2015-700323

特許第５７３５７９０号発明「眼科撮影装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

【結　論】 特許第５７３５７９０号の明細書、特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正明細書、特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１～５〕について訂正することを認める。 特許第５７３５７９０号の請求項１ないし５に係る特許を維持する。

【理　由】 第１　手続の経緯 特許第５７３５７９０号の請求項１ないし５に係る特許についての出願は、平成２２年１２月２日に特許出願され、平成２７年４月２４日にその特許権の設定登録がされ、その後、特許異議申立人より特許異議の申立てがされ、平成２８年３月９日付けで取消理由通知がされ、その指定期間内である同年５月１３日に意見書の提出及び訂正の請求があり、その訂正の請求に対して同年７月７日に特許異議申立人から意見書が提出され、さらに、同年８月３０日付けで取消理由通知（決定の予告）がされ、その指定期間内である同年１０月２８日に意見書の提出及び訂正の請求があり、その訂正の請求に対して平成２９年１月１２日に特許異議申立人から意見書が提出され、さらに、同年２月１７日付けで取消理由通知（決定の予告）がされ、その指定期間内である同年４月２０日に意見書の提出及び訂正の請求（以下、当該訂正の請求を「本件訂正請求」といい、本件訂正請求による訂正を「本件訂正」という。）があり、本件訂正請求に対して同年７月３日に特許異議申立人から意見書が提出されたものである。 第２　訂正の適否についての判断 １　訂正の要旨 本件訂正請求は、本件特許の明細書及び特許請求の範囲を、訂正請求書に添付した訂正明細書及び特許請求の範囲について、以下のとおり訂正することを求めるものである。（下線部は、訂正箇所を示す。） （１）本件訂正の内容 ア　訂正事項１ 特許請求の範囲の請求項１に、 「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。」とあるものを、 「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、 前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得されることを特徴とする眼科撮影装置。」と訂正する。 イ　訂正事項２ 特許請求の範囲の請求項２に、 「第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段を備えることを特徴とする請求項１記載の眼科撮影装置。」とあるものを、 「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。」と訂正する。 ウ　訂正事項３ 特許請求の範囲の請求項４に、 「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における被検者眼の視線方向の変化を考慮して前記連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出することを特徴とする請求項１～３記載のいずれかの眼科撮影装置。」とあるものを、 「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出することを特徴とする請求項３記載の眼科撮影装置。」と訂正する。 エ　訂正事項４ 本件特許明細書の段落【０００９】に、 「（１） 被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする。」 とあるものを、 「（１） 被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、 前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得されることを特徴とする眼科撮影装置。 （２） 被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。」 と訂正する。 （２）一群の請求項について ア　特許請求の範囲の請求項１～５は、（特許権の設定登録時の）請求項１と請求項２～５とが、特許法施行規則第４５条の４に規定する関係を有する一群の請求項であるから、訂正事項１～３に係る本件訂正請求は、請求項１～５からなる一群の請求項ごとに特許請求の範囲の訂正を請求するものである。 イ　訂正事項４は、本件特許明細書の段落【０００９】の記載を、本件訂正後の請求項１及び２に対応させる訂正をするものであって、請求項１及び２、並びに請求項１又は２を直接又は間接的に引用する請求項３～５に関係するものであるから、訂正事項４に係る本件訂正請求は、請求項１～５からなる一群の請求項の全てについて行うものである。 ２　訂正の目的の適否、新規事項の有無及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否 （１）訂正事項１について ア　訂正の目的の適否 訂正事項１は、「検出手段」を、「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 また、訂正事項１は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。 また、訂正事項１は、請求項１に、「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」という新たな構成を直列的に付加したものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 また、訂正事項１は、請求項１に、「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」という新たな構成を直列的に付加したものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 よって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものである。 イ　新規事項の有無 訂正事項１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する」ことは、本件特許明細書の段落【００３２】、【００３５】、【００３６】、【００５１】、【００６８】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 また、訂正事項１の「前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ことは、本件特許明細書の段落【００３７】、【００４１】、【００５３】、【００５５】、【００５８】、【００６２】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 また、訂正事項１の「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」は、本件特許明細書の段落【００３８】、【００４１】、【００５１】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 また、訂正事項１の「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」ことは、本件特許明細書の段落【００６７】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 よって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 さらに、訂正事項１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。 （２）訂正事項２について ア　訂正の目的の適否 訂正事項２は、請求項２を、請求項１を引用する引用請求項形式から、独立請求項形式に改めるものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第４号に掲げる「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」に該当する。 また、訂正事項２は、「検出手段」を、「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 また、訂正事項２は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。 また、訂正事項２は、「照射位置補正手段」を、「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 よって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号、第２号及び第４号に掲げる事項を目的とするものである。 