｄ（日本ＤＩＣ）１８０ｇ、ビフェニル型エポキシ樹脂ＹＬ６１２１Ｈ（日本三菱）１４０ｇ、中空ガラスビーズＧ４００（３Ｍ）５０ｇ、球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）３１０ｇ、１，４－シクロヘキサンジメタノールジグリシジルエーテルＸＹ－６３０（安徽信源）４０ｇを秤量する。コアシェルゴムエポキシ樹脂ＢＰＡ－３２８（日本触媒）７０ｇ、シランカップリング剤ＫＨ－５６０（天津試薬廠）３ｇ、消泡剤ＡＦＣＯＮＡ－２２７０（マレーシアＥｆｋｏｎａ）３ｇ、黒色ペースト（アメリカＰＥＮＮＣＯＬＯＲ）４ｇ、反応釜に入れ、回転速度８００ｒｐｍ、２時間撹拌し、よく混合する；・・・」 イ 甲３に記載された発明 （ア）上記アには、「球状シリカ微粉末ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（日本アドマテックス）」、すなわち、アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末が記載されている。 （イ）したがって、甲３には、以下の発明（以下、「甲３発明」という。）が記載されているといえる。 「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末。」 ウ 申立人の主張について （ア）特許異議申立書の主張について ａ 申立人は、特許異議申立書の１０ページ１４行～１１ページ７行において、甲３の【０００１】、【０００４】、【請求項１】、【請求項３】、【００１０】、実施例１及び５には、アンダーフィル接着剤の誘電率を低下するために、株式会社アドマテックス製のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）である甲３発明を採用することに加えて、甲３発明について平均粒径を０．１μｍ～１０μｍの範囲で変更することができることが開示されているといえ、サンプル４についてもサンプル１と同様に評価試験を行っており、その結果、以下の表Ａに示すとおり、本件発明の構成Ａ～Ｇ、Ｉ～Ｍを充足するから、甲３発明は、本件発明の構成Ａ～Ｇ、Ｉ～Ｍを有しているといえると共に、誘電正接の値を小さくするために平均粒径を変更できることが開示されている旨主張している。 なお、上記サンプル１については、特許異議申立書の６ページ下から４行～９ページ４行において、甲１に開示されている株式会社アドマテックス製のＳＯ－Ｃ６について、株式会社アドマテックスよりサンプルとして取得し、本件発明１～８と比較した結果を示す表Ａでは、ＳＯ－Ｃ６はサンプル１と記載し、具体的な実験方法については実験成績証明書（甲４）にて説明しており、これらの値の算出方法については本件明細書に基づいて行ったことが記載されている。 表Ａ ［図：0001430003000001.jpg］ ｂ しかし、甲３発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」は、甲３の出願日である平成２９年（２０１７年）１０月１２日より前のものであるのに対し、甲４（以下の（２）参照）のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、甲５（以下の（３）参照）によれば、２０２４年６月４日に株式会社アドマテックスから取り寄せたものである。 そうすると、甲３発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの球状シリカ微粉末」は、平成２９年（２０１７年）１０月１２日より前に製造されたものであるのに対し、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、２０２４年頃に製造されたものであるから、両者の製造時期は約７年異なっているといえる。 ｃ ここで、特許権者が提出した乙第１号証（再公表特許ＷＯ２０１７／０１４０６７号。以下、「乙１」という。）には、以下の記載がある。 「【００４９】 【表２】 ［図：0001430003000002.jpg］ ・・・ 【００５４】 試料Ｎｏ．８は、（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）を用いた。 ・・・ 【００６３】 なお、粒度分布および平均粒子径Ｄ５０は、レーザー回折式粒度分布測定装置（（株）島津製作所製 ＳＡＬＤ－７５００）を使用して測定した。 ・・・ 【００６６】 また、比表面積は、比表面積測定装置（（株）マウンテック製 Ｍａｃｓｏｒｂ ＨＭ ｍｏｄｅｌ－１２０１）を使用して測定した。」 ｄ 上記ｃの記載によれば、乙１には、（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、レーザー回折式粒度分布測定装置（（株）島津製作所製 ＳＡＬＤ－７５００）を使用して測定した平均粒子径Ｄ５０が６．１６μｍであり、比表面積測定装置（（株）マウンテック製 Ｍａｃｓｏｒｂ ＨＭ ｍｏｄｅｌ－１２０１）を使用して測定した比表面積が１．８３ｍ２／ｇであることが記載されている。 また、乙１の優先日は平成２７年（２０１５年）７月２３日であるから、乙１の（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、平成２７年（２０１５年）７月２３日より前に製造されたものであるのに対し、上記ｂで検討したとおり、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）は、２０２４年頃に製造されたものである。 そうすると、乙１の（株）アドマテックス製シリカビーズ（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）と、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）とは、製造時期が約９年異なっているといえる。 