2022-014123

第２ 令和４年９月８日にされた手続補正についての補正の却下の決定

［補正の却下の決定の結論］

令和４年９月８日にされた手続補正を却下する。

［補正の却下の決定の理由］

１ 本件補正の内容

令和４年９月８日にされた手続補正（以下「本件補正」という。）は、次の(１)に示す本件補正前の特許請求の範囲の請求項１の記載を、後記の(２)に示す本件補正後の特許請求の範囲の請求項１の記載に補正することを含むものである。下線は補正箇所を示す。

(１) 本件補正前の特許請求の範囲の請求項１

「【請求項１】

共焦点光学系を有するセンサヘッドと、

複数の波長を有する照射光を発生させる投光部と、前記センサヘッドで受光される、前記照射光の反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部とを含むコントローラと、

前記センサヘッドと前記コントローラとの間において光を導く導光部と、

を備え、

前記制御部は、前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲の中央部にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、連続点灯または点滅の状態が異なる前記照射光を前記導光部を介して前記センサヘッド側へ伝達するように制御する、変位計測装置。」

(２) 本件補正後の特許請求の範囲の請求項１

「【請求項１】

共焦点光学系を有するセンサヘッドと、

複数の波長を有する照射光を発生させる投光部と、前記センサヘッドで受光される、前記照射光の反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部とを含むコントローラと、

前記センサヘッドと前記コントローラとの間において光を導く導光部と、

を備え、

前記制御部は、前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲の中央部にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、連続点灯または点滅の状態が異なる前記照射光を前記導光部を介して前記センサヘッド側へ伝達するように制御し、

前記制御部は、前記点滅の状態において、前記投光部の出力のピーク値が、前記連続点灯の状態にある場合の前記投光部の出力よりも高くなるように、前記投光部を制御する、変位計測装置。」

２ 本件補正の目的

本件補正のうち請求項１の補正は、本件補正前の請求項１の「制御部」について、「前記制御部は、前記点滅の状態において、前記投光部の出力のピーク値が、前記連続点灯の状態にある場合の前記投光部の出力よりも高くなるように、前記投光部を制御する」と限定をするものである。

そして、本件補正前の請求項１に記載された発明と、本件補正後の請求項１に記載される発明は、産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一である。

よって、本件補正のうち請求項１についての補正は、特許法１７条の２第５項２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。

３ 独立特許要件についての当審の判断

本件補正のうち請求項１についての補正は、特許法１７条の２第５項２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するから、本件補正後における請求項１に記載されている事項により特定される発明（以下「本件補正発明」という。）が、特許法１７条の２第６項において準用する同法１２６条７項の規定に適合するか、すなわち、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否かについて、以下検討を行う。

(１) 本件補正発明

本件補正発明は、前記１(２)に摘記した本件補正後の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものである。

(２) 引用文献に記載された事項及び引用発明等の認定

ア 引用文献４に記載された事項及び引用発明の認定

(ア) 引用文献４に記載された事項

原査定の拒絶の理由において引用された特開２０１５－５９８２５号公報（以下「引用文献４」という。）には、次の事項が記載されている。下線は合議体が付した。以下同様である。

ａ 段落【００２０】～【００２１】、【図１】

「【００２０】

［第１実施形態］

次に、本発明の第１実施形態に係る三次元測定装置について図面を参照して詳細に説明する。図１は、本施形態に係る三次元測定装置を構成するシステムの全体図である。この三次元測定装置は、三次元測定装置１の測定プローブとして本実施形態に係る非接触式の光学式プローブ１７を装着する事により構成されている。この三次元測定装置には、三次元測定装置１を駆動制御すると共にこの三次元測定装置１から必要な測定座標値を取り込むための駆動制御装置２と、この駆動制御装置２を介してこの三次元測定装置１を手動操作するための操作盤３と、駆動制御装置２での測定手順を指示するパートプログラムを編集・実行すると共に、駆動制御装置２を介して取り込まれた測定座標値に幾何形状を当てはめるための計算を行ったり、パートプログラムを記録、送信したりする機能を備えたホストシステム４とから構成されている。

【００２１】

三次元測定装置１は、次のように構成されている。即ち、除振台１０の上には、定盤１１がその上面をベース面として水平面と一致するように載置され、この定盤１１の両側端から立設されたアーム支持体１２ａ，１２ｂの上端でＸ軸ガイド１３を支持している。アーム支持体１２ａは、その下端がＹ軸駆動機構１４によってＹ軸方向に駆動され、アーム支持体１２ｂは、その下端がエアーベアリングによって定盤１１上にＹ軸方向に移動可能に支持されている。Ｘ軸ガイド１３は、垂直方向に延びるＺ軸ガイド１５をＸ軸方向に駆動する。Ｚ軸ガイド１５には、Ｚ軸アーム１６がＺ軸ガイド１５に沿って駆動されるように設けられ、Ｚ軸アーム１６の下端に非接触式の光学式プローブ１７が装着されている。尚、光学式プローブ１７は、水平面内で回転可能であっても良いし、当該水平面に対して垂直な面内で回転可能であっても良い。」

「【図１】

［図：0001405393000001.jpg］

」

ｂ 段落【００２２】～【００２５】、【図２】

「【００２２】

図２は、本施形態に係る三次元測定装置の光学式プローブ１７の構成を示す概略図、図３は同じく斜視図である。光学式プローブ１７は、筐体１７１と、筐体１７１内に配置された照射光学系１７２と、ワークを撮像する撮像装置１７３と、撮像装置１７３の出力に応じて照射光学系１７２の発光量を調整する制御回路１７４とを備えて構成されている。

【００２３】

照射光学系１７２は、所定の平面（照射面）Ｓ３に沿った照射光をワーク５に向けて照射する。照射光学系１７２は、レーザ光源１７２１及びビームエキスパンダ１７２３を備えて構成される。レーザ光源１７２１から発せられたレーザは、ビームエキスパンダ１７２３にて紙面に直交する方向に拡幅されて上記所定の平面Ｓ３に沿った照射光となる。なお、ビームエキスパンダ１７２３は、例えばロッドレンズ、又はシリンドリカルレンズである。尚、本明細書において「照射光」と言った場合には、照射光学系１７２から照射された後、ワーク５表面に到達する前の光を意味することとする。尚、本実施形態においては、点光源にシリンドリカルレンズ等を組合せて所定の平面に沿った照射光を発生させているが、ＬＥＤを直線状に並べ、フロスト等の光学系と組み合わせることによって直線状の光を作り出したもの等、他の方法を用いても良い。