イ　新規事項の有無 訂正事項２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する」ことは、本件特許明細書の段落【００３２】、【００３５】、【００３６】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 また、訂正事項２の「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ことは、本件特許明細書の段落【００３７】、【００４１】、【００５３】、【００５５】、【００５８】、【００６２】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 また、訂正事項２の「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」は、本件特許明細書の段落【００３８】、【００４１】、【００５１】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 よって、訂正事項２は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 さらに、訂正事項２は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。 （３）訂正事項３について ア　訂正の目的の適否 訂正事項３は、多数項（請求項１～３）を引用している請求項４の引用請求項を１項（請求項３）に減少するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 また、訂正事項３は、「前記検出手段」を、「第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」ものに更に限定するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」に該当する。 また、訂正事項３は、「前記被験者眼の概略画像」を「前記被検者眼の概略画像」とする明らかな誤記を訂正するものを含み、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第２号に掲げる「誤記の訂正」に該当する。 よって、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号及び第２号に掲げる事項を目的とするものである。 イ　新規事項の有無 訂正事項３の「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出すること」は、本件特許明細書の段落【００４６】、【００４７】、【００６４】等の記載に基づいて導き出せる構成である。 よって、訂正事項３は、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 さらに、訂正事項３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。 （４）訂正事項４について ア　訂正の目的の適否 訂正事項４は、訂正事項１及び２に伴って、本件特許明細書の記載を特許請求の範囲の請求項１及び２に整合させるものであるから、その訂正の目的は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる「明瞭でない記載の釈明」に該当する。 よって、訂正事項４は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第３号に掲げる事項を目的とするものである。 イ　新規事項の有無 訂正事項４は、上記「（１）イ」及び「（２）イ」で述べたとおり、本件特許明細書の記載に基づいて導き出せる構成であるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否 訂正事項４は、上記「（１）ウ」及び「（２）ウ」で述べたとおり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでないことは明らかであるから、特許法第１２０条の５第９項で準用する同法第１２６条第６項の規定に適合する。 ３　本件訂正の適否についての判断のまとめ 以上のとおりであるから、本件訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書き第１号～４号に掲げる事項を目的とするものに該当し、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項及び第６項までの規定に適合するので、本件訂正後の請求項〔１～５〕について訂正を認める。 第３　取消理由通知に記載した取消理由について １　取消理由の概要 甲第１号証：特開２０１０－２６４２２５号公報（以下、「甲１」という。） 甲第２号証：特開２０１０－１２１０９号公報（以下、「甲２」という。） １－１　平成２８年３月９日付け取消理由の概要 （１）取消理由１ 本件発明（特許権の設定登録時の特許請求の範囲の請求項に係る発明）１、２及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。 （２）取消理由２ 本件発明３は、甲１発明及び周知の技術（例えば、甲２）に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。 （３）取消理由３ 本件特許明細書の発明の詳細な説明（段落【０００６】、【０００７】、【００１１】～【００７３】）には、第１撮像領域及び第２撮像領域を、前記各撮像領域にて取得する断層画像の各々からパノラマ断層画像を得ることを目的として、眼底Ｅｆ上に隣接させ、前記各撮像領域の一部が互いに重複するように設定し（段落【００３２】、【００６７】などを参照。）、前記第１撮像領域にて取得された第１概略画像と、前記第２撮像領域にて取得された第２概略画像との重複部分を利用したマッチングを行い、そのマッチング結果に基づいて、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と、前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と、の間の連続性に関するずれを検出すること（段落【００４０】、【００４１】、【００６２】などを参照。）が、課題解決手段として記載されているが、本件発明１～３及び５は、上記課題解決手段が反映されていない。 よって、本件発明１～３及び５は、発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて特許を請求するものであり、請求項１ないし３及び５の記載は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。 （４）取消理由４ 本件発明４は、「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における被検者眼の視線方向の変化を考慮して前記連続性に関するずれを、前記被験者眼の概略画像から検出する」ことを特定しているが、ここでの「被検者眼の視線方向の変化を考慮して」という表現が具体性に欠けるため、その結果、本件発明４は、具体的に何を特定しようとしているのか明確でない。 よって、本件発明４は明確であるとはいえないため、請求項４の記載は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 １－２　平成２８年８月３０日付け取消理由の概要 （１）取消理由１ 本件訂正発明（平成２８年５月１３日付け訂正請求書に添付した特許請求の範囲の請求項に係る発明）１及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。 （２）取消理由２ 本件訂正発明３は、甲１発明及び周知の技術（例えば、甲２）に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。 １－３　平成２９年２月１７日付け取消理由の概要 （１）取消理由１ 本件訂正発明（平成２８年１０月２８日付け訂正請求書に添付した特許請求の範囲の請求項に係る発明）１及び５は甲１発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定する発明に該当し、特許を受けることができないものである。 （２）取消理由２ 本件特許明細書の発明の詳細な説明には、段落【００６８】に、第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる第２の撮像領域での断層画像を取得することが記載されているのみであり、本件訂正発明１は、「第１撮像領域における断層画像」と「第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」との位置関係が、垂直方向（ｙ方向）を除外するものと解することはできない。 よって、本件訂正発明１及び３～５は、発明の詳細な説明に記載した範囲を超えて特許を請求するものであり、請求項１及び３～５の記載は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。 ２　本件訂正発明 本件訂正請求により訂正された訂正請求項１～５に係る発明（以下、それぞれ「本件訂正発明１」～「本件訂正発明５」という。）は、本件訂正後の請求項１～５に記載された事項により特定される次のとおりのものである。 「【請求項１】 被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、 前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得されることを特徴とする眼科撮影装置。 【請求項２】 被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。 