2020-010135

特願２０１６－１２２００５「積層セラミックコンデンサ」拒絶査定不服審判事件〔平成２９年１２月２８日出願公開、特開２０１７－２２８５９１、請求項の数（１４）〕について、次のとおり審決する。

【結　論】 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。

【理　由】 第１　手続の経緯 本願は、平成２８年６月２０日の出願であって、令和１年１１月１１日付けで拒絶理由が通知され、令和２年１月２０日に意見書及び手続補正書が提出され、同年４月１４日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年７月２０日に拒絶査定不服審判が請求され、令和３年２月１０日付けで当審から拒絶理由が通知され、同年４月１５日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。 第２　原査定の概要 原査定（令和２年４月１４日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。 （進歩性）この出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 ・請求項　１－９ ・引用文献等　Ａ、Ｃ又はＢ、Ｃ ＜引用文献等一覧＞ Ａ．特開２００３－１７３９２５号公報 Ｂ．特開２０１１－２１１０５８号公報 Ｃ．特開２０１３－０５８７１８号公報 第３　当審拒絶理由の概要 令和３年２月１０日付けの拒絶理由通知書により通知した拒絶理由（以下、「当審拒絶理由」という。）の概要は次のとおりである。 （進歩性）この出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前日本国内又は外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 ・請求項１－９に対して ・引用文献等１ないし３ ＜引用文献等一覧＞ １．特開２００３－１７３９２５号公報 ２．特開２０１３－５８７１８号公報（周知技術を示す文献） ３．特開平１１－２５１１７３号公報（周知技術を示す文献） 第４　本願発明 本願請求項１ないし１４に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」ないし「本願発明１４」という。）は、令和３年４月１５日にされた手続補正（以下、「本件補正」という。）により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１４に記載された事項により特定される以下のとおりの発明である。 「　　【請求項１】 １対の外部電極と、 卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極と、 前記第１内部電極上に積層され、セラミック材料と前記卑金属とを含む誘電体層と、 前記誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極と、を備え、 前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内であり、 前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上であり、 前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界とが含まれることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。 【請求項２】 前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±１０％以内であることを特徴とする請求項１記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項３】 前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±５％以内であることを特徴とする請求項１記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項４】 前記第１内部電極および前記第２内部電極のそれぞれの厚さの前記誘電体層の厚さに対する比は、０．５以上であることを特徴とする請求項１～３のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項５】 前記セラミック材料は、ＢａＴｉＯ３であり、 前記卑金属は、Ｎｉであることを特徴とする請求項１～４のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項６】 複数の誘電体層が内部電極を介して積層され、 前記複数の誘電体層のうち８０％以上が前記誘電体層であり、当該誘電体層を挟む２つの内部電極が前記第１内部電極および前記第２内部電極であることを特徴とする請求項１～４のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項７】 前記誘電体層において、前記セラミック材料の少なくともいずれかの結晶粒における前記卑金属の濃度が、当該結晶粒に隣接する結晶粒界の前記卑金属の濃度の±２０％以内に入ることを特徴とする請求項１～６のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項８】 前記誘電体層における卑金属濃度は透過型電子顕微鏡で測定されたものであることを特徴とする請求項１～７のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項９】 前記卑金属は、Ｎｉであり、 