2020-700680

特許第６６６３０７９号発明「金被覆銀平板状粒子、金被覆銀平板状粒子分散液及びその製造方法、塗布膜、並びに、反射防止光学部材」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

【結　論】 特許第６６６３０７９号の明細書、特許請求の範囲を、令和３年２月１２日付けの訂正請求書に添付された訂正明細書、令和３年５月１４日付け手続補正書に添付された補正後の訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１－１３〕について訂正することを認める。 特許第６６６３０７９号の請求項１－５、１１に係る特許を維持する。

【理　由】 第１　手続の経緯 特許第６６６３０７９号（以下、「本件特許」という。）の請求項１～１３に係る特許についての出願（以下、「本願」という。）は、２０１８年（平成３０年）３月６日（優先権主張２０１７年３月３１日、日本国）を国際出願日とする特願２０１９－５０９１１０号であって、令和２年２月１７日にその特許権の設定登録がされ、同年３月１１日に特許掲載公報が発行され、その後、本件特許について、同年９月１０日付けで、特許異議申立人金山愼一（以下、「申立人」という。）により、請求項１～５、１１に係る特許について特許異議の申立てがなされ、同年１２月１４日付けで取消理由が通知され、特許権者から令和３年２月１２日に意見書が提出されるとともに、訂正請求書が提出され（以下、「本件訂正請求書」といい、本件訂正請求書による訂正請求を「本件訂正請求」という。）、同年４月１２日付けで訂正拒絶理由通知書が通知され、特許権者により同年５月１４日に意見書が提出されるとともに、本件訂正請求書に対して手続補正がなされ、申立人により同年７月１日に意見書が提出されたものである。 第２　訂正の適否についての判断 １　本件訂正請求書に対する補正の適否 （１）補正の内容 令和３年５月１４日になされた手続補正は、本件訂正請求書を補正するものであって、そのうち、「７．請求の理由」「（２）訂正事項」に係る補正は以下のとおりである。 ア　訂正請求書の「７．請求の理由」「（２）訂正事項」の「ア　訂正事項１」に、 「特許請求の範囲の請求項１に「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」と記載されているのを、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」に訂正し、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．１以上１．４以下」に訂正する。」とあるのを、 「特許請求の範囲の請求項１に「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」と記載されているのを、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」に訂正し、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下」に訂正する。」に補正する。 イ　訂正請求書の「７　請求の理由」「（２）訂正事項」の「イ　訂正事項２」に、 「特許請求の範囲の請求項２に「平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「平均厚みの比が０．１以上１．４以下」に訂正する。」とあるのを、 「特許請求の範囲の請求項２に「平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「平均厚みの比が０．２以上１．４以下」に訂正する。」に補正する。 ウ　なお、前記ア～イの補正に合わせて「訂正特許請求の範囲」も補正後のものが添付されている。 （２）補正の適否 上記（１）ア、イの補正は、請求項１及び請求項２の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」の範囲を減縮する、実質的に審理対象の拡張変更を伴わない補正であるから、訂正請求書の要旨を変更するものには該当しない。 したがって、上記（１）ア、イの補正を認める。 ２　訂正請求の趣旨及び訂正の内容 （１）訂正請求の趣旨 令和３年５月１４日付け手続補正書により補正された本件訂正請求による訂正（以下「本件訂正」という。）は、「特許第６６６３０７９号の明細書、及び特許請求の範囲を、本件訂正請求書に添付した訂正明細書（以下、単に「訂正明細書」という。）、及び令和３年５月１４日付け手続補正書に添付された補正後の訂正特許請求の範囲（以下、単に「補正後の訂正特許請求の範囲」という。）のとおり、訂正後の請求項１～１３について訂正することを求める」というものであり、その訂正の内容は、下記（２）のとおりである。なお、当該第２の２では、下線は訂正した箇所を表す。 （２）訂正の内容 ア　訂正事項１ 特許請求の範囲の請求項１に「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」と記載されているのを、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり」に訂正し、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下」に訂正する。 イ　訂正事項２ 特許請求の範囲の請求項２に「平均厚みの比が０．０２以上」と記載されているのを、「平均厚みの比が０．２以上１．４以下」に訂正する。 ウ　訂正事項３ 願書に添付した明細書の段落【０１９８】の表２において、表中に記載される「実施例１～実施例１８」及び「比較例１～比較例６」に関する事項のうち、「実施例７～実施例１１」及び「比較例５」に関する事項を削除する。 エ　訂正事項４ 願書に添付した明細書の段落【０１７９】において、「［実施例２～１４、比較例５～６］」と記載されているのを、「［実施例２～６、１２～１４、比較例６］」に訂正し、「分散液Ｂ２～Ｂ１４及び分散液Ｃ５～Ｃ６」と記載されているのを「分散液Ｂ２～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１４及び分散液Ｃ６」に訂正する。 オ　訂正事項５ 願書に添付した明細書の段落【０１８８】において、「分散液Ｂ１～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ６」と記載されているのを「分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６」に訂正し、 願書に添付した明細書の段落【０１８９】において、「分散液Ｂ１～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ６」と記載されているのを「分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６」に訂正し、 願書に添付した明細書の段落【０１９２】、【０１９４】、及び【０１９５】において、「分散液Ｂ１～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ６」と記載されているのを「分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６」に訂正し、 願書に添付した明細書の段落【０１９５】において、「分散液Ｂ１～Ｂ１３（当審注：Ｂ１３はＢ１８の誤記と認められる。）、及び分散液Ｃ１～Ｃ６」と記載されているのを「分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６」に訂正する。 カ　訂正事項６ 願書に添付した明細書の段落【０１９９】において、「実施例１～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ１８」と記載されているのを、「実施例１～６、１２～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８」に訂正する。 キ　訂正事項７ 願書に添付した明細書の段落【０２１８】の表４において、表中に記載される「実施例１９～実施例３８」及び「比較例７～比較例９」に関する事項のうち、「実施例２５～実施例２９」及び「比較例１１」に関する事項を削除する。 ク　訂正事項８ 願書に添付した明細書の段落【０２０４】において、「［実施例２０～３１、３６～３８、比較例７～１２］」と記載されているのを、「［実施例２０～２４、３０～３１、３６～３８、比較例７～１０、１２］」に訂正し、 「実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて、分散液Ｂ２～Ｂ１４、Ｂ１７～１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６のいずれかの分散液を用いた以外は、実施例１９と同様にして、塗布液Ｂ２～Ｂ１３、１４～１６及び塗布液Ｃ１～Ｃ６を調製した。」と記載されているのを、「実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて、分散液Ｂ２～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１６及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６のいずれかの分散液を用いた以外は、実施例１９と同様にして、塗布液Ｂ２～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１６を調製した。」に訂正し、 「実施例１９と同様にして塗布膜Ｂ１～Ｂ１３、１８～２０及び塗布膜Ｃ１～Ｃ６を形成した。」と記載されているのを、「実施例１９と同様にして塗布膜Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１３、Ｂ１８～Ｂ２０及び塗布膜Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６を形成した。」に訂正する。 ケ　訂正事項９ 願書に添付した明細書の段落【０２１８】の表４において、表中に「塗布液Ｎｏ．」と記載されている箇所を「分散液Ｎｏ．」に訂正する。 コ　訂正事項１０ 願書に添付した明細書の段落【０２０５】において、「分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ３を用い、」と記載されているのを、「分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ６を用い、」に訂正し、 段落【０２１８】の表４中、実施例３２に用いる分散液の表示を「Ｂ３」から「Ｂ６」に訂正する。 サ　訂正事項１１ 願書に添付した明細書の段落【０２０６】において、「実施例１９において、特定有機成分１（１－（５－メチルウレイドフェニル）－５－メルカプトテトラゾール）に換えて、」と記載されているのを、「実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ６を用い、特定有機成分１（１－（５－メチルウレイドフェニル）－５－メルカプトテトラゾール）に換えて、」に訂正し、 段落【０２１８】の表４中、実施例３３、３４及び３５のそれぞれにおいて、「Ｂ３」と記載されている箇所を「Ｂ６」に訂正する。 シ　訂正事項１２ 願書に添付した明細書の段落【０２１０】において、「塗布膜Ｂ１～Ｂ２０「及び塗布膜Ｃ１～Ｃ６」と記載され、段落【０２１５】において、「塗布膜Ｂ１～Ｂ２０及び塗布膜Ｃ１～Ｃ６」と記載されているのを、いずれも、「塗布膜Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ２０及び塗布膜Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６」に訂正する。 ス　訂正事項１３ 願書に添付した明細書の段落【０２２１】において、「塗布膜Ｂ１～Ｂ２０」と記載されるのを、「塗布膜Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ２０」に訂正する。 セ　訂正事項１４ 願書に添付した明細書の段落【０２２５】において、「実施例１６で作製した塗布液Ｂ３を、」と記載されるのを、「実施例２１で作製した塗布液Ｂ３を、」に訂正する。 ３　当審の判断 ア　訂正事項１について （ア）訂正の目的について 訂正事項１に係る訂正は、請求項１に記載の「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」を「０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下」から「０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」に限定し、かつ、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を「０．０２以上」から「０．２以上１．４以下」に限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１に係る訂正は、請求項１に記載の「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を限定するものであるから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 本件特許の明細書には、以下の記載がある。 「【０１９８】 【表２】 」 上記【０１９８】の表２には、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」である金被覆層の主平面厚み（Ａ）が０．４ｎｍである金被覆銀平板状粒子（実施例１、６）、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」である金被覆層の厚み比［Ａ／Ｂ］が０．２である金被覆銀平板状粒子（実施例１６）、及び、同［Ａ／Ｂ］が１．４である金被覆銀平板状粒子（実施例１２）が記載されている。 したがって、訂正事項１に係る訂正は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものではなく、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項１について、訂正後の請求項１～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、請求項１の訂正に連動して訂正がなされているので独立特許要件が課されることになる。 したがって、訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明が、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて、検討を行う。 （エ－１）本件訂正後発明 訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、訂正後の請求項１に係る発明は、補正後の訂正特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定されるものと認められるところ、その請求項１の記載は以下のとおりのものである。 「銀平板状粒子と金被覆層とを有し、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、金被覆銀平板状粒子。」 （エ－２）特許法第３６条第４項第１号に規定する実施可能要件について 上記２（２）アに記載したとおり、訂正事項１は請求項１の記載の訂正であるから、令和３年４月１２日付けの訂正拒絶理由通知書の「第２　訂正の適否についての当審の判断」の「（１）訂正事項１について」の「エ　特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて」の「（イ）特許法第３６条第４項第１号に規定する実施可能要件について」（６頁８行～２３行）で説明した訂正拒絶理由が解消しているかを検討する。 特許権者は、訂正事項３及び訂正事項７により、本件特許の明細書における実施例及び比較例に関する事項のうち、「実施例７～実施例１１」、「比較例５」、「実施例２５～実施例２９」、「比較例１１」に関する事項を削除するとともに、上記訂正拒絶理由通知書に対し、特許権者が手続補正と同時に提出した意見書において、「詳細には、本件特許明細書の段落【０１９８】に記載される表２において、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、錯誤により不適切な実験結果が記載されてしまっていたため、分散液の作製条件が同一となっており、これらの実施例及び比較例の存在は、表２の記載が意図する事項（即ち、分散液の種類とそれにより得られる金被覆銀平板状粒子の形状）に齟齬を来し、表２の記載を不明瞭にするものであることから、表２から実施例７～実施例１１及び比較例５に関する事項を削除した。」（３頁）と説明しているから、当該削除の合理的理由を説明していると認められる。 また、本件訂正後の明細書の段落【０１６９】～【０１７８】において、訂正後の請求項１に係る発明の金被覆銀平板状粒子の作製方法が詳細に説明されており、段落【０１９８】の表２に記載の各実施例及び比較例についても、粒子の分散液の作製条件の変動と、得られる金被覆銀平板状粒子における「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」との相関が示されているといえるから、本件訂正の訂正明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項１に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものといえる。 （エ－３）特許法第３６条第６項第１号に規定するサポート要件について 令和３年４月１２日付けの訂正拒絶理由通知書の「第２　訂正の適否についての当審の判断」の「（１）訂正事項１について」の「エ　特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて」の「（ウ）特許法第３６条第６項第１号に規定するサポート要件について」（６頁２４行～８頁１５行）で説明した訂正拒絶理由が解消しているかを検討する。 令和２年１２月１４日付けの取消理由通知書の「第４　取消理由」の「３　特許法第３６条第６項第１号に規定するサポート要件について（職権で採用）」のア～イ（２０頁７行～２１頁１９行）に記載したとおり、本件特許に係る発明が解決しようとする課題（以下単に「課題」という。）は、「所望の粒子形状を保ったまま」「銀平板状粒子の全面（すなわち、粒子の主平面及び端面の全て）に対して均一かつ十分な金被覆」を行って、「酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液」及び「酸化耐性に優れた塗布膜」を提供することであると認められる。 上記課題に対して、訂正後の請求項１では、金被覆銀平板状粒子の「金被覆層」について次のように特定されている。 「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である」 訂正明細書の【０１９８】の表２において、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」は「主平面厚み（Ａ）」の欄に、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は「厚み比［Ａ／Ｂ］」の欄に示されている。 表２の実施例１～１８のうち、実施例１～６、１２、１５～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２、Ｂ１５～Ｂ１８が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が両方とも訂正後の請求項１の数値範囲を満たし、該粒子を有する分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２、Ｂ１５～Ｂ１８は実用上問題ない酸化耐性（評価レベルＡ、Ｂ）を有することが示されている。 （なお、実施例７～１１、１３～１４については、次の理由により除外した。 ・実施例７、９～１０で作製した分散液Ｂ７、Ｂ９～Ｂ１０が含む金被覆銀平板状粒子は、「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が訂正後の請求項１の数値範囲を満たさず、訂正事項３により削除されている。 ・実施例８、１１で作製した分散液Ｂ８、Ｂ１１が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が両方とも訂正後の請求項１の数値範囲を満たすが、訂正事項３により削除されている。 ・実施例１３、１４で作製した分散液Ｂ１３～Ｂ１４が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が両方とも訂正後の請求項１の数値範囲を満たさない。） ここで、訂正後の請求項１の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」の下限値「０．２」に注目すると、表２の実施例１～６、１２、１５～１８で最も「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が小さいのは実施例１６でその値は「０．２」であるから、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が０．２以上１．４以下の場合には、課題を解決し得ることが確認できる。 したがって、訂正後の請求項１に係る発明は、実施例の記載に基いて課題を解決し得るものであり、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものである。訂正後の請求項１を直接的又は間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明についても同様である。 なお、令和３年７月１日付けの申立人による意見書の５～１３頁の「訂正後の請求項１及びこれを引用する請求項６～１０、１２～１３には、サポート要件違反がある」との主張は、以下の点で採用することができない。 ・同意見書の６～７頁の「ア　訂正後の【表２】において、金被覆銀平板状粒子が記載されている唯一の比較例である比較例６は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方を満たさないものであること」及び同意見書の７～８頁の「イ　【表２】には、比較例が１つしかなく、しかもその端面厚みが極端な厚みであること」での主張は、訂正後の明細書（【表２】）では、実施例のすべてが「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方を満たし、唯一の比較例であり端面厚みが１０．１ｎｍと極端に厚い比較例６は「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方を満たさないものとなった結果、本件明細書の記載からは、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が酸化耐性の評価にどのような影響を与えるのかを読み取ることはできないというものである。 しかし、訂正後の請求項１に係る発明は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方の特定事項を満たすことで、実用上問題のない酸化耐性を有する金被覆銀平板状粒子を提供する発明であるから、それぞれの特定事項の一方のみを満たすことが酸化耐性に与える影響を読み取る必要があるとは認められない。 よって、この主張は採用できない。 ・同意見書の８～１０頁の「ウ　厚さの比と酸化耐性の評価の関係が不明であり、しかも、実施例１４・比較例６と実施例５・実施例１６とでは、厚さの比の増減が酸化耐性の評価に与える影響が異なっていること」での主張は、実施例１４・比較例６と実施例５・実施例１６とでは、粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比の増減が酸化耐性の評価に与える影響が逆になっていること、実施例１４と実施例５は、いずれも粒子の端面における金被覆層の平均厚みが１．０～１．１ｎｍとほぼ同じであるが、粒子の主平面における金被覆層の平均厚み及び酸化耐性の評価は、実施例１４は０．１１ｎｍ、「Ｂ」であるのに対し、実施例５は０．６ｎｍ、「Ｂ」となっており、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みを変化させても酸化耐性が向上しない結果となっていることから、粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が、課題を解決する手段とはなり得ないというものである。 しかし、本件明細書の表２には、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」と「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方を満たす実施例では、実用上問題のない酸化耐性である「Ａ」又は「Ｂ」を有する金被覆銀平板状粒子が得られているから、一方の特定事項だけでなく双方の特定事項を満たすことが、課題を解決する手段であることがわかり、課題を解決する手段を検討する際に、一方のみの特定事項と酸化耐性が相関していることを示す必要があるとはいえない。 また、本件明細書の【０１９４】～【０１９６】の「（３）酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）評価」の記載から、「Ｈ２Ｏ２の含有量が０質量％の評価用サンプルと３質量％の評価用サンプルとの吸収ピーク強度　ＡＭ（Ａｂｓ．Ｍａｘ）（０％）及びＡＭ（３％）を求め、その強度比：ＡＭ（３％）／ＡＭ（０％）」が「０．７以上０．９未満」の範囲内であれば酸化耐性の評価は「Ｂ」である。すなわち、その強度比には幅があるため、実施例１４と実施例５の酸化耐性の評価が同じ「Ｂ」であるからといって、強度比が同一であり酸化耐性が向上しない結果になっているとはいうことはできない。 よって、この主張は採用できない。 ・同意見書の１０頁の「エ　訂正後の請求項１の全範囲において、酸化耐性の評価「Ｂ」以上が得られることを本件明細書から理解することはできないこと」での主張は、実施例５と実施例１６の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」と酸化耐性の評価を比較することから、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を増加させることにより、酸化耐性が悪化するということを前提とできるとき、実施例１（主平面の平均厚み：０．４ｎｍ、厚み比０．４、酸化耐性「Ｂ」）の厚み比を１．４まで増加させると、酸化耐性が「Ｃ」まで悪化する可能性があるため、訂正後の請求項１の全範囲（「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」）において、実用上問題のない酸化耐性である「Ｂ」以上が得られることを本件明細書から理解することはできないというものである。 しかし、訂正後の請求項１に係る発明は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」の双方の特定事項を満たすことで、実用上問題のない酸化耐性を有する金被覆銀平板状粒子を提供する発明であり、一方の特定事項と酸化耐性が相関性を有することは不明であるから、実施例５と実施例１６の比較から上記前提が成り立つとは認められない。 また、当該前提が成り立つとしても、実施例１の粒子の主平面における金被覆層の平均厚みはそのままで、粒子の端面における金被覆層の平均厚みだけを１．０ｎｍから０．２８ｎｍに減少させる（「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を０．４から１．４に増加させる）ことが可能であるとも認められない。 よって、この主張は採用できない。 ・同意見書の１０～１１頁の「オ　【表２】に記載されていない要因が存在すること」での主張は、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、粒子分散液の作製条件が完全に同一であるにもかかわらず、得られた金被覆銀平板状粒子の形状が異なっていることから、表２には、粒子分散液の作製条件や金被覆銀平板状粒子の物性や構造が十分に記載されていない可能性があるので、本件明細書の実施例、比較例の金被覆銀平板状粒子の酸化耐性の評価には、これらの表２に記載されていない金被覆銀平板状粒子の物性や構造等が影響を与えている可能性があるというものである。 しかし、申立人は、表２に記載されていない作製条件及び物性値が存在することについて具体的な根拠を示していないため、そのような作製条件及び物性値が存在し、酸化耐性の評価に影響を与えているとは認められない。 よって、この主張は採用できない。 ・同意見書の１１～１２頁の「カ　金原子の配置に分布があったり、配置構造に差異があったりすることが考えられること」での主張は、金原子の直径は０．２８８ｎｍ（原子半径：１．４４Å）である（甲１５）のに対し、実施例１４や比較例６の粒子の主平面における金被覆層の厚さは０．１ｎｍであり、金原子の直径の約３分の１であることから、実施例１４や比較例６では、金原子が粒子の主平面を一様に覆う被膜を形成しているわけではなく、金原子が付着している箇所と付着していない箇所が存在することは明らかであって、その平均の厚みが０．１ｎｍであるとしても、金原子の配置に分布があったり、配置構造に差異があったりすることが想定され、その分布や配置構造の差異が、酸化耐性の評価に影響を与えたことは十分に考えられること、そして、そのような表２には記載されていない金原子の配置の分布や配置構造などの要因を度外視して、訂正後の請求項１の全範囲（「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、」）において、実用上問題のない酸化耐性である「Ｂ」以上が得られることを本件明細書から理解することはできないというものである。 これに対し、金の原子半径は１．４４Åであるから（申立人が同意見書に添付した甲第１５号証：岩波理化学辞典第３版増補版、玉虫文一他編、株式会社岩波書店、１９８６年７月１５日第３版増補版第７刷発行の「金」の項を参照）、金原子の直径は１．４４×２＝２．８８Å＝０．２８８ｎｍであり、０．２８８ｎｍより厚さが小さい金被覆層は、金原子が部分的に配置されていないように分布している可能性は存在する。 しかしながら、本件明細書の表２からは、厚みの平均値が特定事項の数値範囲内であれば、酸化耐性の評価が実用上問題のない程度の金被覆銀平板状粒子といえることがわかるから、金原子の配置の分布や配置構造が酸化耐性の評価に与える影響について考慮する必要があるとは認められない。 よって、この主張は採用できない。 （エ－４）小括 よって、（エ－１）～（エ－３）の検討の結果、訂正後の請求項１を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明が、特許出願の際に独立して特許を受けることができないとする理由は発見できない。 イ　訂正事項２について （ア）訂正の目的について 訂正事項２に係る訂正は、請求項２に記載の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を「０．０２以上」から「０．２以上１．４以下」に限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項２に係る訂正は、請求項２に記載の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を限定するものであるから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 上記ア（ウ）と同様に、訂正事項２に係る訂正は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入するものではなく、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項２に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項２について、訂正後の請求項２～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項２を間接的に引用する発明であり、独立特許要件が課されることになる。 したがって、訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明が、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて、検討を行う。 （エ－１）本件訂正後発明 訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項２を間接的に引用する発明であり、訂正後の請求項２に係る発明は、訂正特許請求の範囲の請求項２に記載された事項により特定されるものと認められるところ、その請求項２の記載は以下のとおりのものである。 「主平面における金被覆層の平均厚みが０．７ｎｍ以上１．５ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、請求項１に記載の金被覆銀平板状粒子。」 （エ－２）特許法第３６条第４項第１号に規定する実施可能要件について 上記ア（エ－２）で検討したように、本件特許の明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項２に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものである。 （エ－３）特許法第３６条第６項第１号に規定するサポート要件について 上記ア（エ－３）で検討したように、訂正後の請求項１に係る発明は、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものである。訂正後の請求項２を直接的又は間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明についても同様である。 よって、（エ－１）～（エ－３）の検討の結果、訂正後の請求項２を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものである。 ウ　訂正事項３について （ア）訂正の目的について 訂正事項３に係る訂正は、明細書の段落【０１９８】の表２において、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、それぞれ、分散液の作製条件が同一となっているにもかかわらず「酸化耐性」及び「粒子生産性」の評価が異なっており、これらの実施例及び比較例の存在は、表２の記載が意図する事項（即ち、分散液の種類とそれにより得られる金被覆銀平板状粒子の形状と効果）に齟齬を来し、表２の記載を不明瞭にするものであるから、表２において実施例７～１１及び比較例５に関する事項を削除する訂正であって、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項３に係る訂正は、表２から実施例７～１１及び比較例５に関する事項を削除する訂正であり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項３に係る訂正は、表２から実施例７～１１及び比較例５に関する事項を削除する訂正であり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項３に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項３について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 （オ）申立人の主張について 申立人は、令和３年７月１日付けの意見書の４～５頁において、「訂正前の段落【０１９８】の表２は、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、それぞれ粒子分散液の作製条件が完全に同一であるのもかからず、得られた金被覆銀平板状粒子の形状（粒子の主平面における金被覆層の平均厚み（Ａ）、及び、粒子の端面における金被覆層の平均厚み（Ｂ）（さらには、粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比（Ａ／Ｂ））が異なっており、本件明細書の実施例、比較例の分散液は、【表２】に記載されていない粒子分散液の作製条件を異ならせて作製されたものであり、これらの分散液で得られた金被覆銀平板状粒子も、【表２】に記載されていない物性や構造の点でも、異なっている（金粒子の積層態様等）ことを理解できる内容であった。 ところが、訂正後の段落【０１９８】の表２では、実施例７～１１、比較例５が削除されており（訂正事項３）、本件明細書の実施例、比較例の分散液が、【表２】に記載されていない粒子分散液の作製条件を異ならせて作製されたものであり、これらの分散液で得られた金被覆銀平板状粒子も、【表２】に記載されていない物性や構造の点でも、異なっている（金粒子の積層態様等）ことが覆い隠されている。 よって、訂正事項３は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものではなく、また、新たな技術的事項を導入するものであって、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものでもない。」と主張している。 これに対し、上記アの（エ－３）で記載したとおり、表２には記載されていない製造条件や物性が存在する可能性は否定できないものの、それらが存在するとも認められないから、「本件明細書の実施例、比較例の分散液は、【表２】に記載されていない粒子分散液の作製条件を異ならせて作製されたものであり、これらの分散液で得られた金被覆銀平板状粒子も、【表２】に記載されていない物性や構造の点でも、異なっている（金粒子の積層態様等）」とは認められない。 エ　訂正事項４について （ア）訂正の目的について 訂正事項４に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１７９】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５及びこれらに使用された分散液に関する部分を削除して、表２と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項４に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１７９】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項４に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１７９】の記載から、表２中において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項４に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項４について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 オ　訂正事項５について （ア）訂正の目的について 訂正事項５に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１８８】、【０１８９】、【０１９２】、【０１９４】、及び【０１９５】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に使用された分散液に関する部分を削除して、表２と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項５に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１８８】、【０１８９】、【０１９２】、【０１９４】、及び【０１９５】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項５に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１８８】、【０１８９】、【０１９２】、【０１９４】、及び【０１９５】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項５に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項５について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 カ　訂正事項６について （ア）訂正の目的について 訂正事項６に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１９９】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に使用された分散液に関する部分を削除して、表２と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項６に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１９９】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項６に係る訂正は、上記訂正事項３に係る訂正に伴い、明細書の段落【０１９９】の記載から、表２において削除された実施例７～１１及び比較例５に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項６に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項６について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 キ　訂正事項７について （ア）訂正の目的について 訂正事項７に係る訂正は、明細書の段落【０２１８】の表４において、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１において作製した分散液（すなわち、分散液Ｂ７～Ｂ１１、分散液Ｃ５）を使用した実施例２５～２９及び比較例１１の存在は、表４の記載が意図する事項（即ち、分散液の種類とそれにより得られる金被覆銀平板状粒子の形状と効果）に齟齬を来すものであるところ、表４から実施例２５～２９及び比較例１１に関する事項を削除する訂正事項７は、上記齟齬を解消するものであるので、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項７に係る訂正は、明細書の段落【０２１８】の表４から実施例２５～実施例２９及び比較例１１に関する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項７に係る訂正は、明細書の段落【０２１８】の表４から実施例２５～実施例２９及び比較例１１に関する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項７に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項７について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 ク　訂正事項８について （ア）訂正の目的について 訂正事項８に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２０４】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に関する分散液、塗布液、塗布膜に関する部分を削除して、表４と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項８に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２０４】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項８に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２０４】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項８に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項８について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 ケ　訂正事項９について （ア）訂正の目的について 訂正事項９に係る訂正は、明細書の段落【０２１８】の表４において、表中に「塗布液Ｎｏ．」