【請求項３】 前記眼科撮影装置は、 固視標を有し、複数の方向に被検者眼を誘導可能な固視標投影ユニットを備え、 前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスは、被検者眼眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子により検出して眼底の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスであり、 固視標投影ユニットを制御して各撮像領域に対応する位置に視標を呈示する制御手段と、 各撮像領域にて取得された断層画像のパノラマを得るパノラマ画像作成手段と、 を備えることを特徴とする請求項１～２記載のいずれかの眼科撮影装置。 【請求項４】 前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出することを特徴とする請求項３記載の眼科撮影装置。 【請求項５】 前記検出手段は、 断層撮像位置を含む被検者眼の概略画像を取得するために被検者眼からの反射光を得る光学系と、 第１撮像領域に対応する第１概略画像を基準画像として、第２撮像領域にて取得された第２の概略画像に対して、第１概略画像と第２概略画像との重複部分を利用したマッチングを行い、そのマッチング結果に基づいて前記連続性に関するずれを検出することを特徴とする請求項１～４記載のいずれかの眼科撮影装置。」 ３　甲１に基づく新規性・進歩性についての判断 上記「１－１」の取消理由１及び２、上記「１－２」の取消理由１及び２並びに上記「１－３」の取消理由は、いずれも甲１を主引用例としていることから、本件訂正発明１～５が、甲１発明を出発点として新規性及び進歩性を有するかを検討する。 （１）甲１の記載 本件特許出願の出願前に頒布された刊行物である甲１には、図面とともに、次の事項が記載されている。（下線は、当審において付加したものである。） ア　「【００２１】 ＜第１の実施形態＞ ［構成］ 図１及び図２に示すように、眼底観察装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。 【００２２】 〔眼底カメラユニット〕 図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像である。なお、眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、たとえばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像を取得可能に構成されていてもよい。 【００２３】 眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、被検者の顔が動かないように支えるための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳをＯＣＴユニット１００に導く。 ・・・ 【００２９】 ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することが可能である。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。 ・・・ 【００３６】 ガルバノミラー４４は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳをｘ方向に走査する。ガルバノミラー４３は、信号光ＬＳをｙ方向に走査する。これら二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。 【００３７】 〔ＯＣＴユニット〕 図２に示すＯＣＴユニット１００には、眼底Ｅｆの断層像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、眼底を経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するようになっている。この検出結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。 ・・・ 【００３９】 光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。なお、ファイバカプラ１０３は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を合成する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「ファイバカプラ」と称する。 ・・・ 【００４２】 ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波する。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ１１５により導光されて出射端１１６から出射される。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１７により平行光束とされ、回折格子１１８により分光（スペクトル分解）され、集光レンズ５７（当審注：「５７」は「１１９」の誤記と認める。）により集光されてＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影される。 ・・・ 【００４５】 〔演算制御ユニット〕 演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。 ・・・ 【００４７】 眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行う。」 イ　「【０１１７】 ＜第２の実施形態＞ 第１の実施形態では断層像毎に位置ズレを補正する技術を説明した。前述のように、各走査線は複数の走査点により構成されている。第２の実施形態では、一つ以上の走査点を単位として位置ズレ量を求める技術を説明する。求められた位置ズレ量は、第１の実施形態と同様に位置ズレの補正に用いることもできるし、他の目的に用いることもできる。他の目的の一例として、第２の実施形態では、眼底の同一部位を走査して得られた二以上の画像を重ね合わせて高精度の画像を形成する技術への応用を説明する。 【０１１８】 この実施形態の眼底観察装置は、第１の実施形態と同様の計測を実行して、各走査点において眼底の深度方向に延びる１次元画像を形成する。この１次元画像をＡスキャン像と呼ぶことにする。断層像は、複数の走査点の配列に応じて当該複数のＡスキャン像を配列させることにより形成される。 【０１１９】 更に、この眼底観察装置は、信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で眼底の位置を検出し、検出された眼底の位置の時間変化に基づいて眼底表面方向（ｘｙ方向）における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。 【０１２０】 ここで、Ａスキャン像の位置ズレについて図７を参照しつつ説明する。図７（Ａ）は、複数の走査点Ｒｉｊ（ｉ＝１～ｍ、ｊ＝１～ｎ）の配列の一例を表している。信号光ＬＳは各走査点Ｒｉｊに向けて照射される。しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、図７（Ｂ）に示すように、信号光ＬＳの実際の照射位置Ｔｉｊが本来の走査点Ｒｉｊの位置からずれてしまう。 【０１２１】 そうすると、走査点Ｒｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するべきＡスキャン像の位置がずれてしまう（つまり、実際の照射位置Ｔｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するＡスキャン像が得られてしまう）。これが、Ａスキャン像の位置ズレである。この実施形態では、このようなＡスキャン像の位置ズレの量（位置ズレ量）を求める。 【０１２２】 このとき、各Ａスキャン像の位置ズレ量を求めるようにしてもよいし、連続する所定数のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるようにしてもよい。なお、第１の実施形態は、各走査線Ｒｉ上のｎ個のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるものであり、後者の処理の一例である。 【０１２３】 Ａスキャン像の位置ズレ量はベクトル量である。つまり、この位置ズレ量には、走査点Ｒｉｊに対する実際の照射位置Ｔｉｊの変位方向を表す情報（ズレ方向情報）と変位量を表す情報（ズレ量情報）とが含まれる。 【０１２４】 ［構成］ 上記のような処理を実現するために、この実施形態に係る眼底観察装置は次のような構成を有する。まず、この眼底観察装置は、第１の実施形態と同様のハードウェア構成を有する。つまり、この眼底観察装置は、図１及び図２に示した構成を有する。以下、これら図面を適宜に参照して説明する。 【０１２５】 〔制御系〕 この眼底観察装置の制御系の構成について説明する。この眼底観察装置の制御系は、第１の実施形態のそれ（図３を参照）と一部が共通である。この眼底観察装置の制御系の構成の一例を図８に示す。なお、図８に示す構成要素において、第１の実施形態と共通のものには同じ符号が付してある。 【０１２６】 画像処理部２３０以外の構成は第１の実施形態と同様である。画像処理部２３０には、特徴部位特定部２６１、演算部２６２、走査点特定部２６５及び補正部２６６が設けられている。