2021-006847

特願２０１６－１９５３４９「新たなＸ線撮像技法」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年 ６月 １日出願公開、特開２０１７－ ９６９２３〕について、次のとおり審決する。

結 論 本件審判の請求は、成り立たない。

理 由 第１ 手続の経緯 本願は、平成２８年１０月３日（パリ条約による優先権主張 ２０１５年１１月１８日 欧州特許庁）の出願であって、令和２年７月３０日付けで拒絶理由が通知され、同年１０月２０日付けで意見書及び手続補正書が提出され、令和３年３月２５日付けで拒絶査定されたところ、同年５月２７日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。 第２ 令和３年５月２７日にされた手続補正についての補正の却下の決定 ［補正の却下の決定の結論］ 令和３年５月２７日にされた手続補正（以下「本件補正」という。）を却下する。 ［理由］ １ 本件補正について （１）本件補正後の特許請求の範囲の記載 本件補正により、特許請求の範囲の請求項１の記載は、次のとおり補正された。（下線部は、補正箇所である。） 「 【請求項１】 X線撮像装置を使って試料を撮像する方法であって、 ・試料ホルダー上に前記試料を設ける段階と； ・源からのX線束を前記試料を通してX線カメラに向ける段階とを含み、 以下の段階、すなわち： ・前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現する段階であって、前記クラスターをなす前記要素源が、前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される、段階と； ・前記カメラを使って、前記要素源からの累積的な合成画像を記録する段階と； ・前記合成画像を数学的に畳み込み解除する段階とをさらに含み、 前記要素源の少なくともいくつかが前記試料を撮像するために逐次的に動員される、 ことを特徴とする方法。」 （２）本件補正前の特許請求の範囲 本件補正前の、令和２年１０月２０日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１の記載は次のとおりである。 「 【請求項１】 X線撮像装置を使って試料を撮像する方法であって、 ・試料ホルダー上に前記試料を設ける段階と； ・源からのX線束を前記試料を通してX線カメラに向ける段階とを含み、 以下の段階、すなわち： ・前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現する段階と； ・前記カメラを使って、前記要素源からの累積的な合成画像を記録する段階と； ・前記合成画像を数学的に畳み込み解除する段階とをさらに含み、 前記要素源の少なくともいくつかが前記試料を撮像するために逐次的に動員される、 ことを特徴とする方法。」 ２ 補正の適否 本件補正は、補正前の「前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現する段階」を「前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現する段階であって、前記クラスターをなす前記要素源が、前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される、段階」であるとの限定を付加するものであって、補正前の請求項１に記載された発明と補正後の請求項１に記載される発明の産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一であるから、特許法１７条の２第５項２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。 そこで、本件補正後の請求項１に記載される発明（以下「本件補正発明」という。）が同条第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合するか（特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか）について、以下、検討する。 （１）本件補正発明 本件補正発明は、上記１（１）に記載したとおりのものである。 （２）引用文献の記載事項 ア 引用文献１に記載された事項 原査定の拒絶の理由で引用された本願の優先権主張の日（以下「優先日」という。）前に頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった引用文献である、米国特許出願公開第２０１５／０２２８４４０号明細書（以下「引用文献１」という。）には、図面とともに、次の記載がある。（下線は、当審にて付した。以下同様である。） （引１ａ）「[0014] The present invention further provides an X-ray source for X-ray imaging including: a plurality of X-ray micro-light sources, wherein the plurality of X-ray microlight sources are distributed at different known spatial locations to irradiate an object, thereby obtaining a raw image consisting of superimposed images of the object. [0015] The invention further provides an X-ray source for X-ray imaging that includes an electron gun configured to generate an electron beam; a plate; and a plurality of metal micro-targets arranged into an array on a surface of the plate; wherein the electron beam hits a portion or all of the plurality of metal micro-targets to generate X-rays.」