2018-004719

特願２０１５－５１０９１５「光形状検知を安定させるシステム及び方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年１１月１４日国際公開、ＷＯ２０１３／１６８０５２、平成２７年　６月　４日国内公表、特表２０１５－５１６０８７、請求項の数（１５）〕について、次のとおり審決する。

【結　論】 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。

【理　由】 第１　手続の経緯 本願は、２０１３年（平成２５年）５月１日（パリ条約による優先権主張　２０１２年５月９日（以下「優先日」という。）、アメリカ合衆国）を国際出願日とする出願であって、その手続の経緯は以下のとおりである。 平成２９年　３月１３日付け：拒絶理由通知書 平成２９年　６月　９日　　：意見書、手続補正書の提出 平成２９年１２月　４日付け：拒絶査定（送達日：同年同月１２日） 平成３０年　４月　６日　　：審判請求書の提出 第２　原査定の概要 原査定（平成２９年１２月４日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。 本願の請求項１－１５に係る発明は、優先日前に日本国内又は外国において頒布された刊行物である下記の引用文献１、２に記載された発明に基いて、優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 引用文献１：特許第４４９５６７２号公報 引用文献２：特開２０１０－１７２４２５号公報 第３　本願発明 本願請求項１－１５に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」－「本願発明１５」という。）は、平成２９年６月９日に補正された特許請求の範囲の請求項１－１５に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１、本願発明１４及び本願発明１５は、それぞれ、以下のとおりの発明である。 「【請求項１】 光ファイバによる形状検知のための方法であって、 光ファイバ形状検知装置から前記光ファイバ自体の形状データを収集するステップと、 前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、前記形状データに対してテストを実行するステップと、 前記許容可能な閾を超えるデータ位置に対応する形状データを拒否するステップと、 安定した形状検知データセットを提供するために、許容可能な形状データをレンダリングするステップと、 を有する方法。」 「【請求項１４】 光ファイバによる形状検知のための方法であって、 形状検知光ファイバ装置から前記光ファイバ自体の形状データを収集するステップと、 前記形状データから外れ値データを除去するステップと、 前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、前記形状データをテストするステップであって、前記テストは、 前記形状データに沿って空間－時間連続性を計算するステップと、 前記形状データに沿ってねじれ又はねじれを導出するパラメータを計算するステップと、 のうちの１又は複数を有する、ステップと、 許容可能な閾を超えるデータ位置に対応する形状データを拒否するステップと、 安定した形状検知データセットを提供するために、許容可能な形状データをレンダリングするステップと、 を有する方法。」 「【請求項１５】 少なくとも１つの光ファイバを備える形状検知可能装置から光信号を受信し、前記前記光ファイバ自体の形状データを決定するために前記光信号を解釈するよう構成されるワークステーション、 を有し、前記ワークステーションは、 プロセッサと、 前記プロセッサに結合されるメモリと、 前記メモリに格納され、前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために前記形状データに対してテストを実行し、安定した形状検知データセットをレンダリングするために、前記許容可能な閾を超えるデータ位置に対応する形状データを拒否するよう構成される安定性モジュールと、 を有する、形状検知システム。」 なお、本願発明２－１３は本願発明１を減縮した発明である。 第４　引用文献、引用発明等 １．引用文献１について （１）原査定の拒絶の理由に引用された上記引用文献１（特許第４４９５６７２号公報）には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審による。