2022-390207

特許第４９１７８８８号に関する訂正審判事件について、次のとおり審決する。

結 論 特許第４９１７８８８号の特許請求の範囲を本件審判請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項３、４、５について訂正することを認める。

理 由 第１ 手続の経緯 本件訂正審判の請求に係る特許第４９１７８８８号は、２００６年（平成１８年）１月１３日（優先権主張 平成１７年１月１４日）を国際出願日とする出願であって、平成２４年２月３日に特許権の設定登録がなされたものである。 そして、令和４年１１月２９日に本件訂正審判の請求がされた。 第２ 請求の趣旨 本件訂正審判の請求の趣旨は、特許第４９１７８８８号の特許請求の範囲を本件審判請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔３、４〕、５について訂正することを認める、との審決を求めるものである。 第３ 訂正の内容 １ 訂正事項１ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 クラスタ単位に記録されるライトワンス型光ディスクに欠陥領域リストを記録する記録装置であって、」 とあるのを、 「 クラスタ単位に記録されるライトワンス型光ディスクに複数の欠陥領域リストを記録する記録装置であって、」 と訂正する（下線は、訂正箇所を示す。以下、訂正事項２～１７についても同様。）。 ２ 訂正事項２ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 欠陥領域リスト、構造情報を生成する生成手段と、」 とあるのを、 「 複数の欠陥領域リスト、構造情報を生成する生成手段と、」 と訂正する。 ３ 訂正事項３ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 生成された欠陥領域リストと、構造情報とを含む構造を、一時的欠陥管理領域における少なくとも１つのクラスタに書き込む書込手段とを備え、」 とあるのを、 「 生成された前記複数の欠陥領域リストと、構造情報とを含む構造を、一時的欠陥管理領域における複数のクラスタに書き込む書込手段とを備え、」 と訂正する。 ４ 訂正事項４ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 前記欠陥領域リストは、光ディスクにおける少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含み、」 とあるのを、 「 前記複数の欠陥領域リストは、光ディスクにおける少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含み、」 と訂正する。 ５ 訂正事項５ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 前記構造情報は、前記構造を構成するクラスタの最後のクラスタに配置され、」 とあるのを、 「 前記構造情報は、前記構造を構成する前記複数のクラスタの最後のクラスタに配置され、」 と訂正する。 ６ 訂正事項６ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 前記生成手段は、前記構造の更新にあたって、前記構造に含まれる欠陥領域リスト内のエントリーを、欠陥領域の情報に従ってソートし、」 とあるのを、 「 前記生成手段は、前記構造の更新にあたって、前記構造に含まれる前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーを、欠陥領域の情報に従ってソートし、」 と訂正する。 ７ 訂正事項７ 特許請求の範囲の請求項３に、 「 前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含む」 とあるのを、 「 前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、 前記記録装置は、前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタに対してベリファイを行い、前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがあるか否かを判定するベリファイ手段をさらに備え、 前記生成手段は、 前記欠陥クラスタがある場合、前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報を生成し、 前記書込手段は、 前記欠陥クラスタがある場合、当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストを、前記他のクラスタに書き込み、 前記更新した構造情報を、前記他のクラスタに後続するクラスタに書き込む、」 と訂正する。 ８ 訂正事項８ 特許請求の範囲の請求項４に、 「 前記記録装置は、欠陥領域リストが書き込まれたクラスタに対してベリファイを行い、欠陥領域リストが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるか否かを判定するベリファイ手段を備え、 前記書込手段は、 欠陥領域リストが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるなら、当該欠陥領域リストを欠陥クラスタの次のクラスタに書き込むことで、書き込みのリトライを行い、 前記リトライにより 欠陥領域リストは、その欠陥クラスタに先行する領域と、前記欠陥クラスタに後続する領域とに分断した状態で書き込まれ、 前記生成手段は、 前記欠陥クラスタに先行する領域における最後のクラスタを示す位置情報と、前記欠陥クラスタに後続する領域における最初のクラスタを示す位置情報とを、前記構造情報において隣り合わせて配置させる ことを特徴とする請求項３記載の記録装置。」 とあるのを、 「 クラスタ単位に記録されるライトワンス型光ディスクに欠陥領域リストを記録する記録装置であって、 欠陥領域リスト、構造情報を生成ずる生成手段と、 生成された欠陥領域リストと、構造情報とを含む構造を、一時的欠陥管理領域における少なくとも１つのクラスタに書き込む書込手段とを備え、 前記欠陥領域リストは、光ディスクにおける少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含み、 前記構造情報は、前記構造を構成するクラスタの最後のクラスタに配置され、 前記生成手段は、前記構造の更新にあたって、前記構造に含まれる欠陥領域リスト内のエントリーを、欠陥領域の情報に従ってソートし、 前記書込手段により一時的欠陥管理領域のクラスタに書き込まれる構造は、欠陥でないクラスタにより構成され、 前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、 前記記録装置は、欠陥領域リストが書き込まれたクラスタに対してベリファイを行い、欠陥領域リストが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるか否かを判定するベリファイ手段を備え、 前記書込手段は、 欠陥領域リストが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるなら、当該欠陥領域リストを欠陥クラスタの次のクラスタに書き込むことで、書き込みのリトライを行い、 前記リトライにより 欠陥領域リストは、その欠陥クラスタに先行する領域と、前記欠陥クラスタに後続する領域とに分断した状態で書き込まれ、 前記生成手段は、 前記欠陥クラスタに先行する領域における最後のクラスタを示す位置情報と、前記欠陥クラスタに後続する領域における最初のクラスタを示す位置情報とを、前記構造情報において隣り合わせて配置させる ことを特徴とする記録装置。」 