2023-008549

特願２０２１－１４９９２４「表面検査装置」拒絶査定不服審判事件〔令和 ３年１２月 ９日出願公開、特開２０２１－１８５３８９〕について、次のとおり審決する。

結 論 本件審判の請求は、成り立たない。

理 由 第１ 手続の経緯 本件出願（以下「本願」という。）は、令和２年３月６日（以下「遡及日」という。）に出願した特願２０２０－３８３８３号の一部を令和３年９月１５日に新たな特許出願としたものであって、その手続の経緯は、概略、以下のとおりである。 令和４年 １０月１１日付け：拒絶理由通知 令和４年 １２月１４日 ：意見書、手続補正書の提出 令和５年 ３月２４日付け：拒絶査定 令和５年 ５月２５日 ：審判請求書、手続補正書の提出 第２ 令和５年５月２５日にされた手続補正についての補正の却下の決定 ［補正の却下の決定の結論］ 令和５年５月２５日にされた手続補正（以下「本件補正」という。）を却下する。 ［理由］ １ 本件補正について（補正の内容） （１） 令和４年１２月１４日提出の手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下「本件補正前発明」という。）は、以下のとおりである。なお、当審において本件補正発明の各構成単位冒頭に「Ａ」などの分説番号を付した。以下、該各構成単位について、該分説番号を用い「構成Ａ」などということがある。 「 【請求項１】 １Ａ 被検査物の表面を検査する装置であって、 １Ｂ 被検査物を所定の一方向に搬送する搬送部と、 １Ｃ 前記一方向と非平行な方向に前記被検査物の表面を横断するスリット光を照射する第１スリット光照射部と、 １Ｄ 前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域を含む所定の二次元領域を視野に捉えるように配置され、予め決められた周期で該領域の画像データを取得する二次元カメラと、 １Ｅ 前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから、前記スリット光が照射されている領域である照射領域、前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域、及び前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域のうちの、予め決められた２つの領域の前記一方向に所定の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する画像データ抽出部と を備え、 １Ｆ 前記第１画像データ及び前記第２画像データの、前記所定の長さ及び／又は前記搬送部による前記被検査物の搬送速度が可変であり、 １Ｇ 前記予め決められた周期が、前記所定の長さのｎ（ｎは２以上の整数）分の１だけ前記被検査物が搬送される周期であり、 前記所定の長さがｎの整数倍であることを特徴とする表面検査装置。」 （２） 本件補正後の特許請求の範囲の請求項１に記載された発明（以下「本件補正発明」という。）は、以下のとおりである。分説番号について、本件補正前発明と同様。（下線は、補正箇所を示すため、当審で付した。） 「 【請求項１】 ２Ａ 被検査物の表面を検査する装置であって、 ２Ｂ 被検査物を所定の一方向に搬送する搬送部と、 ２Ｃ 前記一方向と非平行な方向に前記被検査物の表面を横断するスリット光を照射する第１スリット光照射部と、 ２Ｄ 前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域を含む所定の二次元領域を視野に捉えるように配置され、予め決められた周期で該領域の画像データを取得する二次元カメラと、 ２Ｅ 前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから、前記スリット光が照射されている領域である照射領域、前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域、及び前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域のうちの、予め決められた２つの領域の前記一方向に複数画素分の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する画像データ抽出部と を備え、 ２Ｆ 前記第１画像データ及び前記第２画像データの、前記所定の長さ及び／又は前記搬送部による前記被検査物の搬送速度が可変であり、 ２Ｇ 前記予め決められた周期が、前記複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える前記被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される周期であることを特徴とする表面検査装置。」 ２ 補正の適否について （１）本件補正 本件補正は、特許請求の範囲の請求項１について、以下に挙げる補正事項を含むものである。 ア 補正事項１ 本件補正前発明の構成１Ｅにおける「所定の長さ」が、「複数画素分の長さ」（構成２Ｅ）であることを限定する補正。 イ 補正事項２ 本件補正前発明の構成１Ｇにおける「前記所定の長さのｎ（ｎは２以上の整数）分の１だけ前記被検査物が搬送される周期であり、前記所定の長さがｎの整数倍である」との事項を、「前記複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える前記被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される周期である」との事項（構成２Ｇ）にする補正。 （２）補正の目的 ア 上記補正事項１は、本件補正前発明を特定するために必要な事項である「画像データ」の「前記一方向」の長さについて上記アのとおり限定を付加するものであって、本件補正前発明と本件補正発明とは、産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一であるから、補正事項１は、特許法第１７条の２第５項２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 イ 補正事項２については、本件補正前発明の構成１Ｇが必ずしも不明確とはいえないものの、請求人の審判請求書における「今般の補正は拒絶査定で言及された記載不備を解消するとともに、補正前の請求項に記載した発明特定事項を限定するもの」（前者が補正事項２に対応）との主張を受け入れ、特許法第１７条の２第５項４号の明りようでない記載の釈明を目的とする。 なお、明りようでない記載の釈明でないとするなら、以下のとおり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものではないことから、特許法第１７条の２第５項の各号に掲げる事項を目的とするものでなく、この点においても、本件補正は、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものとなる。 本件補正前発明における「周期」には、「所定の長さ」が例えば１０画素分の長さである場合に、３は１０の「ｎ（ｎは２以上の整数）分の１」でないことから、３画素が捉える被検査物の長さだけ搬送される周期が含まれない。一方、上記補正事項２に係る補正により、本件補正発明における「周期」は、「複数画素分の長さ」が前述と同様に１０画素分の長さである場合に、１０画素の半分以下である３画素が捉える被検査物の長さだけ搬送される周期でありうることとなるから、本件補正発明の「周期」は、補正事項２に係る補正により、本件補正前発明の「周期」よりも概念的に拡張されるとも解される。 ウ 以上のとおり、特許請求の範囲の請求項１についての本件補正は、少なくとも補正事項１の点において、特許法第１７条の２第５項２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものを含むことから、本件補正発明が同条第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合するか（特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか）について、以下、検討する。 （ア）サポート要件（特許法第３６条第６項第１号）について ａ 本件補正発明の構成２Ｇの「周期」と「画素」との関係について、発明の詳細な説明では以下の記載がある。