2016-005378

特願２０１２－　３３８１２「分光測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年　９月　２日出願公開、特開２０１３－１７０８６７、請求項の数（５）〕について、次のとおり審決する。

【結　論】 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。

【理　由】 第１　手続の経緯 本願は、平成２４年２月２０日の出願であって、平成２７年１０月１９日付けで拒絶理由が通知され、同年１２月２４日付けで意見書及び手続補正書が提出され、平成２８年１月１３日付けで拒絶査定（以下、「原査定」という。）されたところ、同年４月１２日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。 その後当審において平成２９年１月３０日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由１」という。）が通知され、同年３月２８日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同年５月１８日に当審において面接審理を行い、同月１９日付けで最後の拒絶理由（以下、「当審拒絶理由２」という。）が通知され、同年７月１１日付けで意見書及び手続補正書が提出されたものである。 第２　原査定の概要 原査定の概要は以下のとおりである。 本願請求項１ないし５に係る発明は、以下の引用例Ａ及びＢに基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 引用例一覧 Ａ．特開２００６－１７８３２０号公報 Ｂ．特開平５－２２３６３７号公報 第３　当審拒絶理由の概要 １　当審拒絶理由１ 当審拒絶理由１の概要は以下のとおりである。 ［理由１］ 本願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。 記 請求項１に係る発明は、ギャップ量変更部に印加される電圧が変更される度に、１つのバンドパスフィルタから他のバンドパスフィルタに変更されるものであるが、発明の詳細な説明に記載された作用効果は実現できないものを含むものである。 よって、請求項１に係る発明は、発明の詳細な説明に記載されたものとは認められない。 請求項１の記載を引用する請求項２ないし５に係る発明についても同様である。 ［理由２］ 本願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない。 記 発明の詳細な説明には、どのようにすれば、「反射膜間ギャップＧ１のギャップ量を変更する毎に、２つのピーク波長の光を取得することが可能となる」のか、十分に記載されておらず、この出願の発明の詳細な説明は、当業者が請求項１に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものでない。 請求項１の記載を引用する請求項２ないし５に係る発明についても同様である。 ［理由３］ 本願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 記 ギャップ量変更部に印加される電圧の切り替えられる大きさにかかわらず、電圧を切り替えられる度に、光路に配置されるバンドパスフィルターを切り替えることの技術的意義が不明である。 請求項１の記載を引用する請求項２ないし５に係る発明についても同様である。 ［理由４］ 本願請求項１ないし５に係る発明は、以下の引用例１及び２に基づいて、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 引用例一覧 １．特開２０００－３２９６１７号公報 ２．特開２００６－１７８３２０号公報（拒絶査定時の引用例Ａ） ２　当審拒絶理由２ 当審拒絶理由２の概要は以下のとおりである。 ［理由］ 本願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 記 反射膜間ギャップのギャップ量を変化させ、透過する光の波長が切り替えられる場合に、必ず、バンドパスフィルターを切り替え、透過波長を異ならせることの技術的意義が不明であり、請求項１に係る発明が明確に把握できない。 請求項１の記載を引用する請求項２ないし５に係る発明についても同様である。 第４　本願発明 本願の請求項１ないし５に係る発明（以下、「本願発明１」ないし「本願発明５」という。）は、平成２９年７月１１日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載された事項により特定されるものと認められる。 そのうち、「本願発明１」は、分説してA)ないしG)の符号を付与すると、以下の事項により特定される発明である。 