と訂正する。 ９ 訂正事項９ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 クラスタ単位に記録されるライトワンス型光ディスクの一時的欠陥管理領域から欠陥領域リストを読み出す読出装置であって、」 とあるのを、 「 クラスタ単位に記録されるライトワンス型光ディスクの一時的欠陥管理領域から複数の欠陥領域リストを読み出す読出装置であって、」 と訂正する。 １０ 訂正事項１０ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記１つ以上の構造のそれぞれは、欠陥領域リストと、構造情報とを含む、少なくとも１つの欠陥でないクラスタから構成され、」 とあるのを、 「 前記１つ以上の構造のそれぞれは、複数の欠陥領域リストと、構造情報とを含む、少なくとも１つの欠陥でないクラスタから構成され、」 と訂正する。 １１ 訂正事項１１ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記欠陥領域リストは、光ディスクにおける少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含み、」とあるのを、 「 前記複数の欠陥領域リストは、光ディスクにおける少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含み、」 と訂正する。 １２ 訂正事項１２ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記構造に含まれる欠陥領域リスト内のエントリーは、欠陥領域に関する情報に従いソートされており、」 とあるのを、 「 前記構造に含まれる前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーは、欠陥領域に関する情報に従いソートされており、」 と訂正する。 １３ 訂正事項１３ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記構造情報は、前記構造を構成するクラスタの最後のクラスタに配置され、」 とあるのを、 「 前記構造情報は、前記構造を構成する複数のクラスタの最後のクラスタに配置され、」 と訂正する。 １４ 訂正事項１４ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記１つ以上の構造のうち最後のものの前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、」 とあるのを、 「 前記１つ以上の構造のうち最後のものの前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、 前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがある場合、 当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストが、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタに配置され、 前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報が前記他のクラスタに後続するクラスタに配置され、」 と訂正する。 １５ 訂正事項１５ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 前記構造の最後のクラスタから前記構造情報を取り出し、前記複数の位置情報を用いて欠陥領域リストを光ディスクからメモリに読み出す読出手段と、」 とあるのを、 「 前記構造の最後のクラスタである、前記他のクラスタに後続するクラスタから前記更新した構造情報を取り出し、前記更新した構造情報に含まれる前記複数の位置情報を用いて複数の欠陥領域リストを光ディスクからメモリに読み出す読出手段と、」 と訂正する。 １６ 訂正事項１６ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 メモリに読み出された欠陥領域リストを保持する保持手段と、」 とあるのを、 「 メモリに読み出された前記複数の欠陥領域リストを保持する保持手段と、」 と訂正する。 １７ 訂正事項１７ 特許請求の範囲の請求項５に、 「 欠陥領域リストに示される欠陥領域に対するアクセスが、上位装置から命じられた場合、当該欠陥領域の代わりに、当該欠陥領域に対応するスペア領域に対するアクセスを実行するアクセス手段と」 とあるのを、 「 前記複数の欠陥領域リストに示される欠陥領域に対するアクセスが、上位装置から命じられた場合、当該欠陥領域の代わりに、当該欠陥領域に対応するスペア領域に対するアクセスを実行するアクセス手段と」 と訂正する。 １８ 別の訂正単位とする求め 訂正後の請求項４については、当該請求項についての訂正が認められる場合には、一群の請求項の他の請求項３とは別途訂正することを求める。 第４ 当審の判断 １ 請求項３及び４からなる一群の請求項に係る訂正について （１）一群の請求項について 訂正前の請求項４は請求項３を引用したものであり、訂正事項１～７に係る訂正によって記載が訂正される請求項３と連動して訂正されるものである。 したがって、請求項３及び４は、特許法第１２６条第３項に規定する一群の請求項である。 （２）訂正事項１について ア 訂正の目的について 訂正事項１は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項１は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２２】、【００２４】、【００２５】、【００２９】、及び図面の【図６】、【図８】には、以下のような記載がある。（下線は、当審で付したものである。以下同様。） 【００２２】 ＜TDMA＞ 続いてTDMAについて説明する。TDMAとは、ファイナライズを実施する以前において生成された欠陥エントリーを一時的に記録するための領域であり、読出専用の光ディスク(BD-ROM)や、書き換え可能型の光ディスク(BD-RE)には存在しない、追記型光ディスク特有の領域である。 【００２４】 しかしながら追記型光ディスクの場合は、1stDMA～4thDMAへの記録は、1回しか出来ないため、最新の欠陥領域に関する情報を、1stDMA～4thDMAに示させておくことができない。このように、書き換え型の光ディスクとの互換をとるためにTDMAを設けている。 ＜TDMAの内部構成＞ 図６は、TDMAの構成を示す図である。本図の第2段目は、TDMAの内部構成を示す。この第2段目に示すように、TDMAには、N個のTDMS(TDMS#1,#2,#3・・・・#N)が存在する。N個のTDMSのそれぞれは、1回目、2回目、n回目の、ユーザデータ領域に対する記録時に発見された欠陥領域についての情報(欠陥エントリー)を書き込んでおく領域である。 【００２５】 これらTDMSは、番号が大きいもの程新しく、そして一番番号が大きいもののみが有効になる。光ディスク１に対するアクセスにあたっては、TDMSのうち、最新のもののみが参照され、ファイナライズにあたっては、TDMSのうち、最新のものの内容が、1stDMA～4thDMAに書き込まれることになる。 TDMSは何れも共通の構成を有している。