2022-017798

第２ 本願発明の認定

本願の請求項１に係る発明は、令和６年５月９日にされた手続補正によって補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものであるところ、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、次の事項により特定されるとおりである（下線は補正箇所）。

「【請求項１】

電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路の経路の故障を予測する方法であって、

ａ）予測される故障までの推定時間を有すると特定されるＤＣ回路の経路に対して印加するためのパルス列であって、正のＤＣパルス列と負のＤＣパルス列を合成することで正と負が交番するパルス列を生成するステップと、

ｂ）生成された前記交番するパルス列を印加することによって特定のＤＣ回路の経路を介して得られるパルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性に関してのベースラインを前記ＤＣ回路の経路に対して確立するステップと、

ｃ）使用されているＤＣ回路の経路に前記生成された前記交番するパルス列を印加して当該使用されているＤＣ回路の経路を監視して、ステップ（ｂ）で使用された前記特定のＤＣ回路の経路を介して得られた前記パルス特性に対応するパルス特性であって、前記使用され監視される前記ＤＣ回路の経路を介して得られるパルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性を求めるステップと、

ｄ）前記使用され監視される前記ＤＣ回路の経路の故障までの推定時間を予測するために使用される減衰率分析曲線を確立するためにステップ（ｂ）およびステップ（ｃ）で得られた両パルス特性を比較するステップと

を含む方法。」

第３ 当審において通知した拒絶の理由の概要

当審において令和５年１１月８日付け拒絶理由通知書で通知した拒絶の理由（以下「当審拒絶理由」という。）は、次の理由を含むものである。

１ 理由１（実施可能要件違反）について

本願の発明の詳細な説明の記載は、「直流（ＤＣ）回路」（以下「ＤＣ回路」という。）と称することができる回路であればいかなる回路であっても、請求項１の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「ライフサイクルを予測する」ことが可能であることまでは記載されていないという不備があるから、請求項１に係る発明について、当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものではない点。

２ 理由２（サポート要件違反）について

請求項１に係る発明の「直流（ＤＣ）回路」に含まれる、ありとあらゆる回路（直流電流が関係する回路）を対象とし、前記「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「ライフサイクルを予測する」ことは、発明の詳細な説明中に記載も示唆もされていない点。

第４ 本願の発明の詳細な説明に記載された事項

本願の発明の詳細な説明には、以下の記載がある。なお、下線は当合議体によるものである。

また、発明の詳細な説明において参照される図面も示す。

１ 段落【０００１】～【００１１】

「【技術分野】

【０００１】

本発明は、ＤＣ回路の未来の故障時期を予測するためにそのような技術を使用し、劣化の属性を監視して検証され分析される、電流を流すことができるＤＣ回路に関する。

【背景技術】

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【０００２】

典型的な電気回路は、正常に動作するか、または故障する（オンまたはオフである）。これらのシステム内の配線が、典型的には故障の最大の可能性であり、これらのシステムの欠陥のトラブルシューティングには時間も費用もかかる。断続的なタイプの故障は、構成要素の損傷およびオペレータの極度のフラストレーションにつながる可能性がある。このタイプの故障モードは、自動車、航空機、および他の産業用または輸送用システムにおいて最も一般的である。私たちは、電池または他の電源で動作する直流（ＤＣ）システムを用いて、この新しい技術の焦点をこれらに合わせる。

【０００３】

この技術は、故障状態になる前または断続的な欠陥モード中に故障を予測するために既存の電源を使用するように設計されている。これらのシステムは機器の動作には利用されないが、システムの完全性を判断するために一連のＤＣパルス（図１）が生成される。これらのシステムテストは短期間実行され、その結果は、「正常な」動作を参照するために記憶される。各連続データストリームは、標準的な警告のために中央処理装置（ＣＰＵ）に提供され得る予測アルゴリズムを生成するために正常なデータに対して分析される。このアルゴリズムが重大な故障モードに至ると、安全性関連の巧妙なシャットダウンを開始することができる。