【００２４】

ワーク５の表面に投射された投射光は、所定の平面Ｓ３とワーク５表面との交点の集合からなる直線又は曲線に沿って直線状又は曲線状に広がる。換言すれば、所定の平面Ｓ３によってワーク５を切断した場合の切断面の輪郭に、投射光が投射される。本明細書において「投射光」と言った場合には、照射光がワーク５の表面に到達し、当該表面で反射された撮像可能な線状の光を意味することとする。

【００２５】

撮像装置１７３は、投射光の波長を通過させるバンドパスフィルタ１７３１ａとレンズ１７３１ｂとを備えた光学系１７３１及び当該光学系１７３１を介してワーク５の画像を撮像するＣＭＯＳセンサ１７３２を備え、上記照射面Ｓ３とは異なる位置からワーク５を撮像する。即ち、ワーク５表面に投射され、ワーク５表面の形状に沿って反射された投射光を、撮像装置１７３によって所定の角度から受光する。尚、バンドパスフィルタ１７３１ａは、投射光以外のノイズ光を遮蔽し、投射光のみを透過させて、測定精度を向上させるという点で有効であるが、必須のものではなく、省略することも可能である。」

「【図２】

［図：0001405393000002.jpg］

」

ｃ 段落【００２６】、【図３】

「【００２６】

図３には、光学式プローブ１７を用いて照射された照射光及び投射光が示されている。図３（ａ）に示す通り、照射光学系１７２によってワーク５に投射光Ｌを投射すると、ワーク５表面の凹凸形状に沿って投射光が変形し、ワーク５を照射面Ｓ３で切断した時の輪郭が照らし出される。撮像装置１７３は、図３（ｂ）に示すように、上記所定の照射面Ｓ３とは異なる位置からワーク５を撮像し、当該位置から見た投射光Ｌの画像を、Ｌ′として取得する。」

「【図３】

［図：0001405393000003.jpg］

」

ｄ 段落【００２７】～【００２８】、【図４】

「【００２７】

図４は、照射光学系１７２及び撮像装置１７３の光学式プローブ１７内の配置を示す概略図である。なお、図４において、バンドパスフィルタ１７３１ａは省略している。

【００２８】

本実施の形態に係る光学式プローブ１７にはシャインプルーフの原理が利用されており、図４に示すように、ＣＭＯＳセンサ１７３２の撮像面を含む面（以下、「撮像面Ｓ１」と呼ぶ。）、レンズ１７３１ｂの主点を含む主平面Ｓ２、ワーク５に照射される照射光の照射面Ｓ３は、点Ｐに位置し、紙面に直交する１本の線で交わる。本実施形態においては、このような配置によって、ＣＭＯＳセンサ１７３２の撮像面Ｓ１上全体が照射面Ｓ３に対して合焦状態となる。ここで、照射光学系１７２と撮像装置１７３との距離は既知であり、撮像面Ｓ１と照射面Ｓ３との角度も既知である。更に、投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離は、ワーク５の表面において反射された投射光を受光した撮像素子の位置から特定される。従って、上記照射光学系１７２と撮像装置１７３との距離、撮像面Ｓ１と照射面Ｓ３との角度及び照射光が照射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離から、光学式プローブ１７とワーク５の投射光が投射された部分との位置関係を演算可能である。更に、光学式プローブ１７と定盤１１との位置関係はＸ軸ガイド１３、Ｙ軸駆動機構１４及びＺ軸ガイド１５等の内部に搭載されたエンコーダ等によって特定される。従って、定盤１１上における、ワーク５の投射光が投射された部分の位置を演算可能である。」

「【図４】

［図：0001405393000004.jpg］

」

ｅ 段落【００２９】、【図５】

「【００２９】

図５は、本実施形態に係るＣＭＯＳイメージセンサ１７３２を示す模式図である。ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２は受光面に行列状に配置された複数の撮像素子を備えており、本実施形態においては照射光の広がる方向（図４における上記照射面Ｓ３と撮像面Ｓ１との交線が延びる方向）に、例えば１０２４個、これと直交する方向に、例えば１２８０個の撮像素子（ＣＭＯＳセル）を有している。また、ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２は、ローリングシャッター機能を有している。ローリングシャッター機能とは、１つないし複数の行（または列）に配置されている撮像素子のみを同時に受光させ、この行単位（または列単位）の受光を列方向（または行方向）に順次行う方法である。例えば、図５においては、１列目に配置された撮像素子（太枠で強調されている撮像素子）の受光は、同時に行われる。この受光動作が終了すると、２列目、３列目と順次受光が行われる。」

「【図５】

［図：0001405393000005.jpg］

」

ｆ 段落【００３０】、【図６】

「【００３０】

図６は、ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２の撮像領域３２１及び観察領域３２２について説明するための模式図である。本実施形態に係る三次元測定装置においては、ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２中、主としてワーク５の撮像に使用される所定の領域を撮像領域３２１、撮像領域３２１を含むＣＭＯＳイメージセンサ１７３２の全領域を観察領域３２２とし、詳細な測定を行う場合には撮像領域３２１に配置された撮像素子のみを用いて三次元測定を行う。これにより、ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２のフレームレートを高くする事が可能である。尚、これら撮像領域３２１及び観察領域３２２はＣＭＯＳイメージセンサ１７３２の撮像面上の領域である。」

「【図６】

［図：0001405393000006.jpg］

」

ｇ 段落【００３１】～【００３２】、【図７】

「【００３１】

図７は、本実施形態に係る光学式プローブ１７の制御系統を表すブロック図である。制御回路１７４は、ＣＰＵ１７４１と、ＣＰＵ１７４１に接続されたプログラム記憶部１７４２、ワークメモリ１７４３、及び多値画像メモリ１７４４とを備えて構成されている。ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２で取得された画像情報は、多値画像メモリ１７４４に記憶される。ＣＰＵ１７４１は、多値画像メモリ１７４４に記憶された画像情報を参照して、光量制御部１７２４を介して照射光学系１７２の光量を調整する。

【００３２】

次に、この様に構成された三次元測定装置の動作について説明する。図４に示す通り、本実施形態においては撮像装置１７３が上記照射面Ｓ３とは異なる位置に配置されている。従って、ワーク５表面のある部分へ向かう照射光の方向と、当該部分において反射された投射光のうち、撮像装置１７３に向かう部分との方向とが異なっている。従って、例えば光学式プローブ１７とワーク５との距離が近付き過ぎてしまったり、離れ過ぎてしまった場合、ワーク５表面に照射された投射光が撮像装置１７３の撮像範囲外となってしまい、撮像を行うことが出来ない。投射光が撮像装置１７３の撮像領域３２１内において受光されているかどうかをホストシステム４のディスプレイ上から確認する場合、オペレータはディスプレイ及び定盤１１上のワーク５の両方を視認しなければならず、操作性の低下を招いてしまう。」

