2016-011572

特願２０１５－２０９２７「積層セラミックコンデンサおよびその製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２７年６月１１日出願公開、特開２０１５－１０９４７５、請求項の数（２）〕について、次のとおり審決する。

【結　論】 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。

【理　由】 第１　手続の経緯 本願は、２０１４年３月１４日（優先権主張２０１３年３月１９日、日本国）を国際出願日とする出願である特願２０１４－５４４２７３号の一部を平成２７年２月５日に新たな特許出願としたものであって、同年１０月８日付けで拒絶理由が通知され、同年１２月９日付けで手続補正がなされたが、平成２８年５月１３日付けで拒絶査定がなされ、これに対して、同年８月２日に拒絶査定不服の審判が請求され、同時に手続補正がなされたものである。 第２　原査定の概要 原査定（平成２８年５月１３日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。 理由１．本願の請求項１及び２に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の引用文献１に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない。 理由２．本願の請求項１及び２に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の引用文献１に記載された発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 記 引用文献１：特開２０１０－５０２６３号公報 第３　審判請求時の手続補正について 審判請求時（平成２８年８月２日付け）の手続補正は、特許法第１７条の２第５項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。そして、「第４　本願発明」から「第６　対比・判断」までに示すように、補正後の請求項１及び２に係る発明は、独立特許要件を満たすものであるから、特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合する。 また、特許法第１７条の２第３項及び第４項に違反するところはない。 以上のとおりであるから、審判請求時の手続補正は、特許法第１７条の２第３項ないし第６項の規定に適合する。 第４　本願発明 本願の請求項１及び２に係る発明は、審判請求時の手続補正による補正後の特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定されるものであるところ、請求項１及び２に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」及び「本願発明２」という。）は次のとおりのものである。なお、下線は、審判請求人が補正箇所を明示するために付したものである。 「　【請求項１】 積層された複数の内層用セラミック層と、前記内層用セラミック層どうしの界面のうちの複数の界面に配設された複数の内部電極とを有する内層部と、 前記内層部に対して挟むように上下に配設した外層用セラミック層で構成された外層部とを備えたセラミック本体、および 前記セラミック本体の外表面に形成され、かつ前記内部電極に電気的に接続される外部電極を含む積層セラミックコンデンサであって、 前記内層用セラミック層は、ＡＢＯ3（ここでＡはＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、ＢはＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、かつ希土類元素を含有し、 少なくとも１つの前記外層部のうち、該外層部の少なくとも最表面を含む最外層部は、Ａ’Ｂ’Ｏ3（ここでＡ’はＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、Ｂ’はＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、 前記内層用セラミック層に含まれる希土類元素濃度（ＣR）と、前記最外層部に含まれる希土類元素濃度（Ｃr）を比較したとき、ＣR＞Ｃr（Ｃr＝０を含む）であり、 前記内層部のうち側面に露出している前記内層用セラミック層の前記Ｂの合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量が０．３モル部以上含まれている場合、前記最外層部のうち主面に露出している外層用セラミック層の前記Ｂ’の合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量は０．