以下、眼底表面方向における位置ズレ量の演算処理と、眼底Ｅｆの深度方向における位置ズレ量の演算処理とに分けて説明する。 【０１２７】 特徴部位特定部２６１について説明する。この眼底観察装置は、観察光源１１やＣＣＤイメージセンサ３５を用いて眼底Ｅｆの観察画像Ｋ（動画像）を形成する。観察画像Ｋは、所定のフレームレートで眼底Ｅｆを撮影することにより得られる。このフレームレートの逆数は、この発明の「所定の時間間隔」に相当する。 【０１２８】 特に、この眼底観察装置は、信号光ＬＳが走査されているときの眼底Ｅｆを撮影して観察画像Ｋを形成する。観察画像Ｋを形成するための構成（照明光学系１０や撮影光学系３０）は、この発明の「撮影手段」の一例である。 【０１２９】 特徴部位特定部２６１は、観察画像Ｋを形成する各静止画像を解析して、眼底Ｅｆの特徴部位に画像領域を特定する。この処理については第１の実施形態で説明した。特徴部位特定部２６１は、この発明の「画像領域特定手段」の一例である。 【０１３０】 更に、特徴部位特定部２６１は、各静止画像における特徴部位の画像領域の位置を眼底Ｅｆの位置として求める。つまり、各静止画像には２次元座標系が予め定義されており、特徴部位特定部２６１は、この２次元座標系における当該画像領域の座標値を眼底Ｅｆの位置とする。ここで、当該画像領域の座標値としては、たとえば、当該画像領域内の特徴点（中心点、重心点等）の座標値を用いることができる。なお、各静止画像は眼底表面方向（ｘｙ平面方向）に広がる画像であるから、この２次元座標系とｘｙ座標系とは互いに座標変換可能に対応付けられている。特に、この２次元座標系としてｘｙ座標系自体を用いることも可能である。 【０１３１】 このような撮影手段及び画像領域特定手段は、この発明の「検出手段」の一例を構成する。 【０１３２】 次に、演算部２６２について説明する。演算部２６２は、特徴部位特定部２６１により求められた眼底Ｅｆの位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。演算部２６２は、補正部２６６とともに、この発明の「演算手段」の一例を構成する。上記処理を実行するために、演算部２６２には位置特定部２６３と位置ズレ量算出部２６４が設けられている。 【０１３３】 ここで、眼底Ｅｆの位置検出を行う時間間隔（位置検出間隔）と、信号光ＬＳの走査時間間隔との関係について説明する。走査時間間隔とは、一の走査点Ｒｉｊに信号光ＬＳが照射されてからその次の走査点Ｒｉ（ｊ＋１）に信号光ＬＳが照射されるまでの時間間隔を意味する。 【０１３４】 なお、一の走査線Ｒｉの最後の走査点Ｒｉｎに信号光ＬＳが照射されてから、次の走査線Ｒ（ｉ＋１）の最初の走査点Ｒ（ｉ＋１）１に信号光ＬＳが照射されるまでの時間間隔（走査線替え時間間隔）は、上記走査時間間隔と等しくてもよいし異なってもよい。異なる場合、走査線替え時間間隔に合わせて位置検出間隔を制御してもよい。また、位置検出間隔を制御する代わりに、走査線替え時間間隔を走査時間間隔の整数倍の値にすればよい。 【０１３５】 この実施形態では、位置検出間隔は、走査時間間隔の整数（Ｑ≧１）倍に設定される。つまり、この眼底観察装置は、複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ個の走査点を走査する度毎に眼底Ｅｆの位置を検出する。 【０１３６】 具体例として、Ｑ＝１の場合、この眼底観察装置は、各走査点Ｒｉｊに信号光ＬＳが照射される度に眼底Ｅｆの位置を検出する。また、Ｑ＝２の場合、この眼底観察装置は、２個の走査点が走査される度に（つまり走査点１つおきに）眼底Ｅｆの位置を検出する。また、Ｑ＝ｎ（一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）の場合が第１の実施形態に相当する。 【０１３７】 一般に、この眼底観察装置は、走査点Ｑ個おきに眼底Ｅｆの位置を検出する。このような動作は、ＣＣＤイメージセンサ３５の蓄積時間の制御と、走査駆動部７０の制御とを同期させることにより実現される。 【０１３８】 このような制御が実行されているときに、演算部２６２は、順次に形成される複数のＡスキャン像をＱ個毎のＡスキャン像群に分割する。この「分割」とは、複数のＡスキャン像をＱ個毎に実際に分ける（たとえば各Ａスキャン像群を別々に記憶する）ものであってもよいし、識別情報を付すなどして各Ａスキャン像群を識別可能にするものであってもよい。いずれにしても、以降の処理において個々のＡスキャン像群に対して処理を実行できるものであれば十分である。よって、位置検出間隔と走査時間間隔との比率（Ｑ）を記憶しておき、以降の処理において複数のＡスキャン像をＱ個毎に処理するような場合なども「分割」に包含される。以上の処理により、Ｑ個のＡスキャン像群と、Ｑ個の走査点群と、一つの眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられる。 【０１３９】 位置特定部２６３は、各Ａスキャン像群に対応するＱ個の走査点が走査されていたときの眼底Ｅｆの位置の検出結果に基づいて各１次元画像群の位置を特定する。この処理についてより詳しく説明する。つまり、前述のように、Ａスキャン像群には走査点群と眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられているので、位置特定部２６３は、この対応付けを参照して、各Ａスキャン像群に対応する眼底Ｅｆの位置の検出結果を特定して当該Ａスキャン像群の位置とする。この処理は、図７（Ｂ）に示す実際の照射位置Ｔｉｊを特定することに相当する。」 ウ　「【０１７５】 （変形例２） 上記の実施形態では、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて、既に形成されたＡスキャン像の位置を補正している。一方、この変形例では、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて信号光ＬＳの走査をリアルタイムで制御する発明について説明する。 【０１７６】 信号光ＬＳが走査されているときに、画像処理部２３０は、所定の時間間隔で順次に検出される眼底Ｅｆの位置に基づいて位置ズレ量を順次に算出する。眼底Ｅｆの位置の検出は、上記実施形態と同様にして実行できる。また、各位置ズレ量を算出する処理についても上記実施形態と同様に実行される。 【０１７７】 主制御部２１１は、順次に算出される位置ズレ量に基づいて走査駆動部７０を制御し、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する。主制御部２１１は、この発明の「制御手段」の一例である。 【０１７８】 信号光ＬＳの照射位置の補正処理についてより詳しく説明する。各走査点Ｒｉｊに対するガルバノミラー４３、４４の位置（ミラー位置）は、実行される走査態様に基づいて予め設定されている。主制御部２１１は、走査駆動部７０を制御して、走査点Ｒｉｊの走査順序にしたがって各ミラー位置に順次にガルバノミラー４３、４４を移動させる。 【０１７９】 しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、本来の走査点Ｒｉｊの位置、つまり本来の計測位置から外れた場所に信号光ＬＳが照射されてしまう。上記の実施形態では、このようにして生じた位置ズレを、既に取得されたＡスキャン像の位置を補正することによって修正していた。 【０１８０】 一方、この変形例では、算出された位置ズレ量に応じて信号光ＬＳの照射位置を補正する。つまり、主制御部２１１は、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、走査駆動部７０を制御する。 【０１８１】 この処理を順次に実行することで、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）の動きに信号光ＬＳの照射位置をリアルタイムで追従させることができ、それにより、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅが移動した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能となる。」 （２）甲１に記載された事項の整理、及び甲１発明 ア　上記（１）ウの変形例２は、第１の実施形態と同様なハードウェア構成を有する第２の実施形態（上記（１）イの段落【０１２４】参照。）の変形例（上記（１）ウの段落【０１７５】参照。）であるから、変形例２も、第１の実施形態のハードウェア構成を有していることは明らかである。 イ　第２の実施形態は、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、段落【０１３５】に「この実施形態では、位置検出間隔は、走査時間間隔の整数（Ｑ≧１）倍に設定される。」と記載されているように、Ｑの上限は記載されていない。しかし、第２の実施形態は、第１の実施形態のＱ＝ｎの場合（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）を含むことが示されており、第１の実施形態のＱ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）の場合より、高精度の画像を形成することを目的とするもの（段落【０１１７】、【０１５８】などを参照。）であるから、Ｑの上限は、ｎであることが示唆されているといえる。この点を踏まえると、第２の実施形態は、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個のＡスキャン像群からなる断層像が含まれるといえる。 