以下同様。）。 「【０１７２】 （第６実施形態） この第６実施形態に係る構造体監視システム１は、その基本構成において上記第１実施形態と共通するが、本第６実施形態に係る構造体監視システム１は境界条件としての測定歪みを計測する光ファイバセンサ２の他、数値解析部５による解析歪みの精度を確認するための確認用光ファイバセンサ２００が敷設されている点で上記第１実施形態と異なる。なお、本第６実施形態では、監視対象である構造体Ｓの形状も第１実施形態と異なる。 【０１７３】 すなわち、構造体Ｓは、図１３に示すように、略方形状の板状体ある。そして、計測部３の光ファイバセンサ２は、この構造体Ｓの一の周縁に沿って固定され、該固定部分である物理量検出部２ａで複数の測定歪みを計測し得るように構成されている。そして、この構造体監視システム１では、上記第１実施形態と同様に、数値解析部５によりこの測定歪みを用いて構造体Ｓの境界上または内部の任意の点における歪み（解析歪み）を解析し得るものとなされている。 【０１７４】 一方、この構造体Ｓの中央部には、上記光ファイバセンサ２と平行に確認用光ファイバセンサ２００が敷設されている。この確認用光ファイバセンサ２００は、この確認用光ファイバセンサ２００上に確認用測定点ｍｃが予め設定されており、この確認用測定点ｍｃでのブリルアン散乱光を計測部３で受光してこのスペクトルに基づき、確認用測定点ｍｃでの測定歪みを算出し得るものとなされている。そして、計測部３からこの測定歪みが確認用測定点ｍｃの座標とともに数値解析部５に出力されるものとなされている。 【０１７５】 数値解析部５は、光ファイバセンサ２からの測定歪みに基づいて確認用測定点ｍｃにおける解析歪みを算出する一方、この確認用測定点ｍｃにおける解析歪みと確認用光ファイバセンサ２００によって確認用測定点ｍｃで計測された測定歪みとを対比するものとなされている。 【０１７６】 図１４は、数値解析部５での解析処理を示すフローチャートであり、以下この図を用いて具体的に説明する。 【０１７７】 解析処理がスタートすると、第１実施形態と同様に、光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）の取得を確認する（ステップＳ６０）。そして、確認用光ファイバセンサ２００による測定データ（確認用測定点ｍｃでの測定歪み、確認用測定点ｍｃの座標）を取得したか否かを判定し（ステップＳ６１）、取得している場合には光ファイバセンサ２による測定データを用いて確認用測定点ｍｃでの解析歪みを算出する（ステップＳ６２）。この数値解析手法は、上記第１実施形態における場合と同様であるのでここではその説明を省略する。 【０１７８】 次に、数値解析部５は、確認用測定点ｍｃでの測定歪みと解析歪みとを対比し（ステップＳ６３）、その誤差（解析歪みと測定歪みとの差）が予め定められた許容範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ６４）。ここで、両歪みの対比は、両歪みの差の二乗同士を比較するものであってもよいし、両歪みの差の絶対値を比較するものであってもよい。また、許容範囲内にあるか否かの判定の基準になる既定値は、予め設定入力部９を介して入力されており、監視レベルに応じて複数個の既定値を設定するものであってもよい。 【０１７９】 そして、誤差が許容範囲内である場合には（ステップＳ６４でＹＥＳ）、記憶部５１に記憶されている測定データを更新するとともに（ステップＳ６５）、表示部６に歪み分布を表示して（ステップＳ６６）解析処理を終了する。 【０１８０】 一方、確認用測定点ｍｃでの解析歪みと測定歪みとの誤差が許容範囲内を超えている場合には（ステップＳ６４でＮＯ）、表示部６に誤差が許容範囲内を超えている旨の表示とともに、該誤差を表示し（ステップＳ６７）、構造体Ｓのモデリングを再設定する（ステップＳ６８）。このモデリングの再設定は、具体的には例えば構造体Ｓにおける節点数や節点座標の変更、境界要素分割の設定し直し等が行われる。本第６実施形態では、節点座標の変更が実行されるように設定されている。その上で、計測部３に対して構造体Ｓの所定の測定点ｍでの再計測を指示する信号を出力して（ステップＳ６９）、ステップＳ６０に移行する。 【０１８１】 この第６実施形態に係る構造体監視システム１によれば、数値解析部５による解析歪みの推定精度を確認用光ファイバセンサ２００による測定歪みとの対比を通じて確認することができ、これによりモデリングや初期設定等の精度を確認することができるとともに、このモデリング等を設定し直して精度の改善を図ることができる。