2022-001967

特願２０１８－５２９８６４号「三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法」拒絶査定不服審判事件〔平成３０年２月１日国際公開、ＷＯ２０１８／０２１２１０〕について、次のとおり審決する。

結 論 本件審判の請求は、成り立たない。

理 由 第１ 手続の経緯 本願は、平成２９年７月２４日を国際出願日とする日本語特許出願であって（優先権主張 平成２８年７月２７日）、その手続の経緯の概略は、次のとおりである。 令和元年 ６月１９日付け：拒絶理由通知書 同年 ８月２３日 ：意見書の提出 令和２年 １月３１日付け：拒絶理由通知書 同年 ６月１１日 ：意見書、手続補正書の提出 同年１１月２７日付け：拒絶理由通知書（最後） 令和３年 ４月 ９日 ：意見書、手続補正書の提出 同年１０月２９日付け：補正の却下の決定 同日付け：拒絶査定（以下「原査定」という。） （同年１１月 ９日 ：原査定の謄本の送達） 令和４年 ２月 ９日 ：審判請求書の提出 第２ 本願発明について 本願の請求項１～６に係る発明は、令和２年６月１１日に提出された手続補正書により補正された請求項１～６に記載された事項により特定されるとおりのものであるところ、請求項３の記載は次のとおりである。 以下、請求項３に係る発明を「本願発明」という。 「 【請求項３】 測定対象の三次元表面粗度データを取得する三次元表面粗度データ取得方法であって、 前記測定対象の要素の平均長さＲＳｍを事前に評価し、 該ＲＳｍの少なくとも２倍以上の計測幅を有する二次元レーザー変位計によって、Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得することを特徴とする三次元表面粗度データ取得方法。」 第３ 原査定の拒絶の理由 原査定の拒絶の理由のうち、本願発明についての進歩性欠如の理由の概要は、次のとおりである。 理由２（進歩性） 本願発明は、下記の引用文献１、２、７及び８に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。 記 引用文献１：三重野紘央、増田宏「船底塗料の塗膜表面粗度による抵抗増加について－船底外板塗料による船体抵抗低減」、日本マリンエンジニアリング学会誌、２０１３年、４８巻、３号、３００～３０７頁 引用文献２：ＫＥＹＥＮＣＥ「超高速インラインプロファイル測定器 ＬＪ－Ｖ７０００シリーズ ユーザーズマニュアル」、２０１３年 引用文献７：特開２０１１－１６３８５２号公報 引用文献８：軍司愛美、正円大雅、三重野紘央、川口靖夫「不規則粗面の線測定に基づく粗度統計量評価と流体摩擦抵抗の予測」、日本機械学会流体工学部門講演会講演論文集（２０１５．１１．７－８、東京）、２０１５年１１月６日、１５０６ 第４ 引用文献等 １ 引用文献１ (１) 引用文献１の記載事項 原査定の拒絶の理由において引用した引用文献１には、以下の記載がある。下線は当審において付与した。以下同様である。 ア ３０２頁左欄２９行～３０３頁左欄３０行 「 ４． 表面粗度パラメーターの測定，可視化 表面粗度と一言にいっても，その形成要因によって形状やサイズは大きく異なる.表面粗度の計測方法も，その形状のサイズや硬度によって適したものを選択する必要がある.機械加工により形成された粗度，金属面の下地処理に使われているようなブラストメディアを吹き付けて形成した粗度の形状は，機械加工の刃の形状や加工間隔，ブラストメディアの形状によって異なる．これらの加工によって形成されたような波長が短い粗度に関しては，細い触針をもつ水平分解能及び，垂直分解能が高い接触型の測定装置，特に軟らかい表面は非接触のレーザー測定器による測定が適している. さらに細かい塗料のつや等に寄与するような数百ナノメートル程度の微細な粗度や顔料粒子に起因する粗度，生体表面の微細構造等を観察するには，共焦点レーザー顕微鏡や分子間力顕微鏡等の分解能が高い装置により表面を計測することが適当である． 筆者らが現在塗膜粗度測定に用いている装置及び，表面粗度の解析事例について紹介する．塗膜粗度は形成要因にもよるが，前述したような機械加工により形成した粗度と比較して，長い波長でサイズが大きい領域に属する為，評価長さが短い装置では測定には適しない．そこで筆者等はＸ－Ｙステージに取り付けたレーザー変位計に試験板をセットし３０ｍｍ×３０ｍｍの範囲（１２１ポイント，２５０μｍピッチ×１２１ライン）をスキャンすることにより表面粗度の断面プロファイルを取得する装置を開発した．取得した変位データにより３Ｄプロファイルを描画し，同時に３０ｍｍの評価長さでの粗度評価パラメーター，Ｒｚ，Ｒｚｊｉｓ，Ｒａ，Ｒｑ，Ｒｓｋ，Ｒｋｕ，ＲＳｍを算出する（ＪＩＳ Ｂ ０６０１）．本装置による評価は，３Ｄプロファイルによる可視化により，粗度形状が感覚的に理解できるのに加え，数値による比較が簡単に行える為，利便性が高い．図３に表面粗度形状の測定例を示す．最大高さＲｚはドライスプレーの表面と現行加水分解型防汚塗料が１００μｍを超えるのに対して，「ＳＥＡＦＬＯ ＮＥＯ」とシリコーン防汚塗料は５０～６０μｍである．また波長ＲＳｍはドライスプレーの１８７１μｍ，現行加水分解型防汚塗料の３４５４μｍ，「ＳＥＡＦＬＯ ＮＥＯ」の５２５５μｍ，シリコーン防汚塗料の６７０３μｍと長くなる傾向である．ドライスプレーの粗度は，極めて波長が短く砂粗度に近い粗度となるのに対し，シリコーン防汚塗料や「ＳＥＡＦＬＯ ＮＥＯ」のように波長が長く粗度が低いものは，波状粗度の中でも，傾斜が小さいものに属すると考えられる．この装置による測定は塗膜の形状の違いを比較的正確に捉えていると考えられ，この装置の評価長さや，測定ピッチや分解能は塗膜形状測定に適した設定になっていると考えている．ドライスプレーのような波長が極端に短い粗度に関してのみ測定ピッチを短くする必要があると考えられる．従来のＢＳＲＡ粗度測定装置の評価長さが５０ｍｍであることは，塗膜粗度の特徴を適切に捉えられる評価長さであることが一つの理由であると考えられる．」 