２８モル部以下であり、 前記内層用セラミック層および前記最外層部の希土類元素以外の金属元素成分の含有モル量は、略同量であることを特徴とする、積層セラミックコンデンサ。 【請求項２】 ＡＢＯ3（ここでＡはＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、ＢはＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を含む粉末に、希土類元素を含む化合物を添加して混合し、スラリー化することによって内層用セラミックスラリーを調製する工程と、 Ａ’Ｂ’Ｏ3（ここでＡ’はＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、Ｂ’はＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を含む粉末をスラリー化することによって外層用セラミックスラリーを調製する工程と、 前記内層用セラミックスラリーをシート状に成形して、内層用グリーンシートを得る工程と、 前記外層用セラミックスラリーをシート状に成形して、外層用グリーンシートを得る工程と、 前記内層用グリーンシート上に導電性ペーストを塗布することによって、内部電極となる導電性ペースト膜を形成する工程と、 前記導電性ペースト膜が形成された複数の前記内層用グリーンシートを積層し、さらに、積層された内層用グリーンシートの積層方向における上側および下側のうち少なくとも一方の側に前記外層用グリーンシートを積層することによって、未焼成のセラミック本体を得る工程と、 前記未焼成のセラミック本体を焼成する工程と、 を備え、 前記内層用セラミックスラリーに含まれる希土類元素濃度（ＣR）と、前記未焼成のセラミック本体の最外層に積層される前記外層用グリーンシートとなる前記外層用セラミックスラリーに含まれる希土類元素濃度（Ｃｒ）を比較したとき、ＣR＞Ｃr（Ｃr＝０を含む）であり、 前記内層部のうち側面に露出している前記内層用セラミックスラリーの前記Ｂの合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量が０．３モル部以上含まれている場合、前記最外層部のうち主面に露出している外層用セラミックスラリーの前記Ｂ’の合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量は０．２８モル部以下であり、 前記内層用セラミックスラリーおよび前記最外層部に積層される前記外層用グリーンシートとなる前記外層用セラミックスラリーの希土類元素以外の金属元素成分の含有モル量は、略同量であることを特徴とする、積層セラミックコンデンサの製造方法。」 第５　引用発明 原査定の拒絶の理由に引用された引用文献１（特開２０１０－５０２６３号公報）には、「積層セラミック電子部品」について、図面とともに以下の事項が記載されている。なお、下線は当審で付与した。 １．「【技術分野】 【０００１】 この発明は、積層セラミック電子部品に関するもので、特に、低背化された積層セラミック電子部品のクラック抑制のための改良に関するものである。 【背景技術】 【０００２】 積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサは、誘電体セラミックからなる積層された複数のセラミック層をもって構成されるセラミック積層体を備えている。セラミック積層体は、通常、対向する第１および第２の主面と相対向する第１および第２の側面と相対向する第１および第２の端面とを有する直方体状をなしている。 ・・・（中略）・・・ 【０００５】 このような積層セラミックコンデンサは、小型化、特に薄型化すなわち低背化を図ることが要望されている。しかしながら、積層セラミックコンデンサが低背化されると、機械的強度が低下し、たとえば実装時の衝撃などにより、クラックが発生することがある。したがって、積層セラミックコンデンサにとって、上記のような実装時の衝撃などを考慮すると、機械的強度の確保が必要である。」 ２．「【発明の効果】 【００２５】 この発明によれば、セラミック積層体の外表面を規定する表層部における、外部電極によって覆われている部分と覆われていない部分との境目を少なくとも含む領域を与える保護層において、焼成工程での焼結が本体部に比べて遅れるため、本体部からのＳｉが流入し、Ｓｉ濃度が高められる。特に保護層の表層およびその近傍にＳｉがより多く分布する。したがって、このＳｉの作用により、外部電極を形成するための焼き付け工程において、外部電極から保護層へガラス成分が浸潤することが抑制される。その結果、外部電極に覆われている部分と覆われていない部分との境目近傍において応力集中が生じることが防止され、結果として、クラックを生じさせにくくすることができる。」 ３．