そして、変形例２は、段落【０１７５】に記載しているとおり、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて、既に形成されたＡスキャン像の位置を補正すること（第２の実施形態）に代えて、こらから形成しようとするＡスキャン像の位置を補正する（信号光ＬＳの走査をリアルタイムで制御する）ものであって、この点のみを変形したものであるから、変形例２においても、「Ａスキャン像の位置ズレ量」の算出単位として、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個のＡスキャン像群からなる断層像を排除するものでないことは明らかである。 ウ　上記イを踏まえると、変形例２の「演算制御ユニット２００」における眼底Ｅｆの位置の検出及び各位置ズレ量を算出する処理について、第２の実施形態の記載（段落【０１２２】、【０１２７】～【０１３６】など）を考慮すると、変形例２の「演算制御ユニット２００」は、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する態様を含むことが理解できる。 エ　上記ア～ウを含めて上記（１）の記載を総合すると、甲１には、 「眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される眼底観察装置１であって、 眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられ、ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することが可能であり、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳをＯＣＴユニット１００に導き、二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳを眼底表面（ｘｙ平面）上の任意の方向に走査することができ、 ＯＣＴユニット１００には、信号光ＬＳが走査されているときに、複数の走査点ＲｉｊのそれぞれにおいてＡスキャン像（眼底の深度方向に延びる１次元画像）を取得するための光学系が設けられ、光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割され、ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波し、これにより生成された干渉光ＬＣは、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影され、 演算制御ユニット２００は、 ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成し、ＬＣＤ３９の動作制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行い、 複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出し、 順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する、 眼底観察装置１。」の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されている。 （３）甲２の記載 本件特許出願の出願前に頒布された刊行物である甲２には、次の事項が記載されている。 「【０００３】 上述した、眼科撮影装置においては、例えば蛍光剤を注入し眼底上の血管に蛍光剤が広がっていく様子を撮影する蛍光撮影や、眼底の中心領域から周辺領域に対して複数の撮影を行い、これを繋げることにより広範囲な眼底領域を撮影するパノラマ撮影等、継続的に眼底を観察、撮影することがある。・・・」 （４）本件訂正発明１について ア　対比 本件訂正発明１と甲１発明を対比する。 （ア）光コヒーレンストモグラフィーデバイス ａ　甲１発明の「眼底Ｅｆ」、「光源ユニット１０１」及び「信号光ＬＳ」は、それぞれ本件訂正発明１の「被検者眼上」、「光源」及び「測定光」に相当する。 上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「光源ユニット１０１から」の「信号光ＬＳを眼底表面（ｘｙ平面）上の任意の方向に走査することができ」る「二つのガルバノミラー４３、４４」が、「Ａスキャン像（眼底の深度方向に延びる１次元画像）を取得する」ための「走査点Ｒｉｊ」位置を変更するものであることから、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」は、本件訂正発明１の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段」に相当する。 ｂ　甲１発明の「信号光ＬＳの眼底反射光」、「参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲ」、「干渉光ＬＣ」、「ＣＣＤイメージセンサ１２０」及び「Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像」は、それぞれ本件訂正発明１の「被検者眼から反射された測定光」、「参照光」、「干渉状態」、「検出器」及び「断層画像」に相当する。 上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波し、これにより生成された干渉光ＬＣは、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影され」る「ＯＣＴユニット１００」は、「Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像」を撮像するものであるから、本件訂正発明１の「被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当する。 ｃ　よって、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」と「ＯＣＴユニット１００」とを併せたものが、本件訂正発明１の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当するといえる。 （イ）検出手段 ａ　甲１発明の「信号光ＬＳ」は、本件訂正発明１の「測定光」に相当する。 上記相当関係を踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射」させる「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点」は、「一の走査線Ｒｉ」であるから、本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャン」に相当するといえる。 ｂ　甲１発明において、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に」、順次「取得」される「断層像」のうち、最初に取得される「断層像」と、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」とは、それぞれ連続する異なる撮像領域（最初の一の走査線と次の一の走査線のそれぞれに連続して異なる撮像領域が存在する。）であると理解できる。 この点を踏まえると、甲１発明の、最初に取得される「断層像」、及び、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」が、それぞれ本件訂正発明１の「第１撮像領域における断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」に相当する。 ｃ　甲１発明の垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、最初に取得される「断層像」を撮像する際に「取得し」た「静止画像」と、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」を撮像する際に「取得し」た「静止画像」とに基づいて、「信号光ＬＳの照射位置」が「補正」されて撮像されるものである。そして、ここでの各「静止画像」は、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」、すなわち各「断層像」の最初の走査点を基準にして取得されたものであるから、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、最初に取得される「断層像」と、始点の水平方向（ｘ方向）位置が同じ位置となることから、始点となる端部同士が連続することになる。 よって、甲１発明の、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」と、本件訂正発明１の「第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像」とは、「第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像」である点で共通する。 