ｅ 一方、甲５には、株式会社アドマテックスの商品名が「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」について、ロット番号が「ＴＧＦ２４３－３」であり、平均粒径が６．３μｍ、比表面積が２．３ｍ２／ｇであることが記載されている。 そして、甲４には、甲５における「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」（サンプル４）は、マルバーン・パナリティカル社製のレーザ回折式粒子サイズ分析装置（マスターサイザー３０００）で測定した平均粒径が５．５７μｍ、マウンテック社のマックソープで測定した比表面積が２．３１ｍ２／ｇであることが記載されている。 ｆ 上記ｄ及びｅの各ＦＥ９２０Ａ－ＳＱの平均粒径及び比表面積について以下の表Ｂに示す。 表Ｂ ［図：0001430003000003.jpg］ ｇ 上記表Ｂにおける、甲４、乙１に記載されたＦＥ９２０Ａ－ＳＱの平均粒子径及び比表面積の値を比較すると、甲４の値と、乙１の値とは、いずれも大きく相違しているから、同じ「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」という同じ商品名の製品であっても、平均粒径及び比表面積は、製造時期によって相違することがあり得るといえる。 そうすると、本件発明１で特定されている「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径」である「Ｄ」、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度」、「前記粒子径頻度分布における２０．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度」、「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積」、及び、「前記粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき」の「Ｄｍ／Ｓ」の各特性（以下、まとめて「本件各特性」という。）についても、製造時期が約７年異なっている、甲３発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」と、甲４のＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）とは、いずれも異なることがあり得るといえる。 したがって、甲３発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」の本件各特性は、甲４の上記表Ａに記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）の本件各特性と同じ特性を有しているとはいえない。 また、甲３発明の「アドマテックス社製ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」の本件各特性が、甲４の上記表Ａに記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱ（サンプル４）の本件各特性と同じであることを認めるに足りる証拠はない。 ｈ 以上から、甲４の測定結果を根拠として、甲３発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｆを備えているとはいえない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用できない。 （イ）回答書の主張について ａ 申立人は、回答書に対する手続補正書（方式）の３ページ下から９行～４ページ下から７行において、以下のとおり主張している。 「一般的に化学材料を上市する企業は、同一の型番を付した製品は同一の性状をもつものであることを保証しています。ここで同一の性状とはばらつきを考慮して一定の幅が設定されることが一般的です。 更に、同一の性状をもつ製品であっても別個の原料や製造方法を採用した場合、原料や製造方法が異なることに由来する予期できない製品の相違点が生じうるため別個の型番を付することが当業者の常識であると考えます。 なお、特許権者（デンカ株式会社）は、上記意見書の（４．２．１）の３段落目において「シリカのような工業製品は、製造時の技術トレンド等を踏まえて特性の調整が行われることが通常であるところ、このような長期に渡る期間、ＦＥ９２０Ａ－ＳＱが同一の粉体特性を維持してきたと認めるに足る証拠は提出されていない。」と主張していますが、異議申立人の委託元の企業を含め、製品に責任をもつ企業においては同一の型番を付した製品は可能な限り同一な性状をもつように調製し、性状が異なるようになるような微調整などを行う場合には型番を変更する対応を行うことが一般的であると考えます。 つまり、一般的な企業は、同一の型番を付した場合には、各性状についてはばらつきを考慮した一定の幅を持たせたもの、製造方法・原料などについては完全に同一のものを提供するものと考えます。 ここで、甲４、甲５、乙１に記載の「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」について平均粒径や比表面積の値が異なっている原因については、製造メーカーである株式会社アドマテックスが設定した各性状のばらつきにあるのか、甲４、甲５、乙１における測定方法の問題にあるのかは分かりません。 しかしながら、型番が同一で有る限り同一の原料・製造方法により得られたものであり、甲第３号証が開示されたときから現在に至るまで同一の製造方法・原料を用いて、一定の幅をもった同一の性状になるように製造されたものであることが合理的に推察できます。 