なお、下線は当審において付与した。以下同様。 「【００２２】 図１に本実施例の表面検査装置１の概略構成を示す。表面検査装置１は、大別して、搬送部２、スリット光照射部３、撮影部４、及び制御・処理部５から構成される。搬送部２は、ロール状の被検査物１１を送出する送り出しローラ２１、該被検査物１１を巻き取る巻き取りローラ２２、及び両者の間に配置され被検査物１１を搬送する搬送ローラ２３（図１には４本の搬送ローラ２３１～２３４を図示）、及び搬送速度を計測するためのロータリーエンコーダ２４を備えている。本実施例のロータリーエンコーダ２４には、撮影部４により撮影される画像データにおける１画素に相当する距離だけ被検査物１１が搬送される毎に所定の信号を出力するものを用いる。あるいは、これに代えて、撮影部４により撮影される画像データにおける１画素に相当する距離の奇数分の１だけ被検査物１１が搬送される毎に所定の信号を出力するものを用いてもよい。」 「【００３４】 対象領域及び搬送速度が決定すると、撮影周期設定部５５は、被検査物１１の対象領域を撮影する周期を設定する画面を表示する。撮影周期はロータリーエンコーダ２４からの出力信号との関係で定められる。この画面には、撮影周期の初期値として「１」があらかじめ入力されている。この「１」は、ロータリーエンコーダ２４から信号が出力される毎に撮影部４により被検査物１１の表面を撮影することを意味する。 【００３５】 本実施例では、被検査物１１の表面の対象領域として被検査物１１の進行方向に１画素分の長さを持つ領域を設定したため、撮影周期の初期値をそのまま使用すればよい。一方、対象領域候補を複数画素分の長さを持つ領域とした場合には、撮影周期の値をその画素数と同数あるいはそれ以下に設定する。撮影周期の値を画素数と同数にした場合には、被検査物１１が対象領域の長さ分、搬送される毎に撮影部４により被検査物１１が撮影される。一方、上記画素数が「２」であり、撮影周期の値が「１」である場合には、被検査物１１が対象領域の長さの半分、搬送される毎に撮影部４により被検査物１１が撮影される。 【００３６】 上述のとおり、本実施例のロータリーエンコーダ２４は、撮影部４により撮影される画像データにおける１画素に相当する距離だけ被検査物１１が搬送される毎に所定の信号を出力する。従って、上記のように撮影周期を設定することにより、撮影部４が繰り返し取得した画像データから抽出される対象領域の画像データを撮影順につなぎ合わせたときに被検査物１１の表面を切れ目なく撮影した画像データが得られる。言い換えると、対象領域の長さ、又はその整数分の１の長さだけ被検査物１１が搬送されるごとに被検査物１１の表面を撮影するように、撮影部４による撮影周期が決定される。」 ｂ 上記ａに示した発明の詳細な説明からすると、「領域」の「画像データ」が「一方向に複数画素分の長さを有する」場合、「周期」は、「対象領域の長さ」、「対象領域の長さの半分」、又は対象領域の長さの「整数分の１の長さだけ被検査物１１が搬送されるごとに被検査物１１の表面を撮影する」であり、これにより「撮影部４が繰り返し取得した画像データから抽出される対象領域の画像データを撮影順につなぎ合わせたときに被検査物１１の表面を切れ目なく撮影した画像データが得られる」ものが記載されているといえる。しかしながら、構成２Ｇのように、「前記複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える前記被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される周期」については、発明の詳細な説明に記載も示唆もされていない。 ｃ 上記イの結果として、本件補正発明の構成２Ｇにおいて「複数画素の数」が、例えば１０であって、周期が３画素や４画素だけ搬送される周期である場合が本件補正発明には含まれる。しかしながら、３や４は１０の整数分の１ではないから、このような態様は、上記ｂに示す、発明の詳細な説明において想定されないものである。 ｄ よって、本件補正発明は、補正事項１及び２に関連し、発明の詳細な説明に記載されたものでないことから、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。 （イ）明確性要件（特許法第３６条第６項第２号）について ａ 本件補正発明の構成２Ｆには、「前記所定の長さ」と記載されているが、これより前に「所定の長さ」が記載されておらず、当該「前記所定の長さ」の指し示すものが不明確である。 ｂ よって、本件補正発明は、補正事項１に関連し、明確でないことから、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 （ウ）引用文献の記載事項 ａ 引用文献１ （ａ）原査定の拒絶の理由で引用された本願の遡及日前に頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった文献である、国際公開第２０１６／１２１８７８号（以下「引用文献１」という。）には、図面とともに次の記載がある。 「［０００１］ 本発明は食品や工業製品などの様々な物品の外観を検査する為の光学式外観検査装置と、これに好適に使用できる撮影手段に関する。特に物品を撮影した画像データを解析して、物品表面のキズ・バリや歪み等の凹凸欠陥、或いは表面に透過して見える異物の有無を検査する為の光学式外観検査装置、及びこれに好適に使用できる撮影手段に関する。」 「［００７７］ また、撮影手段５１として使用しているカメラは、撮像素子としてＣＭＯＳイメージセンサを備えており、フォトダイオードが縦横方向に複数配置された面状の撮像素子を備えている。例えば横方向（走査方向に対する幅方向）２０４８画素、縦方向（走査方向）２０４８画素の撮像素子を使用する事ができる。このようなイメージセンサを備えた撮影手段５１において、横方向の視野を２００ｍｍとした場合には、縦方向の視野も２００ｍｍとなることから、この縦方向の視野内で、撮影に使用するフォトダイオード列を複数指定すれば、当該撮影手段５１を走査させることにより、複数ラインにおける画像データを取得する事ができる。また、この縦方向の視野内において、撮影に使用するフォトダイオード列の位置（ライン）を変更すれば、あたかも複数のラインセンサを使用しているように動作させることができ、また画角の開き角度によって角度を変更しているような動作を行う事ができる。」 「［００７９］ また、撮影手段５１から取得した撮影画像を、検査対象物Ｗの撮影位置と相関させる為に、前記検査対象物移動手段１１による検査対象物Ｗの水平移動距離や移動速度を検出する移送検出手段５４を設けるのが望ましい。かかる移送検出手段５４としては、ロータリーエンコーダやリニアエンコーダ等を使用する事ができる。そしてこの移送検出手段５４は、検査対象物Ｗの搬送経路における何れかの場所に設置する事ができ、望ましくは検査対象物Ｗの水平移動距離や速度を正確に計測する為に、当該外観検査ステーション２０に設置し、特に望ましくは撮影手段５１における撮影領域の近傍に設置する。そして、この移送検出手段５４による検出信号を処理手段５３に送ることにより、検査対象物移動手段１１による検査対象物Ｗの移動速度の変動による撮像分解能のばらつきを抑制すると共に、撮影手段５１においてライン状に取得した画像を、解析に使用する画像データ（面画像）に展開する際に、その位置補正を可能とすることができる。」 「［００８２］ 次に、図２を参照しながら、前記外観検査ステーション２０における光学式外観検査装置５０での処理内容を説明する。図２（Ａ）は外観検査ステーション２０を示す斜視図であり、図２（Ｂ）は検査対象物Ｗに対する光の照射具合と読み取り位置を示す要部拡大平面図であり、図２（Ｃ）は処理装置において解析する為の画像データを示す平面図である。 ［００８３］ 先ず、この外観検査ステーション２０では、検査対象物Ｗは、コンベアー等の検査対象物移動手段１１によって搬送されており、当該検査対象物移動手段１１の下方には照明手段５２が設けられている。この照明手段５２はライン照明であって、検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）全体にわたって光を照射する。この照明手段５２の光は、検査対象物Ｗを透過しており、これにより検査対象物Ｗの上方に設けられた撮影手段５１は検査対象物Ｗの透過光を撮影する事ができる。そして検査対象物Ｗは照明手段５２と撮影手段５１との間を通過する。 ［００８４］ 図２（Ｂ）に示す様に、撮影手段５１では、透過光によって照らされている領域において、明るい領域Ａ１と、その輪郭領域Ａ２と、透過光によって照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域の領域Ａ３において、検査対象物Ｗの幅方向（走査方向と交差する方向）に延伸するラインで撮影した画像データを取得する。各ラインにおける撮影は、検査対象物Ｗを移送しながら行われ、少なくとも１回の撮影で取得する画素数分移動するごとに撮影される。この検査対象物Ｗの移送距離は、前記ロータリーエンコーダ等の移送検出手段５４により検出される。よって一定距離移動したとの信号を移送検出手段５４から取得した時点で、前記撮影手段５１は所定のラインにおける画像を撮影する事ができる。 ［００８５］ そして、図２（Ｂ）に示した各ラインにおける撮影が、検査対象物Ｗの全体について行われた後に、検査対象が移動するごとに撮影したライン状の画像を繋ぎ合わせて、図２（Ｃ）に示すような面画像に展開した画像データＤ１～Ｄ３を形成する。即ち、透過光によって照らされている領域において、明るい領域Ａ１を撮影した画像で形成した画像データＤ１と、透過光によって照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域の領域Ａ２を撮影した画像で形成した画像データＤ２と、透過光によって照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域の領域Ａ３を撮影した画像で形成した画像データＤ３とを形成する。かかる画像データの形成は、撮影手段５１が撮影するごとに、処理装置はライン状の画像を取得して、これを面画像に展開する他、撮影ごとのライン状の画像データを撮影手段５１において記録しておき、面画像に合成したのちに処理手段５３に送るようにしても良い。このように形成した各ラインにおける夫々の面画像（画像データ）は、検査対象物Ｗに対する光の照射方向を異ならせた状態を撮影したものとなる。よって、撮影手段５１における１回の走査で取得可能でありながらも、光の照射角度を異ならせて、撮影手段５１を複数回走査させた場合と同じ画像データを取得する事ができる。」 「［００９１］ 図４は他の実施の形態における光学式外観検査装置１５０を示しており、当該光学式外観検査装置１５０も、前記図１に示した光学式外観検査システム６０の外観検査ステーション２０に設置する事ができる。この実施の形態に示す光学式外観検査装置１５０は、特に撮影手段１５１としてＣＣＤイメージセンサを用いたカメラを使用し、また照明手段１５２は透過光ではなく反射光を撮影するように構成している。図４（Ａ）は他の実施の形態にかかる光学式外観検査装置１５０を示す要部拡大斜視図であり、図４（Ｂ）は撮影した画像から複数ラインにおいてライン状の画像を抽出する処理内容を示す概念図であり、図４（Ｃ）は、ライン状の画像から合成した、解析対象となる画像データを示す平面図である。 ［００９２］ この実施の形態においても、検査対象物Ｗは、コンベアー等の検査対象物移動手段１１によって搬送される。搬送されてきた検査対象物Ｗに対しては、その上方に設けられた照明手段１５２から光を照射している。そして、照明手段１５２と同様に検査対象物Ｗの上方に設けた撮影手段１５１では、少なくとも光で照射している照射範囲と、当該照射範囲の近傍であって、光が照射されていない領域を含んで、検査対象物Ｗの幅方向全体が写るようにして画像を撮影する。この撮影した画像は、前述の実施の形態と同じように、ロータリーエンコーダ等の移送検出手段が計測した移送距離等と関連付けられている。 ［００９３］ そして一定のエリアを撮影した画像から、図４（Ｂ）に示す様に、任意に設定した領域内から、ライン状の画像を抽出する。即ち、照明手段１５２から照射された光で照らされている領域Ａ１、その輪郭領域Ａ２と、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３の夫々のラインから、ライン状の画像（Ｌ１～Ｌ３）を抽出する。即ち、光で照らされている領域Ａ１からライン状の画像Ｌ１を抜き出し、光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２からライン状の画像Ｌ２を抜き出し、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３からライン状の画像Ｌ３を抜き出す。 ［００９４］ そして抽出したライン状の画像を、それぞれ繋ぎ合わせて、図４（Ｃ）に示すような面画像からなる画像データを夫々合成する。即ち、光で照らされている領域Ａ１から抜き出したライン状の画像Ｌ１を繋ぎ合わせた画像データＤ１１と、光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２から抜き出したライン状の画像Ｌ２を繋ぎ合わせた画像データＤ１２と、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３から抜き出したライン状の画像Ｌ３を繋ぎ合わせた画像データＤ１３とを、それぞれ合成する。そして、この合成した夫々の面画像（画像データ）について、色及び／又は明るさの変化を解析することで、検査対象物Ｗにおける夫々の外観上の欠陥の有無を判断する事ができる。」 「［０１０３］ 次に、図８及び９を参照しながら、本実施の形態にかかる光学式外観検査装置で好適に使用可能な撮影手段について説明する。かかる撮影手段は、図８に示す様に、走査方向に交差する向きに複数のフォトダイオードを配列したフォトダイオード列を、平行な状態で、走査方向に複数並べて構成している。図８には、Ａ～Ｄ列からなる４列のフォトダイオード列を示しており、各列は配列方向に並んだ９個のフォトダイオードで構成されている。このように構成した撮影手段で撮影する事により、４列×９個の合計３６画素の画像を撮影する事ができる。 ［０１０４］ 特に、この実施の形態にかかる撮影手段は、更に画像処理部を伴って構成されており、この画像処理部によって、３６画素の画像サイズを小さくする処理を実行する。具体的には、走査方向に並んでいる画素から、最大輝度、最小輝度、平均輝度等の予め設定した条件の輝度の画素を算出乃至は抽出する処理を、配列方向に並んだすべての画素について実行する。そして、この条件によって演算乃至は抽出した画素を連結した１列の画像データを生成し、この１列の画像データを表面検査に使用する。図８はフォトダイオードの配列を示しているが、これを各フォトダイオードが撮影した画素として見た場合に、輝度が最も低い画素を抽出する。図８において、フォトダイオードの配列を画素の配列として見た場合、Ａ１～Ｄ１の画素において最も輝度が低いＢ１画素を抽出し、隣に配列されたＡ２～Ｄ２の画素においても、最も輝度が低いＣ２画素を抽出する。そしてこのような演算乃至は抽出処理をＡ９～Ｄ９の画素まで実行し、Ｂ１、Ｃ２、Ａ３、Ｂ４、Ｃ５、Ｄ６、Ｂ７、Ｃ８、Ａ９の画素からなる１列の画像データを生成する。その結果３６画素の画像を９画素の画像データに合成することができ、よってデータ量を減じ、処理速度を高める事ができる。なお、かかる画素の抽出は、処理手段において実行する事もできる。 ［０１０５］ 図９は、実際に検査対象物を撮影した画像から、１列の画像データを演算乃至は抽出する処理を示す略図である。図９（Ａ）に示す様に、検査対象物Ｗを撮影して、走査方向に並んだ１０列の画素からなる画像を撮影する。各列は光学素子に応じた画素で構成する事ができる。そして図９（Ｂ）に示す様に、この撮影した画素から、走査方向に並んだ各列の画素を比較して、図９（Ｃ）に示す様に、最も輝度が高い画素を抽出する。この処理を各列における画素の配列方向まで実施し、抽出した画素を１列に組み合わせることにより、１列の画像データを生成する事ができる。そして、この生成した１列の画像データを検査に使用する事から、検査に使用する画像データを大幅に低減し、処理速度を向上させることができる。 ［０１０６］ このような撮影手段を使用した検査装置では、検査対象物の移送距離を、おおよそ１回の撮影で撮影した画素列分とすることにより、検査スピードを高める事ができる。即ち、図９では９画素分または１０画素分ずつ検査対象物を移送させて撮影する事により、１回の撮影ごとの移送距離を大きくして大量の検査対象物を検査する事ができる。 ［０１０７］ 一方で、検査対象物の移送距離を、１回の撮影で撮影した画素列よりも短くした場合には、何れかの領域については、その周辺を含めた広い範囲についての画像を取得することができる。