と記載されている箇所を「分散液Ｎｏ．」に訂正するものであり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項９に係る訂正は、特許請求の範囲に記載された事項の解釈に影響を与えるものではなく、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 表４において「塗布液Ｎｏ．」を表題とする欄は、「使用した粒子分散液」中の一項目であり、この「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」、「端面吸着剤」、「Ａｇ濃度」、「Ａｕ濃度」の値と、表２に記載される各分散液の「粒子分散液の作製条件」中の「錯化剤」、「端面吸着剤」、「Ａｇ濃度」、「Ａｕ濃度」の値は、表４の「塗布液Ｎｏ．」と表２の「分散液Ｎｏ．」が同じ表示のもので一致しているから、表４の「塗布液Ｎｏ．」とある箇所は「分散液Ｎｏ．」と記載すべき誤記であることが明らかである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項９に係る訂正は、上記アに示したとおり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項９について、訂正後の請求項１～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、独立特許要件が課されることになる。 ここで、上記ア（エ）の（エ－２）～（エ－３）で検討したように、本件特許の明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項１に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものであり、訂正後の請求項１に係る発明及びこれを間接的に引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものであるから、訂正後の請求項１を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものである。 コ　訂正事項１０について （ア）訂正の目的について 訂正事項１０に係る訂正は、明細書の段落【０２０５】において、「分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ３を用い、」と記載されているのを、「分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ６を用い、」に訂正し、段落【０２１８】の表４中、実施例３２に用いる分散液の表示を「Ｂ３」から「Ｂ６」に訂正するものであり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１０に係る訂正は、特許請求の範囲に記載された事項の解釈に影響を与えるものではなく、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正前の本件特許の明細書には、以下のように記載されている。 「【０２０５】 ［実施例３２］ 実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ３を用い、かつ特定有機成分１を用いなかった以外は、実施例１９と同様にして、塗布液Ｂ１４を調製した。 次いで、得られた塗布液を用いて、実施例１９と同様にして塗布膜Ｂ１４を形成した。」 「【０２１８】 【表４】 」 上記ケ（ウ）で説明したとおり、表４の「塗布液Ｎｏ．」は「分散液Ｎｏ．」の誤記と認められるから、表４には、実施例３２において分散液Ｂ３を用いること、及び、当該実施例３２の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は３０ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであることが示されているといえる。 一方、表４によると、分散液Ｂ３を用いた実施例２１の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］は１５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであり、分散液Ｂ６を用いた実施例２４の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は３０ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであることから、実施例３２で用いるのは分散液Ｂ３ではなく、「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」、「還元電位［Ｖ］」及び「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「端面吸着剤」の「種類」及び「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」の全てが同じである分散液Ｂ６であることが明らかである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１０に係る訂正は、上記アに示したとおり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項１０について、訂正後の請求項１～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、独立特許要件が課されることになる。 ここで、上記ア（エ）の（エ－２）～（エ－３）で検討したように、本件特許の明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項１に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものであり、訂正後の請求項１に係る発明及びこれを間接的に引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものであるから、訂正後の請求項１を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものである。 サ　訂正事項１１について （ア）訂正の目的について 訂正事項１１に係る訂正は、明細書の段落【０２０６】において、「実施例１９において、特定有機成分１（１－（５－メチルウレイドフェニル）－５－メルカプトテトラゾール）に換えて、」と記載されているのを、「実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ６を用い、特定有機成分１（１－（５－メチルウレイドフェニル）－５－メルカプトテトラゾール）に換えて、」に訂正し、段落【０２１８】の表４中、実施例３３、３４及び３５のそれぞれにおいて、「Ｂ３」と記載されている箇所を「Ｂ６」に訂正するものであり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１１に係る訂正は、特許請求の範囲に記載された事項の解釈に影響を与えるものではなく、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 上記ケ（ウ）で説明したとおり、表４の「塗布液Ｎｏ．」は「分散液Ｎｏ．」の誤記と認められるから、表４には、実施例３３～３５において分散液Ｂ３を用いること、及び、当該実施例３３～３５の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は３０ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであることが示されているといえる。 一方、表４によると、分散液Ｂ３を用いた実施例２１の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］は１５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであり、分散液Ｂ６を用いた実施例２４の「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」はＮａＳＯ３であり、「還元電位［Ｖ］」は０．１１Ｖであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は３０ｍｍｏｌ／Ｌであり、「端面吸着剤」の「種類」はＣＴＡＣであり、「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は０．４６ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は４．５ｍｍｏｌ／Ｌであり、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」は２．８８ｍｍｏｌ／Ｌであることから、実施例３３～３５で用いるのは分散液Ｂ３ではなく、「使用した粒子分散液」中の「錯化剤」の「種類」、「還元電位［Ｖ］」及び「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「端面吸着剤」の「種類」及び「添加量［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「Ａｇ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」、「Ａｕ濃度［ｍｍｏｌ／Ｌ］」の全てが同じである分散液Ｂ６であるといえ、実施例１９において、「分散液Ｂ１に換えて分散液Ｂ６を用い」ていることも明らかである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１１に係る訂正は、上記アに示したとおり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項１１について、訂正後の請求項１～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、独立特許要件が課されることになる。 ここで、上記ア（エ）の（エ－２）～（エ－３）で検討したように、本件特許の明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項１に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものであり、訂正後の請求項１に係る発明及びこれを間接的に引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものであるから、訂正後の請求項１を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものである。 シ　訂正事項１２について （ア）訂正の目的について 訂正事項１２に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２１０】及び【０２１５】の記載から、表４中から削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に関する塗布膜に関する部分を削除して、表４と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１２に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２１０】及び【０２１５】の記載から、表４中から削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項１２に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２１０】及び【０２１５】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９及び比較例１１に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１２に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項１２について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 ス　訂正事項１３について （ア）訂正の目的について 訂正事項１３に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２２１】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９に関する塗布膜に関する部分を削除して、表４と当該段落の記載との整合を図るための訂正であるから、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１３に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２２１】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９に対応する事項を削除するものであり、請求項に記載された事項の解釈に影響を与えるものではないから、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正事項１３に係る訂正は、上記訂正事項７に係る訂正に伴い、明細書の段落【０２２１】の記載から、表４において削除された実施例２５～実施例２９に対応する事項を削除するものであり、当該削除により新たな技術事項が明細書中に導入されるものではないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１３に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、明瞭でない記載の釈明を目的とするものに該当するから、訂正事項１３について、訂正後の請求項１～１３に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 セ　訂正事項１４について （ア）訂正の目的について 訂正事項１４に係る訂正は、明細書の段落【０２２５】において、「実施例１６で作製した塗布液Ｂ３を、」と記載されるのを、「実施例２１で作製した塗布液Ｂ３を、」に訂正するものであり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当する。 （イ）訂正が、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないかについて 訂正事項１４に係る訂正は、特許請求の範囲に記載された事項の解釈に影響を与えるものではなく、実質上、特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかである。 （ウ）訂正が願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものであるかについて 訂正前の本件特許の明細書には、以下のように記載されている（なお、「…」は記載の省略を表し、下線は当審が付したものである。）。 「【０１８１】 ［実施例１６］ 実施例４において、銀平板状粒子分散液ａの調製においてメチルヒドロキノン水溶液を添加する前に、反応容器中の液から３３．１Ｌを抜き取ったこと以外は、実施例４と同様にして分散液Ｂ１６を得た。」 「【０２０４】 ［実施例２０～３１、３６～３８、比較例７～１２］ 実施例１９において、分散液Ｂ１に換えて、分散液Ｂ２～Ｂ１４、Ｂ１７～１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６のいずれかの分散液を用いた以外は、実施例１９と同様にして、塗布液Ｂ２～Ｂ１３、１４～１６及び塗布液Ｃ１～Ｃ６を調製した。 次いで、得られた各塗布液を用いて、実施例１９と同様にして塗布膜Ｂ１～Ｂ１３、１８～２０及び塗布膜Ｃ１～Ｃ６を形成した。」 「【０２２２】 ［３－１]　反射防止フィルム（反射防止光学部材）の作製 [実施例３９] 実施例２１で作製した塗布液Ｂ３を用いて、以下のとおり反射防止フィルム（反射防止光学部材）を作製した。本実施例で作製した反射防止フィルムは、透明基材／ハードコート層／高屈折率層／金属微粒子含有層（特定平版状粒子を含有する層）／低屈折率層（本開示における誘電体層）からなる構成を有する。 … 【０２２３】 １．反射防止フィルムの作製 透明基材である易接着層付ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルム（Ｕ４０３、膜厚７５μｍ、東レ（株）製）の一面上に、下記のハードコート層用塗布液を、ワイヤーバーを用いて、乾燥後の平均厚みが４μｍになるように塗布し、１６５℃で２分間加熱乾燥、固化して、ハードコート層を形成した。 【０２２４】 ハードコート層を形成した上に、下記の高屈折率層用塗布液を、ワイヤーバーを用いて、乾燥後の平均厚みが２３ｎｍになるように塗布し、１３５℃で２分間加熱乾燥、固化して、高屈折率層を形成した。 【０２２５】 高屈折率層を形成した上に、実施例１６で作製した塗布液Ｂ３を、ワイヤーバーを用いて、乾燥後の平均厚みが３０ｎｍになるように塗布した。その後、１３０℃で１分間加熱し、乾燥、固化し、特定平板状粒子を含む金属粒子含有層を形成した。 【０２２６】 形成した金属微粒子含有層の上に、下記の低屈折率層用塗布液を、ワイヤーバーを用いて、乾燥後の平均厚みが７０ｎｍになるように塗布し、６０℃で１分間加熱乾燥し、酸素濃度０．１％以下となるように窒素パージしながら、メタルハライド（Ｍ０４－Ｌ４１）ＵＶランプ（アイグラフィックス製）を用いて、照射量２００ｍＪ／ｃｍ２の紫外線を照射して塗布膜を硬化させ、低屈折率層（誘電体層）を形成した。 【０２２７】 以上の工程により、透明基材／ハードコート層／高屈折率層／金属微粒子含有層／低屈折層（誘電体層）からなる構成を有する反射防止フィルムを得た。」 摘記した段落【０１８１】の記載から、実施例１６で作製したのは分散液Ｂ１６であり、摘記した段落【０２０４】の記載と上記（１０）ウで摘記した【０２１８】の表４から、実施例２１で作製したのは塗布液Ｂ３であることがわかる。 さらに、段落【０２２５】と同様に、実施例３９についての段落【０２２２】の「実施例２１で作製した塗布液Ｂ３を用いて、」の記載からも、段落【０２２５】の「実施例１６で作製した塗布液Ｂ３を、」は「実施例２１で作製した塗布液Ｂ３を、」の誤記であることは明らかである。 （エ）特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて 訂正事項１４に係る訂正は、上記（ア）に示したとおり、誤記又は誤訳の訂正を目的とするものに該当するが、本件は、訂正前の請求項１～５、１１のみに対して特許異議の申立てがされているので、訂正事項１４について、訂正後の請求項１～５、１１に係る発明は特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する特許法第１２６条第７項の独立特許要件は課されない。 一方、特許異議の申立てがされていない請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、訂正後の請求項１を間接的に引用する発明であり、独立特許要件が課されることになる。 ここで、上記ア（エ）の（エ－２）～（エ－３）で検討したように、本件特許の明細書の発明の詳細な説明は、当業者が訂正後の請求項１に係る発明及びこれを引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明を実施することができる程度に、明確かつ十分に記載されたものであり、訂正後の請求項１に係る発明及びこれを間接的に引用する同請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、本件訂正明細書に開示された発明の範囲を超えるものではなく、発明の詳細な説明に記載されたものであるから、訂正後の請求項１を間接的に引用する訂正後の請求項６～１０、１２～１３に係る発明は、特許出願の際に独立して特許を受けることができるものである。 ソ　一群の請求項について 本件訂正前の請求項１～１３について、請求項２～１３は請求項１を直接又は間接的に引用しているものであって、訂正事項１によって記載が訂正される請求項１に連動して訂正されるものであるから、本件訂正前の請求項１～１３は、一群の請求項であるところ、本件訂正請求は、上記一群の請求項についてされたものであるから、特許法第１２０条の５第４項の規定に適合する。 タ　小括 以上のとおりであるから、令和３年２月１２日に特許権者によって請求され、同年５月１４日に補正された本件訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号、第２号、第３号に掲げる事項を目的とするものであり、かつ、同条第９項において準用する同法第１２６条第５項、第６項、第７項の規定に適合するので、訂正後の請求項〔１－１３〕について訂正することを認める。 第３　本件発明 上記第２で検討したとおり、本件訂正は適法になされたものであるから、本件訂正後の請求項１～５、１１に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１」～「本件発明５」、「本件発明１１」といい、総称して「本件発明」という。）は、令和３年５月１４日付け手続補正書に添付された訂正特許請求の範囲の請求項１～５、１１に記載された次の事項により特定されるとおりのものである。なお、第３において、下線は訂正された箇所を表す。 