2020-002361

第２　原査定の概要

原査定（令和２年１月７日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。

１　本願の請求項１ないし３、７及び８に係る発明は、以下の引用文献１ないし３に記載された発明に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。

引用文献等一覧

１．特開昭６２－１７７４２０号公報

２．特開２０１５－１９４３５９号公報

３．特開昭６３－１００６４４号公報

２　本願の請求項５ないし７に係る発明は、以下の点で明確でないから、本願は、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしておらず、特許を受けることができない。

請求項５に記載された「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射する」は、引用する請求項１で特定される、第１ビームスプリッタで分離された第１直線偏光及びそれに直交する第２直線偏光が、（第１及び第２直線偏光に分離されたまま）第２ビームスプリッタに入射することと整合しない。

第３　当審拒絶理由の概要

当審拒絶理由の概要は次のとおりである。

本願請求項１、５、７及び８に係る発明は、以下の引用文献４に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。

引用文献等一覧

４．特公昭５２－３４２３５号公報（当審において新たに引用した文献）

第４　本願発明

本願の請求項１ないし９に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」ないし「本願発明９」という。）は、令和２年９月１１日にされた手続補正で補正（以下「本件補正」という。）された特許請求の範囲の請求項１ないし９に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１、３及び５は以下のとおりの発明である。

「【請求項１】

光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子と、

前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子と、

を備え、

前記第１偏光子及び前記第２偏光子は、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている分光装置。」

「【請求項３】

光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子と、

前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子と、

を備え、

前記第１偏光子及び前記第２偏光子は、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに同じ方向になるように配置されている分光装置。」

「【請求項５】

光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

偏光子と、

を備え、

前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射し、

前記第１干渉縞と前記第２干渉縞との平均を算出し、前記平均を示すデータをフーリエ変換する信号処理部を備える分光装置。」

なお、本願発明２及び４は、それぞれ本願発明１及び３を減縮した発明であり、本願発明６は、本願発明１ないし５を減縮した発明である。

そして、本願発明７ないし９は、それぞれ本願発明１、３及び５に対応する方法の発明であり、本願発明１、３及び５とカテゴリ表現が異なるだけの発明である。

また、本願発明１は本件補正前の請求項２に係る発明に相当し、本願発明３は本件補正前の請求項４に係る発明に相当し、本願発明５は本件補正前の請求項５を引用する請求項６に係る発明に相当する。

第４　引用文献、引用発明等

１　引用文献１について

（１）原査定の拒絶の理由に引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献１には、以下の記載がある（下線は当審において付加した。引用文献の記載において以下同様。）。

（引１－ア）第１頁右下欄１０～１２行

「　本発明は偏光干渉計に係り、特にフーリエ分光などの数学的処理に好適な差動形偏光干渉計に関する。」

（引１－イ）第２頁左上欄下から３行～左下欄１３行

「　以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。被測定光源１０から出た光線１１は、偏光軸１６を有する偏光板１５に入射する。偏光板１５により偏光面が偏光軸１６に平行となった光線は、ウオラストンプリズム２０に入射する。ウオラストンプリズム２０は結晶軸２１，２２が互に直交する２個の複屈接性（例えば水晶など）のプリズム２５，２６を接合して作られており、各プリズム中の屈接率は入射光線の偏光方向により異なるから、ウオラストンプリズム２０を通過する光線の中心光軸の位置により、ウオラストンプリズム中の光学的距離が異なつて来る。この事は換言すると、プリズム２５と２６との接合面での屈接率の比が、偏光軸が結晶軸２１に平行な光線と、結晶軸２２に平行な光線では１以上と１以下となるから、一方の光線は例えば左方向に微か屈接し、他方の光線は右方向に屈接する。従つて、偏光板１５の偏光軸１６を結晶軸２１（又は２２）に対し４５°傾けておけば、ウオラストンプリズム２０中には、各結晶軸２１，２２に平行な２光線成分（振幅は４５°偏光光線の各１／√２）が生じ、プリズム２５，２６の接合面付近から互に傾斜した、２個の波面を形成する事になる。

この２個の傾斜波面が、結晶軸に対し４５°の偏光軸３６を有する第２の偏光板（検光子とも云う）３５を通過すると、夫々の波面に対し共通の偏光成分を与える事となり、干渉現象を起す。この時現われる干渉縞はいわゆる等厚干渉縞であつて、波面が分離したウオラストンプリズム２０の接合面附近に観測されるから、結像レンズ４０に依つて、１次元撮像素子５０の受光面に水平方向５１に並んだ干渉縞５２として結像される。１次元撮像素子としてはＭＯＳ型又はＣＣＤ（電荷結合素子）型のフォトダイオードアレイ（ＰＤＡ）が適当であるが、イメージデイセクタチユーブなどであつても何等かわらない。」

（引１－ウ）第２頁右下欄１２～１５行

「　第１図における偏光板４５は偏光軸１６に対し直交した偏光軸４６を有し、偏光板スライダ３０を矢印３１の方向に移動すれば、第２の偏光板の偏光軸を９０°回転させる事ができる。」

（引１－エ）第３頁右上欄１２行～右下欄下から５行

「　第４図は、本発明の他の一実施例であつて、偏光軸の回転のための機械的可動部分を含まないものである。第１図の偏光板スライダ３０又はこれに相当する第２図の様な可動部材が無い代りに、第４図の結像レンズ４０の後に２個の偏光板３５，４５が上下に並置され、その背後に２個のフオト・ダイオートアレイ（当審注：「ダイオートアレイ」は「ダイオードアレイ」の誤記と認める。）検知器５０，５７が上下に並置されている。ここで上下方向と云うのは、第１図，第４図の如くウオラストンプリズムの接合面が上下方向に伸び、等厚干渉縞５２が水平方向５１に出来る場合の垂直方向の事である。