例えば、図９に示す様に走査方向に１０列のフォトダイオード列が並んでいる場合には、１乃至は５列づつ移送させて撮影を行うことができる。そして、この撮影画素の中から目的に合った画素（予め条件設定した画素）を抽出することから、撮影漏れの無い、より精度の高い画像データを取得する事ができる。よって、この場合には、表面検査を高精度に実施する事ができる。」 「図１ ［図：0001411016000001.jpg］ 」 「図２ ［図：0001411016000002.jpg］ 」 「図４ ［図：0001411016000003.jpg］ 」 「図９ ［図：0001411016000004.jpg］ 」 （ｂ）看取・認定事項 上記（ア）の摘記事項及び図面から、以下の事項を認定することができる。 （ｂ－１） 図４（Ａ）・（Ｂ）からは、［００９１］～［００９２］等の「照明手段１５２」が、［００８３］等に記載の「照明手段５２」と同様に、「ライン照明であって、検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）全体にわたって光を照射する」（［００８３］）ものであることが看て取れる。 （ｂ－２） ［００９２］の記載「この撮影した画像は、前述の実施の形態と同じように、ロータリーエンコーダ等の移送検出手段が計測した移送距離等と関連付けられている。」からすると、「撮影手段１５１」は、［００７９］や［００８４］に記載された「撮影手段５１」及び「ロータリーエンコーダやリニアエンコーダ等」「の移送検出手段５４」の構成に対応する構成を備えているものと認められる。 （ｂ－３） ［００８３］の「検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）」、［００８４］の「検査対象物Ｗの幅方向（走査方向と交差する方向）」から、「移送方向」と「走査方向」とは、いずれも、「幅方向」と交差する方向である他、図２や［００８５］の記載から、「走査」は、移送される「検査対象物Ｗ」を撮影することで行われるといえることから、「走査方向」と「移送方向」は、同じ方向を指すものと認められる。 （ｂ－４） 「撮影手段５１」は、［００８４］の記載や図２（Ａ）・（Ｂ）に示されるように、検査対象物Ｗの幅方向（走査方向と交差する方向）に延伸するラインで撮影した画像データを取得するものであるから、［００８４］の「１回の撮影で取得する画素数分移動する」における「画素数」は、［００８５］の各「ライン」の「走査方向」すなわち「移送方向」（上記（ｂ－３））の画素数を指すものと認められる。 （ｂ－５） ［０１０３］～［０１０７］、図９には、「本実施の形態にかかる光学式外観検査装置で好適に使用可能な撮影手段」について記載されているところ、「かかる撮影手段は、図８に示す様に、走査方向に交差する向きに複数のフォトダイオードを配列したフォトダイオード列を、平行な状態で、走査方向に複数並べて構成している。」（［０１０３］）とあるように、フォトダイオードを配列した撮影手段であることから、［０１０３］～［０１０７］、図９に記載される撮影手段は、［００７７］、［００７９］、［００８２］～［００８５］、図２等に記載された「光学式外観検査装置５０」における、「フォトダイオードが縦横方向に複数配置された面状の撮像素子を備え」ている「ＣＭＯＳイメージセンサを備え」た「撮影手段５１」（［００７７］）に好適に使用可能なものであると認められる。 すると、［０１０７］に記載された「走査方向に１０列のフォトダイオード列が並んでいる場合には、１乃至は５列づつ移送させて撮影を行うことができる。」との構成についても、上述のとおり「撮影手段５１」で使用可能な構成であり、当該構成を使用する「撮影手段５１」においては、上記（ｂ－４）の認定事項も踏まえると、［００８４］の「各ラインにおける撮影は、検査対象物Ｗを移送しながら行われ、少なくとも１回の撮影で取得する画素数分移動するごとに撮影される。」における「１回の撮影で取得する画素数」が「１０」であり、「１回の撮影で取得する画素数分移動するごと」を下限とする撮影頻度が、「１乃至は５」画素分移動するごとに撮影されることとなるものと認められる。 （ｃ）引用発明 上記（ａ）及び（ｂ）から、引用文献１には、次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。なお、各構成単位冒頭に、本願発明の分説番号「Ａ～Ｇ」に概ね対応させて、「ａ～ｇ」を用いた分説記号を付し、各構成単位の末尾の括弧内に認定の根拠となる記載箇所を示した。 「ａ 物品を撮影した画像データを解析して、物品表面のキズ・バリや歪み等の凹凸欠陥を検査する為の光学式外観検査装置であって、（［０００１］） ｂ 検査対象物Ｗを移送方向に搬送するコンベアー等の検査対象物移動手段１１と、（［００８３］、図１・２） ｃ ライン照明であって、検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）全体にわたって光を照射する照明手段１５２と、（［００８３］、［００９１］～［００９２］、（ｂ－１）） ｄｆ 少なくとも光で照射している照射範囲と、当該照射範囲の近傍であって、光が照射されていない領域を含んで、検査対象物Ｗの幅方向全体が写るようにして画像を撮影し、検査対象物Ｗが一定距離移動したとの信号を、検査対象物Ｗの水平移動距離や移動速度を検出するロータリーエンコーダ等の移送検出手段５４から取得した時点で、画像を撮影する事ができる、ＣＣＤイメージセンサを用いたカメラである撮影手段１５１とを備え、（［００９１］～［００９２］、（ｂ－２）） ｅ 一定のエリアを撮影した画像から、照明手段１５２から照射された光で照らされている領域Ａ１からライン状の画像Ｌ１を抜き出し、光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２からライン状の画像Ｌ２を抜き出し、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３からライン状の画像Ｌ３を抜き出し、（［００９３］、図４） ａｅ 光で照らされている領域Ａ１から抜き出したライン状の画像Ｌ１を繋ぎ合わせた面画像からなる画像データＤ１１と、光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２から抜き出したライン状の画像Ｌ２を繋ぎ合わせた面画像からなる画像データＤ１２と、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３から抜き出したライン状の画像Ｌ３を繋ぎ合わせた面画像からなる画像データＤ１３とを、それぞれ合成し、この合成した夫々の面画像（画像データ）について、色及び／又は明るさの変化を解析することで、検査対象物Ｗにおける夫々の外観上の欠陥の有無を判断する、（［００９４］、図４） 光学式外観検査装置。」 （ｄ）引用文献１技術事項 上記（ａ）及び（ｂ）から、引用文献１には、次の技術的事項（以下「引用文献１技術事項」という。）が記載されていると認められる。なお、各構成単位の末尾の括弧内に認定の根拠となる記載箇所を示した。 「光学式外観検査装置において、繋ぎ合わせられることで面画像に展開した画像データＤ１～Ｄ３を形成するライン状の画像は、各ライン状の画像の移送方向の画素数が１０画素であり、１乃至は５画素分移動するごとに撮影されること。（［００８５］、［０１０７］、（ｂ－４・ｂ－５））」 ｂ 引用文献２ 原査定の拒絶の理由で引用された本願の遡及日前に頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった刊行物である、特開２００３－０４２９７２号公報（以下「引用文献２」という。）には、図面とともに次の記載がある。 「【０００２】 【従来の技術】基板などの表面における欠陥の有無を検査するための欠陥検査装置として、搬送される基板に対向するように設けられたラインセンサカメラによって、連続的に撮像して得られる２次元画像に基づいて欠陥検査が行われるものが知られている。 【０００３】例えば、特開平１１－３４１３６７号公報には、画素ずらし手法により高解像度の画像を撮像可能なラインカメラセンサが開示されている。かかるラインカメラセンサでは、複数の画素１１０から構成される画素列１１１ａ、１１１ｂ（図８参照）を有するライン撮像素子１１１が備えられており、画素列１１１ａ、１１１ｂのそれぞれの撮像するタイミングをずらせることによって、被写体をその搬送方向に１／２画素ピッチで撮像した画像信号を得ることができる（図９参照）。 