（当審訳：「【００１４】本発明はさらに、複数のＸ線マイクロ光源を含み、複数のＸ線マイクロ光源が異なる既知の空間位置に分布して対象物を照射し、それによって対象物の重畳画像からなる生画像を得る、Ｘ線イメージング用Ｘ線源を提供する。 【００１５】本発明はさらに、電子ビームを生成するように構成された電子銃と、プレートと、プレートの表面上にアレイ状に配置された複数の金属マイクロターゲットとを含み、電子ビームが複数の金属マイクロターゲットの一部又は全部に当たってＸ線を発生するＸ線イメージング用光源を提供する。」） （引１ｂ）「[0048] FIG. 3 illustrates another X-ray source 300 for X-ray phase contrast imaging of the present invention, which still employs a plurality of X-ray micro-light sources. The embodiment shown in FIG. 3 is different from the aforementioned two embodiments in that X-rays are generated at different spatial locations by means of scanning. As shown in FIG. 3, a pulsed electron source 301 is configured to generate an electron beam 303 which is directed to different locations at a metal target 304 by a scanning electrode 302. Thus, X-rays 305 can be generated at different locations, thereby realizing an X-ray source with a plurality of micro-light sources. In this embodiment, the X-rays are collected at the other side of the metal target 304 opposite to the side to which the electron beam 303 is incident. However, for an X-ray source with a plurality of micro-light sources realized by means of scanning, the X-rays can also be collected at the side of the metal target to which the electron beam is incident. As to other aspects to be taken into consideration for the design, such as the size of each of the plurality of micro-light sources or the spacing between any two adjacent micro-light sources, they are similar to those considered for the light sources shown in FIG. 1 and FIG. 2. The biggest difference between this embodiment employing the scanning technique and the aforementioned two embodiments is that consideration is given to the time required for capturing images. In systems for forming medical images or images of a living body, the restriction on the time required for capturing images should be taken into consideration. Obviously, a complete scanning cycle ( during which the electron beam scans each predetermined location) must be shorter than the time required for capturing images. Generally, in the practice of medical imaging, the time required for capturing images needs to be controlled within 1 second. For the X-ray source shown in FIG. 3, a complete scanning cycle of the electron beam is 1 second or shorter. [0049] FIG. 4 illustrates a system for X-ray imaging 400. In this embodiment, an X-ray source 401 similar to