クロツク源５５からの同一の駆動信号５６を得て、検知器５０，５７は同時に走査され、２個のビデオ信号はそれぞれ増幅器６０，８６で増幅及びソンプルホールド（当審注：「ソンプルホールド」は「サンプルホールド」の誤記と認める。）され、干渉信号１０１，１０２となつて演算増幅器８８の差動入力に印加される。演算増幅器８８では、２信号１０１，１０２の差をアナログ演算して干渉図形信号１０３（第３図のグラフに対応）を出力する。この時両干渉信号の零光路差の位相が一致する様に、同じ素子位置（ビツト番号とも云う）となる様に検知器の固定位置を調整する必要があり、或いは、駆動信号５６の一方に、検知器の空間ずれを補償する時間的遅延回路５８を設ける必要がある。

勿も、光電検出手段が２次元的撮像カメラである場合はこの必要は無い。

次に第４図の方式で、第１図同様等厚干渉縞が得られる理由を説明する。

ウオラストンプリズム２０を出た互に偏光軸の直交する２個の光束は、傾斜した２個の波面を生み出し、結像レンズ４０に入射する。ウオラストンプリズム２０の内部には干渉縞は観測されないが、干渉を起状件が満たされた際に観測される干渉縞を生み出す２個の傾斜波面は存在しているのである。

結像レンズ４０の働きは、ウオラストンプリズム２０内の干渉縞像を、検知器５０，５７の感光面に実像を結像させるものであり、干渉縞像を生み出す現因となつた２波面を収斂する２個の球面波に変換するものである。従つて実際に干渉縞像が観測されていなくても、干渉していない２個の球面波として検知器に向つて収斂し、検知器の直前に置かれた偏光板３５又は４５に依つて、両波面内な共通偏光成分に干渉が生じ、受光面と第１図の干渉縞５２と同じものが結像する事になる。」

（引１－オ）第１図

「

」

（引１－カ）第４図

「

」

（２）引用文献１に記載された発明

上記（引１－ア）ないし（引１－カ）の記載から、引用文献１には、

「　被測定光源１０から出た光線１１が、偏光軸１６を有する偏光板１５に入射し、

偏光板１５により偏光面が偏光軸１６に平行となった光線は、ウォラストンプリズム２０に入射し、

ウォラストンプリズム２０は結晶軸２１，２２が互に直交する２個の複屈接性のプリズム２５，２６を接合して作られており、偏光板１５の偏光軸１６は結晶軸２１（又は２２）に対し４５°傾けてあり、ウォラストンプリズム２０中には、各結晶軸２１，２２に平行な２光線成分が生じ、プリズム２５，２６の接合面付近から互に傾斜した、２個の波面を形成し、

ウォラストンプリズム２０を出た互に偏光軸の直交する２個の光束は、傾斜した２個の波面を生み出し、結像レンズ４０に入射し、

結像レンズ４０の後に２個の偏光板３５，４５が上下に並置され、その背後に２個のフォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７が上下に並置されており、

偏光板３５は結晶軸に対し４５°の偏光軸３６を有し、偏光板４５は偏光軸１６に対し直交した偏光軸４６を有し、偏光板３５の偏光軸３６を９０°回転させたものであり、

結像レンズ４０は、ウォラストンプリズム２０内の干渉縞像を、フォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７の感光面に実像を結像させ、干渉縞像を生み出す現因となった２波面を収斂する２個の球面波に変換し、

クロック源５５からの同一の駆動信号５６を得て、フォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７は同時に走査され、２個のビデオ信号はそれぞれ増幅器６０，８６で増幅及びサンプルホールドされ、干渉信号１０１，１０２となって演算増幅器８８の差動入力に印加され、演算増幅器８８では、２信号１０１，１０２の差をアナログ演算して干渉図形信号１０３を出力する、

差動形偏光干渉計。」

の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されていると認められる。

なお、「ウオラストンプリズム」の表記として、一般的な表記である「ウォラストンプリズム」を用いた。

２　引用文献２について

（１）原査定の拒絶の理由に引用された、本願の出願前に電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった文献である引用文献２には、以下の記載がある。

（引２－ア）「【０００１】

本発明は、生体計測・粉体計測・食品計測をはじめとする光学的散乱体に対する非破壊・非侵襲的な分光測定法とそれを効果的に実現する装置に関するものである。

本発明ではマルチチャンネル分光分析法を用いて吸光散乱計測を行い、光利用効率を向上させた高感度性を実現することで、装置性能の高速化や高い信号ノイズ比や低光量性において、装置性能を高めることを目的とする技術に関するものである。」

（引２－イ）「【００３０】

（実施例１）

これらを組み合わせて本発明を実現するための光学系を図にて例示する。基本形はサバール板を用いたマルチチャンネルフーリエ変換分光器とするが、シェアリング干渉系であればそれぞれに同様の工夫を施すことができ、この形態によるものではない。この分光器では１段目の偏光素子が偏光子として、２段目の偏光素子が検光子として働く。図１は、２段目の偏光素子として上下に互いに直交する偏光板を利用して、上下の位相が逆転したインターフェログラムを同時形成する光学系である。試料から透過または拡散反射されてきた光を干渉計に導く際にバンドルファイバーを用いており、広い面積、厚い試料など３次元散乱体からの光でも、効率よくインターフェログラムが形成することが可能となる。この光導入方法については、他の例においても同様である。

図１において、光源（図示せず）からの入射光が試料（散乱体試料）に入射し、試料を透過した光（拡散反射した光であっても可能）は大口径光ファイバー（図では断面積の大きいバンドルファイバー）の入射端に入射し、出射端から出射した光は、集光レンズ・偏光子・サバール板・複合検光子・フーリエ変換レンズからなるシェアリング干渉光学系に入力され、アレイ検出器（二次元エリアセンサ）上に干渉縞を出現させ、アレイ検出器で検出生成されたインターフェログラムを信号処理手段（図示せず）で処理する。ここで、フーリエ変換レンズの焦点距離をｆとすると、サバール板とフーリエ変換レンズの間隔、および、フーリエ変換レンズとアレイ検出器（二次元エリアセンサ）の間隔はいずれも焦点距離ｆに設定されており、２段目の偏光素子として上半分と下半分とで互いに直交する偏光板からなる複合検光子（図では上半分が０度偏光、下半分が９０度偏光）を用いる。そうすると、偏光子を通過しサバール板で波面分割された光は、上下で互いに直交する偏光板からなる複合検光子を経てフーリエ変換レンズを通過し、アレイ検出器の上半分と下半分とで位相が逆転した干渉縞を出現させるので、上半分のアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラム（図では同位相インターフェログラム）と、下半分のアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラム（図では逆位相インターフェログラム）との差を取る（図示しない信号処理手段で行う）ことで、検出信号を２倍に高めかつバイアスノイズを除去することができる。