「【図７】

［図：0001405393000007.jpg］

」

ｈ 段落【００３３】～【００３７】、【図８】

「【００３３】

図８は、本実施形態に係る三次元測定装置の動作を示すためのフローチャートである。本実施形態においては、投射光が撮像装置１７３の撮像領域３２１内において受光されているかどうかを、投射光の点滅状態によって示すことが可能である。即ち、本実施形態に係る三次元測定装置は、測定に際してワーク５に照射光を照射し、ＣＭＯＳイメージセンサ１７３２の撮像面中、撮像領域３２１内において投射光が撮像されているか、例えば撮像領域３２１内に配置された撮像素子の受光量が閾値を上回っているか否かを確認し（ステップＳ１０１）、撮像領域３２１内に配置された撮像素子のうち、受光量が閾値を上回っている撮像素子が存在する場合には照射光学系１７２から照射される光を点灯させ（ステップＳ１０２）、撮像領域内３２１に配置された撮像素子のうち、受光量が閾値を上回っている撮像素子が存在しない場合には照射光学系１７２から照射される光を所定の周期で、オペレータが視認可能な光量（例えば０近傍の光量及び所定の光量）にて点滅させる（ステップＳ１０３）。なお、ステップＳ１０１では、撮像領域３２１内の全ての撮像素子のうち、受光量が閾値を上回っているものが占める割合によって判定しても良い。

【００３４】

このような態様においては、光学式プローブ１７とワーク５との距離が、撮像装置１７３によってワーク５表面に投射された投射光を撮像することが可能な距離範囲内である場合に投射光が点灯し、光学式プローブ１７とワーク５との距離が、当該距離範囲を超えた場合には投射光が点滅する。従って、オペレータはワーク５表面に照射された投射光の状態を視認するだけで光学式プローブ１７とワーク５との距離が適切であるか否かを確認することが可能であり、操作性にすぐれた三次元測定装置を提供することが可能である。また、光学式プローブ１７とワーク５との距離が適切でない場合にはワーク５の形状を測定することが出来ない為、このようなタイミングで照射光学系１７２から照射される光を点滅させても測定には影響を及ぼすことが無い。

【００３５】

尚、上記「点灯」とは、オペレータ等から見て照射光ないし投射光が連続的に発光している状態であり、上記「点滅」とは、オペレータ等から見て点滅している、と認められる状態である。従って、例えばＰＷＭ制御等によって照射光学系１７２が制御されている場合であっても、オペレータ等から見て連続的に発光していると判断可能である場合には、「点滅」では無く「点灯」しているものとする。

【００３６】

また、本発明によれば光学式プローブ１７にレーザポインタや他の照明光源を設ける必要が無いため、上述した発熱によって生じる種々の問題を抑制することが可能であり、また、部品点数の削減によって光学式プローブ１７の小型化及び低コスト化を図ることも可能である。更に、測定不能な状況で照射光学系が点滅するので、消費電力も抑えられる。

【００３７】

更に、本実施形態に係る方法はソフトウェアやファームウェア等によって安価に実現することが可能であり、既存の三次元測定装置に適用することも可能である。また、例えば本発明をソフトウェア等によって実現し、当該ソフトウェア等によって既存の装置に搭載された指示光発光部をＯＦＦにする様に構成した場合、既存の装置を用いた場合にも上記熱による問題を回避しつつ操作性を向上させることが可能である。」

「【図８】

［図：0001405393000008.jpg］

」

(イ) 引用発明の認定

前記(ア)において摘記した事項を総合すると、引用文献４には次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。

［引用発明］

「 測定プローブとして非接触式の光学式プローブ１７を装着する事により構成されている三次元測定装置１であって、（【００２０】）

三次元測定装置１を駆動制御すると共にこの三次元測定装置１から必要な測定座標値を取り込むための駆動制御装置２と、この駆動制御装置２を介してこの三次元測定装置１を手動操作するための操作盤３と、駆動制御装置２での測定手順を指示するパートプログラムを編集・実行すると共に、駆動制御装置２を介して取り込まれた測定座標値に幾何形状を当てはめるための計算を行ったり、パートプログラムを記録、送信したりする機能を備えたホストシステム４とから構成されており、（【００２０】）

光学式プローブ１７は、筐体１７１と、筐体１７１内に配置された照射光学系１７２と、ワークを撮像する撮像装置１７３と、撮像装置１７３の出力に応じて照射光学系１７２の発光量を調整する制御回路１７４とを備えて構成されており、（【００２２】）

照射光学系１７２は、所定の平面（照射面）Ｓ３に沿った照射光をワーク５に向けて照射するものであり、レーザ光源１７２１及びビームエキスパンダ１７２３を備えて構成されており、（【００２３】）

ワーク５の表面に投射された投射光は、所定の平面Ｓ３とワーク５表面との交点の集合からなる直線又は曲線に沿って直線状又は曲線状に広がり、所定の平面Ｓ３によってワーク５を切断した場合の切断面の輪郭に、投射光が投射され、（【００２４】）

撮像装置１７３は、上記照射面Ｓ３とは異なる位置からワーク５を撮像するものであり、ワーク５表面に投射され、ワーク５表面の形状に沿って反射された投射光が、撮像装置１７３によって所定の角度から受光され、（【００２５】）

投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離は、ワーク５の表面において反射された投射光を受光した撮像素子の位置から特定され、（【００２８】）

光学式プローブ１７とワーク５との距離が、撮像装置１７３によってワーク５表面に投射された投射光を撮像することが可能な距離範囲内である場合に投射光が点灯し、光学式プローブ１７とワーク５との距離が、当該距離範囲を超えた場合には投射光が点滅し、オペレータはワーク５表面に照射された投射光の状態を視認するだけで光学式プローブ１７とワーク５との距離が適切であるか否かを確認することが可能であり、（【００３４】）

上記「点灯」とは、オペレータ等から見て照射光ないし投射光が連続的に発光している状態であり、上記「点滅」とは、オペレータ等から見て点滅している、と認められる状態である、（【００３５】）