【０００４】ここで、かかるラインセンサカメラでは、ライン撮像素子を構成する画素の大きさ（アパーチャサイズ）がＰ×Ｐであって（図１０参照）、画素ずらしが行われないで撮像された場合には、サンプリング定理により、搬送方向については空間周波数１／２Ｐ（Ｈｚ）未満の信号周波数の再現が可能である。 【０００５】一方、搬送方向に１／２画素ピッチで撮像されるように画素ずらしが行われて撮像された場合（図１１参照；以下、「条件１」と称する）には、サンプリング定理により、搬送方向については空間周波数１／Ｐ（Ｈｚ）未満の信号周波数の再現が可能である。このように、画素ずらしが行われた場合には、画素ずらしが行われない場合よりも高周波数領域の信号を再現することができるようになる。 【０００６】なお、画素の大きさがＰ／２×Ｐ／２であって、画素ずらしが行われないで撮像された場合（図１２参照；以下、「条件２」と称する）には、サンプリング定理により、搬送方向については空間周波数１／Ｐ（Ｈｚ）未満の信号周波数の再現が可能であり、「条件１」の場合と同様になる。」 「【００１５】 【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。図１は、本実施の形態に係る欠陥検査装置の主要部の概略構成を示す図である。図２は、ライン撮像素子の概略構成を示す図である。 【００１６】本実施の形態の欠陥検査装置１は、搬送される基板２上の欠陥の有無を検査するためのものであり、図１に示すように、ライン撮像素子１１（図２参照）を有するラインセンサカメラ１０と、基板２を搬送するための搬送機構２０と、コントローラ３０とを備えている。 【００１７】ラインセンサカメラ１０では、結像機構（図示せず）によって検査対象物である基板２の像をライン撮像素子１１上に結像することができる。ここで、ライン撮像素子１１は、図２に示すように、基板２の搬送方向に対して垂直な方向（ラインカメラ走査方向）に配置された複数の画素１１ａによって構成されている。。なお、それぞれの画素１１ａの大きさはＰ×Ｐである。 【００１８】搬送機構２０は、水平に延在するように両端が駆動ローラ２１および従動ローラ２２に架け渡された環状ベルト２３と、駆動ローラ２１を回転駆動するためのモータ２４とを有しており、モータ２４はコントローラ３０に接続されている。従って、モータ２４によって駆動ローラ２１が回転駆動されると、環状ベルト２３とともに、その上に載置された基板２が搬送されるようになっている。 【００１９】次に、欠陥検査装置１の制御系について、図１を参照して説明する。 【００２０】コントローラ３０には、欠陥検査装置１に係る各種動作の制御プログラムやデータなどが格納されたＲＯＭ、欠陥検査装置１の各部の動作を制御する信号を生成するために各種演算を実行するＣＰＵ、ラインセンサカメラ１０から供給された画像データやＣＰＵでの演算結果などのデータを一時保管するＲＡＭなどの部材が含まれている。これら各種部材およびソフトウェアによって、タイミング制御部３１と、記憶部３２と、強調部３３と、内挿部３４と、欠陥判断部３５とが形成されている。なお、コントローラ３０には、ラインセンサカメラ１０と、搬送機構２０のモータ２４とがそれぞれ接続されている。 【００２１】タイミング制御部３１は、ラインセンサカメラ１０による撮像するタイミング（撮像周期）と搬送機構２０による基板２の搬送タイミング（搬送速度）とを制御するためのものである。上述の両者のタイミングを制御することによって、基板を搬送しつつ、所定の画素ピッチで基板２の表面を撮像することができる。記憶部３２は、ラインセンサカメラ１０により基板２を撮像することによって得られた画像信号を記憶するためのものである。」 「【００２５】次に、本実施の形態に係る欠陥検査装置１における欠陥検査の手順について、図３を参照して説明する。図３は、欠陥検査装置１における欠陥検査が行われるときの手順を示すフローチャートである。 【００２６】まず、ステップＳ１において、搬送機構２０の搬送速度およびラインセンサカメラ１０の撮像周期がタイミング制御部３１によって制御されることにより、基板２がその搬送方向に１／２画素ピッチで撮像されるように画素ずらしが行われて撮像される。 【００２７】ここで、ライン撮像素子１１の画素１１ａの視野（撮像領域）の重複状態について、図４および図５を参照して説明する。図４は、画素ずらしが行われない場合の画素の視野の重複状態を示す図である。図５は、１／２画素ずらしが行われた場合の画素の視野の重複状態を示す図である。なお、図４および図５では、１画素あたりの視野を□で示しており、ライン撮像素子１１の一端部の２つの画素１１ａについてのみ描いている。」 「図１ ［図：0001411016000005.jpg］ 」 「図２ ［図：0001411016000006.jpg］ 」 「図５ ［図：0001411016000007.jpg］ 」 ｃ 引用文献３ 原査定の拒絶の理由で引用された本願の遡及日前に頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった刊行物である、特開平１１－３４１３６７号公報（以下「引用文献３」という。）には、図面とともに次の記載がある。 「【０００３】ここで画素サイズを変えないで感光素子の性能を維持したまま、解像度を上げた画像を得る方法として、画素ずらしと呼ばれる方法が従来より知られている。これは、撮像した画像に対して、感光素子の画素間の周期の１／ｎ（ｎは正整数）だけ位置をずらした画像を撮像し元の画像と合成して、解像度を上げた画像を得る方法である。 【０００４】この、画素ずらしと呼ばれる方法は、エリアセンサを使った撮像装置に適用され、既に実現している。エリアセンサで画素ずらしによる高解像度の画像を得る方法としては、被写体を移動させて複数回撮像した画像を合成する方法、エリアセンサカメラを移動させて複数回撮像した画像を合成する方法、光学素子によりエリアセンサ素子の面上での結像位置をずらして複数回撮像した画像を合成する方法、ビームスプリッターで像を分けて複数のエリアセンサカメラで撮像した画像を合成する方法などがある。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ラインセンサを使った撮像装置で画素ずらしを適用したものは今までなく、エリアセンサを使った場合との相違点やラインセンサを使った場合の特有の問題点についての検討も行われていなかった。 【０００６】エリアセンサが、画素を２次元に並べた感光素子であるのに対して、ラインセンサは画素を１次元的に並べた感光素子である。従って、ラインセンサが２次元的な画像を得るためには、その画素の並び方向と垂直な方向に被写体あるいはラインセンサ自体を動かさなければならないという特徴がある。」 「【００１８】ここで、上述した構成の請求項１の発明のラインセンサカメラ（１）による動作等を図１を用いて具体的に説明すると、まず、被写体（４）が搬送装置（２）により撮像される撮影位置ａ（４ａ）付近まで運ばれてくると、位置検出手段（図示せず）がそれを検知し撮像開始信号をラインセンサカメラ（１）に送る。また、照明光照射手段（図示せず）からの照明光により照らされた撮像位置ａ（４ａ）および撮像位置ｂ（４ｂ）の像はそれぞれ、結像手段（３）によりラインセンサ素子（１１）上の画素列ａ（１１ａ）およびｂ（１１ｂ）上で結像する。そして電気回路部分（１２）は、前記搬送装置（２）に近接するパルス発生器（７０）からの電気信号パルス（Ｓｐ）が与えるタイミングで、ラインセンサ素子（１１）の各画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）から画像データを読み出す。 【００１９】次に図２、図３に示すラインセンサ素子（１１）は各画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）からなり、その各画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）は、感光領域となる多数の画素（１０）からなっている。この各画素（１０）の感光領域のサイズをｕ×ｖ、画素の並び方向の周期をＰｕ、画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）間の周期をＰｖとする。上記図１で示した被写体（４）の搬送方向（Ｙ）に被写体（４）を搬送するとその像は、図２、図３に示すように、画素列ａ（１１ａ）から画素列ｂ（１１ｂ）の方向（Ｙ’）に動いていくものとし、図２に示すように、画素（１０）の並びの方向に１／２周期シフトさせた場合と、図３に示すように、シフトさせない場合とがある。 