【０００４】

酸化、湿気、接続不良、内部損傷、および外部破壊の典型的な故障モードは、システムが故障する前、人間の視覚によって発見される前、または既存の診断によってフィードバックが提供され得るようになる前に判断され得る。

【発明の概要】

【０００５】

本発明は、劣化について回路経路および副分岐を監視することによってＤＣ回路の予測寿命を予測する方法を提供する。

【０００６】

過去の従来技術は、良好な回路または不良な（故障した）回路を判断する手段のみを提供していた。これらのノー／ノーゴーテスト方法は、壊滅的な故障を防止するまたは予測寿命の時期を予測する手段を提供しない。

【０００７】

回路の状態を監視する本発明の方法は、特定タイプの回路（各々は多少異なる）について既知のベースライン信号を確立するステップと、波形の前縁（リーディング・エッジ）角度成分および後縁（トレーリング・エッジ）角度成分（ゼロ交差点における）、電圧（振幅）、および周期（時間長）に関してこれらの特性を決定するステップとを含む。理想的には、方形波の角度成分は、垂直、またはＸ軸に対して９０度であるべきである（図２）。電流、電圧、これらの任意の高調波、またはこれらの信号の組み合わせで構成されたベースラインの非正規の方形波は、監視されている特定タイプの回路に起因する予測測定を最もよく示す。未来の波形は、ベースライン信号および／または観測中の特定のスプライスの前の波形と比較されたときの、ゼロ交差点の角度成分、振幅成分、および周期成分（図３および図４）の総計に基づいて減衰率を示す。減衰率は、特定の回路の予測寿命を求めるために予想される。

【０００８】

生成されるＤＣパルスは、特別にテスト中の回路に合わせて調整される。ＤＣパルスは、正（Ｖ＋）電圧および負（Ｖ－）電圧の両方であり、これらは互いに等しくなる。これらのパルスの持続時間は、時間の変数（Ｔｖ）であるが、回路の構成要素に合わせて調整される。これらのパルス特性が確立されると、これらはマッピングされて「正常な」状態として記憶される。

【０００９】

連続テストは、「正常な」状態中に確立された同一のパルス特性（Ｖ＋、Ｖ－、およびＴｖ）を利用した。これらのテストは、システムの動作に影響を及ぼさないように、製造業者の推奨に基づいて所定の間隔で、システムが動作していない間に実行される。連続テストパルス特性は、回路配線の減衰率を求めるアルゴリズムによって「正常な」状態および前のテストと比較される。このアルゴリズムは、任意の回路の故障の可能性およびワイヤハーネス内の故障箇所のおおよその位置を予測するように設計される。

【００１０】

本発明は、費用対効果の高い予防保全を実施するためのリアルタイム予測手段をユーザに提供する方法および装置を提供する。この装置および包括的通信ネットワークは、これらの重要な決定が集中決定ポイントに転送されることを可能にする。

【図面の簡単な説明】

【００１１】

【図１】ＤＣパルス信号の生成ならびに電位、電流出力、およびアルゴリズムに入力するために計算された比率の処理を示すフローチャートである。

【図２】様々な振幅、周期、および持続時間を有する生成されたＤＣパルス信号を示す。

【図３】システムへの最初の回路の組み込み後のある短い減衰時間（Ｐ１）における劣化した振幅、周期、および持続時間を有する生成されたＤＣパルス信号を示す。

【図４】システムへの最初の回路の組み込み後のある減衰時間長（Ｐｘ）における劣化した振幅、周期、および持続時間を有する生成されたＤＣパルス信号を示す。

【図５】回路の減衰曲線を示す。」

２ 段落【００１２】～【００２３】、【図１】～【図５】

「【発明を実施するための形態】

【００１２】

本発明は、ＤＣ回路の重要な構成要素の各々を測定し、組み合わせ属性調査を提供し、故障までの時間ＴＴＦの予測分析を遂行し、決定プロセスのために遠隔集中ロジスティックシステムに報告する装置および方法を提供する。