三次元測定装置１。」

イ 引用文献５、６に記載された事項と周知技術１の認定

(ア) 引用文献５に記載された事項

原査定の拒絶の理由において引用された特開２０１３－１７４５９４号公報（「引用文献５」という。）には、次の事項が記載されている。

「【００１８】

図１は、本発明の一実施形態のクロマティック・レンジ・センサ（ＣＲＳ）測定装置１００のブロック図である。図１に示すように、ＣＲＳ測定装置１００は、光学要素１２０と、ＣＰＳ電子機器部（以下、単に電子機器部）１６０とを含む。図１に示す実施形態では、電子機器部１６０は、信号演算器１６６と、記憶部１６８と、ＣＰＳ波長検出器（以下、単に波長検出器）１６２及び広波長帯域光源１６４（白色光源とも呼ばれる）からなるサブシステム（光源＋検出器）１６１とを含む。図１のＣＲＳ測定装置１００は、同時に１つの測定点を測定するクロマティック・ポイント・センサ測定装置である。図１の光学要素１２０は光学ペンである。しかし、様々な実施形態では、クロマティック・ライン・センサといった、クロマティック・レンジ・センサの変形タイプを、ここに開示された装置及び方法に従って動作させるために構成してもよい。

【００１９】

様々な実施形態において、波長検出器１６２は、分光計の検出器アレイ１６３を含む。検出器アレイ１６３は、波長検出器１６２の測定軸に沿って配列された複数のピクセルから構成されていてもよい。なお、それら複数のピクセルは、それぞれの波長光を受光して、出力スペクトルプロファイルのデータを供給する。

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【００２０】

電子機器部１６０は、光ファイバケーブル１１２を含む光路を通じて、光学要素１２０に連結されている。図１に示す実施形態には、上記光路についての任意選択による態様、または代替の態様を示す。例えば、その光路は、光ファイバセグメント１１２Ｂの接続子ＣＯＮＮＥＣＴ－Ｄで接続された第１セグメント１１２Ａ及び第２セグメント１１２Ｂと、第２セグメント１１２Ｂを電子機器部１６０に接続する連結器ＣＯＵＰＬＥＲ－Ｏとを含む。光源１６４は、波長光のスペクトルプロファイル（入力光）を入力するために光ファイバケーブル１１２に接続されている。

【００２１】

光学要素１２０は、入出力（Ｉ／Ｏ）用の光ファイバ・サブアセンブリ１０５と、筐体１３０と、光学系部分１５０とを含む。入出力用の光ファイバ・サブアセンブリ１０５は、入出力用の光ファイバ１１３と、光ファイバ接続子１０８とを備える。入出力用の光ファイバ１１３は、この光ファイバ１１３を包んでいる光ファイバケーブル１１２から延長されたものである。入出力用の光ファイバ１１３は、開口部１９５を通して出力ビームを出力すると共に、反射された測定信号光（反射光）を開口部１９５を通して受け取る。

【００２２】

動作中、ファイバ端部からの放射光は、開口部１９５を通して、光学系部分１５０により合焦する。その光学系部分１５０は、クロマティック共焦点センサで既知のように、光軸方向の色分散を供給するレンズを含んでいる。この光軸方向の色分散とは、光軸ＯＡに沿った焦点が光の波長に応じて異なった距離の位置に生じることを言う。より詳細に後述するように、測定動作中、ワーク１７０の表面位置（被測定面）１９０上で光の焦点が合う。光が表面位置１９０を反射すると、光学系部分１５０によって開口部１９５上で再び光の焦点が合う。光学系部分１５０によって提供される光軸方向の色分散により、１つの波長光のみが、測定距離「Ｚ」に一致する焦点距離を有することになる。

【００２３】

その測定距離Ｚは、光学要素１２０に関連する固定の基準位置ＲＰから表面位置１９０までの距離を示す。表面位置１９０で最もよく焦点が合う波長光が、開口部１９５において最もよく焦点が合う波長光にもなるように、クロマティック・レンジ・センサ（ＣＲＳ）が形成されている。最も良く焦点の合った波長が、主に開口部１９５を通過して光ファイバケーブル１１２の光ファイバ１１３のコアに入るように、開口部１９５は、反射光を空間的にフィルタリングしている。以下の詳細な記載にあるように、光ファイバケーブル１１２は、信号光を波長検出器１６２に伝搬する。この波長検出器１６２は、表面位置１９０までの測定距離Ｚに応じた波長で、かつ、主強度を有する波長を決定するために利用される。

【００２４】

通常測定の動作中、広波長帯域光源１６４は、信号演算器１６６により制御され、光ファイバの経路を通じてＣＲＳ光学要素１２０に連結されている。この光ファイバの経路は、照明ファイバセグメント１６５Ｉ、２×１連結器ＣＯＵＰＬＥＲ－Ｅ、ＣＯＮＮＥＣＴ－Ｅ、および光ファイバケーブル１１２を含んでいる。上述したように、光は、長軸方向の色収差を生じさせる光学要素１２０を通じて進行する。開口部１９５を通って光ファイバケーブル１１２内に最も効率よく戻ってくる光の波長は、表面位置１９０上で焦点の合う波長である。次に、反射された波長依存性の光強度は、光ファイバの経路を通って、電子機器部１６０及び連結器ＣＯＵＰＬＥＲ－Ｅまで戻って行く。その結果、光の約５０％が、信号ファイバセグメント１６５Ｓを通って、波長検出器１６２に向けられるようになる。波長検出器１６２は、波長依存性の光強度を受け取り、その光強度を検出器アレイ１６３の測定軸に沿ってピクセルの配列に渡って分布する出力スペクトル強度プロファイル（単に出力スペクトルプロファイルとも呼ばれる。）に変換する。そして、波長検出器１６２は、検出器アレイ１６３から出力されるピクセルデータに基づいて対応する出力スペクトルプロファイルデータを供給するように動作する。

【００２５】

プロファイルデータ（出力スペクトルプロファイルデータ）についてのサブピクセル分解能を有する距離表示座標（ＤＩＣ：distance-indicating coordinate）が、信号演算器１６６によって計算される。そして、図４について後でさらに述べるように、計算されたＤＩＣが、距離校正のルックアップテーブル等を介して表面位置１９０までの測定距離Ｚを決める。距離校正のルックアップテーブル等は、記憶部１６８に記憶されている。距離表示座標（ＤＩＣ）は、さらに後述する様々な方法（例えば、プロファイルデータのピーク領域に含まれるプロファイルデータの重心を決定する方法）によって、決定され得る。距離表示座標（ＤＩＣ）が校正動作中に決定される場合は、そのＤＩＣを校正距離表示座標と呼ぶ。また、距離表示座標（ＤＩＣ）がワーク表面の測定動作中に決定される場合は、そのＤＩＣを測定距離表示座標と呼ぶ。サブピクセルの距離表示座標の決定に使用されるプロファイルデータについては、後でさらに詳細に説明する。