イ 図３ 各防汚塗料の表面粗度プロファイル 「 ［図：0001392888000001.jpg］ 」 (２) 引用発明の認定 前記(１)において摘記した事項を総合すると、引用文献１には次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 ［引用発明］ 「 Ｘ－Ｙステージに取り付けたレーザー変位計に試験板をセットし３０ｍｍ×３０ｍｍの範囲（１２１ポイント、２５０μｍピッチ×１２１ライン）をスキャンすることにより表面粗度の断面プロファイルを取得する塗膜粗度測定装置であって、 取得した変位データにより３Ｄプロファイルを描画し、同時に３０ｍｍの評価長さでの粗度評価パラメータであるＲｚ、Ｒｚｊｉｓ、Ｒａ、Ｒｑ、Ｒｓｋ、Ｒｋｕ、ＲＳｍを算出するものであり、 最大高さＲｚが１００μｍを超えるドライスプレーの表面（波長ＲＳｍは１８７１μｍ）と現行加水分解型防汚塗料（波長ＲＳｍは３４５４μｍ）を測定対象としたときや、最大高さＲｚが５０～６０μｍの「ＳＥＡＦＬＯ ＮＥＯ」（波長ＲＳｍは５２５５μｍ）とシリコーン防汚塗料（波長ＲＳｍは６７０３μｍ）を測定対象としたとき、この装置による測定は塗膜の形状の違いを比較的正確に捉えており、この装置の評価長さや、測定ピッチや分解能は塗膜形状測定に適した設定になっている、 塗膜粗度測定装置。」 (３) 技術常識１の認定 前記(１)において摘記した事項に例示されるように、次の技術事項は当業者にとって技術常識であったと認められる（以下「技術常識１」という。）。 ［技術常識１］ 「表面粗度は、その形成要因によって形状やサイズは大きく異なり、その計測方法も、その形状のサイズや硬度に適したものを選択する必要があり、塗膜粗度は、機械加工により形成した粗度と比較して長い波長でサイズが大きい領域に属するため、評価長さが短い計測装置では測定には適しないこと。」 ２ 引用文献８ (１) 引用文献８の記載事項 原査定の拒絶の理由において引用した引用文献８には、以下の記載がある。 ア １頁左欄下から５行～２頁左欄下から１４行 「２． 本研究における解析と検討の流れ 本研究では，不規則な形状をもつ粗度を，単純な形態の突起物の群で置き換える．これをSet of Multi－dispersed Cone Model（SMCM）と呼ぶさらに解析を簡単化するため突起物は円錐であると考える．円錐状突起物は頂点の高さ３ｈｐｅａｋと少数の形状パラメータ（高さと底面の直径との比Ｈ／Ｒ），また突起物群は様々な頂点の高さ（後に説明する３ｈｐｅａｋ）をパラメータとする存在確率密度関数（ｐｄｆ），３ｆｐｅａｋで数学的に把握されるものとする．Ｈ／Ｒは群に対して一定であると考える．壁面形状が波状であるか，あるいは波の複合である場合，表面形状は少数のフーリエ成分で表されて好都合であるが，粗面が種々の粒子径をもつ砂粒群で覆われている場合は，本研究のｐｄｆ３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）を用いる方法が実用には適している． 本研究では，不規則な粗度表面の解析と摩擦抵抗との関係式の提案・検証を，次の３ステップを踏んで行う． Ａ． 表面粗さの線測定と統計量の抽出（４．１節に記述） 与えられた粗度表面の高さを点測定し，測定点を１方向（例えば円筒の周方向ｘ）にスキャンして粗さ曲線ｈ（ｘ）を取得する．この測定を「線測定」と呼ぶ．粗さ曲線からピークを見出し，ピークの高さ２ｈｐｅａｋをパラメータとするｐｄｆ２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）を計算する． Ｂ． 線測定に基づく３次元的曲面の推定と検証（４．２） Ａ．で得られた粗さ曲線は，３次元的曲面として存在する突起物群の特性をそのまま代表しているわけではない．Ａ．の測定を行う線が不規則的に配置された突起の頂点を必ず通る保証はなく，突起の裾野を通る場合も多いので，そのため２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）と３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）とは別個の関数となる．しかし妥当性のあるいくつかの仮定をおくと両関数は変換可能となる（詳細は付録に記述する）．この変換が現実の粗度面で妥当であるかを，線測定から得られた２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）から算出した３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｆと，面測定から実測した３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｍとの比較により検証する． Ｃ． 突起群モデルに基づく圧力抵抗式の提案と検証（４．３） 個々の突起（３ｈｐｅａｋを代表スケールとする）に対して圧力抵抗を表現する簡単な式を立て，突起群に対しては３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）の重みつき積分によって圧力抵抗成分を算出することを試みる．この方式を実証するため，Ａ．で計測した粗度表面をもつ試験体を水中で駆動し，表面に働く応力を実測し，この実測値とモデルに基づく推算値を比較し，検討する． なお，粗度の３次元的曲面を忠実に計測できる機器がある場合にはＡ．，Ｂ．のステップは必要なく，計測により直接３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｍを得てＣ．のステップに進めばよいが，船底での測定作業では多くの場合それは困難であり，またＢ．に示す変換可能性が確かであるなら面測定が可能な高価な装置は必要なくなることが本解析の有利点である． ３． 実験方法 流れ系は回転２重円筒の形態で，２つの円筒の間に水を満たしていて，そこに回転クエット乱流が形成される．両円筒のうち外筒（内半径１６５ｍｍ）は固定されており，内筒（外半径１５５ｍｍ，高さ３００ｍｍ）が可変速モータにより回転する．流れの概略を図１に示す．