【００１３】

続きを表示（全31行）

図１を参照すると、典型的なＤＣ回路３０３は、電源１０１と、システム内の様々な負荷に電力を分配するためのワイヤハーネスとを必要とする。負荷がより高度になると、負荷の多くは「内蔵」メモリ１０５の機能を有するようになる。本発明は、パルス発生器１０２によってＤＣパルス列２０１を生成し、インバータ１０３によって逆ＤＣパルス列２０２を生成する。中央処理装置（ＣＰＵ）１０４は、減衰率曲線（図５）を生成し、意思決定者が必要とする予測動作を行うために、特別にＤＣ回路３０３に対して交番ＤＣパルス信号２０３を生成するために、これらのＤＣパルス列２０１、２０２を合成する。

【００１４】

負荷に共通であるかまたはアップグレードの一部として実装されるメモリ記憶デバイス１０５は、正常なシステム動作に使用される同一のワイヤハーネスに沿って回路が停止されたときに送信用の最後のＤＣパルス信号２０４を記憶する能力を有する。

【００１５】

好ましい実施形態では、正（Ｖ＋）の前縁（Ｌ１＠Ｎ＋、Ｌ２＠Ｎ＋、…、Ｌ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の前縁（Ｌ１＠Ｎー、Ｌ２＠Ｎー、…、Ｌ１＋ｙ＠Ｎー）、正（Ｖ＋）の後縁（Ｔ１＠Ｎ＋、Ｔ２＠Ｎ＋、…、Ｔ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の後縁（Ｔ１＠Ｎー、Ｔ２＠Ｎー、…、Ｔ１＋ｙ＠Ｎー）、正（Ｖ＋）の電圧（ｄＶ１＠Ｎ＋、ｄＶ２＠Ｎ＋、ｄＶ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の電圧（ｄＶ１＠Ｎー、ｄＶ２＠Ｎー、ｄＶ１＋ｙ＠Ｎー）の同期収集データ、ならびにパルス数（１＋ｙ）およびＤＣパルス長（Ｔｖ１、Ｔｖ２、…、Ｔｖ（１＋ｙ））が、検査中の特定の各回路に関して保持される。ＣＰＵ１０４は、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア、またはこれらの方法のハイブリッドの組み合わせによって、本明細書に記載されているように情報を処理する。最初の交番ＤＣパルス信号２０３は、上記のデータ点と検査中の回路用にカスタマイズされたアルゴリズムとを利用することによって最新のＤＣパルス信号２０３と比較される。上記の分析方法は、純粋にアナログ的な方法、または同じもしくは同様の結果を達成するアナログ的方法とデジタル的方法の組み合わせによって遂行されてもよい。

【００１６】

ＤＣパルス信号２０３は、外部電源で生成することができる。ＤＣパルス信号２０３、２０４は、正常な動作に影響を及ぼさないようにテスト中の回路３０３がアイドル状態にある間に送信される。生成ＤＣパルス列２０３は、特別に分析中の回路に合わせて調整され、この個別の回路の特定の構成要素、材料、長さ、および構成が考慮される。

【００１７】

ある期間（Ｐ１）に、これらの同じデータ点が、収集され（図２）、パルス数（１＋ｙ）ごとにこれらのＤＣパルスの線形減衰および角度減衰を求めるのに適したアルゴリズムに通される。別の期間Ｐ（ｘ）に、これらのデータ点は、再び記録され（図３）、減衰率を求めるために正常なデータおよび前のデータＰ（ｘ－１）と共にアルゴリズムに入れられる。瞬時測定およびその後の分析は、検査中の回路の減衰率に応じて様々な間隔で実行することができる。回路の減衰は、図５の非線形イベントであり、つまり、減衰率は時間の経過と共に変化する。