「【請求項１】 銀平板状粒子と金被覆層とを有し、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、金被覆銀平板状粒子。 【請求項２】 主平面における金被覆層の平均厚みが０．７ｎｍ以上１．５ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である、請求項１に記載の金被覆銀平板状粒子。 【請求項３】 アスペクト比が、２～８０である請求項１又は請求項２に記載の金被覆銀平板状粒子。 【請求項４】 請求項１～請求項３のいずれか１項に記載の金被覆銀平板状粒子と分散媒体とを含む金被覆銀平板状粒子分散液。 【請求項５】 銀濃度が２ｍｍｏｌ／Ｌ以上である請求項４に記載の金被覆銀平板状粒子分散液。」 「【請求項１１】 請求項１～請求項３のいずれか１項に記載の金被覆銀平板状粒子を含む塗布膜。」 第４　申立理由の概要 １　申立人は、証拠方法として、インターネットから取得された甲第４～６号証を除き、いずれも本願の優先日前に、日本国内又は外国において頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった、下記甲第１～１４号証を提出して、以下の申立理由１～２により、本件訂正前の請求項１～５、１１に係る特許は取り消されるべきものである旨主張している。 （１）申立理由１（新規性、進歩性） ア　申立理由１－１ 本件訂正前の請求項１、３～５に係る発明は、甲第２号証に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し特許を受けることができないものであるか、同発明に基いて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として不採用）。 イ　申立理由１－２ 本件訂正前の請求項１、３～５に係る発明は、甲第３号証（実施例１）に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し特許を受けることができないものであるか、同発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として不採用）。 ウ　申立理由１－３ 本件訂正前の請求項１、３～５に係る発明は、甲第３号証（実施例１１の金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２）に記載された発明であり、特許法第２９条第１項第３号に該当し特許を受けることができないものであるか、同発明に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として一部採用）。 （２）申立理由２（進歩性） ア　申立理由２－１ 本件訂正前の請求項２、１１に係る発明は、甲第２号証に記載された発明及び甲第３号証～甲第１４号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として不採用）。 イ　申立理由２－２ 本件訂正前の請求項２、１１に係る発明は、甲第３号証（実施例１）に記載された発明及び甲第２号証、甲第４号証～甲第１４号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として不採用）。 ウ　申立理由２－３ 本件訂正前の請求項２、１１に係る発明は、甲第３号証（実施例１１の金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２）に記載された発明及び甲第２号証、甲第４号証～甲第１４号証に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、同発明に係る特許は、取り消されるべきものである（取消理由として一部採用）。 ２　証拠方法 甲第１号証：特許第６６６３０７９号公報（本件特許） 甲第２号証：H.LIU外５名，“Core/Shell Nanostructures: Etching-Free Epitaxial Growth of Gold on Silver Nanostructures for High Chemical Stability and Plasmonic Activity”，Advanced Functional Materials, 2015, Vol. 25, p. 5435-5443 甲第３号証：特許第５９６０３７４号公報 甲第４号証：Wayback Machineによるアーカイブされたウェブサイト「大日本塗料株式会社　ナノ粒子シリーズ」 （https://www.dnt.co.jp/technology/new-business/particle/） 甲第５号証：Ｗｅｂチラシ「マルチカラー金属ナノ粒子　銀ナノプレート」（https://www.dnt.co.jp/technology/new-business/particle/pdf/silver_nanoplates.pdf） 甲第６号証：Ｗｅｂチラシ「マルチカラー金属ナノ粒子　銀ナノプレート」（https://azscience.jp/pdf/news/recommended/product01/SilverNano-plateOrganicSolvent.pdf） 甲第７号証：小林敏勝、「表面プラズモンによる発色と塗料への展開」、日本画像学会誌、２０１１、第５０巻第６号、ｐ．５５６－５６２ 甲第８号証：小林敏勝、「貴金属ナノ粒子の塗料用色材への応用」、表面科学、２００５、Vol. 26、No.2、p.107-111 甲第９号証：特開２０１７－１１９８２７号公報 甲第１０号証：特開２０１１－２５２２１３号公報 甲第１１号証：特開２０１１－２１９８０７号公報 甲第１２号証：特開２０１１－２２１１４９号公報 甲第１３号証：特開２０１１－２５３０９３号公報 甲第１４号証：C.GAO外６名, “Highly Stable Silver Nanoplates for Surface Plasmon Resonance Biosensing”, Angew. Chem. Int. Ed., 2012, Vol.51, p. 5629-5633 なお、上記甲第１号証～甲第１４号証をそれぞれ「甲１」～「甲１４」ということがある。 第５　取消理由の概要 １　甲３を主たる引用文献とする新規性、進歩性について（申立理由１－３の一部を採用） 本件訂正前の請求項１、３～５に係る発明は、甲３に記載された発明であるか、甲３に記載された発明に基いて、当業者が容易に想到できたものである。 ２　甲３を主たる引用文献とする進歩性について（申立理由２－３の一部を採用） 本件訂正前の請求項２に係る発明は、甲３に記載された発明に基いて、当業者が容易に想到できたものである。また、本件訂正前の請求項１１に係る発明は、甲３に記載された発明及び甲６～甲９に記載された事項に基いて、当業者が容易に想到できたものである。 ３　サポート要件について（職権で採用） 本件訂正前の請求項１～５、１１に係る発明は、本件明細書に開示された発明の範囲を超えているので、発明の詳細な説明に記載されたものであるとはいえない。 ４　実施可能要件について（職権で採用） 本件訂正前の明細書の発明の詳細な説明には、本件訂正前の請求項１～５、１１に係る発明について、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえない。 第６　当審の判断 １　取消理由について （１）取消理由１（甲３を主たる引用文献とする新規性、進歩性）、取消理由２（甲３を主たる引用文献とする進歩性）について ア　甲３に記載された事項と発明 甲３には、以下の事項が記載されている（なお、「…」は記載の省略を表し、下線は当審が付したものである。以下同様。）。 「【特許請求の範囲】 【請求項１】 金被覆銀ナノプレートの懸濁液であって、 ０μＭより多く５０μＭ以下の水溶性高分子を含み、 ｐＨが１０以下であることを特徴とする、懸濁液。 【請求項２】 前記金被覆銀ナノプレート上の金の厚みの平均が、１．０ｎｍ以下である、請求項１に記載の懸濁液。…」 「【発明の詳細な説明】 【技術分野】 【０００１】 本発明は、金で被覆された銀ナノプレート（以下、金被覆銀ナノプレートともいう）の懸濁液に関する。 【背景技術】 【０００２】 銀ナノプレートは、光との相互作用（局在表面プラズモン共鳴：ＬＳＰＲ）により光を吸収するため、その懸濁液はナノプレートの形状に応じて色を示すことが知られている。更に、銀ナノプレートの大きさや形状を制御することにより、吸収する光を変化させること、すなわち色を変化させることができることも知られている。 この性質を利用して、銀ナノプレートは、被験物質の検出試薬の標識（例えば、目的タンパク質の検出に用いられる抗体の標識）として用いられている。 一方、銀ナノプレートは酸化により溶解してその形状が変化する。この酸化による銀ナノプレートの形状変化は、意図していた色の変化を引き起こし得る。 そこで、銀ナノプレートを酸化に対して安定化するため、銀ナノプレートの表面を金で被覆することが行われている（特許文献１及び非特許文献１～２）。 また、被験物質に対する特異的結合物質を担持した着色ラテックス粒子の懸濁液を用いた診断薬が知られている。ラテックス粒子径０．０２～２μｍのポリスチレン粒子などが知られており、有機色素によって赤色や青色に着色されている（特許文献２及び特許文献３）。…」 「【発明の概要】 【発明が解決しようとする課題】 【０００５】 金被覆銀ナノプレートを標識として用いる検出技術の分野では、被験物質の検出感度を高めることが望まれている。一方、銀ナノプレートの懸濁液は酸化に弱いため、被験物質の検出のために応用できる用途が限られていた。そして、被験物質に対する特異的結合物質を担持した金被覆銀ナノプレートの懸濁液を安定化するために水溶性高分子を添加することがあるが、これを多量に添加すると、該金被覆銀ナノプレートによる被験物質の検出感度が低下する。したがって、本発明は、金被覆銀ナノプレートの安定な懸濁液であって、種々の被験物質の検出のために応用することができ、種々の検出手段に適合させることができ、かつ被験物質の検出感度の高い懸濁液を提供することを目的としている。 【課題を解決するための手段】 【０００６】 本発明者等は、金被覆銀ナノプレートと検出試薬との複合体の形成条件と得られた複合体を用いて行った被験物質検出の結果について鋭意検討したところ、金被覆銀ナノプレートの懸濁液の物性及び組成を特定のものとすることで、該懸濁液の安定性を保持しつつ、被験物質の検出感度も高めることができることを見出した。また、本発明者等は、金被覆銀ナノプレートが、種々の被験物質に対する特異的結合物質を担持することができること、及び、種々の検出手段に適合し得ることも見出し、本発明を完成した。 【０００７】 すなわち、本発明は、以下に示す懸濁液、該懸濁液を使用して被験物質を検出する方法、及び、該懸濁液を含み該方法に使用するためのキットを提供するものである。 〔１〕金被覆銀ナノプレートの懸濁液であって、 ０～５０μＭの水溶性高分子を含み、 ｐＨが１０以下であることを特徴とする、懸濁液。 〔２〕前記金被覆銀ナノプレート上の金の厚みの平均が、１．０ｎｍ以下である、前記〔１〕に記載の懸濁液。… 【発明の効果】 【０００８】 本発明の金被覆銀ナノプレートの懸濁液は、安定な懸濁液として調製され、種々の被験物質を高い感度で検出するために応用することができ、また、種々の検出手段に応用することができる。したがって、本発明の懸濁液を用いることにより、多様な被験物質の検出において正確な判定が可能となる。 【図面の簡単な説明】 【０００９】… 【図１０】イムノクロマト試験の手順を示す図である。… 【発明を実施するための形態】 【００１０】 以下、本発明を更に詳細に説明する。 本発明の金被覆銀ナノプレート懸濁液は、０～５０μＭの水溶性高分子を含み、ｐＨが１０以下であることを特徴とする。 【００１１】 本発明の金被覆銀ナノプレートとは、銀ナノプレート（コア）の表面に金の被覆（シェル）を有するものをいう。 本発明では、被験物質の検出技術分野で着色標識として用いられている銀ナノプレートを特に制限なく用いることができるが、以下に好ましい態様を詳述する。 銀ナノプレートとは、銀から製造されたナノプレート（板）をいう。 銀ナノプレートの主面の最大長さとなる粒子径（円形の場合は直径に相当し、三角形の場合は最大辺の長さに相当する）は、通常１０～１０００ｎｍであり、１０～１５０ｎｍが好ましい。更に、銀ナノプレートのアスペクト比（粒子径／厚み）は、通常１．５以上であり、可視光領域にＬＳＰＲの吸収波長が発現して多色設計が可能な１．５～１０が好ましい。近赤外光での検出に用いる場合には、ＬＳＰＲが８００～２０００ｎｍで発現するようなアスペクト比（例えば、アスペクト比１１で９００ｎｍ付近にＬＳＰＲが発現）のプレート状銀ナノ粒子を用いればよい。… 【００１２】 銀ナノプレートの厚さは、プラズモン吸収することができるものであれば特に制限されず、一般的には４０ｎｍ以下であり、好ましくは５～２０ｎｍである。 銀ナノプレートの形状は、プラズモン吸収することができるものであれば特に制限されず、意図する色に応じた形状を採用することができる。具体例としては三角形状、五角形状、六角形状等の多角形状や、角がカーブ状となった円形状等の形状があげられる。… 【００１３】 銀ナノプレートの表面を被覆する金の厚さは、銀ナノプレートの発色性能に影響を与えない限り特に制限されないが、厚みの平均が、好ましくは１．０ｎｍ以下、より好ましくは０．７ｎｍ以下である。金の被覆の厚さが１．０ｎｍ以下であると、銀ナノプレートのプラズモン吸収を維持しつつ、銀ナノプレートの酸化を抑制することができる。 金の厚さの下限は、銀ナノプレート表面の金による被覆という目的を達成できるものであれば特に制限されないが、厚みの平均が、好ましくは０．１ｎｍ以上又は０．３ｎｍである。なお、本発明における金の厚みの平均とは、高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法（ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ）を用いて測定された、銀ナノプレート表面の金の厚みより算出すれば良い。具体的には、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ像から任意の粒子１０個について各粒子の任意の部位１０点について、金の厚みを測定した計１００点のデータの内、上下１０％を除いた８０点の平均値を金の厚みの平均とすれば良い。… 【００１４】 また、銀ナノプレートが金で被覆されていることは、金被覆銀ナノプレート懸濁液中の金及び銀濃度を測定することによっても確認できる。具体的には、以下の手順に示すように、懸濁液を遠心分離後、上澄み液を除去し、得られた沈殿物を、除去した上澄み液と同量の超純水で再度懸濁する。そして、その懸濁液に王水を添加後、煮沸して、得られた溶液を、ＩＣＰ発光分析装置を用いて分析する。 １．金被覆銀ナノプレート懸濁液を遠心分離（２５，０００ｒｐｍ、２ ６，０００ｇ）後、上澄み液を除去し、得られた沈殿物を、除去し た上澄み液と同量の超純水で再度懸濁する。 ２．上記工程１で得られた懸濁液に王水を添加後、５分間煮沸して、金 及び銀を王水中へ溶解させる。 ３．上記工程２で得られた溶液を、ＩＣＰ発光分析装置を用いて測定す る。 なお、各金属の濃度は、任意濃度の標準サンプルを上述と同様に測定することで作成した検量線より算出する。 得られた各金属の濃度から、金と銀の比率が明らかとなり、銀ナノプレート表面が金で被覆されていること、そして、その金の厚さを確認することができる。例えば、三角形の銀ナノプレート上の金の厚さは、以下のようにして算出することができる。 １．ＩＣＰ発光分析結果（例） 金濃度：銀濃度＝１：４ ２．銀ナノプレートの体積（形状：正三角形、高さ：３０ｎｍ、厚さ８ｎ ｍの場合） 式：（三角形の面積）×（厚さ） ＝（３０ｎｍ×（３０×２÷√３）ｎｍ÷２）×８ｎｍ ＝４１５７ｎｍ3（＝４１５７×１０-21ｃｍ3） ３．銀の比重 １０．５１ｇ／ｃｍ3 ４．三角形の銀ナノプレートの質量 式：（三角形の銀ナノプレートの体積）×（銀の比重） ＝（４１５７×１０-21ｃｍ3）×１０．５１ｇ／ｃｍ3 ＝４．３７×１０-17ｇ ５．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の質量（Ｘ） １：４＝Ｘ：４．３７×１０-17ｇ Ｘ＝１．０９×１０-17ｇ ６．金の比重 １９．３２ｇ／ｃｍ3 ７．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積 式：（金の質量）÷（金の比重） ＝１．０９×１０-17ｇ ÷ １９．３２ｇ／ｃｍ3 ＝５．６４×１０-19ｃｍ3（＝５６４ｎｍ3） ８．三角形の銀ナノプレートの表面積 式：（三角形の面積）＋（粒子側面の面積） ＝（３０×（６０÷√３）÷２）×２＋（８×（６０÷√３））×３ ＝１８７１ｎｍ2 ９．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の厚さ 式：（三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積） ÷（三角形の銀ナノプレートの表面積） ＝５６４ｎｍ3÷１８７１ｎｍ2 ＝０．３０ｎｍ（＝３．０Å） このように、ＩＣＰ発光分析装置を用いた分析の結果、金濃度と銀濃度の比率が１：４であることがわかった場合には、金被覆処理を施した銀ナノプレート（形状：正三角形、高さ：３０ｎｍ、厚さ８ｎｍの粒子の場合）の表面の金の厚さは、０．３０ｎｍであると計算できる。これは、金原子が一層から二層被覆していることを意味している。」 「【００１６】 本発明の金被覆銀ナノプレートの懸濁液（以下、本発明の懸濁液ともいう）では、固体の金被覆銀ナノプレートが液体の分散媒中に懸濁している。… 【００１７】 本発明の懸濁液の銀含有率は、懸濁液の総質量に対して、好ましくは５０質量％以下、より好ましくは１～０．００００１５質量％、特に好ましくは０．１～０．００００１５質量％である。懸濁液の銀含有率が５０質量％以下であると、分散安定性の向上及び分光特性を利用した生化学試験（例えば、イムノクロマト試験）に用いた時に発色の確認（例えば、イムノクロマト試験の場合、検出ラインの目視確認）が容易なるといった効果が得られる。…」 「【００５５】 試験例１ 実施例及び比較例の各懸濁液を下記手順のイムノクロマト試験に用いて、試験結果を評価した。 （１）イムノクロマト試験に使用する展開液の作製（金被覆銀ナノプレートへの特異的結合物質の担持（検出試薬の標識）） ５ｍＭのＰＢＳ（－）緩衝液中における濃度５０μｇ／ｍＬのＢ型肝炎ウイルス抗原（ＨＢｓ抗原）に対する抗体（品名：Ｇｏａｔ ａｎｔｉ ＨＢｓＡｇ、製造元：Ａｒｉｓｔａ Ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌｓ，Ｉｎｃ．）（イムノクロマト法における検出抗体）の溶液０．２ｍＬと、金被覆銀ナノプレート懸濁液（懸濁液Ａ１、Ｂ１、Ｆ１、Ｇ１、Ｉ１，Ｊ１、Ｋ１、Ｎ１、Ｐ１、Ｄ１、Ｈ１、Ｌ１、又はＴ１）１．８ｍＬを混合し、得られた混合物を室温下で３０分間振とうした。次いで、遠心分離（２５０００ｒｐｍ、４℃、１０分間）を行い、抗体－金被覆銀ナノプレート複合体を沈殿させ、上澄み液１．８５ｍＬを除去した。その後、抗体－金被覆銀ナノプレート複合体を、４．９μＭのＢＳＡを含有する１．８５ｍＬの５ｍＭ ＰＢＳ（－）緩衝液を添加して再分散させ、紫外可視分光光度計 Ａｇｉｌｅｎｔ ８４５３（アジレント・テクノロジー株式会社製）を使用して消光度（Ｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎ）２．０になるように調整し、展開液を作製した。… 【００５７】 （２）イムノクロマト試験 図１０に示す手順により、Ｂ型肝炎ウイルス抗原（ＨＢｓ抗原）を被験物質としたイムノクロマト試験を、抗ＨＢｓ抗原抗体（捕獲抗体）を直線状（図１０の検出ライン）に固定化したイムノクロマト試験紙を用いて行った。 イムノクロマト試験紙はイムノクロマト試験紙の受託作製会社（有限会社バイオデバイステクノロジー）より購入したものを使用した。捕獲抗体を直線状に固定する際、捕獲抗体を５ｍＭ ＰＢＳ（－）緩衝液で濃度１ｇ／ｍＬに調整したものを使用した。 第１展開液（図１０（ａ）で用いる展開液）は、５ｍＭのＰＢＳ（－）緩衝液中におけるＨＢｓ抗原（品名：ＨＢｓＡｇ Ｐｒｏｔｅｉｎ（Ｓｕｂｔｙｐｅ ａｄｒ）、製造元：Ｆｉｔｚｇｅｒａｌｄ Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅｓ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｃ．）の溶液であった。第１展開液として、ＨＢｓ抗原の濃度が０．６０μＭ、０．０６μＭ、０．００６μＭ、０．０００６μＭ又は０Ｍ（ブランク）の溶液を用意した。 第２展開液は５ｍＭのＰＢＳ（－）緩衝液であった。 第３展開液（図１０（ｃ）で用いた展開液）は、上述の展開液Ａ１、Ｂ１、Ｆ１、Ｇ１、Ｉ１，Ｊ１、Ｋ１、Ｎ１、Ｐ１、Ｄ１、Ｈ１、Ｌ１又はＴ１であった。 【００５８】 具体的な試験手順は以下のとおりであった。 イムノクロマト試験紙に、第１展開液１５μＬを展開させた（図１０（ａ））。第１展開液の展開により、ＨＢｓ抗原が試験紙の検出ライン上に固定化された捕獲抗体によって捕獲される（図１０（ｂ））。 次いで、第２展開液３０μＬを展開させて、イムノクロマト試験紙上の余剰抗原の洗浄を行った。 最後に、第３展開液６０μＬを展開させた（図１０（ｃ））。第３展開液の展開により、試験紙の検出ライン上で捕獲されたＨＢｓ抗原へ検出抗体（抗体－金被覆銀ナノプレート複合体）が結合する（図１０（ｄ））。 同一の手順をＨＢｓ濃度の異なる各第１展開液を用いて繰り返した。」 「【００６３】 実施例１１ １．金属微粒子懸濁液の作製 １－１．銀ナノプレートの作製 １－１－１．銀ナノプレートの種粒子の作製 ２．５ｍＭのクエン酸ナトリウム水溶液２０ｍＬに、０．５ｇ／Ｌの分子量７０，０００ポリスチレンスルホン酸水溶液１ｍＬと、１０ｍＭの水素化ホウ素ナトリウム水溶液１．２ｍＬとを添加し、次いで、２０ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら、０．５ｍＭの硝酸銀水溶液５０ｍＬを添加した。得られた溶液をインキュベーター（３０℃）中に６０分間静置し、銀ナノプレートの種粒子の水懸濁液を作製した。 【００６４】 １－１－２．銀ナノプレート懸濁液Ａ２の作製 超純水２００ｍｌに、１０ｍＭのアスコルビン酸水溶液４．