【００２０】また、図４に示すように、電気回路部分（１２）が画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）のそれぞれからデータを読み出すタイミングを与える水平同期信号パルスａ、ｂ（Ｓ４ａ、Ｓ４ｂ）であり、その両パルス（Ｓ４ａ、Ｓ４ｂ）とも、搬送装置（２）が搬送した距離に応じて出す信号パルス（Ｓｐ）をもとに発生するものとする。そして画素列ａ（１１ａ）を駆動する水平同期信号パルスａ（Ｓ４ａ）は、被写体（４）の撮像開始位置が撮像位置ａ（４ａ）に来たことを知らせる撮像開始信号が来た時点（ｔｓ）から発生し始めるものとする。また画素列ｂ（１１ｂ）を駆動する水平同期信号パルスｂ（Ｓ４ｂ）は、撮像開始信号が来た時点（ｔｓ）から時間Ｔｉだけ遅れて発生し始めるものとする。上記両パルス（Ｓ４ａ、Ｓ４ｂ）とも信号パルスの周期はＴｖとする。」 「【００２２】また、図１２に示すようにｙ方向に１／２周期シフトする方法で画素ずらしの画像データを撮像したい場合には、そのラインセンサ素子（１１）は図３のようなシフトしない画素列ａ、ｂ（１１ａ、１１ｂ）の配置のものを使用し、時間Ｔｉを、被写体（４）の像がラインセンサ素子（１１）上で（Ｐｖ＋ｖ／２）だけ進む時間とし、周期Ｔｖを被写体（４）の像がラインセンサ素子（１１）でｖだけ進む時間とすればよい。このとき画素列ａ（１１ａ）の各画素（１０）の視野は、図１２に示すように実線で示す四角形のようになり、画素列ｂ（１１ｂ）の各画素（１０）の視野は破線で示す四角形のようになり、両四角形がｙ方向に１／２周期ずれた形となる。」 「【００２４】更に、図１４に示すように前記３事例のシフト方法を全て重ね合わせて画素ずらしの画像データを撮像したい場合には、そのラインセンサ素子（１１）は図２のような画素列ａ（１１ａ）と画素列ｂ（１１ｂ）とが１／２シフトした配置のものを使用し、時間Ｔｉを、被写体（４）の像がラインセンサ素子（１１）上でＰｖだけ進む時間とし、周期Ｔｖを被写体（４）の像がラインセンサ素子（１１）上でｖ／２だけ進む時間とすればよい。このとき画素列ａ（１１ａ）の各画素（１０）の視野中心は図１４に示す□または●になり、画素列ｂ（１１ｂ）の各画素（１０）の視野は図１４に示す○または■になる。撮像は図１４のようにしておき、画像合成のときに使用するデータを選ぶ事もできる。例えば□と○のデータのみを使えば図１３に示すようなｘとｙ方向にシフトした形と等価な画像を合成することができる。」 「図３ ［図：0001411016000008.jpg］ 」 「図４ ［図：0001411016000009.jpg］ 」 「図１２ ［図：0001411016000010.jpg］ 」 「図１４ ［図：0001411016000011.jpg］ 」 ｄ 引用文献２・３の記載に裏付けられる周知技術 上記ｂ・ｃに示した引用文献２・３の記載により、「光学式外観検査装置において、繋ぎ合わせられることで面画像とされるライン状の画像を、被検査物が、ライン状の画像の被検査物の搬送方向の長さの１／２分だけ被検査物の移動するごとに撮像すること」は、本願の遡及日前に周知技術であったことが裏付けられる。 （エ）引用発明との対比 上記２（２）ウ（イ）に説示したように、本件補正発明の構成２Ｆにおける「前記所定の長さ」の指し示すものは不明確であるが、これより前に「長さ」の記載としては、構成２Ｅの「複数画素分の長さ」があり、他にはないことから、構成２Ｆの「前記所定の長さ」は、構成２Ｅの「複数画素分の長さ」を指すものと解して、以下に対比を行う。 ａ 本件補正発明と引用発明とを対比する。 （ａ）構成２Ａ 引用発明の構成ａの「物品」や構成ｂの「検査対象物Ｗ」は、構成２Ａの「被検査物」に相当し、構成ａの「物品を撮影した画像データを解析して、物品表面のキズ・バリや歪み等の凹凸欠陥を検査する為の光学式外観検査装置」は、構成２Ａの「被検査物の表面を検査する装置」に相当する。 （ｂ）構成２Ｂ 引用発明の構成ｂの「移送方向」は、構成２Ｂの「所定の一方向」に相当し、構成ｂの「検査対象物Ｗを移送方向に搬送するコンベアー等の検査対象物移動手段１１」は、構成２Ｂの「被検査物を所定の一方向に搬送する搬送部」に相当する。 （ｃ）構成２Ｃ 引用発明の構成ｃの「検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）」は、構成２Ｃの「前記一方向と非平行な方向」に相当し、構成ｃの「ライン照明であって、検査対象物Ｗの幅方向（移送方向に対して交差する向き）全体にわたって」「照射」される「光」は、構成２Ｃの「前記一方向と非平行な方向に前記被検査物の表面を横断するスリット光」に相当する。そして、構成ｃの「照明手段１５２」は、構成２Ｃの「第１スリット光照射部」に相当する。 （ｄ）構成２Ｄ 引用発明の構成ｄｆの「光で照射している照射範囲」のうち、「検査対象物Ｗ」の表面との共通部分は、構成２Ｄの「前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域」に相当する。すると、構成ｄｆおける「少なくとも光で照射している照射範囲と、当該照射範囲の近傍であって、光が照射されていない領域を含んで、検査対象物Ｗの幅方向全体が写るように」することは、構成２Ｄの「前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域を含む所定の二次元領域を視野に捉えるように配置され」ることに相当する構成を含む。 構成ｄｆの「検査対象物Ｗが一定距離移動したとの信号を、検査対象物Ｗの水平移動距離や移動速度を検出するロータリーエンコーダ等の移送検出手段５４から取得した時点で、画像を撮影する事」は、「一定距離」が構成２Ｄの「周期」に相当するから、構成２Ｄの「予め決められた周期で該領域の画像データを取得する」ことに相当する。 構成ｄｆの「ＣＣＤイメージセンサを用いたカメラである撮影手段１５１」は、構成２Ｄの「二次元カメラ」に相当する。 （ｅ）構成２Ｅ 引用発明の構成ｅの「照明手段１５２から照射された光で照らされている領域Ａ１」、「光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２」、「光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３」は、それぞれ構成２Ｅの「前記スリット光が照射されている領域である照射領域」、「前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域」、「前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域」に相当する。 構成ｅの上記「領域Ａ１」及び「輪郭領域Ａ２」が、構成２Ｅの「予め決められた２つの領域」に相当し、構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」が、それぞれ構成２Ｅの「第１画像データ」、「第２画像データ」に相当する。 構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」は、それぞれ「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」からライン状に抜き出した画像であるから、「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」の移送方向にライン幅分の長さを有していることが明らかである。してみると、構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」をそれぞれ「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」「から抜き出」すことは、構成２Ｅの「前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから」「予め決められた２つの領域の前記一方向に複数画素分の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する」ことと、≪前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから、予め決められた２つの領域の前記一方向に所定の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する≫点で共通する。 （ｆ）構成２Ｇ 引用発明の構成ａの「光学式外観検査装置」は、構成２Ｇの「表面検査装置」に相当する。 ｂ 以上のことから、本件補正発明と引用発明とは、以下の点で一致する。 （一致点） 「２Ａ 被検査物の表面を検査する装置であって、 ２Ｂ 被検査物を所定の一方向に搬送する搬送部と、 ２Ｃ 前記一方向と非平行な方向に前記被検査物の表面を横断するスリット光を照射する第１スリット光照射部と、 ２Ｄ 前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域を含む所定の二次元領域を視野に捉えるように配置され、予め決められた周期で該領域の画像データを取得する二次元カメラと、 ２Ｅ’ 前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから、前記スリット光が照射されている領域である照射領域、前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域、及び前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域のうちの、予め決められた２つの領域の前記一方向に所定の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する画像データ抽出部と を備える、 ２Ｇ’ 表面検査装置。」 本件補正発明と引用発明とは、以下の点で相違する。 （相違点１）（構成２Ｅ） 所定の一方向における画像データの長さについて、本件補正発明は、「複数画素分の長さ」であるのに対し、引用発明の「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さが不明である点。 （相違点２）（構成２Ｆ） 本件補正発明では、「前記第１画像データ及び前記第２画像データの、前記所定の長さ及び／又は前記搬送部による前記被検査物の搬送速度が可変であ」るのに対し、引用発明では、「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さ及び／又は検査対象物Ｗの移動速度が可変であるか不明である点。 （相違点３）（構成２Ｇ） 予め決められた周期が、本件補正発明では、「前記複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える前記被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される周期である」のに対し、引用発明において、「一定距離」（構成ｄｆ）と「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さとの関係が不明である点。 （オ）判断 以下、相違点について検討する。 ａ 相違点１・３について 引用発明の「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」と、上記（ウ）ａ（ｄ）の引用文献１技術事項「光学式外観検査装置において、繋ぎ合わせられることで面画像に展開した画像データＤ１～Ｄ３を形成するライン状の画像は、検査対象物の移送方向における各ライン状の画像の画素数が１０画素であり、１乃至は５画素分移動するごとに撮影されること。」の「ライン状の画像」とは、いずれも光学式外観検査装置において検査対象物を移送しながら撮影されたものであって、それぞれ繋ぎ合わせて面画像からなる画像データとする（構成ａｅ）点で共通するものである。してみると、引用文献１技術事項に基づき、引用発明の「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さを１０画素分（複数画素分）の長さとするとともに、構成ｄｆの「一定距離」を、１乃至は５画素分（前記複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える前記被検査物の長さ）であるようにし、相違点１・３に係る本件補正発明の構成とすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 ｂ 相違点２について 引用発明は、検査対象物Ｗの水平移動距離や移動速度を検出するロータリーエンコーダ等の移送検出手段５４からの検査対象物Ｗが一定距離移動したとの信号に基づき画像を撮影するものであるから、移動速度が一定でなくとも問題なく機能する構成であることが明らかである。そして、被検査物を搬送しながら撮像を行う外観検査装置において、搬送速度を可変とすることは、常套手段であるから（必要であれば、特開２００２－１７４５９２号公報の【００８５】～【００８６】、特開２０１４－１６３７７１号公報の【００３７】等を参照。）、引用発明において、検査対象物Ｗの移送速度を可変として相違点２に係る本件補正発明の構成を備えるものとすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 ｃ 効果について 本件補正発明の効果について、本願明細書には、 「【発明の効果】 【００１９】 本発明に係る表面検査装置では、厚さが異なる被検査物の表面を検査する場合でも検出器の位置を細かく調整する必要がなく、また、被検査物に対する光の照射状態が異なる複数の測定データを一度の測定で取得することができる。」と記載されているが、引用文献１の［００９２］に「撮影手段１５１では、少なくとも光で照射している照射範囲と、当該照射範囲の近傍であって、光が照射されていない領域を含んで、検査対象物Ｗの幅方向全体が写るようにして画像を撮影する。」、［００９３］に「そして一定のエリアを撮影した画像から、図４（Ｂ）に示す様に、任意に設定した領域内から、ライン状の画像を抽出する。即ち、照明手段１５２から照射された光で照らされている領域Ａ１、その輪郭領域Ａ２と、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３の夫々のラインから、ライン状の画像（Ｌ１～Ｌ３）を抽出する。即ち、光で照らされている領域Ａ１からライン状の画像Ｌ１を抜き出し、光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２からライン状の画像Ｌ２を抜き出し、光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３からライン状の画像Ｌ３を抜き出す。」と記載されているように、引用発明においても、二次元領域を広く撮影するから、厚さが異なる被検査物の表面を検査する場合でも検出器の位置を細かく調整する必要はなく、光の照射状態が異なる複数の領域から複数のライン状の画像を抜き出すものであり、格別顕著なことではない。 ｄ 請求人の主張について （ａ）請求人は、令和５年５月２５日に提出された審判請求書において、概ね次の主張をしている。 （ａ－１） 主張１ 本件補正発明では、第１画像データと第２画像データとして、それぞれ被検査物の搬送方向に複数画素分の長さを有する画像データを取得し、該複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される毎に、二次元カメラで被検査物を撮影するから、被検査物の表面の全ての位置が複数回ずつ撮影され、画像データを平均したり合計したりすることで、撮影回毎のばらつきの影響を低減した画像が得られる。一方、引用発明は、このような構成を備えない。また、隙間なく撮影するという目的からは、被検査物の走査方向において１画素のみが重複するように被検査物を撮影すれば十分であり、第１画像データ及び第２画像データを構成する画素数の半分以上が重複するように動機づけられることはない。引用文献２・３にも当該構成は記載されていない。 （ａ－２） 主張２ 引用文献１には、移送検出手段が、移動速度の変動のばらつきを抑制したり画像データの位置を補正したりするために検査対象物の移動距離や速度を計測することを意味する記載があるのみで、本件補正発明のように検査対象物の搬送速度そのものを変更することは記載も示唆もされていない。 （ｂ） 請求人の主張に対する当審の見解 （ｂ－１） 主張１について 本件補正発明は、画像データを平均したり合計したりすることについて特定されておらず、画像データを平均したり合計したりすることで、撮影回毎のばらつきの影響を低減した画像が得られるとの主張は、本件補正発明に基づかない主張である。 