【請求項１】 A)　測定対象光が入射されるテレセントリック光学系と、 B)　前記テレセントリック光学系を透過した光から所定波長の光を取り出す波長可変干渉フィルターと、 C)　透過波長が異なる複数のバンドパスフィルターと、前記複数のバンドパスフィルターの各々の位置を切り替えるフィルター切替手段と、を有する波長切替部と、 D)　前記波長可変干渉フィルターおよび前記波長切替部を透過した光を受光する受光部と、 を含み、 E)　前記波長可変干渉フィルターは、 第一基板と、 前記第一基板に対向して配置された第二基板と、 前記第一基板に設けられた第一反射膜と、 前記第二基板に設けられ、前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向して配置された第二反射膜と、 前記反射膜間ギャップのギャップ量を変化させるギャップ量変更部と、 を含み、 F)　前記波長切替部は、前記測定対象光の測定対象光光路、前記テレセントリック光学系と前記波長可変フィルターとの間、または、前記波長可変フィルターと前記受光部との間に配置され、前記ギャップ量が変更され、変更された値になる毎に、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの第１光を前記受光部が受光する状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの前記第１光とは波長が異なる第２光を前記受光部が受光する状態とを切り替えること G)　を特徴とする分光測定装置。 第５　引用例、引用発明等 １　引用例１ 当審拒絶理由１に引用された引用例１には、以下の事項が記載されている。なお、下線は当審で付与したものである。 「【００２２】 【発明の実施の形態】以下、本発明の分光画像入力システムの一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、本実施形態の分光画像入力システムの光学系全体の概略構成を示す断面図である。本実施形態の分光画像入力システムは、マルチチャンネルの２次元画像データを取得し表示する画像データ取得装置１と、画像データ取得装置１で取得した画像データの任意の位置のスペクトルデータを取得するスペクトルデータ取得装置２からなる。 【００２３】スペクトルデータ取得装置２は、画像データ取得装置１に対して自由度を持つ連結部２５で連結されており、ピッチ方向２６とヨー方向２７に回動自在である。連結部２５において、３はピッチ方向の回転軸、４はヨー方向の回転軸である。スペクトルデータ取得装置２は、不図示の駆動機構により２つの回転軸３、４を中心に回動され、画像データの任意の位置のスペクトルデータを取得することができる。 【００２４】画像データ取得装置１においては、不図示の対象物からの光のうち、レンズ５を通過した光が、フィルター円板７上に取り付けられているフィルター６を通って２次元撮像素子８上に結像する。図２にフィルター円板７の詳細を示す。図２に示すように、フィルター円板７には、それぞれ異なる分光透過特性を有する複数（図２においては６枚）のフィルター６が取り付けられている。画像データ取得装置１では、フィルター円板７を回転させて光が透過するフィルター６を切り替えることにより、撮像素子８上において、波長域の異なる複数の分光画像の画像データが得られる。 【００２５】スペクトルデータ取得装置２においては、対象物からの光のうち、レンズ１０を通過した光が、フィルター円板１３上に取り付けられているフィルター１１を通って干渉光形成撮像部１４に入射する。レンズ１０を含むスペクトルデータ取得装置２の光学系は、画像データ取得装置１で取得される画像データ内の狭い範囲に対応する光（画像データの１画素～数画素に相当する部分に対応する光）を干渉光形成撮像部１４に導いて結像させる。 【００２６】図３に、フィルター円板１３の詳細を示す。図３に示すように、フィルター円板１３には分光透過率の異なる複数（図３においては４枚）のフィルター１１が取り付けられている。フィルター円板１３を回転させてレンズ１０からの光路上に位置するフィルター１１を替えることにより、干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替えることができる。 【００２７】干渉光形成撮像部１４では、入射した光のうち特定の波長の光を干渉させて、干渉光を撮像する。図４に、干渉光形成撮像部１４の概略構成の断面図を示す。干渉光形成撮像部１４は、平行に配置された可動平板１５と固定平板１６とを備えている。可動平板１５と固定平板１６の互いに対向する面１５ａ、１６ａは半透鏡となっており、ファブリ-ペロー干渉計３０を構成している。 【００２８】干渉光形成撮像部１４において、光は入射窓１４ａから干渉計３０に入射する。干渉計３０では、２つの半透過面１５ａ、１６ａを反射されずに透過する光と、半透過面１５ａを透過した後、半透過面１６ａ、１５ａで反射され、半透過面１６ａを透過する光が生じる。