2021-005651

第１ 手続の経緯

本願は、平成２９年３月６日の出願であって、その手続の経緯は以下のとおりである。

出

第２ 原査定の概要

原査定（令和３年１月２９日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。

１ 本願請求項１～４に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された以下の引用文献１に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない。

２ 本願請求項１～４に係る発明は、以下の引用文献１に記載された発明に基いて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。

第３ 本願発明

本願請求項１～４に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」～「本願発明４」という。）は、令和３年４月３０日に提出された手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１～４に記載された事項により特定される発明であり、それらのうちの本願発明１は、以下のとおりの発明である。

「【請求項１】

イジングモデルの複数のスピンに擬似的に対応し、同一の発振周波数を有する複数の光パルスを発生・増幅させる光増幅器と、

前記複数の光パルスを周回伝搬させるリング共振器と、

前記複数の光パルスが前記リング共振器を周回伝搬するたびに、前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分を測定する、光パルス測定部と、

前記光パルス測定部において測定した前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分の情報を入力として、前記イジングモデルの結合係数と前記複数の光パルスの前記情報とから決定される、ある光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分に関わる相互作用を算出する、相互作用計算部と、

前記相互作用計算部において算出された前記相互作用に基づいて、前記リング共振器内を周回伝搬する前記複数の光パルスに対して重ね合わされる光パルスの位相および振幅を変調することにより、前記ある光パルスに関わる相互作用を実装する相互作用実装部と、を備え、

前記相互作用計算部は、測定したＮ個の光パルスの位相および振幅がｃ1 、ｃ2 、ｃ3 、ｃ4 、・ｃi ・ｃN-1 、ｃN を要素とする列ベクトルに対し、イジングモデルの結合係数を演算パラメータとする以下に示す行列を乗算して、得られた列ベクトルの要素ｆ1 、ｆ2 、ｆ3 、ｆ4 、・ｆi ・ｆN - 1 、ｆN を前記Ｎ個の光パルスに対応するＮ個のある光パルスに関わる相互作用として演算し、

【数１】

［図：0001381563000001.jpg］

前記光パルス測定部は、前記光パルス測定部と前記相互作用計算部と前記相互作用実装部とにより構成されるフィードバックループ制御が繰り返される過程で、前記複数の光パルスが安定状態に到達した後に測定した前記複数の光パルスの位相を、イジングモデルのスピンに変換することにより、イジングモデルのスピンの値を得ることを特徴とするイジングモデルの計算装置。」

なお、本願発明２～４は、本願発明１を減縮した発明である。

第４ 引用文献１、引用発明

１ 引用文献１の記載

原査定の拒絶の理由にて引用された引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審による。）。

「[0060]（本発明のイジングモデルの量子計算装置の構成及び原理）

本発明のイジングモデルの量子計算装置Ｑの構成を図４に示す。本発明では、イジングハミルトニアンを、１体～３体の相互作用を含むとして、数式３のようにする。

[数３]

［図：0001381563000002.jpg］

[0061] パラメトリック発振器１は、イジングモデルの複数のスピンσ１～σ４に擬似的に対応し同一の発振周波数を有する複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４をパラメトリック発振させる。リング共振器２は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４を周回伝搬させる。複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４は、ＳＰ１、ＳＰ２、ＳＰ３、ＳＰ４、ＳＰ１、ＳＰ２、ＳＰ３、ＳＰ４、・・・の順序で、後述のフィードバックループに入る。

[0062] 暫定的スピン測定部３は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４がリング共振器２を周回伝搬するたびに、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を暫定的に測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を暫定的に測定する。具体的には、暫定的スピン測定部３は、図６及び図７を用いて後述する局部発振パルスＬＯを用いて、ホモダイン検波を行う。

[0063] 相互作用計算部４は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わるイジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋ及び暫定的スピン測定部３が暫定的に測定した他の擬似的スピンパルスＳＰｊ、ＳＰｋの擬似的なスピンσｊ、σｋに基づいて、ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）を暫定的に計算する。図４では、ｉ、ｊ、ｋ＝１～４の場合を示している。

[0064] ここで、ＮＰ完全問題などが、イジングモデルにマッピングされた後、相互作用計算部４は、イジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋを入力する。

[0065] 相互作用実装部５は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して注入される光の振幅及び位相を制御することにより、相互作用計算部４が暫定的に計算したある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）の大きさ及び符号を暫定的に実装する。具体的には、相互作用実装部５は、図６及び図７を用いて後述する局部発振パルスＬＯを用いて、注入光パルスを生成する。