これにより、構造体Ｓの歪み分布を高精度で推定することができるとともに、歪みが高く損傷の虞がある部位を高精度で特定して迅速に修理等実行することができる。」 「【０１８３】 また、本第６実施形態では、確認用光ファイバセンサ２００として光ファイバセンサと別個に設けているが、光ファイバセンサ２にこの機能を持たせるものとしてもよい。この場合には、光ファイバセンサ２に、解析歪みを算出するために用いられる測定歪みの測定点とは別の確認用測定点が設けられ、該確認用測定点での測定歪みが対比の対象となる。 【０１８４】 さらに、本第６実施形態では、解析歪みの精度を確認するために、光ファイバセンサを用い、この光ファイバセンサによって計測部３で測定歪みを算出するものとなされているが、確認のための測定歪みは例えばその他の歪みセンサ等の公知の計測手段を用いるものであってもよい。」 （２）したがって、上記引用文献１には次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 「計測部３の光ファイバセンサ２は、構造体Ｓの一の周縁に沿って固定され、該固定部分である物理量検出部２ａで複数の測定歪みを計測し、構造体監視システム１では、数値解析部５によりこの測定歪みを用いて構造体Ｓの境界上または内部の任意の点における歪み（解析歪み）を解析し（【０１７３】より。以下同様。）、 構造体Ｓの中央部には確認用測定点ｍｃが予め設定されており、確認用測定点ｍｃでの測定歪みを算出し、計測部３からこの測定歪みが数値解析部５に出力され（【０１７４】）、 数値解析部５での解析処理（【０１７６】）では、 光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）の取得を確認し、測定データ（確認用測定点ｍｃでの測定歪み、確認用測定点ｍｃの座標）を取得している場合には光ファイバセンサ２による測定データを用いて確認用測定点ｍｃでの解析歪みを算出し（【０１７７】）、 数値解析部５は、確認用測定点ｍｃでの測定歪みと解析歪みとを対比し、その誤差（解析歪みと測定歪みとの差）が予め定められた許容範囲内にあるか否かを判定し、許容範囲内にあるか否かの判定の基準になる既定値は、予め設定入力部９を介して入力されており（【０１７８】）、 誤差が許容範囲内である場合には、測定データを更新するとともに表示部６に歪み分布を表示し（【０１７９】）、 確認用測定点ｍｃでの解析歪みと測定歪みとの誤差が許容範囲内を超えている場合には、表示部６に誤差が許容範囲内を超えている旨の表示とともに、該誤差を表示し、構造体Ｓのモデリングを再設定し、計測部３に対して構造体Ｓの所定の測定点ｍでの再計測を指示する信号を出力する（【０１８０】）、 数値解析部５での解析処理（【０１７６】）。」 ２．引用文献２について 原査定の拒絶の理由に引用された上記引用文献２（特開２０１０－１７２４２５号公報）には、「【００４９】・・・光構造解析装置１は、例えば体腔内の生体組織や細胞等の測定対象の断層画像を例えば波長１．３μｍを中心とするＳＳ－ＯＣＴ計測により取得するものであって、・・・【００５６】測定対象Ｔの深さ方向をＡ、プローブの長手軸方向をＣ、ＣＡ面に直角な方向をＢとすると、・・・ＡＢＣの３次元断層画像の計測が可能となっている。・・・【００６５】断層構造画像生成９３０は、メモリ９１に格納された干渉情報に基づいて測定対象Ｔの断層構造画像を生成するものである。・・・【００８０】レンダリング部９４３は、断層構造画像生成部９３０からの断層構造画像を入力すると、この断層構造画像、断層構造画像上にマーキング部９３７によるマークをレンダリングしたレンダリング画像、あるいは断層構造画像上にライン補間部９３８によりライン補間結果をレンダリングしたレンダリング画像をモニタ１００に表示する・・・」と記載されている。 第５　対比・判断 １．本願発明１について （１）対比 本願発明１と引用発明とを対比する。 ア　引用発明の「光ファイバセンサ２」は、本願発明１の「光ファイバ」に相当する。 また、引用発明では、「構造体監視システム１」で、「計測部３の光ファイバセンサ２は、構造体Ｓの一の周縁に沿って固定され、該固定部分である物理量検出部２ａで複数の測定歪みを計測し」、「数値解析部５によりこの測定歪みを用いて構造体Ｓの境界上または内部の任意の点における歪み（解析歪み）を解析」するから、引用発明の「計測部３」と、本願発明１の「光ファイバ形状検知装置」とは、「光ファイバ検知装置」である点で共通し、引用発明の「構造体監視システム１」において行われる「数値解析部５での解析処理」と、本願発明１の「光ファイバによる形状検知のための方法」とは、「光ファイバによる検知のための方法」である点で共通する。 