外円筒はステンレス鋼性で，外筒のさらに外部には試験中に温度を一定に保つため，恒温槽が設置してある．内円筒は塩化ビニール樹脂製で取り替え可能な試験体となっており，円筒の側面に粗度を作成する．今回の実験では船底塗料を種々の条件で吹き付け，異なる粗度面を作成した． 内筒を支える回転軸に設置したトルクメータによって回転に要するトルクを測定し，内円筒に作用する流体抵抗を計算した．回転数は３００～１０００ｒｐｍとし，８００ｒｐｍまでは５０ｒｐｍ刻み，１０００ｒｐｍまでは１００ｒｐｍ刻みとした．回転時の内円筒表面の速度をＵｗとし，速度スケールには０．５Ｕｗを用いる． また，粗度の測定実験では，粗さ測定用のレーザ，超高速インラインプロファイル測定器（キーエンス製 ＬＪ－Ｖ７２００）を用い，内円筒にレーザを照射し，その反射から３点測量の原理で表面の高さｈを得る．回転軸を回転させ，測定点を周方向に走査することで線測定を行い，２次元的粗度曲線ｈ（ｘ）を得た．この測定ではｘ方向に０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得し２次元的な意味でのピークのｐｄｆ ２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）を算出した．さらにステップＢの解析を検証する目的で，３次元的な粗さの測定を行った．インラインプロファイル測定器には，高さ方向にセンサが並んでおり，これに対して周方向に試験体を回転させて粗度の３次元的曲面形状を測定する．ｚ方向に０．０２ｍｍ間隔で８００点，ｘ方向には０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得し，３次元的な意味でのピークのｐｄｆの実測値３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｍを得た．」 イ 図１ 「 ［図：0001392888000002.jpg］ 」 (２) 引用文献８技術事項の認定 前記(１)において摘記した事項から、引用文献８には、次の技術事項が記載されていると認められる（以下「引用文献８技術事項」という。） ［引用文献８技術事項］ 「船底塗料を吹き付けて粗度面を作成した試験体に対して、粗さ測定用のレーザを照射し、超高速インラインプロファイル測定器（キーエンス製 ＬＪ－Ｖ７２００）を用いて、回転軸を回転させて測定点を周方向（ｘ方向）に走査することで線測定を行って２次元的粗度曲線ｈ（ｘ）を得て、ｘ方向に０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得して２次元的な意味でのピークの存在確率密度関数２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）を算出するとともに、前記インラインプロファイル測定器の高さ方向（ｚ方向）に並んだセンサを用いて面測定を行い、周方向（ｘ方向）に試験体を回転させて粗度の３次元的曲面形状を測定し、ｚ方向に０．０２ｍｍ間隔で８００点、ｘ方向には０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得して３次元的な意味でのピークの存在確率密度関数の実測値３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｍを得て、線測定から得られた２ｆｐｅａｋ（２ｈｐｅａｋ）から算出した３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｆと、面測定から実測した３ｆｐｅａｋ（３ｈｐｅａｋ）Ｍとの比較により、両関数の変換可能性を検証すること。」 ３ 引用文献２ (１) 引用文献２の記載事項 原査定の拒絶の理由において引用した引用文献２には、以下の記載がある。 ア １３－６頁 「 ［図：0001392888000003.jpg］ 」 イ １３－７頁 「 ［図：0001392888000004.jpg］ 」 ウ １３－９頁 「 ［図：0001392888000005.jpg］ 」 (２) 引用文献２記載事項の認定 前記(１)において摘記した事項から、引用文献２には次の事項が記載されていると認められる（以下「引用文献２記載事項」という。） ［引用文献２記載事項］ 「キーエンス製のＬＪ－Ｖ７２００が二次元レーザー変位計であること。」 ４ 引用文献１０及び引用文献１１ (１) 引用文献１０の記載事項 当審において新たに引用する吉田一朗「はじめての精密工学 表面粗さ －その測定方法と規格に関して－」精密工学会誌、７８巻、４号、２０１２年、３０１～３０４頁（以下「引用文献１０」という。）には、次の記載がある。 ア ３０１頁右欄下から１４行～３０２頁右欄８行 「 ３． 表面粗さの評価方法 表面粗さの測定・評価は，他のさまざまな計測と同様に，統計的に十分な量かつ，経済的時間的コストの面で合理的な方法で実施されることが必要である．表面粗さの工業上の共通の取り決めとしての評価方法は，ＩＳＯ／ＪＩＳ規格などさまざまな規格に定められている．現行のＪＩＳ規格の方法は，統計的に合理性があるかどうかの検証をした研究が複数あり4)5)，測定・評価方法の一つの指針として参考となる． ＩＳＯ／ＪＩＳ規格において，表面粗さの評価は，大きく分けて次の３つの曲線：断面曲線，粗さ曲線，うねり曲線に分けて行われる2)（紙面の関係から，モチーフパラメータやプラトー構造表面パラメータについては次の機会としたい）． ［図：0001392888000006.jpg］ これらは，波長帯域によって示すと図２のようになり，形状誤差うねり，粗さおよび量子化誤差やノイズなどの微細な成分に分離処理される．測定からパラメータ算出までのデータ処理の大まかな流れは，図３のようになっている２）．断面曲線は，測定断面曲線から形状誤差および粗さ成分より短い波長成分，すなわち高周波成分を，カットオフ値λＳのローパス特性をもつ輪郭曲線フィルタによって除去した曲線である．粗さ曲線は，断面曲線から粗さ成分よりも長い波長成分，すなわち低周波成分を，カットオフ値なのハイパス特性をもつ輪郭曲線フィルタによって除去した曲線である．