前記誘電体層におけるＮｉ原子、Ｂａ原子、およびＴｉ原子の存在量において、ＢａおよびＴｉの存在量が９０％を超えていることを特徴とする請求項１～８のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項１０】 前記積層方向の異なる５つの前記誘電体層のうち少なくとも４つにおいて、前記セラミック材料の少なくともいずれかの結晶粒における前記卑金属の濃度が、当該結晶粒に隣接する結晶粒界の前記卑金属の濃度の±２０％以内に入ることを特徴とする請求項７に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項１１】 １対の外部電極と、 卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極と、 前記第１内部電極上に積層され、セラミック材料と前記卑金属とを含む誘電体層と、 前記誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極と、を備え、 前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内であり、 前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上であり、 前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界とが含まれ、 前記誘電体層において、前記セラミック材料の少なくともいずれかの結晶粒における前記卑金属の濃度が、当該結晶粒に隣接する結晶粒界の前記卑金属の濃度の±２０％以内に入ることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。 【請求項１２】 前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さは０．８μｍ以下であることを特徴とする請求項１～１１のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項１３】 前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さは０．６μｍ以下であることを特徴とする請求項１～１１のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。 【請求項１４】 前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さは０．３μｍ以下であることを特徴とする請求項１～１１のいずれか一項に記載の積層セラミックコンデンサ。」 第５　当審拒絶理由についての判断 １　本願発明１について （１）引用文献１の記載、引用発明１ 当審拒絶理由で引用された引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審で付した。）。 「【０００１】 【発明の属する技術分野】この発明は、積層セラミック電子部品の製造方法および積層セラミック電子部品に関するもので、特に、積層セラミック電子部品に備える積層体の焼結度合いの均一化を図るための改良に関するものである。」 「【００３５】図１に示した積層体１１を製造するため、まず、焼成によってセラミック層２となるべきものであって、セラミック粉末を含む複数のセラミックグリーンシートが用意される。これらセラミックグリーンシートは、内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物を、セラミック粉末に対して０．０５～０．２０重量％含んでいる。」 「【００３９】次に、セラミック粉末が、溶剤、バインダおよび可塑剤等を含む有機ビヒクルと混合され、分散処理されることによって、セラミックスラリーが作製される。このセラミックスラリーを作製するための調合段階において、内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物を添加することが好ましい。内部電極３に含まれる導電性金属成分がニッケルを含む場合、たとえばＮｉＯ粉末がこの調合段階において添加される。」 「【００４１】すなわち、第１に、得ようとするセラミック層２の厚みに応じて、導電性金属成分の酸化物の濃度を逐次調整することが容易であるためである。たとえば、セラミック層２が厚くなると、内部電極３間のセラミック層２において、内部電極３により近い部分と内部電極３からより離れた部分との間で、内部電極３に含まれていた導電性金属成分の拡散量の差がより大きくなる。そこで、このようにセラミック層２の厚みが厚くなるほど、導電性金属成分の酸化物の添加量を増やせば、セラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えることができる。 【００４２】第２に、仮焼によって得られたセラミック粉末の結晶格子内に導電性金属成分の酸化物が含まれない状態から焼成を開始した方が、導電性金属成分の酸化物について、内部電極３からの拡散および固溶の場合と類似する効果を期待できるためである。仮焼前のセラミック原料の調合段階で、導電性金属成分の酸化物を添加した場合には、仮焼後のセラミック粉末内に既に導電性金属成分の酸化物が含まれているため、この添加された導電性金属成分の酸化物は、内部電極３に含まれていた導電性金属成分の拡散および固溶と同じような挙動をもって、拡散および固溶し得ない。これに対して、セラミックスラリーを作製する工程において、導電性金属成分の酸化物を添加すれば、この添加された導電性金属成分の酸化物と内部電極３に予め含まれていた導電性金属成分とは、互いに同じ挙動をもって、セラミック層２内で拡散および固溶し、また、セラミック粉末の結晶粒の成長に対して互いに同じ影響を与えることができる。」 