なお、アレイ検出器として二次元エリアセンサまたは複数段アレイセンサを用いたときは、上半分の二次元エリアセンサまたは複数段アレイセンサの水平方向のラインのセンサで生成された干渉縞を垂直方向に積算したインターフェログラムと、下半分の二次元エリアセンサまたは複数段アレイセンサの水平方向のラインのセンサで生成された干渉縞を垂直方向に積算したインターフェログラムとの間で前記差分信号処理を行なうとよい。」

（引２－ウ）「【００３２】

（実施例３）

図３は、２段目の偏光素子に偏光ビームスプリッターを用いて、偏光分割を行いながらも光量を損なうこと無く、偏光ビームスプリッターでの透過方向および反射方向で位相が逆転したインターフェログラムを同時形成する光学系である。

図３の光学系で上記図１の光学系と異なる点は、２段目の偏光素子に偏光ビームスプリッターを用い、偏光ビームスプリッターで透過方向および反射方向で位相が逆転したインターフェログラムを同時形成するので、透過方向および反射方向にそれぞれフーリエ変換レンズ・アレイ検出器を備えている点が異なる。なお、図１、２では光学系を横から見た図で示していたが、図３では、説明をわかりやすくするため光学系を上から見た平面図として表している。また、サバール板とフーリエ変換レンズの光路長および前記フーリエ変換レンズと二次元エリアセンサの距離はフーリエ変換レンズの焦点距離ｆに等しい。図３の光学系では、偏光子を通過しサバール板で波面分割された光は、偏光ビームスプリッターで透過方向（図では９０度偏光）と反射方向（図では０度偏光）とに偏光分割され、分割された光はそれぞれフーリエ変換レンズを通過し、それぞれのアレイ検出器上に互いに位相が逆転した干渉縞を出現させる。そこで、透過方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムと、反射方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムとの差を取る（図示しない信号処理手段で行う）ことで、図１、２の場合と同様に、検出信号を２倍に高めかつバイアスノイズを除去することができる。

なお、アレイ検出器として二次元エリアセンサを用いたときは、透過方向に設けた二次元エリアセンサの水平方向のラインのセンサで生成された干渉縞を垂直方向に積算したインターフェログラムと、反射方向に設けた二次元エリアセンサ水平方向のラインのセンサで生成された干渉縞を垂直方向に積算したインターフェログラムとの間で前記差分信号処理を行なうとよい。」

（引２－エ）【図３】

「

」

（２）引用文献２に記載された発明

上記（引２－ア）ないし（引２－エ）の記載から、引用文献２には、

「　試料を透過した光は大口径光ファイバーの入射端に入射し、出射端から出射した光は、集光レンズ・偏光子・サバール板・２段目の偏光素子・フーリエ変換レンズからなるシェアリング干渉光学系に入力され、アレイ検出器（二次元エリアセンサ）上に干渉縞を出現させ、アレイ検出器で検出生成されたインターフェログラムを信号処理手段で処理する、マルチチャンネルフーリエ変換分光器であって、

２段目の偏光素子に偏光ビームスプリッターを用い、偏光ビームスプリッターで透過方向及び反射方向で位相が逆転したインターフェログラムを同時形成するので、透過方向及び反射方向にそれぞれフーリエ変換レンズ・アレイ検出器を備えており、

偏光子を通過しサバール板で波面分割された光は、偏光ビームスプリッターで透過方向（９０度偏光）と反射方向（０度偏光）とに偏光分割され、分割された光はそれぞれフーリエ変換レンズを通過し、それぞれのアレイ検出器上に互いに位相が逆転した干渉縞を出現させ、

信号処理手段で、透過方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムと、反射方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムとの差を取ることで、検出信号を２倍に高めかつバイアスノイズを除去することができる、

マルチチャンネルフーリエ変換分光器。」

の発明（以下「引用発明２」という。）が記載されていると認められる。

３　引用文献３について

（１）原査定の拒絶の理由に引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献３には、以下の記載がある。

（引３－ア）第２頁右上欄下から４行～末行

「〔技術分野〕

本発明は、磁気光学効果を利用して記録媒体に磁気的に記録された情報を再生する光磁気情報再生装置に関する。」

（引３－イ）第３頁右下欄下から３行～第４頁右上欄８行

「〔実施例〕

以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。

第１図および第２図は、本発明に基づく光磁気情報再生装置の第１実施例を示し、夫々第１図は光学系の概略構成図、第２図は信号処理回路の概略構成図である。第１図において、２１は半導体レーザ、２２はコリメータレンズ、１２は偏光ビームスプリツタ、２４は対物レンズ、２６は光磁気記録媒体、２７１，２７２は検光子、２８は集光レンズ、２９１，２９２はピンフオトダイオード等の増幅作用のない光検出器、３０はハーフミラーでＰ偏光方向は紙面に平行、Ｓ偏光方向は垂直である。また、１３，１４は夫々検光子２７１，２７２を透過した光束を示し、この検出光束１３，１４は第２図のように光検出器２９１，２９２で各々光電変換され、負荷抵抗１６１，１６２を含む増幅器１５１，１５２によって電圧増幅された後、差動増幅器１８で差分されて、端子１４より再生信号として出力される。

上記装置において、半導体レーザ２１はＰ偏光光束を出射する。この出射光束は、コリメータレンズ２２で平行光となり、偏光ビームスプリツタを透過して、対物レンズ２４によって記録媒体２６上に強度Ｉ０の光スポツトとして照射される。そして、記録媒体２６で反射された光束は、該記録媒体２６に磁気的に記録された情報に応じて偏光状態に変調を受け、再び対物レンズ２４を通って偏光ビームスプリツタ１２で反射し、集光レンズ２８で収束光とされて、ハーフミラー３０に導かれる。ハーフミラー３０で反射及び透過された光束は、各々検光子２７１，２７２を通過し、強度変調されて光検出器２９１，２９２で受光される。」

