2017-001628

特願２０１２－１１３９００「撮像用検出器及び画像検出の方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年１２月１０日出願公開、特開２０１２－２４２３９７〕について、次のとおり審決する。

【結　論】 本件審判の請求は、成り立たない。

【理　由】 第１　手続の経緯 本願は、平成２４年５月１８日（パリ条約による優先権主張２０１１年５月２０日、アメリカ合衆国）の出願であって、その手続の概要は、以下のとおりである。 平成２８年　２月２２日：拒絶理由の通知 平成２８年　４月２５日：意見書、手続補正書の提出 平成２８年　９月２９日：拒絶査定（同年１０月４日送達） 平成２９年　２月　３日：審判請求書、手続補正書の提出 平成２９年　９月２１日：拒絶理由（以下「当審拒絶理由」という。）の　　　　　　　　　　　　　通知 平成２９年１２月２５日：意見書、手続補正書の提出 第２　本願発明 本願請求項１ないし９に係る発明は、平成２９年１２月２５日付け手続補正で補正された請求項１ないし９に記載された事項により特定されるとおりのものであるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、以下のとおりのものである。 「【請求項１】 光を放出するように構成されているシンチレータ・ピクセル（１０６）を含むシンチレータ（１００）と、 前記シンチレータ・ピクセルにより放出される光を吸収するように構成されている光センサ・ピクセル（１１４）を画定している光センサ（１１０）と、 前記シンチレータ・ピクセルと前記光センサ・ピクセルとの間に配置されて、前記シンチレータから放出される光を前記光センサ・ピクセルへ向けるレンズ（１１８）であって、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光を、焦点（１２８）へ向けて収束させるように構成されているレンズ（１１８）と を備え、 前記光センサ（１１０）は、前記レンズ（１１８）と前記焦点（１２８）の間に入れられており、 前記シンチレータ・ピクセル（１０６）は、光を放出するシンチレータ作用面積（１０８）を含んでおり、前記光センサ・ピクセル（１１４）は、光を吸収する光センサ作用面積（１１６）を含んでおり、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光は、前記光センサ作用面積によって吸収される、撮像用検出器（２０）。」 第３　引用文献の記載及び引用発明 当審拒絶理由に引用され、本願優先日前に頒布された特表２００６－５１９３７７号公報（以下「引用文献」という。）には、以下の事項が記載されている（下線は、当審で付した。以下同じ。）。 １　「【０００２】 コンピュータ断層撮影法では、他のＸ線画像生成方法におけるように、検査中に患者に対して影響を及ぼすＸ線放射が、組織及び骨の密度及び化学組成に従って減衰される。その場合、検出されるべきＸ線放射のフォトン（photon，光子）は、Ｘ線検出器において、初めに、シンチレータ物質によって吸収され、次に、該シンチレータ物質が、可視光又は紫外線光のレンジのフォトンを再放出する。そのように生じる光が、その後、フォトセンサ装置に当たり、このフォトセンサ装置は、一般に、指定されたチャンネルでもある多数の個別の検出器素子を有している。従って、Ｘ線検出器は、数千から数百万のピクセルを有することができ、ここでは、個々のピクセルのサイズが、０．０３～３０mm2のレンジにあり、とりわけ、１～２mm2のレンジにあり得る。これによって、通常、ＣＭＯＳチップ上のフォトダイオードが、光検出のために使用される。 【０００３】 Ｘ線検出器の分解能は、ピクセルの数とともに当然高まる。しかし、この分解能は、クロストークによって非常にネガティブに影響される。このクロストークでは、散乱放射線が、設けられた検出器素子に隣接する検出器素子へのアクセスを得る。このクロストークを低減するために、Ｘ線放射は、放射線源の焦点にフォーカスされる散乱防止グリッド（anti-scatter grid）を通ることができる。更に、斜めに入射する散乱放射線を吸収し、それによって、隣接する検出器素子に達することを防止する吸収プレートが、個々のシンチレータ結晶の間に置かれ得る。 