５ｍＬを添加し、上述の銀ナノプレートの種粒子の水懸濁液１２ｍｌを添加した。得られた溶液に、０．５ｍＭの硝酸銀水溶液１２０ｍＬを３０ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら添加した。硝酸銀水溶液の添加が終了した４分後に攪拌を停止し、２５ｍＭのクエン酸ナトリウム水溶液２０ｍｌを添加し、得られた溶液を大気雰囲気下のインキュベーター（３０℃）中に１００時間静置し、プレート状銀ナノ粒子の水懸濁液である銀ナノプレート懸濁液Ａ２を調製した。」 「【００６６】 １－１－４．銀ナノプレート懸濁液Ｃ２の作製 上記銀ナノプレートの種粒子の水懸濁液の添加量を１２ｍｌから２ｍｌに変更した以外は、銀ナノプレート懸濁液Ａ２の調製と同様にして、プレート状銀ナノ粒子の水懸濁液である銀ナノプレート懸濁液Ｃ２を調製した。 【００６７】 １－２．金被覆銀ナノプレートの作製 １－２－１．金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２の作製 上記銀ナノプレート懸濁液Ａ２の１２０ｍｌに、０．１２５ｍＭのポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）（分子量：４０，０００）の水溶液９．１ｍｌを添加し、０．５Ｍのアスコルビン酸水溶液１．６ｍｌを添加した後、０．４２ｍＭの塩化金酸水溶液９．６ｍｌを０．５ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら添加した。得られた溶液をインキュベーター（３０℃）中に２４時間静置し、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２を調製した。 【００６８】 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２の主要分散媒は水であった。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２に含まれる金被覆銀ナノプレートを走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）により観察したところ、主面の最大長（粒子径）の平均が１８ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は８ｎｍであった。なお、金被覆銀ナノプレートの主面の最大長（粒子径）の平均は、ＳＥＭ画像（株式会社日立製作所製の走査電子顕微鏡ＳＵ－７０で撮影）中の任意の金被覆銀ナノプレート１００個の最大長（粒子径）を測定した計１００点のデータの内、上下１０％を除いた８０点の平均値を用いた（後述の金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｂ２及びＣも同様）。そして、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２に含まれる金被覆銀ナノプレートにおける金の厚さは、高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法（ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ）によれば、平均０．２５ｎｍであった。なお、金の厚みの平均は、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ像から任意の金被覆銀ナノプレート粒子１０個について、各粒子の任意の部位１０点について、金の厚みを測定した計１００点のデータの内、上下１０％を除いた８０点の平均値を用いた（後述の金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｂ２及びＣも同様）。 また、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２における金の濃度は０．０５６ｍｇ／Ｌ、銀の濃度は０．２２６ｍｇ／Ｌであり、以下の計算方法により算出された金の厚さは０．２１ｎｍであった。 １．ＩＣＰ発光分析結果 金濃度：銀濃度＝０．０５６（ｍｇ／Ｌ）：０．２２６（ｍｇ／Ｌ） ＝１：４．０４ ２．銀ナノプレートの体積（形状：正三角形、粒子径：１８ｎｍ、厚さ８ ｎｍ） 式：（三角形の面積）×（厚さ） ＝（１８ｎｍ×（１８√３／２）ｎｍ÷２）×８ｎｍ ＝１１２２ｎｍ3（＝１１２２×１０-21ｃｍ3） ３．銀の比重 １０．５１ｇ／ｃｍ3 ４．三角形の銀ナノプレートの質量 式：（正三角形の銀ナノプレートの体積）×（銀の比重） ＝（１１２２×１０-21ｃｍ3）×１０．５１ｇ／ｃｍ3 ＝１．１８×１０-17ｇ ５．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の質量（Ｘ） １：４．０４＝Ｘ：１．１８×１０-17ｇ Ｘ＝０．２９×１０-17ｇ ６．金の比重 １９．３２ｇ／ｃｍ3 ７．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積 式：（金の質量） ÷（金の比重） ＝０．２９×１０-17ｇ ÷ １９．３２ｇ／ｃｍ3 ＝１．５１×１０-19ｃｍ3（＝１５１ｎｍ3） ８．三角形の銀ナノプレートの表面積 式：（三角面の面積）＋（粒子側面の面積） ＝（１８ｎｍ×（１８√３／２）ｎｍ ÷２）×２） ＋（８ｎｍ×１８ｎｍ×３） ＝７１３ｎｍ2 ９．三角形の銀ナノプレートに被覆している金の厚さ 式：（正三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積） ÷（正三角形の銀ナノプレートの表面積） ＝１５１ｎｍ3÷７１３ｎｍ2 ＝０．２１ｎｍ なお、金の濃度および銀の濃度は、以下の手順で分析した（後述の金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｂ２及びＣも同様）。 １．０．５ｍＬの金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２を遠心分離（２５， ０００ｒｐｍ、２６，０００ｇ）後、上澄み液を除去し、得られた 沈殿物を、除去した上澄み液と同量の超純水で再度懸濁した。 ２．上記工程１で得られた懸濁液に王水１５ｍＬを添加後、５分間煮沸 して、金及び銀を王水中へ溶解させた。 ３．上記工程２で得られた溶液を、ＩＣＰ発光分析装置（株式会社島津 製作所製、ＩＣＰＳ－７５１０）を用いて測定した。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２におけるポリスチレンスルホン酸の濃度は０．９８ｎＭであった。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２におけるＰＶＰの濃度は８．１μＭであった。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２のｐＨは、室温下（２０℃）で４．０であった。ｐＨ測定は株式会社堀場製作所のｔｗｉｎｐＨメータ Ｂ－２１２（ガラス電極法）を用いた（以下、同様）。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ａ２の銀含有率は、懸濁液の総質量に対して０．００１６質量％であった。」 「【００７１】 １－２－３．金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２の作製 上記銀ナノプレート懸濁液Ｃ２の１２０ｍｌに、０．１２５ｍＭのＰＶＰ（分子量：４０，０００）の水溶液９．１ｍｌを添加し、０．５Ｍのアスコルビン酸水溶液１．６ｍｌを添加した後、０．４２ｍＭの塩化金酸水溶液９．６ｍｌを０．５ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら添加した。得られた溶液をインキュベーター（３０℃）中に２４時間静置し、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２を調製した。 【００７２】 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２の主要分散媒は水であった。 金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２に含まれる金被覆銀ナノプレートをＳＥＭにより観察したところ、主面の最大長（粒子径）の平均が５０ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は１０ｎｍであった。そして、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｂ２（当審注：「Ｃ２」の誤記と認められる）に含まれる金被覆銀ナノプレートにおける金の厚さの平均は、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによれば、０．４５ｎｍであった。 また、金被覆銀ナノプレート懸濁液Ｃ２における金の濃度は０．０４７ｍｇ／Ｌ、銀の濃度は０．１８６ｍｇ／Ｌであり、上述のＩＣＰ発光分析結果に基づいた計算方法により算出された金の厚さは０．４１ｎｍであった。…」 「【図１０】 」 上記請求項１、【００７１】～【００７２】の記載によれば、甲３には、次の金被覆銀ナノプレートが記載されているものと認められる（以下「甲３発明Ｂ」という。）。 「銀ナノプレートとその表面を被覆する金を有する金被覆銀ナノプレートであって、主面の最大長（粒子径）の平均が５０ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は１０ｎｍであり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによる金の厚さの平均は、０．４５ｎｍであり、ＩＣＰ発光分析結果に基づいた計算方法により算出された金の厚さは０．４１ｎｍである、金被覆銀ナノプレート。」 また、上記請求項１、【００１６】、【００７１】～【００７２】の記載によれば、甲３には、次の懸濁液が記載されているものと認められる（以下「甲３発明Ｃ」という）。 「甲３発明Ｂの金被覆銀ナノプレートが分散媒中に懸濁している金被覆銀ナノプレート懸濁液。」 イ　本件発明１と甲３発明Ｂの対比 甲３発明Ｂの「銀ナノプレート」、「銀ナノプレート」の「表面を被覆する金」、「金被覆銀ナノプレート」は、本件発明１の「銀平板状粒子」、「金被覆層」、「金被覆銀平板状粒子」に相当するから、本件発明１と甲３発明Ｂの一致点と相違点は次のとおりとなる。 〈一致点〉 「銀平板状粒子と金被覆層とを有する金被覆銀平板状粒子。」 〈相違点１〉 本件発明１の金被覆銀平板状粒子は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である」のに対し、甲３発明Ｂの金被覆銀ナノプレートは、「主面の最大長（粒子径）の平均が５０ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は１０ｎｍであり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによる金の厚さの平均は、０．４５ｎｍであり、ＩＣＰ発光分析結果に基づいた計算方法により算出された金の厚さは０．４１ｎｍである」ものの、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は特定されていない点。 ウ　相違点１についての判断 （ア）一般的に、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭで主平面と端面を有する平板状粒子を観察する際、粒子は端面を底にして垂直に立っている状態ではなく主平面を底とした状態になっていることが多いと考えられる。 よって、甲３発明Ｂの金被覆銀ナノプレートのＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ像は、金被覆銀ナノプレートを主平面側から観察したものと認められる。そして、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ（High-angle Annular Dark Field Scanning TEMのこと）は、試料に電子プローブを走査し、試料を透過した電子のうち高角に散乱したものを環状の検出器で検出し、検出した電子強度をプローブ位置の関数として二次元マッピングする方法であるから、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭを用いて測定された金の厚みとは、上記二次元マッピングから読み取れる厚さ、すなわち、金被覆銀ナノプレートの端面における金の厚みを意味していると解される。また、甲３の【００１４】の記載から、ＩＣＰ発光分析を用いて算出された金の厚みは、金被覆銀ナノプレートの主平面と端面の金被覆層の厚みが一律と仮定したときの金の厚みである。 ここで、甲３の【００６８】の「８．」を参考に、甲３発明Ｂの三角形の最大辺の長さに相当する主面の最大長（粒子径）の平均が５０ｎｍで、厚さの平均は１０ｎｍである三角形の銀ナノプレートの主平面の面積、端面の面積、全体の表面積を計算すると、以下のとおりとなる。 ・主平面の面積（上面及び下面の合計面積） ＝（５０ｎｍ×（５０√３／２）ｎｍ ÷２）×２） ＝２１６５ｎｍ2 ・端面の面積（三面の合計面積） ＝（１０ｎｍ×５０ｎｍ×３） ＝１５００ｎｍ2 ・全体の表面積 ＝（主平面の面積）＋（端面の面積） ＝２１６５ｎｍ2＋１５００ｎｍ2 ＝３６６５ｎｍ2 ここで、主平面における金の厚さをＸ（ｎｍ）、端面における金の厚さをＹ（ｎｍ）とすると、三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積は、以下のとおりとなる。 ・三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積 主平面の面積×Ｘ＋端面の面積×Ｙ ＝２１６５ｎｍ2×Ｘｎｍ＋１５００ｎｍ2×Ｙｎｍ　…　（式１） 一方、ＩＣＰ発光分析結果に基づいた計算方法により算出された金の厚さは、０．４１ｎｍであるから、三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積は、以下のとおりとなる。 ・三角形の銀ナノプレートに被覆している金の体積 全体の表面積×金の厚さ ＝３６６５ｎｍ2×０．４１ｎｍ ＝１０５２．６５ｎｍ3　…　（式２） ・上述のとおり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭを用いて測定された金の厚みとは、金被覆銀ナノプレートの端面における金の厚みを意味していると解されるから、Ｙ＝０．４５ｎｍと考えることができる。 （イ）したがって、（式１）＝（式２）の関係にＹ＝０．４５ｎｍを代入するとＸ＝０．１７４ｎｍとなるから、甲３発明Ｂの金被覆銀ナノプレートの形状が全て正三角形であると仮定すると、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」が０．１７４ｎｍであり、かつ「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が約０．３８７（＝０．１７４／０．４５）と算出され、本件発明１の「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」であることと相違するから、上記相違点１は実質的な相違点である。 （ウ）相違点１について、甲３の請求項２には、「前記金被覆銀ナノプレート上の金の厚みの平均が、１．０ｎｍ以下である、請求項１に記載の懸濁液。」と記載があり、当該数値範囲に関して甲３の【００１３】には、「銀ナノプレートの表面を被覆する金の厚さは、銀ナノプレートの発色性能に影響を与えない限り特に制限されないが、厚みの平均が、好ましくは１．０ｎｍ以下、より好ましくは０．７ｎｍ以下である。金の被覆の厚さが１．０ｎｍ以下であると、銀ナノプレートのプラズモン吸収を維持しつつ、銀ナノプレートの酸化を抑制することができる。」と記載されているから、甲３発明Ｂにおいて、銀ナノプレートの酸化を抑制するため、銀ナノプレートの表面に設ける金被覆層の厚さを上限１．０ｎｍとして増やすことは、当業者であれば容易になし得ることである。 （エ）しかしながら、本件発明１は、「金被覆銀平板状粒子」において、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」かつ「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下」とすることによって、「酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液」及び「酸化耐性に優れた塗布膜」を提供することができるという効果を奏するものであり（本件明細書の【０００７】参照のこと。）、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」に着目して、「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲とする技術思想について、甲３に記載されていないし、その他の甲号証にも記載されていない。 （オ）したがって、甲３発明Ｂにおいて、相違点１に係る本件発明１の構成とすること、すなわち、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みを上限１．０ｎｍとすること自体は、上記（ウ）で検討したように、甲３の記載に基いて当業者が容易になし得ることであるといえたとしても、金被覆銀平板状粒子の酸化耐性を向上させるために、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」に着目して、「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲とすることは、甲３やその他の甲号証にも記載されていないから、本件発明１は、甲３発明Ｂと同一ではなく、また、甲３発明Ｂとその他の甲号証に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （カ）なお、申立人は、令和３年７月１日付けの意見書１６頁～２４頁の「第４　無効理由３について」において、本件発明１の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は、酸化耐性にどのような影響を与えるか不明なパラメータであるから、これを所定の数値範囲に限定することに臨界的異議はなく、これをどのような値とするかは設計事項にすぎない、と主張している。 しかしながら、本件発明１の「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」と共に所定の数値範囲に限定することで、酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液を提供できることができるものである。そして、上記（オ）で検討したように、主平面と端面の金被覆層の厚みの比に着目し、所定の数値範囲に限定することは、単なる設計事項ということはできないので、上記主張は採用できない。 エ　本件発明２～３、１１について 本件発明２～３、１１は、本件発明１を引用することにより本件発明１の特定事項を備えているので、上記イ～ウの検討と同様に、甲３発明Ｂとは、少なくとも相違点１において相違している。したがって、本件発明２～３、１１は、甲３発明Ｂと同一ではない。 また、本件発明２～３、１１は、本件発明１と同様に、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」を「０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」とすることに加えて、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲とすることによって、金被覆銀平板状粒子の酸化耐性を向上させることができるという効果を奏するものであるから、本件発明２～３、１１は、これら各発明における新たな特定事項について検討するまでもなく、また、甲３発明Ｂとその他の甲号証に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 オ　本件発明４と甲３発明Ｃの対比 本件発明４は、「請求項１～請求項３のいずれか１項に記載の金被覆銀平板状粒子と分散媒体とを含む金被覆銀平板状粒子分散液。」というものである。 甲３発明Ｃの「銀ナノプレート」、「銀ナノプレート」を被覆する「金」、「金被覆銀ナノプレート」は、本件発明４が引用する本件発明１の「銀平板状粒子」、「金被覆層」、「金被覆銀平板状粒子」に相当し、甲３発明Ｃの「分散媒」、「金被覆銀ナノプレート懸濁液」は、本件発明４の「分散媒体」、「金被覆銀平板状粒子分散液」に相当するから、本件発明４と甲３発明Ｃの一致点と相違点は次のとおりとなる。 〈一致点〉 「銀平板状粒子と金被覆層とを有する金被覆銀平板状粒子と分散媒体とを含む金被覆銀平板状粒子分散液。」 〈相違点２〉 本件発明４の金被覆銀平板状粒子は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である」のに対し、甲３発明Ｃの金被覆銀ナノプレートは、「主面の最大長（粒子径）の平均が５０ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は１０ｎｍであり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによる金の厚さの平均は、０．４５ｎｍであり、ＩＣＰ発光分析結果に基づいた計算方法により算出された金の厚さは０．４１ｎｍである」ものの、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は特定されていない点。 