（引３－ウ）第１図

「

」

（２）引用文献３に記載された発明

上記（引３－ア）ないし（引３－ウ）の記載から、引用文献３には、

「　半導体レーザ２１、コリメータレンズ２２、偏光ビームスプリッタ１２、対物レンズ２４、光磁気記録媒体２６、検光子２７１，２７２、集光レンズ２８、増幅作用のない光検出器２９１，２９２、ハーフミラー３０を備えた光磁気情報再生装置であって、

半導体レーザ２１はＰ偏光光束を出射し、この出射光束は、コリメータレンズ２２で平行光となり、偏光ビームスプリッタ１２を透過して、対物レンズ２４によって記録媒体２６上に強度Ｉ０の光スポットとして照射され、記録媒体２６で反射された光束は、該記録媒体２６に磁気的に記録された情報に応じて偏光状態に変調を受け、再び対物レンズ２４を通って偏光ビームスプリッタ１２で反射し、集光レンズ２８で収束光とされて、ハーフミラー３０に導かれ、ハーフミラー３０で反射及び透過された光束は、各々検光子２７１，２７２を通過し、強度変調されて光検出器２９１，２９２で受光されて光電変換され、差動増幅器１８で差分されて再生信号として出力される、

光磁気情報再生装置。」

の発明（以下「引用発明３」という。）が記載されていると認められる。

４　引用文献４について

（１）当審拒絶理由に引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である引用文献４には、以下の記載がある。

（引４－ア）第２欄４行

「　本発明は偏光干渉分光装置に関するものである。」

（引４－イ）第４欄１０～３９行

「　次に偏光干渉分光法について説明する。

第３図は偏光干渉計の原理図であり、光源１、偏光板２、バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃ検光板３、検知器５よりなる。偏光板２にはバビネ－ソレイユ補償板の結晶軸に４５°傾斜した面にだけ振動面を持つた直線偏光が通過する。検光板３は偏光板２と物理的に同一方向に傾斜している。バビネ－ソレイユ補償板は複屈折性を持つた単結晶で構成され、３個の結晶のうち４ｃのみが図示の矢印方向に可動となつており、また、４ａ，４ｂ，４ｃの補償板の結晶軸方向は、第３図中の矢印にて示す方向となつている。光源１を出て偏光板２を通過した直線偏光はバビネ－ソレイユ補償板に対して常光線成分“Ｏ”と、常光線成分に対し直交する異常光線成分“Ｅ”の振動面を持つ二つのベクトル成分に分離される。

・・・さて、バビネ－ソレイユ補償板を通過した互いに直交した振動面を持つ２つの光線は、検光板３上で１つに合成されて検知器に入り干渉信号となる。」

（引４－ウ）第５欄１３行～第６欄９行

「　以下第４図の光学系統図を参照し、本発明を詳細に説明する。

吸収測定用光源１からの入射光或いは図示されていない光軸の対物レンズ６ａ方向への延長上にある発光光源からの入射光は各々１６ａ，６ｂならびに６ａ，８等の光学系を通つて、偏光板２バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃ及び検光板３より成る干渉計部に平行光束となつて入射し、可動結晶板４Ｃの移動により適当な光路差を与えられ、検光板３上で再び合成される。検光板３を出た振幅合成光は凹面鏡１０あるいは集光レンズ１６ｂ，１６ｃ等によつて検知器５ａ，５ｂ上に集光され、干渉出力となり電気信号に変換される。バビネ－ソレイユ補償板の可動結晶板４ｃは支持アーム１１のような適当な支持機構を通して直線カム１２に連結せられ、モーター１４の回転運動が適当なギヤー系１３を通して、直線カム１２により直線運動に変換されて、可動結晶板４Ｃを矢印方向に駆動する。９は入射光束を適当な大きさに制限するために設けられた絞りである。

さて、平面鏡７は可動となつており、その切り換えによつて光源１方向からの光と光軸上対物レンズ６ａ側からの光を干渉計部へ導びく事が出来る。光源１に例えば添素タングステン電球のような連続スペクトルを持つ光源を置き、１５ａに吸収測定試料を位置させ、適当な光学系６ｂ，１６ａ等により集光すれば、吸収測定を行なうことができる。一方対物レンズ６ａによつて定まる適当な位置に置かれた発光試料からの発光測定は、平面鏡７を切り換えることにより、容易に可能となる。

・・・

レンズ８は干渉計部への入射光を平行光束に保つ為に設けられた凹レンズである。」

（引４－エ）第７欄１３～３６行

「　一方吸収測定は又、干渉計の出射側に置く事も出来る。第４図において、球面鏡１０は可動であり発光スペクトル測定時あるいは試料１５ａによる吸収測定時は、干渉計出力を集光して検知器５ａに導びくか、可動球面鏡１０を回転すれば、干渉出力光は可動球面鏡１０で反射することなく直進し、集光レンズ１６ｂ，１６ｃ，吸収測定試料１５ｂ、検知器５ｂへ導かれ試料１５ｂの吸収スペクトルを得る。可動球面鏡１０は、この他に測定波長領域に従つて検知器を切り換える為にも有用である。即ち、１６ｂ，１５ｂ，１６ｃの代りに、適当な集光系を置き、お互いに異なつた波長領域に感度のある検知器５ａ，５ｂ、例えば５ａとしてＰｂｓセル、５ｂとして光電子増倍管を使用すれば、可動球面鏡１０の回転により、干渉計出力光を適宜夫々の検知器へ導くことができる。

第７図は、本発明の他の実施例を示す。この例に於いては第４図における可動鏡１０の代りに半透鏡１０ａを用いる事により、干渉計出力光を分割し、検知器５ｃ及び５ｄへ導く。夫々の検知器出力も適当な方法で加算する事により波長領域によつて検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できるる。」