「【００４５】このようにして複数のセラミックグリーンシートが用意された後、中間部に位置するセラミック層２となるセラミックグリーンシート上には、導電性金属成分を含む内部電極３が形成される。内部電極３は、たとえば、導電性金属成分を含む導電性ペーストをセラミックグリーンシート上に印刷することによって形成される。 【００４６】次に、複数のセラミックグリーンシートが積層され、それによって生の積層体が得られる。この生の積層体を得るため、内部電極３が形成されたセラミックグリーンシートを積層したものの積層方向における両端部に、内部電極が形成されない外層用のセラミックグリーンシートを積層するようにされる。 【００４７】次に、生の積層体が焼成され、それによって、焼結後の積層体１１が得られる。この積層体１１においては、セラミック層２となるべきセラミックグリーンシートに導電性金属成分の酸化物が予め含まれていたため、内部電極３から導電性金属成分が拡散かつ固溶しても、積層体１１全体としての導電性金属成分の酸化物の濃度の不均一性が抑えられるので、幅方向における両端部６および外層部分７に焼結不十分領域が形成されることを防止することができる。 【００４８】次に、積層体１１の外表面上には、内部電極３の特定のものに接続されるように外部電極４（図４参照）が形成され、積層セラミックコンデンサが完成される。」 上記記載から次のことがいえる。 ・段落【００３５】によれば、焼成によってセラミック層２となるべきセラミックグリーンシートは、内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物を、セラミック粉末に対して０．０５～０．２０重量％含んでいる。また、段落【００３９】によれば、内部電極３に含まれる導電性金属成分がニッケルを含む場合、ＮｉＯ粉末がセラミックスラリーを作製するための調合段階において添加される。 そうしてみると、焼成によってセラミック層２となる、セラミック粉末を含むセラミックグリーンシートは、内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物であるＮｉＯ粉末を、セラミック粉末に対して０．０５～０．２０重量％含むということができる。 ・段落【００４５】によれば、中間部に位置するセラミック層２となるセラミックグリーンシート上に、導電性金属成分を含む内部電極３が形成され、段落【００３９】によれば、内部電極３に含まれる導電性金属成分はニッケルである。 そうしてみると、中間部に位置するセラミック層２となるセラミックグリーンシート上に、導電性金属成分であるニッケルを含む内部電極３が形成されるということができる。 ・段落【００４６】ないし【００４７】によれば、複数のセラミックグリーンシートが積層され焼成されることで、焼結後の積層体１１が得られ、段落【００４８】によれば、積層体１１の外表面上には、内部電極３の特定のものに接続されるように外部電極４が形成され積層セラミックコンデンサが完成される。 そうしてみると、積層セラミックコンデンサには、複数のセラミックグリーンシートが積層され焼成された積層体１１の外表面上に、内部電極３の特定のものに接続されるように外部電極４が形成されるということができる。 ・段落【００４１】に、セラミック層２の厚みが厚くなるほど、導電性金属成分の酸化物の添加量を増やせば、セラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えることができることが記載されていることから、セラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えるように、セラミック層２の厚みに応じて導電性金属成分の酸化物の添加量を調整しているといえる。 ・段落【００４２】に、セラミックスラリーを作製する工程において、導電性金属成分の酸化物を添加すれば、この添加された導電性金属成分の酸化物と内部電極３に予め含まれていた導電性金属成分とは、互いに同じ挙動をもって、セラミック層２内で拡散および固溶し、また、セラミック粉末の結晶粒の成長に対して互いに同じ影響を与えることができると記載されていることから、セラミック層２にはセラミック粉末の結晶粒が存在しているといえる。 以上によれば、引用文献１には以下の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されていると認められる。 「焼成によってセラミック層２となる、セラミック粉末を含むセラミックグリーンシートは、内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物であるＮｉＯ粉末を、セラミック粉末に対して０．０５～０．２０重量％含み、 中間部に位置するセラミック層２となるセラミックグリーンシート上に、導電性金属成分であるニッケルを含む内部電極３が形成され、 複数のセラミックグリーンシートが積層され焼成された積層体１１の外表面上に、内部電極３の特定のものに接続されるように外部電極４が形成され、 セラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えるように、セラミック層２の厚みに応じて導電性金属成分の酸化物の添加量を調整し、 セラミック層２にはセラミック粉末の結晶粒が存在する、 積層セラミックコンデンサ。」 （２）引用文献２、３に記載された周知技術 引用文献２の段落【０１０７】【表１】の試料Ｎｏ．５－Ｎｏ．２２、及び引用文献３の段落【００１０】に「内部電極の厚みを０．２～０．７μｍとしたことを特徴としている」と記載されているように、引用文献２、３には積層セラミックコンデンサにおいて内部電極の厚みを０．