the one in FIG. l or FIG. 2 is provided. The X-ray source 401 comprises a plurality of linearly aligned X-ray micro-light sources and is configured to irradiate an object 402. An X-ray sensor 403 is configured to receive X-rays that penetrate the object 402, and the X-rays penetrating the object form a raw image 404. As the X-ray source 401 comprises the plurality of X-ray microlight sources, the raw image 404 is a blurred image consisting of superimposed images of the object 402. It is to be noted that the raw image 404 contains not only information about edges enhanced by phase contrast imaging but also contrast information generated because of different amounts of X-ray absorbed by various materials ( or different tissues). Consequently, the restored image also contains these information. As shown in FIG. 4, the raw image data detected by the X-ray sensor 403 is computed by a computer 405 and restored to a clear image 406. The computation mainly includes deconvolution so that the superimposed images can coincide with each other.」（当審訳：「【００４８】図３は、本発明のＸ線位相コントラストイメージングのための別のＸ線源３００を示し、やはり複数のＸ線マイクロ光源を採用するものである。図３に示す実施形態は、走査によって異なる空間位置にＸ線を発生させる点で前述の２つの実施形態と異なる。図３に示すように、パルス電子源３０１は、走査電極３０２によって金属ターゲット３０４の異なる位置に向けられる電子ビーム３０３を生成するように構成されている。したがって、異なる位置にＸ線３０５を発生させることができ、これにより、複数の微小光源を有するＸ線源を実現することができる。なお、本実施形態では、金属ターゲット３０４の電子ビーム３０３が入射する側と反対側の他方の面においてＸ線を収集する。しかし、走査によって実現される複数の微小光源を有するＸ線源では、金属ターゲットの電子ビームが入射する側でＸ線を収集することも可能である。複数のマイクロ光源のそれぞれの大きさや、隣接する任意の２つのマイクロ光源間の間隔など、設計上考慮すべき他の点については、図１および図２に示す光源について考慮したものと同様である。走査技術を採用した本実施形態と前記２つの実施形態との最大の相違点は、画像の撮影に要する時間について考慮されている点である。医用画像や生体の画像を形成するシステムにおいては、画像の取り込みに要する時間の制約を考慮する必要がある。当然ながら、１回の走査（電子ビームが所定位置を走査する時間）は、画像の撮影に要する時間よりも短くなければならない。一般に、医用画像診断では、画像撮影に要する時間を１秒以内に制御する必要がある。図３に示すＸ線源では、電子ビームの完全な走査周期は１秒以下である。 【００４９】図４は、Ｘ線撮影用システム４００を示す図である。本実施形態では、図１または図２のものと同様のＸ線源４０１が設けられている。Ｘ線源４０１は、直線的に配列された複数のＸ線マイクロ光源からなり、物体４０２に照射するように構成されている。Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成されており、物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する。Ｘ線源４０１が複数のＸ線微光源からなるため、生画像４０４は、物体４０２の画像が重畳して構成されたぼやけた画像となる。なお、生画像４０４には、位相差撮影によって強調されたエッジの情報だけでなく、様々な物質（または異なる組織）によって吸収されるＸ線の量が異なるために生じるコントラスト情報も含まれている。その結果、復元画像にもこれらの情報が含まれる。図４に示すように、Ｘ線センサ４０３で検出された生画像データは、コンピュータ４０５で計算され、鮮明な画像４０６に復元される。この演算には、重ね合わせた画像が互いに一致するように、主にデコンボリューションが含まれる。」） （引１ｃ）「 ［図：0001396614000001.jpg］ 」 （引1ｄ）「 ［図：0001396614000002.jpg］ 」 （引１ｅ）「 ［図：0001396614000003.jpg］ 」 イ 引用文献１に記載された発明 （ア）上記（引１ｂ）より、引用文献１には、 「図１または図２のものと同様のＸ線源４０１が設けられ、 Ｘ線源４０１は、物体４０２に照射するように構成され、 Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成され、 物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する Ｘ線撮影用システム４００。」 