うねり曲線は，カットオフ値λＣのローパス特性およびカットオフ値λｆのハイパス特性の輪郭曲線フィルタによって帯域通過させた曲線である． 以上の処理により得られたそれぞれ三つの曲線から，表面性状パラメータを計算する．各曲線の表面性状パラメータの記号は，どの曲線のパラメータであるかを分かりやすく明確にするために，断面曲線の場合はＰ，粗さ曲線の場合はＲ，うねり曲線の場合はＷから始まるパラメータとなっており，その次の記号がパラメータの幾何学的，統計的な意味を表している．例えば，Ｒａのaはarithmeticalを表しており，計算は輪郭曲線の高さ方向の絶対値平均を行う．また，ＲＳｍのＳｍは輪郭曲線要素の平均長さを表しており，表面凹凸の平均波長を計算している．」 イ ３０２頁右欄９行～３０３頁右欄１０行 「 ４． 表面粗さの測定 本章では，表面粗さを測定する前の準備や測定条件について説明する． （中略） ４．２ 測定条件の設定 触針式表面粗さ測定において，設定する必要性のある主要な測定条件としては，触針の形状，評価長さ，輪郭曲線 フィルタのカットオフ値λＳ，λＣ，λｆ，サンプリング間隔，表面性状パラメータ，測定速度，測定力，ｚ方向倍率などが挙げられる．以下に，これらの決定方法を解説する． （中略） ４．２．４ 基準長さ，評価長さ，カットオフ値の決定 基準長さ，評価長さ，カットオフ値には密接な関係があり，ＩＳＯ／ＪＩＳ規格では，基準長さが測定する長さを決定する際の基本の単位となっている．基準長さは，カットオフ値λＣ，λｆに等しく，断面曲線の場合は評価長さに等しい．この基準長さは，輪郭曲線の特性を求めるために用いる輪郭曲線のＸ軸方向の長さである．表面凹凸の幾何特性などをあらわす統計量を信頼足るものにするために，これらの長さが推奨されているが，粗さ関係ＪＩＳ原案作成委員会の前委員長の話によれば，古くからの経験によるところも大きく，いつ頃から使用され始めた長さであるかは定かではない．また，評価長さは１つ以上の基準長さを含む必要があり，特に粗さ曲線の評価長さは，カットオフ値の５倍とすることを規格内で標準としている．そのため，表面の粗さ測定に必要な測定長さは，基準長さの６倍以上となる．これは，フィルタのエンドエフェクトや測定開始時の駆動系の安定性も考慮して，評価長さとカットオフ値と予備長さなどを合算した長さが必要となるためである．ただし，あくまで標準であるため，この測定長さが確保できず，評価長さが標準よりも短くなる場合やより長く測定する場合には，図面や手順書，仕様書などに明記すればよい．」 (２) 引用文献１１の記載事項 当審において新たに引用する宮本紘三、田中信行「特集 形状計測におけるソフトウェアの役割/解説 表面粗さ測定器におけるデータ処理と形状評価」精密工学会誌６１巻、８号、１９９５年、１０７７～１０８１頁（以下「引用文献１１」という。）には、次の記載がある。 ア １０７８頁右欄１１行～１６行 「 １．４ 基準長さ・評価長さとパラメータ値の求め方 粗さ曲線から極端な大きさの山や谷(きず)のない部分を評価長さだけ抜き取り，この評価長さに含まれる基準長さごとに，基準長さ範囲でパラメータ値を求めたうえ，その値を評価長さ内で平均してパラメータ値とする.ここで，基準長さはカットオフ値相当の長さである(図２).」 イ 図２ 「 ［図：0001392888000007.jpg］ 」 ウ １０７８頁１７行～１０７９頁１１行 「 １．５ パラメータの定義 （中略） ４） 凹凸の平均間隔Ｓｍ 粗さ曲線からその平均線の方向に基準長さだけ抜き取り，抜取り部分において１つの山及びそれに隣り合う１つの谷に対応する平均線の長さの和を求め，この多数の凹凸の間隔の算術平均値をｍｍで表したもの(図６). ［図：0001392888000008.jpg］ ここで，Ｓｍｉ:凹凸の間隔，ｎ:基準長さ内で凹凸の間隔の個数. ・凹凸の間隔Ｓｍｉ:Ｓｍは凹凸の平均周期を求めるものであるのでＳｍを求めるときの山頂の高さと谷底の深さをどの程度のものに設定するかによって，Ｓｍ値が変わってくる.このため，Ｓｍで取り扱う山谷の大きさはそれぞれ最大高さＲｙの１０％以上とし，平均線を中心にして±１０％の不感帯を設け，この不感帯を越えて現れてくる１組の山谷の間隔をＳｍｉとしている.ただし，山と谷のうち，一部分が基準長さの始端や終端で遮られるものはＳｍでは山や谷と見なさない.」 エ 図６ 「 ［図：0001392888000009.jpg］ 」 (３) 技術常識２の認定 前記(１)において摘記した事項及び前記(２)において摘記した事項に例示されるように、次の技術事項は当業者にとって技術常識であったと認められる（以下「技術常識２」という。）。 ［技術常識２］ 「要素の平均長さＲＳｍは、表面凹凸の平均波長を表すパラメータであり、評価長さに含まれる基準長さごとに、１つの山及びそれに隣り合う１つの谷に対応する平均線の長さの和を求め、凹凸の間隔の算術平均値を基準長さごとに算出して、その値を評価長さ内で平均したものであること。」 ５ 引用文献５ (１) 引用文献５の記載事項 原査定の拒絶の理由において引用した引用文献５（特開２０１４－２２２１５６号公報）には、以下の記載がある。 「【００２２】 本実施形態の厚み検査装置１０は、一方の変位センサ１ａの投光装置１１がライン状の光を、被検査物ＴＯの一表面１０ａの法線方向から被検査物ＴＯの検査面１１ａに投光する。厚み検査装置１０は、被検査物ＴＯの一表面１０ａ側において、一方の変位センサ１ａの距離センサ１２が、投光装置１１の光の投光方向と所定の角度だけずれた方向から検査面１１ａを含む被検査物ＴＯの所定の領域１２ａを撮影する。また、厚み検査装置１０は、他方の変位センサ１ｂの投光装置１１が、ライン状の光を被検査物ＴＯの他表面１０ｂの法線方向から被検査物ＴＯの検査面１１ｂに投光する。厚み検査装置１０は、被検査物ＴＯの他表面１０ｂ側において、他方の変位センサ１ｂの距離センサ１２が、投光装置１１の光の投光方向と所定の角度だけずれた方向から検査面１１ｂを含む被検査物ＴＯの所定の領域１２ｂを撮影する。