[0066] 擬似的スピン測定部６は、暫定的スピン測定部３、相互作用計算部４及び相互作用実装部５により構成されるフィードバックループが繰り返される過程で、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４が定常状態に到達した後に、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を測定する。具体的には、擬似的スピン測定部６は、図６及び図７を用いて後述する局部発振パルスＬＯを用いて、ホモダイン検波を行う。」

「[0112]（第２の実施形態のイジングモデルの量子計算装置の構成）

第２の実施形態のイジングモデルの量子計算装置Ｑの構成を図７に示す。

[0113] パルス発生器８は、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを発生させる。第二高調波発生器９は、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いて、角周波数２ωを有するパルスを発生させる。パラメトリック発振器１は、角周波数２ωを有するパルスを用いて、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）をパラメトリック発振させる。複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）は、ＳＰ１、・・・、ＳＰ（Ｎ）、ＳＰ１、・・・、ＳＰ（Ｎ）、・・・の順序で、フィードバックループに入る。

[0114] ここで、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）は、発振閾値の近傍でポンプパルスを用いてパラメトリック発振される。そして、パルス発生器８は、例えば、モード同期レーザーを備える。よって、パルス発生器８は、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯの位相について、図５で示したように０とすることができる。

[0115] 暫定的スピン測定部３は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行う。ここで、暫定的スピン測定部３は、ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分を測定している。

[0116] 相互作用計算部４は、例えば、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）であり、イジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋを入力する。相互作用実装部５は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して、振幅及び位相を制御された角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを注入する。

[0117] 擬似的スピン測定部６は、暫定的スピン測定部３と共用であり、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行い、イジングモデルのスピンσを出力する。

[0118] 図７を用いて説明したように、複数の擬似的スピンパルスＳＰｉの発振位相φｉ（ｔ）の暫定的な測定結果を用いた、各擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用の大きさ及び符号のフィードバック実装を、具体的な構成を用いて行うことができる。そして、第２の実施形態によれば、第１の実施形態と比べて、擬似的スピンパルスＳＰｉ及び局部発振パルスＬＯがペアとなってリング共振器２を周回伝搬しないため、擬似的スピンパルスＳＰｉ及び局部発振パルスＬＯｉ間のクロストークをなくすことができ、全局部発振パルスＬＯｉを同相化させるパルス同相化部７をなくすことができる。よって、イジングモデルの量子計算装置Ｑにおいて、読み出しエラーを防止することができる。」

「[0139]（本発明のイジングモデルの量子計算方法のループ手順）

本発明のイジングモデルの量子計算方法のループ手順を図１８、１９に示す。

[0140] 図１８に示したイジングモデルの量子計算方法のループ手順を実現するために、図４、６、７に示したイジングモデルの量子計算装置Ｑのように、暫定的スピン測定部３（又は擬似的スピン測定部６）、パラメトリック発振器１及び相互作用実装部５が、リング共振器２中の擬似的スピンパルスＳＰの周回伝搬方向にこの順序で配置される。

[0141] パラメトリック発振器１は、複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック発振させる（ステップＳ１）。暫定的スピン測定部３は、擬似的なスピンσを暫定的に測定する（ステップＳ２）。相互作用計算部４は、イジング相互作用を暫定的に計算する（ステップＳ３）。パラメトリック発振器１は、複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック増幅させる（ステップＳ４）。相互作用実装部５は、イジング相互作用を暫定的に実装する（ステップＳ５）。ステップＳ３、Ｓ４は、順序が入れ替わることがある。

[0142] 複数の擬似的スピンパルスＳＰが定常状態に到達しなければ（ステップＳ６においてＮＯ）、ステップＳ２～Ｓ６のループ手順を繰り返す。複数の擬似的スピンパルスＳＰが定常状態に到達したならば（ステップＳ６においてＹＥＳ）、擬似的スピン測定部６は、擬似的なスピンσを最終的に測定する（ステップＳ７）。」

「［図４］

［図：0001381563000003.jpg］

」

「［図７］

［図：0001381563000004.jpg］

」

２ 引用発明

上記１から、引用文献１には次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。

「パラメトリック発振器１は、イジングモデルの複数のスピンσ１～σ４に擬似的に対応し同一の発振周波数を有する複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４をパラメトリック発振させ、