【００１８】

減衰率アルゴリズムは、正（Ｖ＋）の前縁（Ｌ１＠Ｎ＋、Ｌ２＠Ｎ＋、…、Ｌ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の前縁（Ｌ１＠Ｎ－、Ｌ２＠Ｎ－、…、Ｌ１＋ｙ＠Ｎ－）、正（Ｖ＋）の後縁（Ｔ１＠Ｎ＋、Ｔ２＠Ｎ＋、…、Ｔ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の後縁（Ｔ１＠Ｎ－、Ｔ２＠Ｎ－、…、Ｔ１＋ｙ＠Ｎ－）の角度成分、および正（Ｖ＋）の電圧（ｄＶ１＠Ｎ＋、ｄＶ２＠Ｎ＋、ｄＶ１＋ｙ＠Ｎ＋）、負（Ｖ－）の電圧（ｄＶ１＠Ｎ－、ｄＶ２＠Ｎ－、ｄＶ１＋ｙ＠Ｎ－）、ならびにパルス数（１＋ｙ）およびＤＣパルス長（Ｔｖ１、Ｔｖ２、…、Ｔｖ（１＋ｙ））に基づいて、元の状態および前の測定サイクルと比較されるときに計算される各測定サイクルの比率を決定する。このアルゴリズムは、検査中のＤＣ回路の構成要素に関連する異常を排除するために各特性データセットの比率を決定する。なぜなら、これらは、減衰曲線分析において誤検出を生じる可能性があるからである。

【００１９】

典型的なＤＣ回路の比率には、以下が反映されてもよい。

縁部比＝正弦（Ｓｉｎｅ）（Ｔ１＠Ｎ＋－Ｔ１＠Ｐ１＋）－正弦（Ｌ１＠Ｎ＋－Ｌ１＠Ｐ１＋）＋正弦（Ｔ１＠Ｎ－－Ｔ１＠Ｐ１－）－正弦（Ｌ１＠Ｎ－－Ｌ１＠Ｐ１－）＋正弦（Ｔ２＠Ｎ＋－Ｔ２＠Ｐ１＋）－正弦（Ｌ２＠Ｎ＋－Ｌ２＠Ｐ１＋）＋正弦（Ｔ２＠Ｎ－－Ｔ２＠Ｐ１－）－正弦（Ｌ２＠Ｎ－－Ｌ２＠Ｐ１ー）＋…＋正弦（Ｔ１＋ｙ＠Ｎ＋－Ｔ１＋ｙ＠Ｐ１＋）－正弦（Ｌ１＋ｙ＠Ｎ＋－Ｌ１＋ｙ＠Ｐ１＋）＋正弦（Ｔ１＋ｙ＠Ｎ－－Ｔ１＋ｙ＠Ｐ１－）－正弦（Ｌ１＋ｙ＠Ｎ－－Ｌ１＋ｙ＠Ｐ１－）

周期比＝（Ｔｖ１＠Ｎ１－Ｔｖ１＠Ｐ（ｘ－１））／２＋（Ｔｖ２Ｐ（ｘ－１）－Ｔｖ２＠Ｐ（ｘ））／２＋（Ｔｖ２＠Ｎ１－Ｔｖ２＠Ｐ（ｘ－１））／２＋（Ｔｖ２Ｐ（ｘ－１）－Ｔｖ２＠Ｐ（ｘ））／２＋…＋（Ｔｖ（１＋ｙ）＠Ｎ１－Ｔｖ（１＋ｙ）＠Ｐ（ｘ－１））／２＋（Ｔｖ（１＋ｙ）Ｐ（ｘ－１）－Ｔｖ（１＋ｙ）＠Ｐ（ｘ））／２

振幅比＝（ｄＶ１＠Ｎ＋［Ｌ１＠Ｎ＋］－ｄＶ１＠Ｎ＋［Ｔ１＠Ｎ＋］＋ｄＶ１＠Ｎ－［Ｌ１＠Ｎ－］－ｄＶ１＠Ｎ－［Ｔ１＠Ｎ－］）／２＋（ｄＶ２＠Ｎ＋［Ｌ２＠Ｎ＋］－ｄＶ２＠Ｎ＋［Ｔ２＠Ｎ＋］＋ｄＶ２＠Ｎ－［Ｌ２＠Ｎ－］－ｄＶ２＠Ｎ－［Ｔ２＠Ｎ－］）／２＋…＋（ｄＶ（１＋ｙ）＠Ｎ＋［Ｌ（１＋ｙ）＠Ｎ＋］－ｄＶ（１＋ｙ）＠Ｎ＋［Ｔ（１＋ｙ）＠Ｎ＋］＋ｄＶ（１＋ｙ）＠Ｎ－［Ｌ（１＋ｙ）＠Ｎ－］－ｄＶ（１＋ｙ）＠Ｎ－［Ｔ（１＋ｙ）＠Ｎ－］）／２