「【００２８】 積層セラミックコンデンサ１は、誘電体セラミックからなる積層された複数のセラミック層２をもって構成されるセラミック積層体３を備えている。このセラミック積層体３の外観が図３に斜視図で示されている。セラミック積層体３は、相対向する第１および第２の主面４および５と相対向する第１および第２の側面６および７と相対向する第１および第２の端面８および９とを有する直方体状をなしている。 【００２９】 セラミック積層体３の内部において、セラミック層２間の特定の界面に沿って、複数の内部電極１０および１１が形成されている。内部電極１０および１１の積層方向に隣り合うものは、セラミック層２を介して互いに対向し、それによって、静電容量を形成している。 【００３０】 セラミック積層体３の第１および第２の端面８および９上には、それぞれ、第１および第２の外部電極１２および１３が形成される。内部電極１０および１１は、第１の外部電極１２に接続される第１の内部電極１０と第２の外部電極１３に電気的に接続される第２の内部電極１１とがあり、これら第１および第２の内部電極１０および１１は、積層方向に関して交互に配置されている。 【００３１】 積層セラミックコンデンサ１を製造するにあたり、セラミック積層体３は焼成工程を経て得られるものである。また、外部電極１２および１３は、導電性ペーストを塗布し、焼き付けることによって形成される。この導電性ペーストの塗布工程に起因して、通常、第１の外部電極１２は、セラミック積層体３の第１の端面を覆うばかりでなく、第１の端面８に隣接する主面４および５ならびに側面６および７の各一部をも覆うように形成される。同様に、第２の外部電極１３は、セラミック積層体３の第２の端面９を覆うばかりでなく、第２の端面９に隣接する主面４および５ならびに側面６および７の各一部をも覆うように形成される。」 ４．「【００３２】 セラミック積層体３の外表面を規定する表層部における、外部電極１２および１３の各々によって覆われている部分と覆われていない部分との境目を少なくとも含む領域は、後述する機能を有する保護層１４によって与えられる。この実施形態では、保護層１４は、セラミック積層体３の第１および第２の主面４および５ならびに第１および第２の側面６および７に沿って形成されている。」 ５．「【００３３】 上記保護層１４およびセラミック積層体３における保護層１４以外の本体部１５を構成するセラミックは、ＡＢＯ３（Ａは、Ｂａ、またはＢａならびにＣａおよびＳｒの少なくとも一方を含む。Ｂは、Ｔｉ、またはＴｉならびにＺｒおよびＨｆの少なくとも一方を含む。）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、かつＳｉを副成分として含む組成を共通して有している。 【００３４】 しかしながら、保護層１４の組成と本体部１５の組成とは、後述するように異ならされ、それによって、保護層１４が、本体部１５に比べて、焼成工程での焼結が遅れるようにされる。そのため、Ｓｉ成分が、本体部１５から保護層１４へ移行し、その結果、保護層１４でのＳｉ濃度が高められる。Ｓｉ濃度は、保護層１４の中でも、特に表層およびその近傍においてより高くなる。 ・・・（中略）・・・ 【００３８】 第３の実施態様では、保護層１４の組成が、本体部１５の組成に比べて、希土類元素含有量が多くされる。希土類元素含有量をどの程度多くすることが好ましいかについては、後述する実験例において明らかにする。」 ６．「【００４１】 図４に示した第２の実施形態では、保護層１４は、セラミック積層体３ａの第１および第２の主面４および５に沿って形成される。」 ７．「【００４６】 （Ａ）誘電体原料配合物の作製 まず、主成分ＡＢＯ３として、ＢａＴｉＯ３粉末を用意した。他方、副成分として、Ｄｙ２Ｏ３、ＭｇＣＯ３、ＭｎＣＯ３およびＳｉＯ２の各粉末を用意した。そして、これらを、 組成式：１００ＢａＴｉＯ３＋１．０ＤｙＯ３/２＋０．５ＭｎＯ＋１．０ＭｇＯ＋１．５ＳｉＯ２ で表される組成となるように秤量し、基本原料配合物を得た。」 ８．「【００８７】 ［実験例５］ 実験例５では、希土類元素含有量の本体部と保護層とでの差がクラックや信頼性に与える影響を調べた。 【００８８】 （Ａ）誘電体原料配合物の作製 実験例１の場合と同様の操作を経て、ＢａＴｉＯ３１００モル部に対するＤｙＯ３/２のモル部を表９に示すように変更したことを除いて、実験例１における基本原料配合物と同様の組成を有する本体部用の誘電体原料配合物および保護層用の誘電体原料配合物を得た。表９には、本体部用の誘電体原料配合物における希土類元素含有量である「本体部のＲ」、および保護層用の誘電体原料配合物における希土類元素含有量である「保護層のＲ」に加えて、「保護層のＲ」－「本体部のＲ」である「ΔＲ」も示されている。 【００８９】 （Ｂ）積層セラミックコンデンサの作製 保護層の厚みを５μｍに固定しながら、実験例１の場合と同様にして、各試料に係る積層セラミックコンデンサを得た。 