2026-700186

特許第７７３２６１２号発明「酸化チタン粒子及びその製造方法」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。

結 論 特許第７７３２６１２号の請求項１～９、１３～１６に係る特許を維持する。

理 由 第１ 手続の経緯 本件の特許第７７３２６１２号（請求項の数１６。以下「本件特許」という。）の請求項１～１６に係る特許についての出願は、２０２２年（令和 ４年） ４月２８日（優先権主張 令和 ３年 ５月１７日）を国際出願日とする特願２０２３－５２２５９８号の一部を令和 ７年 ４月 ７日に新たな特許出願（特願２０２５－６３２８６号。以下「本願」という。）としたものであって、令和 ７年 ８月２５日にその特許権の設定登録がされ、同年 ９月 ２日に特許掲載公報が発行されたものである。 その後、令和 ８年 ３月 ２日に、その請求項１～９、１３～１６に係る特許について、特許異議申立人である竹口 美穂（以下「申立人」という。）により、特許異議の申立て（以下「申立て」という。）がされた。 第２ 本件発明 本件特許の請求項１～１６に係る発明は、本願の願書に添付した特許請求の範囲の請求項１～１６に記載された事項により特定される以下のとおりのものである。 （以下、本件特許の請求項１～１６に係る発明をそれぞれ「本件発明１」等といい、これらを総称して「本件発明」という。また、本願の願書に添付した明細書を「本件明細書」という。） 【請求項１】 レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであり、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子における〔Ｄ９０（ＳＥＭ）－Ｄ１０（ＳＥＭ）〕／Ｄ５０（ＳＥＭ）が０．８２以下である、酸化チタン粒子。 【請求項２】 レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであり、 動的光散乱法により測定された酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＤＬＳ）／Ｄ５０（ＤＬＳ）が、１．０超２．０以下である、酸化チタン粒子。 【請求項３】 レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであり、動的光散乱法により測定された酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＤＬＳ）と電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子におけるＤ９０（ＳＥＭ）の比である、Ｄ９０（ＤＬＳ）／Ｄ９０（ＳＥＭ）が２．２以下である、酸化チタン粒子。 【請求項４】 レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであり、動的光散乱法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＤＬＳ）及び電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子のＤ９０（ＳＥＭ）が２００ｎｍ以下、Ｄ５０（ＳＥＭ）が１０～１５０ｎｍである、酸化チタン粒子。 【請求項５】 電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子におけるＤ９０（ＳＥＭ）／Ｄ５０（ＳＥＭ）が１．０超２．０以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子。 【請求項６】 電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子におけるＤ９９（ＳＥＭ）／Ｄ５０（ＳＥＭ）が１．０超２．０以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子。 【請求項７】 アナターゼ含有率が７０％以上である、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子。 【請求項８】 硝酸銀電位差滴定法により測定した酸化チタン粒子のＣｌ含有量が０．２質量％以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子。 【請求項９】 Ｎａ，Ａｌ，Ｓ，Ｆｅ，Ｎｉ，Ｃｒ，Ｎｂ及びＺｒの含有量がそれぞれ１０質量ｐｐｍ以下、Ｓｉ及びＣの含有量がそれぞれ５００質量ｐｐｍ以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子。 【請求項１０】 四塩化チタン及び不活性ガスを含有する原料ガスと、酸素ガス及び水蒸気の少なくとも１種並びに不活性ガスを含有する酸化性ガスとを、反応管に導入して反応させた後に冷却することで酸化チタン粒子を製造する工程において、反応管内壁にパージ媒体の吹き出し口を設け、パージ媒体を反応管内壁に沿って旋回するように導入し、反応管の軸線に対して垂直な反応管の横断面に投影した面において、パージ媒体の吹き出し口と反応管中心軸線を結ぶ線に対して、反応管内壁からパージ媒体の吹き出し角度αが、５０°以上であり、パージ媒体の吹き出し流速（Ｂ）が３５ｍ／ｓ以上であり、反応管の入口（端面側）から反応管の軸線方向に導入される原料ガスＧ１及び酸化性ガスＧ２について、反応管入口の断面積（Ｓ１）と原料ガスＧ１及び酸化性ガスＧ２の導入管出口の断面積の総和（Ｓ２）の比（Ｓ１／Ｓ２）が１以上７．０以下である、酸化チタン粒子の製造方法。 