すなわち、半透過面１５ａ、１６ａの空気間隔をｄとすると、これらの光の光路長には２ｄの差が生じる。したがって、２ｄ＝ｍλ（ｍは整数）を満たす波長λを有する光は干渉する。干渉光は、最も強い光として光センサー１７で撮像される。よって、光センサー１７で検出される最高強度が干渉光の強度に対応する。また、干渉光の波長λは、２ｄ＝ｍλを満たすので、空気間隔ｄより波長λが求められる。以下、干渉光の波長λを透過強度ピーク波長という。 【００２９】干渉計３０において、空気間隔ｄは可変であり、空気間隔ｄを変化させると、さまざまな波長λの干渉光の強度が検出される。空気間隔ｄは、２つの平板１５、１６の間に挿入されている圧電素子１８の変位により可動平板１５の固定平板１６に対する位置が変わることで変化する。空気間隔ｄは、既知の波長の光を干渉計に入射させて、圧電素子１８に印加する電圧と干渉波長の関係を調べておき、印加電圧からの計算によって得る。なお、間隔ｄを測るための測長装置を装置内に組み込んでおき、これにより測長して求めてもよい。この場合、可動平板１５は、例えばモータなどの駆動手段により駆動させるような構成も可能である。」 「【００３６】本実施形態では、干渉計３０の空気間隔ｄを４００nmから７５０nmまで変化させる際に、分光透過率の異なる２つのフィルター１１を使用する。具体的には、空気間隔ｄが４００nmから５５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、３５０nm以上６００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させる。また、空気間隔ｄが５５０nmから７５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、５１０nm以上８００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させる。 【００３７】このようにすると、表１より明らかなように、４００nmから５５０nmまでのどの空気間隔ｄについても、また、５５０nmから７５０nmまでのどの空気間隔ｄについても、対応するピーク波長が１つになる。したがって、太線の範囲内に示したように、干渉計３０で観測されるピーク波長は常にただ１つに限定される。これにより、可視領域全体のスペクトルデータを誤りなく、かつ容易に取得することができる。 【００３８】なお、ここではｍ＝２での干渉を利用して空気間隔ｄに等しい波長の光を検出するようにしているが、必ずしもこのような設定とする必要はない。例えば、ｍ＝１での干渉を利用して、空気間隔ｄの２倍の波長の光を検出するようにすることもできる。 【００３９】また、可視領域のスペクトルデータを取得する場合を例として掲げたが、スペクトルデータ取得装置２で取得し得るスペクトルデータは可視領域のものに限られない。例えば、赤外領域のスペクトルデータを取得することも可能であり、フィルター１１には赤外領域の光を選択的に透過させるものも含まれている。」 「図１ 」 「図３ 」 「図４ 」 したがって、引用例１には、以下の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。 「スペクトルデータを取得するスペクトルデータ取得装置２であり、 レンズ１０を通過した光が、フィルター１１を通って干渉光形成撮像部１４に入射し、 レンズ１０からの光路上に位置するフィルター１１を替えることにより、干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替えることができ、 干渉光形成撮像部１４は、平行に配置された可動平板１５と固定平板１６とを備え、 可動平板１５と固定平板１６の互いに対向する面１５ａ、１６ａは半透鏡となっており、ファブリ-ペロー干渉計３０を構成し、 半透過面１５ａ、１６ａの空気間隔ｄは可変であり、 ２つの平板１５、１６の間に挿入されている圧電素子１８の変位により可動平板１５の固定平板１６に対する位置が変わり、 ２ｄ＝ｍλ（ｍは整数）を満たす波長λを有する干渉光は、最も強い光として光センサー１７で撮像され、 空気間隔ｄが４００nmから５５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、３５０nm以上６００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させ、空気間隔ｄが５５０nmから７５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、５１０nm以上８００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させ、干渉計３０で観測されるピーク波長は常にただ１つに限定され、 フィルター１１には赤外領域の光を選択的に透過させるものも含まれ、赤外領域のスペクトルデータを取得することも可能である、 スペクトルデータ取得装置２。」 ２　引用例２ 当審拒絶理由１に引用された引用例２には、以下の事項が記載されている。なお、下線は当審で付与したものである。 「【００２９】 図１０（a），(b)は本発明の実施例４にかかる、本発明の分光透過率可変素子を内視鏡装置の光学系に用いた状態を示す要部説明図である。 実施例４の内視鏡装置の光学系は、実施例３とは分光透過率可変素子の構造が異なる。実施例４の分光透過率可変素子１３は、実施例２と同様に対向配置された基板の対向面に複数の微小反射鏡を配置し、基板同士のギャップを可変に構成したものを用いている。これは、略テレセントリック光学系にエタロンを配置してあるため、エタロンへの入射角度は位置によらず同一であり、このためエアギャップを2枚の基板のみを制御すれば受光領域全域で同一の波長で分離して検出できる。このように構成しても、各微小反射鏡の有効光束径（面精度を保つ面積）を小型化でき、光学薄膜のコーティングによる基板の反りを生じさせることなく、撮像素子１４の撮像領域全体に対応した分光透過率可変素子が得られる。そして、内視鏡装置等に適用可能な大有効径に対応した分光透過率可変素子の製造が容易となり、装置全体の製造コストを低減することができる。 なお、図１０(b)の光学系では、実施例１の図４、図５に示した分光透過率可変素子と同様に、一つの微小反射鏡４、５を複数の画素を単位とした一部の受光領域に対応させた分光素子を用いた構成としている。この場合、反射鏡の数量を減らすことが出来、コーティングのマスクの製作やエッチング処理等の製造が容易にできる。」 したがって、引用例２には、基板同士のギャップを可変に構成したエタロンを配置するにあたって、略テレセントリック光学系を採用した点が記載されていると認められる。 第６　対比・判断 １　本願発明１について 本願発明１と引用発明とを対比する。 （１）　本願発明１のA)の特定事項について ア　引用発明の「レンズ１０」と本願発明１の「テレセントリック光学系」は、「光学系」である点で共通する。 イ　引用発明の「光」は、「スペクトルデータを取得する」対象となる光であるから「測定対象光」といえる。 ウ　よって、本願発明１と引用発明は、「測定対象光が入射される光学系」を備える点で共通する。 （２）　本願発明１のB)の特定事項について ア　引用発明の「レンズ１０を通過した光」と、本願発明１の「テレセントリック光学系を透過した光」とは、「光学系を透過した光」である点で共通する。 イ　引用発明において、「ファブリーペロー干渉計３０」は、「干渉光形成撮像部１４」の一部を成すものであり、「レンズ１０を通過した光が、」「入射」するものである。 ウ　引用発明の「ファブリ-ペロー干渉計３０」は、「空気間隔ｄは可変であり」、「２ｄ＝ｍλ（ｍは整数）を満たす波長λを有する干渉光」を透過するものであるから、所定波長の光を取り出すフィルターであるといえ、引用発明の「ファブリ-ペロー干渉計３０」は、本願発明１の「所定波長の光を取り出す波長可変干渉フィルター」に相当する。 エ　よって、本願発明１と引用発明は、「光学系を透過した光から所定波長の光を取り出す波長可変干渉フィルター」を備える点で共通する。 （３）　本願発明１のC)の特定事項について ア　引用発明の「フィルター１１」は、「干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替えることができる」ものであって、「３５０nm以上６００nm以下の波長の光を選択的に透過させるもの」、「５１０nm以上８００nm以下の波長の光を選択的に透過させるもの」等を含むことから、複数存在することは明らかであり、本願発明１の「透過波長が異なる複数のバンドパスフィルター」に相当する。 イ　引用発明は、「フィルター１１を替えることにより、干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替えることができ」るものである。よって、引用発明の、「フィルター１１を替える」手段は、本願発明１の「複数のバンドパスフィルターの各々の位置を切り替えるフィルター切替手段」に相当する。 ウ　そして、引用発明の、「フィルター１１を替えることにより、干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替える」手段は、本願発明１の「波長切替部」に相当する。 （４）　本願発明１のD)の特定事項について 引用発明の「フィルター１１」を「透過」した「２ｄ＝ｍλ（ｍは整数）を満たす波長λを有する干渉光」を「撮像」する「光センサー１７」は、本願発明１の「前記波長可変干渉フィルターおよび前記波長切替部を透過した光を受光する受光部」に相当する。 （５）　本願発明１のE)の特定事項について ア　引用発明の「可動平板１５」は、本願発明１の「第一基板」に相当する。 