厚み検査装置１０は、一表面１０ａ側の検査面１１ａと、他表面１０ｂ側の検査面１１ｂとを対向した位置としている。 【００２３】 厚み検査装置１０は、移動装置により被検査物ＴＯを移動させながら、一方の変位センサ１ａで被検査物ＴＯを測定することにより、図２（ａ）に示す、被検査物ＴＯの一表表面１０ａ側全面にわたる画像を取得することができる。図２（ａ）に示す画像は、第１の変位データに基づいて、被検査物ＴＯの仮想の基準面から一表面１０ａ側における表面までの表面高さを表示している。同様に、厚み検査装置１０は、移動装置により被検査物ＴＯを移動させながら、他方の変位センサ１ｂで被検査物ＴＯを測定することにより、図２（ｂ）に示す、被検査物ＴＯの他表表面１０ｂ側全面にわたる画像を取得することができる。図２（ｂ）に示す画像は、第２の変位データに基づいて、被検査物ＴＯの仮想の基準面から他表面１０ｂにおける表面までの表面高さを表示している。」 「【００２７】 そこで、図２（ａ），図２（ｂ）に示す画像の変位データから、被検査物ＴＯの短手方向に沿った表面高さの平均値を差し引いて、被検査物ＴＯの反りや被検査物ＴＯの移動中の振動による誤差成分を除去したものを参考として図４に示す。図４（ａ）に示す画像は、被検査物ＴＯの一表面１０ａにおける誤差成分を除去した表面の高さを示している。図４（ｂ）に示す画像は、被検査物ＴＯの他表面１０ｂにおける誤差成分を除去した表面の高さを示している。図４（ａ）の画像からは、被検査物ＴＯの一表面１０ａ側において、被検査物ＴＯの短手方向に反りがあるが概ね平滑であることがわかる。また、図４（ｂ）の画像からは、被検査物ＴＯの他表面１０ｂ側において、被検査物ＴＯの表面で表面の高さが高い厚み異常部（図４（ｂ）のａ４を参照）があることがわかる。すなわち、図４（ａ），図４（ｂ）の画像からは、凹凸となる厚み異常部ａ４が被検査物ＴＯの他表面１０ｂ側にあることがわかる。」 「【図１】 ［図：0001392888000010.jpg］ 」 (２) 周知技術１の認定 上記(１)の摘記事項に例示されているように、次の技術事項は当業者にとって周知の技術であったと認められる（以下「周知技術１」という。） ［周知技術１］ 「ライン状の光を被検査物の表面に投光し、被検査物の表面を撮影した画像から得られる変位データに基づいて被検査物の仮想の基準面から表面までの高さを測定する二次元変位センサにおいて、変位データから被検査物の短手方向に沿った表面高さの平均値を差し引いて、誤差成分を除去した表面の高さを抽出すること。」 ６ 引用文献１２ (１) 引用文献１２の記載事項 当審において新たに引用する横田浩二（中国塗料株式会社技術生産本部防汚技術部）「－低燃費型船底塗料－３次元粗度解析による船体摩擦抵抗の可視化」船舶海洋技術セミナー発表資料、２０１６年４月１５日、SEA JAPAN 2016（以下「引用文献１２」という。）には、次の記載がある。 ア ８頁下のスライド 「 ［図：0001392888000011.jpg］ 」 イ ９頁上のスライド 「 ［図：0001392888000012.jpg］ 」 (２) 周知技術２の認定 上記(１)の摘記事項に例示されているように、次の技術事項は当業者にとって周知の技術であったと認められる（以下「周知技術２」という。） ［周知技術２］ 「車輪である移動機構と、塗料により塗装された状態の測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置とを備える三次元表面粗度評価装置。」 第５ 当審の判断 １ 本願発明について (１) 本願発明と引用発明の対比 本願発明と引用発明を対比する。 ア 引用発明の「試験板」は、本願発明の「測定対象」に相当し、引用発明の「表面粗度の断面プロファイル」により描画される「３Ｄプロファイル」は、本願発明の「三次元表面粗度データ」に相当する。 イ 引用発明の「塗膜粗度測定装置」は、「表面粗度の断面プロファイルを取得する」方法を実行するための装置であるから、本願発明と引用発明は、「測定対象の三次元表面粗度データを取得する三次元表面粗度データ取得方法」である点において一致する。 ウ 本願発明の「二次元レーザー変位計」と、引用発明の「レーザー変位計」は、「レーザー変位計」である点で共通するから、引用発明の「取得した変位データ」は、本願発明の「変位データ」に相当する。 (２) 一致点及び相違点の認定 前記(１)の対比結果を踏まえると、本願発明と引用発明は、次の一致点において一致し、以下の相違点において相違する。 ア 一致点 「測定対象の三次元表面粗度データを取得する三次元表面粗度データ取得方法であって、レーザー変位計によって変位データを取得する三次元表面粗度データ取得方法。」 イ 相違点 本願発明では、「前記測定対象の要素の平均長さＲＳｍを事前に評価し、該ＲＳｍの少なくとも２倍以上の計測幅を有する二次元レーザー変位計によって、Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定する」のに対して、引用発明では、「測定は塗膜の形状の違いを比較的正確に捉えており、この装置の評価長さや、測定ピッチや分解能は塗膜形状測定に適した設定になっている」ものの、測定対象のＲＳｍを事前評価しているか明らかではなく、「Ｘ－Ｙステージ」により「３０ｍｍ×３０ｍｍの範囲（１２１ポイント、２５０μｍピッチ×１２１ライン）をスキャンすることにより表面粗度の断面プロファイルを取得する」ものであるから、計測幅を有する二次元レーザー変位計であるとはいえない点。 (３) 本願発明についての判断 前記相違点について検討する。 ア ＲＳｍの事前評価について (ア) 引用発明は、「３０ｍｍの評価長さでの粗度評価パラメータ」を「算出するもの」であるところ、「塗膜粗度は、機械加工により形成した粗度と比較して長い波長でサイズが大きい領域に属するため、評価長さが短い計測装置では測定には適しないこと」は技術常識であるから（技術常識１を参照）、引用発明では、塗膜粗度の波長が長いことに対応して「塗膜形状測定に適した設定」となるように「評価長さ」を「３０ｍｍ」としたものであるといえる。 (イ) ここで、「要素の平均長さＲＳｍ」は、「表面凹凸の平均波長を表すパラメータ」であるから（技術常識２を参照）、塗膜粗度の波長の長短を判断するための指標となるものであるところ、「要素の平均長さＲＳｍ」は、「評価長さに含まれる基準長さごとに、１つの山及びそれに隣り合う１つの谷に対応する平均線の長さの和を求め、凹凸の間隔の算術平均値を基準長さごとに算出して、その値を評価長さ内で平均したものである」から（技術常識２を参照）、測定装置の評価長さを設定するにあたり、測定対象の要素の平均長さＲＳｍがどの程度であるかを事前に見積もり（評価）しておくことは、最適な形状測定を実行するために当業者が当然なすべき事項である。 (ウ) したがって、「塗膜形状測定に適した設定」となるように「評価長さ」を「３０ｍｍ」とした引用発明において、測定対象（塗膜）の要素の平均長さＲＳｍを事前に評価することは、当業者が当然なすべき事項である。 イ 二次元レーザー変位計について (ア) 引用文献８技術事項には、船底塗料を吹き付けて粗度面を作成した試験体に対して、粗さ測定用のレーザを照射し、超高速インラインプロファイル測定器（キーエンス製 ＬＪ－Ｖ７２００）の高さ方向（ｚ方向）に並んだセンサを用いて「面測定」を行い、周方向（ｘ方向）に試験体を回転させて粗度の３次元的曲面形状を測定し、ｚ方向に０．０２ｍｍ間隔で８００点、ｘ方向には０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得することが開示されている。 (イ) ここで、引用文献８技術事項の「面測定」は、高さ方向（ｚ方向）に並んだセンサを用いて行われるものであるから、引用文献８技術事項の「面測定」で使用される超高速インラインプロファイル測定器（キーエンス製 ＬＪ－Ｖ７２００）は、二次元レーザー変位計であるといえる。 なお、キーエンス製のＬＪ－Ｖ７２００が二次元レーザー変位計であることは、引用文献２（ＬＪ－Ｖ７０００シリーズのユーザーズマニュアル）の記載からも明らかである。 (ウ) また、引用文献８技術事項の「面測定」において「ｘ方向には０．１ｍｍ間隔で１００００点のデータを取得すること」は、「Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得する」ことであるといえる。 (エ) そして、引用発明及び引用文献８技術事項は、塗膜の表面粗度の３次元プロファイルをレーザー変位計により取得している点で共通するから、引用発明において引用文献８技術事項の「面測定」技術を適用することにより、「Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得する」「二次元レーザー変位計」であるように構成することは当業者ならば格別の困難性はない。 ウ ＲＳｍと計測幅の関係について 引用発明の「測定対象」は、「ドライスプレーの表面（波長ＲＳｍは１８７１μｍ）」、「現行加水分解型防汚塗料（波長ＲＳｍは３４５４μｍ）」、「「ＳＥＡＦＬＯ ＮＥＯ」（波長ＲＳｍは５２５５μｍ）」、「シリコーン防汚塗料（波長ＲＳｍは６７０３μｍ）」であるところ、引用発明において引用文献８技術事項の「面測定」技術を適用したとき、「３０ｍｍの評価長さ」に適合するような計測幅とすることは、測定装置の分解能や測定精度を考慮して当業者が適宜なし得た設計事項にすぎないというべきであり、上記測定対象のＲＳｍ（１８７１～６７０３μｍの範囲）と計測幅の関係について、「ＲＳｍの少なくとも２倍以上の計測幅を有する」ように構成することは、当業者ならば格別の困難性はない。 エ 小括 前記ア～ウの検討内容を踏まえると、前記相違点に係る本願発明の構成とすることは当業者が容易に想到し得たことである。 また、本願発明の奏する効果も、引用発明、引用文献８技術事項及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に予測し得たものにすぎない。 したがって、本願発明は、当業者が容易に発明することができたものである。 ２ 請求人の主張について (１) 審判請求書における主張の概要 請求人は、審判請求書において概略次の主張をしている。下線は当審において付した。 引用文献１において「評価長さが短い装置では塗膜粗度の測定には適しない」としているのは、あくまでも「要素の平均長さＲＳｍ」を精度良く測定するためには、評価長さが十分に長い必要があるという意味である。 これに対して、本願発明において、計測幅をＲＳｍの２倍以上とする理由は、取得した変位データをＹ軸方向に平均化して基準面データを生成する際に、基準面データに表面粗度形状が含まれないようにするためである。 特に、本願発明においては、二次元レーザー変位計を用いてＹ軸方向の変位データを同時に取得するようにしている。この場合、点状レーザー（一次元レーザー）を用いてサンプリングにより取得した変位データと比べ、多くの情報が含まれていることになる。このような変位データを用いて、Ｙ軸方向に平均化して基準面データを生成する場合に、どの程度の長さで平均化すれば、基準面データに表面粗度形状が含まれず、精度の高い表面粗度測定を行うことができるのか、という基準となる長さが、従来は知られていなかった。 このように、本願発明においては、塗膜粗度（要素の平均長さＲＳｍ）を測定するために必要な「評価長さ」の基準ではなく、基準面データを生成するために必要な「平均化する長さ」の基準を示したことに新規性及び進歩性を有するものである。 (２) 請求人の主張の検討 請求人の上記主張は、「前記変位データを、前記計測幅（ＲＳｍの２倍以上である計測幅）においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成」するという構成を含む請求項１及び請求項４に係る発明についてしたものであって、上記「基準面データ」に係る構成を含まない本願発明（請求項３に係る発明）についてしたものではない。 よって、請求人の上記主張によって、前記１において説示した本願発明についての当審の判断は左右されない。 ３ 補正案について 前記１において説示したとおり、本願発明については、進歩性が認められないことから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 しかしながら、請求人は、審判請求書において補正案１及び２を提示していることから、当審において、上記補正案についても念のため検討した。 次の(２)及び（３）において検討したとおり、補正案１及び補正案２の請求項１及び請求項４に係る発明は、いずれも当業者が容易に発明することができたものである。 したがって、これら補正案に係る発明は、いずれも進歩性を満たすものでないから、補正の機会を新たに付与することは妥当ではないと判断した。 (１) 補正案の内容 ア 補正案１ ［請求項１］ 測定対象の三次元表面粗度データを生成する三次元表面粗度評価方法であって、 二次元レーザー変位計によって、Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得し、 前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、 各Ｘ－Ｙ平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するものであり、 前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するＹ軸方向の長さであり、 該平均化するＹ軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下であることを特徴とする三次元表面粗度評価方法。 ［請求項４］ 計測幅を調節可能な二次元レーザー変位計と、 前記二次元レーザー変位計をＸ軸方向に移動させる移動機構と、 前記二次元レーザー変位計のＸ軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、 前記二次元レーザー変位計により取得された変位データと、前記移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置と、 を備える三次元表面粗度評価装置であって、 前記移動機構が、車輪またはクローラーであり、 前記二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にＹ軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がＹ軸方向と一致するように配置され、 前記二次元レーザー変位計の計測幅は、事前に評価した測定対象の要素の平均長さＲＳｍの少なくとも２倍以上に調節され、 前記演算装置は、 前記二次元レーザー変位計によりＸ軸方向の一定間隔毎に取得された前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、 各Ｘ－Ｙ平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成され、 前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するＹ軸方向の長さであり、 該平均化するＹ軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下であることを特徴とする三次元表面粗度評価装置。 イ 補正案２ ［請求項１］ 塗料により塗装された状態の測定対象の三次元表面粗度データを生成する三次元表面粗度評価方法であって、 二次元レーザー変位計によって、Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得し、 前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、 各Ｘ－Ｙ平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するものであり、 前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するＹ軸方向の長さであり、 該平均化するＹ軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下であることを特徴とする三次元表面粗度評価方法。 ［請求項４］ 計測幅を調節可能な二次元レーザー変位計と、 前記二次元レーザー変位計をＸ軸方向に移動させる移動機構と、 前記二次元レーザー変位計のＸ軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、 前記二次元レーザー変位計により取得された変位データと、前記移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、塗料により塗装された状態の測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置と、 を備える三次元表面粗度評価装置であって、 前記移動機構が、車輪またはクローラーであり、 前記二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にＹ軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がＹ軸方向と一致するように配置され、 前記二次元レーザー変位計の計測幅は、事前に評価した測定対象の要素の平均長さＲＳｍの少なくとも２倍以上に調節され、 前記演算装置は、 前記二次元レーザー変位計によりＸ軸方向の一定間隔毎に取得された前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、 各Ｘ－Ｙ平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成され、 前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するＹ軸方向の長さであり、 該平均化するＹ軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下であることを特徴とする三次元表面粗度評価装置。 (２) 補正案１の検討 ア 補正案１の請求項１に係る発明について (ア) 対比 前記１(１)に示した本願発明と引用発明の対比結果を踏まえつつ、補正案１の請求項１に係る発明（以下「補正案１発明１」という。）と引用発明を対比すると、両者は次のａに示す一致点において一致し、以下のｂに示す相違点において相違する。 ａ 一致点 「測定対象の三次元表面粗度データを取得する三次元表面粗度データ取得方法であって、レーザー変位計によって変位データを取得する三次元表面粗度データ取得方法。」 ｂ 相違点 補正案１発明１では、「二次元レーザー変位計によって、Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得し、 前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてＹ軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、 各Ｘ－Ｙ平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するものであり、 前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するＹ軸方向の長さであり、 該平均化するＹ軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下である」のに対して、引用発明ではそのような構成を備えていない点。 (イ) 判断 ａ 二次元レーザー変位計について 引用発明において引用文献８技術事項の「面測定」技術を適用することにより、「Ｘ軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得する」「二次元レーザー変位計」であるように構成することは当業者ならば格別の困難性はない。 ｂ 基準面データの生成について 「ライン状の光を被検査物の表面に投光し、被検査物の表面を撮影した画像から得られる変位データに基づいて被検査物の仮想の基準面から表面までの高さを測定する二次元変位センサにおいて、変位データから被検査物の短手方向に沿った表面高さの平均値を差し引いて、誤差成分を除去した表面の高さを抽出すること」は、周知技術であるから（周知技術１を参照）、引用発明に引用文献８技術事項の「面測定」技術を適用するにあたり、変位データを計測幅の方向に平均化して各座標の基準面データを生成し、変位データから各座標の基準面データを減算して、測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成することは、当業者が適宜なし得た測定データに係る信号処理にすぎない。 ｃ 計測幅について 引用発明に引用文献８技術事項の「面測定」技術を適用したとき、測定対象のＲＳｍ（１８７１～６７０３μｍの範囲）と計測幅の関係について、「測定対象の要素の平均長さＲＳｍの２倍以上１７．６倍以下である」ように計測幅を設定することは、測定装置の分解能や測定精度を考慮して当業者が適宜なし得た設計事項にすぎず、格別のものではない。 なお、「所定の計測幅」が、「二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である」ことや、「平均化するＹ軸方向の長さ」であることは、技術常識１、２から自明な事項であり、格別のものではない。 ｄ 小括 前記ａ～ｃの検討結果を踏まえると、前記相違点に係る補正案１発明１の構成とすることは、当業者が容易に想到し得たことである。 また、補正案１発明１の奏する効果は、引用発明、引用文献８技術事項、周知技術１及び技術常識１、２から当業者が予測できる程度のものにすぎず、格別顕著なものであるということはできない。 したがって、補正案１発明１は、引用発明、引用文献８技術事項、周知技術１及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 イ 補正案１の請求項４に係る発明について (ア) 前記アに示した補正案１発明１の検討結果を踏まえつつ、補正案１の請求項４に係る発明（以下「補正案１発明４」という。）について検討する。 (イ) 「車輪である移動機構と、塗料により塗装された状態の測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置とを備える三次元表面粗度評価装置」は、周知の技術である（周知技術２を参照）。 (ウ) また、二次元レーザー変位計の計測幅を調節可能なものとし、事前に評価した測定対象の要素の平均長さＲＳｍの少なくとも２倍以上に調節することは、技術常識１、２に基づいて当業者が適宜なし得た設計事項にすぎない。 (エ) したがって、補正案１発明４は、引用発明、引用文献８技術事項、周知技術１、２及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 (３) 補正案２の検討 前記(２)に示した補正案１の検討結果を踏まえつつ、補正案２の請求項１、４に係る発明（以下、それぞれ「補正案２発明１」及び「補正案２発明４」という。）について検討する。 引用発明においても、塗料により塗装された状態の測定対象の三次元表面粗度データを測定している。 したがって、補正案２発明１は、引用発明、引用文献８技術事項、周知技術１及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 また、補正案２発明４は、引用発明、引用文献８技術事項、周知技術１、２及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。 第６ むすび 以上のとおりであるから、本願発明は、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。 したがって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。 よって、結論のとおり審決する。