【０００４】 入射光を電気信号に変換するフォトダイオードに加えて、個別の検出器素子の上に、他の電子部品があること、とりわけ、信号を処理する役目を果たすトランジスタがあることが必要である。 【発明の開示】 【発明が解決しようとする課題】 【０００５】 ここで、フォトダイオードが検出器素子の表面の一部のみを形成する場合、ピクセルの入射光表面が部分的にしか利用されないという問題を生じる。それに応じて、ＤＱＥ（Detection Quantum Efficiency，量子検出効率）が低下する。他方では、フォトダイオード表面が、検出器素子の表面全体に対して拡大される場合、信号を処理するための他の電子部品用に使用できる表面は、それに応じて縮小される。従って、妥協が必要であり、これらの妥協はどちらの場合においても最適条件を示すことはできない。 【０００６】 従って、従来技術から着手される本発明の目的は、各ピクセルの入射光表面がほぼまるごと利用され、それにも関わらず、充分な使用に適した領域が、各検出器素子の表面上で他の電子部品のために利用できる、Ｘ線検出器を生成することにある。更に、クロストークの問題が、より一層低減されるべきである。」 ２　「【００２０】 図１は、本発明によるＸ線検出器に属するピクセルの構造を概略的に示す。この構造は、全体に参照符号１を付与される検出器素子を有し、この検出器素子１の表面の中央に位置するのが、フォトダイオード４である。検出器素子１の上方にマイクロレンズ３が位置し、このマイクロレンズ３は、シンチレータ素子２から発せられる光７を集束させる。この素子に関する限り、シンチレータ素子２は、シンチレータ素子２に当たるＸ線光６を、可視光又は紫外線光７に変換する。マイクロレンズ３を介して集束された光８は、フォトダイオード４に当たり、次に、フォトダイオード４は、この入射光を電気信号に変換する。これによって、フォトダイオード４が、検出器素子１の小さな部分のみをカバーするのに対して、電気信号の他の処理を行う役目を果たす種々の電子部品５は、フォトダイオード４の外側に位置する。それにも関わらず、マイクロレンズ３による光７の集束のために、シンチレータ素子２から生じる入射光表面のほぼ全体が利用される。なぜならば、マイクロレンズ３に垂直に当たる光７は、ほぼすべてがフォトダイオード４に集束されるからである。同時に、マイクロレンズ３は、横から入射する光を、フォトダイオード４の外側の検出器素子１の領域上に偏向させることも可能である。それによって、本発明は、他の電子部品５のための広い有用な領域を、入射光の広範な利用及び関連する高い量子効率（ＤＱＥ）と組み合わせる。 【００２１】 図２は、本発明によるＸ線検出器の一部としての検出器素子１を平面図で示す。この場合、検出器素子１は正方形に設計され、その設計の中でフォトダイオード４が検出器素子１の中央部に位置する。フォトダイオード４の外側で、電子部品５がここでも検出器素子１の上に位置する。マイクロレンズ３は、入射光をフォトダイオード４に集束させる。」 ３　上記１及び２からみて、以下の発明が記載されている。 「クロストークをより一層低減させることを課題とし、 Ｘ線検出器は、数千から数百万のピクセルを有し、 Ｘ線検出器に属するピクセルの構造は、 シンチレータ素子に当たるＸ線光を、可視光又は紫外線光に変換するシンチレータ素子と、 シンチレータ素子から発せられる光を集束させるマイクロレンズと、 マイクロレンズを介して集束された光は、フォトダイオードに当たり、この入射光を電気信号に変換するフォトダイオードとで示され、 マイクロレンズに垂直に当たる光は、ほぼすべてがフォトダイオードに集束され、シンチレータ素子から生じる入射光表面のほぼ全体が利用され、マイクロレンズは、横から入射する光を、フォトダイオードの外側の検出器素子の領域上に偏向させることも可能である、Ｘ線画像生成方法におけるＸ線検出器。」（以下「引用発明」という。） 第４　対比 １　本願発明と引用発明を対比する。 （１）引用発明の「『ピクセルの構造』の『シンチレータ素子に当たるＸ線光を、可視光又は紫外線光に変換するシンチレータ素子』」は、本願発明の「光を放出するように構成されているシンチレータ・ピクセル」に、引用発明の「『ピクセルの構造』の『シンチレータ素子から発せられ』『マイクロレンズを介して集束された光は、フォトダイオードに当たり、この入射光を電気信号に変換するフォトダイオード』」は、本願発明の「『シンチレータ・ピクセルにより放出される光を吸収するように構成されている光センサ・ピクセル』『を画定している光センサ』」に、引用発明の「『ピクセルの構造』の『シンチレータ素子から発せられる光を集束させるマイクロレンズ』であって、それ『を介して集束された光は、フォトダイオードに当た』る『マイクロレンズ』」は、本願発明の「『シンチレータ・ピクセルと前記光センサ・ピクセルとの間に配置されて、前記シンチレータから放出される光を前記光センサ・ピクセルへ向けるレンズ』『であって、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光を、焦点』『へ向けて収束させるように構成されているレンズ』」に、引用発明１の「Ｘ線画像生成方法におけるＸ線検出器」は、本願発明の「撮像用検出器」に、それぞれ相当する。 （２）引用発明は「Ｘ線検出器は、数千から数百万のピクセルを有し」ていることから、引用発明の「『数千から数百万のピクセル』の「『シンチレータ素子』」は、本願発明の「シンチレータ」に、相当する。 （３）シンチレータ素子及びフォトダイオードは面積を有することが技術常識であるから、引用発明の「マイクロレンズに垂直に当たる光は、ほぼすべてがフォトダイオードに集束され、シンチレータ素子から生じる入射光表面のほぼ全体が利用され」は、本願発明の「『シンチレータ・ピクセル』『は、光を放出するシンチレータ作用面積』『を含んでおり、前記光センサ・ピクセル』『は、光を吸収する光センサ作用面積』『を含んでおり、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光は、前記光センサ作用面積によって吸収される』」に、相当する。 （４）上記（１）ないし（３）からみて、本願発明と引用発明とは、 「光を放出するように構成されているシンチレータ・ピクセルを含むシンチレータと、 前記シンチレータ・ピクセルにより放出される光を吸収するように構成されている光センサ・ピクセルを画定している光センサと、 前記シンチレータ・ピクセルと前記光センサ・ピクセルとの間に配置されて、前記シンチレータから放出される光を前記光センサ・ピクセルへ向けるレンズであって、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光を、焦点へ向けて収束させるように構成されているレンズと を備え、 前記シンチレータ・ピクセルは、光を放出するシンチレータ作用面積を含んでおり、前記光センサ・ピクセルは、光を吸収する光センサ作用面積を含んでおり、前記シンチレータ・ピクセルから放出される光は、前記光センサ作用面積によって吸収される、撮像用検出器。」である点で一致し、以下の点で相違する 相違点：光センサと焦点の配置について、本願発明では、「前記光センサ（１１０）は、前記レンズ（１１８）と前記焦点（１２８）の間に入れられて」いるのに対して、引用発明では、「マイクロレンズに垂直に当たる光は、ほぼすべてがフォトダイオードに集束され」るものとなる範囲内にフォトダイオードが位置するものの、マイクロレンズと焦点の間に入れられているのか明らかでない点。 第５　判断 １　はじめに、本願発明が「前記光センサ（１１０）は、前記レンズ（１１８）と前記焦点（１２８）の間に入れられて」いることの技術的意義について、検討する。 本願の発明の詳細な説明の【００１９】には「尚、光線１２４は先ず光センサ・ピクセル１１４の作用面積１１６によって吸収されるため、完全に収束する（焦点１２８において出合う）訳ではないことを特記しておく。」との記載がある。 しかしながら、「前記光センサ（１１０）は、前記レンズ（１１８）と前記焦点（１２８）の間に入れられて」いることにより、技術的にどのような意義があるのか、発明の詳細な説明には記載されていない。 また、上記発明特定事項は、平成２８年４月２５日付けの手続補正により特許請求の範囲に追加されたが、同日付けの意見書には、技術的意義は記載されていない。その後に提出された審判請求書、平成２９年１２月２５日付けの意見書を見ても同様である。 してみると、上記発明特定事項が有する技術的意義は特段説明がないから、一般的なものと解される。 ２　上記１の検討を踏まえ、以下、上記相違点について検討する。 （１）一般に、レンズに垂直に入射する光を受光素子に集束する際、受光素子の受光面の全面に光が入射するように、レンズとレンズの焦点の間に受光素子を配置することは、例えば、特開２００３－１５２１９９号公報（【０００３】の「受光面積の大きい受光素子３を用いた場合、位置Ａから位置Ｂの間に受光素子３を配置することで、受光素子３では、レンズ面２に入射される光を全て受光することができる。」