リング共振器２は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４を周回伝搬させ、

暫定的スピン測定部３は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４がリング共振器２を周回伝搬するたびに、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を暫定的に測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を暫定的に測定し、

相互作用計算部４は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わるイジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋ及び暫定的スピン測定部３が暫定的に測定した他の擬似的スピンパルスＳＰｊ、ＳＰｋの擬似的なスピンσｊ、σｋに基づいて、ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）を暫定的に計算し、ここで、ＮＰ完全問題などが、イジングモデルにマッピングされた後、相互作用計算部４は、イジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋを入力し、

相互作用実装部５は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して注入される光の振幅及び位相を制御することにより、相互作用計算部４が暫定的に計算したある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）の大きさ及び符号を暫定的に実装し、

擬似的スピン測定部６は、暫定的スピン測定部３、相互作用計算部４及び相互作用実装部５により構成されるフィードバックループが繰り返される過程で、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４が定常状態に到達した後に、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を測定する、イジングモデルの量子計算装置Ｑであって、

暫定的スピン測定部３は、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行い、ここで、暫定的スピン測定部３は、ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分を測定し、

相互作用実装部５は、ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して、振幅及び位相を制御された角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを注入し、

擬似的スピン測定部６は、暫定的スピン測定部３と共用であり、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行い、イジングモデルのスピンσを出力し、

イジングモデルの量子計算方法のループ手順において、パラメトリック発振器１は、複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック発振させ、暫定的スピン測定部３は、擬似的なスピンσを暫定的に測定し、相互作用計算部４は、イジング相互作用を暫定的に計算し、パラメトリック発振器１は、複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック増幅させ、相互作用実装部５は、イジング相互作用を暫定的に実装する、イジングモデルの量子計算装置Ｑ。」

第５ 対比・判断

１ 本願発明１について

（１）対比

ア 本願発明１と引用発明とを対比すると、次のことがいえる。

（ア）引用発明の「パラメトリック発振器１」は、「イジングモデルの複数のスピンσ１～σ４に擬似的に対応し同一の発振周波数を有する複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４をパラメトリック発振させ」るものである。

ここで、引用発明の「相互作用実装部５」は、「ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して注入される光の振幅及び位相を制御する」ものであることから、「パラメトリック発振器１」が「発振させ」る「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」が光パルスであることは明らかである。

また、引用発明は、「イジングモデルの量子計算方法のループ手順において」、「パラメトリック発振器１」は、「複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック発振させ」るとともに、「複数の擬似的スピンパルスＳＰをパラメトリック増幅させ」るから、引用発明の「パラメトリック発振器１」は、上記光パルスを発生・増幅させるものといえる。

よって、引用発明の「イジングモデルの複数のスピンσ１～σ４に擬似的に対応し同一の発振周波数を有する複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４をパラメトリック発振させ」る「パラメトリック発振器１」は、本願発明１の「イジングモデルの複数のスピンに擬似的に対応し、同一の発振周波数を有する複数の光パルスを発生・増幅させる光増幅器」に相当する。

（イ）引用発明の「リング共振器２」は、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４を周回伝搬させ」るから、上記（ア）も踏まえると、本願発明１の「前記複数の光パルスを周回伝搬させるリング共振器」に相当する。

（ウ）引用発明の「暫定的スピン測定部３」は、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４がリング共振器２を周回伝搬するたびに、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を暫定的に測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を暫定的に測定」するものであるとともに、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行い、ここで、暫定的スピン測定部３は、ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分を測定」するものである。

ここで、「ホモダイン検波」は、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）」の角周波数が「局部発振パルスＬＯ」と同一（ω）であることを示すものと考えられ、また、引用文献１の図７の左上に「３，６」として示されている部分の２個の「局部発振パルス」の入力端子の一方に移相器「π／２」が挿入されていることから、「ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分」は、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）」の位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか一方の軸の成分及び他方の軸の成分であるものと解される。

この点について上記（ア）、（イ）も踏まえると、引用発明の「暫定的スピン測定部３」と、本願発明１の

「前記複数の光パルスが前記リング共振器を周回伝搬するたびに、前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分を測定する、光パルス測定部」とは、

「前記複数の光パルスが前記リング共振器を周回伝搬するたびに、前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分を測定する、光パルス測定部」

である点で共通している。

（エ）引用発明の「相互作用計算部４」は、「ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わるイジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋ及び暫定的スピン測定部３が暫定的に測定した他の擬似的スピンパルスＳＰｊ、ＳＰｋの擬似的なスピンσｊ、σｋに基づいて、ある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）を暫定的に計算し、ここで、ＮＰ完全問題などが、イジングモデルにマッピングされた後、相互作用計算部４は、イジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋを入力」するものである。