【００２６】

図１は、基本的骨格として、ＸＹＺ直交座標軸を含んでいる。Ｚ方向は、光学要素１２０の光軸または距離の測定軸に平行するものとして定義されている。図１に示すように、動作中、ワーク１７０は、光学要素１２０の光軸ＯＡに沿って配置される。一実施形態では、ワーク１７０は、移動ステージ１７５上に載置された状態で、位置合わせされる。有利なことには、ガイドベアリング１７５Ｂによって拘束されたＺ軸方向に沿って、それ（ワーク１７０）が移動できて、その表面１７５ＡがＸＹ平面に名目上平行な状態になるように、その移動ステージ１７５自体が位置合わせされ得るようになっている。ＣＲＳ測定装置１００の他の例示的な特徴および動作について、より詳細に後述する。」

「【図１】

［図：0001405393000009.jpg］

」

(イ) 引用文献６に記載された事項

原査定の拒絶の理由において引用された特開２０１３－６８５２３号公報（以下「引用文献６」という。）には、次の事項が記載されている。

「【００１８】

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。

（実施の形態１）

図１は、本発明の実施の形態１に係る光学計測装置の構成を示す模式図である。図１に示す光学計測装置は、共焦点光学系を利用して計測対象物２００の変位（計測対象物２００までの距離の変化）を計測する共焦点計測装置１００である。共焦点計測装置１００で計測する計測対象物２００には、たとえば液晶表示パネルのセルギャップなどがある。

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【００１９】

共焦点計測装置１００は、共焦点の光学系を有するヘッド部１０、光ファイバ１１を介して光学的に接続されたコントローラ部２０、コントローラ部２０から出力される信号を表示するモニタ部３０、後述するヘッド部１０の個体情報を記憶した記憶部４０を備えている。

【００２０】

ヘッド部１０は、回折レンズ１、回折レンズ１より計測対象物２００側に配置された対物レンズ２を備えている。回折レンズ１の焦点距離は、回折レンズから対物レンズまでの距離と、対物レンズの焦点距離との差より大きくしてある。

【００２１】

ここで、回折レンズ１は、後述する複数の波長の光を出射する光源（たとえば、白色光源）から出射する光に、光軸方向に沿って色収差を生じさせる光学素子である。回折レンズ１は、レンズの表面に、たとえばキノフォーム形状あるいはバイナリ形状（ステップ形状、階段形状）などの微細な起伏形状を周期的に形成するか、光の透過率を周期的に変更する振幅型のゾーンプレートを形成してある。なお、回折レンズ１の構成は、上記の記載の構成に限定されるものではない。

【００２２】

対物レンズ２は、回折レンズ１で色収差を生じさせた光を計測対象物２００に集光する光学素子である。なお、共焦点計測装置１００は、複数の波長の光を出射する光源に、白色光源を用いる場合について以下に説明する。

【００２３】

白色光源から出射する光は、光ファイバ１１を介してヘッド部１０に導かれている。光ファイバ１１から出射する光を、回折レンズ１で有効に利用するには、光ファイバ１１の開口数（ＮＡ：numerical aperture）と回折レンズ１の開口数とを一致させる必要がある。そのため、光ファイバ１１と回折レンズ１との間に集光レンズ３を設けて、光ファイバ１１の開口数と回折レンズ１の開口数とが一致するように調整している。

【００２４】

光ファイバ１１は、ヘッド部１０からコントローラ部２０までの光路であるとともに、ピンホールとしても機能している。つまり、対物レンズ２で集光した光のうち、計測対象物２００で合焦する光は、光ファイバ１１の開口部で合焦することになる。そのため、光ファイバ１１は、計測対象物２００で合焦しない波長の光を遮光し、計測対象物２００で合焦する光を通過させるピンホールとして機能することになる。ヘッド部１０からコントローラ部２０までの光路に光ファイバ１１を用いることで、ピンホールが不要となる。

【００２５】

共焦点計測装置１００は、ヘッド部１０からコントローラ部２０までの光路に光ファイバ１１を用いるので、ヘッド部１０をコントローラ部２０に対してフレキシブルに移動することが可能になる。

【００２６】

コントローラ部２０は、白色光源である白色ＬＥＤ（Light Emitting Diode）２１、分岐光ファイバ２２、分光器２３、撮像素子２４、制御回路部２５を備えている。白色光源として白色ＬＥＤ２１を用いているが、白色光を出射することができる光源であれば他の光源であってもよい。

【００２７】

分岐光ファイバ２２は、光ファイバ１１と接続する側に一本の光ファイバ２２ａ、反対側に二本の光ファイバ２２ｂ、２２ｃを有している。なお、光ファイバ２２ｂは白色ＬＥＤ２１に、光ファイバ２２ｃは分光器２３にそれぞれ接続してある。そのため、分岐光ファイバ２２は、白色ＬＥＤ２１から出射する光を光ファイバ１１に導くとともに、光ファイバ１１を介してヘッド部１０から戻る光を分光器２３に導くことができる。

【００２８】

分光器２３は、ヘッド部１０から戻る光を反射する凹面ミラー２３ａ、凹面ミラー２３ａで反射した光が入射する回折格子２３ｂ、回折格子２３ｂから出射する光を集光する集光レンズ２３ｃを有している。分光器２３は、ヘッド部１０から戻る光を波長ごとに分けることができれば、ツェルニターナ型、リトロー型などのいずれの構成であってもよい。

【００２９】

撮像素子２４は、分光器２３から出射する光の強度を測定するラインＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）やＣＣＤ（Charge Coupled Device）である。ここで、共焦点計測装置１００では、分光器２３および撮像素子２４で、ヘッド部１０から戻る光の強度を波長ごとに測定する測定部を構成している。なお、測定部は、ヘッド部１０から戻る光の強度を波長ごとに測定することができれば、ＣＣＤなどの撮像素子２４の単体で構成してもよい。また、撮像素子２４は、２次元のＣＭＯＳや２次元のＣＣＤであってもよい。

【００３０】

制御回路部２５は、白色ＬＥＤ２１や撮像素子２４などの動作を制御する分光制御回路部２５ａと、撮像素子２４から出力された信号を処理する信号処理回路部２５ｂとを有している。さらに、制御回路部２５は、白色ＬＥＤ２１や撮像素子２４などの動作を調整するための信号や、後述するヘッド部１０の個体情報を入力するための入力インターフェース２５ｃと、モニタ部３０と電気的に接続し、撮像素子２４の信号を処理した結果を出力するための出力インターフェース２５ｄとを有している。