ｄ　甲１発明において、「眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」することは、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」ために、既に取得された「断層像」（最初に取得される「断層像」）と、これから取得しようとする「断層像」（垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」）と、の「位置ズレ量」を検出していることに他ならない。 この点を踏まえると、甲１発明の既に取得された「断層像」、及びこれから取得しようとする「断層像」は、それぞれ本件訂正発明１の「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像」、及び「前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像」に相当する。 そして、甲１発明の、ここでの「位置ズレ量」は、連続する「断層像」の間での「位置ズレ量」であるから、本件訂正発明１の「連続性に関するずれ」に相当する。 よって、甲１発明の「断層像単位で位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」は、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」に相当するといえる。 ｅ　甲１発明において、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることは、これから取得しようとする「断層像」（垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」）のときに取得した「静止画像の特徴部位」と、既に取得された「断層像」（最初に取得される「断層像」）のときに取得した「静止画像の特徴部位」との重複部分「の位置」ズレ量を求めていることに他ならない。 そして、ここでの「静止画像」は、「特徴部位の画像領域の位置」が特定される程度にその概略を特定しうる画像であることは明らかであるから、甲１発明の、これから取得しようとする「断層像」のときに取得した「静止画像」、及び既に取得された「断層像」のときに取得した「静止画像」は、それぞれ本件訂正発明１の「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像」及び「先に取得された概略画像」に相当するといえる。 よって、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることは、本件訂正発明１の「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」に相当するといえる。 ｆ　上記ａ～ｅを踏まえると、 甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、 本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」とは、 「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」である点で共通する。 （ウ）照射位置補正手段 甲１発明の「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」「演算制御ユニット２００」は、「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」に「信号光ＬＳの照射位置を補正する」ことが明らかであるから、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」に相当する。 （エ）パノラマ 本件訂正発明１では、「断層画像のパノラマが取得される」ことが特定されており、本件特許明細書の段落【０００６】及び【０００７】によれば、パノラマ断層画像とは、複数の断層画像をスムーズに繋ぎ合わせた画像であると理解できる。 そのような理解に立つと、甲１発明は、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」は、「眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量」が補正されたものであるから、甲１発明は、最初に取得される「断層像」と垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」とに基づいて断層像のパノラマが形成されているといえる。 よって、甲１発明においても、本件訂正発明１の「前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される」ものである。 （オ）眼科撮影装置 甲１発明の「眼底観察装置１」は、本件訂正発明１の「眼科撮影装置」に相当する。 イ　一致点及び相違点 よって、本件訂正発明１と甲１発明とは、 「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて前記被検者眼に対する測定光の相対的な照射位置を少なくとも１回のラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段と、を備え、 前記第１撮像領域における断層画像と前記第２撮像領域における断層画像とに基づいて断層画像のパノラマが取得される、眼科撮影装置。」 の発明である点で一致し、次の点で相違する。 （相違点） 第２撮像領域にて取得しようとする断層画像が、本件訂正発明１では、第１撮像領域における断層画像と端部同士が「横断方向において」連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像である、すなわち、第１のラインスキャンの終点と第２のラインスキャンの始点とが連続するのに対し、甲１発明では、第１撮像領域における断層画像と端部同士が「垂直方向（ｙ方向）において」連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像である、すなわち、第１のラインスキャンの始点と第２のラインスキャンの始点とが連続する点。 ウ　当審の判断 （ア）新規性 上記（相違点）が両発明の間にある以上、本件訂正発明１は、甲１に記載された発明であるとはいえない。 （イ）進歩性 上記相違点について 甲１発明は、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」ものであって、上記「位置ズレ量」算出のための「眼底Ｅｆの各静止画像を取得」する時点は、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎」以外に、甲１には、「Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎」も記載されていることから、甲１の記載を総合すると、甲１から、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記Ｑ個のＡスキャン像群単位での位置ズレ量を順次に算出し、 順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」という技術的事項についても把握できる。 そして、甲１には、「位置ズレ量」算出のための「眼底Ｅｆの各静止画像を取得」する時点が、「Ｑ≧１個の走査点を走査する度毎」の具体的として、Ｑ＝３の場合が以下のように記載されている。 「【０１６５】 この推定処理の具体例について図９を参照しつつ説明する。この具体例ではＱ＝３とする。第１のＡスキャン像群に対応する第１の走査点群Ｕ１には３つの走査点Ｒｉ１～Ｒｉ３が含まれ、第２のＡスキャン像群に対応する第２の走査点群Ｕ２には３つの走査点Ｒｉ４～Ｒｉ６が含まれている。 【０１６６】 各走査点群Ｕ１、Ｕ２において、最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに眼底Ｅｆの位置を検出するものとする。つまり、画像処理部２３０は、各走査点群Ｕ１、Ｕ２における最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに撮影された静止画像（観察画像Ｋのフレーム）に基づいて、各走査点群Ｕ１、Ｕ２に対応する位置ズレ量を求める。」 ここで、上記記載からも理解できるように、甲１の上記技術的事項は、例えば、各走査点群Ｕ１の最初の走査点Ｒｉ１に信号光を既に照射した時点の眼底位置と、各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４に信号光をこれから照射しようとする時点の眼底位置とから位置ズレ量を算出し、本来の各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の位置から前記位置ズレ量を加えた位置に、信号光を照射するものであって、本来の各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の位置から位置ズレ量を加えた位置に、信号光を照射する際、各走査点群Ｕ１の最後の走査点Ｒｉ３を既に照射した時点の眼底位置と、各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４をこれから照射しようする時点の眼底位置とから位置ズレ量を算出するものでないことから、各走査点群Ｕ１の走査中、眼底位置が極端に動いた場合、各走査点群Ｕ１の最後の走査点Ｒｉ３の照射位置と、これから照射しようとする各走査点群Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ４の照射位置との距離が極端に離れてしまうことになる。 