２μｍ以上とする周知技術が記載されている。 （３）対比 本願発明１と引用発明１を対比する。 ア．引用発明１の「外部電極４」は、本願発明１の「外部電極」に相当する。また、積層セラミックコンデンサが１対の外部電極を備えることは技術常識であるから、引用発明１の「外部電極４」は、本願発明１の「１対の外部電極」に相当する。 イ．引用発明１の「ニッケルを含む内部電極３」は、本願発明１の「卑金属を含」む「第１内部電極」、及び「卑金属を含」む「第２内部電極」に相当する。また、引用発明１の「セラミック層２」は、本願発明１の「誘電体層」に相当し、引用発明１の「焼成によってセラミック層２となる、セラミック粉末を含むセラミックグリーンシート」は「内部電極３に含まれる導電性金属成分の酸化物であるＮｉＯ粉末を、セラミック粉末に対して０．０５～０．２０重量％含」むから、引用発明１の「セラミック層２」は、本願発明１の「セラミック材料と前記卑金属とを含む」「誘電体層」に相当する。 そして、引用発明１の「セラミック層２となるセラミックグリーンシート上に、導電性金属成分であるニッケルを含む内部電極３が形成され、複数のセラミックグリーンシートが積層され焼成され」「内部電極３の特定のものに接続されるように外部電極４が形成され」ることは、積層されたセラミック層２の上面側及び下面側に内部電極３が設けられると共に、内部電極３と外部電極４が接続されているといえる。また、積層セラミックコンデンサにおいて、１つの誘電体層の一方側に備えられた内部電極を一方の外部電極に接続し、他方側に備えられた内部電極を他方の外部電極に接続することは技術常識である。 以上のことを踏まえて、引用発明１において、１つのセラミック層２に着目すると、該セラミック層２の下面側に設けられた内部電極３は、本願発明１の「卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極」に相当し、該セラミック層２は、本願発明１の「第１内部電極上に積層され、セラミック材料と前記卑金属とを含む誘電体層」に相当し、該セラミック層２の上面側に設けられた内部電極３は、本願発明１の「誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極」に相当する。 ウ．本願発明１が、「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内である」のに対し、引用発明１はセラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えるためのものであるものの、５つの各領域における卑金属のそれぞれの濃度について特定されていない点で相違する。 エ．本願発明１は「前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上」であるのに対し、引用発明１では内部電極の厚さについて特定されていない点で相違する。 オ．引用発明１の「セラミック粉末の結晶粒」は、本願発明１の「セラミック材料の結晶粒」に相当する。また、「セラミック粉末の結晶粒が存在」することから、結晶粒と共に結晶粒に隣接する結晶粒界も存在することは明らかである。してみると、引用発明１の「セラミック層２」に「セラミック粉末の結晶粒が存在する」ことは、本願発明１の「前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界とが含まれる」ことに相当する。 そうすると、本願発明１と引用発明１とは、以下の点で一致ないし相違する。 （一致点） 「　１対の外部電極と、 卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極と、 前記第１内部電極上に積層され、セラミック材料と前記卑金属とを含む誘電体層と、 前記誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極と、 前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界と、 を備えることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。」 （相違点１） 本願発明１が、「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内である」のに対し、引用発明１はセラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えるためのものであるものの、積層方向に５つの領域に等分し５つの各領域における卑金属のそれぞれの濃度について特定されていない点。 （相違点２） 本願発明１は「前記第１内部電極および前記第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上」であるのに対し、引用発明１では内部電極の厚さについて特定されていない点。 （４）相違点に対する判断 相違点１について検討する。 引用発明１において「セラミック層２の厚みに応じて導電性金属成分の酸化物の添加量を調整」することは、セラミック層２が厚くなると、内部電極３間のセラミック層２において、内部電極３により近い部分と内部電極３からより離れた部分との間で、内部電極３に含まれていた導電性金属成分の拡散量の差がより大きくなるため、セラミック層２の厚みが厚くなるほど、導電性金属成分の酸化物の添加量を増やすことにより、セラミック層２内での導電性金属成分の酸化物の濃度についての不均一性を抑えるものであるから（段落【００４１】）、当該記載に鑑みれば可能な限り酸化物の濃度の不均一性を抑えるように添加量を調整することは、当業者が容易になし得たことである。 