【００３１】

なお、コントローラ部２０は、分光器２３、撮像素子２４および制御回路部２５の分光制御回路部２５ａで、ヘッド部１０で受光した光を電気信号に変換する光学ユニットを構成している。制御回路部２５の信号処理回路部２５ｂは、光学ユニットで変換した電気信号に対して演算を行ない、計測結果を出力する。

【００３２】

モニタ部３０は、撮像素子２４が出力した信号を表示する。モニタ部３０は、ヘッド部１０から戻る光のスペクトル波形を描画し、計測対象物２００の距離が、たとえば１２３．４５μｍであることを表示する。

【００３３】

記憶部４０は、製造されるヘッド部１０のそれぞれの個体に対して関係付けられ、コントローラ部２０で行なう演算に必要なヘッド部１０の情報を個体情報として記憶する。ここで、計測対象物２００の変位を計測する共焦点計測装置１００の場合、ヘッド部１０の個体情報は、後述する波長－距離補正係数である。」

「【図１】

［図：0001405393000010.jpg］

」

(ウ) 周知技術１の認定

前記(ア)及び(イ)に摘記した事項に例示されるように、次の事項は当業者にとって周知技術であったと認められる（以下「周知技術１」という）。

［周知技術１］

「 共焦点光学系を有するセンサヘッドと、

複数の波長を有する照射光を発生させる投光部と、前記センサヘッドで受光される、前記照射光の反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部とを含むコントローラと、

前記センサヘッドと前記コントローラとの間において光を導く導光部と、

を備えた、変位計測装置。」

ウ 引用文献８に記載された事項と技術常識１の認定

(ア) 引用文献８に記載された事項

当審において新たに引用する特開２０１２－２０８１０２号公報（以下「引用文献８」という。）には、次の事項が記載されている。

「【００８２】

次に、図１２は、本発明の実施の形態２に係る共焦点計測装置１００の白色ＬＥＤと光ファイバとの結合部の構成を示す概略図である。図１２に示す白色ＬＥＤ２１と光ファイバ２２ｂとの結合部は、保持筐体２１０、ファイバ留め具２１１を含んでいる。保持筐体２１０には、白色ＬＥＤ２１を実装した基板２１ａをネジなどで固定してある。保持筐体２１０は、アルミ合金等の金属製であり、白色ＬＥＤ２１を点灯したときに発生する熱を基板２１ａ介して放熱しやすくなっている。なお、白色ＬＥＤ２１は、発熱量を抑えるためにはパルス点灯が望ましいが、ノイズを抑えるためには連続点灯の方が望ましい。」

「【００８８】

次に、本発明の実施の形態２に係る共焦点計測装置１００では、安定した測定結果を得るために白色ＬＥＤ２１の発光強度を調整している。つまり、共焦点計測装置１００は、白色ＬＥＤ２１の発光強度が大きすぎると、撮像素子２４の受光波形が飽和してしまうため正しいピークを得ることができず、逆に白色ＬＥＤ２１の発光強度が小さすぎると、撮像素子２４の受光波形がノイズに埋もれてしまうため正しいピークを得ることができない。

【００８９】

また、白色ＬＥＤ２１の分光スペクトルは、前述したように、波長に対して発光強度が変化して一定ではない。そのため、安定した測定結果を得るために白色ＬＥＤ２１の発光強度を調整する必要がある。

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【００９０】

図１４は、撮像素子２４の受光波形と閾値の関係を示した図である。安定した測定結果を得るために、撮像素子２４の受光波形のピークが第１閾値と第２閾値との間となるように白色ＬＥＤ２１の発光強度を調整する。

【００９１】

図１５は、白色ＬＥＤ２１の発光強度を調整する動作を説明するためのフローチャートである。まず、撮像素子２４は、図１４に示すような受光波形を取込む（ステップＳ１５１）。次に、図１に示す制御回路部２５は、撮像素子２４で取込んだ受光波形にピークが含まれているか否かを判断する（ステップＳ１５２）。制御回路部２５は、撮像素子２４で取込んだ受光波形にピークが含まれていないと判断した場合（ステップＳ１５２：ＮＯ）、白色ＬＥＤ２１の発光強度が大きくなるように、投入電流を大きくしたり、発光パルス幅を広くしたりする（ステップＳ１５３）。

【００９２】

制御回路部２５は、撮像素子２４で取込んだ受光波形にピークが含まれていると判断した場合（ステップＳ１５２：ＹＥＳ）、受光波形のピークが図１４に示すような第１閾値以上であるか否かを判断する（ステップＳ１５４）。制御回路部２５は、受光波形のピークが第１閾値以上でない（第１閾値より小さい）と判断した場合（ステップＳ１５４：ＮＯ）、処理をステップＳ１５３に進め、白色ＬＥＤ２１の発光強度が大きくなるように、投入電流を大きくしたり、発光パルス幅を広くしたりする。

【００９３】

制御回路部２５は、受光波形のピークが第１閾値以上であると判断した場合（ステップＳ１５４：ＹＥＳ）、受光波形のピークが図１４に示すような第２閾値より小さいか否かを判断する（ステップＳ１５５）。制御回路部２５は、受光波形のピークが第２閾値より小さくない（第２閾値以上）と判断した場合（ステップＳ１５５：ＮＯ）、白色ＬＥＤ２１の発光強度が小さくなるように、投入電流を小さくしたり、発光パルス幅を狭くしたりする（ステップＳ１５６）。

【００９４】

制御回路部２５は、受光波形のピークが第２閾値より小さいと判断した場合（ステップＳ１５５：ＹＥＳ）、処理を終了する。」

「【図１】

［図：0001405393000011.jpg］

」

「【図１４】

［図：0001405393000012.jpg］

」

「【図１５】

［図：0001405393000013.jpg］

」

(イ) 技術常識１の認定

前記(ア)に摘記した事項に例示されるように、次の事項は当業者にとって技術常識であったと認められる（以下「技術常識１」という）。

［技術常識１］

「光学的計測装置の光源の発光強度が小さくて受光信号がノイズに埋もれてしまうことのないように、光源の発光強度が大きくなるように制御すること。」

(３) 対比・判断

ア 対比

(ア) 対比分析

本件補正発明と引用発明を対比する。

ａ(ａ) 引用発明の「三次元測定装置１」は、「投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離」が「特定」されるものである。