イ　引用発明では、「計測部３の光ファイバセンサ２は、構造体Ｓの一の周縁に沿って固定され、該固定部分である物理量検出部２ａで複数の測定歪みを計測」するところ、「計測部３の光ファイバセンサ２は」、「光ファイバセンサ２」が「構造体Ｓ」に「固定され」た「固定部分」の「測定歪みを計測」するのであるから、その「固定部分」の「測定歪み」は、「固定部分」に「固定され」た「光ファイバセンサ２」自体の「測定歪み」であるといえる。 また、引用発明における「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」は、「光ファイバセンサ２」自体のデータであるといえる。 したがって、上記アをふまえると、引用発明における、「数値解析部５での解析処理」において、「光ファイバセンサ２」が「構造体Ｓ」に「固定され」た「固定部分」の「測定歪みを計測」する「計測部３の光ファイバセンサ２」から、その「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」を「取得」することは、本願発明１の「光ファイバ形状検知装置から前記光ファイバ自体の形状データを収集するステップ」と、「光ファイバ検知装置から前記光ファイバ自体のデータを収集するステップ」である点で共通する。 ウ　引用発明における、「数値解析部５は、確認用測定点ｍｃでの測定歪みと解析歪みとを対比し、その誤差（解析歪みと測定歪みとの差）が予め定められた許容範囲内にあるか否かを判定」することは、「確認用測定点ｍｃでの」「解析歪み」が、「確認用測定点ｍｃでの測定歪み」を基準とした「許容範囲内にあるか否か」のテストを実行しているといえる。ここでの「解析歪み」は、「確認用測定点ｍｃでの測定歪み」と対比されるものであって、データであるといえる。 したがって、引用発明における、「数値解析部５は、確認用測定点ｍｃでの測定歪みと解析歪みとを対比し、その誤差（解析歪みと測定歪みとの差）が予め定められた許容範囲内にあるか否かを判定」することは、本願発明１の「前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、前記形状データに対してテストを実行するステップ」と、「データに対してテストを実行するステップ」である点で共通する。 してみると、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点、相違点があるといえる。 （一致点） 「光ファイバによる検知のための方法であって、 光ファイバ検知装置から前記光ファイバ自体のデータを収集するステップと、 データに対してテストを実行するステップと、 を有する方法。」 （相違点） （相違点１） 本願発明１は、「光ファイバによる形状検知のための方法」に関するもので、「光ファイバ形状検知装置から前記光ファイバ自体の形状データを収集する」のに対し、 引用発明では、「計測部３の光ファイバセンサ２」により「計測」し、「数値解析部５で」「解析処理」するのは、「歪み」であり、「数値解析部５での解析処理」において、「光ファイバセンサ２」が「構造体Ｓ」に「固定され」た「固定部分」の「測定歪みを計測」する「計測部３の光ファイバセンサ２」から「取得」する「光ファイバセンサ２による測定データ」も、「測定歪み、測定点の座標」である点。 （相違点２） 本願発明１では、「（「光ファイバ形状検知装置から」「収集する」「前記光ファイバ自体の」）形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、（「光ファイバ形状検知装置から」「収集する」「前記光ファイバ自体の」）形状データに対してテストを実行する」のに対し、 引用発明では、「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」「を用いて」「算出」される、「確認用測定点ｍｃでの解析歪み」が、「確認用測定点ｍｃでの測定歪み」を基準とした「許容範囲内にあるか否かを判定」している点。 （相違点３） 本願発明１では、「前記許容可能な閾を超えるデータ位置に対応する形状データを拒否するステップ」を有しているのに対し、 引用発明では、「確認用測定点ｍｃでの解析歪みと測定歪みとの誤差が許容範囲内を超えている場合には、表示部６に誤差が許容範囲内を超えている旨の表示とともに、該誤差を表示し、構造体Ｓのモデリングを再設定し、計測部３に対して構造体Ｓの所定の測定点ｍでの再計測を指示する信号を出力」している点。 （相違点４） 本願発明１では、「安定した形状検知データセットを提供するために、許容可能な形状データをレンダリングするステップ」を有しているのに対し、 引用発明では、「誤差（解析歪みと測定歪みとの差）」「が許容範囲内である場合には、測定データを更新するとともに表示部６に歪み分布を表示し」ている点。 （２）相違点についての判断 事案に鑑み、上記相違点２を先に検討する。 ア　引用発明は、「数値解析部５による解析歪みの推定精度を確認用光ファイバセンサ２００による測定歪みとの対比を通じて確認することができ、これによりモデリングや初期設定等の精度を確認することができるとともに、このモデリング等を設定し直して精度の改善を図ることができる。これにより、構造体Ｓの歪み分布を高精度で推定することができる」（引用文献１の【０１８１】）というものであり、「確認用測定点ｍｃでの測定歪み」を正確なものとして「確認用測定点ｍｃでの解析歪み」の精度を確認しているが、「確認用測定点ｍｃでの解析歪み」についても、それを算出するのに用いられる「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」はどのデータ位置でも正確に測定できているという前提の下、数値解析部５により解析歪みを推定する際のモデリングや初期設定等の精度を確認するものである。 すなわち、引用発明は、「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」はどのデータ位置でも正確に測定できているという前提でなされたものであるから、引用発明において、「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」の幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、「光ファイバセンサ２による測定データ（測定歪み、測定点の座標）」に対してテストを実行するように構成する動機づけを見出すことはできない。 イ　上記引用文献２も、相違点２に関連する技術事項を記載するものではない。また、相違点２に係る本願発明１の構成は、本願優先日前において周知技術であるともいえない。 ウ　したがって、他の相違点について判断するまでもなく、本願発明１は、当業者であっても、引用文献１－２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。 ２．本願発明２－１３について 本願発明２－１３は本願発明１を減縮した発明であり、本願発明２－１３は、本願発明１の上記相違点２に係る構成と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても、引用文献１－２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。 ３．本願発明１４について 本願発明１４は、本願発明１の上記相違点２に係る構成に対応する「前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために、前記形状データをテストするステップ」の構成を備えているから、本願発明１と同様の理由により、当業者であっても、引用文献１－２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。 ４．本願発明１５について 本願発明１５は、本願発明１の上記相違点２に係る構成に対応する「前記形状データの幾何学的期待に基づく許容可能な閾を超えるデータ位置を決定するために前記形状データに対してテストを実行し、・・・するよう構成される安定性モジュール」の構成を備えているから、本願発明１と同様の理由により、当業者であっても、引用文献１－２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。 第６　原査定について 以上のとおりであって、本願発明１－１５は、当業者であっても、原査定において引用された引用文献１－２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。したがって、原査定の理由を維持することはできない。 第７　むすび 以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。