2023-700700

特許第７２０４７１２号発明「タルク粒子及びその使用」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７２０４７１２号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１～１５〕について訂正することを認める。 特許第７２０４７１２号の請求項１～１５に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 特許第７２０４７１２号（以下、「本件特許」という。）の請求項１～１５に係る特許についての出願は、２０１５年（平成２７年）８月２５日（パリ条約による優先権主張 外国庁受理 ２０１４年９月１日 （ＥＰ）欧州特許庁）を国際出願日とする出願である特願２０１７－５３０４２０号の一部を、令和２年８月５日に新たな特許出願としたものであって、令和５年１月５日にその特許権の設定登録がされ、同年同月１６日に特許掲載公報が発行され、その後、同年７月７日に、請求項１～１５に係る特許について、特許異議申立人 イミファビ ソシエタ ペル アツィオーニ（以下、「申立人」という。）により、甲第１～５号証を証拠方法として特許異議の申立てがなされ、令和５年１０月１７日付けで当審より取消理由が通知され、その指定期間内である令和６年１月１８日に特許権者より意見書の提出及び訂正の請求がされ、同年３月２６日に申立人より甲第６～８号証を添付して意見書（以下、「申立人意見書」という。）が提出され、同年５月１５日付けで当審より取消理由が通知され、同年８月１９日に特許権者より意見書の提出及び訂正の請求がされたものである。 なお、令和６年８月１９日に特許権者により訂正の請求（以下、「本件訂正請求」という。）がされたので、同年１月１８日にされた訂正の請求（以下、「先の訂正請求」という。）については、特許法第１２０条の５第７項の規定により取り下げられたものとみなす。 また、申立人には、先の訂正請求に対する意見書の提出の機会が与えられており、本件訂正請求による訂正の内容は、後記第２の１のとおり、先の訂正請求による訂正の内容である訂正事項１～２０に訂正事項２１を加えたものであって、前記訂正事項２１に係る訂正は、実質的な判断に影響を与えるものではない軽微なものといえるから、本件訂正請求については、申立人に意見書を提出する機会を与える必要がないと認められる特別な事情があるといえるので（特許法第１２０条の５第５項ただし書）、申立人に再度の意見書を提出する機会を与えなかった。 第２ 本件訂正請求による訂正の適否 １ 訂正の内容及び一群の請求項について 本件訂正請求による訂正（以下、「本件訂正」という。）は、請求の趣旨を、「特許第７２０４７１２号の特許請求の範囲を本請求書に添付した訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１～１５について訂正することを求める。」とするものであって、その訂正の内容は、以下のとおりである（当審注：下線は訂正箇所であり、当審が付与した。）。 （１） 訂正事項１ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１に 「約０．５～５．０μｍのｄ５０」 と記載されているのを、 「０．５～５．０μｍのｄ５０」 に訂正する（請求項１の記載を直接的又は間接的に引用する請求項２～５、９～１５も同様に訂正する。）。 （２） 訂正事項２ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１に 「約２．８～約４．０のラメラリティーインデックス」 と記載されているのを、 「２．８～４．０のラメラリティーインデックス」 に訂正する（請求項１の記載を直接的又は間接的に引用する請求項２～５、９～１５も同様に訂正する。）。 （３） 訂正事項３ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１に 「約１００ｐｐｍ以下」 と記載されているのを、 「１００ｐｐｍ以下」 に訂正する（請求項１の記載を直接的又は間接的に引用する請求項２～５、９～１５も同様に訂正する。）。 （４） 訂正事項４ 訂正前の特許請求の範囲の請求項２に 「約５０ｐｐｍ以下」 と記載されているのを、 「５０ｐｐｍ以下」 に訂正する（請求項２の記載を直接的又は間接的に引用する請求項３～５、９～１５も同様に訂正する。）。 （５） 訂正事項５ 訂正前の特許請求の範囲の請求項２に 「約４５μｍ以上」 と記載されているのを、 「４５μｍ以上」 に訂正する（請求項２の記載を直接的又は間接的に引用する請求項３～５、９～１５も同様に訂正する。）。 （６） 訂正事項６ 訂正前の特許請求の範囲の請求項３に 「約３．０～約４．０のラメラリティーインデックス」 と記載されているのを、 「３．０～４．０のラメラリティーインデックス」 に訂正する（請求項３の記載を直接的又は間接的に引用する請求項４、５、９～１５も同様に訂正する。）。 （７） 訂正事項７ 訂正前の特許請求の範囲の請求項３に 「約５．０～約１５．０μｍのｄ９５」 と記載されているのを、 「０．５～１５．０μｍのｄ９５」 に訂正する（請求項３の記載を直接的又は間接的に引用する請求項４、５、９～１５も同様に訂正する。）。 （８） 訂正事項８ 訂正前の特許請求の範囲の請求項４に 「約１０ｍ２／ｇ～約２０ｍ２／ｇの比表面積（ＢＥＴ）」 と記載されているのを、 「１０ｍ２／ｇ～２０ｍ２／ｇの比表面積（ＢＥＴ）」 に訂正する（請求項４の記載を直接的又は間接的に引用する請求項５、９～１５も同様に訂正する。）。 （９） 訂正事項９ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の１行目に 「約０．５～５．０μｍのｄ５０」 と記載されているのを、 「０．５～５．０μｍのｄ５０」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１０） 訂正事項１０ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の１行目に 「約３０．０以上の峻度」 と記載されているのを、 「３０．０以上の峻度」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１１） 訂正事項１１ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の１～２行目に 「約２．８～約４．０のラメラリティーインデックス」 と記載されているのを、 「２．８～４．０のラメラリティーインデックス」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１２） 訂正事項１２ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の２行目に 「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径」 と記載されているのを、 「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１３） 訂正事項１３ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６に 「約５．０μｍより大きいｄ５０」 と記載されているのを、 「５．０μｍより大きいｄ５０」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１４） 訂正事項１４ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６に 「約２０．０μｍのｄ９５」 と記載されているのを、 「２０．０μｍのｄ９５」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１５） 訂正事項１５ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６に 「約１５．０μｍより大きいｄ９５」 と記載されているのを、 「１５．０μｍより大きいｄ９５」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１６） 訂正事項１６ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の９行目に 「約０．５～５．０μｍのｄ５０」 と記載されているのを、 「０．５～５．０μｍのｄ５０」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１７） 訂正事項１７ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の９～１０行目に 「約３０．０以上の峻度」 と記載されているのを、 「３０．０以上の峻度」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１５も同様に訂正する。）。 （１８） 訂正事項１８ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の１０行目に 「約２．８～約４．０のラメラリティーインデックス」 と記載されているのを、 「２．８～４．０のラメラリティーインデックス」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （１９） 訂正事項１９ 訂正前の特許請求の範囲の請求項６の１０～１１行目に 「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径」 と記載されているのを、 「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径」 に訂正する（請求項６の記載を直接的又は間接的に引用する請求項７、８、１２、１５も同様に訂正する。）