（引４－オ）第８欄２１～２４行

「(iv)　２つ以上の検知器が使用出来、容易な操作でそれらの切り換えが出来る。又、切り換え操作なく、２つの検知器を同時に使用し、両検知器の波長領域全体をカバーすることもできる。」

（引４－カ）第３図

「

」

（引４－キ）第４図

「

」

（引４－ク）第７図

「

」

（２）引用文献４に記載された発明

上記（引４－ア）ないし（引４－ク）の記載から、引用文献４には、

「　偏光板２、バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃ及び検光板３よりなる干渉計部を有し、

バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃは複屈折性を持った単結晶で構成され、３個の結晶のうち４ｃのみが可動となっており、

偏光板２にはバビネ－ソレイユ補償板の結晶軸に４５°傾斜した面にだけ振動面を持った直線偏光が通過し、

検光板３は偏光板２と物理的に同一方向に傾斜しており、

光軸の対物レンズ６ａ方向への延長上にある発光光源からの入射光は、対物レンズ６ａ，レンズ８等の光学系を通って、偏光板２、バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃ及び検光板３よりなる干渉計部に平行光束となって入射し、

偏光板２を通過した直線偏光はバビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃに対して常光線成分“Ｏ”と、常光線成分に対し直交する異常光線成分“Ｅ”の振動面を持つ二つのベクトル成分に分離され、可動結晶板４ｃの移動により適当な光路差を与えられ、互いに直交した振動面を持つ２つの光線は、検光板３上で再び合成され、

干渉計出力光を半透鏡１０ａにより分割して、検知器５ｃ及び５ｄへ導き、

夫々の検知器出力を適当な方法で加算することにより、波長領域によって検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できる、

偏光干渉分光装置。」

の発明（以下「引用発明４」という。）が記載されていると認められる。

第５　対比・判断

１　本願発明１について

（１）引用発明１を主引用発明とした場合

ア　本願発明１と引用発明１とを対比する。

（ア）引用発明１の「入射し」た「偏光板１５により偏光面が偏光軸１６に平行となった光線」を「互に偏光軸の直交する２個の光束」として「出」す「ウォラストンプリズム２０」は、本願発明１の「光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタ」に相当する。

（イ）引用発明１の「互に偏光軸の直交する２個の光束」のうちの一方の光束は、本願発明１の「第１直線偏光」に相当し、引用発明１の当該一方の光束の上半分及び下半分と、本願発明１の「第１透過光」及び「前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光」とは、それぞれ「第１直線第１部分光」及び「前記第１直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第１直線第２部分光」で共通する。

（ウ）引用発明１の「互に偏光軸の直交する２個の光束」のうちの他方の光束は、本願発明１の「前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光」に相当し、引用発明１の当該他方の光束の上半分及び下半分と、本願発明１の「第２透過光」及び「前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光」とは、それぞれ「第２直線第１部分光」及び「前記第２直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第２直線第２部分光」で共通する。

（エ）引用発明１の「結像レンズ４０」により「ウォラストンプリズム２０内の干渉縞像」の「実像」が「感光面に」「結像さ」れる「上下に並置され」た「２個のフォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７」と、本願発明１の「前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部」と「前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部」とは、「前記第１直線第１部分光及び前記第２直線第１部分光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部」と「前記第１直線第２部分光及び前記第２直線第２部分光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部」で共通する。

（オ）引用発明１の「上下に並置され」た「２個の偏光板３５，４５」と、本願発明１の「前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子」と「前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子」とは、「前記第１直線第１部分光及び前記第２直線第１部分光が入射する第１偏光子」と「前記第１直線第２部分光及び前記第２直線第２部分光が入射する第２偏光子」で共通する。

（カ）引用発明１の「偏光板１５の偏光軸１６は結晶軸２１（又は２２）に対し４５°傾けてあり」、「偏光板３５は結晶軸に対し４５°の偏光軸３６を有し、偏光板４５は偏光軸１６に対し直交した偏光軸４６を有し、偏光板３５の偏光軸３６を９０°回転させたものであ」ることは、本願発明１の「前記第１偏光子及び前記第２偏光子は、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている」ことに相当する。

（キ）引用発明１の「差動形偏光干渉計」は、「ウォラストンプリズム２０」で「２個の波面を形成」するものであるから、本願発明１の「分光装置」に相当する。

イ　そうすると、本願発明１と引用発明１とは、

「　光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光は、第１直線第１部分光、及び前記第１直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第１直線第２部分光となり、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光は、第２直線第１部分光、及び前記第２直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第２直線第２部分光となり、

前記第１直線第１部分光及び前記第２直線第１部分光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１直線第２部分光及び前記第２直線第２部分光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

前記第１直線第１部分光及び前記第２直線第１部分光が入射する第１偏光子と、

前記第１直線第２部分光及び前記第２直線第２部分光が入射する第２偏光子と、

を備え、

前記第１偏光子及び前記第２偏光子は、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている分光装置。」

の発明である点で一致し、次の点において相違する。

（相違点１）

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光は、第１直線第１部分光、及び前記第１直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第１直線第２部分光となり、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光は、第２直線第１部分光、及び前記第２直線第１部分光の振動方向と同じ振動方向を有し光路の異なる第２直線第２部分光となることについて、本願発明１においては、「第２ビームスプリッタ」を備え、それにより、「前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する」のに対し、引用発明１においては、空間的な上下位置の違いにより光路が異なるものであり、ビームスプリッタにより透過光と反射光に分離されるものではない点。

ウ　判断

（ア）上記相違点１について検討する。

ａ　引用発明２の「偏光ビームスプリッター」は、「透過方向（９０度偏光）と反射方向（０度偏光）とに偏光分割」するものであり、「直線偏光を第１透過光（第２透過光）、及び前記第１透過光（第２透過光）の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光（第２反射光）に分離」する「第２ビームスプリッタ」に相当するものではない。

ｂ　引用発明３の「ハーフミラー３０」は、入射された偏光光束を「反射及び透過された光束」に分離するものであり、「反射及び透過された光束」の振動方向は同じであると認められる。