その共通構成とは、図６の第1段目に示す通りであり、“一時欠陥領域リスト(Temporary DeFect List:以下TDFLと呼ぶ)”と、“一時ディスク定義構造（TemporaryDisc Difinition Structure:以下TDDSと呼ぶ）”とから構成され、TDFLの次にTDDSが配置されるというものである。 【００２９】 TDFLを離散配置したいとの要請は、TDMSを構成するクラスタに欠陥クラスタが存在する場合に、特に生じる。 ＜TDFLの離散配置＞ 図８は、TDFLの離散配置の一例を示す図である。本図における第1段目は、TDMSを構成する複数のクラスタ(クラスタ#1、クラスタ#2、クラスタ#3～クラスタ#7)を示し、第2段目は、これらのクラスタに書き込まれた4つのTDFL(TDFL#1、TDFL#2、TDFL#3、TDFL#4)と、TDDSとを示す。 【図６】 ［図：0001397129000001.jpg］ 【図８】 ［図：0001397129000002.jpg］ すなわち、追記型（ライトワンス型）光ディスクのTDMAには、N個のTDMS（一時的欠陥管理領域）が存在し、TDMS（一時的欠陥管理領域）に１つ以上（複数であることを含む）のTDFL（欠陥領域リスト）が存在し記録されることが記載されていることから、ライトワンス型光ディスクに複数の欠陥領域リストを記録することが記載されているものである。 したがって、訂正事項１は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （３）訂正事項２について ア 訂正の目的について 訂正事項２は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項２は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２２】、【００２７】、及び図面の【図７】（ａ）には、以下のような記載がある。 【００２２】 ＜TDMA＞ 続いてTDMAについて説明する。TDMAとは、ファイナライズを実施する以前において生成された欠陥エントリーを一時的に記録するための領域であり、読出専用の光ディスク(BD-ROM)や、書き換え可能型の光ディスク(BD-RE)には存在しない、追記型光ディスク特有の領域である。 【００２７】 ＜TDFLのデータ構造＞ 図７（ａ）は、TDFLのデータ構造を示す図である。 TDFLは、DFLと同一の構成であり、引き出し線f1に示すように、“欠陥リストヘッダ”と0個以上M個以下の“欠陥エントリ#1～#M”から構成される。 “欠陥リストヘッダ”は、DFL中に含まれる欠陥エントリの個数(欠陥エントリ数)などを含む。 【図７】 ［図：0001397129000003.jpg］ すなわち、欠陥エントリーが生成されること、TDFL（欠陥領域リスト）は欠陥エントリーから構成されることが記載されていることから、欠陥領域リストについても生成されるものといえ、上記（２）イで検討したようにTDFL（欠陥領域リスト）は複数であることから、複数の欠陥領域リストを生成することが記載されているものである。 したがって、訂正事項２は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項２は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （４）訂正事項３について ア 訂正の目的について 訂正事項３は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「前記複数の欠陥領域リスト」と訂正し、「少なくとも１つのクラスタ」とあるのを「複数のクラスタ」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」及び「クラスタ」が複数であり、当該複数の欠陥領域リストが先に記載された「複数の欠陥領域リスト」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項３は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２９】、及び図面の【図８】には、以下のような記載がある。 【００２９】 TDFLを離散配置したいとの要請は、TDMSを構成するクラスタに欠陥クラスタが存在する場合に、特に生じる。 ＜TDFLの離散配置＞ 図８は、TDFLの離散配置の一例を示す図である。本図における第1段目は、TDMSを構成する複数のクラスタ(クラスタ#1、クラスタ#2、クラスタ#3～クラスタ#7)を示し、第2段目は、これらのクラスタに書き込まれた4つのTDFL(TDFL#1、TDFL#2、TDFL#3、TDFL#4)と、TDDSとを示す。 【図８】 ［図：0001397129000004.jpg］ ここで、図８より、TDFL（欠陥領域リスト）とTDDS（構造情報）の双方が、複数のクラスタに書き込むことが見て取れる。 すなわち、TDMS（一時的欠陥管理領域）は複数のクラスタから構成され、複数のTDFL（欠陥領域リスト）とTDDS（構造情報）の双方を当該複数のクラスタに書き込むことが記載されていることから、複数の欠陥領域リストと構造情報とを含む構造を一時的欠陥管理領域における複数のクラスタに書き込むことが記載されているものである。 したがって、訂正事項３は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項３は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （５）訂正事項４について ア 訂正の目的について 訂正事項４は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項４は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２７】及び図面の【図７】には、以下のような記載がある。 【００２７】 ＜TDFLのデータ構造＞ 図７（ａ）は、TDFLのデータ構造を示す図である。 TDFLは、DFLと同一の構成であり、引き出し線f1に示すように、“欠陥リストヘッダ”と0個以上M個以下の“欠陥エントリ#1～#M”から構成される。 “欠陥リストヘッダ”は、DFL中に含まれる欠陥エントリの個数(欠陥エントリ数)などを含む。 【図７】 ［図：0001397129000005.jpg］ すなわち、TDFL（欠陥領域リスト）は0個以上M個以下の欠陥エントリーから構成されることが記載され、上記（２）イで検討したようにTDFL（欠陥領域リスト）は複数であることから、複数の欠陥領域リストは、少なくとも１つの欠陥領域についてのエントリーを含むことが記載されているものである。 したがって、訂正事項４は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項４は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （６）訂正事項５について ア 訂正の目的について 訂正事項５は、訂正前の請求項３に「クラスタ」とあるのを「前記複数のクラスタ」と訂正することにより、「クラスタ」が複数であり、当該複数のクラスタが先に記載された「複数のクラスタ」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項５は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２８】には、以下のような記載がある。 