。 （２０） 訂正事項２０ 訂正前の特許請求の範囲の請求項８に 「約１５．０μｍより大きいｄ９５」 と記載されているのを、 「１５．０μｍより大きいｄ９５」 に訂正する（請求項８の記載を引用する請求項１２、１５も同様に訂正する。）。 （２１） 訂正事項２１ 訂正前の特許請求の範囲の請求項１１に 「約１質量％の前記タルク粒子」 と記載されているのを、 「１質量％の前記タルク粒子」 に訂正する（請求項１１の記載を引用する請求項１３、１４も同様に訂正する。）。 （２２） 一群の請求項について 訂正前の請求項２～５及び９～１５は、いずれも訂正前の請求項１を引用するものであるから、一群の請求項であり、訂正前の請求項７、８、１２及び１５は、いずれも訂正前の請求項６を引用するものであるから、一群の請求項である。 そして、訂正前の請求項１２及び１５は、訂正前の請求項１又は６を直接的又は間接的に引用するものであるから、これら２つの一群の請求項は組み合わされて１つの一群の請求項となるので、訂正事項１～２１による本件訂正による特許請求の範囲の訂正は、一群の請求項１～１５について請求されたものである。 ２ 訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否、独立特許要件について （１） 訂正事項１～２１について 訂正事項１～２１による訂正は、いずれも、訂正前の特許請求の範囲の「約」という記載を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものであり、願書に添付した明細書、特許請求の範囲に記載した事項の範囲内の訂正といえ、また、カテゴリーや対象、目的を変更するものではないから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当しない。 （２） 独立特許要件について 本件特許異議の申立てにおいては、訂正前の請求項１～１５に係る発明の特許に対して特許異議の申立がされているので、訂正後の請求項１～１５に係る発明については、特許法第１２０条の５第９項において読み替えて準用する同法第１２６条第７項の規定（独立特許要件）は適用されない。 ３ 小括 したがって、本件訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第３号に掲げる事項を目的とするものに該当し、同法同条第９項において準用する同法第１２６条第５項及び第６項の規定に適合するので、訂正後の請求項〔１～１５〕について訂正することを認める。 第３ 本件特許発明 本件訂正が認められることは前記第２に記載したとおりであるので、本件特許の請求項１～１５に係る発明は、それぞれ、本件訂正後の特許請求の範囲の請求項１～１５に記載された事項により特定される以下のとおりのものである（以下、「本件発明１」～「本件発明１５」といい、まとめて「本件発明」ということがある。）。 「【請求項１】 ０．５～５．０μｍのｄ５０、３０．０以上の峻度及び２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有し、１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含む、タルク粒子。 【請求項２】 ５０ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含む、請求項１に記載のタルク粒子。 【請求項３】 ３．０～４．０のラメラリティーインデックスを有するか、又は ５．０～１５．０μｍのｄ９５を有する、 請求項１～２のいずれか１項に記載のタルク粒子。 【請求項４】 １０ｍ２／ｇ～２０ｍ２／ｇの比表面積（ＢＥＴ）を有する、請求項１～３のいずれか１項に記載のタルク粒子。 【請求項５】 表面処理剤で表面処理されている、請求項１～４のいずれか１項に記載のタルク粒子。 【請求項６】 ０．５～５．０μｍのｄ５０、３０．０以上の峻度及び２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有し、かつ１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含むタルク粒子の調製方法であって、下記工程、 （ａ）５．０μｍより大きいｄ５０を有する初期粒径を有し、少なくとも２０．０μｍのｄ９５を有する相対的に粗いタルク粒子の液体懸濁液をデラミネーションして、前記初期粒径より小さい粒径を有するタルク粒子を得る工程、 （ｂ）前記懸濁液を処理して、１５．０μｍより大きいｄ９５を有する粒子を減らすか又は排除する工程、及び （ｃ）前記懸濁液を少なくとも部分的に乾燥させ、それによって０．５～５．０μｍのｄ５０、３０．０以上の峻度及び２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有し、かつ１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含むタルク粒子を得る工程、 を含む、前記方法。 【請求項７】 前記懸濁液を少なくとも部分的に乾燥させる工程の前に、前記タルク粒子を表面処理剤で更に処理する、請求項６に記載の方法。 【請求項８】 １５．０μｍより大きいｄ９５を有する粒子の少なくとも一部を工程（ａ）のデラミネーションに再利用する、請求項６又は７に記載の方法。 【請求項９】 請求項１～５のいずれか１項に記載のタルク粒子を含む、ポリマー組成物。 【請求項１０】 前記ポリマーが、ポリプロピレン、ポリエチレン、プロピレン-エチレンコポリマー、又はそれらの組合せから選択される、請求項９に記載のポリマー組成物。 【請求項１１】 前記ポリマー組成物の総質量に基づいて、少なくとも１質量％の前記タルク粒子を含む、請求項９～１０のいずれか１項に記載のポリマー組成物。 【請求項１２】 請求項１～５のいずれか１項に記載のタルク粒子、又は請求項６～８のいずれか１項に記載の方法により得ることができるタルク粒子をポリマーと混ぜ合わせる工程を含む、ポリマー組成物の調製方法。 【請求項１３】 請求項９～１１のいずれか１項に記載のポリマー組成物から形成される、ポリマー複合材又は物品。 【請求項１４】 請求項１３に記載のポリマー複合材又は物品であって、 （ｉ）１００ｐｐｍより多くの４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含む同量のタルク粒子を含む同等のポリマー複合材又は物品の第２のシャルピー衝撃強度より大きい、第１のシャルピー衝撃強度、及び／又は （ｉｉ）１００ｐｐｍより多くの４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含む同量のタルク粒子を含む同等のポリマー複合材又は物品の第２の落錘インデックス（ＦＷＩ）より大きい、０℃又は２０℃における第１のＦＷＩ、及び／又は （ｉｉｉ）１００ｐｐｍより多くの、４５μｍ以上の粒径を有する粒子を含む同量のタルク粒子を含む同等のポリマー複合材又は物品の第２の曲げ弾性率より大きい、第１の曲げ弾性率、 を有する、前記ポリマー複合材又は物品。 【請求項１５】 請求項１～５のいずれか１項に記載のタルク粒子、又は請求項６～８のいずれか１項に記載の方法により得ることができるタルク粒子の、ポリマー組成物におけるフィラーとしての使用。」 第４ 特許異議申立理由の概要 １ 特許法第２９条第１項所定の規定違反（新規性欠如）について （１） 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～４、９及び１５に係る発明は、甲第１号証に記載された発明であるから、前記請求項１～４、９及び１５に係る発明の特許は、特許法第２９条第１項所定の規定に違反してされたものである。 （２） 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～４、９及び１５に係る発明は、甲第２号証に記載された発明であるから、前記請求項１～４、９及び１５に係る発明の特許は、特許法第２９条第１項所定の規定に違反してされたものである。 ２ 特許法第２９条第２項所定の規定違反（進歩性欠如）について （１） 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～１５に係る発明は、甲第１号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、前記請求項１～１５に係る発明の特許は、特許法第２９条第２項所定の規定に違反してされたものである。 （２） 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～１５に係る発明は、甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、前記請求項１～１５に係る発明の特許は、特許法第２９条第２項所定の規定に違反してされたものである。 ３ 特許法第３６条第６項第２号所定の規定違反（明確性要件違反）について 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～４、６、８及び１１に係る発明の「約」という記載は、「ｄ５０」、「ラメラリティーインデックス」、「粒径」、「ｄ９５」、「比表面積（ＢＥＴ）」、「峻度」及び所定粒径の「タルク粒子の含有率」の範囲を不明確にする記載であるから、前記特許請求の範囲の記載は明確性要件を満たさないので、前記請求項１～１５に係る発明の特許は、特許法第３６条第６項第２号所定の規定を満たしていない特許出願に対してされたものである。 ４ 証拠方法 甲第１号証：Product Data Sheet Jetfine（Ｒ）3CA，２００８年４月（当審注：「（Ｒ）」は登録商標マークである。以下、同様である。） 甲第２号証：Product Data Sheet Jetfine（Ｒ）1CA，２００８年４月 甲第３号証：対応欧州出願（欧州特許 ３４８３２２１ Ｂ１）に対する異議申立手続において、申立人が２０２２年１０月２７日にＤ１９として提出した宣誓供述書 甲第４号証：国際ポリオレフィン会議２００８における発表資料，２００８年２月２４日～２７日 甲第５号証：国際ポリオレフィン会議２００９における発表資料，２００９年２月２２日～２５日 甲第６号証：2012 Registration Document ANNUAL FINANCIAL REPORT,IMERYS 甲第７号証：Product Data Sheet Steaplus HAR（Ｒ） T77,２０１１年１０月 甲第８号証：国際公開第９８／４５３７４号 なお、甲第６～８号証は、申立人意見書に添付して提出されたものである。 そして、甲第４～７号証は、甲第１号証の公知日を明らかにしようとする証拠であり、甲第８号証は、甲第３号証で記載するパトリス・モノー氏の宣誓供述内容が信頼できるものであることを裏付けようとするものである。 第５ 取消理由の概要 １ 令和５年１０月１７日付け取消理由通知の取消理由の概要 （１） 特許法第２９条第１項所定の規定違反及び同法同条第２項所定の規定違反（新規性、進歩性欠如）について 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～５及び９～１５に係る発明は、甲第１号証に記載された発明であるか、甲第１号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 （２） 特許法第３６条第６項第２号所定の規定違反（明確性要件違反）について 設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～４、６及び８に係る発明の「約」の記載は発明特定事項を不明確にする記載であるから、設定登録時の特許請求の範囲の請求項１～１５に係る発明は明確でない。 ２ 令和６年５月１５日付け取消理由通知の取消理由の概要 先の訂正請求により訂正された特許請求の範囲の請求項１１に係る発明の「約」の記載は発明特定事項を不明確にする記載であるから、先の訂正請求により訂正された特許請求の範囲の請求項１１、１３、１４に係る発明は明確でない。 第６ 特許異議申立理由及び取消理由についての当審の判断 事案に鑑み、前記第４の特許異議申立理由及び第５の取消理由についてまとめて検討する。 １ 特許法第２９条第１項、第２項所定の規定違反（新規性、進歩性欠如）について （１） 甲各号証の記載事項等 ア 甲第１号証の記載事項及び甲第１号証に記載された発明 （ア） 甲第１号証には、以下の記載がある。 「 ［図：0001417611000001.jpg］ 」 （当審訳：説明と応用 Jetfine（Ｒ）3CAは、極めて純粋で非常に白いタルクである。高いアスペクト比と超微細粉砕により、結晶性ポリマーの核生成を改善する。 より高い嵩密度を得るために圧縮されるため、配合量が増加し、高充填コンパウンドの調製が可能になる。（１行～５行） 代表的な特性 白さ（Minolta CR300, illuminant D65/2°）Y………９５（９４．５）＊ Ｌ＊ （CIE）……………………………………………………………９８．０ ａ＊ （CIE）………………………………………………………………０．０ ｂ＊ （CIE）………………………………………………………………０．６ Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）…………………………………１４．５ｍ２／ｇ 比表面積、Blaine 10………………………………………………５００００ 比重（ISO 787/10）……………………………………………………２．７８ タップかさ密度（ISO 787/11）……………………………０．９ｇ／ｃｍ３ 硬度（モース硬度）……………………………………………………………１ 化学分析（蛍光Ｘ線による） ＳｉＯ２…………………………………………………………………６２％ ＭｇＯ ………………………………………………………………３１．５％ Ａｌ２Ｏ３ ……………………………………………………………０．４％ Ｆｅ２Ｏ３ ……………………………………………………………０．２％ ＣａＯ …………………………………………………………………０．３％ １０５０℃での強熱減量 …………………………………………………６％ ６２５℃での強熱減量 …………………………………………………０．９ １０５℃での水分含有量（ＩＳＯ ７８７／２）……………＜０．３％ スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍ…０．０３％（１６行～２５行） セディグラフによる粒度分布 沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３） メジアン径－Ｄ５０：１．０（１．１）＊μｍ Ｄ９５：３．５μｍ 縦軸：累積質量（％） 横軸：球相当直径［μｍ］ （左下欄） レーザーマスターサイザーによる粒度分布 レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１） メジアン径－Ｄ５０：３．９（５）＊μｍ Ｄ９５：７．８μｍ 縦軸：累積質量（％） 横軸：球相当直径（μ） （右下欄） ＊圧縮タルクで得られたデータ（最終行） 注:記載されているデータは代表的なものだが、製造仕様ではない。サプライヤーは誠意を持ってデータを提供するが、特定の目的への適合性の保証を含め、提供された情報または説明された製品に関して、明示的または限定的であるかを問わず、いかなる種類の保証または表明も行わない。（欄外１行～４行）） なお、当審訳は甲第１号証の記載事項を部分的に抜粋したものである。 （イ） 前記（ア）の記載によれば、甲第１号証には「Jetfine（Ｒ）3CA」が記載されており、当該「Jetfine（Ｒ）3CA」は、極めて純粋で非常に白いタルクであり、高いアスペクト比と超微細粉砕により、結晶性ポリマーの核生成を改善するものであり、より高い嵩密度を得るために圧縮されるため、配合量が増加し、高充填コンパウンドの調製が可能になるものである。 また、前記「Jetfine（Ｒ）3CA」の代表的な特性は、白さ（Minolta CR300, illuminant D65/2°）Yが９５であり、Ｌ＊（CIE）が９８．０であり、ａ＊（CIE）が０．０であり、ｂ＊（CIE）が０．６であり、Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）が１４．５ｍ２／ｇであり、比表面積、Blaine 10が５００００であり、比重（ISO 787/10）が２．７８であり、タップかさ密度（ISO 787/11）が、０．９ｇ／ｃｍ３であり、硬度（モース硬度）が１であり、前記「Jetfine（Ｒ）3CA」は、化学分析（蛍光Ｘ線による）によれば、ＳｉＯ２：６２％、ＭｇＯ：３１．５％、Ａｌ２Ｏ３：０．４％、Ｆｅ２Ｏ３：０．２％、ＣａＯ：０．３％を含み、１０５０℃での強熱減量が６％であり、６２５℃での強熱減量が０．９であり、１０５℃での水分含有量（ISO 787/2）が＜０．３％であり、スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍが０．０３％であり、沈降解析、ストークスの法則（ISO 13317-3）に基づくセディグラフによる粒度分布によれば、メジアン径－Ｄ５０が１．０μｍ、Ｄ９５が３．５μｍであり、レーザー回折、ミー理論（ISO 13320-1）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定によれば、メジアン径－Ｄ５０が３．９μｍ、Ｄ９５が７．８μｍであるものである。 更に、甲第１号証のセディグラフによる粒度分布のグラフ（左下欄）から、前記「Jetfine（Ｒ）3CA」のＤ３０は概略０．８μｍであり、Ｄ７０は概略１．８μｍであることが看取される。 （ウ） 前記（イ）によれば、甲第１号証には、 「Jetfine（Ｒ）3CAであって、 当該Jetfine（Ｒ）3CAは、極めて純粋で非常に白いタルクであり、高いアスペクト比と超微細粉砕により、結晶性ポリマーの核生成を改善するものであり、より高い嵩密度を得るために圧縮されるため、配合量が増加し、高充填コンパウンドの調製が可能になるものであり、 その代表的な特性は、白さ（Minolta CR300, illuminant D65/2°）Yが９５であり、Ｌ＊（CIE）が９８．０であり、ａ＊（CIE）が０．０であり、ｂ＊（CIE）が０．６であり、Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）が１４．５ｍ２／ｇであり、比表面積、Blaine 10が５００００であり、比重（ISO 787/10）が２．７８であり、タップかさ密度（ISO 787/11）が、０．９ｇ／ｃｍ３であり、硬度（モース硬度）が１であり、 前記Jetfine（Ｒ）3CAは、化学分析（蛍光Ｘ線による）によれば、ＳｉＯ２：６２％、ＭｇＯ：３１．５％、Ａｌ２Ｏ３：０．４％、Ｆｅ２Ｏ３：０．２％、ＣａＯ：０．