【００９０】 （Ｃ）特性評価 実験例１の場合と同様に、特性評価を行なった。その結果が表９に示されている。 【００９１】 【表９】 【００９２】 表９において、試料番号に＊を付したものは、この発明の範囲外の比較例である。 【００９３】 ΔＲが０を超える試料においては、０または０以下の試料に比べて、クラック発生数の大幅な低減が見られた。また、ΔＲをより大きくすることにより、発生数を０にすることができた。また、クラック発生数が０になった試料においては、ＭＴＴＦも良好なことがわかった。」 そして、上記１．によれば、低背化された積層セラミック電子部品のクラック抑制のための改良に関するものであって、上記積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサの機械的強度を確保することによってクラックの発生を抑制するものである。 上記３．によれば、積層セラミックコンデンサ１は、積層された複数のセラミック層２をもって構成されるセラミック積層体３を備えており、上記セラミック層２間の特定の界面に沿って、複数の内部電極１０および１１が形成されている。また、セラミック積層体３の第１および第２の端面８および９と、上記第１および第２の端面８および９に隣接する主面４および５ならびに側面６および７の各一部とを覆うように第１および第２の外部電極１２および１３が形成され、上記第１および第２の外部電極１２および１３は上記内部電極１０および１１にそれぞれ接続される。 上記４．及び６．によれば、セラミック積層体３の外表面を規定する表層部において、保護層１４が、セラミック積層体３の第１および第２の主面４および５に沿って形成される。 上記５．によれば、保護層１４およびセラミック積層体３における保護層１４以外の本体部１５を構成するセラミックは、ＡＢＯ３（Ａは、Ｂａ、またはＢａならびにＣａおよびＳｒの少なくとも一方を含む。Ｂは、Ｔｉ、またはＴｉならびにＺｒおよびＨｆの少なくとも一方を含む。）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分としており、保護層１４の組成は、本体部１５の組成に比べて、希土類元素含有量が多くされる。 上記７．及び８．によれば、保護層１４の誘電体原料配合物の組成と本体部１５の誘電体原料配合物の組成は、ＤｙＯ３/２のモル部、すなわち、希土類元素含有量（Ｒ）のみが異なり、それ以外は同じである。 そして、上記８．によれば、「保護層のＲ」－「本体部のＲ」である「ΔＲ」が、０を超える試料においては、クラック発生数の大幅な低減が見られ、また、ΔＲをより大きくすることにより、発生数を０にすることができた。すなわち、保護層のＲを本体部のＲよりも大きくすることによって、上記２．に記載のようにクラックを生じさせにくくするという効果を奏する。 したがって、上記１．ないし８．の記載事項と図面の記載とを総合勘案すると、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。 「積層された複数のセラミック層２と、上記セラミック層２間の特定の界面に沿って形成された複数の内部電極１０および１１とを有する本体部１５と、 第１および第２の主面４および５に沿って形成された保護層１４とを備えたセラミック積層体３、および、 上記セラミック積層体３の第１および第２の端面８および９と、上記第１および第２の端面８および９に隣接する主面４および５ならびに側面６および７の各一部とを覆うよう形成され、上記内部電極１０および１１にそれぞれ接続された第１および第２の外部電極１２および１３を含む積層セラミックコンデンサ１であって、 上記本体部１５および上記保護層１４を構成するセラミックは、ＡＢＯ３（Ａは、Ｂａ、またはＢａならびにＣａおよびＳｒの少なくとも一方を含む。Ｂは、Ｔｉ、またはＴｉならびにＺｒおよびＨｆの少なくとも一方を含む。）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、かつ希土類元素を含有し、 上記保護層１４の組成は、上記本体部１５の組成に比べて、希土類元素含有量が多くされ、 上記本体部１５及び上記保護層１４の誘電体原料配合物の組成は希土類元素以外は同じである、積層セラミックコンデンサ１。」 なお、引用文献１の表９（上記８．参照）には、試料番号５－１として、本体部の希土類元素含有量Ｒが１．０で保護層の希土類元素含有量Ｒが０．０である試料が記載されているが、段落【００９２】（上記８．参照）に明記されているように、上記試料番号５－１は「発明の範囲外の比較例」にすぎず、そのような組成を採用したとしてもクラックの発生を抑制することができないことは、上記表９に示される特性評価の結果からみて明らかである。 そうすると、引用文献１には、積層セラミックコンデンサにおいて、クラックの発生を抑制するために、本体部の希土類元素含有量Ｒが１．