が記載されており、この「Ｘ線撮影用システム４００」において、「物体を透過したＸ線」が「形成する」「生画像４０４」は、「Ｘ線源４０１が複数のＸ線微光源からなるため」、「物体４０２の画像が重畳して構成されたぼやけた画像となる」が、「Ｘ線センサ４０３で検出された生画像データ」は、「コンピュータ４０５で」、「重ね合わせた画像が互いに一致するよう」な、「主にデコンボリューション」を「含」む「演算」を使用して「計算され、鮮明な画像４０６に復元されるから」、引用文献１には、「Ｘ線撮影用システム４００」を使って「物体４０２」を撮影する方法として、以下の方法が記載されているといえる。 「図１または図２のものと同様のＸ線源４０１が設けられ、 Ｘ線源４０１は、物体４０２に照射するように構成され、 Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成され、 物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する Ｘ線撮影用システム４００を使って物体４０２を撮影する方法において、 複数のＸ線微光源からなるＸ線源４０１による物体４０２の画像が重畳して構成されたぼやけた画像である、 Ｘ線センサ４０３で検出された生画像データを、 コンピュータ４０５で、重ね合わせた画像が互いに一致するような、主にデコンボリューションを含む演算を使用して計算することにより、鮮明な画像４０６に復元する 方法。」 （イ）上記（引１ｂ）には、「Ｘ線位相コントラストイメージングのための別のＸ線源３００」として、「走査によって異なる空間位置にＸ線を発生させ」「パルス電子源３０１は、走査電極３０２によって金属ターゲット３０４の異なる位置に向けられる電子ビーム３０３を生成するように構成され」「異なる位置にＸ線３０５を発生させること・・・により、複数の微小光源を有するＸ線源を実現することができる」旨記載されていることから、引用文献１に記載の上記（ア）で検討した「Ｘ線撮影用システム４００を使って物体４０２を撮影する方法」には、「図１または図２のものと同様のＸ線源４０１」とは別の線源として「Ｘ線源３００」を使用した場合も含まれていることから、引用文献１には、「Ｘ線源３００」を使用した発明として、以下の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。 「走査によって異なる空間位置にＸ線を発生させ、 パルス電子源３０１は、走査電極３０２によって金属ターゲット３０４の異なる位置に向けられる電子ビーム３０３を生成するように構成され， 異なる位置にＸ線３０５を発生させることにより、複数の微小光源を有するＸ線源を実現することができるＸ線源３００が設けられ、 Ｘ線源３００は、物体４０２を照射するように構成され、 Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成され、 物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する Ｘ線撮影用システム４００を使って物体４０２を撮影する方法において、 複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の画像が重畳して構成されたぼやけた画像である、 Ｘ線センサ４０３で検出された生画像データを、 コンピュータ４０５で、重ね合わせた画像が互いに一致するような、主にデコンボリューションを含む演算を使用して計算することにより、鮮明な画像４０６に復元する 方法。」 （３）引用発明との対比 ア 本件補正発明と引用発明とを対比する。 （ア）引用発明の「Ｘ線撮影用システム４００」及び「物体４０２」は、それぞれ、本件補正発明の「X線撮像装置」及び「試料」に相当する。そうすると、引用発明の「Ｘ線撮影用システム４００を使って物体４０２を撮影する方法」は、本件補正発明の「X線撮像装置を使って試料を撮像する方法」に相当する。 （イ）引用発明の「Ｘ線源３００」は、本件補正発明の「源」に相当する。また、「Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成され」、「物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する」から、「Ｘ線センサ４０３」で受光した「物体を透過したＸ線」により「生画像４０４を形成する」手段は、本件補正発明の「X線カメラ」に相当するといえる。そして、引用発明の「Ｘ線源３００」は、「複数の微小光源を有するＸ線源」であって、「異なる位置にＸ線３０５を発生させる」ものであるから、引用発明の「微小光源」及び「複数の微小光源」は、それぞれ、本件補正発明の「要素源」及び「要素源のクラスター」に相当し、引用発明の、「異なる位置」から「発生」する複数の「Ｘ線３０５」は、本件補正発明の「源からのX線束」に相当する。 （ウ）引用発明の「Ｘ線源３００は、物体４０２を照射するように構成され、Ｘ線センサ４０３は、物体４０２を透過したＸ線を受光するように構成され」ているから、「Ｘ線源３００」の「異なる位置」から「発生」する複数の「Ｘ線３０５」は、「物体４０２」を通して「Ｘ線センサ４０３」に向けられるものであって、「Ｘ線センサ４０３」は、「Ｘ線センサ４０３」で受光した「物体を透過したＸ線」により「生画像４０４を形成する」手段の構成要素である。 そうすると、引用発明の「Ｘ線源３００」の「異なる位置」から「発生」する複数の「Ｘ線３０５」を、「物体４０２」を通して「Ｘ線センサ４０３」で受光した「物体を透過したＸ線」により「生画像４０４を形成する」手段に向けらることは、本件補正発明の「源からのX線束を前記試料を通してX線カメラに向ける段階」に相当する。 （エ）引用発明の「複数の微小光源」を有する「Ｘ線源３００は、物体４０２を照射するように構成され」ているから、引用発明の「複数の微小光源」を有する「Ｘ線源３００」が、「物体４０２を照射する」ことと、本件補正発明の「前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現する段階であって、前記クラスターをなす前記要素源が、前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される、段階」とは、「前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対してクラスターとして具現する段階」である点で共通する。 （オ）引用発明の「物体を透過したＸ線」が形成した「生画像４０４」は、「複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の画像が重畳して構成されたぼやけた画像である」って、「コンピュータ４０５」で「計算」されるものである。コンピュータで計算する場合、通常何らかの記録媒体に記録されるものである。また、「物体を透過したＸ線」が形成した「生画像４０４」は、「Ｘ線センサ４０３」で受光した「物体を透過したＸ線」により「生画像４０４を形成する」手段を使って形成されるものである。 そうすると、引用発明の「複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の」「重畳」された「生画像４０４」は、本件補正発明の「前記要素源からの累積的な合成画像」に相当し、引用発明の「Ｘ線センサ４０３」で受光した「物体を透過したＸ線」により「生画像４０４を形成する」手段を使って、「複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の」「重畳」された「生画像４０４」を記録することは、本件補正発明の「前記カメラを使って、前記要素源からの累積的な合成画像を記録する段階」に相当する。 （カ）引用発明の「Ｘ線センサ４０３で検出された生画像データ」は、「コンピュータ４０５で、重ね合わせた画像が互いに一致するような、主にデコンボリューションを含む演算を使用して計算することにより、鮮明な画像４０６に復元」されるものであって、「重ね合わせた画像が互いに一致するような、主にデコンボリューションを含む演算を使用して計算することにより、鮮明な画像４０６に復元」することは、「複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の」「重畳」された「生画像４０４」を「数学的に畳み込み解除する」ことであるから、引用発明の、「複数のＸ線微光源からなるＸ線源３００による物体４０２の」「重畳」された「生画像４０４」を「コンピュータ４０５で、重ね合わせた画像が互いに一致するような、主にデコンボリューションを含む演算を使用して計算することにより、鮮明な画像４０６に復元する」ことは、本件補正発明の「前記合成画像を数学的に畳み込み解除する段階」に相当する。 （キ）引用発明の「Ｘ線源３００」は、「異なる位置にＸ線３０５を発生させる」ための「複数の微小光源を有するＸ線源」であって、「走査によって異なる空間位置にＸ線を発生させ」るものである。そして、発生したＸ線は、「物体を透過し」て「生画像４０４を形成する」ためのものである。そうすると、引用発明の、「物体を透過したＸ線が生画像４０４を形成する」ために「複数の微小光源」を「走査によって異なる空間位置にＸ線を発生させ」ることと、本件補正発明の「前記要素源の少なくともいくつかが前記試料を撮像するために逐次的に動員される」こととは、「前記要素源が前記試料を撮像するために逐次的に動員される」ことで共通する。 イ 以上のことから、本件補正発明と引用発明との一致点及び相違点は、次のとおりである。 （一致点）「X線撮像装置を使って試料を撮像する方法であって、 ・源からのX線束を前記試料を通してX線カメラに向ける段階とを含み、 以下の段階、すなわち： ・前記源を要素源のクラスターであって、前記試料に対してクラスターとして具現する段階と； ・前記カメラを使って、前記要素源からの累積的な合成画像を記録する段階と； ・前記合成画像を数学的に畳み込み解除する段階とをさらに含み、 前記要素源が前記試料を撮像するために逐次的に動員される、 ことを特徴とする方法。」 （相違点１）本件補正発明は、「試料ホルダー上に前記試料を設ける段階」を含んでいるのに対し、引用発明はそのような特定がない点。 （相違点２）要素源のクラスターが、本件補正発明は、「前記試料に対して狭い角度広がりをもつクラスターとして具現」しているのに対し、引用発明は、そのような特定がない点。 （相違点３）前記要素源が、本件補正発明は、「前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される」ものであって、「前記要素源の少なくともいくつかが前記試料を撮像するために」「動員される」ものであるのに対し、引用発明は、そのような特定がない点。 （４）判断 以下、相違点について検討する。 ア 相違点１について Ｘ線撮影用システムを用いて、物体等の試料を撮影する際に、試料は通常何らかの手段によって支持されるものであって、試料を支持するために試料ホルダーを使用することは、当該技術分野において常套手段に過ぎないから、上記相違点１は実質的な相違点であるとはいえないし、たとえ相違点であるとしても、当業者が容易に想到できたことであるといえる。 イ 相違点２について 本件補正発明の「前記試料に対して狭い角度広がり」に関し、本件明細書の詳細な説明の段落【００３４】に、「・・・本発明では、要素源のクラスターの角度スパン（分散、広がり）は、θ≪180°という意味で「狭い」。・・・」と記載されていることから、本件補正発明の「前記試料に対して狭い角度広がり」の「狭い角度」は「θ≪180°」であると理解することが妥当であるといえる。