【００２８】 “欠陥エントリ#1～#M”は、ファイナライズ前のユーザデータ領域６に対するアクセス時に検出された欠陥クラスタの位置を示す“欠陥クラスタの位置情報”と、その欠陥クラスタの代わりに用いられたスペア領域５、７内のクラスタの位置を示す“代替クラスタの位置情報”とを含む。 ＜TDDSの内部構成＞ 図７（ｂ）は、TDDSの内部構成を示す図である。TDDSは固定サイズの情報、１セクタ（２KByte）であり、ディスク定義構造（DDS）と同じサイズである。TDDSは、TDMSにおける末尾のクラスタ内の所定の位置、例えばクラスタを構成する32個のセクタのうち、末尾セクタに配置される。図７（ｂ）に示すように、TDDSは、各TDFLの先頭のDFL位置を示す“TDFL先頭位置情報(TDFLポインタ)”と、“その他の情報”とを含む。DDS同様、TDDSは、DFLの位置を示す役割をもつが、DDSと決定的に違うのは、同じTDMSに複数のTDFLが存在する場合、TDDSは、これら各TDFLの先頭位置を、個別に示す複数のTDFL位置情報を有する点である。そして、対応するTDFLにて示される欠陥領域のアドレスが小さい順序に、複数のTDFL位置情報が並べられており、TDFL#1位置情報、TDFL#2位置情報が、TDDS内部において隣り合っている点である。ここで同じTDMSにTDFLが4つ存在する場合、これら4つのTDFL#1～#4の位置が、TDDSに示されることになる。TDDSに、各TDFLの位置が示されるので、１つのTDMS内において、TDFLを離散的に配置することができる。 すなわち、TDDS（構造情報）は複数のクラスタの末尾（最後）のクラスタに配置されることが記載されているものである。 したがって、訂正事項５は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項５は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （７）訂正事項６について ア 訂正の目的について 訂正事項６は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「前記複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であり、当該複数の欠陥領域リストが先に記載された「複数の欠陥領域リスト」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項６は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００２４】、【００４６】には、以下のような記載がある。 【００２４】 しかしながら追記型光ディスクの場合は、1stDMA～4thDMAへの記録は、1回しか出来ないため、最新の欠陥領域に関する情報を、1stDMA～4thDMAに示させておくことができない。このように、書き換え型の光ディスクとの互換をとるためにTDMAを設けている。 ＜TDMAの内部構成＞ 図６は、TDMAの構成を示す図である。本図の第2段目は、TDMAの内部構成を示す。この第2段目に示すように、TDMAには、N個のTDMS(TDMS#1,#2,#3・・・・#N)が存在する。N個のTDMSのそれぞれは、1回目、2回目、n回目の、ユーザデータ領域に対する記録時に発見された欠陥領域についての情報(欠陥エントリー)を書き込んでおく領域である。 【００４６】 ＜制御メモリ２３＞ 制御メモリ２３は、欠陥エントリー等を作業用に格納しておくためのメモリである。 ＜欠陥エントリー追加部２４＞ 欠陥エントリー追加部２４は、j回目の記録処理において、ユーザデータ領域６中の欠陥領域が発見された場合、その欠陥領域を示す欠陥エントリーを、制御メモリ２３に読み出された複数の欠陥エントリーに付け加える。具体的には、例えばユーザデータ領域６において、新規に１つの欠陥クラスタが検出された場合、欠陥エントリー追加部２４は、制御メモリ２３における複数の欠陥エントリーに対して、新規欠陥クラスタに相当する欠陥エントリを追加する。さらに欠陥エントリに含まれる欠陥クラスタの位置情報に従い欠陥エントリのソーティングを行い、さらに欠陥エントリ数を“1”増加させる。（以下略） すなわち、欠陥エントリーに含まれる欠陥クラスタの位置情報に従い欠陥エントリーのソーティングを行うこと、欠陥エントリーは欠陥領域についての情報であることが記載されており、欠陥クラスタの位置情報は欠陥領域の情報であるといえる。 また、上記（５）イで検討したように、欠陥エントリーは、複数の欠陥領域リストに含まれるものである。 そうすると、複数の欠陥領域リスト内のエントリーを、欠陥領域の情報に従ってソートしていることが記載されているものといえる。 したがって、訂正事項６は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項６は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （８）訂正事項７について ア 訂正の目的について 訂正事項７は、訂正前の請求項３に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定し、「記録装置」、「生成手段」、「書込手段」についてそれぞれ限定するものである。 したがって、訂正事項７は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて （ア）「前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、」について 願書に添付された明細書の段落【００２８】、【００３０】、【００３１】、【図７】（ｂ）、【図８】には、以下のような記載がある。 【００２８】 “欠陥エントリ#1～#M”は、ファイナライズ前のユーザデータ領域６に対するアクセス時に検出された欠陥クラスタの位置を示す“欠陥クラスタの位置情報”と、その欠陥クラスタの代わりに用いられたスペア領域５、７内のクラスタの位置を示す“代替クラスタの位置情報”とを含む。 ＜TDDSの内部構成＞ 図７（ｂ）は、TDDSの内部構成を示す図である。TDDSは固定サイズの情報、１セクタ（２KByte）であり、ディスク定義構造（DDS）と同じサイズである。TDDSは、TDMSにおける末尾のクラスタ内の所定の位置、例えばクラスタを構成する32個のセクタのうち、末尾セクタに配置される。図７（ｂ）に示すように、TDDSは、各TDFLの先頭のDFL位置を示す“TDFL先頭位置情報(TDFLポインタ)”と、“その他の情報”とを含む。DDS同様、TDDSは、DFLの位置を示す役割をもつが、DDSと決定的に違うのは、同じTDMSに複数のTDFLが存在する場合、TDDSは、これら各TDFLの先頭位置を、個別に示す複数のTDFL位置情報を有する点である。そして、対応するTDFLにて示される欠陥領域のアドレスが小さい順序に、複数のTDFL位置情報が並べられており、TDFL#1位置情報、TDFL#2位置情報が、TDDS内部において隣り合っている点である。ここで同じTDMSにTDFLが4つ存在する場合、これら4つのTDFL#1～#4の位置が、TDDSに示されることになる。TDDSに、各TDFLの位置が示されるので、１つのTDMS内において、TDFLを離散的に配置することができる。 【００３０】 図８におけるTDMS#jは、クラスタ#1～クラスタ#7からなり、その中のクラスタ#2は、欠陥クラスタである。本図においてTDFL#1～TDFL#4は、その欠陥クラスタであるクラスタ#2に先行する先行領域であるクラスタ#1と、欠陥クラスタに後続する後続領域であるクラスタ#3～クラスタ#5とに分断した状態で書き込まれている。 