３％を含み、１０５０℃での強熱減量が６％であり、６２５℃での強熱減量が０．９であり、１０５℃での水分含有量（ISO 787/2）が＜０．３％であり、スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍが０．０３％であり、 沈降解析、ストークスの法則（ISO 13317-3）に基づくセディグラフによる粒度分布によれば、メジアン径－Ｄ５０が１．０μｍ、Ｄ９５が３．５μｍであり、レーザー回折、ミー理論（ISO 13320-1）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定によれば、メジアン径－Ｄ５０が３．９μｍ、Ｄ９５が７．８μｍであり、セディグラフによる粒度分布のグラフから看取されるＤ３０が概略０．８μｍであり、Ｄ７０が概略１．８μｍである、Jetfine（Ｒ）3CA。」の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されているといえる。 イ 甲第２号証の記載事項及び甲第２号証に記載された発明 （ア） 甲第２号証には、以下の記載がある。 「 ［図：0001417611000002.jpg］ 」 （当審訳：説明と応用 Jetfine（Ｒ）1CAは、ポリマーの核形成のために特別に開発された超微粒子タルク（ナノ粒子を７０％含む）である。その微細さにより樹脂の結晶化が促進され、それによって曲げ弾性率、ＨＤＴ及び透明性が大幅に向上する。（１行～３行） 代表的な特性 白さ（Minolta CR300, illuminant D65/2°）Y……………………… Ｌ＊ （CIE）………………………………………………………………… ａ＊ （CIE）………………………………………………………………… ｂ＊ （CIE）………………………………………………………………… Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）………………………………………２１ｍ２／ｇ 比表面積、Blaine 10………………………………………………４８０００ 比重（ISO 787/10）………………………………………２．７８ｇ／ｃｍ３ タップかさ密度（ISO 787/11）………………………０．８０ｇ／ｃｍ３＊ 硬度（モース硬度）……………………………………………………………１ 化学分析（蛍光Ｘ線による） ＳｉＯ２……………………………………………………………６１．０％ ＭｇＯ ………………………………………………………………３１．５％ Ａｌ２Ｏ３ ……………………………………………………………０．７％ Ｆｅ２Ｏ３ ……………………………………………………………０．７％ ＣａＯ …………………………………………………………………０．２％ １０５０℃での強熱減量 ……………………………………………５．９％ ６２５℃での強熱減量 ………………………………………………０．９％ １０５℃での水分含有量（ＩＳＯ ７８７／２）……………＜０．３％＊ スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍ…０．０２％（１４行～２３行） セディグラフによる粒度分布 沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３） メジアン径－Ｄ５０：０．７（０．９＊）μｍ Ｄ９５：２．９（３．２＊）μｍ 縦軸：累積質量（％） 横軸：球相当直径［μｍ］ （左下欄） レーザーマスターサイザーによる粒度分布 レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１） メジアン径－Ｄ５０：４．９μｍ＊ Ｄ９５：１４．６μｍ＊ 縦軸：累積質量（％） 横軸：球相当直径（μｍ） （右下欄） ＊圧縮タルクで得られたデータ （最終行） 注:記載されているデータは代表的なものだが、製造仕様ではない。サプライヤーは誠意を持ってデータを提供するが、特定の目的への適合性の保証を含め、提供された情報または説明された製品に関して、明示的または限定的であるかを問わず、いかなる種類の保証または表明も行わない。（欄外１行～４行。なお、当審訳は甲第２号証の記載事項を部分的に抜粋したものである。）） （イ） 前記（ア）の記載によれば、甲第２号証には「Jetfine（Ｒ）1CA」が記載されており、当該「Jetfine（Ｒ）1CA」は、ポリマーの核形成のために特別に開発された超微粒子タルク（ナノ粒子を７０％含む）であり、その微細さにより樹脂の結晶化が促進され、それによって曲げ弾性率、ＨＤＴ及び透明性が大幅に向上するものである。 また、前記「Jetfine（Ｒ）1CA」の代表的な特性は、Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）が２１ｍ２／ｇであり、比表面積、Blaine 10が４８０００であり、比重（ISO 787/10）が２．７８ｇ／ｃｍ３であり、タップかさ密度（ISO 787/11）０．８０ｇ／ｃｍ３であり、硬度（モース硬度）が１であり、前記「Jetfine（Ｒ）1CA」は、化学分析（蛍光Ｘ線による）によれば、ＳｉＯ２：６１．０％、ＭｇＯ：３１．５％、Ａｌ２Ｏ３：０．７％、Ｆｅ２Ｏ３：０．７％、ＣａＯ：０．２％を含み、１０５０℃での強熱減量が５．９％であり、６２５℃での強熱減量が０．９％であり、１０５℃での水分含有量（ＩＳＯ ７８７／２）が＜０．３％であり、スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍが０．０２％であり、沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３）に基づくセディグラフによる粒度分布によれば、メジアン径－Ｄ５０が０．７μｍ（圧縮タルクで得られたデータが０．９μｍ）、Ｄ９５が２．９μｍ（圧縮タルクで得られたデータが３．２μｍ）であり、レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定によれば、メジアン径－Ｄ５０が４．９μｍ（圧縮タルクで得られたデータ）、Ｄ９５が１４．６μｍ（圧縮タルクで得られたデータ）であるものである。 更に、甲第２号証のセディグラフによる粒度分布のグラフから、前記「Jetfine（Ｒ）1CA」のＤ３０は概略０．５μｍ、Ｄ７０は概略１．３μｍであることが看取される。 （ウ） 前記（イ）によれば、甲第２号証には、 「Jetfine（Ｒ）1CAであって、 当該Jetfine（Ｒ）1CAは、ポリマーの核形成のために特別に開発された超微粒子タルク（ナノ粒子を７０％含む）であり、その微細さにより樹脂の結晶化が促進され、それによって曲げ弾性率、ＨＤＴ及び透明性が大幅に向上するものであり、 その代表的な特性は、Ｂ．Ｅ．Ｔ．（ISO 9277）が２１ｍ２／ｇであり、比表面積、Blaine 10が４８０００であり、比重（ISO 787/10）が２．７８ｇ／ｃｍ３であり、タップかさ密度（ISO 787/11）０．８０ｇ／ｃｍ３であり、硬度（モース硬度）が１であり、 Jetfine（Ｒ）1CAは、化学分析（蛍光Ｘ線による）によれば、ＳｉＯ２：６１．０％、ＭｇＯ：３１．５％、Ａｌ２Ｏ３：０．７％、Ｆｅ２Ｏ３：０．７％、ＣａＯ：０．２％を含み、１０５０℃での強熱減量が５．９％であり、６２５℃での強熱減量が０．９％であり、１０５℃での水分含有量（ＩＳＯ ７８７／２）が＜０．３％であり、スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍが０．０２％であり、 沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３）に基づくセディグラフによる粒度分布によれば、メジアン径－Ｄ５０が０．７μｍ（圧縮タルクで得られたデータが０．９μｍ）、Ｄ９５が２．９μｍ（圧縮タルクで得られたデータが３．２μｍ）であり、レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定によれば、メジアン径－Ｄ５０が４．９μｍ（圧縮タルクで得られたデータ）、Ｄ９５が１４．６μｍ（圧縮タルクで得られたデータ）であり、セディグラフによる粒度分布のグラフから看取されるＤ３０が概略０．５μｍであり、Ｄ７０が概略１．３μｍである、Jetfine（Ｒ）1CA。」の発明（以下、「甲２発明」という。）が記載されているといえる。 ウ 甲第３号証の記載事項 甲第３号証には、以下の（ア）、（イ）の記載がある。 （ア） 「 ［図：0001417611000003.jpg］ 」（１/２ページ） （当審訳：Ｉ．パトリス・モノーは、１９６５年３月１１日にフランスのブザンソンで生まれ（フランス国民）、イタリアのミラノにあるIMIFABIで鉱業及び加工開発の鉱業及び加工技術者として１５年間任命されてきました。この分野での私の経験の詳細については、私の履歴書をご覧ください。 以下の質問は、EP3483221B1に対する異議の申立てにおいてIMIFABIの代表者から私に提出されました。宣誓に代わる虚偽の宣誓は処罰の対象となることを承知しており、私は、前記異議の申立て手続で欧州特許庁への提出用の以下の回答が、私の知る限り正しいことを宣言します。 １．文書Ｄ２、Ｄ４、Ｄ７、Ｄ８及びＤ９にそれぞれ記載されているタルク粒子Jetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77をご存知ですか？ 私は、技術データシートなどの商業用技術文書や見本市や国際ショーなどの公共イベントから、タルク粒子Jetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77について知っています。 ２．これらのタルク粒子が２０１４年９月１日より前に市販されていたかどうかご存知ですか？もしかして、このタルク粒子が初めて市場に登場したときをご存知ですか？ これらのタルク粒子はすべて、２０１４年９月１日より前に市販されていました。 ３．特許EP3483221B1の請求項２には、次のような特徴が記載されています。 「４５μｍ以上の粒径を有する粒子を２５０ｐｐｍ未満含む、または４５μｍ以上の粒径を有する粒子を１００ｐｐｍ以下含む、または４５μm以上の粒径を有する粒子を５０ｐｐｍ以下含む、請求項１に記載のタルク粒子」 ａ） 粗タルク及び最終タルク製品、例えばJetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77における、サイズが４５μｍを超える粒子の標準含有量はそれぞれどの程度ですか？） （イ） 「 ［図：0001417611000004.jpg］ 」（２/２ページ） （当審訳：４５μｍを超える粒子の通常の含有量は一般に無視できるものと考えられており、約３～５ｐｐｍ未満の量は標準的な品質管理方法を使用しても検出できません。したがって、これらの製品はすべて、４５μｍ付近の寸法限界で１～３ｐｐｍを超える残留物を含む可能性が高くなります。１～３ｐｐｍの限界は非常に低く、通常の方法の検出レベルを超えているため、４５μｍの上下の部分を測定する方法を指定することが重要です。 ｂ）当業者であれば、サイズが４５μｍを超える粒子をどのように除去しようとするでしょうか？ 当業者は、例えば動的分級を使用して、４５μｍを超える粒子を除去しようとするでしょう。これは統計的なプロセスであり、たとえ非常に少量、すなわち２５０ｐｐｍ未満、または１００ｐｐｍ未満、または５０ｐｐｍ未満の範囲であっても、制限を超える残留物が存在する可能性が常にあることを意味することを強調することが重要です。なぜなら、上で述べたように、標準的な品質管理方法の検出限界は約３～５ｐｐｍであるためです。 ミラノ、２０２２年１０月１８日） なお、当審訳は甲第３号証の記載事項を部分的に抜粋したものである。 （２） 甲第１号証を主引用例とした場合について ア 対比・判断 （ア） 本件発明１と甲１発明とを対比すると、甲１発明における「Jetfine（Ｒ）3CA」は、「極めて純粋で非常に白いタルクであり、高いアスペクト比と超微細粉砕により、結晶性ポリマーの核生成を改善するもの」であるから、本件発明１における「タルク粒子」に相当する。 また、甲１発明は、「沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３）に基づくセディグラフによる粒度分布が、メジアン径－Ｄ５０：１．０μｍ」であるものである。 一方、本件発明１は、「０．５～５．０μｍの範囲のｄ５０」「を有」するものであるが、前記「ｄ５０」の測定方法について、本件特許明細書の段落【０００７】には、 「【０００７】 特に指定のない限り、本明細書でタルク粒状物質に関して言及する粒径特性は、本明細書では「マイクロメリティックスセディグラフ(Micromeritics Sedigraph) 5100ユニット」と呼ぶMicromeritics Instruments Corporation, Norcross, Georgia, USA (www.micromeritics.com)によって供給されるセディグラフ5100装置を用いて、水性媒体に完全に分散した状態の粒状物質の沈降により周知の方法で測定される通りである。該装置は、当技術分野で「球相当径(equivalent spherical diameter)」(e.s.d)と呼ばれる所与のe.s.d値未満のサイズを有する粒子の累積質量百分率の測定値及びプロットを提供する。平均粒径ｄ５０は、当該ｄ５０値未満の球相当径を有する粒子が５０質量％あるときの粒子e.s.dのこのようにして決定される値である。ｄ９５値は、粒子の９５質量%が当該ｄ９５値未満のesdを有するときの値である。粒径特性は、ISO 13317-3、又はそれに等価のいずれかの方法に準拠して決定可能である。」 と記載されている。 そして、前記記載によれば、本件発明１の「ｄ５０」は、「マイクロメリティックスセディグラフ(Micromeritics Sedigraph) 5100ユニット」と呼ぶMicromeritics Instruments Corporation, Norcross, Georgia, USA (www.micromeritics.com)によって供給されるセディグラフ5100装置を用いて、水性媒体に完全に分散した状態の粒状物質の沈降により周知の方法で測定されるものである。 してみれば、甲１発明における「メジアン径－Ｄ５０」の測定方法と、本件発明１における「ｄ５０」の測定方法は、セディグラフにより測定される点で概略合致するといえるから、甲１発明が「メジアン径－Ｄ５０：１．０μｍ」であることは、本件発明１において「０．５～５．０μｍの範囲のｄ５０」「を有」することを満たすといえる。 （イ） ここで、甲第１号証には「峻度」及び「ラメラリティーインデックス」が記載されていないが、前記「峻度」及び「ラメラリティーインデックス」を求める方法について、本件特許明細書の段落【０００５】及び【０００８】には、以下の記載がある。 「【０００５】 発明の詳細な説明 本明細書で使用する場合、用語「タルク」は、ケイ酸マグネシウム鉱物、又は鉱物緑泥石（ケイ酸アルミニウムマグネシウム）、又は両者の混合物のどれかを意味し、場合により他の鉱物、例えば、ドロマイト及び／又はマグネサイトを伴うことがあり、或いはさらに、タルコース(talcose)としても知られる合成タルクを意味する。 本明細書で使用する場合、用語「表面処理済み」は、タルク粒子が、タルクの表面に付着（例えば、物理吸着又は結合）するか又は別なふうにタルクの表面と関連する化合物と接触していることを意味する。 本明細書で使用する場合、用語「ラメラリティーインデックス(lamellarity index)」は、下記比によって定義される。 ［図：0001417611000005.jpg］ ここで、「ｄ平均」は、湿式マルバーン(Malvern)レーザー散乱法（規格AFNOR NFX11-666又はISO 13329-1）による粒径測定によって得られる平均粒径（ｄ５０）の値であり、「ｄ５０」は、後述するように、セディグラフ(sedigraph)（規格AFNOR X11-683又はISO 13317-3）を用いて沈降作用によって得られる中位径の値である。G. Baudet and J. P. Rona, Ind. Min. Mines et Carr. Les techn. June, July 1990, pp 55-61による論文を参照することができる。この論文は、このインデックスが、粒子の最大寸法の粒子の最小寸法に対する平均割当と相関があることを示している。」 「【０００８】 上述したマルバーンレーザー光散乱技術においては、粉体、懸濁液及びエマルション中の粒子のサイズは、ミー理論の適用に基づいてレーザー光の回折を利用して測定可能である。このような装置、例えばマルバーンマスターサイザーS（Malvern Instrumentsによって供給される）は、当技術分野で「球相当径」(e.s.d)と呼ばれる所与のe.s.d値未満のサイズを有する粒子の累積体積百分率の測定値及びプロットを提供する。平均粒径ｄ５０は、当該ｄ５０値未満の球相当径を有する粒子が５０体積％あるときの粒子e.s.dのこのようにして決定される値である。誤解を避けるために、レーザー光散乱を用いる粒径の測定は、上述した沈降法に等価な方法ではない。 本明細書で使用する場合、用語「峻度」は、下記式により決まる。 峻度＝１００×（ｄ３０／ｄ７０） 式中、ｄ３０値は、上記沈降法に従って測定した場合、粒子の３０％質量が当該ｄ３０値未満のesdを有するときの値であり、ｄ７０値は、粒子の７０質量％が当該ｄ７０値未満のesdを有するときの値である。」 前記記載によれば、本件発明１における「峻度」は、 峻度＝１００×（ｄ３０／ｄ７０） の式により決まるものであるが、式中、「ｄ３０値」は、セディグラフによる沈降法に従って測定した場合、粒子の３０％質量が当該「ｄ３０値」未満のesdを有するときの値であり、「ｄ７０値」は、粒子の７０質量％が当該「ｄ７０値」未満のesdを有するときの値であるといえる。 これに対して、甲１発明における「Ｄ３０」及び「Ｄ７０」は、セディグラフによる粒度分布のグラフから看取されるものであり、これらも、前記「ｄ３０値」及び「ｄ７０値」と同様に、セディグラフによる沈降法に従って測定したものといえるから、甲１発明における「Ｄ３０」及び「Ｄ７０」は、それぞれ、前記「ｄ３０値」及び「ｄ７０値」に相当するものといえるので、甲１発明における「ｄ３０値」は概略０．８μｍといえ、「ｄ７０値」は概略１．８μｍといえる。 そうすると、甲１発明における「峻度」は、１００×（ｄ３０／ｄ７０)＝１００×（概略０．８μｍ／概略１．８μｍ）＝概略４４．４と求められるから、本件発明１において「３０．０以上の峻度」「を有」することを満たすといえる。 更に、本件特許明細書の前記記載によれば、本件発明１における「ラメラリティーインデックス」は、湿式マルバーン(Malvern)レーザー散乱法（規格AFNOR NFX11-666又はISO 13329-1）による粒径測定によって得られる平均粒径（ｄ５０）、すなわち「ｄ平均」の値と、セディグラフ(sedigraph)（規格AFNOR X11-683又はISO 13317-3）を用いて沈降作用によって得られる中位径の値「ｄ５０」から、 ［図：0001417611000006.jpg］ の式により求められるものであるが、「ｄ平均」は、ミー理論の適用に基づいてレーザー光の回折を利用して測定可能であり、例えばマルバーンマスターサイザーS（Malvern Instrumentsによって供給される）により測定されるものである。 