つまり、今回甲４～甲６にて評価した「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」は甲第３号証が開示された時点で上市されている製品であり、製品のばらつきを考慮した上で、甲第３号証が開示された時点で存在しうる「ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ」であると考えます。 このように、甲４～甲６に記載の発明（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）は、甲第３号証に記載の発明（ＦＥ９２０Ａ－ＳＱ）と同一であると言えます。」 ｂ しかし、申立人の上記ａの主張は、いずれも申立人の考えや意見をいうものであって、証拠に基づくものではない。 また、甲５に記載されているＦＥ９２０Ａ－ＳＱの「平均粒径：１．９μｍ」及び「比表面積：２．３ｍ２／ｇ」が、製造者である株式会社アドマテックスが保証する特性値であるとしても、製造時期が異なるＦＥ９２０Ａ－ＳＱについて、本件各特性が全て同じであることを認めるに足りる証拠はない。 したがって、申立人の上記ａの主張は採用できない。 （２）甲４（実験成績証明書、令和６年１０月１８日、申立人） 甲４には、以下の記載がある。 「 ［図：0001430003000004.jpg］ ［図：0001430003000005.jpg］ ［図：0001430003000006.jpg］ ［図：0001430003000007.jpg］ ［図：0001430003000008.jpg］ 」 （３）甲５（サンプル送付案内、令和６年６月４日、申立人） 甲５には、以下の記載がある。 「 ［図：0001430003000009.jpg］ 」 （４）甲６（誘電率測定結果、株式会社エーイーティー、２０２４年１０月９日） 甲６には、以下の記載がある。 「 ［図：0001430003000010.jpg］ ［図：0001430003000011.jpg］ ［図：0001430003000012.jpg］ ［図：0001430003000013.jpg］ ［図：0001430003000014.jpg］ ［図：0001430003000015.jpg］ ［図：0001430003000016.jpg］ ［図：0001430003000017.jpg］ ［図：0001430003000018.jpg］ 」 ２ 本件発明１について （１）対比 本件発明１と甲３発明とを対比する。 ア 甲３発明の「球状シリカ微粉末」は、本件発明１の「シリカ粉末」に相当する。 イ 以上から、本件発明１と甲３発明との一致点、相違点は以下のとおりとなる。 ＜一致点＞ 「シリカ粉末。」 ＜相違点＞ 相違点１－１：本件発明１は、「本件手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下である」のに対し、甲３発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 相違点１－２：本件発明１は、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤとしたとき、Ｄが３．０μｍ以上２５．０μｍ以下、 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が５．５％以上、 前記粒子径頻度分布における２０．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度が６．０％以下、 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下、および 前記粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき、Ｄｍ／Ｓが１．５０以上である」のに対し、甲３発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み相違点１－２から検討する。 上記１（１）ウ（ア）ｂ～ｈで検討したとおり、甲４の測定結果を根拠として、甲３発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｆを備えているとはいえないから、甲３発明は、相違点１－２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 また、甲３発明が、相違点１－２に係る本件発明１の構成を備えていることが、本件特許の出願時において技術常識であるともいえない。 したがって、相違点１－２は実質的な相違点である。 （３）小括 以上から、相違点１－１について判断するまでもなく、本件発明１は、甲３発明ではない。 ３ 本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件発明１の全ての構成を有するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲３発明ではない。 ４ まとめ 以上によれば、取消理由１（新規性）、申立理由１－２（新規性）には理由がない。 第６ 申立理由１－１（新規性）について １ 甲２（国際公開第２０２３／１１２２８１号）の記載及び甲２に記載された発明 （１）甲２には、以下の記載がある。 「［0056］（試料の調製） ・試験例１、１０（Ｄ１０：１．７μｍ、Ｄ５０：２．５μｍ） ＶＭＣ法により製造したシリカを原料シリカ粒子材料とした（原料シリカ粒子材料調製工程）。原料シリカ粒子材料は、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍであった。この原料シリカ粒子材料を気流分級により粒径が大きい分画を分級した。（分級工程）。得られた粒径が大きい分画に含まれるシリカ粒子材料に対してシラン化合物としてのビニルトリメトキシシランを反応させた（第１表面処理工程）。ヘキサメチルジシラザンを反応させて本試験例の試験試料とした（第２表面処理工程）。このシリカ粒子材料の比表面積は、１．１ｍ2／ｇであった。表面処理工程を行わないものを試験例１０の試験試料とした。 ・・・ ［0067］（試験） 各試験例の試験試料について、Ｄ１０、Ｄ５０を堀場製作所社製ＬＡ－７５０により測定し、比表面積を窒素ガスを用いたＢＥＴ法により測定し、発生水量２００℃及び発生水量５５０℃をカールフィッシャー法にて測定し単位表面積あたりに換算し、それぞれ表に示した。 ・・・ ［0070］ ［表2］ ［図：0001430003000019.jpg］ 」 （２）甲２に記載された発明 上記（１）の試験例１０の記載に注目すると、甲２には、以下の発明（以下、「甲２発明」という。）が記載されているといえる。 「Ｄ１０が１．７μｍ、Ｄ５０が２．５μｍ、窒素ガスを用いたＢＥＴ法により測定した比表面積が１．１ｍ2／ｇである、シリカ粒子。」 （３）申立人の主張について ア 申立人は、特許異議申立書の９ページ１０行～１０ページ７行において、甲２の【請求項１】、【００１５】、【００１８】の記載によれば、甲２には、誘電正接の値を小さくするために、Ｄ５０を変化させることができることと、Ｄ１０、Ｄ９０を変化させることができること、比表面積を変化させることができることが開示され、甲２の試験例１０の試験試料（以下、「サンプル２」と称する）については、上述したサンプル１について分級工程を行って粒径が大きい分画を取り出したものであり、サンプル２については、上記表Ａに示すとおり、本件発明の構成Ａ～Ｇ、Ｉ～Ｌを充足するから、甲２発明には、本件発明の構成Ａ～Ｇ、Ｉ～Ｌを有していると共に、誘電正接の値を小さくするためにＤ５０、Ｄ１０、Ｄ９０、比表面積を変更できることが開示されている旨主張している。 イ ここで、甲４の１ページ下から２４～２５行、下から９～７行には、「サンプル２については、取り寄せたサンプル１に対してＷＯ ２０２３／２２３８２の試験例１０の記載に従い、調整した試料を使用した。」、「甲２発明の出願人である株式会社アドマテックスの製品のうち、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍ、ＶＭＣ法により製造された粒子材料は、サンプル１として取り寄せたＳＯ－Ｃ６が該当する」と記載されている。 そして、甲２には、「ＶＭＣ法により製造したシリカを原料シリカ粒子材料とした（原料シリカ粒子材料調製工程）。原料シリカ粒子材料は、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍであった」と記載されている。 そうすると、甲２の原料シリカ粒子材料と、甲１のサンプル１とは、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍである点で共通している。 しかし、甲１のサンプル１であるＳＯ－Ｃ６がＶＭＣ法により製造されたものであることを立証する証拠は提示されていない。 したがって、甲２発明の出願人である株式会社アドマテックスの製品のうち、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍ、ＶＭＣ法により製造された粒子材料は、サンプル１であるＳＯ－Ｃ６が該当するとはいえない。 ウ 次に、申立人が主張するとおり、「甲２発明の出願人である株式会社アドマテックスの製品のうち、Ｄ５０が１．９μｍ、Ｄ１０が１．０μｍ、ＶＭＣ法により製造された粒子材料は、サンプル１として取り寄せたＳＯ－Ｃ６が該当する」として、更に検討する。 甲２の国際出願日は２０２１年１２月１６日であるから、甲２の原料シリカ粒子材料は、２０２１年１２月１６日より前に製造されたものであるのに対し、上記第５ １（１）ウ（ア）ｂで検討したとおり、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）は、２０２４年頃に製造されたものである。 そうすると、甲２の原料シリカ粒子材料と、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）とは、製造時期が約３年異なっているといえる。 ここで、上記第５ １（１）ウ（ア）ｂ～ｇの検討を参酌すると、同じ商品名の製品であっても、製造時期によってその特性は相違することがあり得るといえる。 そうすると、甲２の原料シリカ粒子材料の本件各特性と、甲４の上記表Ａに記載されているサンプル１の本件各特性とは、いずれも異なることがあり得るといえる。 そして、甲２発明の「シリカ粒子」は、上記原料シリカ粒子材料を原料として製造されるものであり、甲４のサンプル２は、サンプル１を原料として、甲２の試験例１０の記載に従い、調整したものであるから、甲２発明の「シリカ粒子」の本件各特性と、甲４のサンプル２の本件各特性とは、いずれも異なることがあり得るといえる。 したがって、甲２発明の「シリカ粒子」の本件各特性は、甲４の上記表Ａに記載されているサンプル２の本件各特性と同じ特性を有しているとはいえない。 また、甲２発明の「シリカ粒子」の本件各特性が、甲４のサンプル２の本件各特性と同じであることを認めるに足りる証拠はない。 エ 以上から、甲４の測定結果を根拠として、甲２発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｆを備えているとはいえない。 したがって、申立人の上記アの主張は採用できない。 ２ 本件発明１について （１）対比 本件発明１と甲２発明とを対比する。 