図８におけるTDDSは、欠陥クラスタに先行する領域における最後のクラスタ(クラスタ#1)のアドレスC1を、TDFL#1の位置として示すTDFL#1位置情報(TDFL#1:アドレスC1)と、欠陥クラスタに後続する領域(クラスタ#3～クラスタ#5)における最初のクラスタ(クラスタ#3)のアドレスC3を、TDFL#2の位置として示すTDFL#2位置情報(TDFL#2:アドレスC3)とを含む。この図８におけるTDDSの特徴は、対応するTDFLにて示される欠陥領域のアドレスが小さい順序に、複数のTDFL位置情報(TDFL#1位置情報、TDFL#2位置情報、TDFL#3位置情報、TDFL#4位置情報)が並べられており、TDFL#1位置情報、TDFL#2位置情報が、TDDS内部において隣り合っていることである。TDDSがこのように構成されているので、TDDS内の位置情報に従い、TDFLを読み出してゆけば、上述した欠陥クラスタの存在に拘らず、TDFL#1～TDFL#4を予め定められた順序で読み出し、これらをメモリ上に並べることができる。 【００３１】 以上のように本実施形態におけるTDDSは、4つのTDFLの位置情報をもっており、4つのTDFLが書き込まれたクラスタの先頭位置を指し示すことができるので、TDFL#1と、TDFL#2～TDFL#4を離散的に配置しても構わない。そのため、本来TDMSのクラスタ#2以降に記録されるはずであったTDFL#2～TDFL#4が、欠陥クラスタの隣接クラスタであるTDMSのクラスタ#3～クラスタ#5に記録されている。 【図７】 ［図：0001397129000006.jpg］ 【図８】 ［図：0001397129000007.jpg］ すなわち、TDDS（構造情報）は、各TDFL（複数の欠陥領域リスト）が書き込まれたクラスタの先頭位置を指し示す複数のTDFL（欠陥領域リスト）位置情報を含んでいる。そして、上記（７）イで検討したように、各欠陥領域リストに欠陥エントリーが含まれていることから、TDFL（欠陥領域リスト）位置情報は、欠陥領域リスト内の欠陥エントリーが記録されているクラスタの位置であるといえる。 そうすると、構造情報は、複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含むことが記載されているものである。 （イ）「前記記録装置は、前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタに対してベリファイを行い、前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがあるか否かを判定するベリファイ手段をさらに備え、 前記生成手段は、 前記欠陥クラスタがある場合、前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報を生成し、 前記書込手段は、 前記欠陥クラスタがある場合、当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストを、前記他のクラスタに書き込み、 前記更新した構造情報を、前記他のクラスタに後続するクラスタに書き込む、」について 願書に添付された明細書の段落【００７０】、【００７１】、【００７４】～【００７６】、図面【図１７】、【図１８】には、以下のような記載がある。 【００７０】 以上が本実施形態に係る光ディスクについての改良である。続いて本実施形態に係る記録読出装置１００について説明する。本実施形態に係る記録読出装置１００の改良点は、TDMS情報書込部２６、ベリファイ部２７、位置情報生成部２８にある。 第２実施形態に係るTDMS情報書込部２６は、TDMAにおける最新のTDMSに、全てのTDFLと、TDDSとを、一度に書き込む。もし、TDFLが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるなら、欠陥クラスタに書き込まれたTDFL、最後のTDFL、TDDSの書き込みをリトライする。 【００７１】 第２実施形態に係るベリファイ部２７は、TDMS情報書込部２６がTDFL、TDDSの書き込みを行った際(リトライ時の書き込みを含む)、書き込まれたTDFLに対してベリファイを行い、書き込まれたTDFLが正しいかどうかを判定する。 第２実施形態に係る位置情報生成部２８は、TDMS情報書込部２６がTDFLの書き込みを行おうとする際(リトライ時の書き込みを含む)、TDDSに格納されるべきTDFL位置情報を生成する。 【００７４】 ステップＳ５１における位置情報生成部２８によるTDFL位置情報の生成は、4つのTDFLが、カレントクラスタ以降に配列されるとして、TDDSにおけるTDFL位置情報を生成することでなされる。ここで書き込みの対象となる１つ以上のTDFLが、k個存在するとすると、リトライ対象となるk個のTDFLのうち、i番目のTDFL(i≦k)のTDFL位置情報を、 i番目のTDFL(i≦k)のTDFL位置情報←カレントクラスタ＋(i-1)×クラスタ とする。 ステップＳ５３は、こうした全書き込みの結果に対するベリファイ部２７によるベリファイであり、書き込み内容が正常であるなら(ステップＳ５３で成功)、本フローチャートの処理を終了する。 【００７５】 欠陥クラスタが存在するなら(ステップＳ５３で失敗)、既に書き込まれたTDFLの位置、書き込みに失敗したTDFLが書き込まれるべき位置、最後のTDFLが書き込まれるべき位置を示す情報を、位置情報生成部２８がTDDS内に生成した後(ステップＳ５４)、ステップＳ５５～ステップＳ５８からなるループ処理に移行する。 このステップＳ５５～ステップＳ５８からなるループ処理は、TDMS情報書込部２６がリトライを実行するものである。図１７の例でいうと、リトライの対象は、書き込みに失敗したTDFL#2だけではなく、新たなTDFL#2の位置を示す新規TDDSと、このTDDSと同一クラスタに書き込まれるべきTDFL#4である。 【００７６】 ステップＳ５５～ステップＳ５８は、TDMS情報書込部２６が書き込みに失敗したTDFLと、最後のTDFLと、TDDSとをカレントクラスタ以降に書き込み(ステップＳ５５)、ベリファイ部２７が書き込まれたクラスタのベリファイを行って(ステップＳ５６)、書き込まれたクラスタが欠陥クラスタでなければ、処理を終了し、書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであれば、カレントクラスタを次のクラスタにして(ステップＳ５７)、位置情報生成部２８が書き込みに失敗したTDFLの位置と、TDDSにおける最後のTDFLの位置とを書き換えたTDDSを新たに生成し(ステップＳ５８)、再度、ステップＳ５５、ステップＳ５６を実行するというものである。 【図１７】 ［図：0001397129000008.jpg］ 【図１８】 ［図：0001397129000009.jpg］ ここで、図１７より、TDDS（構造情報）は、TDFL（欠陥領域リスト）に後続していることが見て取れる。 すなわち、記録読出装置はベリファイ部を有し、ベリファイ部は、クラスタに書き込まれたTDFL（欠陥領域リスト）に対してベリファイを行い、書き込み内容が正常であるか、欠陥クラスタが存在するかを判定し、 欠陥クラスタが存在するなら、書き込みに失敗したTDFL（欠陥領域リスト）が書き込まれるべき位置を示す情報を、位置情報生成部２８がTDDS（構造情報）内に生成し、 TDMS（一時的欠陥管理領域）情報書込部２６が書き込みに失敗したTDFL（欠陥領域リスト）と、最後のTDFL（欠陥領域リスト）と、TDDS（構造情報）とをカレントクラスタ以降に書き込み、TDDS（構造情報）は、TDFL（欠陥領域リスト）に後続していることが記載されている。 