イ　引用発明の「可動平板１５」と「平行に配置された」「固定平板１６」は、本願発明１の「第一基板に対向して配置された第二基板」に相当する。 ウ　引用発明の「可動平板１５」の「半透鏡となって」いる「面１５ａ」は、本願発明１の「第一基板に設けられた第一反射膜」に相当する。 エ　引用発明の「面１５ａ」と「空気間隔ｄ」で「互いに対向する」「半透鏡となって」いる「固定平板１６」の「面」「１６ａ」は、本願発明１の「第二基板に設けられ、」「第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向して配置された第二反射膜」に相当する。 オ　引用発明の「２つの平板１５、１６の間に挿入されている圧電素子１８」は、「変位により可動平板１５の固定平板１６に対する位置が変わ」るものであるから、本願発明１の「反射膜間ギャップのギャップ量を変化させるギャップ量変更部」に相当する。 （６）　本願発明１のF)の特定事項について ア　引用発明は、「レンズ１０を通過した光が、フィルター１１を通って干渉光形成撮像部１４に入射」していることから、「フィルター１１を替えることにより、干渉光形成撮像部１４に入射する光の波長域を切り替える」手段が、「光学系」と「干渉光形成撮像部１４」の間に設けられており、その構成は、本願発明１の「波長切替部」が「光学系と前記波長可変フィルターとの間」に配置された構成に相当する。 イ　引用発明の「空気間隔ｄが４００nmから５５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、３５０nm以上６００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させ、空気間隔ｄが５５０nmから７５０nmまでの範囲のときは、フィルター１１のうち、５１０nm以上８００nm以下の波長の光を選択的に透過させるものを光路上に位置させ」ることは、前記「光の波長域を切り替える」手段により、「空気間隔ｄ」に応じて「フィルター１１」が選択され、配置されているといえる。 ウ　一方、本願発明１は「波長切替部は、」「ギャップ量が変更され、変更された値になる毎に、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの第１光を前記受光部が受光する状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの前記第１光とは波長が異なる第２光を前記受光部が受光する状態とを切り替え」ていることから、波長切替部により、「複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置」されるといえる。 エ　よって、本願発明１と引用発明は、波長切替部により、「複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置」される点で共通する。 （７）　本願発明１のG)の特定事項について 引用発明の「スペクトルデータ取得装置２」は、本願発明１の「分光測定装置」に相当する。 したがって、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点、相違点があるといえる。 ＜一致点＞ 測定対象光が入射される光学系と、 前記光学系を透過した光から所定波長の光を取り出す波長可変干渉フィルターと、 透過波長が異なる複数のバンドパスフィルターと、前記複数のバンドパスフィルターの各々の位置を切り替えるフィルター切替手段と、を有する波長切替部と、 前記波長可変干渉フィルターおよび前記波長切替部を透過した光を受光する受光部とを含み、 前記波長可変干渉フィルターは、 第一基板と、 前記第一基板に対向して配置された第二基板と、 前記第一基板に設けられた第一反射膜と、 前記第二基板に設けられ、前記第一反射膜に反射膜間ギャップを介して対向して配置された第二反射膜と、 前記反射膜間ギャップのギャップ量を変化させるギャップ量変更部と、を含み、 前記波長切替部は、前記光学系と前記波長可変フィルターとの間に配置され、複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置される、 分光測定装置。 ＜相違点１＞ 測定対象光が入射される光学系に関して、本願発明１は、テレセントリック光学系であるのに対して、引用発明は、そのような特定がされていない点。 ＜相違点２＞ 波長切替部による複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置されることに関して、本願発明１は、ギャップ量が変更され、変更された値になる毎に、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの第１光を前記受光部が受光する状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの前記第１光とは波長が異なる第２光を前記受光部が受光する状態とを切り替えるのに対して、 引用発明は、そのような切り替えが行われていない点。 