ア 甲２発明の「窒素ガスを用いたＢＥＴ法」は、「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法」に相当し、甲２発明の「窒素ガスを用いたＢＥＴ法により測定した比表面積」である「１．１ｍ2／ｇ」は、本件発明１の「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積」である「０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下」の範囲内である。 したがって、甲２発明の「窒素ガスを用いたＢＥＴ法により測定した比表面積が、１．１ｍ2／ｇである」ことは、本件発明１の「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下」であることに相当する。 イ 以上から、本件発明１と甲２発明との一致点、相違点は以下のとおりとなる。 ＜一致点＞ 「窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下である、シリカ粉末。」 ＜相違点＞ 相違点２－１：本件発明１は、「本件手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下である」のに対し、甲２発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 相違点２－２：本件発明１は、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤとしたとき、Ｄが３．０μｍ以上２５．０μｍ以下、 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が５．５％以上、 前記粒子径頻度分布における２０．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度が６．０％以下、」「および 前記粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき、Ｄｍ／Ｓが１．５０以上である」のに対し、甲２発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み相違点２－２から検討する。 上記１（３）イ～エで検討したとおり、甲４の測定結果を根拠として、甲２発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｆを備えているとはいえないから、甲２発明は、相違点２－２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 また、甲２発明が、相違点２－２に係る本件発明１の構成を備えていることが、本件特許の出願時において技術常識であるともいえない。 したがって、相違点２－２は実質的な相違点である。 （３）小括 以上から、相違点２－１について判断するまでもなく、本件発明１は、甲２発明ではない。 ３ 本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件発明１の全ての構成を有するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲２発明ではない。 ４ まとめ 以上によれば、申立理由１－１（新規性）には理由がない。 第７ 申立理由２（進歩性）について １ 甲１（特開２０１７－１９３６９０号公報）の記載及び甲１に記載された発明 （１）甲１には、以下の記載がある（当審注：下線は当審が付与した。以下、同様である。）。 「【０２０１】 表１の成分について以下に示す。 ・・・ ［無機充填材］ ・ＳＯ－Ｃ２：株式会社アドマテックス製のシリカ「ＳＯ－Ｃ２」（商品名、平均粒径；０．５μｍ）の表面をアミノシランカップリング剤で処理し、さらに、ＭＥＫ溶剤中に分散させたシリカ（固形分濃度７０質量％） ・ＳＯ－Ｃ６：株式会社アドマテックス製のシリカ「ＳＯ－Ｃ６」（商品名、平均粒径；２．２μｍ）の表面をアミノシランカップリング剤で処理し、さらに、ＭＥＫ溶剤中に分散させたシリカ（固形分濃度７０質量％） ・・・」 （２）甲１に記載された発明 ア 上記（１）には、「株式会社アドマテックス製のシリカ「ＳＯ－Ｃ６」（商品名、平均粒径；２．２μｍ）」と記載されているから、株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６は、シリカ粉末であって、平均粒径が２．２μｍであるといえる。 イ したがって、甲１には、以下の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されているといえる。 「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末であって、平均粒径が２．２μｍであるシリカ粉末。」 （３）申立人の主張について ア 申立人は、特許異議申立書の６ページ下から４行～９ページ４行において、甲１に開示されている株式会社アドマテックス製のＳＯ－Ｃ６について、株式会社アドマテックスよりサンプルとして取得し、本件発明１～８と比較した結果を示す上記表Ａでは、ＳＯ－Ｃ６はサンプル１と記載し、具体的な実験方法については実験成績証明書（甲４）にて説明しており、これらの値の算出方法については本件明細書に基づいて行っており、この表より明らかなように、サンプル１は、本件特許発明の構成Ａ～Ｅ、Ｇ及びＩ～Ｌを充足するから、甲１発明は、本件発明の構成Ａ～Ｅ、Ｇ及びＩ～Ｌを備えている旨主張している。 イ しかし、甲１の出願日は平成２８年（２０１６年）４月２２日であるから、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」は、平成２８年（２０１６年）４月２２日より前に製造されたものであるのに対し、上記第５ １（１）ウ（ア）ｂで検討したとおり、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）は、平成２８年（２０１６年）４月２２日より前に製造されたものである。 