これらのデータ比に基づいて、アルゴリズムは、回路の推定故障点を予測することができる。典型的なアルゴリズムでは、検査中の回路に合わせて波形を調整した後、以下のように指定の比率を重み付けする。

出力（アルゴリズム）＝縁部比＋周期比×１．３＋振幅比×０．７

これにより、検査中のＤＣ回路に特有の、図５に示すような分析用の予測減衰曲線を作成するためにデータを正規化することができる。各回路には個別の共通しない構成要素があるため、各回路は別々に指定しなければならない。

【００２０】

複数のアルゴリズム点は、履歴目的で記憶することができ、システムの完全性に関する技術的なトラブルシューティングに役立ち得る。

【００２１】

特定のＤＣ回路について適切なベースラインが確立されると、検査中の回路の予測寿命を計算するために定量的閾値が確立され得る。この予測寿命は、未来の分析に基づいて再確立されてもよく、予想寿命の最後に基づいて予防保全措置を予定することができる。

【００２２】

このように、発明は、上述したような本発明の目的の各々を実現するその好ましい実施形態に関して開示されており、ＤＣ回路のライフサイクルを予測するための新しい改善された方法および装置を提供する。

【００２３】

当然のことながら、本発明の教示からの様々な変更、修正、および改変は、その意図する精神および範囲から逸脱することなく当業者によって企図され得る。本発明は添付の特許請求の範囲の観点によってのみ限定されることが意図されている。」

「【図１】

［図：0001419571000001.jpg］

」

「【図２】

［図：0001419571000002.jpg］

」

「【図３】

［図：0001419571000003.jpg］

」

「【図４】

［図：0001419571000004.jpg］

」

「【図５】

［図：0001419571000005.jpg］

」

第５ 当合議体の判断

＜実施可能要件違反の判断の概要＞

当合議体は、以下の１において詳述するとおり、本願発明の「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路」という構成は、直流の電流を通すことができる回路という極めて一般的な回路を特定しているにすぎず、「直流（ＤＣ）回路」と称することができる回路は、多種多様なものが考えられるところ、いかなる直流（ＤＣ）回路であっても、本願発明の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「経路の故障を予測する」ことが可能であるとはいえないから、本願の発明の詳細な説明の記載は、本願発明について、当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載されていないと判断した。

＜サポート要件違反の判断の概要＞

当合議体は、サポート要件についても検討したところ、以下の２において示すとおり、本願発明の「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路」に含まれる、ありとあらゆる直流（ＤＣ）回路（直流の電流を通すことができる回路一般）にまで拡張して、請求項１の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「経路の故障を予測する」ことは、当業者は認識できないというべきであり、本願の特許請求の範囲の請求項１に記載された範囲にまで拡張ないし一般化できないから、本願発明は、発明の詳細な説明に記載されたものではないと判断した。

１ 実施可能要件違反について

(１) 本願発明の技術的特徴

本願発明は、少なくとも次の技術事項Ａ及びＢを技術的特徴として備えるものである。

＜技術事項Ａ＞

「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路の経路の故障を予測すること。」

＜技術事項Ｂ（ステップ「ａ）～ｄ）」に係る事項）＞

「特定のＤＣ回路及び使用され監視されるＤＣ回路の経路に対して、正と負が交番するパルス列を印加することによって得られるパルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性を比較して、使用され監視されるＤＣ回路の経路の故障までの推定時間を予測するために使用される減衰率分析曲線を確立すること。」

なお、本願発明の「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路」を以下では「ＤＣ回路」ということもある。