そして、上記（４）イで検討したように、TDFL（欠陥領域リスト）は構造に含まれるものである。 そうすると、クラスタに書き込まれたTDFL（欠陥領域リスト）に対してベリファイを行い、書き込み内容が正常であるか、欠陥クラスタが存在するかを判定することは、「前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタに対してベリファイを行い、前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがあるか否かを判定する」ことといえる。 また、欠陥クラスタが存在するなら、書き込みに失敗したTDFL（欠陥領域リスト）が書き込まれるべき位置を示す情報をTDDS（構造情報）内に生成することは、構造情報内の欠陥領域リストのクラスタの位置情報を、新たな書き込まれるべき位置を示す情報に代えることであるから、「前記欠陥クラスタがある場合、前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報を生成」することといえる。 更に、書き込みに失敗したTDFL（欠陥領域リスト）と、最後のTDFL（欠陥領域リスト）と、TDDS（構造情報）とをカレントクラスタ以降に書き込み、TDDS（構造情報）は、TDFL（欠陥領域リスト）に後続していることは、「前記欠陥クラスタがある場合、当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストを、前記他のクラスタに書き込み、前記更新した構造情報を、前記他のクラスタに後続するクラスタに書き込む」ことといえる。 （ウ）小括 したがって、訂正事項７は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項７は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （９）訂正事項８について ア 訂正の目的について 訂正事項８は、訂正前の請求項４の記載が訂正前の請求項３の記載を引用する記載であったものを、請求項間の引用関係を解消し、請求項３の記載を引用しないものとし、独立形式の請求項へ改めるための訂正であって、特許法第１２６条第１項ただし書第４号に掲げる「他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすること」を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 訂正事項８は、訂正前の請求項４の記載が訂正前の請求項３の記載を引用する記載であったものを、請求項間の引用関係を解消し、請求項３の記載を引用しないものとし、独立形式の請求項へ改めるための訂正であるから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内でするものであることは明らかである。 したがって、訂正事項８は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないこと 訂正事項８は、他の請求項の記載を引用する請求項の記載を当該他の請求項の記載を引用しないものとすることを目的とするものであって、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項に適合するものである。 エ 別の訂正単位とする求めについて 請求人は、上記第３の１８のように、訂正後の請求項４については、当該請求項についての訂正が認められる場合には、一群の請求項の他の請求項３とは別途訂正することを求めている。 上記ア～ウより、請求項４の訂正が認められるので、請求項４は、一群から外れ、請求項３とは別の訂正単位となる。 （１０）独立特許要件について 訂正事項１～７に係る訂正は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるところ、訂正後の請求項３に記載されている事項により特定される発明について、特許出願の際独立して特許を受けることができないとする理由は見いだせない。 したがって、訂正事項１～７は、特許法第１２６条第７項の規定に適合する。 （１１）請求項３及び４に係る訂正についてのまとめ 以上のとおり、請求項３についての訂正は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第５項ないし第７項の規定に適合する。 また、請求項４についての訂正は、特許法第１２６条第１項ただし書第４号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第５項、第６項の規定に適合する。 ２ 請求項５に係る訂正について （１）訂正事項９について ア 訂正の目的について 訂正事項９は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項９は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００４５】には、以下のような記載がある。 【００４５】 ＜TDMS情報読出部２２＞ TDMS情報読出部２２は、ローディングされた光ディスク１が未ファイナライズのものである場合、記録済み終端クラスタを探索し、最新のTDMS(TDMS#j-1)をサーチする。そして記録済みの終端クラスタからTDDSを取り出して、TDFLの数nと、各TDFLの位置とを取得する。各TDFLの位置を取得すれば、最新のTDMSからTDFLを制御メモリ２３に読み出し、これをDFLを構成する複数の欠陥エントリーとして保持する。この複数の欠陥エントリーは、読出処理に用いられる。 すなわち、TDMS（一時的欠陥管理領域）から各TDFL（複数の欠陥領域リスト）を読み出すことが記載されているものである。 したがって、訂正事項９は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項９は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （２）訂正事項１０について ア 訂正の目的について 訂正事項１０は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項１０は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 上記１（４）イで検討したように、構造は、複数の欠陥領域リストと構造情報とを含むものである。 したがって、訂正事項１０は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１０は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （３）訂正事項１１について ア 訂正の目的について 訂正事項１１は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項１１は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 上記１（５）イの検討と同様であり、訂正事項１１は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１１は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （４）訂正事項１２について ア 訂正の目的について 