そして、上記（引１ｅ）より、「Ｘ線源４０１」の複数の微小光源からのＸ線の角度拡がりの角度は、１８０°より極めて狭い角度である点が見て取れ、「Ｘ線源３００」の「複数のマイクロ光源のそれぞれの大きさや、隣接する任意の２つのマイクロ光源間の間隔など、設計上考慮すべき他の点については、図１および図２に示す光源について考慮したものと同様である」ことから、「Ｘ線源３００」の「複数の微小光源」からの「Ｘ線３０５」の角度拡がりも１８０°より極めて狭い角度であることは明らかである。 そうすると、相違点２は実質的な相違点であるとはいえず、仮に相違点であったとしても、当業者が容易に想到できたものであるといえる。 ウ 相違点３について 上記（引１ａ）に「電子ビームを生成するように構成された電子銃と、プレートと、プレートの表面上にアレイ状に配置された複数の金属マイクロターゲットとを含み、電子ビームが複数の金属マイクロターゲットの一部又は全部に当たってＸ線を発生するＸ線イメージング用光源を提供する。」旨記載されていることから、引用文献１には、「電子ビームが複数の金属マイクロターゲットの一部・・・に当たってＸ線を発生するＸ線イメージング用光源」が記載されている。また、引用発明において、「Ｘ線撮影用システム４００を使って物体４０２を撮影する」際に、どのようなＸ線源を使用するかは、撮影する物体の種類や撮影する条件等により適宜設定されるものであって、引用発明の「Ｘ線源３００」に、上記「電子ビームが複数の金属マイクロターゲットの一部・・・に当たってＸ線を発生するＸ線イメージング用光源」を適用し、「複数の微小光源」の一部の微小光源の一部を使用することにより、上記相違点３にかかる構成とすることは、当業者が、容易に想到できたことであるといえる。 エ 効果について 本件補正発明の奏する作用効果は、引用文献１に記載された技術の奏する作用効果から予測される範囲内のものにすぎず、格別顕著なものということはできない。 オ 請求人の主張について 令和３年５月２７日に提出した審判請求書において出願人は、「「前記源を要素源のクラスター……として具現する段階」において、「前記クラスターをなす前記要素源が、前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される」ことは、引用文献１～４のいずれにも記載されておらず、引用文献１または引用文献２または引用文献３を変更してそのような構成にすることは、不可能であるか、あるいは少なくとも容易に想到できたことではないと思料します。」旨主張しているが、上記ウで検討したとおり、引用文献１には、「電子ビームが複数の金属マイクロターゲットの一部・・・に当たってＸ線を発生するＸ線イメージング用光源」が記載されており、該「Ｘ線イメージング用光源」を引用発明に適用し、「Ｘ線源３００」を「複数の微小光源」から一部を選択される光源とすることは、当業者が容易に想到できたことであるといえるから、この請求人の主張は採用されない。 カ 小括 上記ア～エより、本件補正発明は、引用発明に記載された技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法２９条２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。 ３ 本件補正についてのむすび よって、本件補正は、特許法１７条の２第６項において準用する同法１２６条７項の規定に違反するので、同法１５９条１項の規定において読み替えて準用する同法５３条１項の規定により却下すべきものである。 よって、上記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。 第３ 本願発明について １ 本願発明 令和３年５月２７日にされた手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項に係る発明は、令和２年１０月２０日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１～１０に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、その請求項１に記載された事項により特定される、前記第２［理由］１（２）に記載のとおりのものである。 ２ 原査定の拒絶の理由 原査定の補正前の特許請求の範囲の請求項１に対する拒絶の理由は、この出願の請求項１に係る発明は、優先日前に日本国内又は外国において、頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった下記の引用文献１に記載された発明及び引用文献４に記載された技術事項に基づいて、引用文献２に記載された発明及び引用文献４に記載された技術事項に基づいて若しくは引用文献３に記載された発明及び引用文献４に記載された技術事項に基づいて、その優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない、というものである。 引用文献１．米国特許出願公開第２０１５／０２２８４４０号明細書 引用文献２．特表２０１２－５２２３３２号公報 引用文献３．特開２０１５－０７７２８９号公報 引用文献４．特開２０１１－１５１０２１号公報（周知技術を示す文献） ３ 引用文献 原査定の拒絶の理由で引用された引用文献１及びその記載事項は、前記第２の［理由］２（２）に記載したとおりである。 ４ 対比・判断 本願発明は、前記第２の［理由］２で検討した本件補正発明から、「前記クラスターをなす前記要素源が、前記X線撮像装置が有する複数の要素源から選択される、段階」を含む旨の限定事項を削除したものである。 そうすると、本願発明の発明特定事項を全て含み、さらに他の事項を付加したものに相当する本件補正発明が、前記第２の［理由］２（３）、（４）に記載したとおり、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。 第４ むすび 以上のとおり、本願発明は、特許法２９条２項の規定により特許を受けることができないから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。 よって、結論のとおり審決する。