してみると、上記甲１には、各走査点群Ｕ１の終点と、各走査点群Ｕ２の始点とが横断方向において連続するように、各走査点群Ｕ２の始点の照射位置を補正することが記載されているとはいえないことから、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項について記載されているとはいえない。 また、甲２及び特許異議申立人が証拠として提出している甲３：特開２００８－２９４６７号公報のいずれの文献にも、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項について記載も示唆もされていない。 よって、甲１発明において、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。 エ　本件訂正発明１のまとめ 以上のとおり、本件訂正発明１は、甲１に記載された発明であるとはいえないから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものとはいえない。 また、本件訂正発明１は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。 （５）本件訂正発明２について ア　対比 本件訂正発明２と甲１発明とを対比する。 （ア）光コヒーレンストモグラフィーデバイス 上記「（４）ア（ア）」での対比を踏まえると、甲１発明の「二つのガルバノミラー４３、４４」と「ＯＣＴユニット１００」とを併せたものが、本件訂正発明２の「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイス」に相当するといえる。 （イ）検出手段 ａ　上記「（４）ア（イ）ａ」での対比を踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射」させる「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点」は、「一の走査線Ｒｉ」であるから、本件訂正発明２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャン」に相当するといえる。 ｂ　上記「（４）ア（イ）ｂ」での対比を踏まえると、甲１発明の、最初に取得される「断層像」、及び、垂直方向（ｙ方向）において次に取得される「断層像」と、本件訂正発明２の「第１撮像領域における３次元断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像」とは、「第１撮像領域における断層画像」、及び、「前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像」である点で共通する。 ｃ　上記「（４）ア（イ）ｄ」での対比を踏まえると、甲１発明の「断層像単位で位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」とは、「前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを」、「検出する検出手段」である点で共通するといえる。 ｄ　上記「（４）ア（イ）ｅ」での対比を踏まえると、甲１発明の「Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化」を求めることと、本件訂正発明２の「前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」とは、「前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出すること」である点で共通する。 ｅ　上記ａ～ｄを踏まえると、甲１発明の「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」する「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」とは、「始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段」である点で共通するといえる。 （ウ）照射位置補正手段 上記「（４）ア（ウ）」での対比を踏まえると、甲１発明の「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」「演算制御ユニット２００」と、本件訂正発明２の「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための照射位置補正手段」とは、「前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段」である点で共通する。 （エ）眼科撮影装置 甲１発明の「眼底観察装置１」は、本件訂正発明２の「眼科撮影装置」に相当する。 イ　一致点及び相違点 よって、本件訂正発明２と甲１発明とは、 「被検者眼上の撮像位置を変更するため、光源から発せられた測定光の被検者眼上での照射位置を変更する照射位置変更手段を有し、被検者眼から反射された測定光と，参照光との干渉状態を検出器により検出して眼の断層画像を撮像する光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、 始点から終点まで測定光を走査させるラインスキャンを行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する検出手段と、 前記第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を補正するための照射位置補正手段と、 を備える、眼科撮影装置。」 の発明である点で一致し、次の２点で相違する。 （相違点１） 検出手段が、本件訂正発明２では、「ラインスキャンを複数回行うことによって取得される第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第１撮像領域におけるラインスキャンとは別の複数回のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得するときに取得される概略画像と先に取得された概略画像との重複部分を利用して位置ずれを検出することによって、前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」もの、すなわち第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出するものであるのに対し、甲１発明では、「複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ＝ｎ（ｎは、一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）個の走査点を走査する度毎に、Ｑ個のＡスキャン像群からなる断層像に対応する眼底Ｅｆの各静止画像を取得し、取得した各静止画像における特徴部位の画像領域の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向（ｘｙ方向）における前記断層像単位での位置ズレ量を順次に算出」するもの、すなわち第１撮像領域にて既に取得された２次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする２次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出するものである点。 （相違点２） 照射位置補正手段が、本件訂正発明２では、「前記第１撮像領域における３次元断層画像の取得後であって、前記第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際、前記検出手段の検出結果に基づいて眼底に対する測定光の相対的な照射位置を複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正するための」もの、すなわち第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で行うものであるのに対し、甲１発明では、「順次に算出される位置ズレ量に基づいて、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する」もの、すなわち第２撮像領域での２次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、１回のラインスキャン単位（Ｑ＝ｎ）で行うものである点。 ウ　当審の判断 （ア）新規性 上記（相違点１）及び（相違点２）が両発明の間にある以上、本件訂正発明２は、甲１に記載された発明であるとはいえない。 （イ）進歩性 上記相違点１及び２は、技術的に密接に連関する事項であることから、併せて判断することとする。 甲１発明は、検出手段により、第１撮像領域にて既に取得された２次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする２次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出し、この検出結果に基づいて、照射位置補正手段により、第２撮像領域での２次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、１回のラインスキャン単位（Ｑ＝ｎ）で行うものであり、甲１には、甲１全体の記載をみても、第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを検出し、この検出結果に基づいて、第２撮像領域での３次元断層画像を取得する際の照射位置の補正を、複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で行うものについて記載も示唆もされていない。 