(ｂ) ここで、「ワーク５」の表面形状については任意のものが想定されるから、「投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離」は、「ワーク５の表面の位置」により変化することは明らかである。

(ｃ) そして、「ワーク５の表面の位置」による距離の変化は、「照射光学系１７２」を基準としてみると「ワーク５の表面」の変位であるといえるから、引用発明の「三次元測定装置１」は、変位を計測する装置であるといえる。

(ｄ) したがって、本件補正発明と引用発明は、「変位計測装置」の発明である点において一致する。

ｂ(ａ) 引用発明の「光学式プローブ１７」の「筐体１７１」は、本件補正発明の「センサヘッド」に相当する。

(ｂ) ここで、引用発明においては、「照射光学系１７２と、ワークを撮像する撮像装置１７３」が「筐体１７１内に配置され」ているところ、「照射光学系１７２」は「照射光をワーク５に向けて照射するものであり」、「撮像装置１７３」においては「ワーク５表面に投射され、ワーク５表面の形状に沿って反射された投射光が、撮像装置１７３によって所定の角度から受光され」るから、「光学式プローブ１７」の「筐体１７１」は、照射光学系及び受光光学系を有するものであるといえる。

(ｃ) そうすると、本件補正発明の「共焦点光学系を有するセンサヘッド」と引用発明の照射光学系及び受光光学系を有する「光学式プローブ１７」の「筐体１７１」は、「照射光を照射する照射光学系及び反射光を受光する受光光学系を有するセンサヘッド」である点において共通する。

(ｄ) したがって、本件補正発明と引用発明は、「照射光を照射する照射光学系及び反射光を受光する受光光学系を有するセンサヘッドを備える」点において共通する。

ｃ(ａ) 引用発明においては、「投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離は、ワーク５の表面において反射された投射光を受光した撮像素子の位置から特定され」るところ、前記ｂの検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出」する点において共通する。

(ｂ) 引用発明の「ホストシステム４」は、制御部を含むコントローラであることは自明であるところ、「駆動制御装置２を介して取り込まれた測定座標値に幾何形状を当てはめるための計算を行［う］」ものであるから、「投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離」は、「ホストシステム４」において算出されているといえる。

(ｃ) したがって、本件補正発明と引用発明は、「前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部を含むコントローラを備える」という点において共通する。

ｄ(ａ) 本件補正発明の「規定距離範囲」とは、「変位計測装置の計測可能な距離の範囲として予め規定された範囲」を意味するところ（本願の明細書段落【０００５】を参照）、引用発明の「撮像装置１７３によってワーク５表面に投射された投射光を撮像することが可能な距離範囲」は、本件補正発明の「規定距離範囲」に相当する。

(ｂ) 引用発明においては、「光学式プローブ１７とワーク５との距離が、撮像装置１７３によってワーク５表面に投射された投射光を撮像することが可能な距離範囲内である場合に投射光が点灯し、光学式プローブ１７とワーク５との距離が、当該距離範囲を超えた場合には投射光が点滅」するから、規定距離範囲にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、連続点灯または点滅の状態が異なる照射光となるように制御しているといえる。

(ｃ) したがって、本件補正発明と引用発明は、「前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、連続点灯または点滅の状態が異なる前記照射光となるように制御する」点において共通する。

(イ) 一致点及び相違点の認定

前記(ア）の対比分析の検討結果をまとめると、本件補正発明と引用発明は、次の一致点において一致し、以下の相違点において相違する。

ａ 一致点

「照射光を照射する照射光学系及び反射光を受光する受光光学系を有するセンサヘッドと、

前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部を含むコントローラと、

を備え、

前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、連続点灯または点滅の状態が異なる前記照射光となるように制御する、変位計測装置」である点。

ｂ 相違点

本件補正発明においては、以下の構成Ａ～Ｃを備えるのに対して、

引用発明においては、光学式プローブ１７は共焦点光学系を有しておらず、導光部がなく、光学式プローブ１７の制御回路１７４により照射光学系１７２の発光量が調整されており、点滅状態における投射光出力を点灯状態における投射光出力よりも高くしていない点。

＜構成Ａ＞

「センサヘッド」は「共焦点光学系を有する」ものであり、

「コントローラ」は「複数の波長を有する照射光を発生させる投光部と、前記センサヘッドで受光される、前記照射光の反射光を受光する受光部と」を含み、

「前記センサヘッドと前記コントローラとの間において光を導く導光部と」を備え、

「制御部」における「前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出」が「前記受光部の受光量に基づいて」行われること

＜構成Ｂ＞

「前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲にあるかどうか」の「判定」が「コントローラ」に含まれる「制御部」により行われ、

「前記センサヘッドと前記反射位置との間の前記距離が規定距離範囲の中央部にあるかどうか」の判定であり、

「その判定結果に応じて」行われる照射光の制御が、「連続点灯または点滅の状態が異なる前記照射光を前記導光部を介して前記センサヘッド側へ伝達するように制御」するものであること

＜構成Ｃ＞

「前記制御部は、前記点滅の状態において、前記投光部の出力のピーク値が、前記連続点灯の状態にある場合の前記投光部の出力よりも高くなるように、前記投光部を制御する」こと

イ 判断

前記相違点について検討する。

(ア) 構成Ａについて

ａ 次の変位計測装置は、当業者にとって周知技術である（前記周知技術１を参照）。

「共焦点光学系を有するセンサヘッドと、

複数の波長を有する照射光を発生させる投光部と、前記センサヘッドで受光される、前記照射光の反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて前記センサヘッドと前記反射光の反射位置との間の距離を算出する制御部とを含むコントローラと、

前記センサヘッドと前記コントローラとの間において光を導く導光部と、

を備えた、変位計測装置」

ｂ 引用発明において、「投射光が投射されたワーク５の表面の位置と照射光学系１７２との距離」の計測のために前記周知技術１を適用して、共焦点変位計測装置として構成することにより、前記相違点に係る構成Ａを備えるようにすることは、当業者にとって自明の設計変更にすぎない。

(イ) 構成Ｂについて

ａ 引用発明において、前記周知技術１を適用して、共焦点変位計測装置として構成した際、「光学式プローブ１７とワーク５との距離が、撮像装置１７３によってワーク５表面に投射された投射光を撮像することが可能な距離範囲内である」か否かの判定を「コントローラ」に含まれる「制御部」において行うようにすることや、その判定結果に応じて、連続点灯又は点滅の状態が異なる照射光を「導光部を介してセンサヘッド側へ伝達するように」制御することは、共焦点変位計測装置の各構成要素の機能を考慮すると、自然に導かれる事項にすぎない。