また、本願発明の「特定のＤＣ回路」を以下では「特定ＤＣ回路」ということもある。

また、本願発明の「使用されているＤＣ回路」及び「使用され監視されるＤＣ回路」を以下では「監視ＤＣ回路」ということもある。

さらに、本願発明の「正と負が交番するパルス列」を以下では「交番パルス列」ということもある。

(２) 技術事項Ａの検討

ア 「ＤＣ回路」について

技術事項Ａは、ＤＣ回路の経路の故障を予測することであるところ、「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路」という語句は、直流の電流を通すことができる回路という極めて一般的な回路を特定しているにすぎないから、「ＤＣ回路」と称することができる回路としては、多種多様なものが考えられる。

そして、回路には、通常、抵抗等の電気素子以外に電流の通り道である導線が経路として含まれていることは自明である。

そうすると、技術事項Ａは、直流の電流を通すことができる多種多様な回路の経路の故障を予測することを特定したものである。

イ 「ＤＣ回路」についての明細書の記載

(ア) 本願発明の「ＤＣ回路」として、具体的にどのようなものが想定されているかを明細書及び図面の記載を参照して検討すると、ＤＣ回路に関連して、本願の発明の詳細な説明には、以下の記載がある。

ａ 「本発明は、ＤＣ回路の未来の故障時期を予測するためにそのような技術を使用し、劣化の属性を監視して検証され分析される、電流を流すことができるＤＣ回路に関する。」（【０００１】）

ｂ 「このタイプの故障モードは、自動車、航空機、および他の産業用または輸送用システムにおいて最も一般的である。私たちは、電池または他の電源で動作する直流（ＤＣ）システムを用いて、この新しい技術の焦点をこれらに合わせる。」（【０００２】）

ｃ 「酸化、湿気、接続不良、内部損傷、および外部破壊の典型的な故障モードは、システムが故障する前、人間の視覚によって発見される前、または既存の診断によってフィードバックが提供され得るようになる前に判断され得る。」（【０００４】）

ｄ 「典型的なＤＣ回路３０３は、電源１０１と、システム内の様々な負荷に電力を分配するためのワイヤハーネスとを必要とする。負荷がより高度になると、負荷の多くは「内蔵」メモリ１０５の機能を有するようになる。」（【００１３】）

(イ) 前記(ア)ａに摘記した段落【０００１】の記載から、ＤＣ回路は「劣化」するものであることを前提としており、前記(ア)ｃに摘記した段落【０００４】の記載から、「劣化」は「酸化、湿気、接続不良、内部損傷、および外部破壊」を原因とするものであると認められる。

しかしながら、「酸化、湿気、接続不良、内部損傷、および外部破壊」を原因とする「劣化」が生じるのは、回路一般にいえることであるから、段落【０００１】及び【０００４】の記載により、ＤＣ回路の特徴が限定されたことにはならない。

(ウ) 前記(ア)ｂに摘記した【０００２】の記載から、ＤＣ回路は、「自動車、航空機、および他の産業用または輸送用システム」において用いられるものであり、「電池または他の電源で動作する」ものであることを想定していると認められる。

しかしながら、「自動車、航空機、および他の産業用または輸送用システム」において用いられる回路であって、「電池または他の電源で動作する」回路といっても、様々なものがあるから、段落【０００２】の記載により、ＤＣ回路の特徴が限定されたことにはならない。

(エ) 前記(ア)ｄに摘記した【００１３】の記載から、ＤＣ回路は、「電源」と「システム内の様々な負荷に電力を分配するためのワイヤハーネス」を備えるものであると認められる。

ここで、回路に「電源」が必要なことは自明であり、「ワイヤハーネス」とは、電気を伝える電線と、その電気を周辺外部に接続して伝達する端子やコネクタを一体に組み上げた配線部品のことであるから、「ワイヤハーネス」は、電気配線を必要とする装置において通常使用される部品である。

そうすると、段落【００１３】の記載により、ＤＣ回路の特徴が限定されたことにはならない。

(オ) 前記(ア)～(エ)を踏まえると、本願の発明の詳細な説明を参酌しても、本願発明の「ＤＣ回路」の意味内容としては、直流の電流を通すことができる回路という極めて一般的な意味を超えて、回路構成が具体的に限定されているとはいえないから、前記アに示したように、技術事項Ａが、直流の電流を通すことができる多種多様な回路の経路の故障を予測することを特定したものであるとの解釈は、本願の発明の詳細な説明を参酌しても、変わるところはない。