との記載と図３ア参照。）、特開２０００－２７７７６１号公報（【００１８】の「受光器１５の受光面は、その中心が光軸上にあって、焦点ｆの近くにあるが、その焦点ｆよりは入射面１２側に僅かに寄った位置に配置されている。これは受光器１５の受光面が或る程度の広さがあるためで、図１（ａ）に示すように、集光器本体１１の入射面に光軸に平行に入射した光のほぼ全てが受光器１５の受光面に入射する位置に受光器１５を配置するのが適当である。」との記載。）に記載されているよう、当業者が普通に採用する配置である。 （２）また、引用発明は、クロストークをより一層低減させることを課題とするから、クロストーク低減の観点で検討すると、当審拒絶理由で説示したとおり、フォトダイオードは、焦点に位置するよりも、マイクロレンズと焦点の間に位置する方がクロストークが低減する場合も考えられる。そうすると、引用発明において、フォトダイオードを、マイクロレンズと焦点の間に位置させることは、当業者が適宜なし得る事項にすぎない。 （３）してみると、引用発明は、フォトダイオードがマイクロレンズと焦点の間に入れられているのか明らかでないところ、フォトダイオードを、マイクロレンズと焦点の間にいれる配置は、上記（１）のとおり、当業者が普通に採用する配置であり、また、上記（２）のとおり、クロストークが低減する場合も考えられる配置であるから、引用発明において、普通の配置を採用すること、あるいは、クロストークを低減する場合も考えられる配置を採用し、上記相違点に係る本願発明の発明特定事項となすことに困難性はない。 （４）審判請求人は、引用文献１には、 ア　段落００１１に、「検出器素子に当たる光は、検出器素子の中央部に集束される」との記載があること、 イ　段落００１２に、「検出器素子の領域における入射光が、検出器素子のフォトダイオードの表面上に正確に集束され」との記載があること、 ウ　段落００１５に、「検出器素子に当たる光を、専ら、この検出器素子に属するフォトダイオードの上に集束させ」との記載があること、 エ　広辞苑によれば、「集束」とは、光線の束などが１点に集まることを意味することを理由に、引用文献１では、シンチレータ素子から発せられる光は、フォトダイオードの上に集束するわけであるから、フォトダイオードの表面に光の焦点が形成され、構成及び作用が相違する旨主張しているので、以下、検討する。 集束は、「光学では、凸レンズ、もしくは正レンズのようにレンズに向かってくる光線を互いに近づけるように曲げること。」（小柳修爾著「光技術用語辞典」（株）オプトロニクス社　平成１７年１１月２１日　１５３頁　「収束」の項を参照。）を意味するから、レンズに向かってくる光が互いに近づけるように曲げられるのであれば、光が１点に集まる前であっても「集束」といえる。そして、「集束」がこのような意味を有することは、本願の請求項８の「前記シンチレータ・ピクセルから放出される（２０６）前記光は光のビームであり、前記光を収束させるステップ（２０８）は、前記光のビームの断面積を減少させることを含んでいる、請求項７に記載の方法（２００）。」における「収束」の用法とも矛盾しない。 してみると、「集束」とは光が１点に集まることを意味することを前提に、光の焦点がフォトダイオードの表面に形成されている旨の審判請求人の主張は採用されない。 なお、引用文献１の図１においても、フォトダイオード４は、マイクロレンズ３とマイクロレンズ３を介して集束された光８の集まる点の間にあるとも見て取れることから、引用文献１では、光の焦点がフォトダイオードの表面のみに形成されているとまでは、認識できない。 （５）仮に、引用発明において、光の焦点がフォトダイオードの表面に形成されているとしても、上記（３）と同様の理由により、引用発明において、フォトダイオードを、マイクロレンズと焦点の間に位置させることは、当業者が適宜なし得る事項にすぎない。 ２　作用効果について 本願発明の奏する作用効果は、引用発明から当業者が予測できた程度のものである。 第６　むすび 以上のとおり、本願発明は、当業者が引用発明に基いて容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであり、他の請求項に係る発明を検討するまでもなく、本願は、拒絶すべきものである。 よって、結論のとおり審決する。