ｂ また、上記距離範囲内の「中央部」にあるか否かについて判定するように構成することは、測定精度を向上させるために当業者が適宜好適化した事項にすぎない。

ｃ したがって、引用発明において、前記相違点に係る構成Ｂを備えるようにすることは、当業者にとって格別困難性はない。

(ウ) 構成Ｃについて

ａ 「光学的計測装置の光源の発光強度が小さくて受光信号がノイズに埋もれてしまうことのないように、光源の発光強度が大きくなるように制御すること」は、当業者にとって技術常識である（前記技術常識１を参照）。

ｂ 引用発明において、点滅状態では発光している時間が断続的であり、連続点灯の場合と比べて受光信号の強度が低下してしまうことは明らかであるから、前記技術常識１をわきまえた当業者ならば、点滅状態における受光信号のＳ／Ｎ比を向上するために、点滅する投射光出力のピーク値が、連続点灯の投射光出力よりも高くなるように制御することは、自明な設計変更にすぎない。

ｃ したがって、引用発明において、前記相違点に係る構成Ｃを備えるようにすることは、当業者にとって格別困難性はない。

(エ) 総合評価

前記(ア)～(ウ)に検討したとおり、前記相違点に係る本件補正発明の構成Ａ～Ｃを備えるようにすることは、当業者が容易に想到し得たことである。

また、本件補正発明の奏する効果としては、当該構成のものとして当業者が予測困難であり、かつ、格別顕著な効果を認めることはできない。

したがって、本件補正発明は、引用発明、周知技術１及び技術常識１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。

(４) 請求人の主張について

ア 審判請求書の主張内容

請求人の主張は、概略次のとおりである。

(ア) 引用文献４について

引用文献４の図８および［００３３］によれば、撮像領域内３２１に配置された撮像素子のうち、受光量が閾値を上回る撮像素子が存在しない場合に、照射光学系から照射される光を所定の周期で点滅させるから、引用文献４の発明では、点滅状態における受光量は、連続点灯状態にある場合の受光量よりも小さいと考えられる。

したがって、引用文献４は、点滅状態時の投光部の出力のピーク値を連続点灯の状態にある場合の投光部の出力よりも高くすることを開示も示唆もしておらず、当業者は、引用文献４の開示からは、点滅状態時の投光部の出力のピーク値を連続点灯の状態にある場合の投光部の出力よりも高くするということを容易に想到できない。

(イ) 引用文献５、６について

引用文献５、６は、いずれも共焦点光学系を有するセンサヘッドを備えた計測装置を開示するが、引用文献５、６のいずれも、センサヘッドと表面との間の距離が規定距離範囲の中央部にあるかどうかを判定し、その判定結果に応じて、光ビーム源を連続点灯と点滅とで切り替えることについて開示も示唆もしておらず、点滅状態時の投光部の出力のピーク値を連続点灯の状態にある場合の投光部の出力よりも高くすることも開示も示唆もしていない。

(ウ) 本件補正発明の奏する効果について

補正後の請求項１に係る発明は、「前記制御部は、前記点滅の状態において、前記投光部の出力のピーク値が、前記連続点灯の状態にある場合の前記投光部の出力よりも高くなるように、前記投光部を制御する」という技術的特徴を備えることにより、点滅状態でも受光部の受光量が大きくなり、受光部において受光波形を取得しやすくなるという効果を得ることができる（本願明細書の［００４２］）。この効果は、引用文献の各々およびそれらの組み合わせからは得ることができない顕著な効果である。

イ 請求人の主張に対する当審の判断

請求人の主張は、要するに前記相違点に係る構成についてのものであるところ、前記相違点については、前記(３)イ(イ)において説示したとおり、引用発明、周知技術１及び技術常識１に基づいて当業者が容易に想到し得たことである。

また、請求人の主張する効果について検討しても、当業者が予測困難であり、かつ、格別顕著な効果であるとはいえない。

したがって、請求人の主張を採用することはできない。

(５) 小括

以上検討のとおり、本件補正発明は、特許法２９条２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができない。

よって、本件補正は、同法１７条の２第６項において準用する同法１２６条７項の規定に違反するから、同法１５９条１項において読み替えて準用する同法５３条１項の規定により却下すべきものである。

したがって、前記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。

第３ 本願発明について

１ 本願発明について

本件補正は、前記第２のとおり却下されたので、本願の請求項１～６に係る発明は、令和４年２月８日に提出された手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１～６に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められるところ、そのうち、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は前記第２の１(１)に摘記した事項により特定されるとおりである。

２ 拒絶の理由の概要

原査定の拒絶の理由のうち、引用文献４を主たる引用文献とする、本願発明についての進歩性欠如の理由は、次のとおりである。

本願発明は、下記の引用文献４に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。

記

３ 引用文献に記載された事項

前記引用文献４には、第２の３(２)ア(イ)において認定したとおりの引用発明が記載されていると認められる。

また、周知技術１は、前記第２の３(２)イ(ウ)において認定したとおりである。

４ 対比・判断

(１) 本願発明は、本件補正発明における「制御部」について、「前記制御部は、前記点滅の状態において、前記投光部の出力のピーク値が、前記連続点灯の状態にある場合の前記投光部の出力よりも高くなるように、前記投光部を制御する」との限定を省いたものである（前記第２の２(１)参照）。

(２) そうすると、前記第２の３(３)ア(ア)の対比分析における検討結果も踏まえて、本願発明と引用発明を対比すると、本願発明と引用発明の相違点は、次の相違点Ａのとおりであり、両者はその余の点で一致する。

＜相違点Ａ＞

本願発明においては、前記構成Ａ及びＢを備えるのに対して、

引用発明においては、光学式プローブ１７は共焦点光学系を有しておらず、導光部がなく、光学式プローブ１７の制御回路１７４により照射光学系１７２の発光量が調整されている点。

(３) 相違点についての判断

前記第２の３(３)イにおいて説示した判断を踏まえると、前記相違点Ａに係る本願発明の構成は、引用発明及び周知技術１に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。

そして、本願発明の奏する作用効果としては、当該構成のものとして当業者が予測困難であり、かつ、格別顕著な効果を認めることはできない。

したがって、本願発明は、引用発明及び周知技術１に基づいて当業者が容易に発明することができたものである。

第４ むすび

以上検討のとおりであるから、本願発明は、特許法２９条２項の規定により、特許を受けることができない。

したがって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。

よって、結論のとおり審決する。