しかしながら、引用発明３は光磁気情報再生装置であり、「記録媒体２６に磁気的に記録された情報に応じて偏光状態に変調を受け」た光束を検出することから、光束を空間的位置に基づいて分離することができないことから、「ハーフミラー３０」を用いて光束を分離しているものと認められる。

してみると、引用発明１の「ウォラストンプリズム２０を出た互に偏光軸の直交する２個の光束」を、引用文献３の「ハーフミラー３０」を用いて透過光と反射光に分離するようにすることを動機付ける事情があるとはいえない。

ｃ　引用発明４の「半透鏡１０ａ」は、入射された干渉計出力光を透過光及び反射光に分離するものであり、透過光及び反射光の振動方向は同じであると認められる。

ここで、引用発明４は「夫々の検知器出力を適当な方法で加算することにより、波長領域によって検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できる」ようにするために、「干渉計出力光を半透鏡１０ａにより分割して、検知器５ｃ及び５ｄへ導」いているものと認められる。

しかしながら、引用発明１は、既に２個のフォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７を切り換えることなく使用できるものであり、引用発明４の「半透鏡１０ａ」を用いて透過光と反射光に分離することにより、利用可能な光量が増加するなどの利点があるとも認められない。

してみると、引用発明１の「ウォラストンプリズム２０を出た互に偏光軸の直交する２個の光束」を、引用文献４の「半透鏡１０ａ」を用いて透過光と反射光に分離するようにすることを動機付ける事情があるとはいえない。

ｄ　そうすると、引用発明１において、引用発明２ないし４に基づいて、上記相違点１に係る本願発明１の発明特定事項を備えたものとすることは、当業者といえども容易に想到し得たこととはいえない。

（イ）したがって、本願発明１は、引用発明１及び引用発明２ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

（２）引用発明２を主引用発明とした場合

ア　本願発明１と引用発明２とを対比する。

（ア）引用発明２の「偏光子を通過しサバール板で波面分割された光」は、互に偏光軸の直交する２個の光であるといえるから、引用発明２の「波面分割された光」のうちの一方の光及び他方の光は、それぞれ本願発明１の「第１直線偏光」及び「前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光」に相当し、引用発明２の「偏光子を通過し」た光が入射し「波面分割された光」として出射する「サバール板」は、本願発明１の「光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタ」に相当する。

（イ）引用発明２の「サバール板で波面分割された光」を「透過方向（９０度偏光）と反射方向（０度偏光）とに偏光分割」する「偏光ビームスプリッター」と、本願発明１の「前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタ」とは、「前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び第２反射光に分離する第２ビームスプリッタ」で共通する。

（ウ）引用発明２の「透過方向」の「インターフェログラム」を検出する「透過方向」に「備え」られた「アレイ検出器」は、本願発明１の「前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部」に相当する。

（エ）引用発明２の「反射方向」の「インターフェログラム」を検出する「反射方向」に「備え」られた「アレイ検出器」は、本願発明１の「前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部」に相当する。

（オ）引用発明２の「マルチチャンネルフーリエ変換分光器」は、本願発明１の「分光装置」に相当する。

イ　そうすると、本願発明１と引用発明２とは、

「　光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

を備えた、分光装置。」

の発明である点で一致し、次の点において相違する。

（相違点２）

第１干渉縞及び第２干渉縞を生成するための構成について、本願発明１においては、「第２ビームスプリッタ」が「直線偏光を第１透過光（第２透過光）、及び前記第１透過光（第２透過光）の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光（第２反射光）に分離」するものであり、それに伴い「前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子と、前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子と、を備え、前記第１偏光子及び前記第２偏光子は、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている」のに対し、引用発明２においては、「第２ビームスプリッタ」が「透過方向（９０度偏光）と反射方向（０度偏光）とに偏光分割」する「偏光ビームスプリッター」であって、透過光と反射光の振動方向は直交しており、それに伴い「第１偏光子」及び「第２偏光子」を備えていない点。

ウ　判断

（ア）上記相違点２について検討する。

ａ　引用発明１は、「第２ビームスプリッタ」に相当する構成を備えていない。

ｂ　引用発明３の「ハーフミラー３０」は、入射された偏光光束を「反射及び透過された光束」に分離するものであり、「反射及び透過された光束」の振動方向は同じであり、各々が「通過」する「検光子２７１，２７２」の透過軸の方向は直交していると認められる。

しかしながら、「偏光ビームスプリッター」により透過光と反射光との分離及び振動方向の選択の双方を行っている引用発明２において、「偏光ビームスプリッター」に代えて引用発明３の「ハーフミラー３０」及び「検光子２７１，２７２」を採用することにより、構造を簡素化できるなどの利点があるとも認められない。

してみると、引用発明２の「偏光ビームスプリッター」に代えて、引用文献３の「ハーフミラー３０」及び「検光子２７１，２７２」を採用することを動機付ける事情があるとはいえない。

ｃ　引用発明４の「半透鏡１０ａ」は、入射された干渉計出力光を透過光及び反射光に分離するものであり、透過光及び反射光の振動方向は同じであると認められる。

しかしながら、引用発明４は、「半透鏡１０ａ」による透過光及び反射光のそれぞれが入射する、透過軸の方向が互いに直交する「第１偏光子」及び「第２偏光子」を備えていない。

してみると、引用発明２の「偏光ビームスプリッター」に代えて、引用文献４の「半透鏡１０ａ」を採用することを動機付ける事情があるとはいえない。

ｄ　そうすると、引用発明２において、引用発明１、３及び４に基づいて、上記相違点２に係る本願発明１の発明特定事項を備えたものとすることは、当業者といえども容易に想到し得たこととはいえない。

（イ）したがって、本願発明１は、引用発明２並びに引用発明１、３及び４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

（３）引用発明４を主引用発明とした場合

ア　本願発明１と引用発明４とを対比する。

（ア）引用発明４の「常光線成分“Ｏ”と、常光線成分に対し直交する異常光線成分“Ｅ”の振動面を持つ二つのベクトル成分に分離され」、「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」は、それぞれ本願発明１の「第１直線偏光」及び「前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光」に相当し、引用発明４の「偏光板２を通過した直線偏光」を「常光線成分“Ｏ”と、常光線成分に対し直交する異常光線成分“Ｅ”の振動面を持つ二つのベクトル成分に分離」し、「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」とする「バビネ－ソレイユ補償板４ａ，４ｂ，４ｃ」は、本願発明１の「光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタ」に相当する。