【請求項１１】 反応管の軸線を含む反応管の縦断面に投影した面において、反応管の軸線方向に対して、反応管内壁からのパージ媒体吹き出し角度βが、反応ガス流の順行側を０°として、６０°以上である、請求項１０に記載の酸化チタン粒子の製造方法。 【請求項１２】 反応管内の原料ガスと酸化性ガスとか ら形成される反応ガスの流速をＡ、パージ媒体の吹き出し流速をＢとした時、Ｂ／Ａが０．５以上となるようにパージ媒体を導入する、請求項１０又は１１に記載の酸化チタン粒子の製造方法。 【請求項１３】 請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含む、スラリー。 【請求項１４】 請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含む、分散体。 【請求項１５】 請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含む、組成物。 【請求項１６】 請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含む、誘電体原料。 第３ 特許異議の申立て理由の概要 １ 特許異議申立書に記載した特許異議の申立ての理由 本件特許の請求項１～９、１３～１６に係る特許は、下記（１）～（６）のとおり、特許法第１１３条第２号に該当する（証拠方法は下記（７）を参照。以下、甲第１号証等を単に「甲１」等という。）。 （１）申立理由１－１（新規性：甲１を主引用例とする理由） 本件発明１～５、７～９、１３～１５は、甲１に記載された発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、本件特許の請求項１～５、７～９、１３～１５に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明１～５、７～９、１３～１５に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （２）申立理由１－２（新規性：甲２を主引用例とする理由） 本件発明２、４～５、７～９、１３～１５は、甲２に記載された発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、本件特許の請求項２、４～５、７～９、１３～１５に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明２、４～５、７～９、１３～１５に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （３）申立理由２－１（進歩性：甲１を主引用例とする理由） 本件発明１～９、１３～１５は、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１～９、１３～１５に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明１～９、１３～１５に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （４）申立理由２－２（進歩性：甲２を主引用例とする理由） 本件発明１～５、７～９、１３～１５は、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１～５、７～９、１３～１５に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明１～５、７～９、１３～１５に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （５）申立理由２－３（進歩性：甲１を主引用例とする理由） 本件発明１６は、甲１に記載された発明、甲３及び甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１６に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明１６に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （６）申立理由２－４（進歩性：甲２を主引用例とする理由） 本件発明１６は、甲２に記載された発明、甲３及び甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１６に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。 したがって、本件発明１６に係る特許は、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。 （７）証拠方法 ・甲１：特許第４０７７４９５号公報 ・甲２：特開２００６－２８０１７号公報 ・甲３：特開２０１５－１８２８９０号公報 ・甲４：特開２０１２－６６９８７号公報 第４ 当合議体の判断 以下に述べるように、当合議体は、上記第３の申立理由によって、本件特許の請求項１～９、１３～１６に係る特許を取り消すことができないと判断する。 １ 申立理由１－１（新規性）、２－１（進歩性）、２－３（進歩性）（いずれも、甲１を主引用例とするもの）について （１）甲１に記載された発明 本願の優先日前に公知となった甲１には、その【０００７】、【０００９】、【００１０】、【００１６】～【００１７】、【００２１】～【００２３】、【００２７】、【００３３】～【００４７】及び図６ｂの記載によれば、特に実施例２のサンプル２ｂに着目すると、甲１には、以下の発明が記載されていると認められる。 