これは、「相互作用計算部４」が、「暫定的スピン測定部３」において測定した、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」の位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか一方の軸の成分及び他方の軸の成分（上記（ウ））の情報を入力として、「イジングモデルの結合係数λｉ、Ｊｉｊ、Ｋｉｊｋ」と前記「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」の前記情報とから決定される、「ある擬似的スピンパルスＳＰｉ」の位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか一方の軸の成分及び他方の軸の成分に関わる「相互作用」を算出することを示すものと解される。

この点について上記（ア）、（ウ）も踏まえると、引用発明の「相互作用計算部４」と、本願発明１の

「前記光パルス測定部において測定した前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分の情報を入力として、前記イジングモデルの結合係数と前記複数の光パルスの前記情報とから決定される、ある光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分に関わる相互作用を算出する、相互作用計算部」

とは、

「前記光パルス測定部において測定した前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分の情報を入力として、前記イジングモデルの結合係数と前記複数の光パルスの前記情報とから決定される、ある光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分に関わる相互作用を算出する、相互作用計算部」

である点で共通している。

（オ）引用発明の「相互作用実装部５」は、「ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して注入される光の振幅及び位相を制御することにより、相互作用計算部４が暫定的に計算したある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）の大きさ及び符号を暫定的に実装」するものであるとともに、「ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して、振幅及び位相を制御された角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを注入」するものである。

ここで、「局部発振パルスＬＯ」が、上記（ア）と同様に光パルスであることは明らかであり、その「振幅及び位相を制御」することは、「相互作用計算部４が暫定的に計算したある擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用」に基づいて、「局部発振パルスＬＯ」の位相および振幅を変調することによりなされるものと解される。また、当該「振幅及び位相を制御」された「局部発振パルスＬＯ」を「ある擬似的スピンパルスＳＰｉに対して」「注入」することにより、後者が前者に対して「重ね合わされる」ものと解される。

これらの点について上記（ア）、（イ）、（エ）も踏まえると、引用発明の「相互作用実装部５」は、本願発明１の「前記相互作用計算部において算出された前記相互作用に基づいて、前記リング共振器内を周回伝搬する前記複数の光パルスに対して重ね合わされる光パルスの位相および振幅を変調することにより、前記ある光パルスに関わる相互作用を実装する相互作用実装部」に相当する。

（カ）引用発明の「擬似的スピン測定部６」は、「暫定的スピン測定部３、相互作用計算部４及び相互作用実装部５により構成されるフィードバックループが繰り返される過程で、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４が定常状態に到達した後に、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を測定する」ものであるとともに、「暫定的スピン測定部３と共用であり、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ（Ｎ）の一部に対して、角周波数ωを有する局部発振パルスＬＯを用いてホモダイン検波を行い、イジングモデルのスピンσを出力」するものである。

ここで、「測定」した「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相」は、「イジングモデルのスピンσ」に変換されるといえる。また、当該「変換」により、「イジングモデルのスピンσ」の値が得られるといえる。

これらの点について上記（ア）、（ウ）～（オ）も踏まえると、引用発明の「擬似的スピン測定部６」が、「暫定的スピン測定部３、相互作用計算部４及び相互作用実装部５により構成されるフィードバックループが繰り返される過程で、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４が定常状態に到達した後に、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の位相を測定することにより、複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４の擬似的なスピンσ１～σ４を測定する」ものであることは、本願発明１において、「前記光パルス測定部は、前記光パルス測定部と前記相互作用計算部と前記相互作用実装部とにより構成されるフィードバックループ制御が繰り返される過程で、前記複数の光パルスが安定状態に到達した後に測定した前記複数の光パルスの位相を、イジングモデルのスピンに変換することにより、イジングモデルのスピンの値を得る」ものであることに相当する。

（キ）引用発明の「イジングモデルの量子計算装置Ｑ」は、後述する相違点は別として、本願発明１の「イジングモデルの計算装置」に相当する。

また、引用発明の「イジングモデルの量子計算装置Ｑ」は、「パラメトリック発振器１」と、「リング共振器２」と、「暫定的スピン測定部３」と、「相互作用計算部４」と、「相互作用実装部５」とを備えるといえる。