（イ）引用発明４の「互いに直交した振動面を持つ２つの光線は、検光板３上で再び合成され」て振動面がそろった状態になるが、「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」それぞれの成分が「検光板３」を透過して「半透鏡１０ａ」に入射して透過光と反射光に分割されるといえるから、引用発明４の「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」が「検光板３上で再び合成され」た「干渉計出力光を」「分割」する「半透鏡１０ａ」は、本願発明１の「前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタ」に相当する。

（ウ）引用発明４の「干渉計出力光を半透鏡１０ａにより分割」された透過光として検出する「検知器５ｃ」は、本願発明１の「前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部」に相当する。

（エ）引用発明４の「干渉計出力光を半透鏡１０ａにより分割」された反射光として検出する「検知器５ｄ」は、本願発明１の「前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部」に相当する。

（オ）引用発明４の「偏光板２と物理的に同一方向に傾斜して」おり「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」を「再び合成」する「検光板３」と、本願発明１の「前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子」と「前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子」であって、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている」「前記第１偏光子及び前記第２偏光子」とは、「検光子」で共通する。

（カ）引用発明４の「偏光干渉分光装置」は、本願発明１の「分光装置」に相当する。

イ　そうすると、本願発明１と引用発明４とは、

「　光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

検光子と、

を備えた、分光装置。」

の発明である点で一致し、次の点において相違する。

（相違点３）

検光子が、本願発明１においては、「前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子」と「前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子」であって、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに直交するように配置されている」「前記第１偏光子及び前記第２偏光子」であるのに対し、引用発明４においては、「偏光板２と物理的に同一方向に傾斜して」おり「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」を「再び合成」する、「半透鏡１０ａ」の前段に配置された「検光板３」である点。

ウ　判断

（ア）上記相違点３について検討する。

ａ　引用発明１の「偏光板３５」及び「偏光板４５」は、「第２ビームスプリッタ」により分離された透過光及び反射光が入射するものではないが、「偏光板４５」の「偏光軸４６」は、「偏光板３５の偏光軸３６を９０°回転させたものであ」る。

しかしながら、引用発明４は、「夫々の検知器出力を適当な方法で加算することにより、波長領域によって検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できる」ようにするため、１つの干渉光を分割して検知器５ｃ及び５ｄで検出するようにしているものである。

してみると、引用発明４の「検光板３」に代えて、引用発明１の偏光軸を９０°回転させた関係にある「偏光板３５」及び「偏光板４５」、すなわち、位相反転させた干渉光を生じさせる２つの偏光板を採用することを動機付ける事情があるとはいえない。

ｂ　引用発明２は、「偏光ビームスプリッター」が検光子の機能を備えたものであり、「第１偏光子」及び「第２偏光子」を備えていない。

ｃ　引用発明３の「ハーフミラー３０」は、入射された偏光光束を「反射及び透過された光束」に分離するものであり、「反射及び透過された光束」の振動方向は同じであり、各々が「通過」する「検光子２７１，２７２」の透過軸の方向は直交していると認められる。

しかしながら、引用発明４は、「夫々の検知器出力を適当な方法で加算することにより、波長領域によって検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できる」ようにするため、１つの干渉光を分割して検知器５ｃ及び５ｄで検出するようにしているものである。

してみると、引用発明４の「検光板３」に代えて、引用発明３の透過軸が直交する「検光子２７１，２７２」、すなわち、位相反転させた干渉光を生じさせる２つの検光子を採用することを動機付ける事情があるとはいえない。

ｄ　そうすると、引用発明４において、引用発明１ないし３に基づいて、上記相違点３に係る本願発明１の発明特定事項を備えたものとすることは、当業者といえども容易に想到し得たこととはいえない。

（イ）したがって、本願発明１は、引用発明４及び引用発明１ないし３に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

（４）本願発明１のまとめ

本願発明１は、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

２　本願発明２について

本願発明２は、本願発明１と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

３　本願発明３について

（１）本願発明３と引用発明４とを対比すると、上記１（３）ア（ア）ないし（カ）の本願発明１と引用発明４との対比と同様のことがいえる。

（２）そうすると、本願発明３と引用発明４とは、

「　光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

検光子と、

を備えた、分光装置。」

の発明である点で一致し、次の点において相違する。

（相違点４）

検光子が、本願発明３においては、「前記第１透過光及び前記第２透過光が入射する第１偏光子」と「前記第１反射光及び前記第２反射光が入射する第２偏光子」であって、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の一方の振動方向に対する前記第１偏光子の透過軸の方向と、前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光の前記一方の振動方向に対する前記第２偏光子の透過軸の方向とが互いに同じ方向になるように配置されている」「前記第１偏光子及び前記第２偏光子」であるのに対し、引用発明４においては、「偏光板２と物理的に同一方向に傾斜して」おり「互いに直交した振動面を持つ２つの光線」を「再び合成」する、「半透鏡１０ａ」の前段に配置された「検光板３」である点。

（３）判断

ア　上記相違点４について検討する。

（ア）引用発明１の「偏光板４５」の「偏光軸４６」は、「偏光板３５の偏光軸３６を９０°回転させたものであ」り、「偏光板３５の偏光軸３６」の方向と「偏光板４５」の「偏光軸４６」の方向は同じではない。

また、引用発明１は、「第２ビームスプリッタ」により分離された光が「偏光板３５」及び「偏光板４５」に入射するものでもない。

（イ）引用発明２は、「偏光ビームスプリッターで透過方向（９０度偏光）と反射方向（０度偏光）とに偏光分割」するものであり、透過軸の方向が互いに同じ方向になるように配置されている第１偏光子及び第２偏光子を備えていない。

（ウ）引用発明３の「ハーフミラー３０」は、入射された偏光光束を「反射及び透過された光束」に分離するものであり、「反射及び透過された光束」の振動方向は同じであるが、各々が「通過」する「検光子２７１，２７２」の透過軸の方向は直交していると認められる。