ウ 請求人の主張について

(ア) 請求人の主張の概要

このことについて、請求人は、令和６年５月９日に提出された意見書（以下、単に「意見書」という。）において、概略、以下の主張をしている。

ａ 本願発明は必ずしも回路の詳細に関連しているわけではない。

ｂ ＤＣ回路は当技術分野でよく知られており、ＤＣ回路には電源、抵抗源及び負荷が閉回路内にある。

(３) 技術事項Ｂの検討

ア 「特定ＤＣ回路」について

前記(２)において検討したとおり、本願発明の「ＤＣ回路」は、直流の電流を通すことができる回路という極めて一般的な回路のことであって、多種多様な回路を含むものであり、技術事項Ａは、このような多種多様な回路の経路の故障を予測することを特定したものであるところ、技術事項Ｂは、直流の電流を通すことができる回路として、「特定ＤＣ回路」と「監視ＤＣ回路」の二つのＤＣ回路を想定し、これらのＤＣ回路に交番パルス列を印加して得られるパルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性を比較している。

ここで、「特定ＤＣ回路」については、「パルス特性に関してのベースライン」を確立するためのものであり、段落【０００７】に「特定タイプの回路（各々は多少異なる）について既知のベースライン信号を確立する」との記載があることから、ＤＣ回路の劣化に係るパラメータ（「パルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性」）の変化の程度を判定するための基準値（ベースライン）を与えることのできるＤＣ回路を「特定ＤＣ回路」としたものと認められる。

イ 「交番パルス列」について

(ア) 前記第４において摘記した本願の発明の詳細な説明の記載（特に、【０００３】、【０００８】、【００１３】、【００１６】、【００１９】）を踏まえると、「ＤＣパルス列２０１」及び「逆ＤＣパルス列２０２」を合成して「交番ＤＣパルス信号２０３」を生成するにあたり、関心のあるＤＣ回路に合わせて、当該ＤＣ回路の「特定の構成要素、材料、長さ、および構成［を］考慮［して］」、「交番ＤＣパルス信号２０３」は「調整される」ものである。

(イ) ここで、「特定ＤＣ回路」がＤＣ回路の劣化に係るパラメータ（「パルス信号の振幅、周期、および立上がりと立下りのデータセットに基づくパルス特性」）の変化の程度を判定するための基準値（ベースライン）を与えることのできるものであるとしても、ＤＣ回路であることに変わりはないから、ＤＣ回路に係る解釈を踏まえると、特定ＤＣ回路としては多種多様な回路構成を有するものが想定されていることは明らかであり、多種多様な回路構成を有する特定ＤＣ回路に合わせて、当該特定ＤＣ回路の構成要素等を考慮して、交番パルス列が調整されることになる。

(ウ) しかしながら、発明の詳細な説明には、特定ＤＣ回路の構成要素等をどのように考慮して、交番パルス列をどのように調整するのかについて、何ら具体的な説明がない。

(エ) そうすると、本願の発明の詳細な説明は、特定ＤＣ回路の構成要素等をどのように考慮して、交番パルス列をどのように調整すればよいのかについて、当業者が理解できる程度に明確かつ十分に記載されたものであるとはいえない。

ウ 「減衰率」について

(ア) 前記第４において摘記したとおり、本願の発明の詳細な説明には、減衰率分析曲線の確立及びＤＣ回路の経路の故障までの推定時間の予測に関連して、以下のことが記載されている。

ａ 本願発明は、ＤＣ回路の劣化を監視することで、ＤＣ回路の予測寿命を予測するものであること（【０００１】、【０００５】）

ｂ 減衰率は、所定のアルゴリズムによって、監視ＤＣ回路に交番パルス列を印加して得られる波形を、特定ＤＣ回路に交番パルス列を印加して得られるベースライン信号の波形及び前回監視ＤＣ回路に交番パルス列を印加して得られた波形と比較することで得られること（【０００７】、【０００９】、【００１８】）