イ 上記アから、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点、相違点があるといえる。

（一致点）

「イジングモデルの複数のスピンに擬似的に対応し、同一の発振周波数を有する複数の光パルスを発生・増幅させる光増幅器と、

前記複数の光パルスを周回伝搬させるリング共振器と、

前記複数の光パルスが前記リング共振器を周回伝搬するたびに、前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分を測定する、光パルス測定部と、

前記光パルス測定部において測定した前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分の情報を入力として、前記イジングモデルの結合係数と前記複数の光パルスの前記情報とから決定される、ある光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面の座標軸における成分に関わる相互作用を算出する、相互作用計算部と、

前記相互作用計算部において算出された前記相互作用に基づいて、前記リング共振器内を周回伝搬する前記複数の光パルスに対して重ね合わされる光パルスの位相および振幅を変調することにより、前記ある光パルスに関わる相互作用を実装する相互作用実装部と、を備え、

前記光パルス測定部は、前記光パルス測定部と前記相互作用計算部と前記相互作用実装部とにより構成されるフィードバックループ制御が繰り返される過程で、前記複数の光パルスが安定状態に到達した後に測定した前記複数の光パルスの位相を、イジングモデルのスピンに変換することにより、イジングモデルのスピンの値を得る、イジングモデルの計算装置。」

（相違点１）

本願発明１では、「光パルス測定部」が「前記複数の光パルス」に関して「測定する」パラメータが、「前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分」、すなわち、「位相平面」の「位相および振幅が成す２軸」のうちの片方の「成分」であるのに対して、引用発明では、「暫定的スピン測定部３」が「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」に関して「測定する」パラメータが、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」に関する「ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分」、すなわち、位相平面の位相および振幅が成す２軸の両方の成分である点。

また、これに伴い、本願発明１の「相互作用計算部」における、「相互作用を算出する」ために「入力」される「前記光パルス測定部において測定した前記複数の光パルス」に関する情報の内容及び「相互作用を算出する」対象が、いずれも「前記複数の光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分」に関するものであるのに対し、引用発明の「相互作用計算部４」に入力される情報及び「相互作用」を「計算」する対象は、いずれも、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」の「位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分」に関するものであるとは特定されない点。

（相違点２）

本願発明１では、「前記相互作用計算部」の「演算」の内容が、「測定したＮ個の光パルスの位相および振振幅がｃ1 、ｃ2 、ｃ3 、ｃ4 、・ｃi ・ｃN-1 、ｃN を要素とする列ベクトルに対し、イジングモデルの結合係数を演算パラメータとする以下に示す行列

［図：0001381563000005.jpg］

を乗算して、得られた列ベクトルの要素ｆ1 、ｆ2 、ｆ3 、ｆ4 、・ｆi ・ｆN - 1 、ｆN を前記Ｎ個の光パルスに対応するＮ個のある光パルスに関わる相互作用として演算」するものであるのに対し、引用発明では、「相互作用計算部４」の「計算」の内容が、「擬似的スピンパルスＳＰｉが関わる相互作用（σｉに対する比例係数λｉ＋ΣＪｉｊσｊ＋ΣＫｉｊｋσｊσｋ）」である点。

（２）判断

そこで、まず相違点１について検討する。

イジングモデルの計算装置において、複数の光パルスに関して測定するパラメータを、それらの光パルスの位相および振幅が成す２軸の直交する位相平面のいずれか１軸における成分とし、当該１軸における成分の情報を入力として相互作用を演算することは、引用文献１には記載されておらず、本願出願日前において周知技術であったともいえない。

また、引用発明の「暫定的スピン測定部３」が「測定」する、「複数の擬似的スピンパルスＳＰ１～ＳＰ４」に関する「ｃｏｓ成分及びｓｉｎ成分」のうちの、いずれか一方の成分の測定及び演算が省略できることについて、引用文献１は何ら示唆するものではない。

よって、他の相違点について判断するまでもなく、本願発明１は、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

２ 本願発明２～４について

本願発明２～４は、本願発明１を減縮した発明であり、本願発明１の相違点１に係る構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

第６ 原査定について

本願発明１～４は、（少なくとも）本願発明１の相違点１，２に係る構成において、引用文献１に記載された発明と相違する。

また、審判請求時の補正により、本願発明１～４は、本願発明１の相違点１に係る構成を備えるものとなっており、当業者であっても、拒絶査定において引用された引用文献１に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものとはいえない。

したがって、原査定の理由を維持することはできない。

第７ むすび

以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。

また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。

よって、結論のとおり審決する。