（エ）そうすると、引用発明４において、引用発明１ないし３に基づいて、上記相違点４に係る本願発明３の発明特定事項を備えたものとすることは、当業者といえども容易に想到し得たこととはいえない。

イ　したがって、本願発明３は、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

４　本願発明４について

本願発明４は、本願発明３と同一の構成を備えるものであるから、本願発明３と同じ理由により、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

５　本願発明５について

（１）本願発明５と引用発明４とを対比する。

ア　上記１（３）ア（ア）ないし（エ）及び（カ）の本願発明１と引用発明４との対比と同様のことがいえる。

イ　引用発明４の「検光板３」は、本願発明１の「偏光子」に相当する。

ウ　引用発明４の「互いに直交した振動面を持つ２つの光線は、検光板３上で再び合成され、　干渉計出力光を半透鏡１０ａにより分割し」は、本願発明５の「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射し」に相当する。

エ　引用発明４は、「夫々の検知器出力を適当な方法で加算することにより、波長領域によって検知器を切り換えることなく両検知器の感度のある波長領域全体にて使用できる」ものであるから、本願発明５の「前記第１干渉縞と前記第２干渉縞との平均を算出し、前記平均を示すデータをフーリエ変換する信号処理部」と、「前記第１干渉縞と前記第２干渉縞とを示すデータをフーリエ変換する信号処理部」で共通する構成を備えているといえる。

（２）そうすると、本願発明５と引用発明４とは、

「　光を第１直線偏光、及び前記第１直線偏光の振動方向に直交する振動方向を有する第２直線偏光に分離する第１ビームスプリッタと、

前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタと、

前記第１透過光及び前記第２透過光によって生成される第１干渉縞を検出する第１検出部と、

前記第１反射光及び前記第２反射光によって生成される第２干渉縞を検出する第２検出部と、

偏光子と、

を備え、

前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射し、

前記第１干渉縞と前記第２干渉縞とを示すデータをフーリエ変換する信号処理部を備える分光装置。」

の発明である点で一致し、次の点において相違する。

（相違点５）

前記第１干渉縞と前記第２干渉縞とを示すデータをフーリエ変換する信号処理部についえ、本願発明５においては、「前記第１干渉縞と前記第２干渉縞との平均を算出し、前記平均を示すデータをフーリエ変換する」のに対し、引用発明４においては、「夫々の検知器出力を適当な方法で加算する」点。

（３）判断

ア　上記相違点５について検討する。

（ア）引用発明１は、「フォト・ダイオードアレイ検知器５０，５７は同時に走査され、２個のビデオ信号はそれぞれ増幅器６０，８６で増幅及びサンプルホールドされ、干渉信号１０１，１０２となって演算増幅器８８の差動入力に印加され、演算増幅器８８では、２信号１０１，１０２の差をアナログ演算して干渉図形信号１０３を出力する」ものであって、「２信号１０１，１０２」の平均を演算して干渉図形信号１０３を出力するものではない。

（イ）引用発明２は、「信号処理手段で、透過方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムと、反射方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムとの差を取ることで、検出信号を２倍に高めかつバイアスノイズを除去することができる」ものであって、「透過方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムと、反射方向に設けたアレイ検出器の水平方向のラインのセンサで生成されたインターフェログラムとの」平均を取るものではない。

（ウ）引用発明３は、「ハーフミラー３０で反射及び透過された光束は、各々検光子２７１，２７２を通過し、強度変調されて光検出器２９１，２９２で受光されて光電変換され、差動増幅器１８で差分されて再生信号として出力される」ものであって、「光検出器２９１，２９２で受光されて光電変換され」た信号の平均を再生信号として出力するものではない。

（エ）そうすると、引用発明４において、引用発明１ないし３に基づいて、上記相違点５に係る本願発明３の発明特定事項を備えたものとすることは、当業者といえども容易に想到し得たこととはいえない。

イ　したがって、本願発明５は、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

６　本願発明６について

本願発明６は、本願発明１、３又は５と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１、３又は５と同じ理由により、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

７　本願発明７ないし９について

本願発明７ないし９は、それぞれ本願発明１、３及び５に対応する方法の発明であり、本願発明１、３及び５に対応する構成を備えるものであるから、本願発明１、３又は５と同様の理由により、引用発明１ないし４に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。

第６　原査定について

１　理由１（特許法第２９条第２項）について

上記第５で検討したとおり、本願発明１ないし９は、当業者であっても、原査定において引用された引用文献１ないし３に基づいて、容易に発明をすることができたものとはいえない。

したがって、原査定の理由１を維持することはできない。

２　理由２（特許法第３６条第６項第２号）について

（１）本願発明５は、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射」することを特定しているが、「偏光子」の透過軸が「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光」の一方の振動方向と一致することは特定していない。

そのため、「第２ビームスプリッタ」には、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光」の双方の成分が入射するものと解される。

（２）したがって、「前記第１直線偏光及び前記第２直線偏光は、前記偏光子に入射し、その後、前記第２ビームスプリッタに入射」することと、「前記第１ビームスプリッタから前記第１直線偏光として出射された直線偏光を第１透過光、及び前記第１透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第１反射光に分離し、前記第１ビームスプリッタから前記第２直線偏光として出射された直線偏光を第２透過光、及び前記第２透過光の振動方向と同じ振動方向を有する第２反射光に分離する第２ビームスプリッタ」とが整合しないとはいえない。

（３）よって、原査定の理由２を維持することはできない。

第７　当審拒絶理由について

当審拒絶理由の対象であった本件補正前の請求項１、５、７及び８は、それぞれ本件補正後の請求項１、５、６、及び、７ないし９に相当する。

そして、上記第５で検討したとおり、本願発明１及び５ないし９は、引用文献４に基づいて、容易に発明をすることができたものとはいえない。

したがって、当審拒絶理由によって、本願を拒絶することはできない。

第８　むすび

以上のとおり、原査定の理由及び当審拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。

また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。

よって、結論のとおり審決する。