訂正事項１２は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「前記複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であり、当該複数の欠陥領域リストが先に記載された「複数の欠陥領域リスト」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項１２は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 上記１（７）イの検討と同様であり、訂正事項１２は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１２は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （５）訂正事項１３について ア 訂正の目的について 訂正事項１３は、訂正前の請求項５に「クラスタ」とあるのを「複数のクラスタ」と訂正することにより、「クラスタ」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項１３は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 上記１（６）イの検討と同様であり、訂正事項１３は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１３は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （６）訂正事項１４について ア 訂正の目的について 訂正事項１４は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定し、更に「前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがある場合、当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストが、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタに配置され、前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報が前記他のクラスタに後続するクラスタに配置され」ることに限定するものである。 したがって、訂正事項１４は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて （ア）「前記１つ以上の構造のうち最後のものの前記構造情報は、欠陥領域に関する情報に従ってソートされた前記複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含み、」について 願書に添付された明細書の段落【００７０】、図面【図１８】には、以下のような記載がある。 【００７０】 以上が本実施形態に係る光ディスクについての改良である。続いて本実施形態に係る記録読出装置１００について説明する。本実施形態に係る記録読出装置１００の改良点は、TDMS情報書込部２６、ベリファイ部２７、位置情報生成部２８にある。 第２実施形態に係るTDMS情報書込部２６は、TDMAにおける最新のTDMSに、全てのTDFLと、TDDSとを、一度に書き込む。もし、TDFLが書き込まれたクラスタが欠陥クラスタであるなら、欠陥クラスタに書き込まれたTDFL、最後のTDFL、TDDSの書き込みをリトライする。 【図１８】 ［図：0001397129000010.jpg］ すなわち、TDDS（構造情報）を書き込んだ後に、欠陥クラスタがあれば、TDDS（構造情報）の書き込みをリトライするものであるからTDDS（構造情報）は複数であり、上記１（８）イ（ア）の検討も考慮すると、TDDS（構造情報）は、複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含むものであるから、最後のもののTDDS（構造情報）についても、複数の欠陥領域リスト内のエントリーが記録されている個々のクラスタの位置を示す複数の位置情報を含むものである。 （イ）「前記構造が書き込まれた前記複数のクラスタのうちに欠陥クラスタがある場合、 当該欠陥クラスタに書き込まれた欠陥領域リストが、前記複数のクラスタに後続する他のクラスタに配置され、 前記構造情報に含まれる前記欠陥クラスタの位置を示す位置情報を、前記他のクラスタの位置を示す位置情報に更新した構造情報が前記他のクラスタに後続するクラスタに配置され、」について 上記１（８）イ（イ）の検討と同様である。 （ウ）小括 したがって、訂正事項１４は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１４は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （７）訂正事項１５について ア 訂正の目的について 訂正事項１５は、訂正前の請求項５に「前記構造の最後のクラスタから前記構造情報を取り出し、前記複数の位置情報を用いて欠陥領域リストを光ディスクからメモリに読み出す読出手段」とあるのを「前記構造の最後のクラスタである、前記他のクラスタに後続するクラスタから前記更新した構造情報を取り出し、前記更新した構造情報に含まれる前記複数の位置情報を用いて複数の欠陥領域リストを光ディスクからメモリに読み出す読出手段」と訂正することにより、「前記構造の最後のクラスタ」が前記他のクラスタに後続するクラスタであり、「構造情報」が更新した構造情報であり、「複数の位置情報」が前記更新した構造情報に含まれるものであり、「欠陥領域リスト」が複数であることに限定するものである。 したがって、訂正事項１５は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００４５】には、以下のような記載がある。 【００４５】 ＜TDMS情報読出部２２＞ TDMS情報読出部２２は、ローディングされた光ディスク１が未ファイナライズのものである場合、記録済み終端クラスタを探索し、最新のTDMS(TDMS#j-1)をサーチする。そして記録済みの終端クラスタからTDDSを取り出して、TDFLの数nと、各TDFLの位置とを取得する。各TDFLの位置を取得すれば、最新のTDMSからTDFLを制御メモリ２３に読み出し、これをDFLを構成する複数の欠陥エントリーとして保持する。この複数の欠陥エントリーは、読出処理に用いられる。 すなわち、光ディスクの記録済み終端クラスタから最新のTDMS（一時的欠陥管理領域）をサーチしてTDDS（構造情報）を取り出し、各TDFL（欠陥領域リスト）の位置を取得し、最新のTDMS（一時的欠陥管理領域）からTDFL（欠陥領域リスト）を制御メモリに読み出すことが記載されている。 ここで、終端クラスタは構造の最後のクラスタであり、他のクラスタに後続するクラスタであるといえ、最新のTDMS（一時的欠陥管理領域）に含まれるTDDS（構造情報）は、更新した構造情報といえるから、構造の最後のクラスタである、前記他のクラスタに後続するクラスタから前記更新した構造情報を取り出し、前記更新した構造情報に含まれる前記複数の位置情報を用いて複数の欠陥領域リストを光ディスクからメモリに読み出すことが記載されているものである。 したがって、訂正事項１５は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１５は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （８）訂正事項１６について ア 訂正の目的について 訂正事項１６は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「前記複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であり、当該複数の欠陥領域リストが先に記載された「複数の欠陥領域リスト」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項１６は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００４５】には、以下のような記載がある。 