そうすると、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」と、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）とは、製造時期が約８年異なっているといえる。 ウ ここで、上記第５ １（１）ウ（ア）ｂ～ｇの検討を参酌すると、同じ商品名の製品であっても、製造時期によってその特性は相違することがあり得るといえる。 そして、上記イで検討したとおり、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」と、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）とは、製造時期が約８年異なっているから、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」の特性と、甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）の特性とは、いずれも異なることがあり得るといえる。 そうすると、本件各特性についても、製造時期が異なっている、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」と、と甲４の甲４のＳＯ－Ｃ６（サンプル１）は、いずれも異なることがあり得るといえる。 したがって、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」の本件各特性は、甲４の以下の表Ａに記載されているＳＯ－Ｃ６（サンプル１）の本件各特性と同じ特性を有しているとはいえない。 また、甲１発明の「株式会社アドマテックス製ＳＯ－Ｃ６のシリカ粉末」の本件各特性が、甲４の以下の表Ａに記載されているＳＯ－Ｃ６（サンプル１）の本件各特性と同じであることを認めるに足りる証拠はない。 エ 以上から、甲４の測定結果を根拠として、甲１発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｅを備えているとはいえない。 したがって、申立人の上記アの主張は採用できない。 ２ 本件発明１について （１）対比 本件発明１と甲１発明とを対比する。 ア 甲１発明の「平均粒径が２．２μｍであるシリカ粉末」は、シリカ粒子であるといえるから、本件発明１の「シリカ粒子」に相当する。 イ 以上から、本件発明１と甲１発明との一致点、相違点は以下のとおりとなる。 ＜一致点＞ 「シリカ粉末。」 ＜相違点＞ 相違点３－１：本件発明１は、「本件手順に従って測定される樹脂シートサンプルの４０ＧＨｚ時の誘電正接が２．０×１０－３以下である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 相違点３－２：本件発明１は、「湿式でのレーザー回折散乱法で測定される体積頻度粒度分布における小粒子側からの累積体積が９０％となる点の粒子径をＤとしたとき、Ｄが３．０μｍ以上２５．０μｍ以下、 湿式でのレーザー回折散乱法で測定される粒子径頻度分布における最大ピークの頻度が５．５％以上、 前記粒子径頻度分布における２０．７μｍ以上の粒子径の粒子の頻度が６．０％以下、 窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が０．２ｍ２／ｇ以上５．０ｍ２／ｇ以下、および 前記粒子径頻度分布における最頻径の値をＤｍ（μｍ）、前記比表面積の値をＳ（ｍ２／ｇ）としたとき、Ｄｍ／Ｓが１．５０以上である」のに対し、甲１発明は、そのような構成を有しているかどうか不明である点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み、相違点３－２から検討する。 上記１（３）イ～エで検討したとおり、甲４の測定結果を根拠として、甲１発明が、本件発明１の構成Ａ～Ｅを備えているとはいえないから、甲１発明は、相違点３－２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 また、上記第６ １（３）イ～エ、及び、上記第５ １（１）ウ（ア）ｂ～ｈの検討を参酌すると、甲２発明及び甲３発明も、相違点３－２に係る本件発明１の構成を備えているとはいえない。 したがって、甲１発明に甲２発明及び甲３発明を適用しても、相違点３－２に係る本件発明１の構成は得られない。 よって、甲１発明において、相違点３－２に係る本件発明１の構成とすることは、当業者が容易に想到し得たものとはいえない。 （３）小括 以上から、相違点３－１について判断するまでもなく、本件発明１は、甲１発明、甲２発明及び甲３発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものではない。 ３ 本件発明２～８について 本件発明２～８は、本件発明１の全ての構成を有するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲１発明、甲２発明及び甲３発明に基づいて、当業者が容易に発明できたものではない。 ４ まとめ 以上によれば、申立理由２（進歩性）には理由がない。 第８ むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由、特許異議の申立ての理由及び証拠によっては、本件特許を取り消すことはできない。 また、他に本件特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。