しかしながら、不均一性を抑えるための一手法として複数の領域における平均濃度を一定の範囲内とすればよいことが技術常識から容易に想起される事項にすぎないとしても、第１、第２内部電極から５０ｎｍ離れた領域を濃度の判定に用いること、及び、卑金属の拡散方向に鑑み、積層方向に５つの領域に等分することまで当業者が容易になし得た事項とはいえない。そして、当該事項は引用文献２、３をみても記載も示唆もされていない。 したがって、本願発明１の「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内」との構成とすることは、当業者が容易に想到し得た事項とはいえない。 （５）結論 したがって、相違点２について判断するまでもなく、本願発明１は、引用発明１、引用文献２、３に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。 ２　本願発明２ないし１４について 本願発明２ないし１０は、いずれも請求項１を直接的または間接的に引用しており、上記相違点１に係る構成を含むから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明１、引用文献２、３に記載された技術事項に基づいて容易に発明をすることができたものではない。 また、本願発明１１は、上記相違点１とした構成と同一の構成を有するものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明１、引用文献２、３に記載された技術事項に基づいて容易に発明をすることができたものとはいえない。 さらに、本願発明１２ないし１４は請求項１、１１を直接的または間接的に引用しており、上記相違点１に係る構成を含むから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明１、引用文献２、３に記載された技術事項に基づいて容易に発明をすることができたものではない。 第６　原査定についての判断 １　引用文献Ａを主引例とする拒絶理由について （１）引用文献Ａの記載、引用発明Ａ 原査定における引用文献Ａは、当審拒絶理由における引用文献１であるから、上記「第５」「１」「（１）」のとおり、引用文献Ａには引用発明１が記載されている。 （２）引用文献Ｃに記載された技術事項 原査定における引用文献Ｃは、当審拒絶理由における引用文献２であるから、引用文献Ｃに記載された技術事項は上記「第５」「１」「（２）」のとおりである。 （３）原査定における引用文献Ａは、当審拒絶理由における引用文献１であるから、上記「第５」で検討したように、本願発明１ないし１４は、引用文献Ａに記載された発明と少なくとも相違点１とした点で相違し、上記相違点１に係る構成は点は引用文献Ｃをみても記載も示唆もされていない。したがって、本願発明１ないし１４は、原査定における引用文献Ａに記載された発明、及び引用文献Ｃに記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたとはいえない。 ２　引用文献Ｂを主引例とする拒絶理由について （１）引用文献Ｂの記載、引用発明Ｂ 引用文献Ｂには図面とともに以下の事項が記載されている。 「【技術分野】 【０００１】 本発明は、電子部品の製造方法および電子部品の評価方法に係り、さらに詳しくは電子部品の再酸化状態を評価する方法、およびこの評価方法を利用する電子部品の製造方法に関する。」 「【００２５】 図１に示すように、本実施形態において、積層セラミックコンデンサ１は、誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層された構成のコンデンサ素子本体１０を有する。このコンデンサ素子本体１０の両側端部には、コンデンサ素子本体１０の内部で交互に配置された内部電極層３と各々導通する一対の外部電極４が形成してある。内部電極層３は、各側端面がコンデンサ素子本体１０の対向する２端部の表面に交互に露出するように積層してある。 ・・・・ 【００２８】 内部電極層３を構成する導電材としては、特に制限されないが、本実施形態では、後述するように、素子本体１０は還元雰囲気での焼成により形成されるため、卑金属であるニッケルまたはニッケル合金、銅または銅合金で構成することができる。また、内部電極層３の厚みは、特に限定されず、用途等に応じて決定すればよい。 ・・・・ 【００４２】 焼成後、セラミック焼結体から構成される誘電体層と卑金属から構成される内部電極層とを有する素子本体１０が得られる。この素子本体では、異材質である誘電体層と内部電極層とが同時焼成されて形成されているため、素子本体には内部応力が生じる。」 上記の記載から以下のことがいえる。 ・段落【００２５】によれば、積層セラミックコンデンサ１のコンデンサ素子本体１０は、誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層され、両側端部に、コンデンサ素子本体１０の内部で交互に配置された内部電極層３と各々導通する一対の外部電極４が形成されているといえる。 ・段落【００２８】【００４２】によれば、積層セラミックコンデンサ１の素子本体１０はセラミック焼結体から構成される誘電体層と卑金属から構成される内部電極層とを有するということができる。 以上によれば、引用文献Ｂには以下の発明（以下、「引用発明Ｂ」という。）が記載されていると認められる。 「　積層セラミックコンデンサ１のコンデンサ素子本体１０は、誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層され、両側端部に、コンデンサ素子本体１０の内部で交互に配置された内部電極層３と各々導通する一対の外部電極４が形成され、 コンデンサ素子本体１０はセラミック焼結体から構成される誘電体層と卑金属から構成される内部電極層とを有する、 積層セラミックコンデンサ１。」 （２）本願発明１との対比・判断 本願発明１と引用発明Ｂを対比する。 ・引用発明Ｂの「一対の外部電極４」は本願発明１の「１対の外部電極」に相当する。 ・引用発明Ｂにおいて、コンデンサ素子本体１０の内部で交互に配置された内部電極層３のうちの一方は、一対の外部電極４の一方に接続されているといえ、また内部電極層は卑金属から構成されるから、本願発明１の「卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極」に相当する。 また、引用発明Ｂにおいて、コンデンサ素子本体１０の内部で交互に配置された内部電極層３のうちの他方は、一対の外部電極４の他方に接続されているといえ、また内部電極層は卑金属から構成され、誘電体層２と積層されるから、本願発明１の「前記誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極」に相当する。 ・引用発明Ｂにおいて、「誘電体層２」は積層セラミック焼結体から構成され、内部電極層３と交互に積層されているから、本願発明１における「前記第１内部電極上に積層され、セラミック材料」「を含む誘電体層」に対応する。ただし、本願発明１は「誘電体層」が「卑金属」を含むのに対し、引用発明Ｂの誘電体層２は、卑金属を含むとは特定されていない点で相違する。 ・本願発明１は、「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内」であるのに対して、引用発明Ｂではその旨特定されていない点で相違する。 ・本願発明１は「第１内部電極及び第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上」あるのに対して、引用発明Ｂでは内部電極層の厚みは特定されていない点で相違する。 ・本願発明１では、「前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界とが含まれる」のに対して、引用発明Ｂはその旨特定されていない点で相違する。 そうすると、本願発明１と引用発明Ｂとは、以下の一致点、相違点３ないし相違点６を有する。 （一致点） 「１対の外部電極と、 卑金属を含み、前記外部電極の一方に接続された第１内部電極と、 前記第１内部電極上に積層され、セラミック材料を含む誘電体層と、 前記誘電体層上に積層され、前記卑金属を含み、前記外部電極の他方に接続された第２内部電極と、を備える 積層セラミックコンデンサ。」 （相違点３） 本願発明１は「誘電体層」が「卑金属」を含むのに対し、引用発明Ｂの誘電体層２は、卑金属を含むとは特定されていない点。 （相違点４） 本願発明１は、「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内」であるのに対して、引用発明Ｂはその旨特定されていない点。 （相違点５） 本願発明１は「第１内部電極及び第２内部電極の厚さが０．２μｍ以上」あるのに対して、引用発明Ｂでは内部電極層の厚みは特定されていない点。 （相違点６） 本願発明１では、「前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までの範囲に、前記セラミック材料の結晶粒と、前記結晶粒の結晶粒界とが含まれる」のに対して、引用発明Ｂはその旨特定されていない点。 （判断） 事案に鑑み、相違点３、４について検討する。 引用発明Ｂは、相違点３のように、誘電体層２が卑金属を含むことが特定されたものではない。そして、仮に誘電体層２が卑金属を含んでいたとしても、引用発明Ｂにおいて卑金属の濃度を均一とするために、相違点４とした構成である「前記第１内部電極と前記第２内部電極との間の前記積層の方向において、前記誘電体層の前記第１内部電極から５０ｎｍ離れた位置から前記誘電体層の前記第２内部電極から５０ｎｍ離れた位置までを積層方向に５つの領域に等分し、前記５つの各領域における前記卑金属のそれぞれの濃度が、前記５つの領域の前記卑金属の平均濃度の±２０％以内」と構成する必然性も動機も存在しない。そして、引用文献Ｃをみても相違点４に係る構成は記載も示唆もされていない。 そうしてみると、当業者であっても引用発明Ｂ、引用文献Ｃに記載の技術から相違点３、４の構成を容易に想到することはできない。 したがって、本願発明１は他の相違点について検討するまでもなく原査定における引用発明Ｂ、引用文献Ｃに記載の技術から容易に発明できたものということはできない。 （３）本願発明２ないし１４について 本願発明２ないし１０は、いずれも請求項１を直接的または間接的に引用しており、上記相違点３、４に係る構成を含むから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明Ｂ、引用文献Ｃに記載の技術に基づいて容易に発明をすることができたものではない。 また、本願発明１１は、上記相違点３、４とした構成と同一の構成を有するものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明Ｂ、引用文献Ｃに記載の技術に基づいて容易に発明をすることができたものとはいえない。 さらに、本願発明１２ないし１４は請求項１、１１を直接的または間接的に引用しており、上記相違点３、４に係る構成を含むから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても引用発明Ｂ、引用文献Ｃに記載された技術事項に基づいて容易に発明をすることができたものではない。 第７　むすび 以上のとおり、原査定の理由によって、本願を拒絶することはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。