また、上記ａで検討したとおり、画像データとして、被検査物の搬送方向に複数画素分の長さを有する画像データを取得し、該複数画素の数の半分以下である整数の画素が捉える被検査物の長さだけ該被検査物が搬送される毎に、二次元カメラで被検査物を撮影することに相当する構成は引用文献１に記載されている。 よって、主張１は採用することができない。 （ｂ－２） 主張２について 引用文献１には、移動速度の変動のばらつきを抑制したり画像データの位置を補正したりできることからも、上記ｂで検討したとおり、移動速度が一定でなくとも問題なく機能する構成であることは明らかといえる。そして、上記ｂに説示したように、検査対象物の搬送速度を可変とすることは常套手段であって、引用発明において係る構成を採用する点に、何ら技術的困難性は認められない よって、主張２は採用することができない。 ｅ したがって、本件補正発明は、引用発明、引用文献１技術事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 （カ）小括 以上（ア）・（イ）・（オ）より、本件補正発明は、特許法第３６条第６項第１号及び第２号に規定する要件を満たしておらず、かつ、同法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 ３ 本件補正についてのむすび よって、本件補正は、特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。 よって、上記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。 第３ 本願発明について １ 本願発明 令和５年５月２５日にされた手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項１ないし１９に係る発明は、令和４年１２月１４日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１９に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明である本願発明は、その請求項１に記載された事項により特定される、上記第２［理由］１（１）に記載のとおりのものである。 ２ 原査定の拒絶の理由 本願発明に対する原査定の拒絶の理由は、本願発明は、引用文献１に記載された発明及び引用文献２・３の記載に裏付けられる周知技術に基づいて、その出願（遡及日）前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない、というものである。 ３ 引用文献 原査定の拒絶の理由で引用された引用文献１～３及びその記載事項は、上記第２の［理由］２（ウ）に記載したとおりである。 ４ 対比・判断 本願発明と引用発明とを対比する。 ア 構成１Ａ～１Ｄ 本願発明の構成１Ａ～１Ｄは、本件補正発明の構成２Ａ～２Ｄと同一であるから、構成１Ａ～１Ｄと引用発明との対比は、上記第２の［理由］２（エ）ａ（ａ）～（ｄ）のとおりである。 イ 構成１Ｅ 引用発明の構成ｅの「照明手段１５２から照射された光で照らされている領域Ａ１」、「光で照らされている領域Ａ１の輪郭領域Ａ２」、「光が照射されていない領域であって輪郭領域の近傍領域Ａ３」は、それぞれ構成１Ｅの「前記スリット光が照射されている領域である照射領域」、「前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域」、「前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域」に相当する。 構成ｅの上記「領域Ａ１」及び「輪郭領域Ａ２」が、構成１Ｅの「予め決められた２つの領域」に相当し、構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」が、それぞれ構成２Ｅの「第１画像データ」、「第２画像データ」に相当する。 構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」は、それぞれ「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」からライン状に抜き出した画像であるから、「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」の移送方向にライン幅分の長さを有していることが明らかであり、当該ライン幅分の長さが、構成１Ｅの「所定の長さ」に相当する。 してみると、構成ｅの「ライン状の画像Ｌ１」、「ライン状の画像Ｌ２」をそれぞれ「領域Ａ１」、「輪郭領域Ａ２」「から抜き出」すことは、構成２Ｅの「前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから」「予め決められた２つの領域の前記一方向に所定の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する」ことに相当する。 ウ 構成１Ｇ 引用発明の構成ａの「光学式外観検査装置」は、構成１Ｇの「表面検査装置」に相当する。 エ 以上のことから、本願発明と引用発明とは、以下の点で一致する。 （一致点） 「１Ａ 被検査物の表面を検査する装置であって、 １Ｂ 被検査物を所定の一方向に搬送する搬送部と、 １Ｃ 前記一方向と非平行な方向に前記被検査物の表面を横断するスリット光を照射する第１スリット光照射部と、 １Ｄ 前記被検査物の表面における前記スリット光の照射領域を含む所定の二次元領域を視野に捉えるように配置され、予め決められた周期で該領域の画像データを取得する二次元カメラと、 １Ｅ 前記二次元カメラにより取得される二次元領域の画像データから、前記スリット光が照射されている領域である照射領域、前記スリット光が照射されていない領域である非照射領域、及び前記スリット光の照射領域と前記非照射領域の境界領域のうちの、予め決められた２つの領域の前記一方向に所定の長さを有する画像データを第１画像データ及び第２画像データとして抽出する画像データ抽出部と を備える、 １Ｇ’ 表面検査装置。」 本願発明と引用発明とは、以下の点で相違する。 （相違点４） 本願発明では、「前記第１画像データ及び前記第２画像データの、前記所定の長さ及び／又は前記搬送部による前記被検査物の搬送速度が可変であ」るのに対し、引用発明では、「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さ及び／又は検査対象物Ｗの移動速度が可変であるか不明である点。 （相違点５） 予め決められた周期が、本願発明では、「前記所定の長さのｎ（ｎは２以上の整数）分の１だけ前記被検査物が搬送される周期であり、前記所定の長さがｎの整数倍である」のに対し、引用発明において、「一定距離」（構成ｄｆ）と「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さとの関係が不明である点。 オ 判断 （ア） 相違点４について 相違点４は、第２の［理由］２（エ）ｂに示した相違点２と同一であるから、第２の［理由］２（オ）ｂに説示したとおり、引用発明において、検査対象物Ｗの移送速度を可変として相違点２に係る本件補正発明の構成を備えるものとすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 （イ） 相違点５について 上記第２の［理由］２（ウ）ｄに説示したとおり、「光学式外観検査装置において、繋ぎ合わせられることで面画像とされるライン状の画像を、解像度を高めるため、被検査物が、ライン状の画像の被検査物の搬送方向の長さの１／２分だけ被検査物の移動するごとに撮像すること」は、本願の出願前における周知技術である。 引用発明において、ライン状の画像を繋ぎ合わせた面画像からなる画像データとして、より高い解像度のものを得ることは、自明の課題であるから、当該課題を解決するため、上記周知技術に基づき、構成ｄｆの「一定距離」を、「ライン状の画像Ｌ１」及び「ライン状の画像Ｌ２」の移送方向における長さの１／２であるようにし、相違点５に係る本願発明の構成とすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 カ 小括 よって、本願発明は、引用発明及び引用文献２・３の記載に裏付けられる周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 第４ むすび 以上のとおり、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。 よって、結論のとおり審決する。