０で保護層の希土類元素含有量Ｒが０．０とする発明は記載されていない。 さらに、試料番号５－１は単なる比較例としての数値が記載されているだけであり、本体部の希土類元素含有量Ｒが１．０で保護層の希土類元素含有量Ｒが０．０とすることによって解決される課題や効果については、何ら記載も示唆もされていないから、積層セラミックコンデンサにおいて、本体部の希土類元素含有量Ｒが１．０で保護層の希土類元素含有量Ｒが０．０とすることに、当業者といえども技術上の意義を見いだすことはできない。 したがって、引用文献１には、積層セラミックコンデンサにおいて、本体部の希土類元素含有量Ｒが１．０で保護層の希土類元素含有量Ｒが０．０とする「発明」が記載されているということはできない。 第６　対比・判断 １．本願発明１について （１）対比 本願発明１と引用発明とを対比すると、次のことがいえる。 ア．引用発明における「積層セラミックコンデンサ１」に含まれる「セラミック積層体３」及び「第１および第２の外部電極１２および１３」は、本願発明１における「積層セラミックコンデンサ」に含まれる「セラミック本体」及び「外部電極」に相当する。そして、上記「第１および第２の外部電極１２および１３」は、上記セラミック積層体３の「第１および第２の端面８および９」と「上記第１および第２の端面８および９に隣接する主面４および５ならびに側面６および７の各一部」とを覆うよう形成されているから、上記セラミック積層体３の「外表面」に形成されているということができる。 イ．引用発明における上記セラミック積層体３に含まれる「保護層１４」は、第１および第２の主面４および５に沿って形成されていることからみて、上記セラミック積層体３に含まれる「本体部１５」を挟むように上下に配設されており、上記「本体部１５」及び上記「保護層１４」の位置関係からみて、それらは「内層部」及び「外層部」ということができる。そうすると、引用発明における上記本体部１５が有する「セラミック層２」及び「内部電極１０および１１」は、本願発明１における「内層用セラミック層」及び「内部電極」にそれぞれ相当する。 ウ．引用発明における上記「セラミック層２」は、「ＡＢＯ3（ここでＡはＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、ＢはＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、かつ希土類元素を含有し」ている点で、本願発明１の「内層用セラミック層」と共通しており、引用発明における上記「保護層１４」は、「Ａ’Ｂ’Ｏ3（ここでＡ’はＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、Ｂ’はＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし」ている点で、本願発明１の「外層部のうち、該外層部の少なくとも最表面を含む最外層部」と共通している。 エ．引用発明における上記本体部１５及び上記保護層１４の誘電体原料配合物の組成は希土類元素以外は同じであることからみて、上記本体部のセラミック層２及び上記保護層１４の希土類元素以外の金属元素成分の含有モル量は、本願発明１と同様に「略同量である」ということができる。 オ．ただし、本願発明１においては、「前記内層用セラミック層に含まれる希土類元素濃度（ＣR）と、前記最外層部に含まれる希土類元素濃度（Ｃr）を比較したとき、ＣR＞Ｃr（Ｃr＝０を含む）であ」るのに対して、引用発明においては、「保護層１４の組成は、本体部１５の組成に比べて、希土類元素含有量が多くされ」ているから、本願発明１とは大小関係が全く逆（ＣR＜Ｃr）である点で相違する。より具体的には、本願発明１においては、「前記内層部のうち側面に露出している前記内層用セラミック層の前記Ｂの合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量が０．３モル部以上含まれている場合、前記最外層部のうち主面に露出している外層用セラミック層の前記Ｂ’の合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量は０．２８モル部以下であ」るのに対して、引用発明１においては、そのような希土類元素の添加量ではない点で相違する。 