上記相違点２は、相違点１と実質的に同じ内容であるから、上記ウで検討したのと同様の理由により、相違点２は実質的な相違点であり、また、本件発明４は、相違点２に係る特定事項とすること、すなわち、「金被覆銀平板状粒子」において、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」かつ「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下」とすることによって、「酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液」及び「酸化耐性に優れた塗布膜」を提供することができるという効果を奏するものであるから、本件発明４は、甲３発明Ｃと同一ではなく、また、甲３発明Ｃとその他の甲号証に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 カ　本件発明５について 本件発明５は、本件発明４を引用することにより本件発明４の特定事項を備えているので、上記オの検討と同様に、甲３発明Ｃとは、少なくとも相違点２において相違している。したがって、本件発明５は、甲３発明Ｃと同一ではない。 また、本件発明５は、本件発明４と同様に、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」を「０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下」とすることに加えて、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲として、金被覆銀平板状粒子の酸化耐性を向上させることができるという効果を奏するものであるから、本件発明５は、本件発明５における新たな特定事項について検討するまでもなく、甲３発明Ｃとその他の甲号証に記載された事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （２）取消理由３（サポート要件）について ア　取消理由の概要 訂正前の請求項１に係る発明及びこれを引用する本件訂正前の請求項２～５、１１に係る発明は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるから、その特許は取り消されるべきものである。 イ　取消理由３の詳細 取消理由３の詳細は以下のとおりである。 （ア）本件発明が解決しようとする課題について、本件明細書には次の記載がある。 「【０００２】 可視光に対する反射防止膜、増反射膜、赤外線遮蔽（断熱）膜等の光学部材用途、インク、塗料等の着色剤、被検物質の検出試薬への応用などの種々の目的に応じて、銀、金等の貴金属粒子が用いられている。 また、銀粒子に対しては酸化に対する安定性を向上させるため、粒子表面を金被覆することが行なわれている。 【０００３】 例えば、特開２０１６－１０９５５０号公報には、銀ナノプレートが有する表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）を利用して被検物資の検出試薬の標識などを用途として、銀ナノプレートの表面に金を被覆させた粒子及び水溶性高分子を含み、ｐＨ６以下とした懸濁液が開示される。この懸濁液は、凍結や凍結乾燥に対して安定であるとされている。 特許第５６３６０８号公報（当審注：「特許第５６３６２０８号公報」の誤記と認められる。以下同様。）には、耐光性改良を目的として、銀平板状銀粒子の表面及び表面から２～４原子層まで、銀より貴な金属を１０－３原子％～５原子％含有させる技術が開示されている。 【発明の概要】 【発明が解決しようとする課題】 【０００４】 しかし、本発明者の検討によれば、特開２０１６－１０９５５０号公報に記載される技術では、銀平板状粒子の全面（すなわち、粒子の主平面及び端面の全て）に対して均一かつ十分な金被覆が成しえない場合があること、具体的には金の球状粒子や銀平板状粒子に球状粒子が複数付着した形状の粒子が発生してしまう場合があることが判明した。特に、高濃度な銀平板状粒子の分散液に対して金被覆処理が望まれる場合には、特開２０１６－１０９５５０号公報に記載される技術では、そもそも、高濃度な銀平板状粒子の分散液を作製しようとすると、粒子が凝集し沈降してしまい、高濃度な銀平板状粒子の分散液は作製できず、金被覆処理は行えない。 【０００５】 また、特許第５６３６０８号公報に記載される銀平板状銀粒子に対する金被覆処理は、塩化金酸を用いた銀と金とのガルバニック置換による処理であり、金被覆の際に銀平板状粒子の端部の形状変化を伴うことがあり、所望の粒子形状を保ったまま粒子全面に均一に金被覆がなされない場合がある。このため、粒子全面に対してより均一な金被覆が行える技術が望まれる。 【０００６】 銀平板状粒子における不均一な金被覆は、金被覆に要求される酸化耐性の向上を十分に達成しえない。 【０００７】 本発明の一実施形態が解決しようとする課題は、酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液を提供することである。… また、本発明の他の実施形態が解決しようとする課題は、酸化耐性に優れた塗布膜…を提供することである。」 （イ）上記（ア）の記載によれば、本件発明が解決しようとする課題（以下単に「課題」という。）は、「所望の粒子形状を保ったまま」「銀平板状粒子の全面（すなわち、粒子の主平面及び端面の全て）に対して均一かつ十分な金被覆」を行って、「酸化耐性に優れた金被覆銀平板状粒子及び金被覆銀平板状粒子を含む分散液」及び「酸化耐性に優れた塗布膜」を提供することであると認められる。 （ウ）上記課題に対して、訂正前の請求項１に係る発明では「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が下限値のみで規定されており、上限値が規定されていないため、訂正前の請求項１に係る発明の「金被覆銀平板状粒子」は、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が非常に大きい場合も含み得るものである。 （エ）そして、訂正前の請求項１に係る発明の金被覆銀平板状粒子の「金被覆層」について、訂正前の本件明細書には次の記載がある。 「【００２５】 特定平板状粒子は、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する主平面における金被覆層の厚みの比が０．０２以上である。酸化耐性及び平板状粒子の光学的特性保持の観点からは、特定平板状粒子は、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．７ｎｍ以上１．５ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する主平面における金被覆層の厚みの比が０．０２以上であることが、より好ましい。」 「【００２７】 金被覆層の平均厚みは、粒子断面方向のＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ（High-angle Annular Dark Field Scanning TEM）像を撮影し、その撮影画像中で輝度の高い金被覆層の厚みを、主平面及び端面のそれぞれについて、１粒子中５点をＩｍａｇｅＪ（アメリカ国立衛生研究所（NIH：National Institutes of Health)により提供）などの画像解析ツールによって測定し、計２０個の粒子について得られた主平面及び端面それぞれの厚みを算術平均することで得られる。 【００２８】 粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する主平面における金被覆層の厚みの比は０．０２以上であり、０．１以上が好ましく、０．３以上がより好ましい。上記厚みの比の上限は、特に限定されないが、１０以下であることが好ましい。 金被覆層の厚みの比が０．０２以上であると優れた酸化耐性が発揮される。 【００２９】 上記の厚みの比は、粒子の主平面における金被覆の平均厚み（Ａ）を、粒子の端面における金被覆の平均厚み（Ｂ）で除して算出した値（Ａ／Ｂ）である。」 「【００６０】 本開示の製造方法は、従来は困難であった銀平板状粒子の端面においても均一な金被覆層を形成でき、かつ分散液の生産性も高い。さらに、本開示の製造方法により、銀濃度の高い分散液を製造することができる。」 「【００８２】 ～銀平板状粒子の端面吸着剤～ 本開示の製造方法においては、銀平板状粒子製造工程の後であって、金被覆処理工程の前に、銀平板状粒子製造工程により得た銀平板状粒子分散液に、銀平板状粒子の端面吸着剤を添加することが好ましい。端面吸着剤を用いることにより、後述する金被覆処理工程において、銀平板状粒子の端面における金被覆層の形成を促進しうることから、銀平板状粒子の主平面及び端面の双方に、より均一な金被覆層を形成することができる。 【００８３】 端面吸着剤とは、銀平板状粒子の端面に生じる｛１１１｝面に対して選択的に吸着性することで、端面における金被覆層の形成性向上に寄与する化合物を意味する。より詳細には、本開示における銀平板状粒子は、｛１１１｝面を主平面とし、端面は｛１１１｝面と｛１００｝面との交互層として構成される平板状粒子であることから、端面吸着剤は、銀平板状粒子の端面における｛１１１｝面に対して選択的に吸着性することで、端面における金被覆層の形成性向上に寄与する。 【００８４】 図２に、主平面（｛１１１｝面）及び端面（｛１１１｝面と｛１００｝面との交互層）で構成される銀平板状粒子の概略について、六角形状を有する銀平板状粒子の一例を用いて示す。図２に示すように、本例の六角形状を有する銀平板状粒子は、六角形状の２つの主平面が｛１１１｝面で構成され（すなわち、図中に現れていない側の主平面も｛１１１｝面である。）、２つの主平面間を繋ぐ端面に｛１１１｝面と｛１００｝面とが交互層として現れる構成を有している。なお、図２に示される銀平板状粒子は、本開示における銀平板状粒子の一例であり、本開示における銀平板状粒子は、図２に示される特定の形状に限定されない。なお、銀平板状粒子における結晶面に関しては、文献「Adv.Func.Mater.2008.18. 2005-2016」の記載も参照される。 【００８５】 端面吸着剤としては、例えば、臭化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム（ＣＴＡＢ）、塩化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム（ＣＴＡＣ）、水酸化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム（ＣＴＡＯＨ）、ポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）等が挙げられる。（各化合物名に付随する括弧内は略称である。） これらの端面吸着剤はアミン構造を有しており、このアミン構造を介して銀平板状粒子の端面における｛１１１｝面に端面吸着剤が選択に吸着することで、端面における金被覆層の形成性が向上すると考えている。」 「【００９２】 ～特定錯化剤～ 金被覆処理液は、金イオンとの形成錯体の還元電位が０．５Ｖ以下となる錯化剤（特定錯化剤）を少なくとも１種含む。特定錯化剤としては、金イオンとの形成錯体の還元電位が０．５Ｖ以下となる化合物であれば特に限定されない。特定錯化剤の使用は、金還元の還元電位を下げること、すなわち、金被覆処理において、ゆっくりと金を還元させることができ、均一な金被覆に寄与する。」 「【実施例】 【０１６８】 以下に実施例を挙げて本発明の一実施形態を更に具体的に説明する。本発明の範囲は、以下に示す具体例に限定されるものではない。なお、特に断りの無い限り、「％」及び「部」は質量基準である。 【０１６９】 ［１－１] 金被覆銀平板状粒子（特定平板状粒子）及びこれを含む分散液の作製 ［実施例１］ （１）銀平板状粒子分散液ａの作製 ＮＴＫＲ－４製の反応容器（日本金属工業（株）製）にイオン交換水１３Ｌを計量し、ＳＵＳ３１６Ｌ製のシャフトにＮＴＫＲ－４製のプロペラ４枚及びＮＴＫＲ－４製のパドル４枚を取り付けたアジターを備えるチャンバーを用いて撹拌しながら、１０ｇ／Ｌのクエン酸三ナトリウム（無水物）水溶液１．０Ｌを添加して３５℃に保温した。８．０ｇ／Ｌのポリスチレンスルホン酸水溶液０．６８Ｌを添加し、更に０．０４Ｎの水酸化ナトリウム水溶液を用いて２３ｇ／Ｌに調製した水素化ホウ素ナトリウム水溶液０．０４１Ｌを添加した。０．１０ｇ／Ｌの硝酸銀水溶液１３Ｌを５．０Ｌ／ｍｉｎで添加した。 【０１７０】 反応容器に、１０ｇ／Ｌのクエン酸三ナトリウム（無水物）水溶液１．０Ｌとイオン交換水１１Ｌを添加して、更に８０ｇ／Ｌのヒドロキノンスルホン酸カリウム水溶液０．６８Ｌを添加した。撹拌を８００ｒｐｍ（rotations per minute、以下同じ。）に上げて、０．１０ｇ／Ｌの硝酸銀水溶液８．１Ｌを０．９５Ｌ／ｍｉｎで添加した後、３０℃に降温した。 【０１７１】 さらに反応容器に、４４ｇ／Ｌのメチルヒドロキノン水溶液８．０Ｌを添加し、次いで、後述する４０℃のゼラチン水溶液を全量添加した。撹拌を１２００ｒｐｍに上げて、さらに反応容器に、後述する亜硫酸銀白色沈殿物混合液を全量添加した。 【０１７２】 調製液のｐＨ変化が止まった段階で、さらに反応容器に、１ｍｏｌ／ＬのＮａＯＨ水溶液５．０Ｌを０．３３Ｌ／ｍｉｎで添加した。その後、さらに反応容器に、２．０ｇ／Ｌの１－（メタスルホフェニル）－５－メルカプトテトラゾールナトリウム水溶液（ＮａＯＨとクエン酸（無水物）とを用いてｐＨ＝７．０±１．０に調節して溶解した）０．１８Ｌを添加し、更に７０ｇ／Ｌの１，２－ベンズイソチアゾリン－３－オン（ＮａＯＨで水溶液をアルカリ性に調節して溶解した）０．０７８Ｌを添加した。 このようにして銀平板状粒子分散液ａを調製した。 銀平板状粒子分散液ａが含む銀平板状粒子は、平均厚みが８．３ｎｍ、平均粒子径（平均円相当径）が１２１．２ｎｍの平板状粒子であり、アスペクト比は１４．６であった。測定方法は、既述のとおりである。 【０１７３】 ～ゼラチン水溶液の調製～ ＳＵＳ３１６Ｌ製の溶解タンクにイオン交換水１６．７Ｌを計量した。ＳＵＳ３１６Ｌ製のアジターで低速撹拌を行いながら、脱イオン処理を施したアルカリ処理牛骨ゼラチン（ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）重量平均分子量：２０万）１．４ｋｇを添加した。更に、この溶解タンクに、脱イオン処理、蛋白質分解酵素処理、及び過酸化水素を用いた酸化処理を施したアルカリ処理牛骨ゼラチン（ＧＰＣ重量平均分子量：２．１万）０．９１ｋｇを添加した。その後４０℃に昇温し、ゼラチンの膨潤と溶解を同時に行って完全に溶解させた。 【０１７４】 ～亜硫酸銀白色沈殿物混合液の調製～ ＳＵＳ３１６Ｌ製の溶解タンクにイオン交換水８．２Ｌを計量し、１００ｇ／Ｌの硝酸銀水溶液８．２Ｌを添加した。ＳＵＳ３１６Ｌ製のアジターで高速撹拌を行いながら、この溶解タンクに、１４０ｇ／Ｌの亜硫酸ナトリウム水溶液２．７Ｌを短時間で添加して、亜硫酸銀の白色沈澱物を含む混合液を調製した。この亜硫酸銀白色沈殿物混合液は、使用する直前に調製した。 【０１７５】 （２）端面吸着剤の添加 次いで、上記で得た銀平板状粒子分散液ａ １３０．４ｇに対し、５０ｍＭの塩化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム（ＣＴＡＣ）１３．６ｇを添加し、銀平板状粒子分散液Ａを得た。 【０１７６】 （３）金被覆処理（特定平板状粒子を含む分散液の作製） 水 ２６６．３ｇ、０．５ｍｏｌ／Ｌアスコルビン酸（還元剤） １７７ｇ、及び、下記の金還元液Ｂ１ ６０８ｇを、反応容器に順次添加し、５分間攪拌した後、１ｍｏｌ／Ｌの水酸化ナトリウム水溶液を用いて、ｐＨを１０以上となるように調整して、金被覆処理液Ｂ１を得た。 次いで、この反応容器内の金被覆処理液Ｂ１に、上記で得た銀平板状粒子分散液Ａ（銀濃度：０．５質量％≒４６ｍｍｏｌ／Ｌ）１４４ｇを添加し、６０℃で４時間攪拌した。 以上により、銀平板状粒子を金被覆した特定平板状粒子を含む分散液（分散液ｂ）を得た。 【０１７７】 ～金還元液の調製～ 容器に、水　１８．２ｇ、０．０１２ｍｏｌ／Ｌの塩化金酸４水和物（水溶性金化合物）　３５３．６ｇ、０．２ｍｏｌ／Ｌの水酸化ナトリウム（ｐＨ調整剤）　１５．６ｇ、及び、０．１ｍｏｌ／Ｌのチオ硫酸ナトリウム（錯化剤）　２２０．６ｇを、軽く撹拌しながら順次添加し、金還元液Ｂ１を得た。 【０１７８】 （４）脱塩処理及び再分散処理 上記で得た特定平板状粒子を含む分散液ｂを遠沈管に８００ｇ採取して、１ｍｏｌ／ＬのＮａＯＨおよび０．５ｍｏｌ／Ｌの硫酸のうち少なくとも一方を用いて２５℃でｐＨ＝９．２±０．２に調整した。遠心分離機（日立工機（株）製ｈｉｍａｃＣＲ２２ＧＩＩＩ、アングルローターＲ９Ａ）を用いて、３５℃に設定して９０００ｒｐｍで６０分間の遠心分離操作を行った後、上澄液を７８４ｇ捨てた。沈殿した銀平板状粒子に０．２ｍｍｏｌ／ＬのＮａＯＨ水溶液を加えて合計４００ｇとし、撹拌棒を用いて手撹拌して粗分散液にした。これと同様の操作で２４本分の粗分散液を調製して合計９６００ｇとし、ＳＵＳ３１６Ｌ製のタンクに添加して混合した。更に、このタンクに、界面活性剤であるＰｌｕｒｏｎｉｃ３１Ｒ１（ＢＡＳＦ社製）の１０ｇ／Ｌ溶液（メタノール：イオン交換水＝１：１（体積比）の混合液で希釈）を１０ｍＬ添加した。プライミクス（株）製オートミクサー２０型（撹拌部はホモミクサーＭＡＲＫＩＩ）を用いて、タンク中の粗分散液と界面活性剤の混合物に９０００ｒｐｍで１２０分間のバッチ式分散処理を施した。分散中の液温は５０℃に保った。分散後、２５℃に降温してから、プロファイルＩＩフィルター（日本ポール（株）製、製品型式ＭＣＹ１００１Ｙ０３０Ｈ１３）を用いてシングルパスの濾過を行った。 このようにして、特定平板状粒子を含む分散液ｂに脱塩処理及び再分散処理を施し、特定平板状粒子を含む完成品である分散液Ｂ１を得た。 分散液Ｂ１に含まれる特定平板状粒子は、平均厚みが９．１ｎｍ、平均厚みが（平均円相当径）が１２３．２ｎｍの平板状粒子であり、アスペクト比は１３．５であり、変動係数は１９．６％であった。測定方法は、既述のとおりである。 【０１７９】 ［実施例２～１４、比較例５～６］ 実施例１において、錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀平板状粒子分散液Ａの量、及び塩化金酸４水和物の量を調整して、下記表２に記載の錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀濃度及び金濃度となるようにした以外は、実施例１と同様にして、分散液Ｂ２～Ｂ１４及び分散液Ｃ５～Ｃ６を得た。 【０１８０】 ［実施例１５］ 実施例４において、銀平板状粒子分散液ａの調製において加える亜硫酸銀白色沈殿物混合液の調製の際、１００ｇ／Ｌの硝酸銀水溶液の添加量を２．７Ｌとしたことに加え、錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀平板状粒子分散液Ａの量、及び塩化金酸４水和物の量を調整して、下記表２に記載の錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀濃度及び金濃度となるようにした以外は、実施例４と同様にして分散液Ｂ１５を得た。 【０１８１】 ［実施例１６］ 実施例４において、銀平板状粒子分散液ａの調製においてメチルヒドロキノン水溶液を添加する前に、反応容器中の液から３３．１Ｌを抜き取ったこと以外は、実施例４と同様にして分散液Ｂ１６を得た。 【０１８２】 ［実施例１７］ 実施例４において、金被覆処理液の調製において、水 ２６６．３ｇの代わりに、水１３６．３ｇ、およびｐＨ緩衝材として５質量％のグリシン水溶液を１３０ｇ用いたこと以外は、実施例４と同様にして分散液Ｂ１７を得た。 【０１８３】 ［実施例１８］ 実施例４において、銀平板状粒子分散液と、金被覆処理液を混合する際に、以下のマイクロミキサーを用いたこと以外は、実施例４と同様にして分散液Ｂ１８を得た。 具体的には、銀平板状粒子分散液と、金被覆処理液を、富士テクノ社製プランジャーポンプで、それぞれ８ｍＬ／ｍｉｎ、３２ｍＬ／ｍｉｎで送液し、ＥＹＥＬＡ社製Ｔ字型リアクター（内径０．５ｍｍ）を用いて混合した。各プランジャーポンプとリアクターは、長さ５００ｍｍ、内径２ｍｍのテフロン（登録商標）チューブで連結し、リアクターから受け容器までは長さ２００ｍｍ、内径２ｍｍのテフロン（登録商標）チューブで連結した。また、水浴を用いてリアクターを６０℃に加熱した。回収した液は、６０℃で４時間攪拌した。 【０１８４】 ［比較例１］ 特開２０１６－１０９５５０号公報の段落番号００３２及び００３３に記載の方法に順じ、銀濃度を、銀平板状粒子分散液ａと同じ４６ｍｍｏｌ／Ｌとするために、各材料の添加量を２６０倍とし、銀平板状粒子を作製しようとしたところ、沈殿物が生じ、銀平板粒子が作製できなかった。この結果は、銀濃度が高いため、クエン酸ナトリウムの分散力では、十分に粒子の保護コロイド性が発現しなかったためであると推定した。 このため、比較例１については、金被覆処理も実施できなかった。 【０１８５】 ［比較例２］ 実施例１において調製した銀平板状粒子分散液ａに対して、端面端面吸着剤の添加及び金被覆処理を行なわずに、「（４）脱塩処理及び再分散処理」と同様の処理を行なった以外は、実施例１と同様にして作製した銀平板状粒子の分散液を分散液Ｃ２として用いた。 【０１８６】 ［比較例３］ 実施例１において錯化剤を用いなかった以外は、実施例１と同様にして、金被覆銀平板状粒子分散液である分散液Ｃ３を得た。 【０１８７】 ［比較例４］ 実施例１において、錯化剤をヨウ化カリウムに変更した以外は、実施例１と同様にしてて、金被覆銀平板状粒子分散液である分散液Ｃ４を得た。 【０１８８】 上記にて得た分散液Ｂ１～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ６について、金被覆処理に用いた錯化剤の種類、金との形成錯体の還元電位（Ｖ）、分散液中の量（ｍｍｏｌ／Ｌ）、分散液中の銀濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）、及び、分散液中の金濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）を、表２に示す。なお、比較例３の欄に記載の錯化剤種「－（Ｃｌ）」は、塩化金酸４水和物に由来するリガンドを示している。 【０１８９】 ［１－２] 測定及び評価（Ｉ） （１）金被覆状態の確認 分散液Ｂ１～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６に含まれる金被覆銀平板状粒子について、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡：Ｓ－５２００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて確認した。