また、甲２及び特許異議申立人が証拠として提出している甲３：特開２００８－２９４６７号公報のいずれの文献にも、上記相違点１及び相違点２に係る本件訂正発明２の発明特定事項について記載も示唆もされていない。 よって、甲１発明において、上記相違点１及び相違点２に係る本件訂正発明２の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。 エ　本件訂正発明２のまとめ 以上のとおり、本件訂正発明２は、甲１に記載された発明であるとはいえないから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものとはいえない。 また、本件訂正発明２は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。 （６）本件訂正発明３～５について 本件訂正発明３～５は、本件訂正発明１又は本件訂正発明２の構成を全て含むものであるから、本件訂正発明３～５も、上記（４）又は（５）と同様の理由により、新規性及び進歩性を有するものである。 ４　サポート要件についての判断 （１）上記「１－１」の取消理由３が解消しているか検討する。 本件特許明細書の段落【０００６】には、「位置ずれが生じた状態で取得された周辺部の断層像は、撮像位置が異なるため、中心部の断層像とのスムーズな繋ぎ合わせが困難となる」と記載され、当該記載から、第１撮像領域の断層画像（中心部の断層像）と第２撮像領域の断層画像（周辺部の断層像）との間の連続性が位置ずれによって確保できないという問題点を把握することができる。 そして、本件訂正発明１～３及び５は、上記問題点を解決するための手段が反映されていないとはいえないので、上記「１－１」の取消理由３が解消されたといえる。 （２）上記「１－３」の取消理由２が解消しているか検討する。 本件訂正により、本件訂正発明１では、「第１撮像領域における断層画像と端部同士が横断方向において連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得すること」が特定されたので、本件訂正発明１及び３～５は、上記「１－３」の取消理由２が解消されたといえる。 ５　明確性要件についての判断 上記「１－１」の取消理由４が解消しているか検討する。 本件訂正により、本件訂正発明４では、「変化を考慮して」という記載が削除され、「前記検出手段は、第１撮像領域での視標位置と第２撮像領域での視標位置との間における前記固視標投影ユニットによる被検者眼の視線方向の変化量に基づいて前記重複部分を移動させて又は前記変化量に対応するオフセットをかけて前記連続性に関するずれを、前記被検者眼の概略画像から検出する」という表現に訂正された結果、「被検者眼の視線方向の変化」がどのように考慮されるのかが明確になった。 よって、本件訂正発明４では、上記「１－１」の取消理由４が解消されたといえる。 ６　特許異議申立人の意見について （１）特許異議申立人は平成２８年７月７日付け意見書（第１１頁第２０行～第１２頁第６行）において、訂正により追加された本件訂正発明１及び２における「先に取得された概略画像」の記載では、過去のあらゆる時刻において得られた概略画像を含むことになり、第１撮像領域の断層画像（または３次元断層画像）の取得との関係が不明であるから、そのような概略画像と第２撮像領域を撮影する際の概略画像とからでは、第１撮像領域の断層画像と第２撮像領域の断層画像との連続性に関するずれを求めることはできない旨、主張している。 しかしながら、第１撮像領域での断層画像を取得するときに取得された概略画像は、１以上の「先に取得された概略画像」に基づいて直接又は間接的に求められることが理解できる。 よって、「先に取得された概略画像」と「第２撮像領域を撮影する際の概略画像」から、第１撮像領域の断層画像と第２撮像領域の断層画像との連続性に関するずれを求めることができないとはいえず、上記主張は、採用することができない。 （２）特許異議申立人は平成２８年７月７日付け意見書（第１２頁第７行～末行）において、訂正により追加された本件訂正発明２では、「複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことも記載されており、複数回のラインスキャンごとに検出される位置ズレをどのように各ラインスキャン単位で補正するのか不明である旨、主張している。 しかしながら、本件訂正発明２は、「第２撮像領域での３次元断層画像を取得する」ための１回以上のラインスキャン単位ごとに取得される各「概略画像」と、第１撮像領域での３次元断層画像を取得するための１回以上のラインスキャン単位ごとに取得される各「概略画像」とから、「前記第１撮像領域にて既に取得された３次元断層画像と，前記第２撮像領域にて取得しようとする３次元断層画像と，の間の連続性に関するずれを」「検出する」する態様を含むものと理解でき、このような理解に立つと、検出結果に基づく照射位置は、「複数回のラインスキャン単位或いは複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことになることは、技術的に明らかであり、上記主張は、採用することができない。 （３）特許異議申立人は平成２９年１月１２日付け意見書（第１３頁第２２行～第１６頁第４行）において、訂正により追加された本件訂正発明１の「始点から終点まで測定光を走査させる第１のラインスキャンを少なくとも１回行うことによって取得される第１撮像領域における断層画像の取得後であって、前記第１のラインスキャンの終点に対応する走査位置に測定光が照射された後、前記第１のラインスキャンとは別の少なくとも１回の第２のラインスキャンを行うことによって前記第１撮像領域とは異なる第２撮像領域での断層画像であって前記第１撮像領域における断層画像と端部同士が（横断方向において）連続するように異なる前記第２の撮像領域での断層画像を取得する際」における「少なくとも」１回という訂正事項は、本件特許明細書によりサポートされていない旨、主張している。 しかしながら、本件特許明細書の発明の詳細な説明には、段落【００６８】及び図８に、２次元断層画像の端部同士における横断方向の連続性のずれについて記載されていることに加えて、上記（２）で説示したとおり、３次元断層画像同士の連続性のずれを、「複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正する」ことが記載されているといえることから、３次元断層画像の端部同士における横断方向の連続性のずれを、複数回のラインスキャンを構成する各ラインスキャン単位で補正することは、発明の詳細な説明に記載されているに等しい事項であるといえる。 よって、本件訂正発明１の上記訂正事項は、本件特許明細書によりサポートされていないとまではいえないので、上記主張は、採用することができない。 （４）特許異議申立人は平成２９年７月３日付け意見書（第６頁第６行～第７頁第２２行）において、訂正により追加された本件訂正発明２の記載では、「概略画像」がどの領域の概略画像か不明確であるため、本件訂正発明２における２つの「概略画像」は三次元断層像の撮影領域が異なるにも関わらず全く同じ領域の概略画像をも含む表現となっているから、本件訂正発明２の訂正事項は、本件特許明細書の発明の詳細な説明に記載された範囲を超えている旨、主張している。 しかしながら、本件訂正発明２における「概略画像」は、２つの「概略画像」の「重複部分を利用して位置ずれを検出する」できる領域であればよいことが理解でき、このことは本件特許明細書の発明の詳細な説明に記載されていることから、上記主張は、採用することができない。 第５　取消理由通知で採用しなかった特許異議申立理由について 異議申立人は、特許異議申立書の申立て理由２（第１９頁第２４行～第３０頁第１９行）として、請求項１～５に係る発明は、甲３（特開２００８－２９４６７号公報）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであると主張しているが、上記「第３」で検討したとおり、本件訂正発明１の相違点、又は本件訂正発明２の相違点１及び２は、特許異議申立人が証拠として提出した甲１～３のいずれにも記載も示唆もされていないことから、甲３に記載された発明を出発点にしても、上記相違点に係る本件訂正発明１の発明特定事項、又は、上記相違点１及び２に係る本件訂正発明２の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到し得たことではない。 よって、本件訂正発明１～５は、甲３に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえないから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものとはいえない。 第６　むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件請求項１ないし５に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件請求項１ないし５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。