ここで、前記（ア）に記載したのと同様の理由により、甲１発明における「メジアン径－Ｄ５０」は、本件発明１における「ｄ５０」に相当するといえるから、甲１発明における「ｄ５０」は１．０μｍといえる。 また、甲１発明において、レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定により測定された「メジアン径－Ｄ５０」は、その測定方法が、ミー理論の適用に基づいてレーザー光の回折を利用するマルバーンマスターサイザーによる測定である点で、本件発明１における「ｄ平均」と概略合致するといえるから、甲１発明におけるレーザーマスターサイザーによる測定により測定された「メジアン径－Ｄ５０」は、前記「ｄ平均」に相当するといえるので、甲１発明における「ｄ平均」は、３．９μｍといえる。 すると、甲１発明における「ラメラリティーインデックス」は、（ｄ平均－ｄ５０）／ｄ５０＝（３．９μｍ－１．０μｍ）／１．０μｍ＝２．９と求められるから、本件発明１において「２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有」することを満たす。 （ウ） 前記（ア）及び（イ）によれば、本件発明１と甲１発明とは、 「０．５～５．０μｍのｄ５０、３０．０以上の峻度及び２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有する、タルク粒子。」 の点で一致し、以下の点で相違する。 ・相違点１：本件発明１は、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」のに対して、甲１発明が「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」か否かが明らかでない点。 （エ） 始めに、前記（ウ）の相違点１が実質的な相違点であるか否かについて検討すると、甲１発明は、「スクリーン残留物（アルパインエアジェット）≧１５μｍ：０．０３％」であるから、１５μｍ以上の粒子の含有量が０．０３％であることがわかる。そして、０．０３％は３００ｐｐｍと言い換えることができるから、甲１発明は、１５μｍ以上の粒子の含有量が３００ｐｐｍであることが理解できる。 ところが、甲１発明の１５μｍ以上の粒子の含有量が３００ｐｐｍであるとしても、甲１発明が「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」とはいえない。 また、前記甲第３号証は、パトリス・モノー氏の宣誓供述書であり、その供述内容は、前記（１）ウで摘記したとおり、「私は、技術データシートなどの商業用技術文書や見本市や国際ショーなどの公共イベントから、タルク粒子Jetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77について知っています。」、「これらのタルク粒子はすべて、２０１４年９月１日より前に市販されていました。」、「４５μｍを超える粒子の通常の含有量は一般に無視できるものと考えられており、約３～５ｐｐｍ未満の量は標準的な品質管理方法を使用しても検出できません。したがって、これらの製品はすべて、４５μｍ付近の寸法限界で１～３ｐｐｍを超える残留物を含む可能性が高くなります。１～３ｐｐｍの限界は非常に低く、通常の方法の検出レベルを超えているため、４５μｍの上下の部分を測定する方法を指定することが重要です。」、「当業者は、例えば動的分級を使用して、４５μｍを超える粒子を除去しようとするでしょう。これは統計的なプロセスであり、たとえ非常に少量、すなわち２５０ｐｐｍ未満、または１００ｐｐｍ未満、または５０ｐｐｍ未満の範囲であっても、制限を超える残留物が存在する可能性が常にあることを意味することを強調することが重要です。なぜなら、上で述べたように、標準的な品質管理方法の検出限界は約３～５ｐｐｍであるためです。」というものであって、市販されているタルク粒子（Jetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77等）を含むタルク粒子一般に該当するであろう事項を供述したにとどまり、パトリス・モノー氏が、「Jetfine3CA」等の「タルク粒子」について実際に分析を行って「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ことを確認したことを供述するものではないから、甲第３号証の供述内容から、「Jetfine3CA」等の「タルク粒子」が、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ことを確かな技術事項として認定することはできないので、甲第３号証の供述内容を踏まえても、前記相違点１が実質的な相違点でないとはいえない。 したがって、前記相違点１は実質的な相違点であるから、本件発明１が甲１発明であるとはいえない。 更に、本件発明２～４、９及び１５について検討しても事情は同じである。 （オ） 次に、前記相違点１の容易想到性について検討すると、甲１発明は、「Jetfine（Ｒ）3CA」として市販されている「タルク粒子」にすぎず、これを更に「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとする動機付けは存在しない。 また、前記（エ）に記載したのと同様の理由により、甲第３号証の供述内容を踏まえても、前記相違点１が容易想到であるとはいえないし、更に、甲第２号証については、下記（３）ア（エ）で述べるように、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ことは記載されておらず、その他の甲第４～８号証は、前記第４の３で述べたように、前記相違点１に係る「タルク粒子」の技術事項を開示するものではないから、これらの甲号証の記載によっても、前記相違点１が容易想到であるとはいえない。 そうすると、「タルク粒子」を「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとすることを開示した証拠はないから、甲１発明において、前記相違点１に係る本件発明１の発明特定事項を有するものとするには至らないので、本件発明１は、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 更に、本件発明１と同様に、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」「タルク粒子」、との発明特定事項を有する本件発明２～１５について検討しても事情は同じである。 イ 申立人の主張について （ア） 特許異議申立書における甲第１号証に基づく新規性欠如、進歩性欠如についての申立人の主張は、概略、以下のとおりである。 ａ 甲第１号証における、粒径がメジアン径から外れるほど質量割合が小さくなる粒度分布曲線を考慮すると、粒径１５μｍ以上の粒子が３００ｐｐｍであるということは、粒径４５μｍ以上の粒子は３００ｐｐｍより少ないはずであり、３００ｐｐｍは約１００ｐｐｍに相当するといえるから、甲１発明は「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものといえるので、本件発明１は甲第１号証に記載された発明であるか、甲第１号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである（２５ページ下から２行～２６ページ９行）。 ｂ 甲第１号証のセディグラフによる粒度分布のグラフから、粒径１μｍ、２μｍ、３μｍ、４μｍ、５μｍの累積質量の数値を読み取り、正規確率紙に●でプロットし、粒径１５μｍで累積質量９９．９７％（１００％－０．０３％）の点も●でプロットし、本件特許明細書の段落【００４０】の【表１】の実施例１のＤ９５、Ｄ７０、Ｄ５０及びＤ３０の粒径の累積質量と、粒径４５μｍの粒子が２６ｐｐｍ（０．００２６％）であることから、このときの累積質量９９．９９７４％（１００％－０．００２６％）を○でプロットし、比較例ＡのＤ９５、Ｄ７０、Ｄ５０、Ｄ３０の粒径の累積質量と、粒径４５μｍの粒子が１０００ｐｐｍ超（０．１％超）であることから、このときの累積質量９９．９％（１００％－０．１％）を△でプロットすると、下記参考図１のように、どのプロットも、粒径が大きくなるとともに累積質量が増加し、正規分布に近い分布であることが理解できる。 ＜参考図１＞ ［図：0001417611000007.jpg］ そして、前記参考図１の●プロットで示される粒度分布から、粒径４５μｍで累積質量が９９．９９％以上であること、すなわち粒径４５μｍ以上の粒子が１００ｐｐｍ以下であることを理解できるから、甲１発明は、「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」蓋然性が極めて高く、また、甲１発明を、通常の粒度分布を考慮して「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとすることは当業者が容易になし得ることである（２６ページ１０行～２７ページ５行）。 ｃ 本件発明１は、甲第３号証に記載された事項を考慮すれば、甲１発明との間で実質的な相違点を有しないか、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 甲第３号証の記載から、「Jetfine（Ｒ）3CA」において、４５μｍを超える粒子の含有量が検出限界の数ｐｐｍであるといえる（２７ページ下から３行～２８ページ３行）。 （イ） 以下、前記（ア）の主張について検討する。 ａ 始めに、前記（ア）ａの主張について検討すると、甲第１号証に記載された粒度分布曲線から、甲１発明が「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものであることを読み取れるものではないし、粒径１５μｍ以上の粒子が３００ｐｐｍであることから、粒径４５μｍ以上の粒子は３００ｐｐｍより少ないといえるとしても、そこから進んで、３００ｐｐｍは約１００ｐｐｍに相当するといえるものでもないので、前記（ア）ａの主張は採用できない。 ｂ 次に、前記（ア）ｂの主張について検討すると、そもそも、甲第１号証のセディグラフによる粒度分布のグラフから、粒径１μｍ、２μｍ、３μｍ、４μｍ、５μｍの累積質量の数値を正確に読み取れるものではない。 また、仮に、これらの数値が前記参考図１のように読み取れたとしても、前記参考図１においては、粒径４５μｍでの累積質量は●プロットされないし、本件特許明細書の実施例１や比較例Ａの粒度分布に基づいて、甲１発明が「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものであるということもできない。 更に、前記（１）ア（ア）の欄外の記載からみれば、甲第１号証に記載された「Jetfine（Ｒ）3CA」のデータは、代表的なものではあるが、そもそも製造仕様ではないのであり、これらのことからみれば、甲１発明が「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものと理解することはできないし、このことを裏付ける証拠もないから、甲１発明が、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」蓋然性が極めて高いとはいえない。 また、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ことが通常の粒度分布であることを裏付ける証拠もないから、甲１発明を「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとすることが、当業者が容易になし得ることであるともいえないので、前記（ア）ｂの主張も採用できない。 ｃ 最後に、前記（ア）ｃの主張について検討すると、前記（１）ウの甲第３号証の記載によれば、前記ア（エ）及び（オ）でも述べたが、甲第３号証には、粗タルク及び最終タルク製品、例えばJetfine3CA、Jetfine1CA、SteamicT1CA、HAR-T84及びHAR-T77における４５μｍを超える粒子の通常の含有量は一般に無視できるものと考えられており、約３～５ｐｐｍ未満の量では標準的な品質管理方法を使用しても検出できないこと、したがって、これらの製品はすべて、４５μｍ付近の寸法限界で１～３ｐｐｍを超える残留物を含む可能性が高くなること、１～３ｐｐｍの限界は非常に低く、通常の方法の検出レベルを超えているため、４５μｍの上下の部分を測定する方法を指定することが重要であること、当業者は、サイズが４５μｍを超える粒子を除去しようとするとき、例えば動的分級を使用して、４５μｍを超える粒子を除去しようとするが、これは統計的なプロセスであり、たとえ非常に少量、すなわち２５０ｐｐｍ未満、または１００ｐｐｍ未満、または５０ｐｐｍ未満の範囲であっても、制限を超える残留物が存在する可能性が常にあること、標準的な品質管理方法の検出限界は約３～５ｐｐｍであることが記載されているにすぎず、甲第３号証は、甲１発明に係る「Jetfine（Ｒ）3CA」が、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ことを開示するものとはいえない。 そうすると、甲第３号証に記載された事項を考慮したとしても、本件発明１が、甲１発明との間で実質的な相違点を有しないとはいえないし、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえないので、前記（ア）ｃの主張も採用できない。 （ウ） 申立人意見書における申立人の主張は、概略、以下のとおりである。 ａ 特許権者は、特許権者意見書において、甲第１号証は公開日が不明であり、先行技術文献として受け入れられるべきものではない旨を主張しているが、甲第１号証には、「ＰＯＬ／ＲＴＭ－ＡＯ／ＧＢ／０４／２００８」という記載があるし、甲第４～７号証の記載から、甲第１号証は、Ｒｉｏ Ｔｉｎｔｏ Ｍｉｎｅｒａｌｓのタルク部門であるＬｕｚｅｎａｃがＩＭＥＲＹＳに買収された２０１１年８月１日より前の資料であることが裏付けられるから、甲第１号証は２００８年４月に公知になったものと認められる（３ページ２４行～４ページ下から２行）。 ｂ 特許権者は、特許権者意見書において、甲第３号証は先行技術文献ではなく、甲第１号証の公開日を証明する証拠を提供するものでもなければ、「Jetfine（Ｒ）3CA」の粒度分布についての客観的な証拠を提供するものでもない旨を主張しているが、甲第３号証は、パトリス・モノー氏の宣誓供述書であり、甲第８号証の表紙には、出願人としてＴＡＬＣ ＤＥ ＬＵＺＥＮＡＣの記載があり、発明者の一人としてパトリス・モノー氏も記載されている。 すると、パトリス・モノー氏は、甲第１号証に記載されたＬｕｚｅｎａｃに所属していた経歴があり、タルク分野における長年の経験を有する熟練の専門家といえるから、甲第３号証におけるパトリス・モノー氏の宣誓供述内容は信頼できるものであり、甲第１号証に記載された事項を裏付ける証拠として採用できるものである（４ページ最終行～５ページ２０行）。 ｃ 甲第１号証には、「Jetfine（Ｒ）3CA」のセディグラフによる粒度分布におけるメジアン径Ｄ５０として１．０μｍが記載されており、セディグラフによる粒度分布のグラフから、約１．８μｍの「ｄ７０値」、約０．８μｍの「ｄ３０値」が開示されていると読め、これより「峻度」は約４４と計算され、また、レーザーマスターサイザーによる粒度分布におけるメジアン径Ｄ５０として、３．９μｍが記載されており、ディグラフによる粒度分布におけるメジアン径Ｄ５０とレーザーマスターサイザーによる粒度分布におけるメジアン径Ｄ５０とから、ラメラリティーインデックスは２．９と計算される。 これに対して、特許権者は、特許権者意見書において、セディグラフによる粒度分布におけるメジアン径Ｄ５０とグラフに示されている粒子分布（ＰＳＤ）カーブが合致しておらず、グラフから前記「Jetfine（Ｒ）3CA」のラメラリティーインデックスを計算すると２．２５となり、本件発明１を満たさない旨を主張しているが、甲第１号証には、セディグラフによる粒度分布として「Median Diameter-D50:1.0(1.1)*μｍ」と明記されているから、「Jetfine（Ｒ）3CA」のラメラリティーインデックスは２．９であり、本件発明１を満たす。 また、特許権者は、特許権者意見書において、甲第１号証に記載された粒度分布の数値と粒子分布（ＰＳＤ）カーブから読み取られる数値が合致しないから、「Jetfine（Ｒ）3CA」の「峻度」が３０．０以上であるか否かも明らかでない旨を主張するが、「Jetfine（Ｒ）3CA」の「峻度」は、セディグラフによる粒度分布のグラフから「ｄ７０値」及び「ｄ３０値」を読んで計算したものであり、グラフから読んだ数値のみを用いて求めたものであるから、「Jetfine（Ｒ）3CA」の「峻度」が明らかでないとはいえない。 更に、特許権者は、特許権者意見書において、いわゆる圧縮タルクについての甲第１号証のデータは物理的な意味を理解することができず、本件発明は圧縮や塊でなく、タルク粒子に関するものであるから、圧縮タルクについてのデータは本件発明の主題に関連しない旨を主張するが、甲第１号証の「* Data obtained on compacted talc」の記載は、セディグラフによる粒度分布の「Median Diameter-D50:1.0(1.1)*μｍ」及びレーザーマスターサイザーによる粒度分布の「Median Diameter-D50:3.9(5)*μｍ」という記載における「(1.1)*」、「(5)*」の数値の注釈であり、注釈がつかない甲第１号証のデータはタルク粒子に関するものであると認められ、これらのデータは本件発明の主題に関連する。 そして、本件発明１と甲１発明とは前記相違点１において一応相違するが、甲第３号証の記載も考慮して、前記相違点１は実質的な相違点とはいえないし、甲第３号証の記載によらなくても、甲第１号証のセディグラフによる粒度分布のグラフを正規確率紙で示したグラフから、甲１発明が前記相違点１に係る発明特定事項を有する蓋然性が極めて高いし、甲１発明を、通常の粒度分布を考慮して前記相違点１に係る発明特定事項を有するものとすることは、当業者が容易になし得ることである（５ページ２１行～７ページ下から２行）。 （エ） 以下、前記（ウ）の主張について検討する。 ａ 始めに、前記（ウ）ａ及びｂの主張について検討すると、甲第１号証の公知日が２００８年４月であり、甲第３号証におけるパトリス・モノー氏の宣誓供述内容が信頼できるとしても、前記ア（エ）、（オ）に記載した理由により、本件発明１が甲１発明であるとはいえないし、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでもないことに変わりはないから、前記（ウ）ａ及びｂの主張は採用できない。 ｂ 次に、前記（ウ）ｃの主張について検討すると、前記（ウ）ｃの主張は、総じて、特許権者による特許権者意見書の主張は不当であるから、本件発明１は甲１発明であるか、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであることをいうものと解される。 