結果を表２に示す。 【０１９０】 また、図８には、実施例７で得られた金被覆銀平板状粒子における平坦な金被覆層の形成状態を示す。図８は、実施例７で得られた金被覆銀平板状粒子に対するエネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＳ）の測定結果に基づき作製された図である。図８中、（ａ）は銀平板状粒子１０１を単独で示し、（ｂ）は金被覆層１０２を単独で示し、（ｃ）は銀平板状粒子１０１の表面全体に金被覆層１０２が存在する金被覆銀平板状粒子１００を示す。 【０１９１】 金被覆状態の確認結果が「平坦」であった他の金被覆銀平板状粒子についても、実施例７で得られた金被覆銀平板状粒子と同様の金被覆状態であった。 【０１９２】 （２）金被覆層の平均厚み及び厚み比の測定 分散液Ｂ１～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６に含まれる金被覆銀平板状粒子について、主平面の平均厚み（Ａ）及び端面の平均厚み（Ｂ）を測定し、厚み比（Ａ／Ｂ）を算出した。厚みの測定方法の詳細は、以下の通りである。結果を表１（当審注：「表２」の誤記と認められる。）に示す。 【０１９３】 （測定方法） 粒子断面方向のＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ（High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像を撮影し、その撮影画像中で輝度の高い金被覆層の厚みを、主平面及び端面のそれぞれについて、１粒子中５点を画像解析ツールとしてＩｍａｇｅＪを用いて測定し、計２０個の粒子の厚みを算術平均することで、主平面の平均厚み（Ａ）、端面の平均厚み（Ｂ）、及び厚み比Ａ／Ｂをそれぞれ算出した。 【０１９４】 （３）酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）評価 分散液Ｂ１～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６の酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）について、以下の評価方法及び評価基準により評価した。評価レベルＡ又はＢが実用上問題ない酸化耐性であると評価する。結果を表２に示す。 【０１９５】 （評価方法） Ｈ２Ｏ２の含有量が、０質量％の液、及び、３質量％の液を、それぞれ４ｍＬづつ計１９個に小分けし、そこに分散液Ｂ１～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ６の各分散液を、２０μＬづつ添加して、評価用サンプルを調製した。 各評価用サンプルを２ｈｒ経過させた後、各評価用サンプルの液分光吸収を分光機（Ｕ－４０００形分光光度計 日立ハイテクノロジーズ社製）にて測定した。 分散液Ｂ１～Ｂ１３及び分散液Ｃ１～Ｃ６のそれぞれについて、Ｈ２Ｏ２の含有量が０質量％の評価用サンプルと３質量％の評価用サンプルとの吸収ピーク強度 ＡＭ（Ａｂｓ．Ｍａｘ）（０％）及びＡＭ（３％）を求め、その強度比：ＡＭ（３％）／ＡＭ（０％）から、下記評価基準Ａ～Ｅに基づいて、酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）を判定した。 【０１９６】 （評価基準） Ａ：強度比が０．９以上１．０以下 Ｂ：強度比が０．７以上０．９未満 Ｃ：強度比が０．５以上０．７未満 Ｄ：強度比が０．３以上０．５未満 Ｅ：強度比が０以上０．３未満 【０１９７】 ３．粒子生産性の評価 得られた各分散液について、銀濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）を分散液の作製時間（ｈｒ）で割ることにより、粒子の生産性（ｍｍｏｌ／Ｌ・ｈｒ）を求めた。評価基準は以下のとおりである。この評価に優れるほど、短時間に高濃度の金被覆銀平板状粒子を含む分散液が得られ、生産性が高い。 結果を表２に示す。 （評価基準） Ａ：生産性が、２．５ｍｍｏｌ／Ｌ・ｈｒ以上 Ｂ：生産性が、０．５ｍｍｏｌ／Ｌ・ｈｒ以上２．５ｍｍｏｌ／Ｌ・ｈｒ未満 Ｃ：生産性が、０．５ｍｍｏｌ／Ｌ・ｈｒ未満 【０１９８】 【表２】 【０１９９】 表２に示すように、実施例１～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ１８が含む特定平板状粒子は、いずれも、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚み（Ｂ）に対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚み（Ａ）の比（Ａ／Ｂ）が０．０２以上であることが確認された。これらの分散液は、いずれも優れた酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）を示すことが分かる。」 （オ）訂正前の本件明細書の【０１９８】の【表２】には、実施例１～１２、１４～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ１２、Ｂ１４～Ｂ１８が含む金被覆銀平板状粒子は、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みである「主平面厚み（Ａ）」が０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みである「端面厚み（Ｂ）」に対する「主平面厚み（Ａ）」の比である「厚み比［Ａ／Ｂ］」が０．１以上１．６以下であり、該粒子を有する分散液Ｂ１～Ｂ１２、Ｂ１４～Ｂ１８は実用上問題ない酸化耐性（評価レベルＡ、Ｂ）を有することが示されている。 したがって、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が０．１以上１．６以下の場合には、上記イに記載した課題を解決し得ることが確認できる。 （カ）そこで、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が実施例の上記数値範囲０．１以上１．６以下を超える場合でも、上記課題が解決し得るかについて検討する。 金被覆銀平板状粒子の金被覆層において、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が実施例の数値を超えて非常に大きい、仮に１００であるとき、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが、粒子の端面における金被覆層の平均厚みの１００倍になるから、金被覆によって銀平板状粒子の粒子形状は大きく変化する。この場合、金被覆前の銀平板状粒子の粒子形状を保ったまま、銀平板状粒子の全面（粒子の主平面と端面の全て）に対して均一な金被覆がされているといえるのか不明であり、均一な金被覆の結果である酸化耐性も不明である。 なお、訂正前の本件明細書の【００２８】には、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」の上限値について、「特に限定されないが、１０以下であることが好ましい。」との記載があるが、上限値を１０以下に設定する理由は説明されておらず課題との関係は不明である。 したがって、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が実施例の数値範囲０．１以上１．６以下を超える場合には、酸化耐性が優れたものになるということはできない。 （キ）以上の検討から、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が０．１以上１．６以下である実施例の記載に基づいて、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が非常に大きい訂正前の請求項１に係る発明の場合にまで、上記課題を解決し得るということはできない。 よって、訂正前の請求項１に係る発明及びこれを引用する訂正前の請求項２～５、１１に係る発明は、本件明細書に開示された発明の範囲を超えているので、発明の詳細な説明に記載されたものであるとはいえない。 よって、訂正前の請求項１に係る発明及びこれを引用する本件訂正前の請求項２～５、１１に係る発明は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるから、その特許は取り消されるべきものである。 ウ　判断 （ア）本件訂正によって、本件発明１は、金被覆銀平板状粒子の「金被覆層」について、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である」と特定されたことにより、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」の上限値が規定され、「０．２以上１．４以下」とされたため、本件発明１の「金被覆銀平板状粒子」は、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が非常に大きい場合は含まないものとなった。 （イ）そして、本件訂正によって、本件明細書の上記エで摘記した記載のうち、【０１７９】、【０１８８】、【０１８９】、【０１９２】、【０１９４】、【０１９５】、【０１９８】、【０１９９】は、下記のように訂正された。 「【０１７９】 ［実施例２～６、１２～１４、比較例６］ 実施例１において、錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀平板状粒子分散液Ａの量、及び塩化金酸４水和物の量を調整して、下記表２に記載の錯体化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀濃度及び金濃度となるようにした以外は、実施例１と同様にして、分散液Ｂ２～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１４及び分散液Ｃ６を得た。」 「【０１８８】 上記にて得た分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８、及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６について、金被覆処理に用いた錯化剤の種類、金との形成錯体の還元電位（Ｖ）、分散液中の量（ｍｍｏｌ／Ｌ）、分散液中の銀濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）、及び、分散液中の金濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）を、表２に示す。なお、比較例３の欄に記載の錯化剤種「－（Ｃｌ）」は、塩化金酸４水和物に由来するリガンドを示している。 【０１８９】 ［１－２] 測定及び評価（Ｉ） （１）金被覆状態の確認 分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６に含まれる金被覆銀平板状粒子について、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ、超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡：Ｓ－５２００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて確認した。結果を表２に示す。」 「【０１９２】 （２）金被覆層の平均厚み及び厚み比の測定 分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６に含まれる金被覆銀平板状粒子について、主平面の平均厚み（Ａ）及び端面の平均厚み（Ｂ）を測定し、厚み比（Ａ／Ｂ）を算出した。厚みの測定方法の詳細は、以下の通りである。結果を表１（当審注：「表２」の誤記と認められる。）に示す。」 「【０１９４】 （３）酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）評価 分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６の酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）について、以下の評価方法及び評価基準により評価した。評価レベルＡ又はＢが実用上問題ない酸化耐性であると評価する。結果を表２に示す。 【０１９５】 （評価方法） Ｈ２Ｏ２の含有量が、０質量％の液、及び、３質量％の液を、それぞれ４ｍＬづつ計１９個に小分けし、そこに分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６の各分散液を、２０μＬづつ添加して、評価用サンプルを調製した。 各評価用サンプルを２ｈｒ経過させた後、各評価用サンプルの液分光吸収を分光機（Ｕ－４０００形分光光度計 日立ハイテクノロジーズ社製）にて測定した。 分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８及び分散液Ｃ１～Ｃ４、Ｃ６のそれぞれについて、Ｈ２Ｏ２の含有量が０質量％の評価用サンプルと３質量％の評価用サンプルとの吸収ピーク強度 ＡＭ（Ａｂｓ．Ｍａｘ）（０％）及びＡＭ（３％）を求め、その強度比：ＡＭ（３％）／ＡＭ（０％）から、下記評価基準Ａ～Ｅに基づいて、酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）を判定した。」 「【０１９８】 【表２】 【０１９９】 表２に示すように、実施例１～６、１２～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２～Ｂ１８が含む特定平板状粒子は、いずれも、粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚み（Ｂ）に対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚み（Ａ）の比（Ａ／Ｂ）が０．０２以上であることが確認された。これらの分散液は、いずれも優れた酸化耐性（耐Ｈ２Ｏ２性）を示すことが分かる。」 （ウ）訂正後の本件明細書の【０１９８】の【表２】において、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」は「主平面厚み（Ａ）」、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は「厚み比［Ａ／Ｂ］」の欄に示されている。 そして、同【表２】に記載の実施例１～６、１２～１８のうち、実施例１～６、１２、１５～１８で作製した分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２、Ｂ１５～Ｂ１８が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が両方とも本件発明１の数値範囲を満たし、該粒子を有する分散液Ｂ１～Ｂ６、Ｂ１２、Ｂ１５～Ｂ１８は実用上問題ない酸化耐性（評価レベルＡ、Ｂ）を有することが示されている。 （なお、実施例１３～１４については、下記理由により除外した。 ・実施例１３で作製した分散液Ｂ１３が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値が両方とも本件発明１の数値範囲を満たさない。 ・実施例１４で作製した分散液Ｂ１４が含む金被覆銀平板状粒子は、「主平面厚み（Ａ）」の値が本件発明１の数値範囲を満たさない。） ここで、表２の実施例１～６、１２、１５～１８の「主平面厚み（Ａ）」及び「厚み比［Ａ／Ｂ］」の値から、金被覆銀平板状粒子の金被覆層が、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が０．２以上１．４以下の場合には、課題を解決し得ることが確認できる。 （エ）上記（ア）で説明したとおり、本件訂正によって「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」の上限値が規定され、「０．２以上１．４以下」とされたため、本件発明１は、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が上記カに記載の数値範囲である金被覆銀平板状粒子に限定された。 （オ）したがって、本件発明１は、上記課題を解決し得るものであるということができるので、上記アに記載したサポート要件に係る取消理由は解消した。 （３）取消理由４（実施可能要件）について ア　取消理由４の内容は以下のとおりである。 本件訂正前の請求項１に係る発明は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．１ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．０２以上」との発明特定事項を含む金被覆銀平板状粒子である。 本件訂正前の本件明細書の【０１７９】の記載から、実施例２～１４、比較例５～６は、実施例１において、錯化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀平板状粒子分散液Ａの量、及び塩化金酸４水和物の量を調整して、表２に記載の錯化剤の種類及び量、端面吸着剤の量、銀濃度及び金濃度となるようにした以外は、実施例１と同様の方法で、分散液Ｂ２～Ｂ１４及び分散液Ｃ５～Ｃ６を得たものと認められる。 そして、表２より、実施例７～１１、比較例５～６は、錯化剤としてＮａＳＯ３、錯化剤の添加量を１５ｍｍｏｌ／Ｌ、端面吸着剤の種類をＣＴＡＣ、銀濃度を４．５ｍｍｏｌ／Ｌ、金濃度を２．２８ｍｍｏｌ／Ｌとし、端面吸着剤の量のみが異なる作製条件で粒子分散液を製造したものである。なかでも、実施例７と比較例５は、端面吸着剤の量がどちらも０ｍｍｏｌ／Ｌで、表２に記載の粒子分散液の作製条件は完全に同一であるが、実施例７では、本件訂正前の請求項１に係る発明の規定を満たし実用上問題ない酸化耐性の金被覆銀平板状粒子が得られるのに対し、比較例５では、本件訂正前の請求項１に係る発明の規定を満たさず、酸化耐性に問題がある金被覆銀平板状粒子が得られている。また、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１も、粒子分散液の作製条件が完全に同一にもかかわらず、得られた金被覆銀平板状粒子の形状（粒子の主平面における金被覆層の平均厚み、及び、粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比）が異なっている。さらに、本件訂正前の本件明細書の【００８２】～【００８３】において説明される端面吸着剤の添加効果も表２から確認できず、本件明細書の実施例から本件訂正前の請求項１に係る発明の金被覆銀平板状粒子を製造するために必要な条件を把握することができない。 したがって、本件訂正前の本件明細書の発明の詳細な説明には、本件訂正前の請求項１に係る発明について、当業者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえない。 また、上記本件訂正前の請求項１に係る発明を直接又は間接的に引用する本件訂正前の請求項２～５、１１に係る発明についても同様である。 よって、本件訂正前の請求項１に係る発明及びこれを直接又は間接的に引用する本件訂正前の請求項２～５、１１に係る発明は、発明の詳細な説明の記載が特許法第３６条第４項第１号に適合するものではないから、その特許は取り消されるべきものである。 イ　本件訂正によって、本件明細書における実施例及び比較例に関する事項のうち、上記アの取消理由の根拠であった「実施例７～実施例１１」、「比較例５」、「実施例２５～実施例２９」、「比較例１１」に関する事項が削除された。また、特許権者は、令和３年５月１４日に提出した意見書の３頁において、「実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、錯誤により不適切な実験結果が記載されてしまっていたため、分散液の作製条件が同一となっており、これらの実施例及び比較例の存在は、表２の記載が意図する事項（即ち、分散液の種類とそれにより得られる金被覆銀平板状粒子の形状）に齟齬を来し、表２の記載を不明瞭にするものであることから、表２から実施例７～実施例１１及び比較例５に関する事項を削除した。」と記載して、当該削除の合理的理由を説明したため、上記アの取消理由は解消した。 ウ　本件発明の実施可能要件について、申立人は、令和３年７月１日付けの意見書の１３～１６頁において、 （ア）訂正により削除されたとはいえ、実施例７と比較例５、実施例８と実施例１０、実施例９と実施例１１は、それぞれ粒子分散液の作製条件が完全に同一であるにもかかわらず、得られた金被覆銀平板状粒子の形状（粒子の主平面における金被覆層の平均厚み（Ａ)、及び、粒子の端面における金被覆層の平均厚み（Ｂ）（さらには、粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比（Ａ／Ｂ））が異なっているのであるから、本件明細書の実施例、比較例の分散液は、【表２】に記載されていない粒子分散液の作製条件を異ならせて作製されたものであることは明らかであり、本件明細書にその開示がないことに照らせば、実施可能要件違反があるというべきである、 （イ）主平面の金被覆層の厚みを測定する方法について、本件明細書には、 「【０１９３】 （測定方法） 粒子断面方向のＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ（High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像を撮影し、その撮影画像中で輝度の高い金被覆層の厚みを、主平面及び端面のそれぞれについて、１粒子中５点を画像解析ツールとしてＩｍａｇｅＪを用いて測定し、計２０個の粒子の厚みを算術平均することで、主平面の平均厚み（Ａ）、端面の平均厚み（Ｂ）、及び厚み比Ａ／Ｂをそれぞれ算出した。」 