「アルコールとしてＩＰＡ（イソプロピルアルコール）を３５体積％で水中に含むアルコール水溶液を調製し、 このアルコール水溶液１００体積部に対して四塩化チタンを５体積部で機械的にゆっくりと添加し、 上記で得られた液に、元のアルコール水溶液１００体積部に対してケイ酸ソーダを０．５体積部で添加および撹拌し、 これにより得られた液から採取したサンプル２ｂの酸化チタン粒子分散液であって、 この酸化チタン粒子分散液を動的光散乱法による測定装置であるナノトラック粒度分布測定装置 ＵＰＡ-ＥＸ１５０（日機装株式会社製）により、測定時間は６０秒とし、測定下限は０．８μｍ、測定上限は６５４０．０μｍとして測定した粒径分布が、体積基準で、以下に示す表１～表３のサンプル２ｂのものである、 酸化チタン粒子分散液に含まれる酸化チタン粒子。 【表１】 ［図：0001437429000001.jpg］ 【表２】 ［図：0001437429000002.jpg］ 【表３】 ［図：0001437429000003.jpg］ 」（以下「甲１発明」という。） （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲１発明とを対比する。 （ア）甲１発明の「酸化チタン粒子分散液に含まれる酸化チタン粒子」は、本件発明１の「酸化チタン粒子」に相当する。 （イ）そうすると、本件発明１と甲１発明とは、 「酸化チタン粒子」 である点で一致し、以下の点で相違する。 ＜相違点１－１＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であ」るのに対して、甲１発明の酸化チタン粒子は「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）」が不明である点 ＜相違点１－２＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であ」るのに対して、甲１発明の酸化チタン粒子は「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）」が不明である点 ＜相違点１－３＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であ」るのに対して、甲１発明の酸化チタン粒子は「Ｄ９０（ＬＤ）」及び「Ｄ５０（ＬＤ）」のいずれも不明である点 ＜相違点１－４＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであ」るのに対して、甲１発明の酸化チタン粒子は「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）」が不明である点 ＜相違点１－５＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子における〔Ｄ９０（ＳＥＭ）－Ｄ１０（ＳＥＭ）〕／Ｄ５０（ＳＥＭ）が０．８２以下であ」るのに対して、甲１発明の酸化チタン粒子は「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子における〔Ｄ９０（ＳＥＭ）－Ｄ１０（ＳＥＭ）〕／Ｄ５０（ＳＥＭ）」が不明である点 イ 相違点１－４について 事案に鑑み、上記相違点１－４について検討する。 （ア）甲１発明は、表３にＣＳ（比表面積）（ｍ２／ｃｃ）の値として、１１５４．３１との値が示されている。そこで、この値から本件発明１の「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）」に換算することができるかについて検討する。 （イ）まず、甲１において、この「ＣＳ（比表面積）（ｍ２／ｃｃ）」について、表３の記載以外の記載を見出すことができない。そうすると、このＣＳ（比表面積）が、どのように測定されたものであるかについては不明であるから、このＣＳ（比表面積）が「ＢＥＴ比表面積」であるのか不明であって、どのように換算すべきものであるか判断することができない。 （ウ）仮に、ＣＳ（比表面積）が「ＢＥＴ比表面積」であるとして、酸化チタン粒子の密度を用いてその単位を（ｍ２／ｃｃ）から（ｍ２／ｇ）に換算できるとしても、換算に用いる妥当な密度が不明である。 （エ）ここで、申立人が特許異議申立書において主張するアナターゼ型二酸化チタンの密度（真密度）の「３．９ｇ／ｃｍ３」を用いて甲１発明の「ＣＳ（比表面積）（ｍ２／ｃｃ）」の単位を、（ｍ２／ｇ）に換算できるとして計算すると、１ｃｃ＝１ｃｍ３であるから、 １１５４．３１（ｍ２／ｃｃ）／３．９（ｇ／ｃｃ） ＝２９６．０（ｍ２／ｇ） となる。一方、粉体の実際の密度はかさ密度で表され、かさ密度は、真密度より低い値となるという技術常識を踏まえると、ＣＳ（比表面積）（ｍ２／ｃｃ）の値が１１５４．３１であることから換算される「比表面積（ｍ２／ｇ）」の値は、上記の値より大きい値となると認められる。 そうすると、上記のように仮に換算できるとして、ＣＳ（比表面積）が「ＢＥＴ比表面積」であるとしても、甲１発明の酸化チタン粒子のＣＳ（比表面積）（ｍ２／ｃｃ）の値が１１５４．３１であることから、比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００であるとはいえない。 （オ）また、甲１において、甲１発明の酸化チタン粒子のＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００であるといえる他の記載を見出すことができないし、このことが技術常識であるともいえない。 以上によれば、相違点１－４は、実質的な相違点である。 （カ）また、甲１には、甲１発明において、酸化チタンの「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）を５～２００」に調整することを動機付けるような記載は見当たらない。