【００４５】 ＜TDMS情報読出部２２＞ TDMS情報読出部２２は、ローディングされた光ディスク１が未ファイナライズのものである場合、記録済み終端クラスタを探索し、最新のTDMS(TDMS#j-1)をサーチする。そして記録済みの終端クラスタからTDDSを取り出して、TDFLの数nと、各TDFLの位置とを取得する。各TDFLの位置を取得すれば、最新のTDMSからTDFLを制御メモリ２３に読み出し、これをDFLを構成する複数の欠陥エントリーとして保持する。この複数の欠陥エントリーは、読出処理に用いられる。 すなわち、メモリから読み出された複数のTDFL（欠陥領域リスト）は、保持されることが記載されている。 したがって、訂正事項１６は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１６は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （９）訂正事項１７について ア 訂正の目的について 訂正事項１７は、訂正前の請求項５に「欠陥領域リスト」とあるのを「前記複数の欠陥領域リスト」と訂正することにより、「欠陥領域リスト」が複数であり、当該複数の欠陥領域リストが先に記載された「複数の欠陥領域リスト」を指すことに限定するものである。 したがって、訂正事項１７は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。 イ 願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であることについて 願書に添付された明細書の段落【００１６】、【００２４】、【００２７】、【００４０】、【００５５】、【図７】（ａ）には、以下のような記載がある。 【００１６】 “ユーザデータ領域６”とは、音楽やビデオなどのリアルタイムデータや文章やデータベースなどのコンピュータデータなど、ユーザによって任意の情報が記録される領域である。 “スペア領域５、７”とは、ユーザデータ領域６内に欠陥クラスタが存在する場合、その欠陥クラスタの代わりにデータを記録する代替領域のことである。（以下略） 【００２４】 しかしながら追記型光ディスクの場合は、1stDMA～4thDMAへの記録は、1回しか出来ないため、最新の欠陥領域に関する情報を、1stDMA～4thDMAに示させておくことができない。このように、書き換え型の光ディスクとの互換をとるためにTDMAを設けている。 ＜TDMAの内部構成＞ 図６は、TDMAの構成を示す図である。本図の第2段目は、TDMAの内部構成を示す。この第2段目に示すように、TDMAには、N個のTDMS(TDMS#1,#2,#3・・・・#N)が存在する。N個のTDMSのそれぞれは、1回目、2回目、n回目の、ユーザデータ領域に対する記録時に発見された欠陥領域についての情報(欠陥エントリー)を書き込んでおく領域である。 【００２７】 ＜TDFLのデータ構造＞ 図７（ａ）は、TDFLのデータ構造を示す図である。 TDFLは、DFLと同一の構成であり、引き出し線f1に示すように、“欠陥リストヘッダ”と0個以上M個以下の“欠陥エントリ#1～#M”から構成される。 “欠陥リストヘッダ”は、DFL中に含まれる欠陥エントリの個数(欠陥エントリ数)などを含む。 【００４０】 “欠陥エントリーを用いた光ディスクアクセス”とは、上位制御装置２００からのコマンドの読出先又は書込先が、どれかの欠陥エントリーに示される欠陥クラスタであるなら、代替クラスタにアクセスするという処理である。また、この光ディスクアクセスにあたって、命令処理部１２による、ユーザデータ領域のアクセス中に欠陥領域が新たに発見された場合、その欠陥領域に対する欠陥エントリーを新たに生成する。 【００５５】 図１４におけるステップＳ１１、ステップＳ１２は、コマンド待ちループを形成している。ステップＳ１１は、上位制御装置２００からのコマンドが読出コマンドであるか否かの判定を行うステップであり、ステップＳ１２は、命令処理部１２が上位制御装置２００からのコマンドが書込コマンドであるか否かの判定を行うステップである。 上位制御装置２００からのコマンドが読出コマンドであれば、ステップＳ１３～ステップＳ１５の処理を実行する。ステップＳ１３は、命令処理部１２がコマンドの読出先が、DFLのどれかの欠陥エントリーに示される欠陥クラスタであるか否かを判定するステップであり、欠陥クラスタでないなら、その読出先クラスタからユーザデータを読み出す(ステップＳ１４)。欠陥クラスタであるなら、欠陥管理情報処理部１３がその欠陥クラスタの代替クラスタからユーザデータを読み出した上で(ステップＳ１５)、ステップＳ１１～ステップＳ１２のループ処理に戻る。 【図７】 ［図：0001397129000011.jpg］ ここで、【図７】（ａ）より、TDFL（欠陥領域リスト）は、１つ以上であるから、欠陥領域リストが複数である構成を含むものである。 また、TDFL（欠陥領域リスト）は、欠陥領域についての情報である欠陥エントリーから構成されるから、TDFL（欠陥領域リスト）は欠陥領域を示すものといえる。 更に、上位制御装置からの読出コマンドの読出先が欠陥クラスタであるなら、欠陥クラスタの代替クラスタにアクセスすることが記載されていることから、上位装置からのアクセスが欠陥クラスタ（欠陥領域）であった場合に、欠陥クラスタの代わりの代替クラスタ（代替領域（スペア領域））にアクセスするものといえる。 よって、複数の欠陥領域リストに示される欠陥領域に対するアクセスが、上位装置から命じられた場合、当該欠陥領域の代わりに、当該欠陥領域に対応するスペア領域に対するアクセスを実行することが記載されているといえる。 したがって、訂正事項１７は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２６条第５項の規定に適合する。 ウ 実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更する訂正ではないことについて 訂正事項１７は、特許請求の範囲を減縮するものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではないから、特許法第１２６条第６項の規定に適合する。 （１０）独立特許要件について 訂正事項９～１７に係る訂正は、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるところ、訂正後の請求項５に記載されている事項により特定される発明について、特許出願の際独立して特許を受けることができないとする理由は見いだせない。 したがって、訂正事項９～１７は、特許法第１２６条第７項の規定に適合する。 （１１）請求項５に係る訂正についてのまとめ 以上のとおり、請求項５についての訂正は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第５項ないし第７項の規定に適合する。 第５ むすび 以上のとおり、本件訂正は、特許法第１２６条第１項ただし書第１号又は第４号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第５項ないし第７項の規定に適合する。 よって、結論のとおり審決する。