ところが、前記特許権者の主張の当否に関わらず、前記ア（エ）、（オ）に記載した理由により、本件発明１が甲１発明であるとはいえないし、甲１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものでもないことに変わりはないから、前記（ウ）ｃの主張も採用できない。 （オ） したがって、特許異議申立書及び申立人意見書における申立人の主張はいずれも採用できない。 ウ 小括 よって、本件発明１～４、９及び１５は、甲第１号証に記載された発明であるとはいえないし、本件発明１～１５は、甲第１号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえないから、前記第４の１（１）、同２（１）の特許異議の申立て理由及び前記第５の１（１）の取消理由はいずれも理由がない。 （３） 甲第２号証を主引用例とした場合について ア 対比・判断 （ア） 本件発明１と甲２発明とを対比すると、甲２発明における「Jetfine（Ｒ）1CA」は、「ポリマーの核形成のために特別に開発された超微粒子タルク（ナノ粒子を７０％含む）」であるから、本件発明１における「タルク粒子」に相当する。 ここで、甲第２号証には、「レーザー回折、ミー理論（ＩＳＯ １３３２０－１）に基づくレーザーマスターサイザーによる測定」による「メジアン径－Ｄ５０」が圧縮タルクのデータしか記載されていないので、「沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３）に基づくセディグラフによる粒度分布」についても、前記圧縮タルクのデータに注目して検討すると、甲２発明は、「沈降解析、ストークスの法則（ＩＳＯ １３３１７－３）に基づくセディグラフによる粒度分布によれば、メジアン径－Ｄ５０」の「（圧縮タルクで得られたデータが０．９μｍ）」であり、前記（２）ア（ア）と同様の理由により、本件発明１において「約０．５～５．０μｍの範囲のｄ５０」「を有」することを満たすといえる。 （イ） また、甲第２号証には「峻度」及び「ラメラリティーインデックス」が記載されていないが、前記（２）ア（イ）に記載したのと同様の理由により、甲２発明における「ｄ３０値」は概略０．５μｍ、「ｄ７０値」は概略１．３μｍといえるから、「峻度」は、１００×（ｄ３０／ｄ７０）＝１００×（概略０．５μｍ／概略１．３μｍ）＝概略３８．５と求められるので、本件発明１において「３０．０以上の峻度」「を有」することを満たすといえる。 更に、前記（２）ア（イ）に記載したのと同様の理由により、甲２発明における「ｄ５０」は０．９μｍといえ、「ｄ平均」は４．９μｍといえるから、「ラメラリティーインデックス」は、（ｄ平均－ｄ５０）／ｄ５０＝（４．９μｍ－０．９μｍ）／０．９μｍ＝４．４と求められるので、甲２発明における「ラメラリティーインデックス」は、本件発明１において「２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有」することを満たさない。 （ウ） 前記（ア）及び（イ）によれば、本件発明１と甲２発明とは、 「０．５～５．０μｍのｄ５０、３０．０以上の峻度を有する、タルク粒子。」 の点で一致し、以下の点で相違する。 ・相違点２：本件発明１は、「２．８～４．０のラメラリティーインデックスを有」するのに対して、甲２発明は「ラメラリティーインデックス」が「４．４」である点。 ・相違点３：本件発明１は、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」のに対して、甲２発明が「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」か否かが明らかでない点。 （エ） 事案に鑑み、始めに、前記（ウ）の相違点３が実質的な相違点であるか否かについて検討すると、前記相違点３は前記（２）ア（ウ）の相違点１と同じものであるから、前記（２）ア（エ）に記載したのと同様の理由により、実質的な相違点である。 したがって、前記（ウ）の相違点２について検討するまでもなく、本件発明１が甲２発明であるとはいえない。 更に、本件発明２～４、９及び１５について検討しても事情は同じである。 （オ） 次に、前記相違点３の容易想到性について検討すると、前記（２）ア（オ）に記載したのと同様の理由により、甲２発明を「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとする動機付けは存在しないし、甲２発明において、前記相違点３に係る本件発明１の発明特定事項を有するものとするには至らないから、前記相違点２について検討するまでもなく、本件発明１は、甲２発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。 更に、本件発明１と同様に、「１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」「タルク粒子」、との発明特定事項を有する本件発明２～１５について検討しても事情は同じである。 イ 申立人の主張について （ア） 特許異議申立書における甲第２号証に基づく新規性欠如、進歩性欠如についての申立人の主張は、概略、以下のとおりである。 ａ 甲第２号証における、粒径がメジアン径から外れるほど質量割合が小さくなる粒度分布曲線を考慮すると、粒径１５μｍ以上の粒子が２００ｐｐｍであるということは、粒径４５μｍ以上の粒子は２００ｐｐｍより少ないはずであり、２００ｐｐｍは約１００ｐｐｍに相当するといえるから、甲２発明は「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものといえるので、本件発明１は甲第２号証に記載された発明であるか、甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである（３４ページ１行～１１行）。 ｂ 甲第２号証のセディグラフによる粒度分布のグラフから、粒径１μｍ、２μｍ、３μｍ、４μｍの累積質量の数値を読み取り、正規確率紙に●でプロットし、粒径１５μｍで累積質量９９．９８％（１００％－０．０２％）の点も●でプロットし、本件特許明細書の段落【００４０】の【表１】の実施例１のＤ９５、Ｄ７０、Ｄ５０及びＤ３０の粒径の累積質量と、粒径４５μｍの粒子が２６ｐｐｍ（０．００２６％）であることから、このときの累積質量９９．９９７４％（１００％－０．００２６％）を○でプロットし、比較例ＡのＤ９５、Ｄ７０、Ｄ５０、Ｄ３０の粒径の累積質量と、粒径４５μｍの粒子が１０００ｐｐｍ超（０．１％超）であることから、このときの累積質量９９．９％（１００％－０．１％）を△でプロットすると、下記参考図２のように、どのプロットも、粒径が大きくなるとともに累積質量が増加し、正規分布に近い分布であることが理解できる。 ＜参考図２＞ ［図：0001417611000008.jpg］ そして、前記参考図２の●プロットで示される粒度分布から、粒径４５μｍで累積質量が９９．９９％以上であること、すなわち粒径４５μｍ以上の粒子が１００ｐｐｍ以下であることを理解できるから、甲２発明は、「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」蓋然性が極めて高く、また、甲２発明を、通常の粒度分布を考慮して「約１００ｐｐｍ以下の４５μｍ以上の粒径の粒子を含む」ものとすることは当業者が容易になし得ることである（３４ページ１２行～３５ページ７行）。 ｃ 本件発明１は、甲第３号証に記載された事項を考慮すれば、甲２発明との間で実質的な相違点を有しないか、甲２発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 甲第３号証の記載から、「Jetfine（Ｒ）1CA」において、４５μｍを超える粒子の含有量が検出限界の数ｐｐｍであるといえる（３６ページ１行～６行）。 （イ） 以下、前記（ア）の主張について検討すると、前記（ア）の主張は、総じて、前記（２）イ（ア）の主張と実質的に同じものであるから、前記（２）イ（イ）に記載したのと同様の理由により、いずれも採用できない。 ウ 小括 したがって、本件発明１～４、９及び１５は、甲第２号証に記載された発明であるとはいえないし、本件発明１～１５は、甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえないから、前記第４の１（２）及び同２（２）の特許異議の申立て理由は理由がない。 （４） まとめ よって、前記第４の１、同２及び前記第５の１（１）の特許法第２９条第１項、第２項所定の規定違反（新規性、進歩性欠如）についての特許異議の申立て理由及び取消理由はいずれも理由がない。 ２ 特許法第３６条第６項第２号所定の規定違反（明確性要件違反）について 本件訂正により請求項１～４、６、８及び１１の「約」は削除され、本件発明１～４、６、８及び１１における各数値範囲は明確になったから、本件発明１～１５は明確である。 したがって、本件特許請求の範囲の記載は明確性要件に適合するといえるから、前記第４の３、第５の１（２）及び同２の特許法第３６条第６項第２号所定の規定違反（明確性要件違反）についての特許異議の申立て理由及び取消理由はいずれも理由がない。 第７ むすび 以上のとおりであるから、取消理由通知書に記載した取消理由及び特許異議申立書に記載した特許異議の申立て理由によっては、本件発明１～１５に係る特許を取り消すことはできない。 また、他に本件発明１～１５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。