として、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ像を用いた測定方法が記載されているものの、本件発明の金被覆銀平板状粒子のようなアスペクト比の高い平板状粒子を自然に端面を底にして垂直に立たせることは困難であるため、主平面の金被覆層の平均厚みを測定することは一般的な技術範囲を超えた「当業者が想定し得ない特別な方法」によってなされたと考えられるから、本件明細書は記載が不足しており、実施可能要件違反があるというべきである、 と主張しているので、これらの主張について検討する。 エ　上記イのとおり、申立人の（ア）の主張の根拠である実施例７～実施例１１及び比較例５は、合理的理由に基づいて本件訂正により削除され、上記第２の３ア（エ－３）において検討したとおり、表２に記載されていない作製条件及び物性値が存在することについて具体的な根拠も申立人により提示されていないから、本件発明において【表２】に記載されていない粒子分散液の作製条件が存在すると認めることはできない。 オ　さらに、本件発明の金被覆銀平板状粒子のようなアスペクト比の高い平板状粒子であっても、端面を底にして垂直に立った状態であり、主平面の金被覆層の厚みが測定できる粒子が全く存在しないとはいえないから、本件明細書の【０１９３】に記載された測定方法に基いて、主平面の金被覆層の平均厚みを算出することは、当業者であれば通常なし得ることと認められるので、申立人の上記ウの主張は採用できない。 （４）小括 したがって、取消理由１～４はすべて解消された。 ２　取消理由として採用しなかった申立理由について 上記「第４　申立理由の概要」に記載した申立理由のうち、取消理由として採用しなかったものは、申立理由１－１（甲２を主たる引用文献とする新規性、進歩性）、申立理由１－２（甲３の実施例１を主たる引用文献とする新規性、進歩性）、申立理由２－１（甲２を主たる引用文献とする進歩性）、申立理由２－２（甲３の実施例１を主たる引用文献とする進歩性）である。 （１）申立理由１－１（甲２を主たる引用文献とする新規性、進歩性）及び申立理由２－１（甲２を主たる引用文献とする進歩性）について ア　甲２に記載された事項と発明 甲２には、「Core/Shell Nanostructures: Etching-Free Epitaxial Growth of Gold on Silver Nanostructures for High Chemical Stability and Plasmonic Activity（当審訳：高い化学的安定性とプラズモン活性のための、銀ナノ構造上での金のエッチングなしのエピタキシャル成長）」（論文の名称）に関して、次の記載がある。 「 」（５４３６頁右欄４行～５４３７頁左欄２８行） （当審訳：2. 結果と考察 2.1. Ag@Auコア／シェルナノ結晶のプラズモニック特性の理論的研究 この研究では、Agコアと厚いAuシェルを備えたAg@Auコア／シェルナノ結晶が、対応するAuのプラズモニック特性と 同等であり、ナノ結晶がAgのようなプラズモニック特性を提供するために高い異方性が重要であると推論した。ナノ結晶が、バンド間遷移の領域からスペクトルの長波長ヘシフトした LSPRバンドによるAgのようなプラズモン特性を実現するには、高い異方性が重要である。Ag@Auコア／シェルナノ結晶のプラズモニック特性、特にナノプレートの優れたプラズモニック特性を評価するために、FEMを使用して、理論的観点からナノ結晶の消光効率と局所電場分布をシミュレーションした（図1)。 結果（図lb、d)は、Ag@Auコア／シェルナノプレートのプラズモニック性特が純粋なAuナノプレートのプラズモニック特性と同等であることを最初に確認した。これは、ナノ結晶の消光効率と局所電場増強の両方が非常に近いためである。Ag@Auコア／シェルナノプレートは、誘電体コアの材料が異なるため、純粋なAuに比べてLSPRバンドのレッドシフトを示し、Agコアが全体的なプラズモン特性にわずかに影響を与える可能性があることを示した。したがって、Ag@Auコア／シェルナノプレートは、Auの厚いシェルが表面に成長した場合、純粋なAuナノプレートと同等のプラズモニック特性となる。 Ag@Auコア／シェルナノ結晶の異方性に依存するプラズモニック特性の調査では、Agナノスフィアが等方性形状の典型的なプラズモニックナノ粒子として選択され、波長410nmで強いLSPR バンドを示した（図1a)。しかし、対応するAg@Auコア／シェルのLSPRバンドは、波長 510nmで大幅に減衰した強度を示した。さらに、Ag@Auコア／シェルナノスフィアは、それぞれの共嗚波長において、Agナノスフィアと比較して、近接して電界強度が劇的に低下した（図1c)。したがって、等方性Ag@Auコア／シェルナノ結晶は、LSPRとバンド間遷移のカップリングにより、Agの対応するナノ結晶よりもプラズモン特性がはるかに劣っているといえる。明らかに対照的に、Ag@Auコア／シェルナノプレートは、600nm以上の波長でみられるようなAgナノプレートとほぼ同じ強度のLSPRバンドを示し（図1b)、驚くべきことに異方性Ag@Auナノ構造が事実上AgのLSPRを維持できることを示唆している。Ag@Auコア／シェルナノプレートの近くの電場は、Agナノプレートの電場に比べて弱くなったが、有意ではない（図1d)。したがって、Ag@Auコア／シェルナノ結晶のプラズモニック特性は、形状の異方性に大きく依存し、異方性のAg@Auコア／シェルナノプレートは、顕著なプラズモニック特性と安定性を組み合わせた利点を持っている。） 「 」（５４３６頁） （当審訳：図1. FEMでシミュレーションしたAg@Auコア／シェルナノ構造のプラズモニック特性 a) Agナノスフィアと比較したAg@AuナノスフィアのLSPR消光特性 b) AgおよびAuナノプレートと比較したAg@AuナノプレートのLSPR消光特性。 Ag、Au、およびAg@Auナノ結晶の全体的なサイズは各比較で同じだが、Auシェルの厚さはすべてのAg@Auコア／シェルナノ構造で8nmに固定されていた。挿人図は、Ag@Auコア／シェルナノ構造の形状モデルを概略的に示している。長さの単位：nm。 c) それぞれの共鳴波長で照射されたAgおよびAg@Auナノスフィアの近傍における電界強度の分布。 d) それぞれの共鳴波長で照射されたAg、Ag@Au、およびAuナノプレートの近傍における電界強度の分布。） 「 」（５４３８頁右欄下から２７行～下から７行） （当審訳：Agナノプレート上のAuのエピタキシャル成長の速度が位置選択性を示したことは注目すべきである（図3e)。シェル厚さが増加するAg@Auコア／シェルナノプレートの成長中間体がTEMで観察され、コーナーファセット（角面）よりもAgナノプレートの側面で優先的にAuが成長することが明らかに示された。典型的なエピタキシャル成長後、Au層の厚さは、Agナノプレートの側面で約8nmと測定されたが、角と基部面ではわずか約2nmであった。このように亜硫酸塩は、ナノ結晶の{111}面に限定してキャッピング剤として機能し、Auの成長を抑制しながら、{100}面の大部分を占めるAgナノプレートの側面でのAuの急速な成長を促進する一方で、角および通常は{111}面で構成される基本面でのAuの成長を抑制した。その結果、Ag@Auコア／シェルナノプレートは、切頭三角形のナノプレートとして得られた。Ag@Auコア／シェルナノプレートの他のいくつかの形状はTEMで時折観察でき、これらの角では、Auの大幅な成長が見られる。これは、ナノプレート上でのAuの大幅な成長に加えて、角に{100}面の大きな割合を占めるナノプレートが異なる結晶構造を持つことが原因である可能性が考えられる。） 「 」（５４４１頁右欄下から１１行～５４４２頁左欄１５行） （当審訳：4. 実験セクション 銀ナノプレート（シード）の合成：銀ナノプレートは、マーキンと協働者により報告された手順に微修正を加えたものに従って合成を行った。典型的には、0.2mLの硝酸銀(O.lM)、12mLのクエン酸三ナトリウム(0.75M)及び0.48mLの過酸化水素水(O.lM)を200mLの水に溶解した。次に、1.2mLのNaBH4(0.1M)を激しく撹拌された溶液中に投入する。30分後、得られた液は、さらなる精製を行わずに、銀ナノプレートの貯蔵液として使用される。 金の成長液の調製：4.72mLの水の中に、40μLの塩化金酸(0.25M)、240μLの水酸化ナトリウム(0.2M)、そして、3.00mLの亜硫酸ナトリウム(O.OlM)が順次加えられる。使用前に、溶液は一晩静かに放置する。 切頂三角形状のAg@Auコア／シェルナノプレートの合成：典型的な合成では、銀ナノプレートは、40mLの貯蔵液から遠心分離され、2mLの水の中で再分散される。2.55mLの水、lmLのPVP(5wt%、Mw 40000)、200μLのL-AA(0.5M)、200μLの水酸化ナトリウム(0.5M)、50μLの亜硫酸ナトリウム(O.lM)及び4mLの金の成長液をガラス小瓶で混合することにより溶液が調製され、銀ナノプレートの溶液と混合すると、シードの成長が始まる。そして、30℃で12時間静かな状態で反応が進む。最後に、Ag@Auナノプレートは遠心分離により集められ、水で洗われる。特筆すべきことは、反応時間は、反応温度を60℃に上げることにより、1時間まで大幅に短縮することができ、大量生産のためのAg@Auナノプレートの迅速な合成を促進する。（図S8、サポート情報）) イ　当審の判断 上記アの記載によれば、甲２には、次の金被覆銀ナノプレートが記載されているものと認められる（以下、「甲２発明」という。）。 「AgナノプレートのコアとAu層のシェルを有する、Ag@Auコア／シェルナノプレート。」 本件発明１と甲２発明を対比する。 甲２発明の「Agナノプレートのコア」、「Au層のシェル」、「Ag@Auコア／シェルナノプレート」は、本件発明１の「銀平板状粒子」、「金被覆層」、「金被覆銀平板状粒子」に相当するから、本件発明１と甲２発明は、「銀平板状粒子と金被覆層とを有する金被覆銀平板状粒子。」である点で一致しているが、甲２発明の「Ag@Auコア／シェルナノプレート」は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」が特定されていない点で本件発明１と相違している（以下、「相違点３」という）。 相違点３について検討する。 甲２には、金被覆銀平板状粒子の酸化耐性を向上させるために、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を特定の数値範囲とすることについて、記載も示唆もされていない。特に、上記目的のために、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」に着目して、「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲とすることは、甲２やその他の甲号証にも記載されていないから、甲２発明において、相違点３に係る本件発明１の構成とすることは、動機付けがなく、当業者が容易になし得ることであるとはいえない。 したがって、本件発明１は甲２発明と同一ではないし、甲２発明とその他の甲号証に記載された事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、本件発明１を引用することによって、本件発明１の特定事項を備えている、本件発明２～５、１１についても、同様の理由で、甲２発明と同一ではないし、甲２発明とその他の甲号証に記載された事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 ウ　申立人の主張 申立人は、意見書の２～３頁において、「甲第２号証の図１はシミュレーションの結果ではあるものの、具体的な寸法を有する銀ナノプレートが具体的な厚さを有することが記載されており、しかも、金被覆銀ナノプレートに関して、4. Experimental Sectionでは金被覆の手法が明確に記載されており、2. Result and Discussionでは多くの電子顕微鏡像を列挙し、金被覆銀ナノプレートが調製されたことが記載されている。このことから、シミュレーションの図表は単なる想像のレベルのものではなく、金被覆銀ナノプレートに係る技術思想として具体化されたものであって、本件発明に対する公知発明としての適格を有する」と主張している。 しかしながら、甲２の図１はシミュレーションの結果であって、実際に図１のｂに記載の厚さの金被覆を有する銀ナノプレートが形成されているとはいえない。また、シミュレーションの結果を実際に製造したものと比較してシミュレーションの再現性が検証されているわけでもない。そのため、製造方法が記載されているからといって、図１のｂに記載された金被覆を有する銀ナノプレートを、甲２に記載された発明として認定することはできないから、申立人の主張は採用できない。 （２）申立理由１－２（甲３の実施例１を主たる引用文献とする新規性、進歩性）及び申立理由２－２（甲３の実施例１を主たる引用文献とする進歩性）について ア　甲３に記載された事項と発明 甲３には、上記１（１）アに摘記した記載に加えて、次の記載がある。 「【実施例】 【００３３】 実施例１ （１）銀ナノプレートの種粒子の作製 ２．５ｍＭのクエン酸ナトリウム水溶液２０ｍＬに、０．５ｇ／Ｌの分子量７０，０００ポリスチレンスルホン酸水溶液１ｍＬと、１０ｍＭの水素化ホウ素ナトリウム水溶液１．２ｍＬとを添加し、次いで、２０ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら、０．５ｍＭの硝酸銀水溶液５０ｍＬを添加した。得られた溶液をインキュベーター（３０℃）中で６０分間静置し、銀ナノプレートの種粒子の水懸濁液を作製した。作製した水懸濁液（原液）の光学特性を図３に示す。光学特性の測定は、株式会社島津製作所製の紫外可視近赤外分光光度計ＭＰＣ３１００ＵＶ－３１００ＰＣを用い、光路長：１ｃｍ及び測定波長：１９０－１３００ｎｍの条件下で行われた。最大吸収を示す波長は球状銀ナノ粒子のＬＳＰＲである３９６ｎｍ（消光度３．３）であった。なお、本発明の消光度とは懸濁液を分光光度計で測定した際の吸光度の値である。また、ＳＥＭ観察写真を図４に示す。ＳＥＭ観察写真の解析には株式会社日立製作所製の走査電子顕微鏡ＳＵ－７０を用いた。粒子径は主に３ｎｍ以上、１０ｎｍ未満のプレート状粒子であった。 【００３４】 （２）銀ナノプレートの作製（マゼンタ） 超純水２００ｍＬに、１０ｍＭのアスコルビン酸水溶液４．５ｍＬを添加し、更に（１）で作製した銀ナノプレート種粒子水懸濁液４ｍＬを添加した。得られた溶液に、０．５ｍＭの硝酸銀水溶液１２０ｍＬを３０ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら添加した。硝酸銀水溶液の添加が終了した４分後に攪拌を停止し、２５ｍＭのクエン酸ナトリウム水溶液２０ｍＬを添加し、得られた溶液を大気雰囲気下のインキュベーター（３０℃）中で１００時間静置し、銀ナノプレートの水懸濁液ａを作製した。調製した懸濁液を超純水で４倍容に希釈した水懸濁液の光学特性を図５に示す。最大吸収を示す波長は５２６ｎｍ（消光度１．１）であった。光学特性の測定は、株式会社島津製作所製の紫外可視近赤外分光光度計ＭＰＣ３１００ＵＶ－３１００ＰＣを用い、光路長：１ｃｍ及び測定波長：１９０－１３００ｎｍの条件下で行われた。水懸濁液ａ中の銀ナノプレートをＳＥＭにより観察したところ、銀ナノプレートの平均粒子径は３１ｎｍであり、平均厚さは８ｎｍでアスペクト比は３．８であった。ＳＥＭ観察写真の解析には株式会社日立製作所製の走査電子顕微鏡ＳＵ－７０を用いた。 【００３５】 （３）金被覆銀ナノプレートの作製 （２）で作製した銀ナノプレート水懸濁液１２０ｍＬに、０．１２５ｍＭのポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）（分子量：４０，０００）の水溶液９．１ｍＬを添加し、０．５Ｍのアスコルビン酸水溶液１．６ｍＬを添加した後、０．１４ｍＭの塩化金酸水溶液９．６ｍＬを０．５ｍＬ／ｍｉｎで攪拌しながら添加した。得られた溶液をインキュベーター（３０℃）中に２４時間静置し、銀ナノプレートの表面が金で被覆された金被覆銀ナノプレートの水懸濁液（以下、懸濁液Ａ１）を作製した。 懸濁液Ａ１の主要分散媒は水であった。 懸濁液Ａ１に含まれる金被覆銀ナノプレートは、主面の最大長（粒子径）の平均が３１ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は８ｎｍであった。また、懸濁液Ａ１に含まれる金被覆銀ナノプレートにおける金の厚さの平均は０．３０ｎｍであった。 懸濁液Ａ１におけるポリスチレンスルホン酸（本発明における水溶性高分子に該当）の濃度は０．９８ｎＭであった。 懸濁液Ａ１におけるＰＶＰ（本発明における水溶性高分子に該当）の濃度は８．１μＭであった。なお、金の厚みの平均は、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭ像から任意の金被覆ナノプレート粒子１０個について、各粒子の任意の部位１０点について、金の厚みを測定した計１００点のデータの内、上下１０％を除いた８０点の平均値を用いた…」 上記請求項１、【００３５】の記載によれば、甲３には、次の金被覆銀ナノプレートが記載されているものと認められる（以下「甲３発明Ａ」という。）。 「銀ナノプレートとその表面を被覆する金を有する金被覆銀ナノプレートであって、主面の最大長（粒子径）の平均が３１ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は８ｎｍであり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによる金の厚さの平均は、０．３０ｎｍである、金被覆銀ナノプレート。」 イ　本件発明１と甲３発明Ａの対比 甲３発明Ａの「銀ナノプレート」、「銀ナノプレート」の「表面を被覆する金」、「金被覆銀ナノプレート」は、本件発明１の「銀平板状粒子」、「金被覆層」、「金被覆銀平板状粒子」に相当するから、本件発明１と甲３発明Ａの一致点と相違点は次のとおりとなる。 〈一致点〉 「銀平板状粒子と金被覆層とを有する金被覆銀平板状粒子。」 〈相違点４〉 本件発明１の金被覆銀平板状粒子は、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚みが０．４ｎｍ以上２ｎｍ以下であり、かつ粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比が０．２以上１．４以下である」のに対し、甲３発明Ａの「金被覆銀ナノプレート」は、「主面の最大長（粒子径）の平均が３１ｎｍの三角形状を含む多角形状、円形状であるプレートの混合物であり、厚さの平均は８ｎｍであり、ＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭによる金の厚さの平均は、０．３０ｎｍである」ものの、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は特定されていない点。 ウ　相違点４についての判断 上記１（１）ウ（ア）で検討したとおり、甲３のＨＡＡＤＦ－ＳＴＥＭを用いて測定された金の厚みとは、金被覆銀ナノプレートの端面における金の厚みを意味していると解されるから、甲３発明Ａの「粒子の端面における金被覆層の平均厚み」は０．３０ｎｍといえるものの、甲３発明Ａにおいて、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」や「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」は不明であるから、上記相違点４は実質的な相違点である。 そして、甲３には、金被覆銀平板状粒子の酸化耐性を向上させるために、「粒子の主平面における金被覆層の平均厚み」及び「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」を特定の数値範囲とすることについて、記載も示唆もされていない。特に、上記目的のために、「粒子の端面における金被覆層の平均厚みに対する粒子の主平面における金被覆層の平均厚みの比」に着目して、「０．２以上１．４以下」という特定の数値範囲とすることは、甲３やその他の甲号証にも記載されていないから、甲３発明Ａにおいて、相違点４に係る本件発明１の構成とすることは、動機付けがなく、当業者が容易になし得ることであるとはいえない。 したがって、本件発明１は甲３発明Ａと同一ではないし、甲３発明Ａとその他の甲号証に記載された事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、本件発明１を引用することによって、本件発明１の特定事項を備えている、本件発明２～５、１１についても、同様の理由で、甲３発明Ａと同一ではないし、甲３発明Ａとその他の甲号証に記載された事項に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 ３　意見書の主張について 申立人により提出された令和３年７月１日付けの意見書の主張は、以下のとおり採用できないものである。 （ア）「（１）　申立理由１－１、申立理由１－２について」（２～３頁）の主張については、上記２（１）を参照されたい。 （イ）「第２　訂正について」「１　訂正事項３は、明瞭でない記載の釈明を目的とするものではなく、また、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内のものでもないこと」（４～５頁）の主張については、上記第２の３ウ（オ）を参照されたい。 （ウ）「第２　訂正について」「２　独立特許要件を満たさないこと」（５～１３頁）の主張については、上記第２の３ア（エ－３）を参照されたい。 （エ）「第３　実施可能要件について」（１３～１６頁）の主張については、上記１（３）ウ～オを参照されたい。 （オ）「第４　無効理由３について」（１６～２４頁）の主張については、上記１（１）ウ（カ）を参照されたい。 第７　まとめ 以上のとおりであるから、本件補正による補正及び本件訂正請求による訂正は適法なものである。 そして、特許異議申立書に記載した申立理由、及び取消理由通知書に記載した取消理由によっては、本件訂正後の請求項１～５、１１に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件訂正後の請求項１～５、１１に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。