事案に鑑みて、上記相違点２について、まず検討する。 上記相違点２に係る構成は、引用例１には記載されておらず、また、当該構成は、引用例２にも記載されていない。 そして、上記構成が、本願出願日前において、周知技術であるともいえない。 したがって、他の相違点について判断するまでもなく、本願発明１は、当業者であっても、引用例１及び引用例２に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。 ２　本願発明２ないし５について 本願発明２ないし５は、いずれも、本願発明１の発明特定事項をすべて含み、本願発明１をさらに限定したものであるので、本願発明１と同様に、引用例１及び引用例２に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。 第７　原査定についての判断 平成２９年７月１１日付けの手続補正により、補正後の請求項１ないし５は、上記相違点２に係る構成を有するものとなった。 そして、上記相違点２に係る構成は、原査定における引用例Ａ及びＢには記載されておらず、本願出願前における周知技術でもないので、本願発明１ないし５は、当業者であっても、原査定における引用例Ａ及びＢに基づいて容易に発明できたものではない。 したがって、原査定を維持することはできない。 第８　当審拒絶理由についての判断 １　当審拒絶理由１について （１）　理由１（特許法第３６条第６項第１号）について 平成２９年７月１１日付けの手続補正により、請求項１に係る発明は、ギャップ量が変更され、変更された値になる毎に、複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの第１光を受光部が受光する状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置され、前記ギャップ量が前記変更された値に対応する、前記波長可変干渉フィルターからの光のうちの前記第１光とは波長が異なる第２光を前記受光部が受光する状態とを切り替える点が特定され、発明の詳細な説明に記載された作用効果が実現できないものを含まないものであることが明らかになった。 したがって、当審拒絶理由１の理由１は解消した。 （２）　理由２（特許法第３６条第４項第１号）について 平成２９年７月１１日付けの手続補正による補正後の請求項１には、当審拒絶理由１の理由２の対象である平成２７年１２月２４日付けの手続補正による補正後の請求項１に存在した「前記ギャップ量変更部に印加される電圧が切り替えられる度に、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置される状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置される状態とを切り替える」との記載は存在しなくなった。 したがって、特許法第３６条第４項第１号の判断の根拠であった発明特定事項が請求項１に存在しなくなったことから、当審拒絶理由の理由１の理由２は解消した。 （３）　理由３（特許法第３６条第６項第２号）について 平成２９年７月１１日付けの手続補正による補正後の請求項１には、当審拒絶理由１の理由３の対象である平成２７年１２月２４日付けの手続補正による補正後の請求項１に存在した、「前記ギャップ量変更部に印加される電圧が切り替えられる度に、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置される状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置される状態とを切り替える」との記載は存在しなくなった。 したがって、当審拒絶理由１の理由３は解消した。 （４）　理由４（特許法第２９条第２項）について 当審拒絶理由１の理由４についての判断は、上記「第６　対比・判断」において検討したとおりであり、本願発明１ないし５は、引用例１及び引用例２に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。 ２　当審拒絶理由２について 平成２９年７月１１日付けの手続補正による補正後の請求項１には、補正前の請求項１に存在した、「前記ギャップ量変更部に印加される電圧が切り替えられるときに、前記複数のバンドパスフィルターのうちの１つが光路に配置される状態と、前記複数のバンドパスフィルターのうちの他の１つが前記光路に配置される状態とを切り替える」との記載は存在しなくなった。 したがって、当審拒絶理由２は解消した。 第９　むすび 以上のとおり、原査定の拒絶理由及び当審の拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。