そうすると、本願発明１と引用発明とは、 「積層された複数の内層用セラミック層と、前記内層用セラミック層どうしの界面のうちの複数の界面に配設された複数の内部電極とを有する内層部と、 前記内層部に対して挟むように上下に配設した外層用セラミック層で構成された外層部とを備えたセラミック本体、および 前記セラミック本体の外表面に形成され、かつ前記内部電極に電気的に接続される外部電極を含む積層セラミックコンデンサであって、 前記内層用セラミック層は、ＡＢＯ3（ここでＡはＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、ＢはＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、かつ希土類元素を含有し、 少なくとも１つの前記外層部のうち、該外層部の少なくとも最表面を含む最外層部は、Ａ’Ｂ’Ｏ3（ここでＡ’はＢａ，Ｓｒ，Ｃａの１種以上を含み、Ｂ’はＴｉ，Ｚｒ，Ｈｆの１種以上を含み、Ｏは酸素）で表されるペロブスカイト型化合物を主成分とし、 前記内層用セラミック層および前記最外層部の希土類元素以外の金属元素成分の含有モル量は、略同量である、積層セラミックコンデンサ。」 である点で一致し、次の点で相違する。 ＜相違点＞ 本願発明１においては、「前記内層用セラミック層に含まれる希土類元素濃度（ＣR）と、前記最外層部に含まれる希土類元素濃度（Ｃr）を比較したとき、ＣR＞Ｃr（Ｃr＝０を含む）であ」るとともに、「前記内層部のうち側面に露出している前記内層用セラミック層の前記Ｂの合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量が０．３モル部以上含まれている場合、前記最外層部のうち主面に露出している外層用セラミック層の前記Ｂ’の合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量は０．２８モル部以下であ」るのに対して、引用発明においては、「外層部（保護層１４）の組成は、内層用セラミック層（本体部１５）の組成に比べて、希土類元素含有量が多くされ」ている点。 （２）判断 本願発明１は、引用発明に対して、上記（１）で説示した相違点で相違するから、本願発明１は引用発明であるということはできない。 また、引用発明は、クラックの発生を抑制するために、外層部（保護層１４）の希土類元素含有量を内層用セラミック層（本体部１５）の希土類元素含有量よりも意図的に多くする発明であり、希土類元素含有量の大小関係が逆となる試料５－１、５－２、５－１２、５－１３については、特性評価の結果においてクラックの発生は抑制されておらず（表９参照）、かつ、それらは「発明の範囲外」であると明記されている（【００９２参照】）ことからみても、引用発明において、上記大小関係を逆にしようとする動機付けとなりうるものは全く存在しない。 また、はんだ付けに用いられる水溶性フラックス中に含まれる有機酸へのセラミック成分の溶出を抑制するという本願発明の課題や、その課題を解決するために外層部及び内層用セラミック層の希土類元素濃度を調整するという技術事項を記載又は示唆する他の公知文献等もない。 したがって、本願発明１は、当業者であっても、引用発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるということはできない。 ２．本願発明２について 本願発明２は「積層セラミックコンデンサの製造方法」の発明であって、本願発明１と同様に 「前記内層用セラミックスラリーに含まれる希土類元素濃度（ＣR）と、前記未焼成のセラミック本体の最外層に積層される前記外層用グリーンシートとなる前記外層用セラミックスラリーに含まれる希土類元素濃度（Ｃｒ）を比較したとき、ＣR＞Ｃr（Ｃr＝０を含む）であり、 前記内層部のうち側面に露出している前記内層用セラミックスラリーの前記Ｂの合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量が０．３モル部以上含まれている場合、前記最外層部のうち主面に露出している外層用セラミックスラリーの前記Ｂ’の合計量１００モル部に対する希土類元素の添加量は０．２８モル部以下であり、」 という発明特定事項を備えているから、本願発明２と引用発明とは、少なくとも上記相違点で相違する。 そうすると、本願発明２も本願発明１と同様に、引用発明であるということはできず、また、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。 第７　原査定について １．理由１（特許法第２９条第１項第３号）について 上記「第６　対比・判断」で説示したとおり、本願発明１及び本願発明２は、原査定で引用された引用文献１に記載された発明（引用発明）であるということはできない。したがって、原査定の理由１を維持することはできない。 ２．理由２（特許法第２９条第２項）について 上記「第６　対比・判断」で説示したとおり、本願発明１及び本願発明２は、原査定で引用された引用文献１に記載された発明（引用発明）に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。したがって、原査定の理由２を維持することはできない。 第８　むすび 以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。