ｃ アルゴリズムは、任意の回路の故障の可能性及びワイヤハーネス内の故障箇所のおおよその位置を予測するように設計されており、監視ＤＣ回路用にカスタマイズされており、ＤＣパルスの線形減衰及び角度減衰を求めるのに適していること（【０００９】、【００１５】、【００１７】）

ｄ 回路の減衰率は時間の経過とともに変化すること（【００１７】）

ｅ 減衰率アルゴリズムの具体例として、【００１９】に記載された数式に基づいて縁部比・周期比・振幅比を算出し、これらを出力（アルゴリズム）＝縁部比＋周期比×１．３＋振幅比×０．７の比率で重み付けしたものであること（【００１９】）

(イ) しかしながら、発明の詳細な説明を参酌しても、本願発明における「減衰率」とは監視ＤＣ回路のどのような属性が「減衰」していることを表す数値であるのかが開示されておらず、「減衰率」について、当業者が理解できる程度に明確かつ十分に記載されたものであるとはいえない。

仮に、段落【００１７】の記載を踏まえて、「減衰率」とは、ＤＣパルスの「線形減衰」（すなわち、交番パルス列を監視ＤＣ回路に印加して得られるパルス信号の前縁における振幅ｄＶｉ＠ｊ±［Ｌｉ＠ｊ±］と後縁における振幅ｄＶｉ＠ｊ±［Ｔｉ＠ｊ±］との差）及び「角度減衰」（すなわち、交番パルス列を監視ＤＣ回路に印加して得られるパルス信号の前縁Ｌｉ＠ｊ±及び後縁Ｔｉ＠ｊ±におけるＸ軸との角度成分）を指すと解釈しても、それが監視ＤＣ回路のいかなる属性に対応した数値なのか明らかではなく、「減衰率」について、当業者が理解できる程度に明確かつ十分に記載されたものであるとはいえないことに変わりはない。

(ウ) さらに、当業者といえども、どのように「減衰率」を算出するアルゴリズムを「任意の回路の故障の可能性及びワイヤハーネス内の故障箇所のおおよその位置を予測するように設計」したり、「監視ＤＣ回路用にカスタマイズ」したりすればよいのか、理解することは困難である。

(エ) また、前記(ア)ｅで指摘したとおり、本願の発明な詳細な説明には、「減衰率」を算出するアルゴリズムの具体的な数式の例が開示されているものの、当該数式であらゆる監視ＤＣ回路（すなわち、直流の電流を通すことができる回路一般）の劣化度合いを示す数値が算出可能であると認めるに足る十分な説明はない。

エ 請求人の主張について

(４) 小括

以上(２)及び(３)において検討した事項を踏まえると、本願の発明の詳細な説明は、あらゆるＤＣ回路（すなわち、直流の電流を通すことができる回路）であっても、請求項１の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「経路の故障を予測する」ことが可能であることを、当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものであるとはいえない。

２ サポート要件違反について

(１) 前記１で説示したとおり、本願の発明の詳細な説明は、あらゆるＤＣ回路（すなわち、直流の電流を通すことができる回路一般）であっても、請求項１の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「経路の故障を予測する」ことが可能であることを、当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものではない。

(２) そうすると、本願発明の「電流を通すことができる直流（ＤＣ）回路」に含まれる、ありとあらゆるＤＣ回路（直流の電流を通すことができる回路一般）にまで拡張して、請求項１の「ａ）」－「ｄ）」で示されるステップを用いてその「経路の故障を予測する」ことは、当業者は認識できないというべきであり、本願の特許請求の範囲の請求項１に記載された範囲にまで拡張ないし一般化できない。

したがって、本願発明は、発明の詳細な説明に記載されたものではない。

第６ むすび

以上のとおりであるから、本願の明細書の発明の詳細な説明は、特許法３６条４項１号に規定する要件を満たしていない。

また、本願の特許請求の範囲の請求項１の記載は、特許法３６条６項１号に規定する要件を満たしていない。

したがって、本願は、拒絶すべきものである。

よって、結論のとおり審決する。