さらに、甲１～４の記載及び技術常識を勘案しても、甲１発明において、酸化チタンの「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）を５～２００」に調整することが周知技術であるともいえない。 （キ）申立人は、申立書（２５頁～２６頁）において、甲１の段落【００２２】に、分散液に含まれるナノ粒子の平均粒径について、「約１～１００ｎｍの範囲内」や「約１～１０ｎｍの範囲内」とすることができることが記載されており、例えば、一次粒子径の平均粒径を「１０ｎｍ」とすれば、これを比表面積に換算すれば「１５４ｍ２／ｇ」となるから、甲１には、比表面積が「５～２００ｍ２／ｇ」の酸化チタン粒子が記載されていると主張する。 しかしながら、甲１発明は、実施例２の特定の方法により得られたサンプルであって、表１に記載される所定の粒径分布を持つものであるから、甲１発明において、その粒子の平均粒径を１０ｎｍとする動機があるとはいえない。 また、上記の一次粒子径の平均粒径から比表面積への換算は、申立書（２５頁）に記載される以下の換算式によるものと認められるが、この換算式は、粒子が真球であり、その表面がなめらかであり、粒径が均一であり、粒子の表面が全て露出していることを前提とするものである。 比表面積（ｍ２／ｇ）＝６０００／（ρ（密度）×ｄ（粒径）） そうすると、この換算式を用いて、一次粒子径の粒径を「１０ｎｍ」として、比表面積に換算した値が「１５４ｍ２／ｇ」となるからといって、甲１発明のＢＥＴ比表面積が同様の値となるとはいえないから、甲１には、比表面積が「５～２００ｍ２／ｇ」の酸化チタン粒子が記載されているとはいえない。 よって、この主張を採用しない。 （ク）そうすると、甲１発明において、相違点１－４に係る特定事項を備えようとすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。 ウ 以上によれば、相違点１－４以外の相違点について検討するまでもなく、本件発明１は、甲１に記載された発明であるとはいえず、また、本件発明１は、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （３）本件発明２～４について ア 本件発明２～４は、本件発明１と、酸化チタン粒子が「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであ」る点で少なくとも共通する。 イ 上記アを前提として、上記（２）アの検討を踏まえると、本件発明２～４と甲１発明とを対比すると、少なくとも相違点１－１～相違点１－４と同様の点で相違することが明らかである。 ウ そして、上記（２）イで検討したとおり、上記相違点１－４は実質的な相違点であるし、また、甲１発明において、上記相違点１－４に係る特定事項を備えようとすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。 エ 以上によれば、相違点１－４と同様の点以外の相違点について検討するまでもなく、本件発明２～４は、甲１に記載された発明であるとはいえず、また、本件発明２～４は、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）本件発明５～９、１３～１６について ア 本件発明５～９は、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子であることを発明特定事項に含むものである。 そうすると、上記（２）、（３）における検討を踏まえると、本件発明５、７～９は、甲１に記載された発明であるとはいえない。また、本件発明５～９は、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 イ 本件発明１３～１６は、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含むことを特定するものである。 そうすると、上記（２）、（３）における検討を踏まえると、本件発明１３～１５は、甲１に記載された発明であるとはいえず、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、甲３及び甲４には、酸化チタンが誘電体原料となり得ることが教示されているが、そのことが、上記（２）、（３）における判断を左右するものではないから、本件発明１６は、甲１に記載された発明及び甲３、甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （５）申立理由１－１（新規性）、２－１（進歩性）、２－３（進歩性）（いずれも、甲１を主引用例とするもの）についてのまとめ 以上によれば、本件発明１～５、７～９、１３～１５は、甲１に記載された発明とはいえず、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、本件発明６は、甲１に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 さらに、本件発明１６は、甲１に記載された発明、甲３及び甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 したがって、申立理由１－１（新規性）、２－１（進歩性）、２－３（進歩性）によっては、本件特許の請求項１～９、１３～１６に係る特許を取り消すことはできない。 ２ 申立理由１－２（新規性）、２－２（進歩性）、２－４（進歩性）（いずれも、甲２を主引用例とするもの）について （１）甲２に記載された発明 本願の優先日前に公知となった甲２には、その【０００１】、【０００３】、【０００６】、【０００９】、【００１３】、【００６１】～【００７１】の記載によれば、特に、実施例１の【表１】において粉末の回収欄が時間２に示されるＴｉＯ２粉末に着目すると、甲２には、以下の発明が記載されていると認められる。 「粉末のＢＥＴによる平均表面積が１１４．１（ｍ２／ｇ）であり、 動的光散乱による粒度データが、ｄ１０が２７ｎｍ、ｄ５０が４１ｎｍ、ｄ９０が７６ｎｍであり、 ５２ｎｍより大きい粒子の重量が２８．６％、 １０４ｎｍより大きい粒子の重量が４．２％、 ２０８ｎｍより大きい粒子の重量が１．４％である ＴｉＯ２粉末。」（以下「甲２発明」という。） （２）本件発明１について ア 対比 本件発明１と甲２発明とを対比する。 （ア）甲２発明の「ＴｉＯ２粉末」は、本件発明１の「酸化チタン粒子」に相当する。 （イ）甲２発明のＴｉＯ２粉末が「粉末のＢＥＴによる平均表面積が１１４．１（ｍ２／ｇ）であ」ることは、本件発明１の酸化チタン粒子の「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであ」ることを満たす。 （ウ）そうすると、本件発明１と甲２発明とは、 「ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇである、 酸化チタン粒子」 である点で一致し、以下の点で相違する。 ＜相違点２－１＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であ」るのに対して、甲２発明の酸化チタン粒子は「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）」が不明である点 ＜相違点２－２＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であ」るのに対して、甲２発明の酸化チタン粒子は「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）」が不明である点 ＜相違点２－３＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であ」るのに対して、甲２発明の酸化チタン粒子は「Ｄ９０（ＬＤ）」及び「Ｄ５０（ＬＤ）」のいずれも不明である点 ＜相違点２－４＞ 本件発明１が、酸化チタン粒子について「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子における〔Ｄ９０（ＳＥＭ）－Ｄ１０（ＳＥＭ）〕／Ｄ５０（ＳＥＭ）が０．８２以下であ」るのに対して、甲２発明の酸化チタン粒子は「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した酸化チタン粒子の一次粒子における〔Ｄ９０（ＳＥＭ）－Ｄ１０（ＳＥＭ）〕／Ｄ５０（ＳＥＭ）」が不明である点 イ 相違点２－２について 事案に鑑み、上記相違点２－２について検討する。 （ア）甲２発明は、ＴｉＯ２粉末の動的光散乱による粒度データについて特定するものの、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）の値は不明である。そうすると、甲２発明において「一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下」であるとはいえない。 （イ）ａ 申立人は、申立書（３３頁～３５頁）において、「一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下」について、 １）「酸化チタンの一次粒子径は比表面積径と同程度である」とし、 ２）比表面積径をＴｉＯ２粉末のＢＥＴによる平均表面積を「１１４．１ｍ２／ｇ」（【表１】）であること、アナターゼ型二酸化チタンの密度が「約３．９ｇ／ｃｍ３」であることから、ＴｉＯ２粉末の比表面積径を、６０００／（３．９×１１４．１）＝１５．２ｎｍ程度であるとし、 ３）上記１）、２）から粗大粒子の一次粒子径の最小値を、２４３ｎｍ程度であるとし、 ４）甲２の表から仮定を置きつつ換算すると２４４ｎｍの粒子が２０ｐｐｍ以下であることを主張する。 ｂ しかしながら、上記ａの１）のＤ５０（ＳＥＭ）が、比表面積径と同程度であるという主張について、その根拠が示されておらず、粒子の性状により影響を受けるものと認められるから、妥当とはいえない。 ｃ 仮に上記ａの１）を認めるとしても、上記ａの２）の計算式は、形状が真球であることを前提とするものであるが、甲２発明のＴｉＯ２粉末の形状が真球であると認めることはできないから、上記計算式が妥当なものとはいえない。また、上記ａの２）の計算の前提について、甲２発明のＴｉＯ２粉末が真密度と同じ密度を有するともいえず、また、全てがアナターゼ型であると認められるものではないから、アナターゼ型二酸化チタンの密度と同じであるともいえない。 そうすると、上記ａの２）の主張についても妥当とはいえない。 ｄ 仮にＤ５０（ＳＥＭ）の値が「１５．２ｎｍ程度」であるとして、粗大粒子が、Ｄ５０の１６倍である２４３ｎｍ程度であるとして更に検討しても、表１からは、２０８ｎｍより大きい粒子の重量が１．４％であることが示されているものの、このことから、２４３ｎｍ以上の粒子が、２０ｐｐｍ以下であるとまではいえない。なお、２４３ｎｍ以上の粒子が、２０ｐｐｍ以上であったとしても、表１に示されるデータと必ずしも矛盾するものでもない。 ｅ 上記ｂ～ｄの検討のとおり、上記ａの申立人の主張を採用しない。 （ウ）以上によれば、相違点２－２は、実質的な相違点である。 （エ）また、甲２には、一般的には約１００ｎｍ及びそれ以上を上回る直径を有して製品中に存在する粗くず（ｃｏａｒｓｅ ｔａｉｌ）の存在が大きな問題であり（【０００６】）、透明度に有害であると考えられており、粗くずのないナノ粒子を製造できる方法の必要性がある（【０００７】）ことが記載されている。そして、この粗くずは、より小さい金属酸化物の粒子および／または反応物から形成され、また、部分的に合体した粒子から形成されうる粒子の凝集体が原因で生じる（【０００６】）とされている。これらの記載によれば、甲２は、一次粒子ではなく、二次粒子である粗くずの存在を問題とするものと認められる。 一方、本件発明１の粗大粒子濃度（個数基準）は、「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子」の粒度ごとの個数を基準とするものであるところ、この一次粒子の粒度に着目し、「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であ」るようにすることについて、甲２には記載も示唆もされておらず、そのようにする動機があるともいえない。 （オ）また、甲１～４の記載及び技術常識を勘案しても、酸化チタンの「電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であ」るようにすることが周知技術であるともいえない。 （カ）そうすると、甲２発明において、上記相違点２－２に係る特定事項を備えようとすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。 ウ 以上によれば、本件発明１は、相違点２－２以外の相違点について検討するまでもなく、本件発明１は、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （３）本件発明２～４について ア 本件発明２～４は、本件発明１と酸化チタン粒子が「レーザー回折・散乱分析法により測定した酸化チタン粒子におけるＤ９０（ＬＤ）／Ｄ５０（ＬＤ）が１．０超２．０以下であり、かつ、電界放射型走査型電子顕微鏡で観察した一次粒子のＤ５０（ＳＥＭ）に対して、一次粒子径がＤ５０（ＳＥＭ）の１６倍を超える粗大粒子濃度（個数基準）が２０ｐｐｍ以下であり、Ｄ９０（ＬＤ）が３０００ｎｍ以下であり、Ｄ５０（ＬＤ）が１０００ｎｍ以下であり、ＢＥＴ比表面積（ｍ２／ｇ）が５～２００ｍ２／ｇであ」る点で共通する。 イ 上記アを前提として、上記（２）の検討を踏まえ、本件発明２～４と甲２発明とを対比すると、少なくとも相違点２－１～相違点２－３と同様の点で相違することが明らかである。 ウ そして、上記（２）で検討したとおり、上記相違点２－２は実質的な相違点であるし、甲２発明において、該相違点２－２に係る特定事項を備えようとすることは、当業者が容易に想到し得たこととはいえない。 エ 以上によれば、相違点２－２と同様の相違点以外の相違点について検討するまでもなく、本件発明２、４は、甲２に記載された発明であるとはいえず、また、本件発明２～４は、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （４）本件発明５、７～９、１３～１６について ア 本件発明５、７～９は、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子であることを発明特定事項に含むものである。 そうすると、上記（２）、（３）における検討を踏まえると、本件発明５、７～９は、甲２に記載された発明であるとはいえず、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 イ 本件発明１３～１６は、請求項１～４のいずれか１項に記載の酸化チタン粒子を含むことを特定するものである。 そうすると、上記（２）、（３）における検討を踏まえると、本件発明１３～１５は、甲２に記載された発明であるとはいえず、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、甲３及び甲４には、酸化チタンが誘電体原料となり得ることが教示されているが、そのことが、上記（２）、（３）における判断を左右するものではないから、本件発明１６は、甲２に記載された発明及び甲３、甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 （５）申立理由１－２（新規性）、２－２（進歩性）、２－４（進歩性）（いずれも、甲２を主引用例とするもの）についてのまとめ 以上によれば、本件発明２、４～５、７～９、１３～１５は、甲２に記載された発明とはいえず、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 また、本件発明１、３は、甲２に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 さらに、本件発明１６は、甲２に記載された発明、甲３及び甲４に記載された事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。 したがって、申立理由１－２（新規性）、２－２（進歩性）、２－４（進歩性）によっては、本件特許の請求項１～５、７～９、１３～１６に係る特許を取り消すことはできない。 第５ むすび 以上のとおり、特許異議申立書に記載した特許異議の申立ての理由によっては、本件特許の請求項１～９、１３～１６に係る特許を取り消すことができない。 また、他に本件特許の請求項１～９、１３～１６に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり決定する。